JP6117550B2 - スパッタリング装置の制御方法 - Google Patents
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Description
前記圧力検出手段によって前記チャンバ内の圧力を検出する圧力検出工程と、前記光量検出手段によって前記被成膜物の近傍の光量を検出する光量検出工程と、前記光量検出工程によって検出された前記光量が、光量と反応ガスの流量との関係を表わすヒステリシスループにおいて、特定の光量値に対して2つの流量値をとる領域である遷移領域が存在しており、前記2つの流量値を第一の流量値および第二の流量値と定義し、前記圧力検出工程によって検出された前記圧力が、圧力と反応ガスの流量との関係を表わすヒステリシスループにおいて、前記第一の流量値と前記第二の流量値にそれぞれ対応する、互いに異なる第一の圧力値と第二の圧力値の範囲内に設定された第一の閾値を超えたときに、通知信号を出力する第一出力工程と、を備えたことを特徴とする。
また、以下の図面を使用した説明において、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは異なることに留意すべきであり、理解の容易のために説明に必要な部材以外の図示は適宜省略されている。
図1はスパッタリング装置1の概略構成の一例を示す断面模式図である。
スパッタリング装置1は、縦型のインターバック式の装置であり、真空チャンバ11を有している。真空チャンバ11は、仕込み/取り出し室(以下L/UL室と記す。)12とゲートバルブ13を介して接続されている。L/UL室12は、被成膜物の一例としての処理基板Sを保持するトレイ14の仕込み、取り出しを行うように構成されており、L/UL室12内のトレイに処理基板Sを保持させ、ゲートバルブ13を開け、真空チャンバ11の内部に搬入する。
ターゲット15に印加されるスパッタ電圧はコントローラ18で処理され、コントローラ18からガス導入機構16にフィードバックされる。そして、ターゲット15に供給される電力が所定の電力になるように、ガス導入機構16のマスフローコントローラ(MFC)19を介して真空チャンバ11内に導入する反応ガスの流量が調整される。
尚、電源としては、パルス電源、非対称パルス波を印加する電源、サイン波を印加する電源等を用いることができる。
(2.1)成膜制御
スパッタリング装置1は、ガス導入機構13によって真空チャンバ11内にガスを導入しながら、真空チャンバ11内の内部を減圧して真空状態にする。
次いで、ガス導入機構16を介してスパッタガスと反応ガスを導入し、ターゲット15に電源を介してスパッタ電圧を印加すると、ターゲット15の前方にプラズマ雰囲気が形成される。この状態で、処理基板Sが保持されたトレイ14を、L/UL室12から真空チャンバ11の内部に搬入して処理基板S表面に薄膜が形成される。
この成膜時に、光量センサ17bで読み取られた光量情報をプラズマエミッションモニタ(PEM)17で読み取り、その光量値が所定値となるように反応ガスの流量を制御する。
すなわち、光量値を読み取ったときのスパッタ現象が遷移領域からどれだけずれているかのずれ量を、光量からの情報としてコントローラ18で取得する。そして、そのずれ量から遷移領域のスパッタ現象となる反応ガスの流量を算出し、その算出結果を信号としてマスフローコントローラ(MFC)19にフィードバックする。
そして、マスフローコントローラ(MFC)19を介して反応ガスの流量を読み取られた光量情報に基づいて制御することにより、ターゲット15のスパッタ現象を遷移領域となるように制御する。
図2は、代表的な材料としてのNbの反応性スパッタを行なうときに生じるヒステリシスカーブを示す図である。図2において、縦軸はNbの発光波長の強度としての光量を示し、横軸は反応ガスの流量を示している。
以下、図2を参照しながら遷移領域について説明する。
この状態は、酸素量の多少の変動が合っても、成膜速度が変わらないという利点はあるが、成膜速度が遅くなるという大きな欠点がある。
図3は、代表的な材料としてのNbの反応性スパッタを行なうときに生じるヒステリシスカーブを示す図である。図3において、縦軸は真空チャンバ内の圧力値を示し、横軸は反応ガスの流量を示している。
図4は本実施形態に係るスパッタリング装置1の成膜制御における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
以下、本実施形態に係るスパッタリング装置の成膜制御について、図面を参照しながら説明する。
図中A1点は、上述したプラズマの発光強度としての光量と酸素流量との関係を示した図2のヒステリシスカーブにおけるA点と対応している。図中B1点は、同様に図2のヒステリシスカーブにおけるB点と対応している。
圧力センサ17aによって検出された圧力が、第一の流量値と第二の流量値にそれぞれ対応する、互いに異なる第一の圧力値と第二の圧力値の範囲内に設定された第一の閾値(R1)を超えたときには、アラームとしての通知信号を出力して、成膜前に安定的に高速成膜が可能な状態か否かの判別を促す。
電源が安定したと判断された場合(S11;Yes)、ガス導入機構16のマスフローコントローラ(MFC)19を介して真空チャンバ11内に反応ガス(O2)を導入する(S12)。
具体的には、ターゲットごとの特定波長の光強度を光量センサ17bで読み取り、光量を読み取ったときのスパッタ現象が遷移領域からどれだけずれているかのずれ量を光量からの情報としてコントローラ18で取得し、そのずれ量から遷移領域のスパッタ現象となる反応ガスの流量を算出し、マスフローコントローラ(MFC)19にフィードバックする。
そして、マスフローコントローラ(MFC)19を介してターゲット15のスパッタ現象を遷移領域となるように反応ガス(O2)の流量を制御する(S13)。
その結果、第一の閾値を超えている場合(S14;Yes)、処理基板Sの真空チャンバ11内部への搬入搬送は行われず、アラームを通知して(S15)、再度マスフローコントローラ(MFC)19を介してターゲット15のスパッタ現象を遷移領域となるように反応ガス(O2 )の流量を制御する(S13)。
本実施形態に係るスパッタリング装置1の制御方法によれば、遷移モードを安定して維持する場合に、圧力センサ17aによって検出された圧力が、圧力と反応ガス(O2)の流量との関係を表す第一のヒステリシスカーブのうち、反応ガス(O2)の第一の流量値と第二の流量値にそれぞれ対応する、互いに異なる第一の圧力値と第二の圧力値の範囲内に設定された第一の閾値を超えるか否か判断する。
そして、第一の閾値を超えている場合、処理基板Sの真空チャンバ11内部への搬入搬送は行われず、アラームを通知して、成膜前に安定的に高速成膜が可能な状態か否かの判別を促す。
図5はSiターゲットを用いた場合の第一のヒステリシスカーブ及び第二のヒステリシスカーブ、図6はTiターゲットを用いた場合の第一のヒステリシスカーブ及び第二のヒステリシスカーブである。
Claims (4)
- 被成膜物を収容するチャンバと、
該チャンバ内に配されたターゲットと、
該ターゲットの構成材料と反応させる反応ガスを前記チャンバ内に導入するガス導入手段と、前記チャンバ内の圧力を検出する圧力検出手段と、前記被成膜物の近傍の光量を検出する光量検出手段と、を備えたスパッタリング装置の制御方法であって、
前記圧力検出手段によって前記チャンバ内の圧力を検出する圧力検出工程と、
前記光量検出手段によって前記被成膜物の近傍の光量を検出する光量検出工程と、
前記光量検出工程によって検出された前記光量が、光量と反応ガスの流量との関係を表わすヒステリシスループにおいて、特定の光量値に対して2つの流量値をとる領域である遷移領域が存在しており、前記2つの流量値を第一の流量値および第二の流量値と定義し、
前記圧力検出工程によって検出された前記圧力が、圧力と反応ガスの流量との関係を表わすヒステリシスループにおいて、前記第一の流量値と前記第二の流量値にそれぞれ対応する、互いに異なる第一の圧力値と第二の圧力値の範囲内に設定された第一の閾値を超えたときに、通知信号を出力する第一出力工程と、
を備えたことを特徴とするスパッタリング装置の制御方法。 - 前記ターゲットがNbを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載のスパッタリング装置の制御方法。 - 前記ターゲットがTiを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載のスパッタリング装置の制御方法。 - 前記ターゲットがSiを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載のスパッタリング装置の制御方法。
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