JP6277355B2 - 表示装置および表示装置の製造方法 - Google Patents
表示装置および表示装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6277355B2 JP6277355B2 JP2014522424A JP2014522424A JP6277355B2 JP 6277355 B2 JP6277355 B2 JP 6277355B2 JP 2014522424 A JP2014522424 A JP 2014522424A JP 2014522424 A JP2014522424 A JP 2014522424A JP 6277355 B2 JP6277355 B2 JP 6277355B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- opening
- severable
- potential
- insulating layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 21
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 125
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 14
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 claims description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 20
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 18
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/124—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/123—Connection of the pixel electrodes to the thin film transistors [TFT]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
- G02F1/136263—Line defects
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/60—Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/621—Providing a shape to conductive layers, e.g. patterning or selective deposition
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/861—Repairing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
以下、本開示の詳細を説明する前に、基礎となった知見について説明する。図1は、基礎となった知見を説明するための表示装置の上面図、図2は、図1に示した表示装置のパネル周辺部の拡大図であり、図1の(a)は表示装置の上面図、図1の(b)は(a)の一部を拡大した図である。
以下、図6〜図8を用いて、実施の形態1に係る表示装置について説明する。
図6は、本実施の形態に係る表示装置1のパネル周辺部の上面図であり、(b)は配線幅の広い配線が立体交差した部分を示す図、(a)は(b)の一部を拡大した図である。図7は、本実施の形態に係る表示装置のパネル周辺部の上面図である。
次に、本実施の形態に係る表示装置の製造方法について説明する。
以上のように、本実施の形態の一態様に係る表示装置は、第1の電位に設定される第1の電極と、前記第1の電極の上方に積層された層間絶縁層と、前記層間絶縁層の上方に積層され、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極と、を備え、前記第1の電極は、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とを有し、前記第2の電極は、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とを有し、前記第1の分割電極部と前記第2の分割電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている。
次に、実施の形態2について説明する。本実施の形態に係る表示装置が実施の形態1に係る表示装置と異なる点は、第1の電極および第2の電極の構成である。以下、図9を用いて、実施の形態2を説明する。
図9は、本実施の形態に係る表示装置のパネル周辺部の上面図である。
ここで、本実施の形態に係る表示装置の製造方法について説明する。
以上、本実施の形態に係る表示装置及び表示装置の製造方法によると、配線抵抗の増加を抑制しつつ、ショート不良を解消することができる。また、第1の電源線211と第2の電源線212にショート不良を解消するためのレーザー光の照射を行った後も、第1の電源線211と第2の電源線212のそれぞれの全ての領域に電圧を給電することができる。
以上のように、本出願において開示する技術の例示として、実施の形態1および2を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。また、上記実施の形態1および2で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。
2 表示領域
3 パネル周辺部
11、111 下部配線層
11a 第1の電源線(第1の電極)
11b ソース−ドレイン電極
12、112 上部配線層
12a 第2の電源線(第2の電極)
12b アノード電極
13、113、213 異物
14 開口部
20 基板
22 ゲート絶縁層
23 ゲートメタル
24 パッシベーション膜
25 層間絶縁層
111a、211a 第1の分割電極部
111b、211b 第1の切断可能部
111c、211c 第1の開口部
112a、212a 第2の分割電極部
112b、212b 第2の切断可能部
112c、212c 第2の開口部
115、215 リペア領域
211d 第1の接続用電極部
212d 第2の接続用電極部
Claims (8)
- 第1の電位に設定される第1の電極と、
前記第1の電極の上方に積層された層間絶縁層と、
前記層間絶縁層の上方に積層され、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極と、を備え、
前記第1の電極は、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とを有し、
前記第2の電極は、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とを有し、
前記第1の分割電極部と前記第2の分割電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されており、
前記第1の電位は、表示領域に設けられた画素回路に印加される高電位側の電位であり、前記第2の電位は、前記画素回路に印加される低電位側の電位であり、
一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
前記第1の電極は、さらに、一の前記第1の切断可能部と他の前記第1の切断可能部とを前記第2の方向に連続して接続する第1の接続用電極部を有し、
前記第2の電極は、さらに、一の前記第2の切断可能部と他の前記第2の切断可能部とを前記第1の方向に連続して接続する第2の接続用電極部を有し、
前記第1の接続用電極部と前記第2の接続用電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている、
表示装置。 - 一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
前記第1の開口部は、前記第1の方向に長いスリット状に形成され、
前記第2の開口部は、前記第2の方向に長いスリット状に形成されている、
請求項1に記載の表示装置。 - 前記第1の開口部及び前記第2の開口部の大きさは、前記レーザー光の光径より大きい、
請求項1または2に記載の表示装置。 - 前記表示装置は、薄膜トランジスタを有する駆動回路層と、画素電極を有する表示領域とを備え、
前記第1の電極及び前記第2の電極のうちの一方は、前記駆動回路層における前記薄膜トランジスタのゲート電極、ソース−ドレイン電極のいずれかと同一の層に形成され、
前記第1の電極及び前記第2の電極のうちの他方は、前記表示領域における前記画素電極と同一の層に形成されている、
請求項1〜3のいずれか1項に記載の表示装置。 - 第1の電位に設定される第1の電極を形成する工程と、
前記第1の電極の上方に層間絶縁層を形成する工程と、
前記層間絶縁層の上方に、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極を形成する工程と、
前記第1の電極と前記第2の電極とが短絡している短絡位置を検出する工程と、
前記短絡位置を囲むように前記第1の電極および前記第2の電極にレーザー光を照射する工程と、を含み、
前記第1の電極を形成する工程において、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とが形成され、
前記第2の電極を形成する工程において、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とが形成され、
前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
前記レーザー光を照射する工程において、前記第1の切断可能部および前記第2の切断可能部にレーザー光を照射し、
前記第1の電位は、表示領域に設けられた画素回路に印加される高電位側の電位であり、前記第2の電位は、前記画素回路に印加される低電位側の電位であり、
一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
前記第1の電極において、一の前記第1の切断可能部と他の前記第1の切断可能部とは第1の接続用電極部を介して前記第2の方向に連続して接続され、
前記第2の電極において、一の前記第2の切断可能部と他の前記第2の切断可能部とは第2の接続用電極部を介して前記第1の方向に連続して接続され、
前記第1の接続用電極部と前記第2の接続用電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置される、
表示装置の製造方法。 - 前記短絡位置を検出する工程は、前記第2の電極を形成する工程の後に行われる、
請求項5に記載の表示装置の製造方法。 - 前記画素回路は、駆動トランジスタと有機EL素子とを備え、
前記第1の電位は、前記駆動トランジスタ及び前記有機EL素子のうちの一方に印加され、
前記第2の電位は、前記駆動トランジスタ及び前記有機EL素子のうちの他方に印加される、
請求項1に記載の表示装置。 - 第1の電位に設定される第1の電極と、
前記第1の電極の上方に積層された層間絶縁層と、
前記層間絶縁層の上方に積層され、前記第1の電位とは異なる第2の電位に設定される第2の電極と、を備え、
前記第1の電極は、第1の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第1の切断可能部と、第1の開口部とを有し、
前記第2の電極は、第2の分割電極部と、レーザー光が照射されることで切断される第2の切断可能部と、第2の開口部とを有し、
前記第1の分割電極部と前記第2の分割電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
前記第1の切断可能部と前記第2の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
前記第2の切断可能部と前記第1の開口部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置され、
一の前記第1の分割電極部は、他の前記第1の分割電極部と、前記第1の切断可能部を介して第1の方向に連続して接続され、
一の前記第2の分割電極部は、他の前記第2の分割電極部と、前記第2の切断可能部を介して前記第1の方向とは異なる第2の方向に連続して接続され、
前記第1の電極は、さらに、一の前記第1の切断可能部と他の前記第1の切断可能部とを前記第2の方向に連続して接続する第1の接続用電極部を有し、
前記第2の電極は、さらに、一の前記第2の切断可能部と他の前記第2の切断可能部とを前記第1の方向に連続して接続する第2の接続用電極部を有し、
前記第1の接続用電極部と前記第2の接続用電極部とは、前記層間絶縁層を介して、積層方向において重なる位置に配置されている、
表示装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012142455 | 2012-06-25 | ||
JP2012142455 | 2012-06-25 | ||
PCT/JP2013/003919 WO2014002463A1 (ja) | 2012-06-25 | 2013-06-24 | 表示装置および表示装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2014002463A1 JPWO2014002463A1 (ja) | 2016-05-30 |
JP6277355B2 true JP6277355B2 (ja) | 2018-02-14 |
Family
ID=49782656
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014522424A Active JP6277355B2 (ja) | 2012-06-25 | 2013-06-24 | 表示装置および表示装置の製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9443878B2 (ja) |
JP (1) | JP6277355B2 (ja) |
WO (1) | WO2014002463A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6405560B2 (ja) * | 2014-06-12 | 2018-10-17 | 株式会社Joled | 表示パネルの製造方法 |
KR102654924B1 (ko) * | 2016-06-16 | 2024-04-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2879157B2 (ja) | 1989-12-13 | 1999-04-05 | 株式会社日立製作所 | 回路基板およびアクティブマトリックス基板 |
US5260818A (en) * | 1992-05-11 | 1993-11-09 | Industrial Technology Research Institute | Display panel provided with repair capability of defective elements |
JP3231638B2 (ja) * | 1996-11-13 | 2001-11-26 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置及びその駆動方法 |
US6104450A (en) * | 1996-11-07 | 2000-08-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device, and methods of manufacturing and driving same |
JP3977061B2 (ja) | 2001-11-21 | 2007-09-19 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置及びその欠陥修復方法 |
JP2004347891A (ja) | 2003-05-22 | 2004-12-09 | Sharp Corp | アクティブマトリクス型表示装置 |
JP4573258B2 (ja) * | 2004-01-27 | 2010-11-04 | シャープ株式会社 | 短絡欠陥修正方法 |
JP4550529B2 (ja) * | 2004-09-02 | 2010-09-22 | 株式会社 日立ディスプレイズ | 液晶表示装置 |
JP5365007B2 (ja) | 2007-01-25 | 2013-12-11 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 |
US8274621B2 (en) * | 2007-06-15 | 2012-09-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device and manufacturing method of display device |
JP2009175476A (ja) | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Sony Corp | 表示装置 |
TWI370310B (en) * | 2008-07-16 | 2012-08-11 | Au Optronics Corp | Array substrate and display panel thereof |
-
2013
- 2013-06-24 US US14/404,785 patent/US9443878B2/en active Active
- 2013-06-24 WO PCT/JP2013/003919 patent/WO2014002463A1/ja active Application Filing
- 2013-06-24 JP JP2014522424A patent/JP6277355B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2014002463A1 (ja) | 2016-05-30 |
WO2014002463A1 (ja) | 2014-01-03 |
US9443878B2 (en) | 2016-09-13 |
US20150155302A1 (en) | 2015-06-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2018120754A1 (zh) | Oled阵列基板、显示装置及其暗点修复方法 | |
JP4088619B2 (ja) | アクティブマトリクス基板及び表示装置 | |
JP4584387B2 (ja) | 表示装置及びその欠陥修復方法 | |
EP3088951B1 (en) | Array substrate, preparation method thereof, motherboard comprising array substrate and display apparatus | |
US9244317B2 (en) | Active matrix substrate and display device | |
US9372359B2 (en) | Liquid crystal display device | |
JP5431502B2 (ja) | アレイ基板、及び、液晶表示パネル | |
JP2005091962A (ja) | 電極配線基板および表示装置 | |
JP2011191791A (ja) | 液晶表示装置の欠陥修正方法 | |
JPWO2006054386A1 (ja) | アクティブマトリクス基板及び表示装置 | |
US10838273B2 (en) | Array substrate, repair method thereof, and display device | |
US7602453B2 (en) | Display device | |
US10199401B2 (en) | Array substrate and method for maintaining the same, display panel and display device | |
KR102075060B1 (ko) | 리페어를 위한 배선 구조 및 그를 구비하는 평판표시장치 | |
US20200033682A1 (en) | Array Substrate and Repairing Method Thereof, Display Panel | |
JP6277355B2 (ja) | 表示装置および表示装置の製造方法 | |
JP2005084180A (ja) | 画素の大型化に対応したips液晶ディスプレイ | |
KR20130128146A (ko) | 유기전계발광 표시장치 | |
JP2012173621A (ja) | アレイ基板、及び表示装置 | |
JP2008089646A (ja) | 表示装置 | |
JP2009151098A (ja) | 平面表示装置、アレイ基板及びその製造方法 | |
TWI471643B (zh) | 影像顯示系統及其製造方法 | |
JP2006337453A (ja) | 薄膜トランジスタマトリクス基板及びその欠陥修復方法 | |
JP2005092154A (ja) | アクティブ基板、表示装置およびその製造方法 | |
JP2017120397A (ja) | 液晶表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160606 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170425 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170626 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20171114 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171205 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6277355 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S303 | Written request for registration of pledge or change of pledge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316303 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S803 | Written request for registration of cancellation of provisional registration |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316803 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |