JP6120940B2 - Ct検出方法及びct装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 84
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 13
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims 4
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
- G06T11/005—Specific pre-processing for tomographic reconstruction, e.g. calibration, source positioning, rebinning, scatter correction, retrospective gating
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3306—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object rotates
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2211/00—Image generation
- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/421—Filtered back projection [FBP]
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Description
この方法によって取得される画像の空間解像度は、上記適用の要求を満たしていない。
小孔結像方法によって前記CTシステムの大焦点のサイズを測定することと、
前記大焦点を複数の等価の仮想サブ焦点に分割することと、
焦点強度の分布曲線に基づいて、前記複数の等価の仮想サブ焦点に対応する強度を確定することとを含む。
本発明の実施形態において、前記投影サンプリングデータを補正するステップは、
前記複数の仮想サブ焦点の投影データは、下記式によって取得され、
(2).被検体をX線CT結像システムに設置して走査し、t位置の現在角度位置における被検体によって減衰された放射線強度を測定し
(3).式(1)によって異なる角度におけるX線減衰係数
X線発生装置は、X線を発生し一定のサイズを有する焦点ターゲットと、X線出口とを含む。
主制御及びデータ処理コンピュータは、CTシステムの運行過程の制御を行い、機械回動、電気制御及び安全インターロック制御を含む。
X線源の焦点サイズa、及び、X線源からX線CT結像システムの回転テーブルの回転中心までの距離Rを測定して取得するステップと、
a及びRに基づいて、下記式によって予め定められた角度サンプリングのカウンタNを確定するステップと、を実行する。
kがNより大きければ、ステップ(3)を実行する。
kがNより小さければ、被検体の角度を次の走査角度に回動し、第(2)ステップを引続き実行する。
X線源を若干の仮想サブ焦点に分け、各仮想サブ焦点位置
ステップ(3)を実行した後に、下記式によって前記仮想サブ焦点のフィルタ逆投影アルゴリズムにおける画像の再構成を行うための復元データ
フィルタ逆投影アルゴリズムの再構成の具体的な実施ステップは、以下の通りである。
まず、投影データを重み付ける。
フィルタ処理されたデータに対して重み付け逆投影を行う(角度方向に沿う)。
図1のCT結像システムを採用し、最も優良な空間解像度を取得するために、以下の画像再構成の方法を採用する。
Claims (18)
- 1回転の予め定められた角度サンプリング数値に基づいて、被検体に対してX線全周走査を行い、異なる投影角度における投影サンプリングデータを取得し、前記予め定められた角度サンプリング数値は1000より大きいステップ(1)と、
前記投影サンプリングデータを処理し、CTシステムの放射源の大焦点の投影データと等価する前記大焦点から分割された複数の仮想サブ焦点の投影データの累積を取得するステップ(2)と、
前記複数の仮想サブ焦点の投影データの累積に基づいて、画像を再構成するステップ(3)と、を含むことを特徴とするCT検出方法。 - 前記予め定められた角度サンプリング数値は、8000より大きいことを特徴とする請求項1に記載のCT検出方法。
- 前記予め定められた角度サンプリング数値Nは、下記式によって取得され、
- 前記ステップ(2)において、前記異なる投影角度における投影サンプリングデータと前記複数の仮想サブ焦点に対応する強度とに基づいて、前記複数の仮想サブ焦点の投影データを取得することを特徴とする請求項1に記載のCT検出方法。
- 前記複数のサブ焦点の投影データは、下記式によって取得され、
- ステップ(1)の前に、焦点サイズ測定方法によって、前記CTシステムの大焦点を複数の仮想サブ焦点に分割し、前記複数の仮想サブ焦点に対応する強度を取得することを特徴とする請求項1に記載のCT検出方法。
- 複数の仮想サブ焦点に対応する強度を取得するステップは、
小孔結像方法によって前記CTシステムの大焦点のサイズを測定することと、
前記大焦点を複数の等価の仮想サブ焦点に分割することと、
焦点強度の分布曲線に基づいて、前記複数の等価の仮想サブ焦点に対応する強度を確定することとを含むことを特徴とする請求項6に記載のCT検出方法。 - 前記ステップ(2)の前に、前記投影サンプリングデータを更に補正することを特徴とする請求項1又は5に記載のCT検出方法。
- 前記投影サンプリングデータを補正するステップは、
空気によって減衰された放射線の強度
下記式によって異なる角度におけるX線減衰係数
- 放射源と、
前記放射源に対応する探知器と、
1回転の、1000より大きい予め定められた角度サンプリング数値を確定する予め定められた角度サンプリング数値確定手段と、
投影サンプリングデータを処理し、CTシステムの放射源の大焦点の投影データと等価する前記大焦点から分割された複数の仮想サブ焦点の投影データの累積を取得する投影サンプリングデータ処理手段と、
前記複数の仮想サブ焦点の投影データの累積に基づいて、画像を再構成する再構成手段と、を含み、
前記放射源及び探知器は、被検体の両側に設けられ、前記予め定められた角度サンプリング数値に基づいて、被検体に対してX線全周走査を行い、異なる投影角度における投影サンプリングデータを取得することを特徴とするCT装置。 - 前記予め定められた角度サンプリング数値は8000より大きく、
前記予め定められた角度サンプリング数値Nは、下記式によって取得され、
- 前記投影サンプリングデータ処理手段は、前記異なる投影角度における投影サンプリングデータと前記複数の仮想サブ焦点に対応する強度とに基づいて、前記複数の仮想サブ焦点の投影データを取得し、
前記複数の仮想サブ焦点の投影データは、下記式によって取得され、
- 小孔結像方法によって前記CTシステムの大焦点のサイズを測定する焦点サイズ測定手段と、
前記大焦点を複数の等価の仮想サブ焦点に分割する焦点分割手段と、
焦点強度の分布曲線に基づいて、前記複数の等価の仮想サブ焦点に対応する強度を確定する強度確定手段と、を更に含むことを特徴とする請求項10に記載のCT装置。 - 投影サンプリングデータを補正するデータ補正手段を更に含み、
測定された、空気によって減衰された放射線強度
- 前記ステップ(1)と前記ステップ(2)との間において、
X線CT結像システムの放射線発生器及び探知器をオンにし、t位置における空気によって減衰された放射線強度
被検体をX線CT結像システムに設置して走査し、t位置の現在角度位置における被検体によって減衰された放射線強度を測定し
式(1)によって異なる角度におけるX線減衰係数
- ステップ(11)を実行する前に、
X線源の焦点サイズa、及び、X線源からX線CT結像システムの回転テーブルの回転中心までの距離Rを測定して取得するステップと、
a及びRに基づいて、下記式によって予め定められた角度サンプリングのカウンタNを確定するステップと、
- ステップ(12)を実行するとき、k値が予め定められた角度サンプリング数Nを超えるか否かを判断し、
kがNより大きければ、ステップ(13)を実行すし、
kがNより小さければ、被検体の角度を次の走査角度に回動し、(12)ステップを引続き実行することを特徴とする請求項16に記載のCT検出方法。 - X線源を若干の仮想サブ焦点に分け、各仮想サブ焦点位置
ステップ(13)を実行した後に、下記式によって前記仮想サブ焦点のフィルタ逆投影アルゴリズムに画像の再構成を行うための復元データ
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410851690.1 | 2014-12-31 | ||
CN201410851690.1A CN105806858B (zh) | 2014-12-31 | 2014-12-31 | Ct检测方法和ct设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016126010A JP2016126010A (ja) | 2016-07-11 |
JP6120940B2 true JP6120940B2 (ja) | 2017-04-26 |
Family
ID=56116856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015249719A Active JP6120940B2 (ja) | 2014-12-31 | 2015-12-22 | Ct検出方法及びct装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10175182B2 (ja) |
JP (1) | JP6120940B2 (ja) |
CN (1) | CN105806858B (ja) |
DE (1) | DE102015226693A1 (ja) |
RU (1) | RU2619839C1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10031091B2 (en) * | 2016-07-27 | 2018-07-24 | Avonix Imaging, LLC | Shifting turn table for x-ray imaging manipulator |
EP3586752A4 (en) * | 2017-02-27 | 2020-12-16 | Nanovision Technology (Beijing) Co., Ltd. | TO REQUIREMENTS FOR A LARGE FIELD OF VIEW ADAPTABLE STATIC REAL-TIME CT IMAGING SYSTEM AND METHOD |
CN108195854A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-22 | 中国计量科学研究院 | 一种x射线空气衰减系数检测方法 |
CN108226195B (zh) * | 2017-12-28 | 2023-10-13 | 清华大学 | Ct检查系统和ct成像方法 |
US11009449B2 (en) * | 2018-04-20 | 2021-05-18 | Fei Company | Scanning trajectories for region-of-interest tomograph |
JP7143567B2 (ja) * | 2018-09-14 | 2022-09-29 | 株式会社島津テクノリサーチ | 材料試験機および放射線ct装置 |
DE102018132025A1 (de) * | 2018-12-13 | 2020-06-18 | Intom GmbH | Industrielles Röntgen-Werkstückvermessungssystem und Verfahren zum Betreiben eines solchen |
CN109685867B (zh) * | 2018-12-29 | 2023-05-30 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 一种ct系统、图像重建方法、装置、设备及介质 |
CN111265231B (zh) * | 2019-04-15 | 2021-08-31 | 清华大学 | 分布式光源ct图像重建方法与系统 |
CN110264541B (zh) * | 2019-07-12 | 2020-10-02 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种z向飞焦点扫描方式和图像重建方法 |
CN111157558B (zh) * | 2020-03-03 | 2022-08-09 | 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 | 一种在役盆式绝缘子的x射线数字成像检测方法 |
CN114047209B (zh) * | 2021-12-24 | 2024-05-14 | 北京航星机器制造有限公司 | 一种分布式静态ct系统及成像方法 |
CN115060747A (zh) * | 2022-04-13 | 2022-09-16 | 中国兵器科学研究院宁波分院 | 一种工业ct系统用x射线源的焦点尺寸定量方法 |
CN115105108B (zh) * | 2022-06-30 | 2023-06-09 | 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司 | 散焦校正方法、装置、散焦校正模体及电子装置 |
CN115511831B (zh) * | 2022-09-27 | 2023-04-04 | 佳木斯大学 | 一种组织胚胎病理切片的数据分析处理系统及方法 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US6477221B1 (en) * | 2001-02-16 | 2002-11-05 | University Of Rochester | System and method for fast parallel cone-beam reconstruction using one or more microprocessors |
JP3963086B2 (ja) * | 2001-07-13 | 2007-08-22 | 株式会社島津製作所 | 断層再構成ソフトウエアとその記録媒体と断層撮影装置 |
DE10222702A1 (de) * | 2002-05-22 | 2003-12-24 | Siemens Ag | Verfahren zur Korrektur der Extrafokalstrahlung einer Röntgenröhre in der Computertomographie |
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US20110188626A1 (en) * | 2005-05-24 | 2011-08-04 | National University Corporation Hokkaido University | Damage Evaluation Apparatus, and Damage Evaluation Method |
CN101071111B (zh) * | 2006-05-08 | 2011-05-11 | 清华大学 | 一种多视角航空集装箱安全检查系统及方法 |
CN101382508A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种检查航空货运集装箱中违禁物品的装置和方法 |
CN101396270B (zh) * | 2007-09-29 | 2010-09-01 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 一种降低检查床对ct图像影响的方法 |
GB0917950D0 (en) * | 2009-10-13 | 2009-11-25 | Shawcor Ltd | X-ray inspection method and apparatus for pipeline girth weld inspection |
KR20110135136A (ko) * | 2010-06-10 | 2011-12-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 극미세 패턴 형성을 위한 방법 |
US8270561B2 (en) | 2010-10-13 | 2012-09-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Motion weighting in computed tomography (CT) with cone angle |
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JP2013081527A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Toshiba Corp | X線診断装置 |
JP6009178B2 (ja) * | 2012-03-01 | 2016-10-19 | 株式会社神戸製鋼所 | アルミニウム材内の介在物可視化方法 |
US9414790B2 (en) * | 2012-10-15 | 2016-08-16 | Elekta Ab (Publ) | Dual-energy cone-beam CT scanning |
CN103913779B (zh) * | 2012-12-31 | 2017-07-07 | 清华大学 | 多能ct成像系统以及成像方法 |
CN104068885B (zh) * | 2013-03-28 | 2016-07-06 | 上海西门子医疗器械有限公司 | Ct机的扫描触发控制方法、装置及ct机 |
CN103366389A (zh) * | 2013-04-27 | 2013-10-23 | 中国人民解放军北京军区总医院 | Ct图像重建方法 |
CN104142353B (zh) * | 2014-06-06 | 2017-01-11 | 清华大学 | 可见光成像辅助定位局部ct扫描方法及系统 |
-
2014
- 2014-12-31 CN CN201410851690.1A patent/CN105806858B/zh active Active
-
2015
- 2015-12-22 JP JP2015249719A patent/JP6120940B2/ja active Active
- 2015-12-22 US US14/979,259 patent/US10175182B2/en active Active
- 2015-12-23 DE DE102015226693.1A patent/DE102015226693A1/de not_active Ceased
- 2015-12-24 RU RU2015155536A patent/RU2619839C1/ru active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102015226693A1 (de) | 2016-06-30 |
CN105806858A (zh) | 2016-07-27 |
US10175182B2 (en) | 2019-01-08 |
US20160189403A1 (en) | 2016-06-30 |
JP2016126010A (ja) | 2016-07-11 |
RU2619839C1 (ru) | 2017-05-18 |
CN105806858B (zh) | 2019-05-17 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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R250 | Receipt of annual fees |
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