JP6188355B2 - 放射線撮影装置、補正方法及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影装置の制御方法及びプログラムに関し、特に、放射線画像をＡ／Ｄ変換によってデジタルデータとして取得し、該デジタルデータを外部の記録表示装置等に出力する放射線撮影装置、放射線撮影装置の制御方法及びプログラムに関する。

放射線撮影システム、その一例としてのＸ線撮影システムは、Ｘ線を発生するＸ線発生装置と、Ｘ線を受けてＸ線画像を生成するＸ線撮影装置からなる。Ｘ線撮影装置は従来のＸ線フィルムやイメージングプレートに代わり、近年はフラットパネルディテクタ（ＦＰＤ）を使用した製品が普及している。ＦＰＤはディテクタ面上に検出素子（画素）がマトリクス状に配置されており、Ｘ線の検出量に応じ画素ごとに発生した信号電荷を蓄積し、その後にＡ／Ｄ変換してデジタルデータの信号値を生成する。このデジタルデータに画像処理を施した画像は診断等に使用される。

このようなＦＰＤを用いたＸ線撮影装置はスタンドやテーブルに固定して使用するのが一般的であったが、撮影手法によってはＸ線撮影装置を固定せずにフリーポジションでの撮影が必要な場合があった。そのような要求に対しＦＰＤの収まる筐体を薄型かつ軽量にし、取扱いを容易にした装置も実用化されている。このような装置ではスタンドやテーブルに取り付けて従来の手法で使用する他に、ベッド上に置いて使用したり、整形外科での撮影でよく行われるように患者に持たせて使用したり、固定設置では不可能だった撮影もできるようになった。また、事故・災害時に病院外に持ち出して使用したり、自宅療養患者の往診時に自宅で撮影したり、持ち運びの容易さを生かした使用方法に対応することができる。

しかし、従来のＸ線撮影装置においてはＸ線照射をＦＰＤがＸ線による信号電荷を蓄積するタイミングに合わせねばならず、このためにＸ線発生装置とＸ線撮影装置との同期信号を電気的に接続するためのインタフェースや信号ケーブルが必要とされた。

特許文献１では、この問題を解決するため、Ｘ線撮影装置自身がＸ線照射を検出しＦＰＤを通常モードからＸ線による信号電荷の蓄積モードや、それに続く読出しモードに移行させることを可能とし、Ｘ線発生装置との同期信号の接続を不要とした技術が提案されている。これはＸ線入射によって変動するＦＰＤのバイアス電流を監視することでＸ線照射を検出する方式である。

一方で、一般に電気部品は外乱の影響が避けられず、Ｘ線撮影装置も受けた衝撃・振動でノイズが発生し、内部電気信号は少なからずノイズの影響を受ける。ＦＰＤのバイアス電流は微弱な信号を扱うためノイズの影響を受けやすい。ノイズによる誤動作は結果としてＸ線誤検出に繋がり実際にはＸ線未検出にもかかわらず撮影が実施されてしまう。この場合、画像を破棄する作業（写損）や再撮影の作業が必要となり放射線技師のワークフローを乱してしまう。

これに対して、特許文献２では、読出し状態でＦＰＤから出力される電気信号が所定の閾値を超えたときにＸ線照射開始と判定してＦＰＤを蓄積状態にし、その後のＦＰＤ出力の微分値によって先のＸ線照射開始判定の正誤判定を行い、誤りと判定した場合は蓄積状態を中断して、読出し状態でのＦＰＤ出力によるＸ線照射開始判定状態を再開する技術が開示されている。

特許文献２は、画素で発生した電荷を変換した電気信号と閾値との比較からＸ線照射判定を行い、Ｘ線照射判定した後の電気信号の時間的変化に基づいて、該電気信号が真にＸ線照射によるものかノイズによるものかを再判定し、ノイズによるものと判定した場合は開始した蓄積動作を中断するものである。

同様の技術として、特許文献３では、振動を検知する加速度センサの検出結果が検出閾値以上になった場合、ＦＰＤの動作切替部とＸ線照射検出部との接続を切断し、一定期間Ｘ線照射検出を無効化するものが開示されている。

特表２００２−５４３６８４号公報 特開２０１２−１１０５６５号公報 特開２０１２−１００８０７号公報

しかしながら、特許文献２においては一度Ｘ線照射判定した結果を事後的に再評価することよって誤判定を検出し、一旦開始した蓄積動作を中断して再度Ｘ線照射待ち状態に復帰するものであるため、少なくとも復帰動作の期間はＸ線照射判定が不可能な期間となり、少なからず放射線技師のワークフローに影響を与えてしまう。また、Ｘ線照射と略同時に外乱を受けた場合、実際にＸ線が照射されたにもかかわらず、X線照射判定した結果が再評価によって誤判定とされてしまう可能性があり、その場合患者に余分な被曝を与える結果となる
また、特許文献３においても振動検知した後の一定期間はＸ線照射検出が不可能となるため、その間にＸ線照射が行われた場合、蓄積動作に移行しないため撮影ミスが発生し、患者に余分な被曝を与える結果となる可能性がある。

上記の課題に鑑み、本発明は、放射線照射状態を検知して放射線検出器の動作モードを蓄積モードに自身で遷移する放射線検知機構を有した放射線検出器において、振動・衝撃等の外乱による放射線照射の誤検出を低減し、放射線技師の撮影ワークフローを乱すことなく、また、患者の無効被曝を低減する装置を提供することを目的とする。

上記の目的を達成する本発明に係る放射線撮影装置は、
放射線撮影装置であって、
放射線照射検出素子により検出された電荷に応じた信号値を生成する信号生成手段と、
前記放射線撮影装置に印加された振動を加速度データとして検出する加速度検出手段と、
前記加速度データから移動ベクトル値を算出する移動ベクトル算出手段と、
予め定められた移動ベクトル値及び振動ノイズ値の相関情報に基づいて、前記移動ベクトル値から振動ノイズ値を測定する振動量測定手段と、
前記信号値から前記振動ノイズ値を減算する減算手段と、
前記減算手段からの出力に基づいて放射線の照射を判定する放射線照射判定手段と、
を備えることを特徴とする。

本発明によれば、振動・衝撃等の外乱による放射線照射の誤検出を低減し、放射線技師の撮影ワークフローを乱すことなく、また、患者の無効被曝を低減することができる。

本発明の一実施形態に係る光検出器の等価回路を示す図。 本発明の一実施形態に係る光検出器アレーの等価回路を示す図。 本発明の一実施形態に係るバイアス電流を電圧値に変換した一例を示す図。 本発明の一実施形態に係るＦＰＤに衝撃を与えた際にノイズが重畳したバイアス電流測定部４１における電圧値を示す図。 本発明の一実施形態に係るＦＰＤに衝撃を与えた直後にＸ線照射された際のバイアス電流測定部４１における電圧値を示す図。 本発明の一実施形態に係る振動検知部４３の内部構成の一つの例を示す図。 本発明の一実施形態に係る振動ノイズ補正に利用する各信号とＡ／Ｄ変換器４２の補正結果を示す図。 本発明の一実施形態に係る振動検知部４３の内部構成のもう一つの例を示す図。 本発明の一実施形態に係る放射線撮影装置が実施する処理の手順を示すフローチャート。

以下、添付の図面を参照しながら、本発明の実施の形態について説明する。

（第１実施形態）
本実施形態では、加速度検出部として機能する加速度センサの出力に基づき、Ｘ線照射を検出する信号に重畳した振動ノイズ値を算出し、これによってＸ線照射検出信号を補正する。振動ノイズ値が補正された信号を用いてＸ線照射検出を実施することで、振動・衝撃によるＸ線照射の誤検出を低減する。

一般にＦＰＤはシンチレータ、光検出器アレー及び駆動回路から構成される。シンチレータではエネルギーの高いＸ線によって蛍光体の母体物質が励起され、再結合する再結合エネルギーにより可視領域の蛍光が得られる。シンチレータに隣接して光検出器アレーが配置される。光検出器アレーは光子を電気信号に変換する。

図１に光検出器の等価回路を示す。以下の例はアモルファスシリコンセンサについて説明するが、これに限定するものでなくその他の撮像素子を用いてもよい。

１つの素子は、光電変換素子２１と、電荷の蓄積及び読出しを制御するスイッチングＴＦＴ２２とを備えており、一般にはガラス基板上に配されたアモルファスシリコン（ａ−Ｓｉ）で形成される。光電変換素子２１中のコンデンサ２１Ｃはフォトダイオード２１Ｄが有する寄生コンデンサでもよいし、光検出器のダイナミックレンジを改良する目的で意図的に追加したコンデンサであってもよい。フォトダイオード２１ＤのアノードＡは共通電極であるバイアス配線Ｌｂに接続され、カソードＫはコンデンサ２１Ｃに蓄積された電荷を読み出すためのスイッチングＴＦＴ２２に接続されている。

スイッチングＴＦＴ２２とリセット用スイッチング素子２５を操作してコンデンサ２１Ｃをリセットした後に、Ｘ線１を照射することによりフォトダイオード２１Ｄで照射Ｘ線量に応じた電荷が発生しコンデンサ２１Ｃに蓄積される。その後、再度スイッチングＴＦＴ２２を操作することにより信号電荷はコンデンサ２３に転送される。そして、フォトダイオード２１Ｄに蓄積された量を電位信号として前置増幅器２６によって読出し、当該電位信号がＡ／Ｄ変換されて入射Ｘ線量として出力される。

図２は光検出器アレーの等価回路である。光検出器アレーの画素は２０００×２０００〜４０００×４０００程度に構成され、その面積は２００ｍｍ×２００ｍｍ〜５００ｍｍ×５００ｍｍ程度である。図２に示した例では３３２８×４０９６の画素から構成され、面積は３５０ｍｍ×４３０ｍｍとなる。従って、１画素の大きさは約１０５μｍ×１０５μｍである。１画素は図１を参照して説明した光電変換素子２１とスイッチングＴＦＴ２２とをそれぞれ備えている。

光検出器アレーの各列の光電変換素子２１（ｍ，ｎ）のＫ電極は対応するスイッチングＴＦＴ２２（ｍ，ｎ）のソース・ドレイン導通路により、その列に対する共通の列信号線Ｌｃ１〜Ｌｃ３３２８に接続されている。各行の光電変換素子２１のＡ電極は共通のバイアス配線Ｌｂを通じて蓄積モード・読出し動作モード等の動作モードを操作するバイアス電源３１に接続されている。

各行のスイッチングＴＦＴ２２のゲート電極は行選択配線Ｌｒ１〜Ｌｒ４０９６に接続されている。行選択配線Ｌｒは、ライン選択部３２を通じて駆動制御部（不図示）に接続されている。ライン選択部３２は例えばアドレスデコーダ３４と４０９６個のスイッチ素子３５とを有する。この構成により任意のラインＬｒｎを読み出すことができる（ｎは自然数）。

一方、列信号配線Ｌｃは駆動制御部（不図示）により制御される信号読出し部３６に接続される。図１を参照して説明したように、リセット用スイッチング素子２５は列信号配線Ｌｃをリセット基準電源２４の電位にリセットするためのスイッチであり、前置増幅器２６は信号電位を増幅するための増幅器である。そして、３８はサンプルホールド回路、３９はアナログマルチプレクサ、４０は信号生成部として機能するＡ／Ｄ変換器をそれぞれ表す。それぞれの列信号配線Ｌｃｎ（ｎは自然数）の信号は前置増幅器２６により増幅され、サンプルホールド回路３８により保持される。その出力はアナログマルチプレクサ３９により順次Ａ／Ｄ変換器４０へ出力され、デジタル値に変換されて出力される。

本実施形態では３３２８×４０９６個の画素を３３２８ラインに分け、１列あたり３３２８画素の出力を同時に転送し、この列信号配線Ｌｃを通じて前置増幅器２６−１〜２６−３３２８、サンプルホールド回路３８−１〜３８−３３２８を通じてアナログマルチプレクサ３９によって順次Ａ／Ｄ変換器４０に出力される。なお、図２ではあたかもＡ／Ｄ変換器４０が１つで構成されているように表わされているが、実際にはアナログ信号帯域、Ａ／Ｄ変換レートを低く抑えたままで画像信号の読み取り時間を短くするために複数の系統で同時にＡ／Ｄ変換を行う。

蓄積動作中はスイッチングＴＦＴ２２が全てオフ状態にされ、この状態で光電変換素子２１に信号電荷が蓄積される。蓄積した信号電荷の読出し動作では、アドレスデコーダ３４によってスイッチ素子３５を順にオン状態とすることにより、Ｌｒ１〜Ｌｒ４０９５に接続されたスイッチングＴＦＴ２２を一行ずつ駆動する。コンデンサ２１Ｃに蓄積された信号電荷はスイッチングＴＦＴ２２がオン状態の際に列信号線Ｌｃ１〜Ｌｃ３３２８に読み出される。

光電変換素子２１ではＸ線照射されていない期間においても暗電荷が発生する。この暗電荷は蓄積動作中と同じくコンデンサ２１Ｃに蓄積される。この蓄積電荷はＸ線画像とは成りえないノイズ成分（ダークノイズ）であり、経過時間と共にコンデンサ２１Ｃに蓄積されていきＸ線撮影時のダイナミックレンジを小さくする影響などがあるため、これを除去するために周期的に空読み動作が必要となる。空読み動作は通常の読出し動作と同様にコンデンサ２１Ｃに蓄積された電荷を読み出すため、光検出器アレーの動作は読出し動作と同様である。すなわちアドレスデコーダ３４によってスイッチ素子３５を順にオン状態としてスイッチングＴＦＴ２２を一行ずつ駆動し、コンデンサ２１Ｃに蓄積された電荷を列信号線Ｌｃ１〜Ｌｃ３３２８に読み出す。空読み動作ではノイズ成分の掃き出しが目的なので読みだされた電荷はデータとしては不要である。このため、通常の読出し動作とは異なり前置増幅器２６後のサンプルホールド回路３８、アナログマルチプレクサ３９、Ａ／Ｄ変換器４０は動作の必要はない。通常の読出し動作における動作時間は、コンデンサ２１Ｃからの転送効率に影響するスイッチングＴＦＴ２２のオン時間の他、サンプルホールド時間、マルチプレクサの応答時間、Ａ／Ｄ変換器の動作周波数などによって律則されるが、空読み動作ではスイッチングＴＦＴ２２オン時間以外の律則要因は無いため、十分な暗電荷掃き出し効率が確保できる範囲において読出し時間を通常の読出し動作よりも短くすることができる。

Ｘ線照射によりフォトダイオード２１Ｄで発生した電荷はコンデンサ２１Ｃに蓄積されるが、一部がバイアス配線ＬｂにリークしＸ線照射量に応じた電流変動がバイアス配線Ｌｂに発生する。このバイアス電流を観測することでＸ線照射状態を把握することが可能となる。すなわち本実施形態においては光電変換素子２１及びその集合体である光検出器アレーが放射線照射検出素子としても機能するが、これに限定するものではなく光検出器アレーとは別に放射線照射検出素子を設けてもよい。図２におけるバイアス電流測定部４１は、この電流変動を観測し、電圧値に変換する。Ａ／Ｄ変換器４２は、当該電圧値をデジタル値に変換する。

バイアス電流を電圧値に変換した際の一例を図３に示す。Ｘ線が照射されていない状態においても光電変換素子２１内で発生する暗電流のリークに起因する電圧Ｖｄが観測される。時間ｔ１においてＸ線照射が開始されると光電変換素子２１に入射したＸ線量に応じた電荷が発生し、バイアス電流もそれに応じて増加する結果、バイアス電流測定部４１により測定される電圧値Ｖは図３のようになる。電圧値ＶがＸ線照射量に応じた電圧となるため、予め電圧値に閾値Ｖｔｈを設定し、これを超えた時点でＸ線照射が開始されたと判定することができる。Ｘ線照射開始と判定された場合、光検出器アレーの動作モードを蓄積モードに移行させ、Ｘ線照射が終了するまで蓄積を行った後に光検出器アレーの動作モードを読み出しモードに移行させることで、Ｘ線画像データを取得することができる。この方式によればＸ線発生装置とのインタフェースを設けることなく、Ｘ線照射に同期してＦＰＤの動作を制御してＸ線画像を取得できる。

ところで、ＦＰＤ外部より振動・衝撃を受けた場合、光検出器アレー自身や周辺回路の容量が微小に変化することなどにより、リーク電流の検出結果にノイズが重畳する。Ｘ線未照射状態においてＦＰＤに対して衝撃を与えた際のノイズが重畳したバイアス電流測定部４１における電圧値Ｖを図４に示す。ノイズの波形は衝撃強度に応じた振幅と、主にＦＰＤ自身の固有振動数に起因する周波数をもった減衰振動波形となる。その大きさにもよるが、衝撃・振動によって発生するノイズ電圧は、ある一例においてはＸ線検出による出力電圧の０．１〜１００倍程度と無視できないほどに大きい。図４に示した例ではＸ線照射がされていないが、衝撃によるノイズ電圧ＶｎはＸ線閾値電圧Ｖｔｈを超過している。そのため、時間ｔ２においてＸ線照射開始と誤判定されてしまう。

撮影手技によっては放射線技師や患者がＦＰＤを保持する場合があるが、その際撮影テーブルにＦＰＤをぶつけるなど衝撃を与えてしまうケースは少なからず発生する。衝撃を与えてしまったその直後にＸ線照射された場合のバイアス電流測定部４１における電圧値Ｖを図５に示す。Ｘ線照射に起因する電流変動に衝撃によるノイズが重畳した電圧波形が観測される。例えば特許文献２に開示される技術の場合、ｔ３にてＸ線照射開始と判定し蓄積動作に移行した後、電圧波形の振動状態からｔ４にて誤検知と判定し、蓄積動作を中止し再びＸ線照射検出動作に戻る。この復帰動作にｔ４〜ｔ５までの時間を要する場合、Ｘ線検出開始はｔ５以降となる。仮にｔ４〜ｔ５の期間にＸ線照射開始ｔ１があった場合、Ｘ線照射検出が遅れるため、本来この期間のＸ線照射により生じた電荷、すなわちＸ線画像を形成するデータはその分失われてしまい患者にとっては無駄に被曝したことになる。場合によっては非常に短時間のＸ線照射による撮影だった場合、ｔ４〜ｔ５の期間内にＸ線照射が完了してしまいＸ線検知が機能せずに蓄積動作及びその後の読出し動作に移行せず、Ｘ線画像が全く得られないケースが生じる可能性がある。

これらの誤動作は振動によるノイズ電圧ＶｎがＸ線検知閾値電圧Ｖｔｈを超えることにより発生しているので、ノイズ電圧を相殺すれば誤動作を回避することができる。本実施形態では、図２に示すようにＸ線照射検知部４４の前段に振動検知部４３を設ける。振動検知部４３は、図６に示すように衝撃・振動検知のため加速度センサ５０（加速度検出部）を有する。加速度センサ５０は光検出器アレーの撮像面に平行なＸ、Ｙ軸とこれらに垂直なＺ軸方向の加速度を検出する。加速度センサ５０より得られる３軸の加速度データからＦＰＤ本体の移動ベクトルの瞬時値（移動ベクトル値）を移動ベクトル算出部５１により算出する。算出された移動ベクトルの大きさはＦＰＤに与えられた衝撃による振動の大きさを示すため、同じ衝撃による振動起因で発生する図４に示した振動ノイズ電圧Ｖｎと相関がある。この相関が既知である場合、移動ベクトルの大きさから振動ノイズ電圧Ｖｎを推定することが可能である。仮に、振動ノイズ電圧Ｖｎが加速度センサ５０の出力によって算出された移動ベクトルの大きさＪに対してＶｎ＝ＫＪ＋Ｄ（Ｋ、Ｄは定数）で示される線形性を示すことが既知ならば、図７に示すように、算出したベクトル値について線形演算を振動量測定部５２で実行し、その結果をＡ／Ｄ変換器４２の出力から減算することで振動ノイズ値を補正することができる。すなわち、移動ベクトル算出部５１の出力値７０２を、相関に基づいて振動量測定部５２の出力値７０３へ変換し、Ａ／Ｄ変換器４２の出力値７０１から当該出力値７０３を減算器５３（減算部）により減算することにより、衝撃・振動の影響を排除した減算器５３の出力値７０４を取得することができる。この出力値７０４を用いることによって、振動・衝撃等の外乱による放射線照射の誤検出を低減することができる。

以下、図９のフローチャートを参照して、本実施形態に係る放射線撮影装置が実施する処理の手順を説明する。

Ｓ９０１において、加速度センサ５０は、衝撃・振動検知のために、光検出器アレーの撮像面に平行なＸ軸、Ｙ軸とこれらに垂直なＺ軸方向の加速度データを検出する。Ｓ９０２において、移動ベクトル算出部５１は、加速度センサ５０から３軸の加速度データを取得し、当該加速度データに基づいて、ＦＰＤ本体の移動ベクトルの瞬時値（移動ベクトル値）を算出する。

Ｓ９０３において、振動量測定部５２は、移動ベクトル算出部５１により算出された移動ベクトル値に基づいて振動ノイズ値を算出する。Ｓ９０４において、振動検知部４３は、Ａ／Ｄ変換器４２から出力される信号値を取得する。

Ｓ９０５において、減算器５３は、Ａ／Ｄ変換器４２の出力値から、振動量測定部５２から取得した振動ノイズ値を減算することにより補正を行う。

Ｓ９０６において、放射線照射判定部として機能するＸ線照射検知部４４は、減算器５３により補正された出力値に基づいて、当該出力値が閾値以上であるか否かを判定する。出力値が閾値以上であると判定された場合（Ｓ９０６；ＹＥＳ）、Ｓ９０７へ進む。一方、出力値が閾値未満であると判定された場合（Ｓ９０６；ＮＯ）、Ｓ９０１に戻る。

Ｓ９０７において、不図示の駆動制御部は、出力値が閾値以上超えた時点でＸ線照射が開始されたと判定し、ＦＰＤの動作モードを蓄積モードに設定して、電荷の蓄積を開始する。以上で図９のフローチャートの各処理が終了する。

このような構成によって、放射線照射状態を検知して放射線検出装置の動作モードを蓄積モードに自身で遷移する場合に、振動・衝撃等の外乱による放射線照射の誤検出を低減することが可能となる。

なお、実際の機器においては加工・組立精度や部品精度のばらつきにより、線形演算において定数Ｋ、Ｄが一意に定まらないことがある。こうした機器個体差を補正するため、図８に示すように振動検知部４３を構成してもよい。図８においては、加速度センサ５０の出力に基づき移動ベクトル算出部５１によって移動ベクトルの大きさが算出される。算出された移動ベクトルの大きさは振動量測定部５２と相関算出部６０にそれぞれ入力される。Ａ／Ｄ変換器４２の出力は同様に相関算出部６０に入力されている。相関算出部６０には不図示の駆動制御部からキャリブレーションモード信号が送信され、キャリブレーションモード信号がＯＮの時だけ相関算出部６０が動作する。

以下に、定数Ｋ、Ｄを機器個体ごとに設定するキャリブレーション動作を説明する。キャリブレーション動作では不図示の駆動制御部からキャリブレーションモード信号がＯＮにされる。この状態においてＸ線照射は行わずにＦＰＤ本体に衝撃・振動を与えると、加速度センサ５０の出力に基づいて移動ベクトル算出部５１で算出された移動ベクトル量が相関算出部６０に入力される。同じく相関算出部６０にはＡ／Ｄ変換器４２からの出力信号値、すなわち衝撃印加時の振動ノイズ電圧が入力される。これら２つの入力に基づいて定数Ｋ、Ｄ（相関情報）を決定する。キャリブレーション動作における衝撃・振動の印加はその大きさを変えながら複数回実施し、その結果を平均するなどの処理を加えてから定数Ｋ、Ｄを導き出してもよい。導き出したＫ、Ｄは振動量測定部５２により参照されるメモリ６１に記憶される。

キャリブレーション信号がＯＦＦにされた通常動作において、振動量測定部５２はメモリ６１に記憶された定数Ｋ、Ｄを用いて振動ノイズ電圧Ｖｎの補正値を決定し、その結果をＡ／Ｄ変換器４２の出力から減算することで振動ノイズ値を補正することができる。

ここでは簡単のため相関を線形として説明したがこれに限定するものではなく、非線形であってもよいし、同様に振動量測定部５２における演算も一次方程式に限定されず多次多項式、微積分、ベクトル演算等を伴うものであってもよい。

以上説明したように、本実施形態によれば、放射線照射状態を判定するための信号に重畳してしまった振動ノイズ値を、加速度センサ等の出力から算出した補正値で相殺することによって、振動・衝撃等の外乱による放射線照射の誤検出を低減することができる。

（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims (8)

1. 放射線撮影装置であって、
   放射線照射検出素子により検出された電荷に応じた信号値を生成する信号生成手段と、
   前記放射線撮影装置に印加された振動を加速度データとして検出する加速度検出手段と、
   前記加速度データから移動ベクトル値を算出する移動ベクトル算出手段と、
   予め定められた移動ベクトル値及び振動ノイズ値の相関情報に基づいて、前記移動ベクトル値から振動ノイズ値を測定する振動量測定手段と、
   前記信号値から前記振動ノイズ値を減算する減算手段と、
   前記減算手段からの出力に基づいて放射線の照射を判定する放射線照射判定手段と、
   を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
2. 前記放射線照射判定手段により前記放射線が照射されていると判定された場合、前記放射線撮影装置の動作モードを電荷の蓄積を行う蓄積モードに制御する駆動制御手段をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
3. 前記放射線照射判定手段は、前記減算手段からの出力値が閾値以上である場合に前記放射線が照射されていると判定することを特徴とする請求項１または２に記載の放射線撮影装置。
4. 放射線が照射されていない状態で前記放射線撮影装置に振動が印加された場合に、前記信号生成手段により生成された信号値と、前記加速度検出手段により検出された加速度データに基づく移動ベクトル値とから、前記相関情報を算出する相関算出手段と、
   前記相関算出手段により算出された前記相関情報を記憶する記憶手段と、
   をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
5. 放射線撮影装置であって、
   複数の放射線検出器に共通に接続されたバイアス配線に流れるバイアス電流を測定するバイアス電流測定手段と、
   前記放射線撮影装置に印加された振動に基づく振動ノイズ値を取得し、前記バイアス電流測定手段より出力される前記バイアス電流に基づく信号から前記振動ノイズ値を減算した減算値を得る振動検知手段と、
   前記減算値に基づいて、放射線の照射を判定する放射線照射検知手段と、を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
6. 前記放射線照射検知手段により放射線が照射されていると判定された場合、前記放射線撮影装置の動作モードを電荷の蓄積を行う蓄積モードに移行する駆動制御手段をさらに有することを特徴とする請求項５に記載の放射線撮影装置。
7. 放射線検出器に加わる加速度と放射線検出器により得られるノイズとの関係を示す情報を得る振動ノイズの補正方法であって、
   放射線検出器に複数の異なる値の加速度を印加する工程と、
   前記複数の異なる値の加速度の夫々に対応するノイズ量を測定する工程と、
   前記複数の異なる値と前記測定されたノイズ量との関係を示す情報を取得する工程と、前記取得された関係を示す情報を前記放射線検出器のメモリに記憶させる工程と、前記放射線検出器により放射線の照射の開始を検知する場合に、前記放射線検出器に加わる振動ノイズを、前記メモリに記憶された情報を用いて補正する工程と
   を有することを特徴とする補正方法。
8. 請求項７に記載の補正方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。