JP6196094B2 - 半導体素子の製造方法 - Google Patents
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パーティクルを除去する洗浄方法として、アンモニア過水洗浄(以下、APM洗浄と記載する)が知られている。APM洗浄では、アンモニア水と過酸化水素水との混合薬液(例えば、NH4OH/H2O2/H2O)を用いて洗浄が行われる。一般に、薬液の温度は80〜90℃の高温に調整されて洗浄に用いられている。
その他のパーティクルを除去する洗浄方法として、以下の特許文献1に記載の洗浄方法が提案されている。特許文献1では、純水や無機系又は有機系などの洗浄液と加圧された気体を混合して、半導体ウェハに洗浄液の微小液滴を吹き付ける方法が記載されている。
しかしながら、上述したSPM洗浄やオゾン水洗浄のみでは、半導体ウェハのシリコン表面への化学酸化膜の形成は十分であるものの、半導体ウェハの表面に付着したパーティクルの除去が不十分である。
本発明の目的とするところは、上述の問題点を解決し、高品質な半導体素子の製造方法を提供することにある。
前記化学酸化膜形成工程において前記化学酸化膜が形成された前記半導体基板を、アンモニア水と過酸化水素水とを含む第2の薬液で洗浄することにより、前記第1の薬液での洗浄により形成された前記化学酸化膜を、当該化学酸化膜の厚さが全体的に薄くなるように表面側から一部を除去して予め設定した厚さの前記化学酸化膜を前記半導体基板上に残存させておく洗浄工程と、
前記洗浄工程において洗浄した前記半導体基板を酸化処理する酸化処理工程と、
を有することを特徴とする。
上述の半導体素子の製造方法では、前記化学酸化膜形成工程の前に、前記半導体基板を希フッ酸を含む第3の薬液で洗浄することにより、前記半導体基板の表面を露出させる露出工程を有することが好ましい。
上述の半導体素子の製造方法では、前記化学酸化膜工程において、前記化学酸化膜を0.8nm以上1.5nm以下の厚さで形成することが好ましい。
上述の半導体素子の製造方法では、前記洗浄工程において、0.5nm以上1nm以下の厚さの前記化学酸化膜を前記半導体基板上に残存させておくことが好ましい。
本実施形態に係る半導体素子の製造方法は、半導体基板の表面に化学酸化膜を形成する化学酸化膜形成工程と、化学酸化膜が形成された半導体基板の表面を洗浄して予め設定した所定の厚さの前記化学酸化膜を前記半導体基板上に残存させる洗浄工程と、洗浄した半導体基板を酸化処理する酸化処理工程とを有する。以下、各工程について詳細に説明する。
化学酸化膜形成工程では、図1(a)に示す半導体基板(以下、基板と記載する)11の表面を硫酸過水洗浄(SPM洗浄)で洗浄する。基板11は、シリコン基板である。これにより、図1(b)に示すように、基板11の表面にシリコン酸化膜(SiO2)からなる化学酸化膜12を形成する。SPM洗浄では、H2O2とH2SO4との混合薬液(SPM)を用いて洗浄を行う。SPMは酸性(pH0〜2)であり、例えば、レジストの残渣除去等、有機物を効果的に除去することもできる。
なお、SPM洗浄は、希フッ酸を含む薬液等での洗浄により、基板11の表面を露出させた後に行うことが好ましい。
洗浄工程では、化学酸化膜12が形成された基板11の表面をアンモニア過水洗浄(APM洗浄)で洗浄する。APM洗浄では、アンモニア水と過酸化水素水の混合薬液(例えば、NH4OH/H2O2/H2O)を用いて基板11表面の洗浄が行われる。これにより、SPM洗浄により形成した化学酸化膜12の表面からパーティクルを十分に除去することができる。
このとき、図1(c)に示すように、APM洗浄によって化学酸化膜12の一部が除去されるが、本実施形態における洗浄工程では、予め設定した所定の厚さの化学酸化膜12を基板11上に残存させておく。具体的には、洗浄工程では、0.5nm以上1nm以下の厚さの化学酸化膜12を基板11上に残存させておくことが好ましい。
APM洗浄は、通常、80℃以上90℃以下の高温で行われる。これは、通常のAPM洗浄が、基板の表面をエッチングしてパーティクルを除去する洗浄方法であるからである。
すなわち、SPM洗浄による化学酸化膜12の形成後に、この化学酸化膜12を完全に除去しない低温でのAPM洗浄を追加することで、ゲート酸化膜不良がより少ない高品質な半導体素子を得ることができる。
酸化処理工程では、洗浄工程を経てパーティクルが除去された基板11を酸化処理する。酸化処理工程では、図1(d)に示すように、パーティクルが除去された基板11を酸化炉に設置し、高温環境下に晒すことでシリコンと酸素とを反応させ、基板11表面に化学酸化膜12を残したまま酸化処理することによってシリコン酸化膜(SiO2)を成長させてゲート酸化膜13を形成する。酸化処理は、750℃から850℃程度の温度で行われることが好ましい。
本実施形態の製造方法は、半導体素子のゲート酸化膜の不良低減に特に有効であるため、酸化処理工程としては、基板11の表面にゲート酸化膜を形成するゲート酸化工程であることが好ましい。
本実施形態の製造方法として、基板11上にLOCOS(local Oxidation of silicon)法等によりフィールド酸化膜を形成し、チャネル領域にドーパントとなる不純物を注入した後に、イオン注入時のスルー酸化膜等を希フッ酸等の洗浄で除去して、前述の、化学酸化膜形成工程、洗浄工程、ゲート酸化処理工程を経た後、ポリシリコンを成膜して、半導体素子を製造する製造方法であることが好ましい。
シリコンウェハ上に熱酸化膜を形成した基板と、シリコンウェハ上にCVD(Chemical Vapor Deposition:化学気相成長)酸化膜を形成した基板とを作製し、APM洗浄の温度の違いによる熱酸化膜及びCVD酸化膜のエッチングレートの違いを対比した。
APM洗浄に用いる薬液として、NH4OH、H2O2及びH2Oを、NH4OH/H2O2/H2O=1/5/50(体積比)の比率で混合した薬液を使用した。また、APM洗浄時のAPM薬液の温度を80℃または50℃として、熱酸化膜及びCVD酸化膜のそれぞれのエッチングレートの比較を行った。
図2に示すように、薬液の温度を80℃から50℃に低温化することにより、熱酸化膜のエッチングレートを約1/5倍、CVD酸化膜のエッチングレートを約1/7倍に低下することができた。なお、薬液温度は45℃から55℃の範囲であることが望ましく、薬液濃度比率はこの限りではない。
厚さ17nmのゲート酸化膜を形成したMOSキャパシタを作製し、当該MOSキャパシタのゲート酸化膜耐圧分布を測定した。当該測定に用いるMOSキャパシタとしては、面積が1cm2のMOSキャパシタを使用した。なお、本願発明に係る半導体素子の製造方法の効果を確認するために、以下の実施例1、比較例1及び比較例2のように、製造方法を変えてMOSキャパシタを作製し、それぞれのMOSキャパシタのゲート酸化膜耐圧分布を測定した。
基板であるシリコンウェハ上にLOCOS法によりフィールド酸化膜を形成し、チャネル領域にドーパントとなる不純物を注入した。次に、シリコンウェハに対して希フッ酸洗浄(DHF洗浄)を行い、イオン注入時のスルー酸化膜等を除去した。続いて、SPM洗浄を行って基板表面に化学酸化膜を形成した後、化学酸化膜表面を温度50℃のAPM薬液で洗浄した。このとき、化学酸化膜が1.0nm残存するようにした。続いて、APM洗浄した基板にゲート酸化膜を形成するゲート酸化工程を経てポリシリコンを成膜してゲート電極を形成し、MOSキャパシタを作製した。
基板であるシリコンウェハ上にLOCOS法によりフィールド酸化膜を形成し、チャネル領域にドーパントとなる不純物を注入した。次に、シリコンウェハに対して希フッ酸洗浄(DHF洗浄)を行い、イオン注入時のスルー酸化膜等を除去した。続いて、SPM洗浄による化学酸化膜の形成及び低温APM洗浄を行わずに、ゲート酸化工程を経てポリシリコンを成膜してゲート電極を形成し、MOSキャパシタを作製した。
基板であるシリコンウェハ上にLOCOS法によりフィールド酸化膜を形成し、チャネル領域にドーパントとなる不純物を注入した。次に、シリコンウェハに対して希フッ酸洗浄(DHF洗浄)を行い、イオン注入時のスルー酸化膜等を除去した。続いて、SPM洗浄による化学酸化膜の形成を行わずに、基板表面を温度50℃のAPM薬液で洗浄し、ゲート酸化工程を経てポリシリコンを成膜してゲート電極を形成し、MOSキャパシタを作製した。
図3から分かる通り、化学酸化膜が形成されていない比較例1(鎖線で示す)のMOSキャパシタに比べて、SPM洗浄により形成された化学酸化膜が設けられた実施例1(実線で示す)及び比較例2(点線で示す)のMOSキャパシタの方が、欠陥密度が低減されていることがわかる。
一方、実施例1のMOSキャパシタは、SPM洗浄で形成した緻密な化学酸化膜が低温APM洗浄でエッチングされず残っている。このため、比較例2のMOSキャパシタの製造方法よりも実施例1のMOSキャパシタの製造方法の方が低欠陥のゲート酸化膜を形成することができる。
12・・・化学酸化膜
13・・・ゲート酸化膜
Claims (6)
- 半導体基板を硫酸と過酸化水素水とを含む第1の薬液で洗浄して、前記半導体基板の表面に化学酸化膜を形成する化学酸化膜形成工程と、
前記化学酸化膜形成工程において前記化学酸化膜が形成された前記半導体基板を、アンモニア水と過酸化水素水とを含む第2の薬液で洗浄することにより、前記第1の薬液での洗浄により形成された前記化学酸化膜を、当該化学酸化膜の厚さが全体的に薄くなるように表面側から一部を除去して予め設定した厚さの前記化学酸化膜を前記半導体基板上に残存させておく洗浄工程と、
前記洗浄工程において洗浄した前記半導体基板を酸化処理する酸化処理工程と、
を有することを特徴とする半導体素子の製造方法。 - 前記洗浄工程において、前記第2の薬液での洗浄を45℃以上55℃以下の温度で行うことを特徴とする請求項1に記載の半導体素子の製造方法。
- 前記化学酸化膜形成工程の前に、前記半導体基板を希フッ酸を含む第3の薬液で洗浄することにより、前記半導体基板の表面を露出させる露出工程を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体素子の製造方法。
- 前記酸化処理工程が、前記半導体基板表面にゲート酸化膜を形成するゲート酸化工程であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の半導体素子の製造方法。
- 前記化学酸化膜工程において、前記化学酸化膜を0.8nm以上1.5nm以下の厚さで形成することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の半導体素子の製造方法。
- 前記洗浄工程では、0.5nm以上1nm以下の厚さの前記化学酸化膜を前記半導体基板上に残存させておくことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の半導体素子の製造方法。
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