JP6128859B2 - 光モジュール - Google Patents

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Description

本発明は、光モジュールに関する。
光ファイバ伝送用の光モジュールは近年のブロードバンドネットワークの普及とともに高速化、小型化、低コスト化が図られている。そのため、ビットレートは10Gbit/s以上の高速伝送レートが広く用いられ、光モジュールは旧世代の300−pin−MSA(Multi Source-Agreement)規格からXENPAK、X2、XFP、SFP+(各MSA規格)へとケース体積の縮小化及び部品数の削減化が進んでいる。この中でXFPは出力波形品位に関する規定が厳しく、業界内で設けたXMD−MSA(Multi Source-Agreement-of 10-Gbit/s-Miniature-Device)という標準仕様に基づくTOSA(Transmitter-Optical-Sub-Assembly)及びROSA(Receiver-Optical-Sub-Assembly)の採用により波形品位を確保することが多い。
図20Aは、XMD−MSAに基づくTOSA、ROSAとプリント基板との接続領域を上方から見た概略図であり、図20Bは、図20AにおけるXXB−XXB線断面図である。図20Aに示すように、プリント基板10上に、フレキシブル基板20(図示せず)と、接続する接続パターン領域60を備える。接続パターン領域60では、図20Bに示すように、プリント基板10に備えられる第1接地導体層201は、フレキシブル基板20に備えられる第2接地導体層215と平面的に重なる位置まで延伸している。このように、プリント基板10上にフレキシブル基板20との接続領域として広い領域を確保しなければならないため、その他の回路部品を実装する回路領域は狭小となる。狭小な領域にその他の回路部品を高密度に実装する必要からプリント基板10にはIVH(Interstitial Via Hole)多層基板といった高密度化に適する構造の基板が適用されている。IVH多層基板は工程数の多いプロセスで作製するため比較的高価格のものであったことから、光モジュールの小型化、低コスト化の要求に伴い、広い回路領域を確保でき、コストの低いプリント基板(例えば、多層貫通基板等)の適用が望まれている。
特開2007−123744号公報 特開2010−200234号公報
プリント基板上に回路領域を広く確保するために、プリント基板とフレキシブル基板とを接続する接続パターンは、従来のXMD−MSAに基づく接続パターンから必要領域が極力小さな接続パターンへの変更が必要とされている。そこで、発明者らは、接続パターン領域の小型化を実現するために、以下に説明する参考例に係る光モジュールを作製し検討を行った。
図21は、参考例に係る接続パターン領域60近傍を上方から見た概略図である。図21に示す光モジュールのIIIB−IIIB線断面図は後述する図3Bと同様であるため、断面図については図3Bを用いて説明する。図21に示すように、参考例における光モジュールにおける接続パターン領域は、第1接地導体層201の上面に第1誘電層200を介して設けられる第1ストリップ対102を備えるプリント基板10と、第2接地導体層215の上面に第2誘電層210を介して設けられる第2ストリップ対103を備えるフレキシブル基板20とを含んでおり、第1ストリップ対102は接続端子211を介して第2ストリップ対103と接続されている。また、第2接地導体層215の端面の一部と接続されて延伸する2本の導体がそれぞれ、接続端子211の両隣に位置する接続端子直下の第1接地導体層201と接続されることで、第1接地導体層201と第2接地導体層215とが電気的に接続されている。そして、第1ストリップ対102それぞれは所定の幅を保持して延伸し、第2ストリップ対103それぞれは所定の幅Wtを保持して、第1ストリップ対102との接続部から光送信モジュール(図示せず)まで延伸する。参考例においては、接続端子211の端の位置と、第1接地導体層201の端の位置と、が一致する。これはプリント基板10の製造プロセスにて許容できる範囲で、接続端子211及び第1接地導体層201を第1誘電層200の端まで近づけている結果である。これにより、第2ストリップ対103に、当該第2ストリップ対103の直下において第1接地導体層201及び第2接地導体層215のいずれとも平面的に重ならない接地層非重畳部122が生じる。したがって、第2ストリップ対103を伝送する伝送信号に対するリターン電流は接地層非重畳部122において迂回経路を通ることとなる。
図22は、参考例に係る接続パターン領域60における差動反射特性を示す図である。この特性には接地層非重畳部122の特性が含まれる。図22に示すように、第1ストリップ対102の左端面から見込んだ差動反射特性(SDD11)及び第2ストリップ対103の右端面から見込んだ差動反射特性(SDD22)が周波数15GHzで−13dBまで上昇し、反射特性が劣化している。この点について、発明者は、接地層非重畳部122においてリターン電流が迂回経路を通ることで、接地層非重畳部122に、インピーダンス不整合が生じる程のインダクタンス成分が生じることを見出した。具体的には、接続パターン領域60の各部の寸法を、例えば、第2ストリップ対103及び第2接地導体層215の厚さを28μm、第2誘電層210の厚さ、すなわち第2ストリップ対103と第2接地導体層215との間隔を50μm、接地層非重畳部122の長さGを第2ストリップ対103に沿った水平距離にして0.25mmとし、第2ストリップ対103における差動伝送線路の特性インピーダンスを50Ωとして、発明者が電磁界解析を実施した結果、接地層非重畳部122にて0.18nHのインダクタンス成分が生じることを確認した。この0.18nHのインダクタンス成分は、数GHz以上の高周波帯域では、特性インピーダンス50Ωに対して無視できない大きさであり、接地層非重畳部122において不要な信号の反射が生じ差動反射特性が劣化することを見出した。
従来、光モジュールにおけるプリント基板とフレキシブル基板との接続部にて、信号電極と接地電極との間に寄生容量が生じることで反射特性の劣化が生じることが多々ある。特許文献1にはFPCの接地電極パターンの形状を工夫することにより寄生容量を調整して出力波形品位を確保することについて開示している。また、特許文献2にはプリント基板の接地電極パターンの形状を工夫することにより寄生容量を調整して出力波形品位を確保することについて開示している。しかしながら、上述の特許文献1及び特許文献2に記載の手法では接地層非重畳部122のインダクタンス成分に対しては対処することができない。
本発明は上記実情を鑑みて為されたものであり、光モジュールにおいて、プリント基板とフレキシブル基板との接続部を小型化するとともに、小型化した接続部に起因するインピーダンス不整合を補償することを目的とする。
(1)上記課題を解決するために、本発明にかかる光モジュールは、プリント基板と、フレキシブル基板と、光送信モジュールと、を備える光モジュールであって、前記プリント基板は、第1誘電層と、前記第1誘電層の一方側に配置される駆動ICと、前記第1誘電層の前記一方側に配置されるとともに、前記駆動ICが出力する差動伝送信号を伝送する、第1ストリップ対と、前記第1誘電層の他方側に配置される第1接地導体層と、を備え、前記フレキシブル基板は、第2誘電層と、前記第2誘電層の一方側に配置される、第2ストリップ対と、前記第2誘電層の他方側に配置される、第2接地導体層と、を備え、前記光送信モジュールは、前記第2ストリップ対が伝送する前記差動伝送信号を光信号に変換して出力し、前記第2ストリップ対は、前記第1ストリップ対と電気的に接続するとともに、前記第1接地導体層と平面的に重なる、接続部と、前記第1接地導体層及び前記第2接地導体層のいずれとも平面的に重ならない、接地層非重畳部と、前記第2接地導体層と平面的に重なるとともに、前記接地層非重畳部で発生するインピーダンス不整合を補償するよう、前記第2接地導体層とでインピーダンス整合回路を形成する、整合部と、前記第2接地導体層と平面的に重なるとともに、前記整合部よりさらに延伸する、伝送部と、を含むことを特徴とする。
(2)上記(1)に記載の光モジュールであって、前記インピーダンス不整合は、インダクティブなリアクタンス成分を補償することとしてもよい。
(3)上記(2)に記載の光モジュールであって、前記伝送部において、前記第2ストリップ対それぞれは、第1幅を有し、前記接続部において、前記第2ストリップ対それぞれは、第2幅を有し、前記整合部は、前記第2ストリップ対それぞれの幅が前記第2幅より広い幅広部と、前記第2ストリップ対それぞれの幅が前記第1幅より狭い幅狭部と、を伝送方向に沿って順に含んでいてもよい。
(4)上記(3)に記載の光モジュールであって、前記幅広部及び前記幅狭部はそれぞれ、矩形状を有していてもよい。
(5)上記(2)に記載の光モジュールであって、前記伝送部において、前記第2ストリップ対それぞれは、第1幅を有し、前記整合部は、前記第2ストリップ対それぞれの幅が内縁から外側へ前記第1幅よりもさらに広がり、オープンスタブを形成するオープンスタブ部と、前記第2ストリップ対それぞれの幅が前記第1幅より狭い幅狭部と、を伝送方向に沿って順に含んでいてもよい。
(6)上記(1)〜(5)のいずれか1つに記載の光モジュールであって、前記第2ストリップ対は整合部において、伝送方向に沿って所定の長さを有していてもよい。
(7)上記(1)〜(6)のいずれか1つに記載の光モジュールであって、前記第2ストリップ対の特性インピーダンスが40Ω以上60Ω以下であってもよい。
本発明により、プリント基板とフレキシブル基板との接続部を小型化するとともに、小型化した接続部に起因するインピーダンス不整合を補償する光モジュールが提供される。
本発明に係る光モジュールのプリント基板とTOSA、ROSAとの接続配置を示す斜視図である。 本発明に係る光送信モジュールを駆動するための光送信ブロックの回路図である。 本発明の第1実施形態に係る接続パターン領域を上方から見た概略図である。 図3AのIIIB−IIIB線断面図である。 本発明の第1実施形態に係る整合部の詳細を示す図である。 本発明の第1実施形態に係る接続パターン領域における差動反射特性を示す図である。 本発明の第1実施形態に係る光モジュールの回路モデルを示す図である。 図5におけるA、B、及びC点における各インピーダンスの動きを示すスミスチャートである。 本発明の第1実施形態に係る直列インダクタンスLsに対して必要な、差動伝送線路MSL1の電気長Eang1を示す図である。 本発明の第1実施形態に係る差動伝送線路MSL2の特性インピーダンスZ2に対して必要な、差動伝送線路MSL1と差動伝送線路MSL2との電気長の和を示す図である。 ターゲット周波数f0を42GHzとして場合の直列インダクタンスLsに対して必要な、差動伝送線路MSL1の電気長Eang1を示す図である。 本発明の第2実施形態に係る第2実施形態における接続パターン領域近傍を上方から見た概略図である。 本発明の第2実施形態に係る整合部の詳細を示す図である。 本発明の第2実施形態に係る接続パターン領域における差動反射特性を示す図である。 本発明の第3実施形態における接続パターン領域近傍を上方から見た概略図である。 本発明の第3実施形態に係る整合部の詳細を示す図である。 本発明の第3実施形態に係る接続パターン領域における差動反射特性を示す図である。 本発明の第4実施形態に係る接続パターン領域近傍を上方から見た概略図である。 本発明の第4実施形態に係る整合部の詳細を示す図である。 本発明の第4実施形態に係る接続パターン領域における差動反射特性を示す図である。 XMD−MSAに基づくTOSA、ROSAとプリント基板との接続領域を上方から見た概略図である。 図20AにおけるXXB−XXB線断面図である。 本発明の参考例に係る接続パターン領域近傍を上方から見た概略図である。 本発明の参考例に係る接続パターン領域における差動反射特性を示す図である。
[第1実施形態]
以下、本発明の第1実施形態について図面に基づき詳細に説明する。なお、図面において、同一または同等の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
図1は、第1実施形態に係る光モジュール1のプリント基板とTOSA、ROSAとの接続配置を示す斜視図である。図1に示すように、第1実施形態に係る光モジュール1は、プリント基板10、フレキシブル基板20、光送信モジュール30、フレキシブル基板40、光受信モジュール50、接続パターン領域60、さらにこれらを上下から挟み込み適切な位置に固定するケース(図示せず)等、を含んで構成される光信号の送受信機能を一体化した光モジュールである。光モジュール1は、ビットレートが10Gbit/sであり、詳しくは、9.95Gbit/s、10.7Gbit/s、10.3Gbit/s、11.7Gbit/sのマルチレートに対応するものである。また、光モジュール1は、XFP−MSA規格に準拠した光モジュールであるが、光モジュール1は他の規格の光モジュール、例えばSFP+規格の光モジュールであってもよい。
光送信モジュール30は、TOSA等であり、プリント基板10上の駆動IC(図示せず)から伝送される電気信号を光信号に変換して出力する。本実施形態では光送信モジュール30はTOSAとするが、これに限定されるものではない。フレキシブル基板20は、プリント基板10と、光送信モジュール30とを電気的に接続するFPC(Flexible Printed Circuits)である。フレキシブル基板20は可撓性を有し、光送信モジュール30の光インターフェースの位置と、プリント基板10のコネクタ接続部の電気インターフェース位置との間の実装公差を吸収する働きを持つ。そして、プリント基板10と、光信号を電気信号に変換して出力するROSA等の光受信モジュール50とを接続するフレキシブル基板40も同様の性質を有する。
図2は、光送信モジュール30を駆動するための光送信ブロックの回路図である。図2に示すように、第1実施形態に係る光送信回路は、駆動IC92、ストリップ対101、第1ストリップ対102、第2ストリップ対103、ストリップ対104、及び光送信用素子91を含んで構成されている。駆動IC92及びストリップ対101及び第1ストリップ対102は図1におけるプリント基板10に形成され、第2ストリップ対103は図1におけるフレキシブル基板20に形成され、ストリップ対104及び光送信用素子91は図1における光送信モジュール30に形成される。
光送信用素子91はレーザダイオード等であり、入力される電気信号を光信号に変換して出力するものである。本実施形態では光送信用素子91として出力波長1.3μmのDFB−LD(Distributed Feedback Laser Diode)素子を用いることとするが、これに限定されるものではない。このDFB−LD素子は伝送距離が2kmないし10kmの10Gbit/s光モジュールの送信用半導体レーザ素子である。その特徴として直列抵抗が6〜10Ωと低く,また高温動作時に良好な光波形を得るために,100mA近い大きな電流で駆動する必要がある。そのため、後述する駆動IC92は25Ω×2の差動出力を有するDFB−LDの駆動に特化したICを用いる。
駆動IC92は、シリアルデータ信号を増幅する駆動回路であり、本実施形態では、DFB−LD素子を駆動するための25Ω×2の差動出力を有し、光送信用素子91の両端(アノード端子とカソード端子)に平衡信号を与えて光送信用素子91を駆動する。なお、駆動IC92は、ドライバ出力機能を有するCDR(クロックデータリカバリ)ICであっても良い。
ストリップ対101、第1ストリップ対102、第2ストリップ対103及びストリップ対104はそれぞれ、基本的には所定の幅を保持して並行に延伸する2本の導体とするが、導体の一部の形状が異なることとしてもよい。これら2本の導体と、その一方側に誘電層を介して設けられる接地導体層と、によりマイクロストリップ線路を用いた差動伝送線路が形成される。ストリップ対101を備える差動伝送線路、第1ストリップ対102を備える差動伝送線路、第2ストリップ対103を備える差動伝送線路及びストリップ対104を備える差動伝送線路それぞれの特性インピーダンスは差動モードにおいて50Ω、もしくは40Ω〜60Ωの間とする。なお、各差動伝送線路を2本の伝送線路として、各伝送線路の特性インピーダンスを25Ω、もしくは20〜30Ωの間としてもよい。
光送信用素子91の駆動信号は駆動IC92の差動出力端子より出力され、プリント基板10上のストリップ対101、DCカット容量116、DCカット容量117、及び第1ストリップ対102、フレキシブル基板20上の第2ストリップ対103、光送信モジュール30内のストリップ対104を介して光送信用素子91の両端(アノード端子とカソード端子)に平衡信号として供給される。光送信用素子91の直流バイアス電流(Idiode)は、バイアス電圧源(または電流源)115より、チョークコイル118、チョークコイル119、第1ストリップ対102、第2ストリップ対103、ストリップ対104を介して供給される。
本発明の主な特徴は、プリント基板10と光送信モジュール30とを接続するフレキシブル基板20が、インピーダンス不整合を補償する整合部123を備えることにある。
図3Aは、第1実施形態における接続パターン領域60近傍を上方から見た概略図であり、図3Bは、図3Aの接続パターン領域60のIIIB−IIIB線断面図である。図3A及び図3Bに示すように、プリント基板10は、第1誘電層200、第1誘電層200の上面(一方側)に配置される第1ストリップ対102、及び第1誘電層200の下面(他方側)に配置される第1接地導体層201、を含んで構成されている。第1ストリップ対102それぞれは所定の幅を保持して並行に延伸する。第1誘電層200は、FR4またはFR5などのガラスエポキシプリント回路基板材料によって形成されている。第1ストリップ対102及び第1接地導体層201を形成する材料として銅箔が用いられている。フレキシブル基板20は、第2誘電層210、第2誘電層210の上面(一方側)に配置される第2ストリップ対103、第2誘電層210の下面(他方側)に配置される第2接地導体層215、を含んで構成されている。第2誘電層210を形成する材料としてポリイミドおよび接着剤等が用いられ、第2ストリップ対103及び第2接地導体層215を形成する材料として銅箔が用いられている。そして、フレキシブル基板20の端面には6個の接続端子が配置され、このうち内側の2つが第1ストリップ対102と第2ストリップ対103とが接続される接続端子211である。接続端子211は、導体であり、第2誘電層210の一方側に形成され、第2誘電層210を貫通するバイアホール216を介して第2ストリップ対103と電気的に接続されている。なお、第2接地導体層215の端面の一部と接続されて延伸する2本の導体がそれぞれ、接続端子211の両隣に位置する接続端子直下の第1接地導体層201と接続されることで、第1接地導体層201と第2接地導体層215とが電気的に接続されている。
第2ストリップ対103は、接続部121、接地層非重畳部122、整合部123、及び伝送部124を含んで構成され、第2ストリップ対103それぞれは所定の幅を保持して並行に延伸する。接続部121は、その直下に、バイアホール216が貫通する第2誘電層210と、その下面に接続端子211とが形成される領域である。そして、接続端子211がハンダ217を介して第1ストリップ対102と接続されることで、接続部121と第1ストリップ対102が電気的に接続される。ここで、ハンダ217を介する接続は第1ストリップ対102と第2ストリップ対103との機械的な固定も兼ねている。そして、接続部121は、第2ストリップ対103を上から見て、第2ストリップ対103の直下に第1接地導体層201が存在する、つまり、第1接地導体層201と平面的に重なる領域である。
接地層非重畳部122は、第2ストリップ対103を上から見て、第2ストリップ対103の直下に接地導体が存在しない、つまり、第1接地導体層201及び第2接地導体層215いずれとも平面的に重ならない領域である。本実施形態における接続パターン領域60は、プリント基板10の製造プロセスにて許容できる範囲で面積を縮小していることで、接続端子211の端の位置と第1接地導体層201の端の位置が一致する。これにより、第1接地導体層201と第2接地導体層215との間に接地導体の不連続が生じ、第2ストリップ対103に接地層非重畳部122が生じる。そして、第1ストリップ対102及び第2ストリップ対103により伝送される伝送信号に対するリターン電流は、接地層非重畳部122直下における接地導体の不連続により迂回経路をたどるため、この接地層非重畳部122に生じるインダクティブなリアクタンス成分(以下、インダクタンス成分とする)により、インピーダンス不整合が生じる。ここで、迂回経路とは、第1接地導体層201と第2接地導体層215とが接続される導体を通る経路とする。
整合部123は、幅広部212及び幅狭部213を伝送方向に沿って順に含んで構成されている。整合部123において、幅広部212及び幅狭部213と、その下面に配置される第2誘電層210を介して接続される第2接地導体層215とにより、接地層非重畳部122に生じるインダクタンス成分によるインピーダンス不整合を補償するための整合回路が形成される。幅広部212及び幅狭部213の形状はそれぞれ矩形状とし、幅広部212における第2ストリップ対103それぞれの幅W1は、接続部121におけるそれぞれの幅Wcより大きく、幅狭部213における第2ストリップ対103それぞれの幅W2は、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。そして、伝送部124は、第2ストリップ対103それぞれの幅Wtを一定に保持して、整合部123から光送信モジュール30まで延伸する領域である。そして、整合部123及び伝送部124は、第2ストリップ対103を上から見て、第2ストリップ対103の直下に第2接地導体層215が存在する、つまり、第2接地導体層215と平面的に重なる領域である。
プリント基板10及びフレキシブル基板20を構成する各部の寸法は、プリント基板10の層構成、第1誘電層200及び第2誘電層210の比誘電率等に応じて設計されるものとする。また、第1ストリップ対102及び第2ストリップ対103の各部における寸法は、所望の特性インピーダンスが得られるように定められる。
以上、第1実施形態における接続パターン領域60の構成を説明した。次に、整合部123の具体的な構造と動作について説明する。
まず、上述した構成において、例えば、第2ストリップ対103及び第2接地導体層215の厚さを28μm、第2誘電層210の厚さを50μm、接地層非重畳部122の長さGを第2ストリップ対103に沿った水平距離にして0.25mmとして電磁界解析を実施したところ、接地層非重畳部122にて0.18nHのインダクタンス成分が生じることを確認した。このインダクタンス成分によるインピーダンス不整合を補償するための整合回路となるよう整合部123の各寸法を設定する。
図4は第1実施形態に係る整合部123の詳細を示す図である。図4における、接地層非重畳部122のインダクタンス成分を補償するための整合部123の各寸法の一例を以下に示す。接続部121における第2ストリップ対103それぞれの幅Wcは0.35mm、伝送部124における第2ストリップ対103それぞれの幅Wsは0.255mmとする。この場合の伝送部124における差動伝送線路の特性インピーダンスZ0は、計算によれば26.1Ωである。第2ストリップ対103の中心間距離S0は0.79mmである。ここで、中心間距離とは、第2ストリップ対103を構成する2本の伝送導体の中心間距離であり、接続部121、接地層非重畳部122、整合部123、及び伝送部124の各部において中心間距離S0は等しく0.79mmとする。幅広部212における第2ストリップ対103それぞれの幅W1は0.71mmであり、接続部121におけるそれぞれの幅Wcより大きく、かつ、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより大きい。また幅広部212における第2ストリップ対103それぞれの長さL1は0.60mmである。幅狭部213における第2ストリップ対103それぞれの幅W2は0.10mmであり、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。また、幅狭部213における第2ストリップ対103それぞれの長さL2は0.30mmである。幅広部212及び幅狭部213における第2ストリップ対103の長さの和(L1+L2)は0.90mmである。上記の寸法で算出すると、幅広部212における差動伝送線路の特性インピーダンスZ1が11.9Ωであり、周波数15GHzにおける電気長Eang1が18.6度である。また、幅狭部213における差動伝送線路の特性インピーダンスZ2が44.8Ωであり、周波数15GHzにおける電気長Eang2が9.3度である。幅広部212及び幅狭部213における差動伝送線路の周波数15GHzにおける電気長の和(Eang1+Eang2)は27.9度である。
図5は接続パターン領域60における差動反射特性を示す図である。この特性には接地層非重畳部122の特性が含まれる。図5に示すように、第1ストリップ対102の左端面から見込んだ差動反射特性(SDD11)及び第2ストリップ対103の右端面から見込んだ差動反射特性(SDD22)が周波数15GHzにおいて−40dB以下に低減している。また、DC〜15GHzの範囲においては差動反射特性SDD11及び差動反射特性SDD22は−27dB以下に抑圧されている。このように、図3に示すような整合部123の構造を用いることでプリント基板10とフレキシブル基板20との接続部における信号の不要な反射を改善することができ,良好な差動反射特性が得られる。
次に整合部123の動作について説明する。図6は第1実施形態に係る光モジュール1の回路モデルを示す図である。この図では説明を単純にするため、差動回路のうちの片側だけを記述している。図6に示すように、Rsは駆動IC92のドライバ出力抵抗、MSL0はプリント基板10に備える差動伝送線路、Lsは接地層非重畳部122にて生じるインダクタンス成分に相当する直列インダクタンス、MSL1は幅広部212に相当する差動伝送線路、MSL2は幅広部212に相当する差動伝送線路、MSL3はフレキシブル基板20に備える差動伝送線路である。ドライバ出力抵抗Rsは25Ωとする。差動伝送線路MSL0及び差動伝送線路MSL3の特性インピーダンスZ0は25Ωとする。ここで、差動伝送線路MSL1及び差動伝送線路MSL2を利用して直列インダクタンスLsによるインピーダンス不整合を補償することを考える。補償が必要な周波数範囲は、DCからそのデジタル信号のランダムNRZパターン信号の第2のスペクトラムピークの周波数までをカバーできれば十分である。この伝送線路を通過する高速デジタル信号のビットレートが10Gbit/sの場合に第2のスペクトラムピークは第1のスペクトラムピーク周波数(5GHz)の3倍の周波数である周波数15GHzに生じる。第1実施形態においては、まず整合部123のターゲット周波数f0を15GHzとし、次にDCから15GHzまでの周波数範囲での差動反射特性の低減を考慮する。
図7は、図6におけるA、B、及びC点における各インピーダンスの動きを示すスミスチャートである。ここで、各インピーダンスは、A、B、及びC点からプリント基板10の駆動IC92のドライバ出力抵抗Rs(25Ω)側を見込んだ時のインピーダンスである。図7に示すように、スミスチャートは25Ωで規格化し,周波数は15GHzである。まずA点では直列インダクタンスLsにより、原点から誘導性リアクタンスXL=j・ω・Lsの位置に移動する。ここで、jは虚数単位、ωは角周波数(2π・f0)である。第1実施形態では、例えば、直列インダクダンスLsを0.18nHとすると,誘導リアクタンスXLは(j・17)Ωとなる。この値は特性インピーダンスZ0(25Ω)に対して無視できない大きさである。次に差動伝送線路MSL1により、インピーダンスを下半円(容量性)の実数部を25Ωのライン上近くに移動する。インピーダンスのA点からB点への移動には、差動伝送線路MSL1の特性インピーダンスZ1がZ0(25Ω)より小さい必要がある。
図8は、直列インダクタンスLsに対して必要な、差動伝送線路MSL1の電気長Eang1を示す図である。図8は、特性インピーダンスZ1を5Ωから20Ωまで変化させた場合に、インピーダンスをA点から実数部25Ωラインまで移動するのに必要な差動伝送線路MSL1の電気長Eang1を示している。図8に示すように、Z1がZ0(25Ω)に比べて小さいほど、より小さな電気長Eang1で解が得られる。また、回路シミュレーションを実施すると、図7の各曲線のピーク(Eang1が最大になる位置)より右側(斜線部で示す領域)では15GHzより低い周波数において、インピーダンスが図7の上半円(誘導性)に残ってしまうため、十分なインピーダンス整合を得ることができなかった。したがって、第1実施形態において、図7の斜線領域に含まれる値は使用しないこととしてよい。図7に示すように、Z1がZ0(25Ω)に比べて小さいほど、より大きな直列インダクタンスLsに対して解が得られる。例えば、Z1を5Ωとした場合には直列インダクタンスLsが最大0.3nHまで解が得られる。
次に、差動伝送線路MSL2により、インピーダンスをB点からC点(原点近く)へ移動する。インピーダンスのB点からC点への移動には差動伝送線路MSL2の特性インピーダンスZ2をできるだけ高くした方が好適であり、少なくともZ0(25Ω)よりは大きくする必要がある。
図9は、差動伝送線路MSL2の特性インピーダンスZ2に対して必要な、差動伝送線路MSL1と差動伝送線路MSL2との電気長の和を示す図である。図9は、特性インピーダンスZ1を5Ωから20Ωまで変化させた場合に、インピーダンスを実数部25Ωライン上のB点から原点近くのC点まで移動するのに必要な、差動伝送線路MSL1と差動伝送線路MSL2との電気長の和(Eang1+Eang2)と、差動伝送線路MSL2の特性インピーダンスZ2との関係を示している。図9に示すように、Z2がZ0(25Ω)に比べて大きいほど、より小さな電気長(Eang1+Eang2)で解が得られる。また、回路シミュレーションを実施すると、解が得られた特性インピーダンスZ2の最小値は35Ωであった。この値はZ0(25Ω)より大きい。また、解が得られた場合の電気長(Eang1+Eang2)の最大値は周波数15GHzにおいて109度であった。したがって、整合部123の電気長(Eang1+Eang2)は109度以下が好適である。この電気長109度はフレキシブル基板20に備える差動伝送線路における波長λgの単位で表すと、0.3λgである。したがって、整合部123の電気長(Eang1+Eang2)は0.3λg以下が好適である。また、第1実施形態におけるフレキシブル基板20の構造では、周波数15GHzにおける電気長109度は物理長3.4mmに相当する。したがって、整合部123の伝送方向に沿った物理長の和(L1+L2)は3.4mm以下が好適である。
以上の説明は、高速デジタル信号のビットレートが10Gbit/sとし、整合部123のターゲット周波数f0を15GHzとしているが、より高速のデジタル信号に対しても同様の議論が成り立つ。例えば、高速デジタル信号のビットレートを28Gbit/sとした場合に、整合部123のターゲット周波数f0を42GHzとすればよい。ビットレートが10Gbit/sの場合と異なるのは、直列インダクタンスLsによる誘導性リアクタンスXL=j・ω・Lsの値である。
図10は、ターゲット周波数f0を42GHzとした場合の直列インダクタンスLsに対して必要な、差動伝送線路MSL1の電気長Eang1を示す図である。図10は、ターゲット周波数f0を42GHzとして特性インピーダンスZ1を5Ωから20Ωまで変化させた場合に、インピーダンスをA点から実数部25Ωラインまで移動するのに必要な差動伝送線路MSL1の電気長Eang1を示している。図10に示すように、Z1がZ0(25Ω)に比べて小さいほど、より大きな直列インダクタンスLsに対して解が得られる。例えば、Z1を5Ωとした場合に、直列インダクタンスLsが最大0.1nHまで解が得られる。また、物理長の和(L1+L2)は目的のデータレートにより変化させる。具体的にはデータレートに反比例させた長さに変化すればよい。例えば、28Gbit/sの場合は10Gbit/sの時の1/2.8倍にすればよい。
[第2実施形態]
第2実施形態に係る光モジュール1は、第1実施形態における第2ストリップ対103の構造が異なるものであるが、それ以外の構成は第1実施形態と同じである。図11は、第2実施形態における接続パターン領域60近傍を上方から見た概略図である。図11に示したもののうち、図3Aと共通するものについては同符号を付し、その重複する説明は省略するものとする。
まず、第2実施形態と異なる構成について説明する。第2実施形態における整合部123は、オープンスタブ部312及び幅狭部313を伝送方向に沿って順に含んで構成されている。整合部123において、オープンスタブ部312及び幅狭部313と、その下面に配置される第2誘電層210を介して接続される第2接地導体層215とにより、接地層非重畳部122に生じるインダクタンス成分によるインピーダンス不整合を補償するための整合回路が形成される。オープンスタブ部312それぞれは、接地層非重畳部122から幅狭部313までの間を伝送信号が伝送する部分と、その伝送信号が伝送する部分から接続部121における第2ストリップ対103の外縁より外側に向けて延伸する矩形状のオープンスタブ(以下、矩形状オープンスタブとする)とを含んで形成される。そして、矩形状オープンスタブは、オープンスタブ長(矩形状オープンスタブの延伸方向に沿った長さ)W1及び周波数に応じてキャパシティブまたはインダクティブに作用する。幅狭部313は矩形状であり、幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの幅W2は、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。そして、伝送部124は、第2ストリップ対103それぞれの幅Wtを一定に保持して、整合部123から光送信モジュール30まで延伸する。そして、整合部123及び伝送部124は、第2ストリップ対103を上から見て、第2ストリップ対103の直下に第2接地導体層215が存在する、つまり、第2接地導体層215と平面的に重なる領域である。また、伝送部124における第2ストリップ対103を含む差動伝送線路を並行結合線路とするべく、整合部123、及び伝送部124における第2ストリップ対103の間隔S1を0.096mmとする。ここで、間隔とは、第2ストリップ対103を構成する2本の伝送導体の内縁の距離であり、間隔S1は接続部121における第2ストリップ対103の間隔より小さくなる。
次に第2実施形態における整合部123の具体的な構造と動作について説明する。
上述した構成において、第1実施形態と同様に、例えば、第2ストリップ対103及び第2接地導体層215の厚さを28μm、第2誘電層210の厚さを50μm、接地層非重畳部122の長さGを第2ストリップ対103に沿った水平距離にして0.25mmとして電磁界解析を実施したところ、接地層非重畳部122にて0.18nHのインダクタンス成分が生じることを確認した。このインダクタンス成分によるインピーダンス不整合を補償するための整合回路となるよう整合部123の各寸法を設定する。
図12は、第2実施形態に係る整合部123の詳細を示す図である。図12における、第2実施形態における接地層非重畳部122のインダクタンス成分を補償するための整合部123の各寸法の一例を以下に示す。接続部121における第2ストリップ対103それぞれの幅Wcは0.35mm、伝送部124における第2ストリップ対103それぞれの幅Wtは0.255mmである。伝送部124における並行結合線路の差動特性インピーダンスZdiff(第2実施形態においては第2ストリップ対103の伝送導体間の結合を強くしているので,特性インピーダンスとしては差動(平衡)インピーダンスで記述する)は、計算によれば46.8Ωである。オープンスタブ部312におけるそれぞれのオープンスタブ長W1は1.20mmであり、接続部121におけるそれぞれの幅Wcより大きく、かつ、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより大きい。オープンスタブ部312における第2ストリップ対102それぞれの伝送方向に沿った長さL1は0.30mmである。幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの幅W2は0.10mmであり、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。また、幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの伝送方向に沿った長さL2は0.40mmである。オープンスタブ部312及び幅狭部313における第2ストリップ対103の長さの和(L1+L2)は0.70mmであり、この値は3.4mm以下の値である。上記の寸法で算出すると、オープンスタブ部312における並行結合線路は差動特性インピーダンスZ1diffが14.2Ω(Z0より小さい)であり、周波数15GHzにおける電気長Eang1が9.3度である。また、幅狭部313における並行結合線路は差動特性インピーダンスZ2diffが76.5Ω(Z0より大きい)、周波数15GHzにおける電気長Eang2が12.4度である。オープンスタブ部312及び幅狭部313における並行結合線路の周波数15GHzにおける電気長の和(Eang1+Eang2)は21.7度であり、この値は109度以下の値である。
図13は第2実施形態に係る接続パターン領域60における差動反射特性を示す図である。この特性には接地層非重畳部122の特性が含まれる。図13に示すように、第1ストリップ対102の左端面から見込んだ差動反射特性(SDD11)及び第2ストリップ対103の右端面から見込んだ差動反射特性(SDD22)が周波数15GHzにおいて−37dB以下に低減している。また、DC〜15GHzの範囲においては差動反射特性SDD11及び差動反射特性SDD22は−30dB以下に抑圧されている。このように、図12に示すような整合部123の構造を用いることでプリント基板10とフレキシブル基板20との接続部における信号の不要な反射を改善することができ、良好な差動反射特性が得られる。このように、第2実施形態によれば、良好な差動反射特性を得られるとともに、伝送部124における第2ストリップ対103を含む差動伝送線路を並行結合線路とすることができ、フレキシブル基板20の小型化を可能とする。なお、第2実施形態におけるオープンスタブ部312は、第1実施形態における幅広部212として作用してもよい。その場合は、図12に示すような整合部123の構造とすることで、第1実施形態に比べて第2ストリップ対103それぞれの間隔を狭めることができ、簡単な構造にて整合回路を形成することが可能となる。
[第3実施形態]
第3実施形態に係る光モジュール1は、第2実施形態における第2ストリップ対103の構造が異なるものであるが、それ以外の構成は第2実施形態と同じである。図14は、第3実施形態における接続パターン領域60近傍を上方から見た概略図である。図14に示したもののうち、図11と共通するものについては同符号を付し、その重複する説明は省略するものとする。
まず、第2実施形態と異なる構成について説明する。第3実施形態における整合部123は、オープンスタブ部312及び幅狭部313を伝送方向に沿って順に含んで構成されている。整合部123において、オープンスタブ部312及び幅狭部313と、その下面に配置される第2誘電層210を介して接続される第2接地導体層215とにより、接地層非重畳部122に生じるインダクタンス成分によるインピーダンス不整合を補償するための整合回路が形成される。オープンスタブ部312それぞれは、接地層非重畳部122から幅狭部313までの間を伝送信号が伝送する部分と、その伝送信号が伝送する部分から接続部121における第2ストリップ対103の外縁より外側に向けて延伸する矩形状オープンスタブとを含んで形成される。矩形状オープンスタブは第2ストリップ対103の伝送方向に対して所定の角度(例えば、45度とする)で、かつ、接続部121における第2ストリップ対103の外縁より外側に向けて延伸する。そして、矩形状オープンスタブは、オープンスタブ長Ws及び周波数に応じてキャパシティブまたはインダクティブに作用する。幅狭部313は矩形状であり、幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの幅W2は、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。そして、伝送部124は、第2ストリップ対103それぞれの幅Wtを一定に保持して、整合部123から光送信モジュール30まで延伸する。そして、整合部123及び伝送部124は、第2ストリップ対103を上から見て、第2ストリップ対103の直下に第2接地導体層215が存在する、つまり、第2接地導体層215と平面的に重なる領域である。
以上、第3実施形態における接続パターン領域60の構成を説明した。次に、整合部123の具体的な構造と動作について説明する。
まず、上述した構成において、第2実施形態と同様に、例えば、第2ストリップ対103及び第2接地導体層215の厚さを28μm、第2誘電層210の厚さを50μm、接地層非重畳部122の長さGを第2ストリップ対103に沿った水平距離にして0.25mmとして電磁界解析を実施したところ、接地層非重畳部122にて0.18nHのインダクタンス成分が生じることを確認した。このインダクタンス成分を補償するための整合回路となるよう整合部123の各寸法を設定する。
図15は、第3実施形態に係る整合部123の詳細を示す図である。図15における、接地層非重畳部122のインダクタンス成分を補償するための整合部123の各寸法の一例を以下に示す。接続部121における第2ストリップ対103それぞれの幅Wcは0.35mm、伝送部124における第2ストリップ対103それぞれの幅Wsは0.255mmとする。この場合の伝送部124における差動伝送線路の特性インピーダンスZ0は、計算によれば26.1Ωである。伝送部124における第2ストリップ対103の中心間距離S0は0.54mmである。ここで、中心間距離とは、第2ストリップ対103を構成する2本の伝送導体の中心間距離である。オープンスタブ部312におけるそれぞれのオープンスタブ長Wsは1.0mmであり、オープンスタブ部312における第2ストリップ対103それぞれの伝送方向に沿った長さL1は0.30mmである。幅狭部313における第2ストリップ対それぞれの幅W2は0.10mmであり、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。また、幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの伝送方向に沿った長さL2は0.30mmである。オープンスタブ部312及び幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの伝送方向に沿った長さの和(L1+L2)は0.60mmであり、この値は3.4mm以下の値である。上記の寸法で算出すると、オープンスタブ部312におけるオープンスタブ線路の特性インピーダンスZsが23.3Ωである。また、幅狭部313における差動伝送線路の特性インピーダンスZ2は44.8Ω(Z0より大きい)である。
図16は第3実施形態に係る接続パターン領域60における差動反射特性を示す図である。この特性には接地層非重畳部122の特性が含まれる。図16に示すように、第1ストリップ対102の左端面から見込んだ差動反射特性(SDD11)及び第2ストリップ対103の右端面から見込んだ差動反射特性(SDD22)が周波数15GHzにおいて−32dB以下に低減している。また、DC〜15GHzの範囲においては差動反射特性SDD11及び差動反射特性SDD22は−26dB以下に抑圧されている。このように、図15に示すような整合部123の構造を用いることでプリント基板10とフレキシブル基板20との接続部における信号の不要な反射を改善することができ、良好な差動反射特性が得られる。また、第3実施形態によれば、フレキシブル基板20を屈曲した時に、オープンスタブ部312により応力を分散することができ、幅が一番細い幅狭部313に応力が集中することを防ぎ、第2ストリップ対103の破断の危険性を低減するというさらなる効果がある。
[第4実施形態]
第4実施形態に係る光モジュール1は、第3実施形態における第2ストリップ対103及びオープンスタブ部312と構造が異なるものであるが、それ以外の構成は第3実施形態と同じである。図17は、第4実施形態における接続パターン領域60近傍を上方から見た概略図である。図17に示したもののうち、図14と共通するものについては同符号を付し、その重複する説明は省略するものとする。
まず、第3実施形態と異なる構成について説明する。第4実施形態における整合部123は、オープンスタブ部312及び幅狭部313を伝送方向に沿って順に含んで構成されている。整合部123において、オープンスタブ部312及び幅狭部313と、その下面に配置される第2誘電層210を介して接続される第2接地導体層215とにより、接地層非重畳部122に生じるインダクタンス成分によるインピーダンス不整合を補償するための整合回路が形成される。オープンスタブ部312それぞれは、接地層非重畳部122から幅狭部313までの間を伝送信号が伝送する部分と、その伝送信号が伝送する部分から接続部121における第2ストリップ対103の外縁より外側に向けて延伸する放射形状のオープンスタブ(以下、放射状オープンスタブとする)とを含んで形成される。放射状オープンスタブは、所定の半径Wrと所定の角度(例えば、45度とする)を有して放射状に広がる。そして、放射状オープンスタブは、放射状オープンスタブの半径Wr及び周波数に応じてキャパシティブまたはインダクティブに作用する。幅狭部313は矩形状であり、幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの幅W2は、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。そして、伝送部124は、第2ストリップ対103それぞれの幅Wtを一定に保持して、整合部123から光送信モジュール30まで延伸する。そして、整合部123及び伝送部124は、第2ストリップ対103を上から見て、第2ストリップ対103の直下に第2接地導体層215が存在する、つまり、第2接地導体層215と平面的に重なる領域である。
以上、第4実施形態における接続パターン領域60の構成を説明した。次に、整合部123の具体的な構造と動作について説明する。
まず、上述した構成において、第3実施形態と同様に、例えば、第2ストリップ対103及び第2接地導体層215の厚さを28μm、第2誘電層210の厚さを50μm、接地層非重畳部122の長さGを第2ストリップ対103に沿った水平距離にして0.25mmとして電磁界解析を実施したところ、接地層非重畳部122にて0.18nHのインダクタンス成分が生じることを確認した。このインダクタンス成分を補償するための整合回路となるよう整合部123の各寸法を設定する。
図18は、第4実施形態に係る整合部123の詳細を示す図である。図18における、第4実施形態における接地層非重畳部122のインダクタンス成分を補償するための整合部123の各寸法の一例を以下に示す。接続部121における第2ストリップ対103それぞれの幅Wcは0.35mm、伝送部124における第2ストリップ対103それぞれの幅Wsは0.255mmとする。この場合の伝送部124における差動伝送線路の特性インピーダンスZ0は、計算によれば26.1Ωである。伝送部124における第2ストリップ対103の中心間距離S0は0.54mmである。ここで、中心間距離とは、第2ストリップ対103を構成する2本の伝送導体の中心間距離である。オープンスタブ部312における放射状オープンスタブそれぞれの半径Wrは0.75mmであり、オープンスタブ部312における第2ストリップ対103それぞれの伝送方向に沿った長さ(接地層非重畳部122と幅狭部313との間隔)L1は0.30mmである。幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの幅W2は0.10mmであり、伝送部124におけるそれぞれの幅Wtより小さい。また、オープンスタブ部312及び幅狭部313における第2ストリップ対103それぞれの伝送方向に沿った長さの和Lmは0.40mmであり、この値は3.4mm以下の値である。上記の寸法で算出すると、幅狭部313における差動伝送線路の特性インピーダンスZ2は44.8Ω(Z0より大きい)である。
図19は第4実施形態に係る接続パターン領域60における差動反射特性を示す図である。この特性には接地層非重畳部122の特性が含まれる。図19に示すように、第1ストリップ対102の左端面から見込んだ差動反射特性(SDD11)及び第2ストリップ対103の右端面から見込んだ差動反射特性(SDD22)が周波数15GHzにおいて−30dB以下に低減している。また、DC〜15GHzの範囲においては差動反射特性SDD11及び差動反射特性SDD22は−25dB以下に抑圧されている。このように、図18に示すような整合部123の構造を用いることでプリント基板10とフレキシブル基板20との接続部における信号の不要な反射を改善することができ、良好な差動反射特性が得られる。また、第4実施形態によれば、フレキシブル基板20を屈曲した時に、オープンスタブ部312により応力を分散することができ、幅が一番細い幅狭部313に応力が集中することを防ぎ、第2ストリップ対103の破断の危険性を低減する効果がある。さらに、第4実施形態によれば、整合部123における伝送方向の長さLmを小さくすることができ、整合部123の小型化を実現できる。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。例えば、光モジュール1を光信号の送受信機能を一体化したものとしたが、光送信モジュール30のみを含む光モジュールに適用してもよい。
1 光モジュール、10 プリント基板、20,40 フレキシブル基板、30 光送信モジュール、50 光受信モジュール、60 接続パターン領域、91 光送信用素子、92 駆動IC、101,104 ストリップ対、102 第1ストリップ対、103 第2ストリップ対、115 バイアス電圧源、116,117 DCカット容量、118,119 チョークコイル、121 接続部、122 接地層非重畳部、123 整合部、124伝送部、200 第1誘電層、201 第1接地導体層、210 第2誘電層、211 接続端子、212 幅広部、213,313 幅狭部、215 第2接地導体層、216 バイアホール、217 ハンダ、312 オープンスタブ部、Ls 直列インダクタンス、MSL0,MSL1,MSL2,MSL3 差動伝送線路、Rs ドライバ出力抵抗、SDD11,SDD22 差動反射特性。

Claims (6)

  1. プリント基板と、フレキシブル基板と、光送信モジュールと、を備える光モジュールであって、
    前記プリント基板は、
    第1誘電層と、
    前記第1誘電層の一方側に配置される駆動ICと、
    前記第1誘電層の前記一方側に配置されるとともに、前記駆動ICが出力する差動伝送信号を伝送する、第1ストリップ対と、
    前記第1誘電層の他方側に配置される第1接地導体層と、
    を備え、
    記フレキシブル基板は、
    第2誘電層と、
    前記第2誘電層の一方側に配置される、第2ストリップ対と、
    前記第2誘電層の他方側に配置される、第2接地導体層と、
    を備え、
    前記光送信モジュールは、前記第2ストリップ対が伝送する前記差動伝送信号を光信号に変換して出力し、
    前記第2ストリップ対は、
    前記第1ストリップ対と電気的に接続するとともに、前記第1接地導体層と平面的に重なる、接続部と、
    前記第1接地導体層及び前記第2接地導体層のいずれとも平面的に重ならない、接地層非重畳部と、
    前記第2接地導体層と平面的に重なるとともに、前記接地層非重畳部で発生するインピーダンス不整合を補償するよう、前記第2接地導体層とでインピーダンス整合回路を形成する、整合部と、
    前記第2接地導体層と平面的に重なるとともに、前記整合部よりさらに延伸する、伝送部と、
    伝送方向に沿って順にみ、
    前記伝送部において、前記第2ストリップ対それぞれは、第1幅を有し、
    前記接続部において、前記第2ストリップ対それぞれは、第2幅を有し、
    前記整合部は、
    前記第2ストリップ対それぞれの幅が前記第2幅より広い幅広部と、前記第2ストリップ対それぞれの幅が前記第1幅より狭い幅狭部と、を伝送方向に沿って順に含む、
    ことを特徴とする、光モジュール。
  2. 前記幅広部及び前記幅狭部はそれぞれ、矩形状を有する、
    ことを特徴とする請求項に記載の光モジュール。
  3. プリント基板と、フレキシブル基板と、光送信モジュールと、を備える光モジュールであって、
    前記プリント基板は、
    第1誘電層と、
    前記第1誘電層の一方側に配置される駆動ICと、
    前記第1誘電層の前記一方側に配置されるとともに、前記駆動ICが出力する差動伝送信号を伝送する、第1ストリップ対と、
    前記第1誘電層の他方側に配置される第1接地導体層と、
    を備え、
    前記フレキシブル基板は、
    第2誘電層と、
    前記第2誘電層の一方側に配置される、第2ストリップ対と、
    前記第2誘電層の他方側に配置される、第2接地導体層と、
    を備え、
    前記光送信モジュールは、前記第2ストリップ対が伝送する前記差動伝送信号を光信号に変換して出力し、
    前記第2ストリップ対は、
    前記第1ストリップ対と電気的に接続するとともに、前記第1接地導体層と平面的に重なる、接続部と、
    前記第1接地導体層及び前記第2接地導体層のいずれとも平面的に重ならない、接地層非重畳部と、
    前記第2接地導体層と平面的に重なるとともに、前記接地層非重畳部で発生するインピーダンス不整合を補償するよう、前記第2接地導体層とでインピーダンス整合回路を形成する、整合部と、
    前記第2接地導体層と平面的に重なるとともに、前記整合部よりさらに延伸する、伝送部と、
    を伝送方向に沿って順に含み、
    前記伝送部において、前記第2ストリップ対それぞれは、第1幅を有し、
    前記整合部は、
    前記第2ストリップ対それぞれの幅が内縁から外側へ前記第1幅よりもさらに広がり、オープンスタブを形成するオープンスタブ部と、前記第2ストリップ対それぞれの幅が前記第1幅より狭い幅狭部と、を伝送方向に沿って順に含む、
    ことを特徴とする光モジュール。
  4. 前記整合部は、前記接地層非重畳部で発生する、インダクティブなリアクタンス成分を補償する、
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の光モジュール。
  5. 前記第2ストリップ対は整合部において、伝送方向に沿って所定の長さを有している、
    ことを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の光モジュール。
  6. 前記第2ストリップ対の特性インピーダンスが40Ω以上60Ω以下である、
    ことを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の光モジュール。
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