JP6195539B2 - ワイヤ放電加工装置および半導体ウエハ製造方法 - Google Patents
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Description
図1は、実施の形態1にかかるワイヤ放電加工装置16の一構成例を示す図である。ワイヤ放電加工装置16は、放電加工式マルチワイヤソであって、ボビン1,4と、1本のワイヤ電極2と、複数のガイドローラ3a〜3dと、制振ガイドローラ5a,5bと、加工用電源6と、複数の加工電源ユニット61と、放電波形発振制御装置62と、給電子7A,7Bと、ノズル9と、ボビン回転制御装置10a,10bと、ボビン駆動制御装置11と、加工制御装置12と、切断送り用ステージ13と、切断ステージ駆動制御装置14と、トラバース制御装置15a,15bとを備えている。
図1に示すワイヤ放電加工装置16は、被加工物8を放電加工によって切断する加工メカニズムにおいて、ワイヤ電極2自体も少なからず放電加工によって損傷する。ワイヤ電極2は高速走行により、単位長さあたりの損傷部は分散するが、ワイヤ電極2の往復走行による繰り返し使用によって、ワイヤ電極2の損傷領域は拡大し、ワイヤ破断強度が低下して断線の危険が高くなる。一方、ワイヤ電極2の張力を低減することによって、切断ワイヤ部2аにかかる引っ張り応力が緩和され、断線しにくくなる。
図1に示すワイヤ放電加工装置16によって被加工物8を加工する場合、切断ワイヤ部2аが通過した部分には加工溝81が形成される。被加工物8の切断加工によって形成される加工溝81は、素材の損失を意味し、加工溝81の幅が狭いほど、素材の切り代が少ない状態で加工できていることになる。特に、高価な半導体素材の切断加工では低コスト化の要因となる。切り代を狭くできれば、被加工物8から切り出されるウエハ厚さの設定を変えることなく、切断ピッチを狭くできるため、被加工物8からのウエハの収量が増大し、ウエハコストを低減できる。それゆえ、加工溝81の幅を狭くすることは、ウエハ製造上、重要であり、ワイヤ電極2の転写加工ともいえるワイヤ放電加工装置16による加工では、直径の小さいワイヤ電極2を使用することで実現可能となる。
図5は、実施の形態4にかかるワイヤ電極2の走行速度と放電加工電圧の関係を示す図である。図5(a)は、本切断ワイヤ部2аが被加工物8を切断加工する状態を、被加工物8の切断方向に対して垂直方向から見た状態を示す。半導体素材のウエハ加工では、一般に被加工物8は、切断後のウエハの結晶構造が所定の方向となるように、外周が研削・研磨加工された円柱形状であることが多い。被加工物8を所定の厚さの薄板に切断後、その薄板表面を研磨すれば、半導体用ウエハとなる。
Claims (7)
- 回転可能に支持された2つのボビンと、
前記2つのボビンの回転を制御するボビン駆動制御装置と、
前記2つのボビン間で、切断ワイヤ部を形成して往復走行する一本のワイヤ電極と、
前記ワイヤ電極に給電する給電子と、
前記ワイヤ電極と被加工物との間で発生する放電加工電圧を制御する放電波形発振制御装置と、
前記被加工物を前記ワイヤ電極に対して相対的に変化させる切断送り用ステージと、
前記切断送り用ステージを制御する切断ステージ駆動制御装置と、
前記ボビン駆動制御装置、前記放電波形発振制御装置および前記切断ステージ駆動制御装置を統括し、前記ボビン駆動制御装置から入力される前記ワイヤ電極の走行速度情報に基づき、前記放電加工電圧および前記ワイヤ電極と前記被加工物の間隔を制御する加工制御装置と、
を備えることを特徴とするワイヤ放電加工装置。 - 前記加工制御装置は、前記ワイヤ電極の走行方向が反転する前後において、前記放電加工電圧を増減させることを特徴とする請求項1に記載のワイヤ放電加工装置。
- 前記加工制御装置は、前記放電波形発振制御装置に対して、前記放電加工電圧の電圧値、印加パルス周波数、放電1発あたりの印加時間、放電発生後の加工電流の継続時間または放電電流のピーク値を指令することによって前記放電加工電圧を制御するとともに、前記切断ステージ駆動制御装置に対して前記切断送り用ステージの送り速度を指令することによって前記間隔を制御することを特徴とする請求項1または2に記載のワイヤ放電加工装置。
- 前記ボビン駆動制御装置は、前記ワイヤ電極の張力に応じて前記ワイヤ電極の走行速度を制御することを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載のワイヤ放電加工装置。
- 前記ボビン駆動制御装置は、前記ワイヤ電極の直径に応じて前記ワイヤ電極の走行速度を制御することを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載のワイヤ放電加工装置。
- 前記ボビン駆動制御装置は、前記被加工物の切断厚さの変化に応じて前記ワイヤ電極の走行速度を制御することを特徴とする請求項1から5のいずれか1つに記載のワイヤ放電加工装置。
- 請求項1から請求項6のいずれか1つに記載のワイヤ放電加工装置を用いて、半導体素材から半導体ウエハを作製する工程を含む半導体ウエハ製造方法。
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