JP6067198B1 - 半導体集積回路、センサ読取装置及びセンサ読取方法 - Google Patents
半導体集積回路、センサ読取装置及びセンサ読取方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6067198B1 JP6067198B1 JP2016560027A JP2016560027A JP6067198B1 JP 6067198 B1 JP6067198 B1 JP 6067198B1 JP 2016560027 A JP2016560027 A JP 2016560027A JP 2016560027 A JP2016560027 A JP 2016560027A JP 6067198 B1 JP6067198 B1 JP 6067198B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- amplifier
- output
- sensor
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 13
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 238000003491 array Methods 0.000 description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/02—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation
- H03F1/0205—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation in transistor amplifiers
- H03F1/0211—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation in transistor amplifiers with control of the supply voltage or current
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0023—Electronic aspects, e.g. circuits for stimulation, evaluation, control; Treating the measured signals; calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/02—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation
- H03F1/0205—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation in transistor amplifiers
- H03F1/0277—Selecting one or more amplifiers from a plurality of amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/45475—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/72—Gated amplifiers, i.e. amplifiers which are rendered operative or inoperative by means of a control signal
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G1/00—Details of arrangements for controlling amplification
- H03G1/0005—Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal
- H03G1/0088—Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal using discontinuously variable devices, e.g. switch-operated
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G3/00—Gain control in amplifiers or frequency changers
- H03G3/20—Automatic control
- H03G3/30—Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G5/00—Tone control or bandwidth control in amplifiers
- H03G5/02—Manually-operated control
- H03G5/04—Manually-operated control in untuned amplifiers
- H03G5/10—Manually-operated control in untuned amplifiers having semiconductor devices
- H03G5/12—Manually-operated control in untuned amplifiers having semiconductor devices incorporating negative feedback
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G5/00—Tone control or bandwidth control in amplifiers
- H03G5/02—Manually-operated control
- H03G5/14—Manually-operated control in frequency-selective amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/414—A switch being coupled in the output circuit of an amplifier to switch the output on/off
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/417—A switch coupled in the output circuit of an amplifier being controlled by a circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/421—Multiple switches coupled in the output circuit of an amplifier are controlled by a circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45138—Two or more differential amplifiers in IC-block form are combined, e.g. measuring amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45276—An op amp as stage being coupled to the output of a dif amp
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45526—Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising a resistor-capacitor combination and being coupled between the LC and the IC
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45686—Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising one or more potentiometers, which are not shunting potentiometers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45701—Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising one resistor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
Abstract
Description
さらに、第2スイッチが導通している時に、複数の第1増幅器の出力信号を1つずつ順次出力するように第1スイッチの切り替えを行い、第2スイッチが遮断している時に、複数の第1増幅器のうち少なくとも1つ以上の第1増幅器に対してバイアス電流及び利得を第2スイッチが導通している時の第1設定値より低い第2設定値にする制御を行う制御回路と、を備える。
本発明の実施の形態1に係るセンサ読取装置1の構成を図1に示す。センサ読取装置1は、図1に示すように、複数のセンサ素子を一列に並べたセンサアレイ11,21,31,41と、各センサ素子から出力されるセンサ信号を増幅して出力する機能を有するIC(Integrated Circuit:半導体集積回路)チップ10,20,30,40とを備える。ICチップ10,20,30,40は、外部から供給されるクロック信号に同期し、かつトリガ信号に対し予め定めた遅延時間経過後に、各センサアレイから入力されるセンサ信号を増幅したセンサ増幅信号を順次選択し出力する。
となる。
本発明の実施の形態2におけるセンサ読取装置1の構成及びICチップ10,20,30,40の内部構成は、実施の形態1の構成と同様である。データ出力のタイミング等のセンサ読取装置1の動作の流れが、実施の形態1と異なるため、これらについて図7,8を用いて詳細に説明する。図7は、本実施の形態に係るセンサ読取装置1の動作シーケンスであり、図8はICチップ10のタイミングチャートである。
本発明の実施の形態3におけるセンサ読取装置1の構成は、実施の形態1の構成と同様である。また、データ出力のタイミング等のセンサ読取装置1の動作シーケンスは、実施の形態1,2と同様である。実施の形態1,2のICチップ10,20,30,40に備えられるチャネルアンプ111に代えて図9に示すようなチャネルアンプ311を備えている。図9はチャネルアンプ311の回路構成を示す図である。
本発明の実施の形態4におけるセンサ読取装置1の構成は、実施の形態1の構成と同様である。実施の形態1〜3のICチップ10,20,30,40に代えて図10に示すようなICチップ50を備えている。図10はICチップ50の内部構成を示す図である。また、図11は、ICチップ50のタイミングチャートである。
Claims (14)
- 複数のセンサ素子から入力されるセンサ信号をそれぞれ増幅する複数の第1増幅器と、
複数の前記第1増幅器の出力に接続され、導通又は遮断の切り替えをそれぞれ行う複数の第1スイッチと、
前記第1スイッチを介して前記第1増幅器から出力されるセンサ増幅信号を、外部出力端子に対して導通又は遮断の切り替えを行う第2スイッチと、
前記第2スイッチが導通している時に、複数の前記第1増幅器から出力される前記センサ増幅信号を1つずつ順次出力するように前記第1スイッチの切り替えを行い、前記第2スイッチが遮断している時に、複数の前記第1増幅器のうち少なくとも1つ以上の前記第1増幅器に対してバイアス電流及び利得を前記第2スイッチが導通している時の第1設定値より低い第2設定値にする制御を行う制御回路と、
を備える半導体集積回路。 - 前記制御回路は、前記第2スイッチを遮断から導通に切り替える時より予め定めた時間だけ前のタイミングで、前記第1増幅器に対して、前記第2設定値に低減していたバイアス電流及び利得を増加させて前記第1設定値にする制御を行う、
請求項1に記載の半導体集積回路。 - 前記制御回路は、各々の前記第1スイッチを遮断から導通に切り替える時より予め定めた時間だけ前のタイミングで、当該第1スイッチに接続されている前記第1増幅器に対して、前記第2設定値に低減していたバイアス電流及び利得を増加させて前記第1設定値にする制御を行う、
請求項1に記載の半導体集積回路。 - 前記制御回路は、前記第1増幅器がバイアス電流及び利得を前記第2設定値に低減させているとき、当該第1増幅器のカットオフ周波数を上げる、
請求項1から3のいずれか1項に記載の半導体集積回路。 - 前記第1スイッチを介して出力される、複数の前記第1増幅器のいずれか1つの前記センサ増幅信号を増幅する第2増幅器を更に備え、
前記第2スイッチは、前記第2増幅器の出力に接続され、外部出力端子に対して導通又は遮断の切り替えを行い、
前記制御回路は、前記第2スイッチが遮断している時の前記第2増幅器のバイアス電流及び利得を前記第2スイッチが導通している時の第3設定値より低い第4設定値にする制御を行う、
請求項1から4のいずれか1項に記載の半導体集積回路。 - 前記制御回路は、前記第2増幅器がバイアス電流及び利得を前記第4設定値に低減させているとき、当該第2増幅器のカットオフ周波数を上げる、
請求項5に記載の半導体集積回路。 - 前記第1増幅器は、第1オペアンプと、第2オペアンプと、前記第1オペアンプの第1出力端子と前記第2オペアンプの第2反転入力端子との間に挿入される第1抵抗と、を備え、
前記第1オペアンプは、前記センサ素子が出力する信号が第1非反転入力端子に入力され、前記第1出力端子と第1反転入力端子が短絡されており、
前記第2オペアンプは、第1電圧源が第2非反転入力端子に接続され、前記第2反転入力端子と第2出力端子との間に第2抵抗が挿入され、第1コンデンサが前記第2抵抗と並列に接続され、第3抵抗と第3スイッチとが直列接続されたものが前記第2の抵抗と並列に接続されており、
前記第3スイッチを導通させることにより、前記第1増幅器の利得を前記第2設定値に低減させる、
請求項1から6のいずれか1項に記載の半導体集積回路。 - 前記第1増幅器は、前記センサ素子が出力する信号が反転入力端子に入力され、第1電圧源が非反転入力端子に接続され、前記反転入力端子と出力端子との間に第2抵抗が挿入され、第1コンデンサが前記第2抵抗と並列に接続され、第3抵抗と第3スイッチとが直列接続されたものが前記第2の抵抗と並列に接続された第2オペアンプを備え、
前記第3スイッチを導通させることにより、前記第1増幅器の利得を前記第2設定値に低減させる、
請求項1から6のいずれか1項に記載の半導体集積回路。 - 前記第1増幅器は、第1オペアンプと、第2オペアンプと、前記第1オペアンプの第1出力端子と前記第2オペアンプの第2反転入力端子との間に挿入される第1抵抗と、を備え、
前記第1オペアンプは、前記センサ素子が出力する信号が第1非反転入力端子に入力され、前記第1出力端子と第1反転入力端子が短絡されており、
前記第2オペアンプは、第1電圧源が第2非反転入力端子に接続され、前記第2反転入力端子と第2出力端子との間に第2抵抗が挿入され、第3抵抗と第3スイッチとが直列接続されたものが前記第2抵抗と並列に接続され、第1コンデンサと第4スイッチが直列接続されたものが前記第2抵抗と並列に接続されており、
前記第3スイッチを導通させることにより、前記第1増幅器の利得を前記第2設定値に低減させ、
前記第1増幅器がバイアス電流及び利得を前記第2設定値に低減させているとき、前記第4スイッチを遮断させることにより、当該第1増幅器のカットオフ周波数を上げる、
請求項4に記載の半導体集積回路。 - 前記第1増幅器は、前記センサ素子が出力する信号が反転入力端子に入力され、第1電圧源が非反転入力端子に接続され、反転入力端子と出力端子との間に第2抵抗が挿入され、第3抵抗と第3スイッチとが直列接続されたものが前記第2抵抗と並列に接続され、第1コンデンサと第4スイッチが直列接続されたものが前記第2抵抗と並列に接続された第2オペアンプを備え、
前記第3スイッチを導通させることにより、前記第1増幅器の利得を前記第2設定値に低減させ、
前記第1増幅器がバイアス電流及び利得を前記第2設定値に低減させているとき、前記第4のスイッチを遮断させることにより、当該第1増幅器のカットオフ周波数を上げる、
請求項4に記載の半導体集積回路。 - 複数のセンサ素子からなるセンサアレイと、前記センサアレイに含まれる前記センサ素子から出力されるセンサ信号を増幅したセンサ増幅信号を順次出力する請求項1から10のいずれか1項に記載の半導体集積回路と、をそれぞれ2以上備えたセンサ読取装置。
- 第1の前記半導体集積回路は、第1トリガ信号が入力された以降のクロック信号のタイミングで前記第2スイッチを導通し、前記第1スイッチを切り替えて前記センサ増幅信号を順次出力し、前記センサ増幅信号を出力し終わった時に、第2トリガ信号を第2の前記半導体集積回路に出力し、
第2の前記半導体集積回路は、前記第2トリガ信号が入力された以降の前記クロック信号のタイミングで前記第2スイッチを導通し、前記第1スイッチを切り替えて前記センサ増幅信号を順次出力する、
請求項11に記載のセンサ読取装置。 - 前記半導体集積回路の制御回路は、トリガ信号が入力されたタイミングで、前記第2設定値に低減させていた前記第1増幅器のバイアス電流及び利得を前記第1設定値に増加させ、前記トリガ信号が入力された以降のクロック数が予め定めた回数以上となるタイミングから、前記第2スイッチを導通させ、前記第1スイッチを順次導通させて、前記センサ増幅信号を出力する、
請求項11に記載のセンサ読取装置。 - 複数のセンサ素子から入力されるセンサ信号を複数の増幅器で増幅する増幅ステップと、
前記増幅ステップで増幅したセンサ増幅信号を各前記増幅器に接続した複数の第1スイッチで導通又は遮断を切り替えて、前記センサ増幅信号を順次出力する信号切替ステップと、
前記第1スイッチを介して出力される前記センサ増幅信号を、第2スイッチで外部出力端子に対して導通又は遮断の切り替えを行う出力切り替えステップと、
前記出力切り替えステップで前記外部出力端子に対して遮断している時には、複数の前記増幅器のうち少なくとも1つ以上の前記増幅器のバイアス電流及び利得を前記外部出力端子に対して導通している時の第1設定値より低い第2設定値にする増幅器設定変更ステップと、
を有するセンサ読取方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/062889 WO2017187474A1 (ja) | 2016-04-25 | 2016-04-25 | 半導体集積回路、センサ読取装置及びセンサ読取方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6067198B1 true JP6067198B1 (ja) | 2017-01-25 |
JPWO2017187474A1 JPWO2017187474A1 (ja) | 2018-05-24 |
Family
ID=57890440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016560027A Active JP6067198B1 (ja) | 2016-04-25 | 2016-04-25 | 半導体集積回路、センサ読取装置及びセンサ読取方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10141889B2 (ja) |
JP (1) | JP6067198B1 (ja) |
CN (1) | CN109075753B (ja) |
DE (1) | DE112016006788B4 (ja) |
WO (1) | WO2017187474A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020509649A (ja) * | 2017-03-14 | 2020-03-26 | ホアウェイ・テクノロジーズ・カンパニー・リミテッド | 線形バーストモードトランスインピーダンス増幅器における閉ループ自動利得制御 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11614542B1 (en) * | 2017-08-11 | 2023-03-28 | Zoox, Inc. | Lidar photosensor amplification circuit |
US11277101B2 (en) * | 2020-03-06 | 2022-03-15 | Analog Devices International Unlimited Company | Current-to-voltage signal converter |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59154511A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-03 | Makome Kenkyusho:Kk | マルチ磁気センサ−及びこれを用いた台車誘導装置 |
JPH11296245A (ja) * | 1998-04-14 | 1999-10-29 | Nec Corp | 半導体回路 |
JP2002124842A (ja) * | 2000-10-13 | 2002-04-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 可変利得増幅器 |
JP2004201044A (ja) * | 2002-12-19 | 2004-07-15 | Sony Ericsson Mobilecommunications Japan Inc | 携帯通信端末装置及び利得可変回路 |
US7403065B1 (en) * | 2006-08-22 | 2008-07-22 | Sandia Corporation | Differential transimpedance amplifier circuit for correlated differential amplification |
JP2013038764A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 信号処理装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5869999A (en) * | 1996-04-17 | 1999-02-09 | Mitutoyo Corporation | Open loop pre-amplifier for an electronic measuring system |
US5982232A (en) * | 1998-04-01 | 1999-11-09 | International Business Machines Corporation | Low noise, bandwidth compensated transimpedance amplifier |
JP3628636B2 (ja) * | 2001-07-30 | 2005-03-16 | シャープ株式会社 | スイッチトキャパシタ回路 |
US6791378B2 (en) * | 2002-08-19 | 2004-09-14 | Micron Technology, Inc. | Charge recycling amplifier for a high dynamic range CMOS imager |
KR20050032369A (ko) * | 2003-10-01 | 2005-04-07 | 삼성전기주식회사 | 이득 스위칭 회로를 채용한 pdic용 전류 전압 변환 회로 |
CN100579451C (zh) * | 2006-04-21 | 2010-01-13 | 佳能株式会社 | 成像装置、放射线成像装置和放射线成像系统 |
WO2008035480A1 (fr) * | 2006-09-20 | 2008-03-27 | Panasonic Corporation | Amplificateur à faible bruit et système de communication sans fil |
JP5017032B2 (ja) * | 2007-09-14 | 2012-09-05 | パナソニック株式会社 | 電圧発生回路 |
FR2943178B1 (fr) * | 2009-03-13 | 2011-08-26 | New Imaging Technologies Sas | Capteur matriciel a faible consommation |
CN101534097B (zh) * | 2009-04-16 | 2011-08-31 | 浙江大学 | 寄生效应不敏感、低功耗的小增益开关电容反相积分器 |
JP2011091572A (ja) * | 2009-10-21 | 2011-05-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 可変利得増幅回路 |
JP6324524B2 (ja) | 2014-09-29 | 2018-05-16 | 三菱電機株式会社 | スイッチ制御回路 |
-
2016
- 2016-04-25 CN CN201680084693.4A patent/CN109075753B/zh active Active
- 2016-04-25 DE DE112016006788.7T patent/DE112016006788B4/de active Active
- 2016-04-25 WO PCT/JP2016/062889 patent/WO2017187474A1/ja active Application Filing
- 2016-04-25 JP JP2016560027A patent/JP6067198B1/ja active Active
- 2016-04-25 US US15/537,571 patent/US10141889B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59154511A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-03 | Makome Kenkyusho:Kk | マルチ磁気センサ−及びこれを用いた台車誘導装置 |
JPH11296245A (ja) * | 1998-04-14 | 1999-10-29 | Nec Corp | 半導体回路 |
JP2002124842A (ja) * | 2000-10-13 | 2002-04-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 可変利得増幅器 |
JP2004201044A (ja) * | 2002-12-19 | 2004-07-15 | Sony Ericsson Mobilecommunications Japan Inc | 携帯通信端末装置及び利得可変回路 |
US7403065B1 (en) * | 2006-08-22 | 2008-07-22 | Sandia Corporation | Differential transimpedance amplifier circuit for correlated differential amplification |
JP2013038764A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 信号処理装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020509649A (ja) * | 2017-03-14 | 2020-03-26 | ホアウェイ・テクノロジーズ・カンパニー・リミテッド | 線形バーストモードトランスインピーダンス増幅器における閉ループ自動利得制御 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN109075753A (zh) | 2018-12-21 |
JPWO2017187474A1 (ja) | 2018-05-24 |
US20180198413A1 (en) | 2018-07-12 |
WO2017187474A1 (ja) | 2017-11-02 |
US10141889B2 (en) | 2018-11-27 |
DE112016006788B4 (de) | 2023-12-21 |
CN109075753B (zh) | 2022-04-15 |
DE112016006788T5 (de) | 2019-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9794669B2 (en) | Devices and methods for headphone speaker impedance detection | |
JP6683407B2 (ja) | ディスプレイパネル及びそのアレイ基板行駆動回路の過電流保護回路 | |
GB2585455A (en) | Class-D amplifier with multiple independent output stages | |
RU2553086C1 (ru) | Усилитель и устройство обработки сигналов | |
JP6067198B1 (ja) | 半導体集積回路、センサ読取装置及びセンサ読取方法 | |
CN108694962B (zh) | 放大器及使用其的半导体装置 | |
JP2006345481A (ja) | 増幅装置、および光ディスクドライブ装置 | |
US8711024B2 (en) | Switched capacitor amplifier | |
CN113765489B (zh) | 具有多个输入偏移的跟踪的斩波放大器 | |
CN109714010B (zh) | 电容耦合式斩波仪表放大器以及相关联的方法 | |
JP6899686B2 (ja) | 差動増幅装置 | |
JP2003163843A (ja) | 画像読取信号処理装置 | |
US7161419B2 (en) | Sensor device and a signal amplification device of a small detection signal provided by the sensor | |
US10555269B2 (en) | Amplifier circuit having controllable output stage | |
JP6580718B2 (ja) | バイアス電流回路、信号処理装置及びバイアス電流制御方法 | |
JP2007159020A (ja) | 電流電圧変換回路 | |
US20140144229A1 (en) | Signal Processing Device and Amplifier | |
JP2007294028A (ja) | テスト回路およびテスト方法 | |
TWI545890B (zh) | 電子裝置與其比較器 | |
KR102644012B1 (ko) | 출력 범위 제어 기능을 가지는 증폭기 및 그를 이용한 다단 증폭 장치 | |
US20100283541A1 (en) | Signal level detector with hysteresis characteristic | |
KR20180004530A (ko) | 램프신호 생성기를 구비한 씨모스 이미지 센서 | |
JPWO2019049320A1 (ja) | 信号出力装置 | |
JP2008147869A (ja) | 半導体増幅回路 | |
JP2004299111A (ja) | 光ビーム検出装置およびそれを備えた印刷装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20161117 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161122 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6067198 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |