JP6277355B2 - 表示装置および表示装置の製造方法 - Google Patents

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Description

本開示は、表示装置および表示装置の製造方法に関する。
表示装置は、一般的に、薄膜トランジスタ等の電子素子が配置されたパネル周辺部において、電位の異なる配線が積層された構成を有する。例えば、薄膜トランジスタに電源電圧を供給する第1の電源線と、第1の電源線に供給される電圧と異なる電圧を有機EL素子に供給する第2の電源線が、絶縁層を介して積層された構成を有する。このため、製造工程において、これらの電位の異なる配線間に導電性の異物やピンホールが形成された場合に、配線間ショートが発生し正常なパネル駆動に支障をきたし、パネルの歩留まりの低下を引き起こす可能性がある。
この問題を回避するために、例えば、補助配線形成後であっても配線間ショートを解消(リペア)することができる配線レイアウトが提案されている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1では、補助配線と、補助配線と電位の異なるDSL、WL等の信号配線が立体交差する箇所において、一方の配線へ開口部を設け、開口部を介して他方の配線をレーザー照射等により切断することで配線間ショートを解消することができる。
特開2009−175476号公報
本開示は、配線抵抗の増加を抑制しつつショート不良を解消することができる表示装置および表示装置の製造方法を提供することを目的とする。
本開示の一態様に係る電子デバイスの製造方法は、第1の電位に設定される第1の電極と、第1の電極の上方に積層された層間絶縁層と、層間絶縁層の上方に積層され、第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極と、を備え、第1の電極は、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とを有し、第2の電極は、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とを有し、第1の分割電極部と第2の分割電極部とは、層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、第1の切断可能部と第2の開口部とは、層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、第2の切断可能部と第1の開口部とは、層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている。
本開示によれば、配線抵抗の増加を抑制しつつショート不良を解消することができる表示装置および表示装置の製造方法を提供することができる。
図1は、本開示の基礎となった知見を説明するための表示装置の上面図であり、(a)は表示装置の上面図、(b)は(a)の一部を拡大した図である。 図2は、図1に示した表示装置のパネル周辺部の拡大図である。 図3は、本開示の基礎となった知見を説明するための表示装置のパネル周辺部の断面図である。 図4は、本開示の基礎となった知見を説明するための表示装置のパネル周辺部の断面図である。 図5は、本開示の基礎となった知見を説明するための表示装置の表示領域の断面図である。 図6は、実施の形態1に係る表示装置のパネル周辺部の上面図であり、(b)は配線幅の広い配線が立体交差した部分を示す図、(a)は(b)の一部を拡大した図である。 図7は、レーザー照射によりショート不良を解消した後の表示装置のパネル周辺部の上面図である。 図8は、実施の形態1に係る表示装置の製造工程を示すフローチャートである。 図9は、実施の形態2に係る表示装置のパネル周辺部の上面図である。 図10は、有機EL素子を備えたテレビシステムの外観図である。 図11は、従来技術における表示装置の保護回路の薄膜トランジスタ近傍の配線構造を説明する平面透視図である。
以下、適宜図面を参照しながら、実施の形態を詳細に説明する。但し、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。
なお、発明者らは、当業者が本開示を十分に理解するために添付図面および以下の説明を提供するものであって、これらによって請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。
(本開示の基礎となった知見)
以下、本開示の詳細を説明する前に、基礎となった知見について説明する。図1は、基礎となった知見を説明するための表示装置の上面図、図2は、図1に示した表示装置のパネル周辺部の拡大図であり、図1の(a)は表示装置の上面図、図1の(b)は(a)の一部を拡大した図である。
図1の(a)に示すように、表示装置1は、表示領域2とパネル周辺部3とを備えている。表示領域2には、例えば有機EL素子等の表示素子を備えた画素が行列状に配置されている。また、パネル周辺部3には、図1の(b)及び図2に示すように、下部配線層11および上部配線層12が、積層方向において重なる位置に配置されている。
パネル周辺部3における下部配線層11と上部配線層12は、図2に示すように、下部配線層11の上方に層間絶縁層(図示せず)を介して、上部配線層12が立体交差するように積層された構成となっている。つまり、上部配線層12は、下部配線層11の上方に、下部配線層11の伸びる方向(図2に示すx方向)と交差する方向(図2に示すy方向)に伸びるように形成されている。ただし、下部配線層11と上部配線層12の形成方向は特に限定されるものではない。ここで、製造過程において何らかの原因で積層されている下部配線層11と上部配線層12が導通することになると、ショート不良が発生することとなる。
詳細には、ショート不良が生じる例として、以下のような状態がある。図3および図4は、表示装置のパネル周辺部3の断面図である。また、図5は、表示装置の表示領域2の断面図である。
図3に示すように、表示装置1のパネル周辺部3は、基板20の上にゲート絶縁層22と、ゲートメタル23と、パッシベーション膜24と、下部配線層11と、層間絶縁層25と、上部配線層12とが積層された構成をしている。また、上部配線層12の上には、層間絶縁層27およびガラス基板30が設けられている。
また、図5に表示領域2の断面図を示す。表示装置1の表示領域2は、基板20の上に、ゲートメタル23と、ゲート絶縁層22と、チャネル層と、パッシベーション膜24と、下部配線層11と、層間絶縁層25と、上部配線層12とが積層された構成をしている。上部配線層12の上には、さらに、層間絶縁層27とは異なる層間絶縁層が設けられる。下部配線層11は、第1の電源線11aと、トランジスタのソース−ドレイン電極(SD)11bとが同一の層に形成され、上部配線層12は、第2の電源線12aと、アノード電極(AM)12bとが同一の層に形成されていてもよい。なお、第1の電源線11aは、例えば、トランジスタに電源電圧を供給する電源線、第2の電源線12aは、例えば、第1の電源線11aに供給される電圧と異なる電圧を有機EL素子に供給する電源線である。
ここで、この積層された構成を製造する工程において、下部配線層11と上部配線層12との間に導電性の異物13が混入することがある。この場合、異物13によって下部配線層11と上部配線層12とが電気的に接続されていると、この部分においてショート不良が発生し、表示輝度の均一性が低下する等、表示品質の低下が生じることになる。特に、第1の電源線11aと第2の電源線12aとが導電性の異物13によって短絡されている場合には、大電流が流れ、表示装置1が破壊されることも生じ得る。
また、図4に示すように、異物13によって下部配線層11と上部配線層12とが電気的に接続されていない場合でも、上部配線層12の上に層間絶縁層27およびガラス基板30が設けられる場合に、ガラス基板30の貼り合わせ工程においてガラス基板30が加圧されることにより、異物13が押しつぶされることがある。この場合、下部配線層11と上部配線層12とが異物13によって電気的に接続され、ショート不良が発生することとなる。
ここで、下部配線層11と上部配線層12のショート不良を解消する方法として、従来、ショート不良が発生している部分にレーザーを照射することによりこの部分を他の部分から切断し、ショート不良が発生していない部分の使用が可能となるようにレーザーリペアが行われている。ここで、電位の異なる下部配線層11及び上部配線層12が立体交差する箇所にレーザー光を照射すると、レーザー光の照射条件いかんによっては下部配線層11と上部配線層12とが接続されることとなり、ショート不良がさらに進行することとなる。
そこで、図11に示すように、従来、電位の異なる下部配線層及び上部配線層が立体交差する箇所において、一方の配線へ開口部を設け、開口部を介して他方の配線をレーザー照射等により切断することで短絡不良を解消(リペア)することができる構成が提案されている。
図11は、従来技術における表示装置の保護回路の薄膜トランジスタ近傍の配線構造を説明する平面透視図である。
特許文献1では、図11に示すように、補助配線と、補助配線と電位の異なるDSL、WL等の信号配線が立体交差する箇所において、一方の配線へ開口部を設け、開口部を介して他方の配線をレーザー照射等により切断することで配線間ショートを解消することができる構成が開示されている。
しかし、電位の異なる下部配線層11及び上部配線層12が広い配線幅同士の場合、立体交差する箇所の面積が広くなるため、図2に示すように、開口部14の大きさを大きくする必要がある。この場合、開口部14を設けた配線は、配線抵抗が増加することになり、例えば、開口部14を設けた配線が電源線であれば表示輝度の均一性が低下する等の表示品質の低下が起こる。このため、配線幅が広い配線が立体交差する場合であっても、配線抵抗の増加を抑制する構成が必要である。
本開示は、配線抵抗の増加を抑制しつつショート不良を解消することができる、以下のような表示装置および表示装置の製造方法を提供するものである。
以下、本開示に係る表示装置および表示装置の製造方法について、実施の形態に基づいて説明するが、本開示は、請求の範囲の記載に基づいて特定される。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、請求項に記載されていない構成要素は、本開示の課題を達成するのに必ずしも必要ではないが、より好ましい形態を構成するものとして説明される。なお、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示したものではない。
(実施の形態1)
以下、図6〜図8を用いて、実施の形態1に係る表示装置について説明する。
[1−1.表示装置の構成]
図6は、本実施の形態に係る表示装置1のパネル周辺部の上面図であり、(b)は配線幅の広い配線が立体交差した部分を示す図、(a)は(b)の一部を拡大した図である。図7は、本実施の形態に係る表示装置のパネル周辺部の上面図である。
本実施の形態に係る表示装置1は、図1の(a)に示した表示装置1と同様、表示領域2とパネル周辺部3とを備えている。表示領域2には、例えば有機EL素子等の表示素子と駆動トランジスタ等の画素回路を備えた画素が行列状に配置されている。また、パネル周辺部3には、図1の(b)に示した表示装置と同様、下部配線層11及び上部配線層12が配置されている。下部配線層11には、例えば、第1の電源線11aと駆動回路層のソース−ドレイン電極11bとが同一の層に形成されている。また、上部配線層12には、有機EL素子に電圧を供給するアノード電極12bが同一の層に形成されている。
図6の(a)に示すように、パネル周辺部3における第1の電源線111と第2の電源線112は、第1の電源線111の上方に層間絶縁層(図示せず)を介して第1の電源線112が立体交差するように積層された構成となっている。つまり、第2の電源線112は、第1の電源線111の上方において、第1の電源線111の伸びる方向(図6におけるx方向)と交差する方向(図6におけるy方向)に伸びるように形成されている。ここで、第1の電源線111電源線及び第2の電源線112は、本実施の形態における第1の電極及び第2の電極に相当する。
詳細には、第1の電源線111は、図6の(b)に示すように、複数の第1の分割電極部111aと、レーザー光が照射されることで切断される複数の第1の切断可能部111bと、スリット状の複数の第1の開口部111cとを有している。第1の分割電極部111aは、第1の切断可能部111bを介して、第1の方向に連続するように接続されている。また、第1の開口部111cは、第1の分割電極部111aまたは第1の切断可能部111bを介して、第1の方向と異なる第2の方向に連続するように接続されている。また、第1の開口部は、リペア用のレーザー光が透過可能な大きさに設定されている。例えば、第1の開口部の大きさ(幅)は、レーザー照射幅により任意に設定すればよいが、例えば20〜100μm程度あればよい。
同様に、第2の電源線112は、図6の(b)に示すように、複数の第2の分割電極部112aと、レーザー光が照射されることで切断される複数の第2の切断可能部112bと、スリット状の複数の第2の開口部112cとを有している。第2の分割電極部112aは、第2の切断可能部を介して、第1の方向とは異なる第2の方向に連続するように接続されている。また、第2の開口部112cは、第2の分割電極部112aまたは第2の切断可能部112bを介して、第1の方向に連続するように接続されている。また、第2の開口部は、リペア用のレーザー光が透過可能な大きさに設定されている。例えば、第2の開口部の大きさ(幅)は、レーザー照射幅により任意に設定すればよいが、例えば20〜100μm程度あればよい。
したがって、積層方向において、第1の分割電極部111aと第2の分割電極部112aは重複し、第1の切断可能部111bと第2の開口部112cの一部は重複し、第2の切断可能部112bと第1の開口部111cの一部は重複した構成となる。このような構成により、上面からみたときに、第1の分割電極部111aは、第1の切断可能部111b及び第1の開口部111c、または、第2の切断可能部112b及び第2の開口部112cにより囲まれた領域となる。同様に、第2の分割電極部112aは、第1の切断可能部111b及び第1の開口部111c、または、第2の切断可能部112b及び第2の開口部112cにより囲まれた領域となる。
また、複数の第1の分割電極部111aおよび第1の切断可能部111bは、第1の電位に設定され、複数の第2の分割電極部112a及び第2の切断可能部112bは、第2の電位に設定される。例えば、第1の電位は、表示領域2に設けられた画素回路に印加される高電位側の電位であり、第2の電位は、画素回路に印加される低電位側の電位である。
ここで、図6の(a)及び(b)の領域115に示すように、第1の電源線111と第2の電源線112との間に導電性の異物113が混入していると、第1の電源線111と第2の電源線112とが電気的に接続され、ショート不良が発生することとなる。ショート不良を解消するために、異物113の周囲を囲むようにレーザー光を照射することにより、第1の電源線111および第2の電源線112の一部を切り取ることが有効である。
具体的には、図6の(b)に示すように、異物113が形成された領域(リペア領域)115を囲むように第1の電源線111および第2の電源線112にレーザー光の照射を行う。これにより、第1の電源線111および第2の電源線112を切断することにより、異物113が形成されたリペア領域115の第1の電源線111および第2の電源線112を他の領域から電気的に切断する。
レーザー光の照射は、例えば第1の切断可能部111b→第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分→第2の切断可能部112b→第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分→第1の切断可能部111b→・・・の順に行う。
異物113の大きさが大きく領域115の面積を大きくする必要がある場合には、第1の切断可能部111b→第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分へのレーザー光の照射を、複数の第1の切断可能部111b、複数の第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分に順次行った後、第2の切断可能部112b→第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分へのレーザー光の照射を、複数の第2の切断可能部112b、複数の第2の開口部112cおよび第1の開口部111cの重複した部分に順次行う。
レーザー光を照射する位置を第1の切断可能部111b、第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分、第2の切断可能部112bとするのは、第1の分割電極部111a及び第2の分割電極部112aにおいては、第1の電源線111(第1の分割電極部111a)及び第2の電源線112(第2の分割電極部112a)が重複しているので、レーザー光を照射すると電位の異なる第1の電源線111(第1の分割電極部111a)と第2の電源線112(第2の分割電極部112a)とが接続されることがあり得るためである。
第1の電源線111と第2の電源線112とが重複していない第1の切断可能部111b及び第2の切断可能部112bにレーザー光を照射することで、ショート不良が発生している異物113が形成された位置を囲むようにレーザー光を連続的に照射しても第1の電源線111と第2の電源線112とが接続されることがない。したがって、異物113が形成された位置の第1の電源線111と第2の電源線112とを電気的に切断してショート不良を解消することができる。また、レーザー光を照射する領域は、第1の切断可能部111b、第1の開口部111c及び第2の開口部112c、第2の切断可能部112bであればどの領域でもよいので、異物113の大きさに合わせてレーザー光を照射することにより、切断される領域の大きさを変更することができる。また、レーザー照射方向を電源線112を上に見る方向で説明したが、基板反対側から、即ち電源線111を上に見る方向からのレーザー照射についても同様である。
図7は、レーザー光の照射によりショート不良を解消した後の表示装置1のパネル周辺部3の上面図である。レーザー光の照射によりショート不良が解消されると、図7に示すように、第2の電源線112においては、領域120に示すすべての第2の分割電極部112aに電圧が供給される。一方、ショート不良を解消したリペア領域115は、他の第2の電源線112の領域から電気的に切断されているので、給電側から給電された電圧は、リペア領域115に対して給電側と反対側には給電されないため、領域121に示す第2の分割電極部112aにしか供給されないこととなる。つまり、レーザー光の照射により電気的に切断された領域の第2の電源線112は、使用できないこととなる。
第1の電源線111においても同様に、レーザー光の照射により電気的に切断された領域の第1の電源線111は、使用できないこととなる。
[1−2.表示装置の製造方法]
次に、本実施の形態に係る表示装置の製造方法について説明する。
図8は、本実施の形態に係る表示装置1の製造方法の一工程を示す概略図である。本実施の形態に係る表示装置1は、以下のようにして製造される。
図8に示すように、はじめに、基板上方に第1の電源線111を含む下部配線層を形成する(ステップS10)。また、第1の電源線111を含む下部配線層として、他の配線を同時に形成してもよい。例えば、第1の電源線111と同一の層として、トランジスタのソース−ドレイン電極を形成してもよい。また、ソース−ドレイン電極の形成前に、図3に示したように、基板20の上にトランジスタのゲートメタル23を形成してもよい。下部配線層の形成は、例えば、Alなどの金属層を基板20の上方に成膜した後、フォトリソグラフィーとウエットエッチングによりパターニングすることにより行う。
次に、下部配線層の上方に層間絶縁層を形成する(ステップS12)。層間絶縁層25は、例えば、絶縁性の有機材料等により形成される。
次に、短絡位置の検出を行う。具体的には、第1の電源線111の上方に混入した異物を検出する(ステップS14)。ここで、異物13は、例えば下部配線層及び層間絶縁層の形成工程における、装置及び搬送系に存在するパーティクル等が該当する。異物の検出は、例えば、異物の検出対象領域をカメラで撮影し検出する。
次に、層間絶縁層の上方に、第2の電源線112を含む上部配線層を形成する(ステップS16)。上部配線層の形成は、例えば、層間絶縁層(平坦化膜)25上にAlなどの金属層を成膜した後、フォトリソグラフィーとウエットエッチングによりパターニングすることにより形成される。
次に、異物113が混入した領域を囲むように、第1の電源線111および第2の電源線112にレーザー光を照射する(ステップS18)。レーザー光の照射は、第1の切断可能部111b→第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分→第2の切断可能部112b→第1の開口部111cおよび第2の開口部112cの重複した部分→第1の切断可能部111b→・・・の順に行う。レーザー光の種類は、例えば、短パルスレーザーやフェムト秒レーザーなどであってもよい。これにより、第1の電源線111および第2の電源線112において、導電性の異物113が混入した領域が他の領域から切断され、ショート不良が解消する。
なお、第1の電極の上方に混入した異物を検出する工程は、第2の電極を形成した後であってもよい。
以上、本実施の形態に係る表示装置及び表示装置の製造方法によると、第1の電極および第2の電極は、それぞれ複数の第1の開口部および第2の開口部を備えており、第1の開口部および第2の開口部はレーザー光が透過する程度の大きさであればよい。したがって、第1の電極および第2の電極に大きな面積の開口部を設ける必要がないので、配線抵抗の増加を抑制しつつショート不良を解消することができる。
[1−3.効果等]
以上のように、本実施の形態の一態様に係る表示装置は、第1の電位に設定される第1の電極と、前記第1の電極の上方に積層された層間絶縁層と、前記層間絶縁層の上方に積層され、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極と、を備え、前記第1の電極は、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とを有し、前記第2の電極は、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とを有し、前記第1の分割電極部と前記第2の分割電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている。
この構成によれば、電極に形成されたレーザー光を照射するための開口部の大きさを大きくしなくてもよいので、ショート不良を解消し、かつ、配線抵抗を減少することができる。
また、第1の電極と第2の電極とが重なった部分に異物が形成された場合であっても、異物が形成された領域を囲むようにレーザー光を照射することで、ショート不良を解消することができる。
また、一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、前記第1の開口部は、前記第1の方向に長いスリット状に形成され、前記第2の開口部は、前記第2の方向に長いスリット状に形成されていてもよい。
また、一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、前記第1の電極は、さらに、一の前記第1の切断可能部と他の前記第1の切断可能部とを前記第2の方向に連続して接続する第1の接続用電極部を有し、前記第2の電極は、さらに、一の前記第2の切断可能部と他の前記第2の切断可能部とを前記第1の方向に連続して接続する第2の接続用電極部を有し、前記第1の接続用電極部と前記第2の接続用電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されていてもよい。
この構成によれば、配線抵抗の増加を抑制しつつ、ショート不良を解消することができる。また、第1の電極および第2の電極にショート不良を解消するためのレーザー光の照射を行った後も、第1の電極および第2の電極のそれぞれの全ての領域に電圧を給電することができる。
また、前記第1の開口部及び前記第2の開口部の大きさは、レーザー光の光径より大きくてもよい。
この構成によれば、第1の開口部を介して第2の切断可能部にレーザー光を照射することができる。同様に、第2の開口部を介して第1の切断可能部にレーザー光を照射することができる。
また、前記表示装置は、薄膜トランジスタを有する駆動回路層と、画素電極を有する表示領域とを備え、前記第1の電極及び前記第2の電極のうちの一方は、前記駆動回路層における前記薄膜トランジスタのゲート電極、ソース−ドレイン電極のいずれかと同一の層に形成され、前記第1の電極及び前記第2の電極のうちの他方は、前記表示領域における前記画素電極と同一の層に形成されていてもよい。
また、前記第1の電位は、前記表示領域に設けられた画素回路に印加される高電位側の電位であり、前記第2の電位は、前記画素回路に印加される低電位側の電位であってもよい。
また、本実施の形態の一態様に係る表示装置の製造方法は、第1の電位に設定される第1の電極を形成する工程と、前記第1の電極の上方に層間絶縁層を形成する工程と、前記層間絶縁層の上方に、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極を形成する工程と、前記第1の電極と前記第2の電極とが短絡している短絡位置を検出する工程と、前記短絡位置を囲むように前記第1の電極および前記第2の電極にレーザー光を照射する工程と、を含み、前記第1の電極を形成する工程において、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とが形成され、前記第2の電極を形成する工程において、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とが形成され、前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、前記レーザー光を照射する工程において、前記第1の切断可能部および前記第2の切断可能部にレーザー光を照射する。
この構成によれば、電極に形成されたレーザー光を照射するための開口部の大きさを大きくしなくてもよいので、ショート不良を解消し、かつ、開口部設置に伴う配線抵抗増加を効果的に抑制することができる。
また、第1の電極と第2の電極とが重なった部分に異物が形成された場合であっても、異物が形成された領域を囲むようにレーザー光を照射することで、ショート不良を解消することができる。
また、前記短絡位置を検出する工程は、前記第2の電極を形成する工程の後に行われてもよい。
この構成によれば、第1の電極と第2の電極とが直接接触することで短絡している場合の短絡位置を検出することができる。
(実施の形態2)
次に、実施の形態2について説明する。本実施の形態に係る表示装置が実施の形態1に係る表示装置と異なる点は、第1の電極および第2の電極の構成である。以下、図9を用いて、実施の形態2を説明する。
[2−1.表示装置の構成]
図9は、本実施の形態に係る表示装置のパネル周辺部の上面図である。
図9に示すように、本実施の形態に係る第1の電極である第1の電源線211は、第1の分割電極部211aと、第1の切断可能部211bと、第1の開口部211cと、第1の接続用電極部211dとを有している。また、本実施の形態に係る第2の電極である第2の電源線212は、第2の分割電極部212aと、第2の切断可能部212bと、第2の開口部212cと、第2の接続用電極部212dとを有している。第1の接続用電極部211dと第2の接続用電極部212dとは、層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている。
[2−2.表示装置の製造方法]
ここで、本実施の形態に係る表示装置の製造方法について説明する。
図9に示すように、第1の電源線211と第2の電源線212との間に導電性の異物213が混入していると、第1の電源線211と第2の電源線212とが電気的に接続され、ショート不良が発生することとなる。ショート不良を解消するために、異物213の周囲を囲むようにレーザー光を照射することにより、第1の電源線211および第2の電源線212を他の領域から電気的に切断する。
具体的には、図9のリペア領域215に示すように、異物213が形成された領域(リペア領域)215を囲むように第1の電源線211および第2の電源線212にレーザー光の照射を行う。これにより、第1の電源線211および第2の電源線212を切断することにより、異物213が形成されたリペア領域215の第1の電源線211および第2の電源線212を他の領域から電気的に切断する。
レーザー光の照射は、第1の切断可能部211b→第1の開口部211cおよび第2の開口部212cの重複した部分→第2の接続用電極部212d→第1の開口部211cおよび第2の開口部212cの重複した部分→第1の切断可能部211b→・・・の順に行う。または、レーザー光の照射は、第2の切断可能部212b→第2の開口部212cおよび第1の開口部211cの重複した部分→第1の接続用電極部211d→第2の開口部212cおよび第1の開口部211cの重複した部分→第2の切断可能部212b→・・・の順に行う。
異物213の大きさが大きく領域215の面積を大きくする必要がある場合には、第1の切断可能部211b→第1の開口部211cおよび第2の開口部212cの重複した部分へのレーザー光の照射を、複数の第1の切断可能部211b、複数の第1の開口部211cおよび第2の開口部212cの重複した部分に順次行った後、第2の接続用電極部212d→第1の開口部211cおよび第2の開口部212cの重複した部分へのレーザー照射を、複数の第2の接続用電極部212d、複数の第1の開口部211cおよび第2の開口部212cの重複した部分に順次行う。または、第2の切断可能部212b→第2の開口部212cおよび第1の開口部211cの重複した部分へのレーザー照射を、複数の第2の切断可能部212b、複数の第2の開口部212cおよび第1の開口部211cの重複した部分に順次行った後、第1の接続用電極部211d→第2の開口部212cおよび第1の開口部211cの重複した部分へのレーザー照射を、複数の第1の接続用電極部211d、複数の第2の開口部212cおよび第1の開口部211cの重複した部分に順次行う。
レーザー光を照射する位置を第1の切断可能部211b、第2の切断可能部212b、第1の開口部211cおよび第2の開口部212cの重複した部分、第1の接続用電極部211d、第2の接続用電極部212dとするのは、第1の分割電極部211a及び第2の分割電極部212a、第1の接続用電極部211d及び第2の接続用電極部212dにおいては、第1の電源線211(第1の分割電極部211a)及び第2の電源線212(第2の分割電極部212a)が重複しているので、レーザー光を照射すると電位の異なる第1の電源線211(第1の分割電極部211a)と第2の電源線212(第2の分割電極部212a)とが接続されることがあり得るためである。
第1の電源線211と第2の電源線212とが重複していない第1の切断可能部211b及び第2の切断可能部212bにレーザー光を照射することで、ショート不良が発生している異物213が形成された位置を囲むようにレーザー光を連続的に照射しても第1の電源線211と第2の電源線212とが接続されることがない。したがって、異物213が形成された位置の第1の電源線211と第2の電源線212とを電気的に切断してショート不良を解消することができる。また、レーザー光を照射する領域は、第1の切断可能部211b、第1の開口部211c及び第2の開口部212c、第2の切断可能部212bであればどの領域でもよいので、異物213の大きさに合わせてレーザー光を照射することにより、切断される領域の大きさを変更することできる。
実施の形態1に示した表示装置1では、給電側から給電された電圧は、リペア領域115に対して給電側と反対側には給電されないため、領域121に示す第2の分割電極部112aにしか供給されないこととなり、レーザー光の照射により電気的に切断された領域の第2の電源線112は、使用できないこととなっていた。これに対し、本実施の形態に係る表示装置1では、給電側から給電された電圧は、リペア領域215に対して給電側と反対側にも給電されるため、レーザー光の照射により電気的に切断された領域の第1の電源線211および第2の電源線112のそれぞれの全ての領域に電圧を給電することができる。
[2−3.効果等]
以上、本実施の形態に係る表示装置及び表示装置の製造方法によると、配線抵抗の増加を抑制しつつ、ショート不良を解消することができる。また、第1の電源線211と第2の電源線212にショート不良を解消するためのレーザー光の照射を行った後も、第1の電源線211と第2の電源線212のそれぞれの全ての領域に電圧を給電することができる。
(他の実施の形態)
以上のように、本出願において開示する技術の例示として、実施の形態1および2を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。また、上記実施の形態1および2で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。
そこで、以下、他の実施の形態をまとめて説明する。
上記した実施の形態では、第1の電極を第1の電源線、第2の電極を第2の電源線としたが、第1の電極および第2の電極は電源線に限られず、電位の異なる配線であれば、他の配線であってもよい。つまり、第2の電極を有機ELに電圧を供給するアノード電極とは異なる層として形成した場合でも構わない。
また、上記した実施の形態では、短絡位置を検出する工程は、第2の電極を形成する工程の前に行われることとしたが、短絡位置を検出する工程は、第2の電極を形成する工程の後に行われることとしてもよい。例えば、層間絶縁層や第2の電極の形成工程において短絡部分の位置にピンホールが形成され、その後、第2の電極の形成工程において当該ピンホールに第2の電極を構成する材料が流入されて第2の電極が形成されたために第1の電極と第2の電極とが直接接触する場合には、第2の電極の形成後に短絡位置を検出することが有効である。
また、上記した実施の形態では、第1の電極である第1の電源線と第2の電極である第2の電源線とが、上面から見たときに直交する構成を示したが、第1の電極と第2の電極とは上面から見たときに交差していれば、どのような角度で交差していてもよい。
また、上記した実施の形態では、第1の電極である第1の電源線または第2の電極である第2の電源線をレーザーの照射により切断する構成を示したが、第1の電極および第2の電極はレーザーの照射により高抵抗化される構成であってもよい。
また、レーザー光の照射は、第1の切断可能部、第2の切断可能部を切断するのであれば、どのような領域に照射してもよい。
また、第1の開口部及び第2の開口部の形状は、上記した形状に限らず、例えば円形形状等の他の形状であってもよい。
また、本実施の形態では、有機EL表示装置等に利用される電子デバイスについて説明したが、液晶電子デバイス等、アクティブマトリクス基板が用いられる他の電子デバイス、表示パネル、モバイル端末用パネルのマザー基板等にも適用することができる。特に、このように構成される電子デバイスについては、フラットパネルディスプレイとして利用することができ、テレビジョンセット、パーソナルコンピュータ、携帯電話などのあらゆる表示パネルを有する電子機器に適用することができる。
また、例えば、本開示に係る表示装置は、図10に記載されたような薄型フラットTVに内蔵される。本開示に係る表示装置が内蔵されることにより、映像信号を反映した高精度な画像表示が可能な薄型フラットTVが実現される。
その他、各実施の形態に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態や、本開示の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本開示に含まれる。
以上のように、本開示における技術の例示として、実施の形態を説明した。そのために、添付図面および詳細な説明を提供した。
したがって、添付図面および詳細な説明に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須な構成要素だけでなく、上記技術を例示するために、課題解決のためには必須でない構成要素も含まれ得る。そのため、それらの必須ではない構成要素が添付図面や詳細な説明に記載されていることをもって、直ちに、それらの必須ではない構成要素が必須であるとの認定をするべきではない。
また、上述の実施の形態は、本開示における技術を例示するためのものであるから、請求の範囲またはその均等の範囲において種々の変更、置き換え、付加、省略などを行うことができる。
本開示は、短絡不良の生じるおそれのある、上部配線層と下部配線層とを備える表示装置に適用可能である。具体的には、薄型テレビジョン、パーソナルコンピュータ、携帯電話等のモバイル表示装置等に広く利用することができる。
1 表示装置
2 表示領域
3 パネル周辺部
11、111 下部配線層
11a 第1の電源線(第1の電極)
11b ソース−ドレイン電極
12、112 上部配線層
12a 第2の電源線(第2の電極)
12b アノード電極
13、113、213 異物
14 開口部
20 基板
22 ゲート絶縁層
23 ゲートメタル
24 パッシベーション膜
25 層間絶縁層
111a、211a 第1の分割電極部
111b、211b 第1の切断可能部
111c、211c 第1の開口部
112a、212a 第2の分割電極部
112b、212b 第2の切断可能部
112c、212c 第2の開口部
115、215 リペア領域
211d 第1の接続用電極部
212d 第2の接続用電極部

Claims (8)

  1. 第1の電位に設定される第1の電極と、
    前記第1の電極の上方に積層された層間絶縁層と、
    前記層間絶縁層の上方に積層され、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極と、を備え、
    前記第1の電極は、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とを有し、
    前記第2の電極は、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とを有し、
    前記第1の分割電極部と前記第2の分割電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
    前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
    前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されており、
    前記第1の電位は、表示領域に設けられた画素回路に印加される高電位側の電位であり、前記第2の電位は、前記画素回路に印加される低電位側の電位であ
    一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
    一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
    前記第1の電極は、さらに、一の前記第1の切断可能部と他の前記第1の切断可能部とを前記第2の方向に連続して接続する第1の接続用電極部を有し、
    前記第2の電極は、さらに、一の前記第2の切断可能部と他の前記第2の切断可能部とを前記第1の方向に連続して接続する第2の接続用電極部を有し、
    前記第1の接続用電極部と前記第2の接続用電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている、
    表示装置。
  2. 一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
    一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
    前記第1の開口部は、前記第1の方向に長いスリット状に形成され、
    前記第2の開口部は、前記第2の方向に長いスリット状に形成されている、
    請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記第1の開口部及び前記第2の開口部の大きさは、前記レーザー光の光径より大きい、
    請求項1または2に記載の表示装置。
  4. 前記表示装置は、薄膜トランジスタを有する駆動回路層と、画素電極を有する表示領域とを備え、
    前記第1の電極及び前記第2の電極のうちの一方は、前記駆動回路層における前記薄膜トランジスタのゲート電極、ソース−ドレイン電極のいずれかと同一の層に形成され、
    前記第1の電極及び前記第2の電極のうちの他方は、前記表示領域における前記画素電極と同一の層に形成されている、
    請求項1〜のいずれか1項に記載の表示装置。
  5. 第1の電位に設定される第1の電極を形成する工程と、
    前記第1の電極の上方に層間絶縁層を形成する工程と、
    前記層間絶縁層の上方に、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極を形成する工程と、
    前記第1の電極と前記第2の電極とが短絡している短絡位置を検出する工程と、
    前記短絡位置を囲むように前記第1の電極および前記第2の電極にレーザー光を照射する工程と、を含み、
    前記第1の電極を形成する工程において、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とが形成され、
    前記第2の電極を形成する工程において、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とが形成され、
    前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
    前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
    前記レーザー光を照射する工程において、前記第1の切断可能部および前記第2の切断可能部にレーザー光を照射し、
    前記第1の電位は、表示領域に設けられた画素回路に印加される高電位側の電位であり、前記第2の電位は、前記画素回路に印加される低電位側の電位であ
    一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
    一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
    前記第1の電極において、一の前記第1の切断可能部と他の前記第1の切断可能部とは第1の接続用電極部を介して前記第2の方向に連続して接続され、
    前記第2の電極において、一の前記第2の切断可能部と他の前記第2の切断可能部とは第2の接続用電極部を介して前記第1の方向に連続して接続され、
    前記第1の接続用電極部と前記第2の接続用電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置される、
    表示装置の製造方法。
  6. 前記短絡位置を検出する工程は、前記第2の電極を形成する工程の後に行われる、
    請求項に記載の表示装置の製造方法。
  7. 前記画素回路は、駆動トランジスタと有機EL素子とを備え、
    前記第1の電位は、前記駆動トランジスタ及び前記有機EL素子のうちの一方に印加され、
    前記第2の電位は、前記駆動トランジスタ及び前記有機EL素子のうちの他方に印加される、
    請求項1に記載の表示装置。
  8. 第1の電位に設定される第1の電極と、
    前記第1の電極の上方に積層された層間絶縁層と、
    前記層間絶縁層の上方に積層され、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極と、を備え、
    前記第1の電極は、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とを有し、
    前記第2の電極は、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とを有し、
    前記第1の分割電極部と前記第2の分割電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
    前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
    前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
    一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
    一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
    前記第1の電極は、さらに、一の前記第1の切断可能部と他の前記第1の切断可能部とを前記第2の方向に連続して接続する第1の接続用電極部を有し、
    前記第2の電極は、さらに、一の前記第2の切断可能部と他の前記第2の切断可能部とを前記第1の方向に連続して接続する第2の接続用電極部を有し、
    前記第1の接続用電極部と前記第2の接続用電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている、
    表示装置。
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