JP6257077B2 - グリッチ・エネルギー・エラーを低減するための電流ステアリング源を有するデジタル−アナログ変換器 - Google Patents

グリッチ・エネルギー・エラーを低減するための電流ステアリング源を有するデジタル−アナログ変換器 Download PDF

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Description

本発明は、概してデジタル−アナログ変換器(DAC)に関し、より詳細には、グリッチ・エネルギー・エラーを低減するためにマスタ・バイアス・ネットワークを使用するDACのための電流ステアリング源に関する。
デジタル−アナログ変換器(DAC)は、入力デジタル信号を出力アナログ信号に変換する電子回路である。DACに入力されるデジタル信号によって表される数値は、DACによって出力されるアナログ信号の振幅と対応する。速度、分解能、およびノイズを含むさまざまな要因がDACの性能を決定する。速度とは、DACがデジタル値を安定したアナログ信号に変換する時間量を指す。分解能とは、DACによって生成される最小の増分信号を指し、入力デジタル信号の最下位ビット(LSB)と対応する。ノイズとは、特に1つのデジタル値から別のデジタル値へのスイッチング時の、出力アナログ信号の予測されるまたは所望のレベルに対する偏差を指す。特許文献1には、DACのグリッチエネルギーを低減する装置について記載されている。
高性能DACは、高い分解能を有するデータを高周波数かつ低ノイズで変換するのに有用である。電流ステアリングアーキテクチャは、各ビットまたは変換されたデータビットが一対のノード間の電流源からの電流をスイッチングするのに使用される、高速サンプリング用途において一般に好まれるアーキテクチャである。高周波電流ステアリングDACは、特にデジタル符号間の動的なスイッチングの間のグリッチエネルギーおよび/または立ち上がりと立ち下がりとの時間不整合の形態の非理想的な挙動を呈することが多い。たとえば、スイッチを通じて制御信号を出力に結合することによって、電流ステアリングDACの動的な性能劣化が引き起こされる場合がある。挙動および性能を改善する試みにおいてさまざまな方法が使用されてきたが、多くのそのような従来の技法は、望ましくないタイミング差を招いたり、スイッチ制御信号(たとえば、クロック信号)を通じた電荷供給および電荷注入を引き起こしたりすることによって、出力においてグリッチエネルギーおよび他の歪みが引き起こされる。
米国特許第6,664,906号明細書
本明細書に記載のシステムおよび方法は、グリッチ・エネルギー・エラーを低減し、一方のデジタル値からもう一方のデジタル値へと変化するときに正確なステップを達成する。
本明細書に記載の実施形態に応じたデジタル−アナログ変換器(DAC)のための電流ステアリング源は、レプリカバイアスおよびマスタ増幅器バッファを使用して、非常に高速の信号応答を達成し、立ち上がりおよび立ち下がりエッジ不整合を低減するために異なる閾値デバイスを使用することを可能とする。本明細書に記載のシステムおよび方法は、さらに、グリッチエネルギーを低減し、立ち上がりおよび立ち下がり時間不整合を低下させるためにクロック信号揺れを低減する。その対応する電流スイッチがオフになっているときでであっても持続するカスコードトランジスタによって動的性能が改善される。レプリカバイアスによって、カスコードトランジスタのソース電圧が一定のままであることが保証され、それによって、より大きい低閾値電圧トランジスタを使用するか、または標準的な閾値電圧でより小さいトランジスタを使用することが可能になる。電流ステアリング源は、二項(binary)DAC、単項(unary)DACに、またはセグメント化アーキテクチャの1つ以上の部分内で使用されてもよい。
一実施形態に応じて実装されるDACの簡略ブロック図。 単項構成に応じた図1のDACの一方または両方のための変換ネットワークの簡略ブロック図。 図2の変換ネットワークと図4の電流源との間で使用されてもよい、一実施形態に応じて実装されるレベルシフタの概略図。 図1のDACの一方または両方の中で使用される電流ステアリング源の概略図。 図4の電流ステアリング源のバイアス電圧を設定し、さらに、図4の電流ステアリング源の第1の制御ノードおよび第2の制御ノードが共通マスタ制御電圧まで駆動されることを保証するためにVG電圧を駆動するために使用されるマスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークの概略ブロック図。 図1のMSBまたはLSB DACのうちの一方を表し、前述の機能回路間の例示的な関係を示す、一実施形態に応じて実装されるDACの簡略ブロック図。
本発明は例として示されており、添付の図面によって限定されない。図面において、同様の参照符号は類似の要素を示す。図面内の要素は簡潔かつ明瞭にするために示されており、必ずしも原寸に比例して描かれてはいない。
以下の説明は、当業者が本発明を、特定の用途およびその要件の文脈内で提供されるように作成および使用することを可能にするために提示される。しかしながら、好ましい実施形態に対するさまざまな改変が当業者には明らかであり、本明細書において定義される一般原則は他の実施形態にも適用され得る。それゆえ、本発明は、本明細書において示され説明される特定の実施形態に限定されることは意図されておらず、本明細書において開示される原則および新規の特徴と一致する最も広い範囲に従うべきである。
図1は、一実施形態に応じて実装されるDAC100の簡略ブロック図である。DAC100の入力においてマルチビットデジタル値DIGが提供され、これは、負荷抵抗器RLに掛かる正極性電圧VOおよび負荷抵抗器RLに掛かる負極性電圧VOを含む差分出力電圧VOを発生させる。DAC100は、DIG値の最上位ビット(MSB)がMSB DAC102に提供され、最下位ビット(LSB)がLSB DAC104に提供されるセグメント化アーキテクチャとして示されている。
DIGの総ビット数はMSBとLSBとの間で分割され、所与の用途にとって所望される分解能に応じて決定される。さらに、DIG値のMSBおよびLSBの数は特定の構成に応じて決まる。DIGビットはMSBとLSBとの間で等しく分割されてもよいが、代替的な構成が企図される。たとえば、DIGは12ビットで6MSBと6LSBとに分割されてもよい(6/6)が、12ビット分解能について、所与の分解能、たとえば(4/8)、(5/7)、(7/5)、(8/4)などの非対称分割が企図される。
MSB DAC102およびLSB DAC104は両方とも、下記にさらに説明するような、差分出力電圧VOの正極性VOを発生させるための負荷抵抗器RLと負極性VOを発生させるための負荷抵抗器RLとの間で分割される電流信号を発生させるための電流ステアリングアーキテクチャに応じて構成される。MSB DAC102は、MSBの値に基づいて第1の電流IMと第2の電流IMとの間で電流を操作(ステアリング)し、LSB DAC104は、LSBの値に基づいて第1の電流ILと第2の電流ILとの間で電流をステアリングする。電流IMおよびILは正極性ノード106において合計されてVOを発生させるためにRLに印加され、電流IMおよびILは負極性ノード108において合計されてVOを発生させるためにRLに印加される。
図示されているように、抵抗器RLは、ノード106と、任意の適切な負、正またはグランド基準電圧レベルを有する供給基準ノードVSSとの間に結合されている。抵抗器RLはノード108とVSSとの間に結合されている。MSB DAC102およびLSB DAC104は、使用される特定の技術に応じた任意の適切な供給電圧レベルを有する正供給電圧VDDに結合されている。
図2は、単項構成に応じたDAC102および104の一方または両方のための変換ネットワーク200の簡略ブロック図である。単項構成のためにMSBまたはLSBのいずれかを表す、BITとして図示されている数「N」の二値入力ビット値がデコーダ202のそれぞれの入力に提供される。一実施形態において、デコーダ202は、N個の入力ビットが数「X」の二値CODEビットを含む出力単項コード値CODEに変換される二項−サーモメータデコーダとして構成され、NおよびXは両方とも0よりも大きい正の整数である。一実施形態において、CODEビットの数XはX=2であり、自然数または十進数を表す入力BITはN個の論理「1」二進値を含むX個のCODEビットに変換される。一例として、N=4、X=16について、正の十進数7を表す入力値0111bは0000000001111111の二進CODE値に変換される。
X個のCODEビットが、クロック信号CLKを受信するラッチ204のセットのそれぞれの入力に提供される。ラッチ204は、各CODEビットを同期された非反転コードビットCおよびその反転コードビット、すなわち、
に変換し、「j」は1〜Xの指数である。信号名の上のオーバーストライク線またはバーは対応する信号の論理反転を示す。たとえば、出力コードビットのうちの一方であるCが「1」の二進値を有する場合、バー付きのCは「0」の二進値を有し、反対に、Cが「0」の二進値を有する場合、バー付きのCは「1」の二進値を有する。ラッチ204は、各CODEビットを、クロック信号CLKの動作エッジ遷移(立ち上がりまたは立ち下がりエッジ)と同期された対応する遷移を有するコードビットCおよびバー付きのCのうちの対応する一方に変換するように動作する。
一実施形態において、MSB DAC102およびLSB DAC104の両方が、図2に示す単項構成(すなわち、単項/単項)に応じて実装される。本明細書においてさらに説明するように、各単項構成DACは、共通の電流値をコードビットCおよびバー付きのCのうちの対応する一方に応じて正極性ノード106と負極性ノード108との間でスイッチングする等価なスイッチ可能またはステアリング電流源の対応するセットを含む。単項/単項構成について、MSB DAC102の各ビットに関連付けられる電流レベルはLSB DAC104の各ビットに関連付けられる電流レベルよりも大きく、その電流比はMSBのLSBに対する二進値に応じて決定される。
代替的な実施形態において、二項構成の変換ネットワーク200が企図され、各BIT値はコードビットCおよびバー付きのCのうちの対応する一方を発生させるためにラッチ204に直接提供され(デコーダ202をバイパスし)、各コードビット対は対応する入力BIT値を表す。一実施形態において、単項/二項構成が企図され、MSB DAC102は単項構成に応じて実装され、LSB DAC104は二項構成に応じて実装される。二項構成の場合において、対応するDACは二項加重スイッチ可能またはステアリング電流源のセットを含み、次のまたはより上位のビット値は2倍の電流レベル、たとえば、加重電流レベル値I・2、I・2、I・2、...、I・2を提供する電流源と対応し、「I」はLSB電流レベルである。
図3は、一実施形態に応じて実装されるレベルシフタ300の概略図である。4つのスイッチS1、S2、S3およびS4のセットが、対応する1つの(または対応する複数の)ラッチ204から出力される一対のコードビットCおよびバー付きのCによって制御され、下付き文字「k」はj個のコードビットのうちの代表的なものを示す。スイッチS1はレベルシフト供給電圧VDD_LSとノード302との間に結合されており、コードビットCによって制御される。スイッチS2はノード302とレベルシフト供給電圧ノード306との間に結合されており、コードビットバー付きのCによって制御される。同様に、スイッチS3はVDD_LSとノード304との間に結合されており、コードビットバー付きのCによって制御され、スイッチS4はノード304と306との間に結合されており、コードビットCによって制御される。増幅器308はレベルシフト供給電圧VDD_LSMを受け取る正入力を有し、ともにノード306において結合されている負入力および出力を有する。ノード306とVSSとの間にフィルタキャパシタCFが結合されている。ノード302は代表データビットDをアサートし、ノード304はデータビットバー付きのDをアサートし、バー付きのDはDの論理反転である。
一実施形態において、VDD_LSは、VDDから所定量だけオフセットされた所定または固定の電圧レベルを有するなど、VDDに対してレベルシフトされている。代替的に、VDD_LSはVDDから調整可能な量だけオフセットされてもよい。いずれにせよ、VDDが固定の正電圧レベルを有すると仮定すると、本明細書においてさらに説明するように、VDD_LSは、電圧スイッチング範囲全体を低減するためにそのオフセット量だけより低い電圧レベルへとシフトされる。別の実施形態において、VDD_LSはVDDに結合されるかまたは他の様態でVDDに置き換わってもよく、上側電圧レベルはシフトされない。
一実施形態において、VSS_LSは、VSSから所定量だけオフセットされた所定または固定の電圧レベルを有するなど、VSSに対してレベルシフトされている。代替的に、VSS_LSはVSSから調整可能な量だけオフセットされてもよい。いずれにせよ、VSSがVDDよりも小さいと仮定すると、本明細書においてさらに説明するように、VSS_LSは、電圧スイッチング範囲全体を低減するためにそのオフセット量だけより高い電圧レベルへとシフトされる。増幅器308はユニティゲイン増幅器またはバッファ増幅器として構成され、それによって、VSS_LSの電圧レベルはVSS_LSMと同じ電圧レベルに従う。VSS_LSMは外部電圧源(図示せず)によって設定される。
動作時、コードビットCおよびバー付きのCはラッチ204によってVDDとVSSとの間の反対の論理レベルまで同期してアサートされる。Cがハイであるとき、スイッチS1およびS4は閉じており、バー付きのCはローであり、スイッチS2およびS3を開く。従って、ノード302によってアサートされるDビットがVDD_LSまでハイに変更(プル)され、反転であるバー付きのDビットがVSS_LSまでローにプルされる。また、Cがローであるとき、スイッチS1およびS4は開いており、バー付きのCはハイであり、スイッチS2およびS3を閉じる。従って、ノード302によってアサートされるDビットがVSS_LSまでローにプルされ、反転であるバー付きのDビットがVDD_LSまでハイにプルされる。このように、Dおよびバー付きのDは、VSSとVDDとの間でスイッチングされているCおよびバー付きのCの対応する同期遷移に応答してシフト電圧レベルVSS_LSとVDD_LSとの間で反対の論理状態まで同期してアサートされる。従って、対応するCODE値がデコーダ202によって、またはMSBおよびLSBのうちの対応する一方からアサートされるのに応答して、データビットDおよびバー付きのDはVSS_LSとVDD_LSとの間の低減された電圧範囲内で同期してスイッチングされる。
図4は、MSB DAC102およびLSB DAC104の一方または両方の中で使用され、データビット対Dおよびバー付きのDによって制御される電流ステアリング源400の概略図である。コードまたはデータビットの各同期対に対して別個の電流ステアリング源が提供される。第1のP型MOS(金属酸化膜半導体)(PMOS)トランジスタM1は、そのソースが第1の制御ノード402に結合されており、そのドレインがノード106に結合されており、そのゲートはバッファ制御ノード401上で発生するゲート電圧信号VGを受信する。第2のPMOSトランジスタM2はそのソースが第2の制御ノード404に結合されており、そのドレインがノード108に結合されており、そのゲートはノード401に結合されていてVG信号を受信する。M1およびM2は、ノード401上の共通のゲート電圧VGによって駆動される、それぞれ第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスである。第3のPMOSトランジスタM3はそのソースがソースノード406に結合されており、そのドレインがノード402に結合されており、そのゲートは非反転データビットDを受信する。第4のPMOSトランジスタM4はそのソースがノード406に結合されており、そのドレインがノード404に結合されており、そのゲートは反転データビットであるバー付きのDを受信する。M3およびM4は、それぞれDおよびバー付きのDによって制御される第1のスイッチおよび第2のスイッチである。第5のPMOSトランジスタM5はそのソースが第6のPMOSトランジスタM6のドレインに結合されており、そのドレインがノード406に結合されており、そのゲートはバイアス電圧VB2を受け取る。M6はそのソースをVDDに結合されており、そのゲートはバイアス電圧VB1を受け取る。
第7のPMOSトランジスタM7はそのソースが第8のPMOSトランジスタM8のドレインに結合されており、そのドレインがノード402に結合されており、そのゲートはVB2バイアス電圧を受け取る。M8はそのソースがVDDに結合されており、そのゲートはVB1バイアス電圧を受け取る。第9のPMOSトランジスタM9はそのソースが第10のPMOSトランジスタM10のドレインに結合されており、そのドレインがノード404に結合されており、そのゲートはVB2バイアス電圧を受け取る。M10はそのソースがVDDに結合されており、そのゲートはVB1バイアス電圧を受け取る。
M6およびM5は集合的に、ソース電流ICSをノード406に提供するデータ電流源408を形成する。M3およびM4は主データ・スイッチング・デバイスであり、DがM3をオンにするハイであり、バー付きのDがM4をオフにするローであるとき、ICS電流はノード402に対し送られる。同様に、DがM3をオフにするローであり、バー付きのDがM4をオンにするハイであるとき、ICSはノード404に対し送られる。M1およびM2は、同じゲート電圧VGによって駆動されるバッファデバイスである。M7およびM8は集合的に、第1の起動電流IAをノード402に提供する第1の起動電流源410を形成し、M9およびM10は集合的に、第2の起動電流IAをノード404に提供する第2の起動電流源412を形成する。IAは、M3がオフでありM4がオンであるときであってもM1が飽和したままにされるような十分な電流レベルを有するように構成され、それによって、電流IAはノード106に連続的に提供される。同様に、IAは、M4がオフでありM3がオンであるときであってもM2が飽和したままにされるような十分な電流レベルを有するように構成され、それによって、電流IAはノード108に連続的に提供される。M1およびM2は集合的にデータバッファ414を形成し、M1は正極性ノード106に対するデータ電流信号のバッファリングを行うための第1のバッファデバイスであり、M2は負極性ノード108に対するデータ電流信号のバッファリングを行うための第2のバッファデバイスである。
電流ステアリング源400は、二項構成の各ビット値に対して、または単項構成の各CODEビットに対して反復されてもよい。一実施形態において、M1およびM2は同じサイズであり、M7およびM9は同じサイズであり、M8およびM10は同じサイズであり、IAはIAに実質的に等しい。M5およびM6はICSの所望の電流レベルに応じたサイズにされる。ICSおよびIAまたはIAのいずれかの組合せ電流レベルは、入力値DIGの対応するビットにとって所望の電流レベルを提供するように構成される。
N個の入力ビットを有する単項構成において、各々が電流ステアリング源400と類似して構成されるX個の対応する電流ステアリング源が提供され、対応する入力ビットに応答してDおよびバー付きのDは同期してスイッチングされる。同じDAC(LSBまたはMSB)内で各対応するM5デバイスは各電流ステアリング源400について実質的に同じサイズであり、同様に各対応するM6デバイスは各電流ステアリング源400について実質的に同じサイズであり、ICSも実質的に同じである。MSB DAC102内のソースのICS電流は、LSB DAC104内のソースのICS電流よりも大きく選択される因子である。
N個の入力ビットを有する二項構成において、各々が電流ステアリング源400と類似して構成されるN個の対応する電流ステアリング源が提供され、対応する入力ビットに応答してDおよびバー付きのDは同期してスイッチングされる。M5およびM6は各々、同じDAC(LSBまたはMSB)内の対応する電流ステアリング源400のビット位置に基づくサイズにされ、ICSは各電流ステアリング源内のM5およびM6の相対サイズに基づく。ある電流ステアリング源から次の電流ステアリング源へのICS電流は、二項加重機能を達成するために二項構成に応じて2倍に増大する。
図5は、電流ステアリング源400のバイアス電圧VB1およびVB2を設定し、さらに、電流ステアリング源400の第1の制御ノード402および第2の制御ノード404が共通マスタ制御電圧VCまで駆動されることを保証するようにVG電圧を駆動するために使用される「マスタ」レプリカ・バイアス・ネットワーク500の概略ブロック図である。上記のように、電流ステアリング源400は各データビット(またはビット対)に対して反復される一方、複数の(またはさらにはすべての)電流ステアリング源に対して1つのマスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク500が提供される。マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク500は、第1の電流シンクデバイスCS1 502および第2の電流シンクデバイスCS2 504と、PMOSトランジスタPB0、PB1、PB2およびPB3とを含むマスタ・バイアス・ネットワーク514を含む。第1の電流シンクデバイスCS1 502は、VDDとノード504との間に直列に結合されているPB0およびPB1を通じて第1のバイアス電流IVB1を発生させる。図示されているように、PB0のソースはVDDに結合されており、そのドレインはPB1のソースに結合されており、PB1のドレインはノード504において、第1のバイアス電圧VB1を発生させるPB0のゲートに結合されている。第2の電流シンクデバイスCS2 506は、ダイオード結合されているPB2およびPB3を通じて第2のバイアス電流IVB2を発生させる。図示されているように、PB2のソースはVDDに結合されており、そのドレインはPB3のソースに結合されており、PB2およびPB3のゲートならびにPB3のドレインはノード508においてともに結合されており、第2のバイアス電圧VB2を発生させる。VB2はPB1のゲートに提供される。一実施形態において、電流シンクデバイスCS1 502およびCS2 506は、バンドギャップデバイスなどを使用して構成されるような、温度に依存しない電流レベルを発生させてもよい。
レプリカデータ電流源516は、レプリカソース電流ICSをレプリカ制御ノード510に対して発生させるためにPMOSデバイスPB4、PB5およびPB6を使用して構成されている。図示されているように、PB4のソースはVDDに結合されており、そのドレインはPB5のソースに結合されており、PB5のドレインはPB6のソースに結合されている。PB6のドレインはノード510に結合されている。PB4、PB5およびPB6のゲートはそれぞれ電圧VB1、VB2およびVDDを受け取る。PB4、PB5およびPB6は、電流ステアリング源400のM6、M5およびM3またはM4のうちのアクティブな一方の構造を実質的に複製し、ICSがICSに比例して発生する。
レプリカ起動電流源518は、レプリカ・ソース・ノード510に対するレプリカ起動電流IAを発生させるためにPMOSデバイスPB8およびPB9を使用して構成されている。図示されているように、PB8のソースはVDDに結合されており、そのドレインはPB9のソースに結合されており、PB9のドレインはノード510に結合されている。PB8およびPB9のゲートはそれぞれバイアス電圧VB1およびVB2を受け取る。PB8およびPB9は、電流ステアリング源400のM8およびM7またはM10およびM9の構造を実質的に複製し、IAおよびIAの両方がレプリカ起動電流IAに比例して発生する。
マスタバッファ増幅器512はその正入力においてマスタ制御電圧VCを受け取り、その負入力はノード510に結合されている。増幅器512の出力は、もう1つのPMOSトランジスタPB7のゲートに結合されているバッファ制御ノード401上のVG信号をアサートする。PB7のソースはレプリカ制御ノード510に結合されており、そのドレインはバイアスノードにおいてバイアス抵抗器RBの一方の端部に結合されており、RBはその他方の端部をVSSに結合されている。電流ステアリング源400について前述したように、VGはバッファデバイスM1およびM2のゲートにも提供される。PB7は、第1のバッファデバイスM1および第2のバッファデバイスM2のバイアスを複製する、レプリカ制御ノード510に結合されているレプリカ・バッファ・デバイスとしての役割を果たす。
動作時、増幅器512はPB7を制御するためにVGの電圧レベルを制御し、それによって、ノード510はマスタ制御電圧VCに実質的に等しいレプリカ制御電圧VCを発生させる。VCはVCの所望の電圧レベルを確立するために別のデバイス(図示せず)によって提供される。VGは第1のバッファデバイスM1および第2のバッファデバイスM2のゲートにさらに提供されるため、増幅器512は、それぞれノード510、402および404の電圧VC、VCおよびVCを、各々マスタ制御電圧VCに実質的に等しくなるまで駆動するようにPB7、M1およびM2トランジスタを制御するように動作する。特に、増幅器512は、VC、VCおよびVCをVCに実質的に等しく、従って互いに実質的に等しく維持するようにVGを調整する。第1の制御ノード402および第2の制御ノード404は実質的に互いから、およびレプリカ制御ノード510から分離されているが、マスタバッファ増幅器512はレプリカ・バッファ・デバイスPB7、第1のバッファデバイスM1および第2のバッファデバイスM2を、これらの制御ノード間の「ソフト」結合を確立するために同時に駆動し、それによって、レプリカ制御ノード510、第1の制御ノード402および第2の制御ノード404は、共通のマスタ制御電圧VCと同じ電圧レベルまで駆動される。さらに、増幅器512は、スイッチ遷移の間、電圧VC、VCおよびVCを比較的一定のままにする。
マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク500のマスタバッファ増幅器512は、プロセスおよび温度の変化に合わせてVGを調整することによって、VC、VCおよびVCのソース電圧が一定であることを保証する。この機能は、M3およびM4スイッチングトランジスタのサイズを低減することを可能にする、より大きい電圧ヘッドルームを提供する助けとなる。これは、対応するLSB DACに対してより高い電流レベルを有するMSB DACにとって特に有利である。
マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク500によって提供されるレプリカバイアスおよびレベルシフタ300によって提供されるレベルシフトは各々、MSB DAC102およびLSB DAC104の一方または両方のような、所与のDAC内の各電流ステアリング源400のグリッチエネルギーならびに立ち上がりおよび立ち下がりタイミング不整合を低減するのに寄与する。レプリカバイアスは、非常に正確なステップを達成するために遷移不整合を低減して非常に高速の立ち上がりおよび立ち下がり信号遷移を達成するために、信頼性問題を何ら導入することなく種々の閾値デバイスを使用することを可能にする。レプリカバイアスおよびレベルシフトはさらに、グリッチエネルギーを低減し立ち上がり/立ち下がり時間不整合を低下させるためにクロック信号揺れを低減する。
図6は、DAC102または104のうちの一方を表し、前述の機能回路間の例示的な関係を示す、一実施形態に応じて実装されるDAC600の簡略ブロック図である。MSBまたはLSBのいずれかを表すN個のBITは、単項または二項構成に応じて実装されてもよい変換ネットワーク602のそれぞれの入力に提供される。単項構成について、変換ネットワーク602は、BITを受信し対応するコードビット(たとえば、X個のCODEビット)を、出力コードCおよび対応する反転コードビットであるバー付きのCを提供するビットラッチのセット(たとえば、ラッチ204)に提供するデコーダ(たとえば、デコーダ202)を含む変換ネットワーク200と類似の方式で実装されてもよい。二項構成において、変換ネットワーク602はデコーダを含まなくてもよく、BITはラッチに直接提供される。変換ネットワーク602は、BITまたはコードビットの各々を、クロック信号CLKの動作エッジ遷移(立ち上がりまたは立ち下がりエッジ)と同期された対応する遷移を有するj個のコードビット対Cおよびバー付きのCのうちの対応する一方に変換するように動作する。
コードビット対Cおよびバー付きのCは、各々がコードビットCおよびバー付きのCの対応する対をデータビット対Dおよびバー付きのDの対応する対に変換するレベルシフタ604のセットのそれぞれの入力に提供されてもよい。レベルシフタ604の各々は、レベルシフタ300と類似の方式で構成されてもよい。レベルシフトはバイパスされてもよく、ここでレベルシフタ604はバイパス用に構成され(たとえば、VDD_LS=VDDかつVSS_LSM=VSS)、それによって、コードビット対Cおよびバー付きのCは変更されずにデータビット対Dおよびバー付きのDとして通過する。代替的に、レベルシフタ604は設けられず、またはコードビット対Cおよびバー付きのCがデータビット対Dおよびバー付きのDとして直接通過する。
データビット対Dおよびバー付きのDは、集合的に第1の出力電流IOおよびIOを提供する電流ステアリング源606のセットのそれぞれの入力に提供される。出力電流IOおよびIOは、図1の示したものと類似の方式で対応する出力電圧を発生させるために対応する加算ノードに提供されてもよい。電流ステアリング源606の各々は、電流ステアリング源400と実質的に同じまたは類似の方式で構成されてもよい。電流ステアリング源606の各々をバイアスするためにバイアス電圧(たとえば、VB1、VB2)を提供するためにマスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク608が設けられる。また、マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク608は共通のマスタ制御電圧VCを受け取り、電流ステアリング606の各々にVG電圧を提供する。マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク608は、マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワーク608 500と実質的に同じまたは類似の方式で構成されてもよい。
本明細書に記載のようなグリッチエネルギーを低減した電流ステアリング源は、グリッチの非常に低いDACを必要とする電子システムに使用することができる。DACは、デジタルランプからの非常に正確なステップサイズを有する、電圧制御発振器(VCO、図示せず)のアナログ立ち下がりランプ信号を生成することができる。達成される出力ステップの精度は12ビットDACの0.05LSBを下回る。立ち下がりステップの立ち下がり時間不整合はランプの範囲全体にわたって1ナノ秒(ns)を下回る。
一実施形態に応じたデジタル−アナログ変換器は、少なくとも1つの電流ステアリング源と、マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークとを備える。各電流ステアリング源は、ソース電流をソースノードに提供するデータ電流源と、第1のスイッチおよび第2のスイッチと、第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスと、第1の起動電流源および第2の起動電流源とを備える。第1のスイッチは、ソースノードに結合されている第1の端子と、第1の制御ノードに結合されている第2の端子とを有する。第2のスイッチは、ソースノードに結合されている第1の端子と、第2の制御ノードに結合されている第2の端子とを有する。第1のスイッチおよび第2のスイッチはそれぞれデータビットおよび反転データビットによって制御され、ソース電流を第1の制御ノードおよび第2の制御ノードのうちの選択される一方にステアリングするべく一度にそれらのスイッチのうちの一方を起動するように集合的に構成されている。第1のバッファデバイスは、第1の制御ノードに結合されている第1の端子と、第1の電流出力ノードに結合されている第2の端子とを有する。第2のバッファデバイスは、上記第2の制御ノードに結合されている第1の端子と、第2の電流出力ノードに結合されている第2の端子とを有する。第1の起動電流源は第1の起動電流を第1の制御ノードを介して第1のバッファデバイスに提供するように構成されており、第2の起動電流を第2の制御ノードを介して第2のバッファデバイスに提供するように構成されている。マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークは、レプリカ・バッファ・デバイスとマスタバッファ増幅器とを備える。レプリカ・バッファ・デバイスは、レプリカ制御ノードに結合されており、第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスのうちの少なくとも一方のバイアスを複製するように構成されている。マスタバッファ増幅器は、第1の制御ノードと、第2の制御ノードと、レプリカ制御ノードとを共通のマスタ制御電圧に維持するように、第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスとレプリカ・バッファ・デバイスとを並列に駆動するように構成されている出力を有する。
一実施形態に応じたデジタル−アナログ変換器の電流をステアリングする方法は、ソース電流をソースノードに提供するステップと、データビットの状態に基づいてソース電流を第1の制御ノードおよび第2の制御ノードのうちの一方に送るステップと、第1のバッファデバイスを使用して第1の制御ノードと第1の出力ノードとの間で電流のバッファリングを行い、第2のバッファデバイスを使用して第2の制御ノードと第2の出力ノードとの間で電流のバッファリングを行うステップと、ソース電流が第2のバッファデバイスを介して第2の制御ノードに送られるときに、第1のバッファデバイスをアクティブに保つのに十分なレベルで第1の起動電流を第1の制御ノードに提供し、ソース電流が第1のバッファデバイスを介して第1の制御ノードに送られるときに、第2のバッファデバイスをアクティブに保つのに十分なレベルで第2の起動電流を第2の制御ノードに提供するステップと、ソース電流の複製であるレプリカソース電流を、レプリカ・バイアス・デバイスに結合されているレプリカ制御ノードに提供するステップと、第1の起動電流および第2の起動電流のうちの少なくとも一方の複製であるレプリカ起動電流をレプリカ制御ノードに提供するステップと、第1の制御ノードと、第2の制御ノードと、レプリカ制御ノードとをマスタ制御電圧の電圧レベルまで駆動するべく、マスタ制御電圧を受け取るとともにレプリカ制御ノードとのフィードバック結合を有するバッファ増幅器を用いて、第1のバッファデバイス、第2のバッファデバイスおよびレプリカ・バッファ・デバイスを並列に駆動するステップとを備える。
本明細書において、具体的な実施形態を参照して本発明を説明したが、添付の特許請求の範囲に明記されているような本発明の範囲から逸脱することなくさまざまな改変および変更を為すことができる。従って、本明細書および図面は限定的な意味ではなく例示とみなされるべきであり、すべてのこのような改変が本発明の範囲内に含まれることが意図されている。本明細書において具体的な実施形態に関して記載されているいかなる利益、利点、または問題に対する解決策も、任意のまたはすべての請求項の重要な、必要とされる、または基本的な特徴または要素として解釈されるようには意図されていない。別途記載されない限り、「第1の」および「第2の」のような用語は、そのような用語が説明する要素間で適宜区別するように使用される。従って、これらの用語は必ずしも、このような要素の時間的なまたは他の優先順位付けを示すようには意図されていない。

Claims (20)

  1. デジタル−アナログ変換器であって、
    少なくとも1つの電流ステアリング源と、マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークとを備え、
    各電流ステアリング源は、
    ソース電流をソースノードに提供するデータ電流源と、
    第1のスイッチおよび第2のスイッチであって、第1のスイッチは、前記ソースノードに結合されている第1の端子と、第1の制御ノードに結合されている第2の端子とを有し、第2のスイッチは、前記ソースノードに結合されている第1の端子と、第2の制御ノードに結合されている第2の端子とを有し、第1のスイッチおよび第2のスイッチはデータビットおよび反転データビットによってそれぞれ制御され、第1のスイッチおよび第2のスイッチは、前記ソース電流を第1の制御ノードおよび第2の制御ノードのうちの選択される一方にステアリングするべく一度に第1のスイッチおよび第2のスイッチのうちの一方を起動するように集合的に構成されている、第1のスイッチおよび第2のスイッチと、
    第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスであって、第1のバッファデバイスは第1の制御ノードに結合されている第1の端子と、第1の電流出力ノードに結合されている第2の端子とを有し、第2のバッファデバイスは第2の制御ノードに結合されている第1の端子と、第2の電流出力ノードに結合されている第2の端子とを有する、第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスと、
    第1の起動電流源および第2の起動電流源であって、第1の起動電流源は第1の起動電流を第1の制御ノードを介して第1のバッファデバイスに提供するように構成されており、第2の起動電流源は第2の起動電流を第2の制御ノードを介して第2のバッファデバイスに提供するように構成されている、第1の起動電流源および第2の起動電流源と、を備え、
    前記マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークは、
    レプリカ制御ノードに結合されており、第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスのうちの少なくとも一方のバイアスを複製するように構成されているレプリカ・バッファ・デバイスと、
    第1の制御ノードと、第2の制御ノードと、前記レプリカ制御ノードとを共通のマスタ制御電圧に維持するように、第1のバッファデバイスおよび第2のバッファデバイスと前記レプリカ・バッファ・デバイスとを並列に駆動するように構成されている出力を有するマスタバッファ増幅器と、を備える、デジタル−アナログ変換器。
  2. 前記マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークは、
    前記データ電流源を複製し、レプリカソース電流を前記レプリカ制御ノードに提供するように構成されているレプリカデータ電流源と、
    第1の起動電流源および第2の起動電流源のうちの少なくとも一方を複製し、レプリカ起動電流を前記レプリカ制御ノードに提供するように構成されているレプリカ起動電流源と、をさらに備える請求項1に記載のデジタル−アナログ変換器。
  3. 第1のスイッチは、前記ソースノードに結合されている第1の電流端子と、第1の制御ノードに結合されている第2の電流端子と、前記データビットを受信する制御端子とを有する第1のトランジスタを備え、第2のスイッチは、前記ソースノードに結合されている第1の電流端子と、第2の制御ノードに結合されている第2の電流端子と、前記反転データビットを受信する制御端子とを有する第2のトランジスタを備える、請求項1に記載のデジタル−アナログ変換器。
  4. 第1のバッファデバイスは、第1の制御ノードに結合されている第1の電流端子と、第1の電流出力ノードに結合されている第2の電流端子と、前記マスタバッファ増幅器の出力に結合されているバッファ制御ノードに結合されている制御端子とを有する第1のトランジスタを備え、第2のバッファデバイスは、第2の制御ノードに結合されている第1の電流端子と、第2の電流出力ノードに結合されている第2の電流端子と、前記バッファ制御ノードに結合されている制御端子とを有する第2のトランジスタを備え、前記レプリカ・バッファ・デバイスは、前記レプリカ制御ノードに結合されている第1の電流端子と、バイアスノードに結合されている第2の電流端子と、前記バッファ制御ノードに結合されている制御端子とを有する第3のトランジスタを備える、請求項1に記載のデジタル−アナログ変換器。
  5. 前記マスタバッファ増幅器は、前記共通のマスタ制御電圧を受け取る非反転入力と、前記レプリカ制御ノードに結合されている反転入力と、前記バッファ制御ノードに結合されている出力とを有する演算増幅器を備える、請求項4に記載のデジタル−アナログ変換器。
  6. コードビットおよび反転コードビットを受信し、前記データビットおよび前記反転データビットを提供するレベルシフタをさらに備え、前記データビットおよび前記反転データビットはそれぞれ前記コードビットおよび前記反転コードビットが電圧シフトされたものである、請求項1に記載のデジタル−アナログ変換器。
  7. 二値入力ビットとクロック信号とを受信するラッチをさらに備え、該ラッチは前記二値入力ビットの反対の論理状態同士の間でのスイッチングに基づき前記データビットおよび前記反転データビットの反対の論理状態へのスイッチングの同期を行うように構成されている、請求項1に記載のデジタル−アナログ変換器。
  8. 前記データ電流源は、供給ノードに結合されている第1の電流端子と、前記ソースノードに結合されている第2の電流端子と、第1のマスタバイアス電圧および第2のマスタバイアス電圧をそれぞれ受け取る第1の制御端子および第2の制御端子とを有し直列に結合されている第1の対のトランジスタを備え、
    第1の起動電流源は、前記供給ノードに結合されている第1の電流端子と、第1の制御ノードに結合されている第2の電流端子と、第1のマスタバイアス電圧および第2のマスタバイアス電圧をそれぞれ受け取る第3の制御端子および第4の制御端子とを有し直列に結合されている第2の対のトランジスタを備え、
    第2の起動電流源は、前記供給ノードに結合されている第1の電流端子と、第2の制御ノードに結合されている第2の電流端子と、第1のマスタバイアス電圧および第2のマスタバイアス電圧をそれぞれ受け取る第5の制御端子および第6の制御端子とを有し直列に結合されている第3の対のトランジスタを備える、請求項1に記載のデジタル−アナログ変換器。
  9. 前記マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークは、レプリカデータ電流源とレプリカ起動電流源とをさらに備え、
    前記レプリカデータ電流源は、
    前記供給ノードに結合されている第1の電流端子と、中間ノードに結合されている第2の電流端子と、第1のマスタバイアス電圧および第2のマスタバイアス電圧をそれぞれ受け取る第7の制御端子および第8の制御端子とを有し直列に結合されている第4の対のトランジスタと、
    前記中間ノードに結合されている第1の電流端子と、前記レプリカ制御ノードに結合されている第2の電流端子と、前記供給ノードに結合されている制御ノードとを有するレプリカ・スイッチ・トランジスタとを備え、
    前記レプリカ起動電流源は、前記供給ノードに結合されている第1の電流端子と、前記レプリカ制御ノードに結合されている第2の電流端子と、第1のマスタバイアス電圧および第2のマスタバイアス電圧をそれぞれ受け取る第9の制御端子および第10の制御端子とを有し直列に結合されている第5の対のトランジスタを備える、請求項8に記載のデジタル−アナログ変換器。
  10. 前記マスタ・レプリカ・バイアス・ネットワークは、第1のバイアス電流および第2のバイアス電流に基づいて第1のマスタバイアス電圧および第2のマスタバイアス電圧を発生させるように構成されているマスタ・バイアス・ネットワークをさらに備える、請求項9に記載のデジタル−アナログ変換器。
  11. 複数の入力ビットを、複数のデータビットと、対応する複数の反転データビットとに変換する変換ネットワークをさらに備え、
    前記少なくとも1つの電流ステアリング源は、前記複数のデータビットと反転データビットとからなる対応する対を各々受信する複数の電流ステアリング源を含む、請求項1に記載のデジタル−アナログ変換器。
  12. 前記変換ネットワークは、前記複数のデータビットと前記複数の反転データビットとのスイッチング電圧レベルをシフトするための複数のレベルシフタを備える、請求項11に記載のデジタル−アナログ変換器。
  13. 前記変換ネットワークは、前記複数のデータビットと前記複数の反転データビットとの間のスイッチングの同期を行うための複数のラッチを備える、請求項11に記載のデジタル−アナログ変換器。
  14. 前記変換ネットワークは、
    前記複数の入力ビットを対応する複数のコードビットに変換するデコーダと、
    前記複数のコードビットのうちの対応するコードビットを同期されたデータビットと反転データビットとからなる対に各々変換する複数のラッチと、を備える請求項11に記載のデジタル−アナログ変換器。
  15. デジタル−アナログ変換器の電流をステアリングする方法であって、
    ソース電流をソースノードに提供するステップと、
    データビットの状態に基づいて前記ソース電流を第1の制御ノードおよび第2の制御ノードのうちの一方に送るステップと、
    第1のバッファデバイスを使用して第1の制御ノードと第1の出力ノードとの間で電流のバッファリングを行い、第2のバッファデバイスを使用して第2の制御ノードと第2の出力ノードとの間で電流のバッファリングを行うステップと、
    前記ソース電流が第2のバッファデバイスを介して第2の制御ノードに送られるときに、第1のバッファデバイスをアクティブに保つのに十分なレベルで第1の起動電流を第1の制御ノードに提供し、前記ソース電流が第1のバッファデバイスを介して第1の制御ノードに送られるときに、第2のバッファデバイスをアクティブに保つのに十分なレベルで第2の起動電流を第2の制御ノードに提供するステップと、
    前記ソース電流の複製であるレプリカソース電流を、レプリカ・バイアス・デバイスに結合されているレプリカ制御ノードに提供するステップと、
    第1の起動電流および第2の起動電流のうちの少なくとも一方の複製であるレプリカ起動電流を前記レプリカ制御ノードに提供するステップと、
    第1の制御ノードと、第2の制御ノードと、前記レプリカ制御ノードとをマスタ制御電圧の電圧レベルまで駆動するべく、マスタ制御電圧を受け取るとともに前記レプリカ制御ノードとのフィードバック結合を有するバッファ増幅器を用いて、第1のバッファデバイス、第2のバッファデバイスおよびレプリカ・バッファ・デバイスを並列に駆動するステップと、を備える方法。
  16. 前記ソース電流を送るステップは、データビットを用いて前記ソースノードと第1の制御ノードとの間に結合されている第1のスイッチを制御し、前記データビットの反転したものである反転データビットを用いて前記ソースノードと第2の制御ノードとの間に結合されている第2のスイッチを制御するステップを備える、請求項15に記載の方法。
  17. 前記反転データビットのスイッチングの前記データビットとの同期を行うステップをさらに備える、請求項16に記載の方法。
  18. 前記データビットおよび前記反転データビットの電圧レベルを、第1の供給電圧および第2の供給電圧のうちの少なくとも一方に対してレベルシフトするステップをさらに備える、請求項16に記載の方法。
  19. 入力ビットおよびクロック信号を受信するステップと、前記入力ビットのスイッチングに基づきコードビットと反転コードビットとの間のスイッチングの前記クロック信号との同期を行うステップとをさらに備える、請求項15に記載の方法。
  20. 前記データビットおよび反転データビットを前記コードビットおよび前記反転コードビットに対して電圧レベルシフトするステップをさらに備える、請求項19に記載の方法。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101277480B1 (ko) * 2011-04-12 2013-06-27 에스케이하이닉스 주식회사 버퍼 조절 회로 및 이를 포함하는 집적회로
US8723712B1 (en) * 2013-01-16 2014-05-13 Freescale Semiconductor, Inc. Digital to analog converter with current steering source for reduced glitch energy error
CN103208988B (zh) * 2013-04-24 2017-02-22 上海华虹宏力半导体制造有限公司 电平移位电路及进行正、负压电平移位的方法
US9148160B2 (en) 2013-08-14 2015-09-29 Maxlinear, Inc. Dynamic power switching in current-steering DACs
US9438262B1 (en) * 2015-06-22 2016-09-06 Freescale Semiconductor, Inc. Method for testing differential analog-to-digital converter and system therefor
KR20170000542A (ko) 2015-06-24 2017-01-03 삼성전자주식회사 플리커 노이즈를 저감하는 전류 dac 회로
CN106209098B (zh) * 2016-06-30 2019-12-20 中国科学院深圳先进技术研究院 一种数模转换器
CN106301379B (zh) * 2016-08-17 2023-05-05 宁波大学 一种输出光滑的dac单元电路
CN106877872B (zh) * 2017-01-04 2020-11-27 思特威(深圳)电子科技有限公司 一种电流舵数模转换器的控制装置及编码方法
US10200055B2 (en) * 2017-01-11 2019-02-05 Analog Devices Global Glitch characterization in digital-to-analog conversion
CN107040734B (zh) * 2017-05-03 2019-12-31 北京思比科微电子技术股份有限公司 一种用于cmos图像传感器的rampadc
CN108933607B (zh) * 2017-05-24 2020-08-25 华为技术有限公司 射频发射机
IT202100030134A1 (it) * 2021-11-29 2023-05-29 St Microelectronics Srl Circuito convertitore digitale-analogico

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2573427B2 (ja) * 1991-04-08 1997-01-22 株式会社東芝 D/aコンバータ
JPH0522148A (ja) * 1991-07-15 1993-01-29 Toshiba Corp 定電流スイツチ回路及びこれを用いたデイジタル/アナログ変換回路
US5625360A (en) 1995-09-05 1997-04-29 Motorola, Inc. Current source for reducing noise glitches generated in a digital to analog converter and method therefor
US5801578A (en) * 1996-12-16 1998-09-01 Northern Telecom Limited Charge pump circuit with source-sink current steering
US6392573B1 (en) 1997-12-31 2002-05-21 Intel Corporation Method and apparatus for reduced glitch energy in digital-to-analog converter
GB2356302B (en) * 1999-11-10 2003-11-05 Fujitsu Ltd Current switching circuitry
SE518113C2 (sv) * 2000-03-06 2002-08-27 Ericsson Telefon Ab L M Metod och anordning för att förbättra strömstyrande D/A- omvandling
US6501317B2 (en) * 2001-04-06 2002-12-31 Elantec Semiconductor, Inc. High speed, low-power CMOS circuit with constant output swing and variable time delay for a voltage controlled oscillator
US7012473B1 (en) * 2002-07-17 2006-03-14 Athena Semiconductors, Inc. Current steering charge pump having three parallel current paths preventing the current sources and sinks to turn off and on
JP2004080591A (ja) * 2002-08-21 2004-03-11 Oki Electric Ind Co Ltd 電流セル回路及びdaコンバータ
US6985028B2 (en) * 2003-03-28 2006-01-10 Texas Instruments Incorporated Programmable linear-in-dB or linear bias current source and methods to implement current reduction in a PA driver with built-in current steering VGA
US6720898B1 (en) * 2003-04-10 2004-04-13 Maxim Integrated Products, Inc. Current source array for high speed, high resolution current steering DACs
JP3878607B2 (ja) * 2004-01-27 2007-02-07 富士通株式会社 半導体集積回路
US7253663B2 (en) * 2005-06-15 2007-08-07 Ati Technologies Inc. Apparatus and methods for self-biasing differential signaling circuitry having multimode output configurations for low voltage applications
US7893719B2 (en) * 2005-06-15 2011-02-22 Ati Technologies, Ulc Apparatus and methods for self-biasing differential signaling circuitry having multimode output configurations for low voltage applications
DE102005035385B4 (de) * 2005-07-28 2011-05-12 Infineon Technologies Ag Digital-Analog-Umsetzer und Verfahren zur Digital-Analog-Umsetzung eines Signals
US7417463B1 (en) * 2007-09-13 2008-08-26 Gigle Semiconductor Limited Wireline transmission circuit
US7605608B1 (en) * 2006-08-09 2009-10-20 Marvell International Ltd. Circuit for converting a voltage range of a logic signal
US7388531B1 (en) * 2006-09-26 2008-06-17 Marvell International Ltd. Current steering DAC using thin oxide devices
JP5057812B2 (ja) * 2007-03-20 2012-10-24 株式会社東芝 電源降圧回路
TWI354449B (en) * 2008-02-12 2011-12-11 Faraday Tech Corp Current steering dac and voltage booster for curre
CN101588179B (zh) * 2008-05-21 2011-08-17 北京芯慧同用微电子技术有限责任公司 一种电流舵型数模转换器
US7928784B2 (en) * 2009-06-26 2011-04-19 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus to improve and control the propagation delay in a current slewing circuit
US8441382B2 (en) * 2010-03-15 2013-05-14 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Current steering DAC with switched cascode output current source/sink
CN102447476B (zh) * 2010-09-30 2014-06-04 珠海全志科技股份有限公司 电流舵型数模转换器
CN102006079B (zh) * 2010-12-22 2012-07-04 复旦大学 数模转换器
US8723712B1 (en) * 2013-01-16 2014-05-13 Freescale Semiconductor, Inc. Digital to analog converter with current steering source for reduced glitch energy error

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