JP2013176468A - 情報処理装置、情報処理方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 投影角度を変えながら複数のフレームで同一の被写体を撮影する際に処理時間を増やすことなくより高い精度でノイズ低減処理を実現する為の技術を提供すること。
【解決手段】 被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して撮影された該被検体の複数枚の投影画像を取得する。第１の投影画像中の着目画素を中心とする第１の探索領域内に該着目画素を中心とする第１の判定領域を設定する。第２の投影画像から、着目画素と同対象が投影されている画素を特定し、該画素を中心とする第２の探索領域を設定する。第１，２の探索領域内の各画素について、該画素を中心とする領域と第１の判定領域との類似度を求め、該類似度が大きいほど小さい値をとる重み値を用いて、該画素の画素値に対する重み付けを行う。第１，２の探索領域内の各画素について重み付けを行った画素値の合計値を用いて着目画素の画素値を更新する。
【選択図】図１

Description

本発明は、放射線撮影におけるノイズ低減技術に関するものである。

放射線を用いた断層画像による診断装置は１９７０年代に開発されて以降、診断技術の中心として発展、活躍をしている。また、近年では制限された角度を用いて取得した投影画像を用いて断層画像を再構成するトモシンセシスも盛んに行われている。

このような診断装置の画質を向上させるために、種々の画像処理を行うのが一般的である。特に、画像に含まれるランダムなノイズを低減する技術は、低被曝で撮像や再構成を行った被写体をより鮮明に再現するために欠かせないものとなっている。

近年、効果の高いノイズ低減技術として注目されているものに、ＮＬ−ｍｅａｎｓフィルタ処理がある（非特許文献１）。この技術は、ノイズ低減の対象となる画素の周囲に検索領域を設定し、対象画素と検索領域内の画素との類似度を求める。そして、類似度に基づいて非線形フィルタを作成し、平滑化処理を行うことでノイズ低減処理を行うものである。この技術では、検索領域中に類似度の高い領域が多いほどノイズ低減効果が高くなるという特徴がある。

また、特許文献１では、その考え方をさらに拡張したものとして、画素間の類似度について、時間方向に異なる複数枚の画像を用いて判定し、ノイズ低減処理を行う技術が開示されている。

特開２００８−１６１６９３号公報

Ｂｕａｄｅｓ， ｅｔ ａｌ． "Ａ ｎｏｎ ｌｏｃａｌ ａｌｇｏｒｉｔｈｍ ｆｏｒ ｉｍａｇｅ ｄｅｎｏｉｓｉｎｇ"ＩＥＥＥ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｖｉｓｉｏｎ ａｎｄ Ｐａｔｔｅｒｎ Ｒｅｃｏｇｎｉｔｉｏｎ ２００５， Ｖｏｌ ２， ｐｐ： ６０−６５， ２００５．

ここで、断層撮影は、同一の被写体を様々な角度から撮影するものである。そのため、ある画像に含まれている特定の被写体構造は、別の角度で撮影した画像内にも含まれている。しかしながら、ある角度で被写体を撮影したとき、ある画素に投影された被写体構造は、別の角度での撮影時には画像内の別の位置に投影されることになる。特許文献１に開示されている技術は、時間方向に画像内の同じ位置を探索するため、断層撮影に適用した場合、類似度の低い領域を探索することになり、ノイズ低減効果が最適でなくなる可能性がある。また、検索する領域を広げて類似度の高い領域を含めようとすると、処理時間が大きく増加するという課題があった。

本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、投影角度を変えながら複数のフレームで同一の被写体を撮影する際に、処理時間を増やすことなく、より高い精度でノイズ低減処理を実現する為の技術を提供することを目的とする。

本発明の目的を達成するために、例えば、本発明の情報処理装置は、被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して撮影された該被検体の複数枚の投影画像を取得する手段と、第１の投影画像中の着目画素を中心とする領域を第１の探索領域とし、該第１の探索領域内に該着目画素を中心とする領域を第１の判定領域として設定する手段と、前記第１の投影画像とは異なる第２の投影画像から、前記着目画素と同対象が投影されている画素を特定し、該画素を中心とする領域を第２の探索領域として設定する設定手段と、前記第１の探索領域及び前記第２の探索領域内の各画素について、該画素を中心とする領域と前記第１の判定領域とで画素値の類似度を求め、該類似度が大きいほど小さい値をとる重み値を用いて、該画素の画素値に対する重み付けを行う計算手段と、前記第１の探索領域及び前記第２の探索領域内の各画素について前記計算手段が重み付けを行った画素値の合計値を用いて、前記着目画素の画素値を更新する更新手段とを備えることを特徴とする。

本発明の構成によれば、投影角度を変えながら複数のフレームで同一の被写体を撮影する際に、処理時間を増やすことなく、より精度の良いノイズ低減処理を実現することができる。

放射線撮影システムの構成例を示すブロック図。 情報処理装置１０７が行う処理のフローチャート。 放射線撮影装置１０１と検出装置１０４との位置関係について説明する図。 ステップＳ２０３における処理の詳細を示すフローチャート。 図４のフローチャートにおける処理の具体例を示す図。 ステップＳ４０２で行う処理を説明する図。

以下、添付図面を参照し、本発明の好適な実施形態について説明する。なお、以下説明する実施形態は、本発明を具体的に実施した場合の一例を示すもので、特許請求の範囲に記載の構成の具体的な実施例の１つである。

［第１の実施形態］
先ず、本実施形態に係る情報処理装置を適用した放射線撮影システムの構成例について、図１のブロック図を用いて説明する。図１の放射線撮影システム１００は、被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して該被検体の複数枚の投影画像を撮影し、該撮影した複数枚の投影画像を用いて再構成処理を行うことで被検体の断層像を生成するトモシンセシス撮影機能を有する。本実施形態では、このようなシステムにおいて、該撮影したそれぞれの投影画像に対して後述するノイズ低減処理を施す。

なお、以下の説明における放射線には、一般的に用いられるＸ線だけに限らず、放射性崩壊によって放出される粒子（光子を含む）の作るビームであるα線、β線、γ線等の他に、同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えば粒子線や宇宙線等も含まれる。

図１に示した各部の動作については、情報処理装置１０７が行う処理のフローチャートを示す図２を用いて説明する。なお、図２の各ステップは、ＣＰＵ１１４がメモリ１１５に格納されているコンピュータプログラムやデータを用いて処理を実行する、若しくは対応する機能部を制御することで実現されるものである。

ステップＳ２０１では、ＣＰＵ１１４は、オペレータが操作パネル１１６を操作することで入力された撮影開始指示を検知すると、ＣＰＵバス１１３を介して、撮影開始指示を機構制御装置１０５に対して送出する。

ＣＰＵ１１４から撮影開始指示を受けた機構制御装置１０５は、放射線撮影装置１０１及び検出装置１０４を制御し、寝台１０３に載置されている被検体１０２に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して該被検体１０２の複数枚の投影画像を撮影する。

より詳しくは、機構制御装置１０５は、電圧や電流、照射時間などの放射線発生条件を制御し、放射線撮影装置１０１に、所定の条件（オペレータが操作パネル１１６を操作して入力した条件）で放射線を発生させる。放射線撮影装置１０１から照射された放射線は被検体１０２を透過して検出装置１０４で検出される。検出装置１０４は、被検体１０２を透過した放射線を検出し、検出した放射線の量に応じた電気信号を、データ収集装置１０６に対して送出する。データ収集装置１０６は、検出装置１０４から受けた電気信号に基づく画像を投影画像として生成し、生成した投影画像を、情報処理装置１０７に対して送出する。この一連の処理により１方向からの放射線撮影による投影画像を撮影することが出来る。

このような放射線撮影を、放射線撮影装置１０１と検出装置１０４との位置関係を変化させながら複数回行うことで、被検体１０２に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して該被検体１０２の複数枚の投影画像を撮影することができる。ここで、該複数枚の投影画像の撮影における放射線撮影装置１０１と検出装置１０４との位置関係について、図３を用いて説明する。

図３（Ａ）に示すように、放射線撮影装置１０１は、被検体１０２に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射するために、被検体１０２の体軸周りに（回転中心位置３０１周りに）回転移動しながら放射線を照射する。検出装置１０４は、紙面左右に移動可能に構成されており、放射線撮影装置１０１から照射され且つ被検体１０２を透過した放射線を検出するために、被検体１０２をはさんで放射線撮影装置１０１と対向する位置に移動する。換言すれば、検出装置１０４は、放射線撮影装置１０１の位置と回転中心位置３０１とを通る直線上に位置するように平行移動する。

図３（Ａ）では、放射線撮影装置１０１は、回転中心位置３０１周りに、−θ〜θ度（例えば−４０度〜４０度）の範囲で回転する。ここで、この回転の角度Ｚ（放射線投影角度）は、放射線撮影装置１０１と回転中心位置３０１とを通る直線と、検出装置１０４の移動範囲の中心位置３０２と回転中心位置３０１とを通る直線と、がなす角度である。

そして例えば、放射線照射角度Ｚを１度変化させるたびに１回の放射線照射を行って１枚の投影画像を撮影することで、各Ｚについて投影画像を撮影することが出来る。例えば、８０枚の投影画像を１５ＦＰＳ（Ｆｒａｍｅ Ｐｅｒ Ｓｅｃｏｎｄ）で撮影すると５秒程度で画像の収集ができる。放射線の撮影条件も任意の条件が設定可能であるが、胸部などの撮影では１００ｋＶ、１ｍＡｓ程度で行えばよい。また、検出装置１０４と放射線撮影装置１０１との間の距離は透視撮影装置や一般撮影装置の設定範囲１００ｃｍ〜１５０ｃｍ程度に設定される。

一方、検出装置１０４は、放射線投影角度Ｚが変化するたびに、被検体１０２をはさんで放射線撮影装置１０１と対向する位置に移動する。機構制御装置１０５は、放射線投影角度Ｚが変化するたびに、検出装置１０４の移動量を計算し、計算した移動量だけ検出装置１０４を移動させる。ここで、この移動量の計算について図３（Ｂ）を用いて説明する。

図３（Ｂ）に示す如く、放射線照射角度がＺに変化した場合に、検出装置１０４が中心位置３０２から移動する距離は、回転中心位置３０１と中心位置３０２との間の距離をＰとすると、ＰｔａｎＺで与えられる。即ち、中心位置３０２からＰｔａｎＺだけ移動した位置３０３に検出装置１０４を移動させることで、放射線撮影装置１０１から放射線照射角度Ｚで放射線を照射しても、検出装置１０４はこの放射線を検出することが出来る。ここで、放射線撮影装置１０１の位置と移動後の検出装置１０４の位置３０３とを通る直線は常に回転中心位置３０１を通る。

然るに、上記のステップＳ２０１では、複数枚の投影画像が撮影されるので、撮影された投影画像は順次、メモリ１１５に格納される。

図２に戻って、次に、ステップＳ２０２では、画像処理装置１０８内の前処理回路１０９は、メモリ１１５に格納されている投影画像を順次読み出し、該読み出した投影画像に対して、オフセット補正処理やゲイン補正処理、欠陥補正処理等の前処理を行う。そして前処理回路１０９は、前処理を行った投影画像をメモリ１１５に格納する。

ステップＳ２０３では、画像処理装置１０８内のノイズ低減処理回路１１０は、メモリ１１５に格納されている前処理済みの投影画像を順次読み出し、該読み出した投影画像に対して、ノイズを低減させるための処理を行う。ステップＳ２０３における処理の詳細については後述する。そしてノイズ低減処理回路１１０は、ノイズ低減処理を行った投影画像をメモリ１１５に格納する。

ステップＳ２０４では画像処理装置１０８内の再構成処理回路１１１は、ノイズ低減処理回路１１０によりノイズが低減されたそれぞれの投影画像をメモリ１１５から読み出し、該それぞれの投影画像を用いて三次元再構成処理を行って１枚の断層像を生成する。ここで行う三次元再構成処理は、公知のいかなる方法を用いてもよい。例えば、再構成フィルタを用いたＦＢＰ（Ｆｉｌｔｅｒｅｄ Ｂａｃｋ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）法や、逐次近似再構成法などが好適である。そして再構成処理回路１１１は、この生成した１枚の断層像をメモリ１１５に格納する。

ステップＳ２０５では、画像処理装置１０８内の階調変換回路１１２は、再構成処理回路１１１によって生成された断層像をメモリ１１５から読み出し、該読み出した断層像に対して適切な階調変換処理を行う。そしてＣＰＵ１１４は、オペレータが操作パネル１１６を操作して入力した指示に従って、この階調変換済み断層像を表示装置１１８に表示したり、記憶装置１１７に格納したりする。階調変換済み断層像の出力先やその取り扱いについては特定の形態に限るものではない。

次に、上記のステップＳ２０３における処理の詳細について、同処理のフローチャートを示す図４を用いて説明する。

ステップＳ４０１では、ノイズ低減処理回路１１０は、まだノイズ低減処理を施していない投影画像を第１の投影画像としてメモリ１１５から読み出し、該読み出した第１の投影画像中の画素位置（Ｘ、Ｙ）を中心とする領域を第１の探索領域として設定する。なお、メモリ１１５から読み出した投影画像に対して最初にステップＳ４０１の処理を行う場合はＸ＝Ｙ＝０である。

ステップＳ４０２では、ノイズ低減処理回路１１０は、第１の投影画像とは異なる投影角度で撮影された投影画像を第２の投影画像としてメモリ１１５から読み出す。そしてノイズ低減処理回路１１０は、第２の投影画像において、第１の投影画像における画素位置（Ｘ，Ｙ）における画素（着目画素）と同対象が投影されている画素を特定し、該画素を中心とする領域を第２の探索領域として設定する。ステップＳ４０２における処理の詳細については後述する。

ここで、ステップＳ４０１及びステップＳ４０２における処理について、図５（Ａ）を例にとり説明する。

ステップＳ４０１では、まだノイズ低減処理を施していない投影画像として投影画像５０１がメモリ１１５から読み出され、該投影画像５０１において着目画素５０３を中心とする第１の探索領域５０５が設定される。

ステップＳ４０２では、投影画像５０１とは異なる投影角度で撮影された投影画像５０２がメモリ１１５から読み出される。そして、投影画像５０２において、着目画素５０３と同対象が撮影されている画素が画素５０９として特定され、画素５０９を中心とする第２の探索領域５０６が設定される。ここで、第２の探索領域５０６のサイズは、例えば、投影画像５０１の撮影時における放射線照射角度と投影画像５０２の撮影時における放射線照射角度との差に応じて決定しても良い。好適な例として、２つの放射線照射角度の差が大きいほど、第２の探索領域５０６のサイズを第１の探索領域５０５のサイズよりも小さくする。

ステップＳ４０３ではノイズ低減処理回路１１０は、第１の探索領域内に、着目画素を中心とする領域を第１の判定領域として設定する。図５（Ａ）の例では、着目画素５０３及び該着目画素５０３に隣接する８画素から成る３画素×３画素の領域が第１の判定領域５０４として設定されている。第１の判定領域のサイズは、第２の探索領域のサイズよりも小さくする。

ステップＳ４０４では、ノイズ低減処理回路１１０は、第１の探索領域及び第２の探索領域内の各画素について、該画素を中心とする領域と第１の判定領域とで画素値の類似度を求める。

図５（Ａ）の例では、第１の探索領域及び第２の探索領域内の各画素位置のうち、画素位置（ｘ、ｙ）における画素５０７及び該画素５０７に隣接する８画素から成る３画素×３画素の領域が第２の判定領域５０８として設定されている。ここで、第２の判定領域５０８のサイズは、第１の判定領域５０４のサイズと同じとする。そして、第２の判定領域５０８と第１の判定領域５０４とで画素値の類似度Ｉｖ（ｘ，ｙ）を求める。

第２の判定領域５０８と第１の判定領域５０４とで画素値の類似度を求める計算処理の一例について、図５（Ｂ）を用いて説明する。図５（Ｂ）では、第２の判定領域５０８内の画素位置をｖ（ｉ，ｊ）（画素５０７の位置はｖ（０，０））、第１の判定領域５０４内の画素位置をｕ（ｉ，ｊ）（着目画素５０３の位置はｕ（０，０））、としている。このとき、第２の判定領域５０８と第１の判定領域５０４との間の画素値の類似度Ｉｖ（ｘ，ｙ）は、以下の式で求めることができる。

即ち、第２の判定領域５０８と第１の判定領域５０４とで位置的に対応する画素の組（ｉ，ｊが共に同じ画素（第１の画素、第２の画素）の組）ごとに、画素値の差の二乗を、画素５０７若しくは着目画素５０３からの距離に応じた重み値で重み付けする。そして組ごとに重み付けした結果を合計（加算）し、該合計の結果を類似度としている。

このような類似度Ｉｖ（ｘ，ｙ）を、第１の探索領域及び第２の探索領域内の各画素位置（第１の探索領域及び第２の判定領域内における全ての（ｘ、ｙ））について求める。なお、類似度の算出方法としては、この例で示した差の２乗和に限らず、差の絶対値和や、正規化相関など、既知のいかなる指標を用いてもよい。

ステップＳ４０５ではノイズ低減処理回路１１０は、第１の探索領域及び第２の探索領域内の各画素位置における画素の画素値に対し、該画素位置について求めた類似度が大きいほど小さい値をとる重み値を用いて重み付けを行う。そして、重み付けを行った各画素値の合計値を用いて着目画素の画素値を更新する。より具体的には、第１の探索領域及び第２の探索領域内の画素位置（ｘ、ｙ）における画素の画素値をｗ（ｘ、ｙ）とすると、画素位置（Ｘ，Ｙ）における着目画素の新たな画素値ｕ（Ｘ，Ｙ）は以下の式を計算することで求めることが出来る。

この式においてＧは、画素位置（ｘ、ｙ）と画素位置（Ｘ，Ｙ）との間の距離に対応する定数であり、例えば、該距離が大きいほど小さい値をとる。

ステップＳ４０６では、ノイズ低減処理回路１１０は、第１の投影画像中の全ての画素について新たな画素値を求めたか否かを判断する。この判断の結果、まだ新たな画素値を求めていない画素が残っている場合には、処理はステップＳ４０８に進む。一方、第１の投影画像中の全ての画素について新たな画素値を求めた場合には、処理はステップＳ４０７に進む。

ステップＳ４０８では、ノイズ低減処理回路１１０は、画素位置（Ｘ，Ｙ）を更新する。例えば、投影画像をラインごとに左端画素から右端画素の順に処理する場合、Ｘを１つインクリメントし、Ｘが投影画像の右端に達した場合には、Ｘ＝０とした上でＹを１つインクリメントする。そして処理はステップＳ４０１に進み、第１の投影画像において、更新後の画素位置（Ｘ，Ｙ）を中心とする領域を第１の探索領域として設定する。

ステップＳ４０７では、ノイズ低減処理回路１１０は、メモリ１１５に格納されている全ての投影画像について、ノイズ低減処理を行ったか否かを判断する。この判断の結果、全ての投影画像についてノイズ低減処理を行った場合には、図４のフローチャートを終了してステップＳ２０４に進む。一方、まだノイズ低減処理を行っていない投影画像がメモリ１１５に残っている場合には、処理はステップＳ４０９に進む。

ステップＳ４０９では、ノイズ低減処理回路１１０は、まだノイズ低減処理を行っていない投影画像を、次にメモリ１１５から読み出す対象画像として選択する。そして処理はステップＳ４０１に進み、ステップＳ４０９で選択された投影画像を第１の投影画像としてメモリ１１５から読み出し、この読み出した投影画像について以降のステップの処理を行う。

次に、第２の投影画像において、第１の投影画像における画素位置（Ｘ，Ｙ）における画素（着目画素）と同対象が投影されている画素を特定するためにステップＳ４０２で行う処理について、図６を用いて説明する。

図６では、放射線撮影装置１０１が放射線照射角度αで放射線を照射することで得られる投影画像が投影画像５０１、放射線撮影装置１０１が放射線照射角度βで放射線を照射することで得られる投影画像が投影画像５０２、であるとしている。

いま、被検体１０２の関心点として、回転中心位置３０１を通る断面６０３から、Ｚ方向にＬ移動した被検体１０２の関心断面６０７中の関心点６０４について注目することにし、投影画像５０１上で関心点６０４を投影する点を着目画素５０３とする。また、投影画像５０１の中心点６０５を原点としたときの着目画素５０３の座標を（Ｘα，Ｙα）とする。

また、着目画素５０３と同様に、投影画像５０２上で関心点６０４を投影する点を画素５０９とし、投影画像５０２の中心点６０６を原点としたときの画素５０９の座標を（Ｘβ，Ｙβ）とする。回転半径をｒとすると、座標（Ｘβ，Ｙβ）は以下の式で表すことができる。

Ｌは回転中心位置３０１を通る断面を原点とし、被写体厚以内の任意の値を取る。ここでは、ノイズ低減効果をより大きくしたい被写体構造のある面をＬとして選ぶのが好ましい。以上の処理により、放射線照射角度αで撮影した画像の任意の画素に投影された被写体構造が、放射線照射角度βで撮影した画像内のどの位置に投影されるかを算出することが可能となる。

以上の説明により、本実施形態によれば、ある画素のノイズ低減を行う際に、類似度の高い領域を複数の画像から効率的に選択することができる。そのため、類似度に基づいて生成する非線形フィルタによるノイズ低減処理をより最適化することが可能となり、従来手法に比べて高性能にノイズ除去された画像を得ることができる。

また、ここでは、好ましい実施形態としてトモシンセシス撮影装置を例にとって説明したが、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。例えば、ＣＴ装置など、同一の被写体を様々な角度から撮影する装置全般に適用することができる。

［第２の実施形態］
第１の実施形態では、ノイズ低減処理は、図１に示したシステム中の情報処理装置１０７に組み込まれた画像処理装置１０８内で行っていた。しかし、このようなノイズ低減処理は、例えば、該システムによって撮影された複数枚の投影画像さえ取得できるコンピュータであれば、該システム外の装置によって行われても良い。例えば、このようなシステムによって撮影された複数枚の投影画像をデータベースなどに登録しておけば、一般のＰＣ（パーソナルコンピュータ）等は、このデータベースにアクセスしてこれらの投影画像を取得することができる。これによりこのＰＣは、これら各投影画像に対して上記のノイズ低減処理を行うことが出来る。

また、画像処理装置１０８内の各部はハードウェアで構成しても良いが、コンピュータプログラムで構成しても良い。この場合、このコンピュータプログラムは記憶装置１１７に格納しておき、ＣＰＵ１１４が必要に応じてメモリ１１５に読み出して実行することで、ＣＰＵ１１４は、画像処理装置１０８内の各部の機能を実現することが出来る。もちろん、このコンピュータプログラムは、システム外の装置によって実行されても良い。

（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims (10)

1. 被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して撮影された該被検体の複数枚の投影画像を取得する手段と、
   前記投影画像中の第１の投影画像における第１の画素と、前記第１の投影画像とは異なる第２の投影画像から前記角度の情報に基づいて得られた前記第１の画素に対応する第２の画素と、を得る手段と、
   前記第１の画素と前記第２の画素とを前記角度の情報に基づき得られる重みで加算する手段と
   を備えることを特徴とする情報処理装置。
2. 被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して撮影された該被検体の複数枚の投影画像を取得する手段と、
   第１の投影画像中の着目画素を中心とする領域を第１の探索領域とし、該第１の探索領域内に該着目画素を中心とする領域を第１の判定領域として設定する手段と、
   前記第１の投影画像とは異なる第２の投影画像から、前記着目画素と同対象が投影されている画素を特定し、該画素を中心とする領域を第２の探索領域として設定する設定手段と、
   前記第１の探索領域及び前記第２の探索領域内の各画素について、該画素を中心とする領域と前記第１の判定領域とで画素値の類似度を求め、該類似度が大きいほど小さい値をとる重み値を用いて、該画素の画素値に対する重み付けを行う計算手段と、
   前記第１の探索領域及び前記第２の探索領域内の各画素について前記計算手段が重み付けを行った画素値の合計値を用いて、前記着目画素の画素値を更新する更新手段と
   を備えることを特徴とする情報処理装置。
3. 前記設定手段は、前記第１の投影画像を撮影したときの放射線の照射角度と、前記第２の投影画像を撮影したときの放射線の照射角度と、を用いて前記着目画素の画素位置を変換し、該変換した画素位置における画素を、前記着目画素の画素値と同対象が投影されている画素として特定することを特徴とする請求項２に記載の情報処理装置。
4. 前記設定手段は、前記第１の投影画像を撮影したときの放射線の照射角度と前記第２の投影画像を撮影したときの放射線の照射角度との差が大きいほど、よりサイズの小さい前記第２の探索領域を設定することを特徴とする請求項２又は３に記載の情報処理装置。
5. 前記計算手段は、前記第１の探索領域及び前記第２の探索領域内の各画素について、該画素と前記着目画素との間の距離が大きいほど小さい値をとる重み値を用いて、該画素の画素値に対する重み付けを行うことを特徴とする請求項２乃至４の何れか１項に記載の情報処理装置。
6. 更に、
   前記更新手段により画素値が更新された前記複数枚の投影画像を用いて再構成処理を行うことで、前記被検体の断層像を生成する手段を備えることを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項に記載の情報処理装置。
7. 情報処理装置が行う情報処理方法であって、
   前記情報処理装置の投影画像を取得する手段が、被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して撮影された該被検体の複数枚の投影画像を取得する工程と、
   前記情報処理装置の画素を取得する手段が、前記投影画像中の第１の投影画像における第１の画素と、前記第１の投影画像とは異なる第２の投影画像から前記角度の情報に基づいて得られた前記第１の画素に対応する第２の画素と、を得る工程と、
   前記情報処理装置の加算手段が、前記第１の画素と前記第２の画素とを前記角度の情報に基づき得られる重みで加算する工程と
   を備えることを特徴とする情報処理方法。
8. 情報処理装置が行う情報処理方法であって、
   前記情報処理装置の取得手段が、被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射して撮影された該被検体の複数枚の投影画像を取得する工程と、
   前記情報処理装置の設定する手段が、第１の投影画像中の着目画素を中心とする領域を第１の探索領域とし、該第１の探索領域内に該着目画素を中心とする領域を第１の判定領域として設定する工程と、
   前記情報処理装置の設定手段が、前記第１の投影画像とは異なる第２の投影画像から、前記着目画素と同対象が投影されている画素を特定し、該画素を中心とする領域を第２の探索領域として設定する設定工程と、
   前記情報処理装置の計算手段が、前記第１の探索領域及び前記第２の探索領域内の各画素について、該画素を中心とする領域と前記第１の判定領域とで画素値の類似度を求め、該類似度が大きいほど小さい値をとる重み値を用いて、該画素の画素値に対する重み付けを行う計算工程と、
   前記情報処理装置の更新手段が、前記第１の探索領域及び前記第２の探索領域内の各画素について前記計算工程で重み付けを行った画素値の合計値を用いて、前記着目画素の画素値を更新する更新工程と
   を備えることを特徴とする情報処理方法。
9. コンピュータを、請求項１乃至６の何れか１項に記載の情報処理装置の各手段として機能させるためのコンピュータプログラム。
10. 被検体に対してそれぞれ異なる角度から放射線を照射する放射線撮影装置と、
    該放射線撮影装置から照射され且つ該被検体を透過した放射線を複数の投影画像として取得する装置と、
    前記投影画像中の第１の投影画像における第１の画素と前記第１の投影画像とは異なる第２の投影画像から前記角度の情報に基づいて得られた前記第１の画素に対応する第２の画素とを得る手段と、
    前記第１の画素と前記第２の画素とを前記角度の情報に基づき得られる重みで加算する手段と
    を有する情報処理装置と
    を備えることを特徴とする放射線撮影システム、

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