KR20130128146A - 유기전계발광 표시장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 유기전계발광 표시장치에 관한 것으로, 일 방향으로 배열된 복수의 스캔 라인, 스캔 라인과 교차하도록 배열된 복수의 데이터 라인 및 스캔 라인과 데이터 라인 사이에 연결된 복수의 부화소를 포함하며, 하나의 화소를 구성하는 복수의 부화소에 연결된 복수의 스캔 라인 중 적어도 두 개의 스캔 라인이 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결됨으로써 단락(short)으로 인한 불량을 용이하게 리페어(repair)할 수 있다.
Description
본 발명은 유기전계발광 표시장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 단락(short)으로 인한 불량을 용이하게 리페어(repair)할 수 있도록 한 유기전계발광 표시장치에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치(LCD), 플라즈마 표시장치(PDP),유기전계발광 표시장치(OLED)와 같은 평판표시장치는 반도체 공정으로 제조된다. 반도체 공정에서 박막 트랜지스터, 캐패시터, 회로를 구성하는 라인들은 미세한 선 폭 및 간격을 가지는 패턴들로 형성되며, 패턴들은 층간 절연막을 사이에 두고 다층 구조로 배치된다.
패턴들이 미세한 간격으로 배치되며 층간 절연막의 두께 또한 얇게 형성되기 때문에 패턴들을 형성하는 사진 및 식각 과정에서 파티클과 같은 결함이나 오염이 발생될 경우 인접하는 라인들 또는 층간 절연막을 사이에 두고 서로 교차하는 라인들이 서로 단락될 수 있다.
이와 같은 단락으로 인한 불량은 제조 공정의 최종 단계인 검사 과정에서 라인 테스트 및 위치 테스트를 통해 검출될 수 있으며, 리페어 공정을 통해 불량을 제거하게 된다. 리페어 공정을 통해 불량을 제거함으로써 제조 비용을 절감할 수 있다.
그런데 전원공급라인은 회로를 구성하는 일반적인 라인들보다 상대적으로 폭 및(또는) 두께가 두껍기 때문에 인접하거나 교차하는 다른 라인들과 쉽게 단락되며, 이를 리페어하기 위해서는 두꺼운 전원공급라인을 레이저 등으로 절단해야 하기 때문에 리페어 공정이 어렵다. 더욱이, 절단된 전원공급라인으로는 전원이 공급되지 못하며, 상대적으로 얇은 보조전원공급라인을 통해 전원이 공급되더라도 일부 회로나 소자가 정상적으로 동작되지 않을 수 있다.
본 발명의 목적은 리페어가 용이한 유기전계발광 표시장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은 리페어에 따른 피해가 최소화되도록 한 유기전계발광 표시장치를 제공하는 데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 유기전계발광 표시장치는 일 방향으로 배열된 복수의 스캔 라인, 상기 스캔 라인과 교차하도록 배열된 복수의 데이터 라인, 및 상기 스캔 라인과 데이터 라인 사이에 연결된 복수의 부화소를 포함하며, 하나의 화소를 구성하는 복수의 부화소에 연결된 복수의 스캔 라인 중 적어도 두 개의 스캔 라인이 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결된다.
상기 보조 스캔 라인은 서로 인접하는 화소 사이에 배치되며, 상기 하나의 화소를 구성하는 복수의 부화소에 연결된 복수의 스캔 라인으로 동일한 스캔 신호가 제공된다.
상기 복수의 스캔 라인과 교차되도록 배열된 전원공급라인을 더 포함하며, 상기 전원공급라인은 인접하는 두 개의 보조 스캔 라인 사이에 배치되고, 상기 전원공급라인이 상기 스캔 라인보다 두껍게 형성된다.
상기 하나의 화소를 구성하는 상기 복수의 부화소는 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소를 포함하고, 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소 중 적어도 두 개의 부화소에 연결된 상기 스캔 라인이 상기 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결되거나, 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소에 연결된 상기 스캔 라인이 상기 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결될 수 있다. 또는, 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소에 연결된 상기 스캔 라인을 공통으로 연결하는 보조 스캔 라인 및 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소 중 적어도 두 개의 부화소에 연결된 상기 스캔 라인을 공통으로 연결하는 보조 스캔 라인이 상기 일 방향을 따라 교대로 배치될 수 있다.
본 발명은 하나의 화소를 구성하는 복수의 부화소에 연결된 복수의 스캔 라인 중 적어도 두 개의 스캔 라인이 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결되도록 한다. 스캔 라인과 전원공급라인이 단락된 경우 폭 및 두께가 두꺼운 전원공급라인을 절단하지 않고 상대적으로 폭 및 두께가 얇은 스캔 라인을 절단하여 리페어할 수 있기 때문에 리페어 공정이 매우 용이하다. 또한, 스캔 신호가 보조 스캔 라인을 경유하여 우회할 수 있기 때문에 리페어 공정 후에도 모든 부화소가 정상적으로 동작될 수 있어 리페어로 인한 피해가 발생되지 않는다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치를 설명하기 위한 블록도.
도 2는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치를 설명하기 위한 블록도.
도 3은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치를 설명하기 위한 블록도.
도 4 및 5는 본 발명의 리페어 방법을 설명하기 위한 개략도.
도 2는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치를 설명하기 위한 블록도.
도 3은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치를 설명하기 위한 블록도.
도 4 및 5는 본 발명의 리페어 방법을 설명하기 위한 개략도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이하의 실시예는 이 기술 분야에서 통상적인 지식을 가진 자에게 본 발명이 충분히 이해되도록 제공되는 것으로서, 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 다음에 기술되는 실시예에 한정되는 것은 아니다.
도 1 내지 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 유기전계발광 표시장치는 복수의 스캔 라인(S11 내지 Sn3)과 데이터 라인(D11 내지 Dm3) 사이에 복수의 화소(10)가 매트릭스(matrix) 형태로 배열된 화소부(100), 스캔 라인(S11 내지 Sn3)에 연결된 스캔 구동부(200) 및 데이터 라인(D11 내지 Dm3)에 연결된 데이터 구동부(300)를 포함한다.
복수의 스캔 라인(S11 내지 Sn3)은 일 방향 예를 들어, 횡(column) 방향으로 배열되며, 복수의 데이터 라인(D11 내지 Dm3)은 스캔 라인(S11 내지 Sn3)과 교차되는 방향 예를 들어, 열(row) 방향으로 배열된다.
복수의 화소(10)는 각각 복수의 부화소 예를 들어, 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)를 포함한다.
각 부화소(R, G, B)는 애노드 전극, 유기 발광층 및 캐소드 전극을 포함하며, 전원전압(ELVDD) 및 접지전압(ELVSS)에 연결된다. 예를 들어, 애노드 전극이 전원전압(ELVDD)에 연결되고, 캐소드 전극이 접지전압(ELVSS)에 연결된다.
전원전압(ELVDD)은 전원공급라인(20)을 통해 각 부화소(R, G, B)로 공급되며, 화소부(100)에서 전원공급라인(20)은 각 화소(10) 열의 데이터 라인을 따라 연장되거나, 각 화소(10) 열 및 횡을 따라 각각 연장된 메쉬(mesh) 구조로 배열될 수 있다.
도 1 내지 도 3은 하나의 화소(10)를 구성하는 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)가 열 방향을 따라 반복적으로 배열되며, 각 열(m)의 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)가 데이터 라인(Dm1, Dm2, Dm3)에 각각 연결되고, 각 행(n)의 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)가 스캔 라인(Sn1, Sn2, Sn3)에 각각 연결된 화소 어레이를 도시한다(n 및 m은 자연수).
상기 화소 어레이에서 하나의 화소(10)를 구성하는 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)에 연결된 복수의 스캔 라인(Sn1 내지 Sn3) 중 적어도 두 개의 스캔 라인은 보조 스캔 라인(30)에 의해 서로 연결된다. 보조 스캔 라인(30)은 스캔 라인과 같은 층에 형성되거나, 다른 층에 형성되는 경우에는 층간 절연막에 형성된 콘택홀을 통해 스캔 라인과 연결될 수 있다.
도 1은 제 1 실시예로서, 보조 스캔 라인(30)이 하나의 화소(10)를 구성하는 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)에 연결된 스캔 라인(Sn1 내지 Sn3)에 공통으로 연결되며, 보조 스캔 라인(30)이 횡 방향으로 서로 인접하는 화소(10) 사이에 각각 배치된 구조를 도시한다.
도 2는 제 2 실시예로서, 보조 스캔 라인(30)이 하나의 화소(10)를 구성하는 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B) 중 두 개의 부화소에 연결된 스캔 라인(Sn1 및 Sn2 또는 Sn2 및 Sn3)에 공통으로 연결되며, 횡 방향으로 서로 인접하는 화소(10) 사이에 보조 스캔 라인(30)이 각각 배치되되, 적색 부화소(R) 및 녹색 부화소(G)에 연결된 스캔 라인(Sn1 및 Sn2)에 공통으로 연결된 보조 스캔 라인(30a)과 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)에 연결된 스캔 라인(Sn2 및 Sn3)에 공통으로 연결된 보조 스캔 라인(30b)이 교대로 배치된 구조를 도시한다.
도 3은 제 3 실시예로서, 제 1 실시예 및 제 2 실시예를 결합한 구조이다. 적색 부화소(R), 녹색 부화소(G) 및 청색 부화소(B)에 연결된 스캔 라인(Sn1 내지 Sn3)에 공통으로 연결된 보조 스캔 라인(30c)과 적색 부화소(R) 및 녹색 부화소(G)에 연결된 스캔 라인(Sn1 및 Sn2)에 공통으로 연결된 보조 스캔 라인(30d)이 교대로 배치된 구조를 도시한다.
상기와 같이 구성된 유기전계발광 표시장치에서 전원공급라인(20)은 인접하는 두 개의 보조 스캔 라인(30) 사이에 배치되며, 스캔 라인(S11 내지 Sn3)이나 데이터 라인(D11 내지 Dm3)보다는 두껍게(예를 들어, 100㎛ 이상) 형성된다.
전원공급라인(20)은 특히, 스캔 라인(S11 내지 Sn3)과 교차되기 때문에 제조과정에서 층간 절연막에 결함 등이 발생될 경우 서로 단락될 수 있다. 이와 같은 단락으로 인한 불량은 제조 공정의 최종 단계인 검사 과정에서 라인 테스트 및 위치 테스트를 통해 검출될 수 있으며, 리페어 공정을 통해 불량을 제거하게 된다.
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 구조에서 단락이 발생된 경우 리페어하는 방법을 설명하기 위한 개략도이다.
예를 들어, 스캔 라인(S11 내지 S13)과 연결된 두 개의 화소(10) 사이에서 서로 교차하는 스캔 라인(S12)과 전원공급라인(20)이 단락(A 부분)되면 전원공급라인(20) 양측부의 스캔 라인(S12)을 레이저 등을 이용하여 절단(B 부분)한다.
횡 방향으로 연결된 화소(10)는 예를 들어, 스캔 라인(S11 내지 S13)에 공통으로 연결되며, 스캔 라인(S11 내지 S13)으로 제공되는 스캔 신호는 동일한 신호이기 때문에 상기 절단된 부분(B) 이후에 배치된 즉, 상기 절단된 부분(B)의 우측에 배치된 녹색 부화소(G)에는 스캔 라인(S12)으로 공급된 스캔 신호가 보조 스캔 라인(30)을 통해 우회하여 공급되거나, 스캔 라인(S13)으로 공급된 스캔 신호가 보조 스캔 라인(30)을 통해 우회하여 공급될 수 있다.
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 구조에서 단락이 발생된 경우 리페어하는 방법을 설명하기 위한 개략도이다.
예를 들어, 스캔 라인(S11 내지 S13)과 연결된 두 개의 화소(10) 사이에서 서로 교차하는 스캔 라인(S13)과 전원공급라인(20)이 단락(C 부분)되면 전원공급라인(20) 양측부의 스캔 라인(S13)을 레이저 등을 이용하여 절단(D 부분)한다.
횡 방향으로 연결된 화소(10)는 예를 들어, 스캔 라인(S11 내지 S13)에 공통으로 연결되며, 스캔 라인(S11 내지 S13)으로 제공되는 스캔 신호는 동일한 신호이기 때문에 상기 절단된 부분(D) 이후에 배치된 즉, 상기 절단된 부분(D)의 우측에 배치된 청색 부화소(B)에는 스캔 라인(S12)으로 공급된 스캔 신호가 보조 스캔 라인(30b)을 통해 우회하여 공급될 수 있다.
상기와 같이 본 발명에 따르면 폭 및(또는) 두께가 두꺼운 전원공급라인(20)을 절단하지 않고 상대적으로 폭 및(또는) 두께가 얇은 스캔 라인(S12)을 절단하기 때문에 리페어 공정이 매우 용이하다. 또한, 보조 스캔 라인(30)이 없다고 가정하면 절단 부분(B 또는 D) 이후의 스캔 라인(S12 또는 S13)에 연결된 녹색 부화소(G) 또는 청색 부화소(B)에는 스캔 신호가 전달되지 않기 때문에 해당 행의 암선화가 발생되지만, 본 발명에 따르면 리페어 공정 후에도 모든 부화소(R, G, B)가 정상적으로 동작될 수 있기 때문에 리페어로 인한 피해가 발생되지 않는다.
이상에서와 같이 상세한 설명과 도면을 통해 본 발명의 최적 실시예를 개시하였다. 용어들은 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
10: 화소
20: 전원공급라인
30, 30a, 30b, 30c, 30d: 보조 스캔 라인
100: 화소부
200: 스캔 구동부
300: 데이터 구동부
20: 전원공급라인
30, 30a, 30b, 30c, 30d: 보조 스캔 라인
100: 화소부
200: 스캔 구동부
300: 데이터 구동부
Claims (10)
- 일 방향으로 배열된 복수의 스캔 라인;
상기 스캔 라인과 교차하도록 배열된 복수의 데이터 라인; 및
상기 스캔 라인과 데이터 라인 사이에 연결된 복수의 부화소를 포함하며,
하나의 화소를 구성하는 복수의 부화소에 연결된 복수의 스캔 라인 중 적어도 두 개의 스캔 라인이 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결된 유기전계발광 표시장치. - 제 1 항에 있어서, 상기 보조 스캔 라인이 서로 인접하는 상기 화소 사이에 배치된 유기전계발광 표시장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 복수의 스캔 라인과 교차되도록 배열된 전원공급라인을 더 포함하는 유기전계발광 표시장치.
- 제 3 항에 있어서, 상기 전원공급라인이 인접하는 두 개의 보조 스캔 라인 사이에 배치된 유기전계발광 표시장치.
- 제 3 항에 있어서, 상기 전원공급라인이 상기 스캔 라인보다 두껍게 형성된 유기전계발광 표시장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 하나의 화소를 구성하는 상기 복수의 부화소는 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소를 포함하는 유기전계발광 표시장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소 중 적어도 두 개의 부화소에 연결된 상기 스캔 라인이 상기 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결된 유기전계발광 표시장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소에 연결된 상기 스캔 라인이 상기 보조 스캔 라인에 의해 서로 연결된 유기전계발광 표시장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소에 연결된 상기 스캔 라인을 공통으로 연결하는 보조 스캔 라인 및 상기 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소 중 적어도 두 개의 부화소에 연결된 상기 스캔 라인을 공통으로 연결하는 보조 스캔 라인이 상기 일 방향을 따라 교대로 배치된 유기전계발광 표시장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 하나의 화소를 구성하는 복수의 부화소에 연결된 복수의 스캔 라인으로 동일한 스캔 신호가 제공되는 유기전계발광 표시장치.
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