JP6030980B2 - 研磨装置温度制御システム、及び研磨装置 - Google Patents
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とができる。
Polishing)研磨装置に対して用いられる研磨装置温度制御システムを説明するが、これには限られない。
な第1のスラリーライン120と、研磨パッド108のコンディショニング(目立て)を行うドレッサーディスク122を有するドレッサーユニット124と、を備える。
第1実施形態の研磨装置温度制御システムの概略について説明する。図2は、第1実施形態の研磨装置温度制御システムの概略構成を示す図である。図2に示すように、研磨装置温度制御システム200は、基板102を研磨する研磨パッド108上に設けられ、研磨パッド108と熱交換を行う熱交換器210と、熱交換器210で用いられる熱媒の温度を制御する温度制御器220とを備える。また、研磨装置温度制御システム200は、温度制御器220によって温度が制御された熱媒を熱交換器210の熱媒入口へ供給するポンプ230と、熱交換器210の熱媒出口から流出した熱媒を貯蔵するバッファ容器240とを備える。バッファ容器240に貯蔵された熱媒は、バッファ容器240に形成された接続口242を介して、ポンプ230に吸引される。なお、本実施形態では、温度制御器220とポンプ230とが、温度調整装置250内に収容される例を示したが、これには限られない。
化された熱交換器210であっても、熱交換器210に破損・変形が生じるのを抑制することができる。また、バッファ容器240に貯蔵した熱媒を、ポンプ230へ循環して再利用するので、昇温された熱媒のエネルギを有効活用し、かつ、熱交換器210へ供給する熱媒の温度を所望の温度に安定化させ易くなる。
され、熱媒の温度が所定の温度に昇温されたら「閉」に制御される。
供給温度)を示しており、グラフ520は、熱交換器210の熱媒出口214における熱媒温度(戻り温度)を示している。図6に示すように、熱媒の供給開始から約5(sec)程度経過すると、供給温度は約80℃付近を保っている。
次に、第2実施形態の研磨装置温度制御システムについて説明する。図7は、第2実施形態の研磨装置温度制御システムの概略構成を示す図である。第2実施形態は、第1実施形態と比べて、熱媒をバッファ容器240から熱交換器210へ供給する点が異なる。その他の構成については第1実施形態と同様であるので、説明を省略する。
102 基板
108 研磨パッド
110 研磨テーブル
200,300 研磨装置温度制御システム
210 熱交換器
212 熱媒入口
214 熱媒出口
220 温度制御器
230 ポンプ
240 バッファ容器
242 接続口
250 温度調整装置
Claims (6)
- 基板を研磨する研磨パッド上に設けられ、前記研磨パッドと熱交換を行う熱交換器と、
前記熱交換器で用いられる熱媒の温度を制御する温度制御器と、
前記温度制御器によって温度が制御された熱媒を前記熱交換器の熱媒入口へ供給するポンプと、
大気圧以下の圧力に保たれており前記熱交換器の熱媒出口から流出した熱媒を貯蔵するバッファ容器と、
を備えることを特徴とする研磨装置温度制御システム。 - 請求項1の研磨装置温度制御システムにおいて、
前記バッファ容器は、大気圧に開放された容器である、
ことを特徴とする研磨装置温度制御システム。 - 請求項1又は2の研磨装置温度制御システムにおいて、
前記バッファ容器は、前記ポンプの熱媒吸入口に接続される接続口を有する、
ことを特徴とする研磨装置温度制御システム。 - 請求項3の研磨装置温度制御システムにおいて、
前記ポンプは、前記接続口を介して前記バッファ容器に貯蔵された熱媒を吸引し、該吸引した熱媒を前記温度制御器との間で循環し、該循環によって前記温度制御器で温度が制御された熱媒を前記熱交換器の熱媒入口へ吐出するポンプである、
ことを特徴とする研磨装置温度制御システム。 - 請求項3の研磨装置温度制御システムにおいて、
前記ポンプは、前記接続口を介して前記バッファ容器に貯蔵された熱媒を吸引し、該吸引した熱媒を前記温度制御器によって温度制御し、該温度制御された熱媒を前記バッファ容器へ吐出する第1のポンプと、
前記バッファ容器に貯蔵された熱媒を前記熱交換器の熱媒入口へ供給する第2のポンプと、
を有する、
ことを特徴とする研磨装置温度制御システム。 - 請求項1〜5のいずれか1項の研磨装置温度制御システムと、前記研磨パッドが設置される研磨テーブルと、前記基板を保持する基板保持部と、
を備えることを特徴とする研磨装置。
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JP2013063623A JP6030980B2 (ja) | 2013-03-26 | 2013-03-26 | 研磨装置温度制御システム、及び研磨装置 |
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