JP6231986B2 - 時計ムーブメントの振動体 - Google Patents

Description

本発明は、時計ムーブメントの振動体に関する。本発明は、かかる振動体を備える時計ムーブメントおよび時計にも関する。

機械式時計の動作精度は、テンプおよびヒゲゼンマイからなる振動体の周波数の安定度に依存する。しかし、この周波数は、時計が磁場にさらされると乱されるので、ムーブメントの磁化の前と後とで歩度の差が認められる。その歩度の差はマイナスであることも、プラスであることもある。符号がいずれにせよ、その差は「残留効果」または「残留歩度」と呼ばれ、規格ＮＩＨＳ９０−１０により測定可能である。この規格は、４．８ｋＡ／ｍ（６０Ｇ）の磁場にさらされた後に腕時計が正しい時間測定の動きを示すと証明することを目的としている。しかし、時計の装着者がその日常の中で、それをはるかに超える３２ｋＡ／ｍ（４００Ｇ）前後といった強さの磁場に遭遇せざるを得ない場合がある。そのため、そうした強い磁場に関してその影響を最小化することが適切である。

大多数のヒゲゼンマイは、弾性率が磁化の状態に依存するＦｅ−Ｎｉ合金（Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標）合金など）で製作されている。近年の技術の進歩により、常磁性体（Ｎｂ−Ｚｒ−Ｏ合金、Ｐａｒａｃｈｒｏｍ（登録商標）など）製や反磁性体（ＳｉＯ_２層を被せたシリコンなど）製の自己補正型のヒゲゼンマイが開発されており、それらは、図１に示すように、４．８ｋＡ／ｍ超の磁場に関して残留効果をきわめて明瞭に低減することができるものとなっている。それでも、とりわけ４．８ｋＡ／ｍを大きく上回る強さ、たとえば３２ｋＡ／ｍの磁場などの場合には残留効果が出る。

一般に、振動体におけるテンプ組立体の構造は規格ＮＩＨＳ３４−０１に示されているとおりのものである。図３にそうしたテンプ組立体の構造を示す。テンプのボスは天真に対してリベット留めなどによって直接つながれている。その位置決めおよびその座りは、天真にあるフランジの直径によって画定された、規格ＮＩＨＳ３４−０１の用語でテンプの座径とも呼ばれる支持面によって果たされる。全体的にＣｕＢｅ２を加工した振り座であって、ピンが配設された振り座が、テンプの座径を明らかに下回る直径を有する真の部分に対して、フランジの反対側のテンプのボスとは関係無しに押込みばめで固定される。ヒゲゼンマイを保持するためのヒゲ玉は、フランジの反対側で、図２に示すとおり、同じくテンプの座径を明らかに下回る直径を有する真の部分に対して押込みばめで固定される。このようなテンプの構造は、それによってもたらされる組立ての堅牢さと単純さから、１つの基準としてすでに確立しているものである。こうしたテンプ組立体の構造はとりわけ、常磁性体または反磁性体のヒゲゼンマイを備えるあらゆる振動体で発見できる。一例を挙げれば、特許文献１は、上述のように天真に取り付けたシリコン製などの少なくとも２つのヒゲゼンマイを備える振動体を開示している。この振動体は、ヒゲゼンマイ用に選ばれる材料の特徴により、４．８ｋＡ／ｍ前後の磁場では残留効果を減らすことができるが、４．８ｋＡ／ｍを明確に超える、たとえば３２ｋＡ／ｍというような磁場に関して残留効果を最小化することはできない。

スイス国特許第７０００３２号

そこで、本発明の目的は、前述の欠点を是正するとともに、従来技術の公知の振動体を改善する振動体を提供することにある。とりわけ、本発明は、時計の装着者がその日常で遭遇することが考えられる磁場、とりわけ４．８ｋＡ／ｍを上回る、さらにはかなり上回る磁場、たとえば３２ｋＡ／ｍの磁場であっても、マイナスであれ、プラスであれ、その残留効果を最小化する、さらには解消する振動体を提案する。

本発明による振動体は請求項１によって定義される。

振動体の様々な実施形態は従属請求項２から１０までによって定義される。

本発明による時計ムーブメントは請求項１１によって定義される。

本発明による時計は請求項１２によって定義される。

添付の図面は、例として、本発明による振動体の３つの実施形態を表している。

様々なムーブメントの残留歩度Ｍをそれらのムーブメントがさらされた磁場Ｂとの関係で示したグラフである。曲線１は、磁性体（Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標））のヒゲゼンマイを有する振動体を備えるムーブメントの残留歩度Ｍを示したものである。曲線２は、常磁性体（Ｐａｒａｃｈｒｏｍ（登録商標））のヒゲゼンマイを有する振動体を備えるムーブメントの残留歩度Ｍを示したものである。最後に、曲線３は、反磁性体のヒゲゼンマイ（ＳｉＯ_２層を被せたシリコンなど）を有する振動体を備えるムーブメントの残留歩度Ｍを示したものである。 従来技術の公知の振動体の図である。 図２の振動体のテンプ組立体の構造の詳細図である。 本発明による振動体の第１の実施形態の第１の変形例の図である。 本発明による振動体の第１の実施形態の第１の変形例の図である。 本発明による振動体の第１の実施形態の第２の変形例の図である。 本発明による振動体の第１の実施形態の第３の変形例の図である。 本発明による振動体の第２の実施形態の変形例の図である。 本発明による振動体の第３の実施形態の第１の変形例の図である。 本発明による振動体の第３の実施形態の第２の変形例の図である。 本発明による振動体の第３の実施形態の第３の変形例の図である。 所与の磁場にさらされたムーブメントの残留歩度と、図２および３に示すような先行技術で公知の振動体のテンプ軸の材料との関係を示した表である。この図には、本発明の第１および第２の形態に基づいて製作した振動体の残留歩度も示す。 ４種類のムーブメントの残留歩度Ｍを、それらのムーブメントがさらされた磁場Ｂとの関係で比較のために示したグラフであって、第１のムーブメントは本発明の第１の実施形態の第１の変形例に基づいて製作した振動体を備え、３つのムーブメントは従来技術に基づいて製作された振動体を備えるものであるグラフである。曲線１は、Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標）製のヒゲゼンマイと組み合わせたフランジ付き天真を具備したテンプ組立体を有する振動体を備えるムーブメントの残留歩度Ｍを示す。曲線２は、Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標）製のヒゲゼンマイと組み合わせたフランジ無し天真を具備したテンプ組立体を有する振動体を備えるムーブメントの残留歩度Ｍを示す。曲線３は、常磁性体のヒゲゼンマイと組み合わせたフランジ付き天真を具備したテンプ組立体を有する振動体を備えるムーブメントの残留歩度Ｍを示す。最後に、曲線４は、本発明の第１の実施形態の第１の変形例に基づいて製作した振動体を備えるムーブメントの残留歩度Ｍを示す。 ２種類のムーブメントの残留歩度Ｍを、それらのムーブメントがさらされた磁場Ｂとの関係で比較のために示したグラフであって、第１のムーブメント（グラフの曲線１）は本発明の第３の実施形態の第１の変形例に基づいて製作した振動体を備え、第２のムーブメント（グラフの曲線２）はＮｉｖａｒｏｘ（登録商標）タイプのヒゲゼンマイを有する従来技術に基づいて製作した振動体を備えるものであるグラフである。

出願人は、天真の幾何学形状が残留効果に驚くほど影響することに気づいた。より具体的には、出願人が行った様々な研究の結果、規格ＮＩＨＳ３４−０１の用語でテンプの座り、あるいは通常は「フランジ」と呼ばれる部分であって、直径が大きくなっている部分を最小化する、さらにはなくすことによって、図１２の表に示すように、ＣｕＢｅ２などの常磁性体で製作した天真の場合と同じように残留効果を最小化できることがわかった。その場合、常磁性体または反磁性体のヒゲゼンマイを、先行技術によるフランジ付き天真を具備したテンプ組立体と組み合わせても、常磁性体または反磁性体のヒゲゼンマイを、本発明による天真を具備したテンプ組立体と組み合わせた場合と同じ効果を得ることはできないことがわかる。より具体的には、常磁性体または反磁性体のヒゲゼンマイを、本発明による天真を具備したテンプ組立体と組み合わせた場合には、３２ｋＡ／ｍ（４００Ｇ）の磁場で残留歩度を大幅に最小化することが、さらには解消することすらも可能であり、その場合にヒゲゼンマイの戻りトルクを阻害する寄生トルクは振動体の周囲に存在する磁性体部品によるものとなる。

図１３のグラフを参照すると、フランジ付き天真を具備するテンプ組立体に常磁性体のヒゲゼンマイを付け加えることにより、３２ｋＡ／ｍ（４００Ｇ）の磁場Ｂで、同じテンプ組立体にＮｉｖａｒｏｘ（登録商標）タイプのヒゲゼンマイを組み合わせた場合と比べて残留歩度Ｍを約２分の１に減らすことができることがわかる。本発明の第１の実施形態の第１の変形例で提案されているように、フランジ無しの天真を具備するテンプ組立体に常磁性体のヒゲゼンマイを組み合わせると、３２ｋＡ／ｍ（４００Ｇ）の磁場で、同じテンプ組立体にＮｉｖａｒｏｘ（登録商標）タイプのヒゲゼンマイと合わせた場合と比べて、驚くべきことに、残留歩度を約１２分の１に減らすことができることがわかる。さらに、本発明の第１の実施形態の振動体は、３２ｋＡ／ｍ（４００Ｇ）の磁場で、フランジ付き天真を備えるテンプ組立体であって、Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標）タイプのヒゲゼンマイと合わせたテンプ組立体と比べて、残留歩度をきわめて顕著に、約１７分の１に減らすことができることもわかる。とりわけ、図１３に示すように、１５ｋＡ／ｍから３２ｋＡ／ｍの磁場の場合、磁性現象に対して、常磁性体または反磁性体のヒゲゼンマイと天真の幾何学形状の間で相乗効果が生まれることにも気づいた。実際のところ、ヒゲゼンマイの材料の変化と天真の幾何学形状の変更の複合的効果は、ヒゲゼンマイの材料の変化と天真の幾何学形状の変更のそれぞれの効果を合わせたものを上回るものである。

図１４のグラフを参照すると、本発明の第３の実施形態の第１の変形例で提案されているように、最大径を最小化した天真を具備するテンプ組立体に常磁性体のヒゲゼンマイを組み合わせると、３２ｋＡ／ｍ（４００Ｇ）の磁場Ｂで、フランジ付き天真を備えるテンプ組立体にＮｉｖａｒｏｘ（登録商標）タイプのヒゲゼンマイと合わせたものと比べて、驚くべきことに、残留歩度Ｍをきわめて顕著に、約３５分の１に減らすことができることがわかる。

そのため、本発明は、振動体に関し、この振動体は、常磁性体製または反磁性体製のヒゲゼンマイと、この振動体の中にあり、軸の最大径が最小化されたところにテンプ、振り座および該ヒゲゼンマイのヒゲ玉が取り付けられる鋼製軸を有するテンプ組立体とを備える。図の第１の典型例では、ヒゲ玉はヒゲゼンマイにつながれたものであることができる。その場合、ヒゲ玉は好ましくは真鍮もしくはＣｕＢｅ２のような銅合金製、またはステンレス鋼製である。図の第２の典型例では、ヒゲゼンマイがシリコン製であるときなどには、ヒゲ玉はヒゲゼンマイと一体製造することができる。その場合、ヒゲ玉もまたシリコン製である。軸は、振動体がさらされる機械的応力に対応できるように鋼製である。他方、振り座とテンプは、たとえば、ＣｕＢｅ２や真鍮のような銅合金、シリコン、またはニッケル−リンなど、常磁性体または反磁性体から加工される。好ましくは、軸の最大径Ｄｍａｘは、振動体の要素のうちの１つが取り付けられる軸の最小径Ｄ１の３．５倍未満、さらには２．５倍未満、さらには２倍未満である。さらに好ましくは、軸の最大径Ｄｍａｘは、振動体の要素のうちの１つが取り付けられる軸の最大径Ｄ２の２倍未満、さらには１．８倍未満、さらには１．３倍未満である。その場合、ヒゲゼンマイの戻りトルクを阻害する寄生トルクは主として振動体周辺にある磁性体部品によるものとなるため、残留効果は大幅に最小化される。残留効果の最小化は、たとえば、アンクルやがんぎ車のような脱進機の構成要素など、本発明による振動体の近傍に位置する部品を常磁性体製または反磁性体製とすることにより、一段と進めることができることは言うまでもない。

本発明の第１の実施形態によれば、振動体の要素（ヒゲ玉、振り座、テンプの群から選ばれるもの）が取り付けられる軸部分の最小径Ｄ１は、軸の最大径に相当するＤｍａｘに当たる値を有する。一方、振動体の要素が取り付けられる軸部分の最大径Ｄ２も、軸の最大径Ｄｍａｘの値に相当する値を有する。そのため、この第１の実施形態では、Ｄｍａｘ＝Ｄ１＝Ｄ２である。

本発明の第２の実施形態によれば、振動体の要素が取り付けられる軸部分の径Ｄ２も最大径Ｄｍａｘに相当するが、振動体の要素が取り付けられる軸部分の最小径Ｄ１とは異なる。そのため、この第２の実施形態では、Ｄｍａｘ＝Ｄ２＞Ｄ１である。

本発明の第３の実施形態によれば、振動体の要素が取り付けられる軸部分の最大径Ｄ２は軸の最大径Ｄｍａｘとは異なり、振動体の要素が取り付けられる軸部分の最小径Ｄ１以上であることができる。そのため、この第３の実施形態では、Ｄｍａｘ＞Ｄ２≧Ｄ１である。

本発明による振動体の第１の実施形態の第１の変形例について、図４および５を参照しながら以下に説明する。振動体１０は、常磁性体製または反磁性体製のヒゲゼンマイ１１と、テンプ１４、振り座１５および該ヒゲゼンマイのヒゲ玉１６が取り付けられた軸１３を有するテンプ組立体１２とを備える。この第１の変形例では、テンプ１４は振り座１５を介して軸１３と一体とされる。振り座は、押込みばめなどによって部分１３５とつながれ、高さＨにわたって軸１３を被覆する。この部分１３５の直径は最大径Ｄｍａｘに等しい。一方、テンプ１４は、振り座１４に設けられた座面１３１にリベット留めするなどの方法で振り座につながれる。他方、ヒゲ玉は軸に直接取り付けられる。ヒゲ玉は、押込みばめなどによって軸に固定することができる。ヒゲ玉は、軸の最大径Ｄｍａｘに等しい直径の軸部分１３６に取り付けられる。この第１の実施形態の第１の変形例では、要素（ヒゲ玉、振り座、テンプの群から選ばれるもの）が取り付けられる軸部分の最小径Ｄ１は、軸の最大径に等しい値Ｄｍａｘに相当する。その一方で、要素が取り付けられる軸部分の最大径Ｄ２も、軸の最大径の値と一致する値を有する。したがって、この第１の実施形態の第１の変形例では、Ｄｍａｘ＝Ｄ１＝Ｄ２である。その値は、図４および５に示す設計にあっては０．５ｍｍ前後である。

第１の実施形態の第１の変形例の振動体の残留歩度と従来技術の公知の振動体の残留歩度とを比較できるように、様々な強さの磁場について測定を行った。図１３に示すように、第１の実施形態の第１の変形例の振動体を具備したムーブメントの平均残留歩度は、３２ｋＡ／ｍの磁場で２ｓ／j前後であり（グラフの曲線４）（なお、ｓ／ｊは１日あたりの秒を示す）、Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標）ヒゲゼンマイおよびフランジ無し天真を具備した公知の振動体を備えるムーブメントの平均残留歩度（グラフの曲線２）と比べると、およそ１２分の１の低減となっていることがわかる。さらに、常磁性体のヒゲゼンマイと組み合わせたフランジ付き天真を有するテンプ組立体を具備した振動体を備えるムーブメントの平均残留歩度は、３２ｋＡ／ｍの磁場で１５ｓ／j前後であり（グラフの曲線３）、Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標）ヒゲゼンマイと組み合わせた同じテンプ組立体を備えるムーブメントの平均残留歩度と比べると、およそ２分の１の低減となっていることがわかる。したがって、フランジ無しの軸を具備したテンプ組立体に常磁性体のヒゲゼンマイを合わせると、３２ｋＡ／ｍ（４００Ｇ）の磁場で、ムーブメントの残留歩度に予想外の効果を、すなわち残留歩度の明らかな最小化を、さらには解消をもたらすことがわかる。

また、当該ムーブメントにおける振動体周辺の磁性体部品の数を最小化することによって、この率は大きくなる可能性がある。

振動体の第１の実施形態の第２の変形例について、図６を参照しながら以下に説明する。この第２の変形例では、第１の変形例の要素と同じ要素または同じ機能を持つ要素については、１０の位の数字として「１」の代わりに「２」が与えられ、１の位には同じ数字が与えられている。それらの要素の部位または部分についても、１００の位の数字として第１の変形例の要素における等価の部位または部分の「１」の代わりに「２」が与えられ、１０の位には同じ数字が与えられている。第１の実施形態の第１の変形例の場合と同じく、Ｄｍａｘ＝Ｄ１＝Ｄ２である。その値は、図４に示す設計にあっては０．３ｍｍ前後である。この第２の変形例が第１の変形例と異なる点は、振り座２５が軸を事実上その全長にわたって被覆すること、および／またはヒゲ玉２６が振り座を介して軸に固定されることにある。別の言い方をすれば、ヒゲ玉２６は押込みばめなどによって振り座２５に固定される。

測定結果は、この変更による残留効果の最小化への影響はごくわずかであることを示している。どの変形例であっても、３２ｋＡ／ｍの磁場に関する平均残留歩度は２ｓ／jであり、これは、図２および３に示すような先行技術による公知の設計が与えられ、常磁性体のヒゲゼンマイを具備するムーブメントの平均残留歩度と比べて８分の１の低減に当たる。

第１の実施形態の第１と第２の変形例によれば、テンプは振り座を介して軸と一体とされる。そのため、従来技術の公知の一般的構造と比較すると、軸のフランジはなくなっており、振り座−テンプアセンブリは、押込みばめなどによって軸に直接つなぐことができる。あるいは、第１の実施形態の第３の変形例によれば、テンプは、振り座およびヒゲ玉をつなぐ部分と同じ直径を有する軸部分に直接つながれる。そのため、テンプは、振り座と関係無しに軸につなぐことができる。

図７に示す第１の実施形態のこの第３の変形例では、第１の実施形態の第１の変形例の要素と同一の要素または同じ機能を持つ要素については、最上位の桁（１０の位または１００の位）の数字として「１」の代わりに「３」が与えられ、次の桁（１の位または１０の位）には同じ数字が与えられている。テンプ３４は、部分３３５につながれた振り座３５と関係無しに部分３３４に固定される。そのために、テンプ３４のボスは、適切なテンプの座りと保持トルクとが保証されるように、十分な全高Ｈ、とりわけ部分３３４の高さに等しいか、またはほぼ等しい全高Ｈを有する。一方、ヒゲ玉は、押込みばめなどによって部分３３６に固定される。部分３３４、３３５、３３６のそれぞれの直径は軸の最大径Ｄｍａｘに等しい。そのため、上述の第１と第２の変形例と同様に、Ｄｍａｘ＝Ｄ１＝Ｄ２である。その値は、図７に示す設計にあっては０．４ｍｍ前後である。測定では、この第３の変形例によって製作した振動体を装備したムーブメントの平均残留歩度は、３２ｋＡ／ｍの磁場で、上述の第１と第２の変形例のいずれか一方によって作成した振動体を具備したムーブメントの平均残留歩度と同等、すなわちおよそ２ｓ／jであることが示されている。

第２の実施形態は、軸の最大径Ｄｍａｘの値が、ヒゲ玉、振り座、テンプの群から選ばれる要素のうちの１つが取り付けられた軸の最小径Ｄ１の値と一致しないところが第１の実施形態と異なる。すなわち、Ｄｍａｘ＝Ｄ２＞Ｄ１である。振動体の第２の実施形態の変形例について、図８を参照しながら以下に説明する。この第２の実施形態では、第１の実施形態の第１の変形例の要素と同一の要素または同じ機能を持つ要素については、最上位の桁（１０の位または１００の位）の数字として「１」の代わりに「４」が与えられ、次の桁（１の位または１０の位）には同じ数字が与えられている。この実施形態では、ヒゲ玉４６は部分４３６において押込みばめなどによって軸４３につながれる。振り座４５は、押込みばめによって部分４３５に衝止されるようにするなどする。この部分の直径は、要素が取り付けられる軸の最小径Ｄ１に等しい。一方、テンプ４４は、振り座４５の位置とは関係なく、部分４３４において、押込みばめなどによって軸４３に直接取り付けられる。そのために、テンプ４４のボスは、適切なテンプの座りと保持トルクとが保証されるように、十分な全高Ｈ、とりわけ部分４３４の高さに等しいか、またはほぼ等しい全高Ｈを有する。この部分４３４の直径は、要素が取り付けられる軸の最大径Ｄ２に等しい。その直径は同時に直径Ｄｍａｘにも相当する。そのため、この実施形態では、Ｄｍａｘ＝Ｄ２＞Ｄ１である。好ましくは、軸の最大径Ｄｍａｘは、要素のうちの１つが取り付けられる軸の最小径Ｄ１の３．５倍未満、さらには２．５倍未満、さらには２倍未満である。図８に示した例では、Ｄ１は０．４ｍｍ前後であり、Ｄ２としたがってＤｍａｘは０．８ｍｍ前後である。そのため、Ｄｍａｘは直径Ｄ１のほぼ２．５倍未満である。

振動体の第２の実施形態のこの変形例と、図２および３に示すような従来技術の公知の振動体について、いずれも常磁性体のヒゲゼンマイを備える振動体として、それぞれの残留歩度を３２ｋＡ／ｍの磁場で比較するようにして測定した。図１２の表は、この強さの磁場の場合の平均残留歩度が２ｓ／j前後であることを示しており、これは、公知の振動体を具備し、常磁性体または反磁性体のヒゲゼンマイを具備するムーブメントの平均残留歩度と比べておよそ８分の１の低減に当たる。

第３の実施形態は、軸の最大径Ｄｍａｘの値が、ヒゲ玉、振り座、テンプの群から選ばれる要素のうちの１つが取り付けられる軸の最大径Ｄ２の値と一致しないところが第２の実施形態と異なる。したがって、Ｄｍａｘ＞Ｄ２≧Ｄ１である。

本発明による振動体の第３の実施形態の第１の変形例について、図９を参照しながら以下に説明する。この第３の実施形態の第１の変形例では、第１の実施形態の第１の変形例の要素と同一の要素または同じ機能を持つ要素については、最上位の桁（１０の位または１００の位）の数字として「１」の代わりに「５」が与えられ、次の桁（１の位または１０の位）には同じ数字が与えられている。ヒゲ玉５６は部分５３６において押込みばめなどによって軸５３に直接取り付けられる。振り座５５もまた軸５３に対して直接取り付けられる。振り座５５は、部分５３５レベルで押込みばめによって軸５３に衝止されるようにするなどする。この部分の直径は、要素が取り付けられる軸の最小径Ｄ１に等しい。テンプは部分５３４において押込みばめなどによって軸とつながれる。そのために、テンプ５４のボスは、適切なテンプの座りと保持トルクとが保証されるように、十分な全高Ｈ、とりわけ部分５３４の高さに等しいか、またはほぼ等しい全高Ｈを有する。この部分５３４の直径は、要素が取り付けられる軸の最大径Ｄ２に等しい。第３の実施形態のこの第１の変形例では、軸の部分５３３が直径Ｄ１およびＤ２を上回る直径Ｄｍａｘを有する。そのため、この部分はショルダ部を有しており、テンプおよび／またはヒゲ玉が軸に固定されるときに、それらはそのショルダ部に当接することができる。これにより、テンプの位置およびヒゲ玉の位置を正確に規定することができる。

第３の実施形態のこの第１の変形例では、Ｄｍａｘ＞Ｄ２＞Ｄ１であり、軸の最大径Ｄｍａｘは、要素のうちの１つが取り付けられる軸の最小径Ｄ１の３．５倍未満、さらには２．５倍未満、さらには２倍未満であり、および／または、軸の最大径Ｄｍａｘは、要素のうちの１つが取り付けられる軸の最大径Ｄ２の２倍未満、１．８倍未満、さらには１．６倍未満、さらには１．３倍未満である。図９に示す例では、Ｄ１は０．３ｍｍ前後であり、Ｄ２は０．８ｍｍ前後であり、Ｄｍａｘは１ｍｍ前後である。したがって、Ｄｍａｘは直径Ｄ１のほぼ３．５倍未満であり、Ｄｍａｘは直径Ｄ２のほぼ１．３倍未満である。Ｄｍａｘ＞Ｄ２＞Ｄ１である、図２および３に示したもののような先行技術で公知の設計では、Ｄ１は０．３ｍｍ前後、Ｄ２は０．８前後、Ｄｍａｘは１．４ｍｍ前後である。すると、Ｄｍａｘは直径Ｄ１の４．５倍より大きく、Ｄｍａｘは直径Ｄ２のほぼ１．６倍より大きい。そのため、軸Ｄｍａｘの最大径は、先行技術において公知の振動体を装備した軸の最大径Ｄｍａｘと比べて大幅に最小化されていることがわかる。その場合、ヒゲゼンマイの戻りトルクを阻害する寄生トルクは主として振動体周辺にある磁性体部品によるものとなって、残留効果は最小化される。図１４は、第３の実施形態の第１の変形例の振動体の残留歩度を、フランジ付き天真を備え、Ｎｉｖａｒｏｘ（登録商標）タイプのヒゲゼンマイを具備する公知の振動体の残留歩度と対比させて示したものである。３２ｋＡ／ｍの磁場の場合の平均残留歩度は１ｓ／j程度であることがわかるが、これは、前述の振動体を具備するムーブメントの平均残留歩度と比べて３５分の１という非常に顕著な低減となっている。

本発明による振動体の第３の実施形態の第２の変形例について、図１０を参照しながら以下に説明する。第３の実施形態のこの第２の変形例では、第１の実施形態の第１の変形例の要素と同一の要素または同じ機能を持つ要素については、最上位の桁（１０の位または１００の位）の数字として「１」の代わりに「６」が与えられ、次の桁（１の位または１０の位）には同じ数字が与えられている。第３の実施形態の第１の変形例の場合と全く同様に、Ｄｍａｘ＞Ｄ２＞Ｄ１である。この第２の変形例は、テンプ６４が振り座６５を介して軸６３と一体とされるところが第１の変形例と異なる。振り座６５は、押込みばめなどによって部分６３５とつながれ、高さＨ１にわたって軸６３を被覆する。この部分６３５の直径は、振動体の要素が取り付けられる軸の最小径Ｄ１に等しい。テンプは、押込みばめなどによって振り座に衝止される形で取り付けられる。そのために、テンプ６４のボスは、適切なテンプの座りと保持トルクとが保証されるように、十分な全高Ｈ２、とりわけ振り座６５の部分６５４の高さと同じか、またはほぼ同じ全高Ｈ２を有する。一方、ヒゲ玉は、押込みばめなどによって軸６３の部分６３６に固定される。この部分６３５の直径は、振動体の要素が取り付けられる軸の最大径Ｄ２に等しい。第３の実施形態のこの第２の変形例では、軸の部分６３３が直径Ｄ１およびＤ２を上回る直径Ｄｍａｘを有する。そのため、この部分はショルダ部を有しており、振り座および／またはヒゲ玉が軸に固定されるときに、それらがそのショルダ部に当接することができる。これにより、テンプの位置およびヒゲ玉の位置を正確に規定することができる。第３の実施形態のこの第２の変形例では、Ｄｍａｘ＞Ｄ２＞Ｄ１であり、軸の最大径Ｄｍａｘは、要素のうちの１つが取り付けられる軸の最小径Ｄ１の３．５倍未満、さらには２．５倍未満、さらには２倍未満であり、および／または、軸の最大径Ｄｍａｘは、要素のうちの１つが取り付けられる軸の最大径Ｄ２の２倍未満、１．８倍未満、さらには１．６倍未満、さらには１．３倍未満である。図１０に示す例では、Ｄ１は０．４ｍｍ前後であり、Ｄ２は０．５ｍｍ前後であり、Ｄｍａｘは０．７ｍｍ前後である。したがって、Ｄｍａｘは直径Ｄ１のほぼ２倍未満、Ｄｍａｘは直径Ｄ２のほぼ１．６倍未満である。こうして、軸の最大径Ｄｍａｘも大幅に最小化される。

第３の実施形態の第３の変形例は、振動体の要素が取り付けられる軸の最大径Ｄ２の値が振動体の要素を取り付ける最小径Ｄ１の値と等しいところが上述の第１と第２の変形例とは異なる。この変形例について、図１１を参照しながら以下に説明する。第１の実施例の第１の変形例の要素と同一の要素または同じ機能を持つ要素については、最上位の桁（１０の位または１００の位）の数字として「１」の代わりに「７」が与えられ、次の桁（１の位または１０の位）には同じ数字が与えられている。第３の実施形態の第２の変形例と全く同様に、テンプ７４は振り座７５を介して軸７３と一体とされる。振り座７５は、押込みばめなどによって部分７３５とつながれ、高さＨ１にわたって軸７３を被覆する。この部分７３５の直径は、振動体の要素が取り付けられる軸の最小径Ｄ１に等しい。この部分７３５の直径は、振動体の要素が取り付けられる軸の最大径Ｄ２にも相当する。テンプは、押込みばめなどによって振り座に衝止される形で取り付けられる。そのために、テンプ７４のボスは、適切なテンプの座りと保持トルクとが保証されるように、十分な全高Ｈ２、とりわけ振り座７５の部分７５４の高さと等しいか、またはほぼ等しい全高Ｈ２を有する。一方、ヒゲ玉は、押込みばめなどによって軸７３の部分７３６に固定される。この部分７３６の直径は、振動体の要素が取り付けられる軸の最大径Ｄ２に相当し、振動体の要素が取り付けられる軸の最小径Ｄ１にも相当する。そのため、Ｄ１＝Ｄ２である。この第３の変形例では、軸の部分７３３が直径Ｄ１およびＤ２を上回る直径Ｄｍａｘを有する。そのため、この部分はショルダ部を有しており、振り座および／またはヒゲ玉が軸に固定されるときに、それらがそのショルダ部に当接することができる。これにより、テンプの位置およびヒゲ玉の位置を正確に規定することができる。この第３の変形例では、Ｄｍａｘ＞Ｄ１＝Ｄ２であり、軸の最大径Ｄｍａｘは、要素のうちの１つが取り付けられる軸の最小径Ｄ１の３．５倍未満、さらには２．５倍未満、さらには２倍未満であり、軸の最大径Ｄｍａｘは、要素のうちの１つが取り付けられる軸の最大径Ｄ２の２倍未満、１．８倍未満、さらには１．６倍未満、さらには１．３倍未満である。図１１に示した例では、Ｄ１およびＤ２は０．４ｍｍ程度であり、Ｄｍａｘは０．７ｍｍ程度である。したがって、Ｄｍａｘは直径Ｄ１のほぼ２倍未満であり、Ｄｍａｘは直径Ｄ２のほぼ２倍未満である。こうして、軸の最大径Ｄｍａｘも大幅に最小化される。

第３の実施形態では、Ｄｍａｘは、真に対して１つの要素、さらには２つの要素（振り座、テンプ、ヒゲ玉）を、それに当接する際に押込みばめすることができる座りの直径であることが好ましい。

どの実施形態においても、テンプなど、第１の要素が、それ自体は軸に直接取り付けられるのではなく、第１の直径を有する軸の第１の部分において軸に直接取り付けられた第２の要素の方に取り付けられるときは、第１の要素が取り付けられる軸の直径をその第１の直径とみなす。どの実施形態を取り上げるかにかかわらず、ヒゲ玉、振り座、テンプの群から選ばれるすべての要素が、Ｄ１、Ｄ２、Ｄｍａｘの３つの直径のいずれか１つに対して配設されうることは言うまでもない。

各実施形態において、直径Ｄｍａｘは、好ましくは１．１ｍｍ未満、さらには１ｍｍ未満、さらには０．９ｍｍ未満である。

常磁性体（Ｎｂ−Ｚｒ−Ｏ合金、Ｐａｒａｃｈｒｏｍ（登録商標）など）や反磁性体（とりわけＳｉＯ２層を被せたシリコン）のヒゲゼンマイを具備する本発明による振動体は、残留効果が最小化されるように幾何学形状に修正を加えた外丸削りによる棒鋼製のテンプ軸を具備するという独創性を有する。他方、振り座とテンプは、たとえば、ＣｕＢｅ２や真鍮のような銅合金、シリコン、またはさらにニッケル−リンなど、常磁性体または反磁性体から加工される。振り座は、取り上げられる実施形態によっては、テンプの組立てが可能となるように適合されることが好ましい。

この明細書では、「第１の要素が第２の要素と一体をなす」とは、第１の要素が第２の要素に固定されていることをいう。

この明細書では、「テンプ組立体」とは、天真、テンプ、振り座およびヒゲ玉を備え、またはそれらによって構成されるアセンブリであって、テンプ、振り座およびヒゲ玉が天真に取り付けられているアセンブリをいう。

この明細書では、「真」と「軸」は同じ要素を指す。

この明細書では、残留歩度の値の比は絶対値で与えられている。

図１、１３および１４は縮尺どおりに作成されており、その結果、グラフから測定することで、値、特に残留歩度の値を導き出すことができる。

Claims (12)

1. 常磁性体または反磁性体製のヒゲゼンマイ（１１、２１、３１、４１、５１、６１、７１）と、テンプ（１４、２４、３４、４４、５４、６４、７４）、振り座（１５、２５、３５、４５、５５、６５、７５）、および前記ヒゲゼンマイ（１１、２１、３１、４１、５１、６１、７１）に対して一体をなすヒゲ玉（１６、２６、３６、４６、５６、６６、７６）が取り付けられた軸（１３、２３、３３、４３、５３、６３、７３）からなる要素を備えるテンプ組立体（１２、２２、３２、４２、５２、６２、７２）とを備える振動体（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）であって、前記軸の最大径（Ｄｍａｘ）が、前記要素のうちの１つが取り付けられる前記軸の最小径（Ｄ１）の３．５倍未満、もしくは２．５倍未満、もしくは２倍未満であること、または、前記軸の前記最大径（Ｄｍａｘ）が、前記要素のうちの１つが取り付けられる前記軸の最大径（Ｄ２）の１．６倍未満、もしくは１．３倍未満であり、前記軸は鋼製であり、３２ｋＡ／ｍの磁場にさらされた前記振動体の平均残留歩度は最大２ｓ／ｊ（秒／日）であることを特徴とする振動体（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）。
2. 常磁性体または反磁性体製のヒゲゼンマイ（１１、２１、３１、４１、５１、６１、７１）と、テンプ（１４、２４、３４、４４、５４、６４、７４）、振り座（１５、２５、３５、４５、５５、６５、７５）、および前記ヒゲゼンマイ（１１、２１、３１、４１、５１、６１、７１）に対して一体をなすヒゲ玉（１６、２６、３６、４６、５６、６６、７６）が取り付けられた軸（１３、２３、３３、４３、５３、６３、７３）からなる要素を備えるテンプ組立体（１２、２２、３２、４２、５２、６２、７２）とを備える振動体（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）であって、前記軸の前記最大径（Ｄｍａｘ）が、前記要素のうちの１つが取り付けられる前記軸の前記最小径（Ｄ１）の３．５倍未満、もしくは２．５倍未満、もしくは２倍未満であること、ならびに前記軸の前記最大径（Ｄｍａｘ）が、前記要素のうちの１つが取り付けられる前記軸の前記最大径（Ｄ２）の２倍未満、もしくは１．８倍未満、もしくは１．６倍未満、もしくは１．３倍未満であり、前記軸は鋼製であり、３２ｋＡ／ｍの磁場にさらされた前記振動体の平均残留歩度は最大２ｓ／ｊ（秒／日）であることを特徴とする振動体（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）。
3. 前記テンプ軸が鋼製、もしくは外丸削りによる棒鋼製であることを特徴とする、請求項１または２に記載の振動体。
4. 前記要素のうちの１つが取り付けられる前記軸の前記最大径（Ｄ２）が前記軸の前記最大径（Ｄｍａｘ）に等しいことを特徴とする、請求項１から３のいずれか一項に記載の振動体。
5. 前記要素のうちの１つが取り付けられる前記軸の前記最大径（Ｄ２）と、前記要素のうちの１つが取り付けられる前記軸の前記最小径（Ｄ１）と、前記軸の最大径（Ｄｍａｘ）とが等しいことを特徴とする、請求項１から４のいずれか一項に記載の振動体。
6. 前記軸の前記最大径（Ｄｍａｘ）が１．１ｍｍ未満、もしくは１ｍｍ未満、もしくは０．９ｍｍ未満であることを特徴とする、請求項１から５のいずれか一項に記載の振動体。
7. 前記テンプが前記軸に直接取り付けられることを特徴とする、請求項１から６のいずれか一項に記載の振動体。
8. 前記テンプが前記振り座に取り付けられることを特徴とする、請求項１から６のいずれか一項に記載の振動体。
9. 前記ヒゲ玉が前記振り座に取り付けられることを特徴とする、請求項１から８のいずれか一項に記載の振動体。
10. 前記テンプ軸が円筒形またはほぼ円筒形であることを特徴とする、請求項１から９のいずれか一項に記載の振動体。
11. 請求項１から１０のいずれか一項に記載の振動体（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）を備える時計ムーブメント。
12. 請求項１１に記載の時計ムーブメントまたは請求項１から１０のいずれか一項に記載の振動体（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）を備える時計。

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