JP6113605B2 - 耐熱性に優れる表面被覆層付き銅合金板条 - Google Patents
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Description
表面被覆層として最表面にSn層が形成された表面被覆層付き銅合金板条は、高温環境下において長時間保持すると接触抵抗が増大する。これに対し、例えば特許文献1に記載されているように、表面被覆層を、下地層(Niなど)/Cu−Sn合金層/Sn層の3層構造とすることにより、下地層(Niなど)によるCuの拡散抑制とCu−Sn合金層による下地層(Niなど)の拡散抑制により、高温長時間経過後の電気的特性を確保することができる。特許文献2,3には、表面を粗面化処理した表面被覆層付銅合金板条の表面被覆層を、上記3層構造とすることが記載されている。また、特許文献4には、Ni下地めっき層/Cu−Sn合金層/Sn層からなる表面被覆層において、Cu−Sn合金層をNi層側のε(Cu3Sn)相とSn相側のη(Cu6Sn5)相の2相とし、ε相がNi層を被覆する面積被覆率を60%以上とすることにより、高温長時間経過後の接触抵抗を安定化し、かつ表面被覆層の剥離を防止することが記載されている。なお、特許文献4に記載されたCu−Sn合金層を得るには、めっき条件、リフロー処理条件(加熱速度、加熱温度、冷却速度)等を精密に制御する必要があるが、実操業においてこれらの条件すべてを正確に守って製造するのは簡単ではない。
また、特許文献4には高温長時間経過後に優れた耐熱剥離性が得られたことが示されているが、これについてもより厳しい保持条件において特性のさらなる改良が求められている。
(1)表面被覆層の断面において、Ni層の長さに対するε相の長さの比率が50%以下である。
(2)表面被覆層の最表面に前記Cu−Sn合金層(η相)の一部が露出し、その表面露出面積率が3〜75%である(特許文献2参照)。これには、表面被覆層の表面粗さが、少なくとも一方向における算術平均粗さRaが0.15μm以上で、かつ全ての方向における算術平均粗さがRaが3.0μmの場合(特許文献3参照)と、全ての方向における算術平均粗さがRaが0.15μm未満の場合が含まれる。
(3)下地層として前記Ni層の代わりにCo層又はFe層が形成され、前記Co層又はFe層の平均厚さが0.1〜3.0μmである。
(4)前記Ni層が存在する場合、前記母材表面とNi層の間、又は前記Ni層とCu−Sn合金層の間にCo層又はFe層が形成され、Ni層とCo層又はNi層とFe層の合計の平均厚さが0.1〜3.0μmである。
(5)大気中160℃×1000時間加熱後の材料表面において、最表面から15nmの深さの位置にCu2Oを有しない。
また、表面被覆層の断面において、Ni層の長さに対するε相の長さの比率を50%以下とすることにより、高温長時間経過後も優れた耐熱剥離性を得ることができる。
さらに、表面被覆層の最表面にCu−Sn合金層の一部が露出した表面被覆層付き銅合金板条は、摩擦係数を低く抑えることができ、特に嵌合型端子用材料として適する。
(1)Ni層の平均厚さ
Ni層は、母材構成元素の材料表面への拡散を抑制することにより、Cu−Sn合金層の成長を抑制してSn層の消耗を防止し、高温長時間使用後において接触抵抗の上昇を抑制する。しかし、Ni層の平均厚さが0.1μm未満の場合には、Ni層中のピット欠陥が増加することなどにより、上記効果を充分に発揮できなくなる。一方、Ni層は平均厚さが3.0μmを超えて厚くなると上記効果が飽和し、また曲げ加工で割れが発生するなど端子への成形加工性が低下し、生産性や経済性も悪くなる。従って、Ni層の平均厚さは0.1〜3.0μmとする。より望ましくは0.2〜2.0μmである。
なお、Ni層には、母材に含まれる成分元素等が少量混入していてもよい。Ni被覆層がNi合金からなる場合、Ni合金のNi以外の構成成分としては、Cu、P、Coなどが挙げられる。Cuについては40質量%以下、P、Coについては10質量%以下が望ましい。
Cu−Sn合金層は、Sn層へのNiの拡散を防止する。このCu−Sn合金層は平均厚さが0.2μm未満では上記拡散防止効果が不十分であり、NiがCu−Sn合金層又はSn層の表層まで拡散して酸化物を形成する。Niの酸化物は体積抵抗率がSnの酸化物、及びCuの酸化物の1000倍以上大きいことから、接触抵抗が高くなり電気的信頼性が低下する。一方、Cu−Sn合金層の平均厚さが3.0μmを超えると、曲げ加工で割れが発生するなど、端子への成形加工性が低下する。従って、Cu−Sn合金層の平均厚さは0.1〜3.0μmとする。
Cu−Sn合金層はη相(Cu6Sn5)のみ又はε相(Cu3Sn)とη相からなり、ε相はNi層とη相の間に形成され(Cu−Sn合金層がε相とη相からなる場合)、Ni層に接している。Cu−Sn合金層はCuめっき層のCuとSnめっき層のSnがリフロー処理により反応して形成される層である。リフロー処理前のSnめっきの厚さ(ts)とCuめっきの厚さ(tc)の関係をts/tc>2としたとき、平衡状態ではη相のみが形成されるが、リフロー処理条件により、実際には非平衡な相であるε相も形成される。ε相はη相に比べて硬いため、ε相が存在すると被覆層が硬くなり、摩擦係数の低減に寄与する。しかしながら、ε相の平均厚さが厚い場合、ε相はη相に比べて脆いため、曲げ加工で割れが発生するなど、端子への成形加工性が低下する。また、150℃以上の温度で、非平衡相であるε相が平衡相であるη相へ転化し、ε相のCuがη相及びSn層へ熱拡散し、Sn層の表面に達すると材料表面のCuの酸化物(Cu2O)量が多くなり、接触抵抗を増加させ易く、電気的接続の信頼性を維持することが困難となる。さらに、ε相のCuが熱拡散することにより、ε相が存在していた箇所においてCu−Sn合金層とNi層の界面にボイドが生じ、Cu−Sn合金層とNi層の界面での剥離が発生しやすくなる。以上の理由から、Cu−Sn合金層の平均厚さに対するε相の平均厚さの比率は30%以下(0%を含む)とする。ε相の平均厚さの比率は20%以下が望ましく、15%以下であることがさらに望ましい。
Cu−Sn合金層とNi層の界面での剥離をより効果的に抑制するには、上記の限定に加え、さらに表面被覆層の断面において、Ni層の長さに対するε相の長さの比率を50%以下にすることが望ましい。これは前記ボイドがε相が存在していた箇所に発生するためである。Ni層の長さに対するε相の長さの比率は40%以下が望ましく、30%以下であることがさらに望ましい。
Sn層の平均厚さが0.01μm未満では、高温酸化などの熱拡散による材料表面のCuの酸化物量が多くなり、接触抵抗を増加させ易く、また耐食性も悪くなることから、電気的接続の信頼性を維持することが困難となる。一方、Sn層の平均厚さが5.0μmを超える場合には、経済的に不利であり、生産性も悪くなる。従って、Sn層の平均厚さは0.01〜5.0μmとする。望ましくは0.2〜5.0μm、より望ましくは0.5〜3.0μmである。
Sn層がSn合金からなる場合、Sn合金のSn以外の構成成分としては、Pb、Bi、Zn、Ag、Cuなどが挙げられる。Pbについては50質量%未満、他の元素については10質量%未満が望ましい。
オス端子とメス端子の挿抜に際しての摩擦の低減が求められる場合は、Cu−Sn合金層を表面被覆層の最表面に部分的に露出させるとよい。Cu−Sn合金層は、Sn層を形成するSn又はSn合金に比べて非常に硬く、それを最表面に部分的に露出させることで、端子挿抜の際にSn層の掘り起こしによる変形抵抗や、Sn−Snの凝着をせん断するせん断抵抗を抑制でき、摩擦係数を非常に低くすることができる。表面被覆層の最表面に露出するCu−Sn合金層はη相であり、その露出面積率が3%未満では、摩擦係数の低減が十分でなく、端子の挿入力低減効果が充分得られない。一方、Cu−Sn合金層の露出面積率が75%を超える場合には、経時や腐食などによる表面被覆層(Sn層)の表面のCuの酸化物量などが多くなり、接触抵抗を増加させ易く、電気的接続の信頼性を維持することが困難となる。従って、Cu−Sn合金層の露出面積率は3〜75%とする(特許文献2,3参照)。より望ましくは10〜50%である。
Cu−Sn合金層の露出形態がランダム組織の場合、摩擦係数は端子の挿抜方向によらず低くなる。一方、Cu−Sn合金層の露出形態が線状組織の場合、又はランダム組織と線状組織からなる複合形態の場合、端子の挿抜方向が前記線状組織に対し垂直方向のとき、摩擦係数が最も低くなる。従って、例えば端子の挿抜方向が圧延垂直方向に設定される場合、前記線状組織を圧延平行方向に形成するのが望ましい。
(6a)特許文献3に記載された表面被覆層付き銅合金板条は、母材(銅合金板条そのもの)に粗面化処理を行い、母材表面にNiめっき、Cuめっき、Snめっきをこの順に行った後、リフロー処理することにより製造される。Cuめっき層とSnめっき層の厚さは、リフロー処理後に平均厚さ0.2〜5.0μmのSn層が残留するように設定される。粗面化処理した母材の表面粗さは、少なくとも一方向における算術平均粗さRaが0.3μm以上で、全ての方向における算術平均粗さRaが4.0μm以下とされる。
得られた表面被覆層付き銅合金板条は、表面被覆層の表面粗さが、少なくとも一方向における算術平均粗さRaが0.15μm以上で、全ての方向における算術平均粗さRaが3.0μm以下である。母材が粗面化されて表面に凹凸があること、及びリフロー処理によりSn層が平滑化されることから、リフロー処理後に表面に露出したCu−Sn合金層の一部は、Sn層の表面から突出している。
本発明に係る表面被覆層付き銅合金板条においても、母材の表面粗さを上記のように設定することにより、特許文献3に記載された表面被覆層付き銅合金板条と全く同様に、Sn層の平均の厚さを0.2〜5.0μmとし、かつCu−Sn合金層の一部を露出させ、表面被覆層の表面粗さを、少なくとも一方向における算術平均粗さRaが0.15μm以上で、全ての方向における算術平均粗さRaが3.0μm以下とすることができる。より望ましくは、少なくとも一方向の算術平均粗さRaが0.2μm以上、かつ全ての方向の算術平均粗さRaが2.0μm以下である。
このため、特許文献2において得られる表面被覆層付き銅合金板条は、表面被覆層の表面粗さが、特許文献3に記載された表面被覆層付き銅合金板条の表面被覆層の表面粗さに比べて、表面粗さのより小さい側に広くなる(表面被覆層の算術平均粗さRaが全ての方向において0.15μm未満になる場合を含む)。従って、特許文献2の表面被覆層付き銅合金板条では、表面に露出したCu−Sn合金層が、Sn層の表面から全く突出しない場合もあり得ると推測される。
本発明に係る表面被覆層付き銅合金板条においても、母材の表面粗さを上記のように設定することにより、特許文献2に記載された表面被覆層付き銅合金板条と全く同様に、Sn層の平均の厚さを0.2〜5.0μmとし、かつCu−Sn合金層の一部を露出させ、表面粗さの範囲が、上記(6a)に記載した表面粗さに比べて、表面粗さのより小さい側に広い表面被覆層(表面被覆層の算術平均粗さRaが全ての方向において0.15μm未満になる場合を含む)を得ることができる。
なお、母材の表面に深い圧延目や研磨目を形成した場合、銅合金板条の曲げ加工性が低下したり、表面にできた加工変質層によりNiめっきの異常析出が生じる可能性があるが、このように銅合金板条の表面を浅く粗面化する場合、その問題は回避できる。
Cu−Sn合金層の一部が最表面に露出した表面被覆層において、材料表面の少なくとも一方向におけるCu−Sn合金層の平均の表面露出間隔が0.01〜0.5mmとすることが望ましい。ここで、Cu−Sn合金層の平均の材料表面露出間隔を材料表面に描いた直線を横切るCu−Sn合金層の平均の幅(前記直線に沿った長さ)とSn層の平均の幅を足した値と定義される。
Cu−Sn合金層の平均の材料表面露出間隔が0.01mm未満では、高温酸化などの熱拡散による材料表面のCuの酸化物量が多くなり、接触抵抗を増加させ易く、電気的接続の信頼性を維持することが困難となる。一方、0.5mmを超える場合には、特に小型端子に用いた際に低い摩擦係数を得ることが困難となる場合が生じてくる。一般的に端子が小型になれば、インデントやリブなどの電気接点部(挿抜部)の接触面積が小さくなるため、挿抜の際にSn層同士のみの接触確率が増加する。これにより凝着量が増すため、低い摩擦係数を得ることが困難となる。従って、Cu−Sn合金層の平均の材料表面露出間隔を少なくとも一方向において0.01〜0.5mmとすることが望ましい。より望ましくは、Cu−Sn合金層の平均の材料表面露出間隔を全ての方向において0.01〜0.5mmにする。これにより、挿抜の際のSn層同士のみの接触確率が低下する。さらに望ましくは0.05〜0.3mmである。
Cuめっき層と溶融したSnめっき層の間に形成されるCu−Sn合金層は、通常、母材(銅合金板条)の表面形態を反映して成長し、表面被覆層におけるCu−Sn合金層の表面露出間隔は、母材表面の凹凸の平均間隔Smをおよそ反映する。従って、被覆層表面の少なくとも一方向におけるCu−Sn合金層の平均の表面露出間隔を0.01〜0.5mmとするには、母材(銅合金板条)表面の少なくとも一方向において算出された凹凸の平均間隔Smが0.01〜0.5mmとすることが望ましい。さらに望ましくは0.05〜0.3mmである。
Co層とFe層は、Ni層と同様に、母材構成元素の材料表面への拡散を抑制することにより、Cu−Sn合金層の成長を抑制してSn層の消耗を防止し、高温長時間使用後において接触抵抗の上昇を抑制するとともに、良好なはんだ濡れ性を得るのに役立つため、Co層又はFe層を、下地めっき層としてNi層の代わりに用いることができる。しかし、Co層又はFe層の平均厚さが0.1μm未満の場合、Ni層と同様に、Co層又はFe層中のピット欠陥が増加することなどにより、上記効果を充分に発揮できなくなる。また、Co層又はFe層の平均厚さが3.0μmを超えて厚くなると、Ni層と同様に、上記効果が飽和し、また曲げ加工で割れが発生するなど端子への成形加工性が低下し、生産性や経済性も悪くなる。従って、Co層又はFe層を下地層としてNi層の代わりに用いる場合、Co層又はFe層その平均厚さは0.1〜3.0μmとする。より望ましくは0.2〜2.0μmである。
大気中160℃×1000時間加熱後、表面被覆層の材料表面にはCuの拡散によるCu2O酸化膜が形成されている。Cu2OはSnO2やCuOに比べて電気抵抗値が極めて高く、材料表面に形成されたCu2O酸化膜は電気的な抵抗となる。Cu2O酸化膜が薄い場合には、自由電子が比較的容易にCu2O酸化膜を通過する状態(トンネル効果)となり接触抵抗はあまり高くならないが、Cu2O酸化膜の厚さが15nmを超える(材料最表面から15nmより深い位置にCu2Oが存在する)と接触抵抗が増大する。Cu−Sn合金層におけるε相の比率が大きいほど、Cu2O酸化膜が厚く形成される(最表面からより深い位置にCu2Oが形成される)。Cu2O酸化膜の厚さを15nm以下にとどめ、接触抵抗が増大するのを防止するには、Cu−Sn合金層の平均厚さに対するε相の平均厚さの比率を30%以下とする必要がある
本発明に係る表面被覆層付き銅合金板条には、Cu−Sn合金層が最表面に露出していないものと、Cu−Sn合金層が最表面に露出しているものが含まれ、さらに後者には、母材(銅合金板条そのもの)の表面粗さが大きいもの(少なくとも一方向における算術平均粗さRa≧0.15μm)と、表面粗さが小さいもの(全ての方向における算術平均粗さRa<0.15μm)が含まれる。これらの表面被覆層付き銅合金板条の製造方法について、以下説明する。
この表面被覆層付き銅合金板条は、特許文献1に記載されているように、銅合金板条の表面に下地めっきとしてNiめっき層を形成し、次いでCuめっき層及びSnめっき層をこの順に形成し、リフロー処理を行い、Cuめっき層のCuとSnめっき層のSnの相互拡散によりCu−Sn合金層を形成し、Cuめっき層を消滅させ、溶融・凝固したSnめっき層を表層部に適宜残留させることで製造することができる。
めっき液は、Niめっき、Cuめっき、及びSnめっきとも特許文献1に記載されているものを用いればよく、めっき条件は、Niめっき/電流密度:3〜10A/dm2、浴温:40〜55℃、Cuめっき/電流密度:3〜10A/dm2、浴温:25〜40℃、Snめっき/電流密度:2〜8A/dm2、浴温:20〜35℃とすればよい。電流密度は低目が好ましい。なお、本発明において、Niめっき層、Cuめっき層、Snめっき層というとき、これらはリフロー処理前の表面めっき層を意味する。Ni層、Cu−Sn合金層、Sn層というとき、これらはリフロー処理後のめっき層、又はリフロー処理により形成された化合物層を意味する。
また、上記製造方法において、下地めっき層として、Niめっき層の代わりにCoめっき層又はFeめっき層を形成し、若しくはCoめっき層又はFeめっき層を形成した後、Niめっき層を形成し、あるいはNiめっき層を形成した後、Coめっき層又はFeめっき層を形成することもできる。
この表面被覆層付き銅合金板条(上記(6a),(6b)参照)は、特許文献2,3に開示されているように、母材である銅合金板条の表面を粗面化し(少なくとも一方向における算術平均粗さRaが0.15μm以上又は0.3μm以上で、全ての方向における算術平均粗さRaが4.0μm以下)、その後、上記(10a)に記載した条件でめっき、及びリフロー処理を行なって製造することができる。
銅合金板条の表面の粗面化には、例えば、研磨やショットブラストにより粗面化した圧延ロールを用い、銅合金板条を圧延する。ショットブラストによって粗面化したロールを用いると、表面被覆層の最表面に露出するCu−Sn合金層の露出形態がランダム組織となる。また、圧延ロールを研磨して深めの研磨目を形成後、ショットブラストによりランダムの凹凸を形成して粗面化したロールを用いると、表面被覆層の最表面に露出するCu−Sn合金層の露出形態が、ランダム組織と圧延方向に平行に延びる線状組織からなる複合形態となる。
特許文献2には、母材の算術平均粗さRaが全ての方向において0.15μm未満の場合、Cu−Sn合金層を3%以上露出させ、同時にSn層を0.2μm以上にすることが困難と記載されている。しかし、母材である銅合金板条の表面に、圧延平行方向(圧延方向に対し平行の方向)にバフの研磨目又は圧延目を、以下に説明する方法で形成して、表面粗さが最も大きくなる圧延直角方向(圧延方向に対し直角の方向)の算術平均粗さRaを0.15μm未満の範囲に調整することにより、算術平均粗さRaが全ての方向において0.15μm未満で、所定厚さ(0.2μm以上を含む)のSn層を最表面に有し、かつCu−Sn合金層が表面に露出した表面被覆層付き銅合金板条(上記(6c)に対応)を製造することができる。めっき方法、リフロー処理条件は、上記(10a)に記載した条件でよい。
(a)中間焼鈍後の研磨工程において、回転するバフを銅合金板条に押し当て(バフの回転軸は圧延方向に直角)、表面を研磨する。この研磨に用いるバフとして、通常の仕上げ用のものより少し粗い砥粒を含むバフを用い、バフの回転数を通常より大きくするか、銅合金板条への押し付け圧力を大きくするか、銅合金板条の送り速度を小さくするか、いずれか1つ以上の実施条件を選択し、銅合金板条の表面に通常よりやや粗い研磨目を形成する。研磨後の仕上げ圧延は、通常の仕上げ圧延ロール(ロール軸線方向に測定した表面粗さが、算術平均粗さRa:0.02〜0.08μm程度、最大高さ粗さRz:0.2〜0.9μm程度)を用い、10%以下の圧下率で1パスで行う。
(b)仕上げ圧延工程を、通常の仕上げ圧延ロールより目の粗いロール(ロール軸線方向に測定した表面粗さが、算術平均粗さRa:0.07〜0.18μm程度、最大高さ粗さRz:0.7〜1.5μm程度)による圧延と、通常の仕上げ圧延ロールによる圧延の2段階で実施する。通常の仕上げ圧延ロールより目の粗いロールによる圧延は、1又は数パスで総圧下率を望ましくは10%以上とし、これにより銅合金板条の表面に通常の仕上げ圧延ロールよりやや粗い圧延目を形成する。続いて通常の仕上げ圧延ロールによる圧延を、10%以下の圧下率で1パス(最終パス)で行う。
Ni、Cu、Snの各めっき層の厚さは次のように調整する。まず、Niめっき層の厚さは、0.1μm以上、1μm以下、望ましくは0.1μm以上、0.8μm以下とする。その後、Cuめっき及びSnめっきを行なうが、Snめっき層の平均厚さをCuめっき層の平均厚さの2倍以上とし、かつリフロー処理後に平均厚さ0.1〜0.7μmのSn層が残存するように、Cuめっき層とSnめっき層の平均厚さを調整する。
母材の表面粗さが小さく、リフロー処理後に表面に比較的厚め(0.1〜0.7μm)のSn層を残した場合でも、Cu−Sn合金層が表面に露出する現象が生じる機構は明確でないが、通常の仕上げ圧延や研磨を行ったものに比べ、仕上げ圧延、研磨工程において、母材の圧延目、研磨目に沿った表面の領域に蓄積される加工エネルギーが大きく、それにより、同領域においてCu−Sn合金の結晶成長速度が大きくなるためかと推測される。なお、この現象を生じさせるには、Niめっき層の平均厚さ(Ni層の平均厚さ)、及びリフロー処理後のSn層の平均厚さを、前記の範囲にとどめることが必要である。
(Ni層の平均厚さの測定)
蛍光X線膜厚計(セイコーインスツルメンツ株式会社;SFT3200)を用いて、試験材のNi層の平均厚さを算出した。測定条件は、検量線にSn/Ni/母材の2層検量線を用い、コリメータ径をφ0.5mmとした。
蛍光X線膜厚計(セイコーインスツルメンツ株式会社;SFT3200)を用いて、試験材のCo層の平均の厚さを算出した。測定条件は、検量線にSn/Co/母材の2層検量線を用い、コリメータ径をφ0.5mmとした。
(Fe層の平均厚さの測定)
蛍光X線膜厚計(セイコーインスツルメンツ株式会社;SFT3200)を用いて、試験材のFe層の平均厚さを算出した。測定条件は、検量線にSn/Fe/母材の2層検量線を用い、コリメータ径をφ0.5mmとした。
ミクロトーム法にて加工した試験材の断面組成像(走査型電子顕微鏡)を10,000倍の倍率で観察し、画像解析処理によりCu−Sn合金層の面積を算出し、測定エリアの幅で割った値を平均厚さとした。また、同じ組成像において、画像解析によりε相の面積を算出し、測定エリアの幅で割った値をε相の平均厚さとし、ε相の平均厚さをCu−Sn合金層の平均厚さで割ることにより、ε相厚さ比率(Cu−Sn合金層の平均厚さに対するε相の平均厚さの比率)を算出した。さらに、同じ組成像において、ε相の長さ(測定エリアの幅方向に沿った長さ)を測定し、これをNi層の長さ(測定エリアの幅)で割ることにより、ε相長さ比率(Ni層の長さに対するε相の長さの比率)を算出した。いずれも測定はそれぞれ5視野ずつ実施し、その平均値を測定値とした。
まず、蛍光X線膜厚計(セイコーインスツルメンツ株式会社;SFT3200)を用いて、試験材のSn層の膜厚とCu−Sn合金層に含有されるSn成分の膜厚の和を測定した。その後、p−ニトロフェノール及び苛性ソーダを成分とする水溶液に10分間浸漬し、Sn層を除去した。再度、蛍光X線膜厚計を用いて、Cu−Sn合金層に含有されるSn成分の膜厚を測定した。測定条件は、検量線にSn/母材の単層検量線又はSn/Ni/母材の2層検量線を用い、コリメータ径をφ0.5mmとした。得られたSn層の膜厚とCu−Sn合金層に含有されるSn成分の膜厚の和から、Cu−Sn合金層に含有されるSn成分の膜厚を差し引くことにより、Sn層の平均の厚さを算出した。
供試材に対し大気中にて160℃×1000hrの熱処理を行った後、Snに対するエッチングレートが約5nm/minとなる条件で3分間エッチングを行った後、X線光電子分光装置(VG社製ESCA−LAB210D)によりCu2Oの有無を確認した。分析条件はAlkα300W(15kV,20mA)、分析面積1mmφとした。Cu2Oが検出された場合、材料最表面から15nmより深い位置にCu2Oが存在する(Cu2O酸化膜の厚さが15nmを超える(Cu2O>15nm))と判定し、検出されなかった場合、材料最表面から15nm以上深い位置にCu2Oが存在しない(Cu2O酸化膜の厚さが15nm以下(Cu2O≦15nm))と判定した。
供試材に対し大気中にて160℃×1000hrの加熱を行った後、接触抵抗を四端子法により、解放電圧20mV、電流10mA、荷重3N、摺動有の条件にて5回測定を実施し、その平均値を接触抵抗値とした。
(高温長時間加熱後の耐熱剥離性の測定)
供試材から切り出した試験片に対して、90°曲げ(曲げ半径:0.5mm)を行い、大気中にて160℃×1000hrの加熱を行った後、曲げ戻しを行い、被覆層の剥離の有無を外観評価した。剥離がない場合を○、剥離した場合を×とした。
表面被覆層の構成及び各層の平均厚さ、並びにε相厚さ比率が本発明の規定を満たすNo.1〜15は、Cu2O酸化膜の厚さも15nm以下であり、高温長時間加熱後の接触抵抗が1.0mΩ以下と低い値に維持されている。また、ε相長さ比率が本発明の規定を満たすNo.1〜13は耐熱剥離性も優れる。
一方、Ni層の平均厚さが薄いNo.16、Cu−Sn合金層の平均厚さが薄いNo.17、Sn層が消滅していたNo.18、リフロー処理が従来の条件で行われε相厚さ比率が高いNo.19、Ni層が存在しないNo.20、リフロー処理が従来の条件に近い条件で行われε相厚さ比率が高いNo.21,22は、それぞれ高温長時間加熱後の接触抵抗が高くなった。なお、No.17〜22では、Cu2O酸化膜の厚さが15nmを超えていた。また、ε相厚さ比率が高いNo.21、及びε相厚さ比率とε相長さ比率が高いNo.19,22は、高温長時間加熱後、剥離が発生した。
なお、No.1〜19,21,22の各供試材(耐熱剥離性測定後の供試材)を樹脂埋め、研磨後、走査電子顕微鏡によりNi層とCu−Sn合金層の界面を観察したところ、高温長時間加熱後に剥離が発生しなかった供試材では、前記界面にボイドが形成されていなかったが、剥離が発生した供試材ではボイドが多く形成され、これらのボイドがつながることにより剥離が発生したことが確認された。
(表面被覆層の表面粗さ)
接触式表面粗さ計(株式会社東京精密;サーフコム1400)を用いて、JIS B0601−1994に基づいて測定した。表面粗さ測定条件は、カットオフ値を0.8mm、基準長さを0.8mm、評価長さを4.0mm、測定速度を0.3mm/s、及び触針先端半径を5μmRとした。なお、表面粗さ測定方向は、表面粗さが最も大きく出る圧延直角方向とした。
(Cu−Sn合金層の表面露出面積率の測定)
試験材の表面を、EDX(エネルギー分散型X線分光分析器)を搭載したSEM(走査型電子顕微鏡)を用いて200倍の倍率で観察し、得られた組成像の濃淡(汚れや傷等のコントラストは除く)から画像解析によりCu−Sn合金層の表面露出面積率を測定した。同時にCu−Sn合金層の露出形態を観察した。露出形態はランダム組織、又は線状組織+ランダム組織からなり、線状組織は全て圧延平行方向に形成されていた。
嵌合型接続部品における電気接点のインデント部の形状を模擬し、図2に示すような装置を用いて測定した。まず、No.23〜33の各試験材から切り出した板材のオス試験片6を水平な台7に固定し、その上にNo.20(実施例1)の試験材から切り出した半球加工材(内径をφ1.5mmとした)のメス試験片8を置いて表面同士を接触させた。続いて、メス試験片8に3.0Nの荷重(錘9)をかけてオス試験片6を押さえ、横型荷重測定器(アイコーエンジニアリング株式会社;Model−2152)を用いて、オス試験片6を水平方向に引っ張り(摺動速度を80mm/minとした)、摺動距離5mmまでの最大摩擦力F(単位:N)を測定した。摩擦係数を下記式(1)により求めた。なお、10はロードセル、矢印は摺動方向であり、摺動方向は圧延方向に垂直な向きとした。
摩擦係数=F/3.0 ・・・(1)
表面被覆層の構成及び各層の平均厚さ、並びにε相の厚さ比率が本発明の規定を満たすNo.23〜31は、高温長時間加熱後の接触抵抗が1.0mΩ以下と低い値に維持されている。このうち、ε相長さ比率が本発明の規定を満たすNo.23〜30は耐熱剥離性にも優れる。また、表面被覆層のCu−Sn合金層の表面露出率が本発明の規定を満たすNo.23〜28,31は、Cu−Sn合金層の表面露出率が2%のNo.29やゼロのNo.30と比べて摩擦係数が低い。ただし、表面被覆層の算術平均粗さRaが0.15μmに満たないNo.28は、表面被覆層の各層の厚さがほぼ同等で表面被覆層の算術平均粗さRaが大きいNo.23〜25,27,31に比べると摩擦係数が高い。
また、[実施例1]と同様に、No.23〜33の各供試材のNi層とCu−Sn合金層の界面を観察したところ、高温長時間加熱後に剥離が発生しなかった供試材では、前記界面にボイドが形成されていなかったが、剥離が発生した供試材ではボイドが多く形成され、これらのボイドがつながることにより剥離が発生したことが確認された。
なお、めっき前に測定した母材の引張り強さは530MPa、伸び12%(以上 圧延平行方向)、硬さHv=156、導電率=66%IACSで、圧延平行方向、直角方向ともR/t=1のW曲げで割れが発生しなかった。
No.34〜40は、母材表面の算術平均粗さRaがいずれも0.15μm未満であり、Sn層の厚さが0.15〜0.4μmの範囲内であったが、Cu−Sn合金層が表面被覆層の表面に線状に露出していた。表面被覆層の算術平均粗さRaは0.03μm以上、0.15μmの範囲内であった。
表面被覆層の構成及び各層の平均厚さ、並びにε相の厚さ比率が本発明の規定を満たすNo.34〜39は、高温長時間加熱後の接触抵抗が1.0mΩ以下と低い値に維持されている。また、No.34〜39はCu−Sn合金層の表面露出率が本発明の規定を満たし、Cu−Sn合金層の表面露出率がゼロのNo.30(実施例2)に比べると摩擦係数が小さく、特に圧延直角方向の摩擦係数が小さくなっている。このうち、ε相長さ比率が本発明の規定を満たすNo.34〜38は耐熱剥離性にも優れる。
なお、[実施例1]と同様に、No.34〜40の各供試材のNi層とCu−Sn合金層の界面を観察したところ、高温長時間加熱後に剥離が発生しなかった供試材では、前記界面にボイドが形成されていなかったが、剥離が発生した供試材ではボイドが多く形成され、これらのボイドがつながることにより剥離が発生したことが確認された。
2 表面めっき層
3 Ni層
4 Cu−Sn合金層
4a ε相
4b η相
5 Sn層
Claims (7)
- 銅合金板条からなる母材表面に、Ni層、Cu−Sn合金層及びSn層からなる表面被覆層がこの順に形成され、前記Ni層の平均厚さが0.1〜3.0μm、前記Cu−Sn合金層の平均厚さが0.2〜3.0μm、前記Sn層の平均厚さが0.01〜5.0μmであり、かつ前記Cu−Sn合金層がε相とη相からなり、前記ε相が前記Ni層とη相の間に存在し、前記Cu−Sn合金層の平均厚さに対する前記ε相の平均厚さの比率が20%以下であり、さらに前記表面被覆層の断面において、前記Ni層の長さに対する前記ε相の長さの比率が50%以下であることを特徴とする耐熱性に優れる表面被覆層付き銅合金板条。
- 前記表面被覆層の最表面に前記Cu−Sn合金層の一部が露出し、その表面露出面積率が3〜75%であることを特徴とする請求項1に記載された耐熱性に優れる表面被覆層付き銅合金板条。
- 前記表面被覆層の表面粗さが、少なくとも一方向における算術平均粗さRaが0.15μm以上で、かつ全ての方向における算術平均粗さRaが3.0μm以下であることを特徴とする請求項2に記載された表面被覆層付き銅合金板条。
- 前記表面被覆層の表面粗さが、全ての方向において算術平均粗さが0.15μm未満であることを特徴とする請求項2に記載された表面被覆層付き銅合金板条。
- 前記Ni層の代わりにCo層又はFe層が形成され、前記Co層又はFe層の平均厚さが0.1〜3.0μmであることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載された耐熱性に優れる表面被覆層付き銅合金板条。
- 前記母材表面とNi層の間、又は前記Ni層とCu−Sn合金層の間にCo層又はFe層が形成され、Ni層とCo層又はNi層とFe層の合計の平均厚さが0.1〜3.0μmであることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載された耐熱性に優れる表面被覆層付き銅合金板条。
- 前記表面被覆層付き銅合金板条を大気中160℃×1000時間加熱した場合に、材料表面において、最表面から15nmより深い位置にCu2Oが存在しないことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載された耐熱性に優れる表面被覆層付き銅合金板条。
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