JP6012958B2 - 電気検証装置、電気検証方法、プログラムおよびコンピューター読み取り可能な記録媒体 - Google Patents

Description

本発明は、電気検証装置、電気検証方法、プログラムおよびコンピューター読み取り可能な記録媒体に関し、さらに詳細には、設計段階でシミュレーションにより電子機器の電気検証を行うことが可能な電気検証装置、電気検証方法、プログラムおよびコンピューター読み取り可能な記録媒体に関する。

なお、本明細書において「電気検証」とは、安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍａｇｎｅｔ Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ：電磁両立性）検証を総称するものとする。

ここで、本発明における安全規格検証とは、導体部品間の沿面距離および空間距離が、例えば、ＩＥＣ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｅｌｅｃｔｒｏｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｃｏｍｍｉｓｓｉｏｎ：国際電気標準会議）で定めた規格であるＩＥＣ６０９５０、６１０１０、６０６０１などの安全規格に適応しているか否かを検証するものである。こうした安全規格としては、上記のほか、ＩＥＣ規格とほぼ同様の規格となっているＵＬ（Ｕｎｄｅｒｗｒｉｔｅｒｓ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｉｅｓ：米国保険業者安全試験所）で定められた規格やＥＮ（Ｅｕｒｏｐｅａｎ Ｎｏｒｍ）規格（欧州統一規格）などが挙げられる。

なお、本明細書における電子部品とは、ＩＣ、抵抗、コンデンサなどを示し、金属部品とは、ビア、バネ、ネジ、配線、電子基板ならびに筐体のグラウンド、配線、電子基板に実装された電子部品の金属部分などを示すものとし、電子部品と金属部品とを総称して「導体部品」と適宜に称することとする。

また、本発明における静電気検証とは、試作用の電子機器に対して放電ガンを用いて静電気を発生させた際に、実際に電子部品に静電気が落ちたか否かを検証したり（以下、「電子部品に静電気が落ちたか否かを検証すること」を「放電検証」と適宜に称することとする。）、電源を入れた状態の試作用の電子機器に対して放電ガンを用いて筐体内部の所定の金属部品に静電気を発生させ、その際に電子機器内の電子基板上に実装された電子部品などに影響が及ぼされるか否かを検証するものである。

さらに、本発明におけるＥＭＣ検証とは、異種のグラウンド（以下、「グラウンド」を「ＧＮＤ」と適宜に称する。）が分離されており、かつ、同種のＧＮＤ内では正しく導通されているか否かを検証するものである。

従来より、電子機器は、製品化される際に、感電や火災、誤作動などの事故を防止するために、国や公的機関あるいはメーカーなどによる安全規格への準拠、静電気対策、ＥＭＣ対策などが施されている。

ここで、安全規格の準拠において利用される安全規格（ＩＥＣ規格、ＵＬ規格またはＥＮ規格などである。）においては、導体部品間の電圧差によって生じる当該導体部品間における放電発生を回避するため、それぞれ電圧差に応じた沿面距離および空間距離が定められている。

このため、安全規格への準拠としては、こうした安全規格に基づいて安全規格を満たしているか否かを検証する安全規格検証を行うようにしている。

即ち、従来の安全規格検証においては、導体部品間の電圧差に基づいて当該導体部品間において安全規格に規定された規定距離以上の距離が保たれているか否かを検証するために、作業者がノギスなどを用いて当該導体部品間の沿面距離および空間距離を測定し、測定した沿面距離および空間距離がそれぞれ、安全規格に規定された沿面距離および空間距離の規定距離より大きいか否かを判定するようにしていた。

そして、測定した沿面距離および空間距離の少なくともいずれか一方でも、安全規格に規定された沿面距離または空間距離より小さい場合には、安全規格に規定された距離より小さいと判断された電気部品間の距離が安全規格に規定された距離以上になるように、電子基板の設計を変更するようにしていた。

また、従来の静電気対策としては、試作用の電子機器に対して放電ガンを用いて筐体外部より静電気をピンポイントで発生させ、実際に電子部品に静電気が落ちたか否かを目視にて検証する放電検証を行うようにしている（図１（ａ）を参照する。）。この放電検証は、放電ガンから筐体部分に静電気が落ちると火花が生じるので、その火花がどこで発生したかを作業者が目視にて確認するものである。

そして、放電ガンから電子部品に放電されたとき（つまり、電子部品において火花が発生したことを作業者が目視にて確認した場合である。）には、その電子部品が静電気に弱い部品であるのか強い部品であるのかを判断し、静電気に強い電子部品へ放電された場合には、静電気対策ができているとされ、静電気に弱い電子部品への放電された場合には、静電気対策ができていないとされていた。

このとき、静電気対策ができていないと判断された場合には、放電ガンから電子部品への放電経路に金属板などを配置したり、当該電子部品の配置位置を変更するなどの対策を行っていた。なお、放電された電子部品の配置位置の修正をするなどの処理を行うため、その移動距離を計算して、メーカー独自の基準距離を満たしているかを、作業者がノギスを用いて測定していた。

さらに、放電ガンから金属部品に放電された場合にも、静電気対策ができているとしていた。

その後、静電気対策ができていないと判断された場合には、静電気が落ちたとされる電子部品の配置位置を変更するなどの電子基板の設計を変更するようにしていた。

ここで、製品化された電子機器においては、筐体内部の金属部品に静電気が落ちた場合を想定し、当該金属部品と導通状態にある電子基板のＧＮＤ内を伝導した後、最終的に筐体のＧＮＤまで流れ落ちるように設計されている。

こうした電子基板のＧＮＤには、様々な電子部品が導通されているため、電子基板のＧＮＤ内を流れる静電気の経路上に電子部品が存在していた場合、静電気がその電子部品に影響を及ぼし、電子機器が誤作動を起こす可能性がある。

そこで、従来の静電気対策として、電源を入れた状態の試作用の電子機器に対して、放電ガンを用いて、筐体内部の所定の金属部品に静電気を発生させ、当該電子機器が誤作動を起こさないかを検証していた。

放電ガンにより筐体内部の所定の金属部品に静電気を発生させると、発生した静電気は金属部品を介して電子基板のＧＮＤ内を伝導した後、筐体のＧＮＤに流れ落ちる（図１（ｂ）を参照する。）。

具体的には、この図１（ｂ）においては、放電ガンよりコネクタに静電気を発生させると、電子基板のＧＮＤ内を伝導した静電気は、ネジを介して筐体のＧＮＤに流れ落ちている。

図１（ｂ）においては、放電ガンによる静電気発生箇所（コネクタ）からネジを介して筐体のＧＮＤまでの静電気の伝導経路が表示されているが、実際の試作用の電子機器を用いた静電気検証においては、こうした伝導経路を目視することはできない。

従って、従来は、放電ガンにより試作用の電子機器に静電気を発生させた後に、当該電子機器を作動させ、その際に当該電子機器が正常に作動しなかった場合には、静電気対策ができていないとしていた。一方、当該電子機器が正常に作動した場合には、静電気対策ができているとしていた。

その後、静電気対策ができていないとされた場合には、静電気の伝導経路を考慮して基板および筐体設計を変更するようにしていた。

また、従来のＥＭＣ対策としては、電子基板において、電子基板からの放射ノイズを抑制するために、電子基板のアナログ回路に導通するＧＮＤとデジタル回路に導通するＧＮＤとを分離するとともに、アナログ回路に導通するＧＮＤおよびデジタル回路に導通するＧＮＤ内では、正しく導通されているか否かを目視にて検証するＥＭＣ検証を行うようにしている。

ここで、図２には、電子基板におけるアナログ回路に導通するＧＮＤ１００とデジタル回路に導通するＧＮＤ１０２とを表す説明図が示されている。

この図２においては、デジタル回路に導通するＧＮＤ１０２は、ＧＮＤ１０２−１とＧＮＤ１０２−２とがネジにより接続されて、導通された状態である。

こうした電子基板における従来のＥＭＣ検証としては、作業者は、ＧＮＤ１０２−１とＧＮＤ１０２−２とが正しく導通されているかをテスターを使用して目視にて確認するとともに、テスターを用いてＧＮＤ１００とＧＮＤ１０２とが導通されていないことを目視にて確認するようにしていた。

そして、ＧＮＤ１００とＧＮＤ１０２とが導通状態になく、かつ、ＧＮＤ１０２−１とＧＮＤ１０２−２とが導通状態であることが確認された場合には、ＥＭＣ対策ができているとしていた。一方、ＧＮＤ１００とＧＮＤ１０２とが導通状態であったり、あるいは、ＧＮＤ１０２−１とＧＮＤ１０２−２とが導通状態にないことが確認された場合には、ＥＭＣ対策ができていないとしていた。

その後、ＥＭＣ対策ができていないとされた場合には、ＧＮＤ１００とＧＮＤ１０２とが導通状態になく、かつ、ＧＮＤ１０２−１とＧＮＤ１０２−２とが導通状態となるように、電子基板の設計を変更するようにしていた。

このように、上記した従来の安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ検証においては、作業者が試作用の電子機器を用いて、作業者自身による距離の測定や目視による確認などを行って検証作業を行っていた。

このため、従来の安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ検証においては、多大な検証時間と検証費用および検証のための労力が必要となるとともに、検証漏れなどの人為的なミスが生じることが問題点として指摘されていた。

即ち、安全規格検証における空間距離および沿面距離の測定では、試作用の電子基板上でノギスを用いて作業者により測定されていたため、空間距離または沿面距離を測定する対象部品間において絶縁体などが存在する場合には、測定作業が煩雑あるいは困難となり、絶縁体などの存在を無視して空間距離や沿面距離を測定したり、あるいは、絶縁体などを目測によりおおまかに測定して空間距離や沿面距離を測定していた。

例えば、図３（ａ）に示すように、導体部品Ａと導体部品Ｂとの空間距離については、絶縁体Ａの存在を無視して、導体部品Ａと導体部品Ｂとの間の直線距離Ｌ１を空間距離としていた。また、図３（ｂ）に示すように、導体部品Ａと導体部品Ｂとの沿面距離については、絶縁体Ａの存在を無視して、絶縁体Ｂの高さ方向の長さＬ２と、絶縁体Ｂと絶縁体Ｄとの間の長さＬ３と、絶縁体Ｄの高さ方向の長さＬ４とを合計した値を導体部品Ａと導体部品Ｂとの沿面距離としていた。

また、静電気検証における筐体外部において発生した静電気が電子部品に落ちるか否かの検証、即ち、放電検証では、放電された電子部品の配置位置を修正する際に、作業者がノギスを用いて、静電気を発生させた筐体外部から静電気が落ちた電子部品までの距離を測定するようにしていたが、こうした筐体外部および電子部品間の距離の測定の際にも、安全規格検証における空間距離および沿面距離の測定と同様に、筐体外部と電子部品との間に絶縁体が存在する場合には、絶縁体の存在を無視したり、おおまかに測定して筐体外部と電子部品との空間距離を測定していた。

さらに、静電気の放電対策は設計者の勘や経験に依存するものであるため、設計者の経験不足や判断ミスなどにより、静電気検証における放電検証で放電対策が不十分な設計であると判断された場合には、試作用の電子機器を用いた１回の放電検証だけで電子部品が正常に作動しなくなる場合があり、十分な放電検証を行うとなると試作用の電子機器をいくつも使用しなければならず、その作製費用が増大してコスト高を招来するといった問題点が指摘されていた。

さらにまた、試作用の電子機器において、放電ガンを用いて筐体内部の所定の金属部品に静電気を発生させて、当該電子機器が誤作動を起こすか否かの検証、即ち、当該所定の金属部品からの静電気の伝導経路を探索する伝導経路探索では、当該所定の金属部品に放電ガンにより静電気を発生させて当該電子機器の作動に影響があるか否かの判定をしているが、この際、当該所定の金属部品から筐体のＧＮＤへの静電気の経路は、常に同じ経路を伝導するとは限らないため、当該所定の金属部品に放電ガンにより複数回静電気を発生させて、当該電子機器の作動に影響があるか否かの判定を繰り返し行っていた。

このように、静電気検証による伝導経路探索においては、上記したようにして検証を行っているため、判定に時間を要することが問題点として指摘されていた。

さらに、静電気の伝導経路を想定しなければならないといった、作業者が経験などに基づく作業が必要となり、作業に習熟していない作業者ではこうした検証を行うことができないといった問題点が指摘されていた。

また、ＥＭＣ検証では、アナログ回路が接続されたＧＮＤおよびデジタル回路が接続されたＧＮＤの異なる種類のＧＮＤが分離され、かつ、同じ種類のＧＮＤ内では正しく導通されているかをテスターを使用して目視にて確認するようにしていたため、設計ミスなどにより、異なる種類のＧＮＤが正しく分離されていない箇所があった場合などでは、複雑な構成の電子基板においては、その箇所の発見に時間を要するという問題点が指摘されていた。

さらに、安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ検証において不具合が確認された場合には、当該不具合を解消するように電子基板の設計を変更した後に、試作用の電子部品を用いて再び、安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ検証を行うこととなり、こうした試作用の電子機器を用いた電気検証の実行には多くの費用や時間が費やされることとなっていた。

ところで、以上において説明したように、一般に、電子機器においては、製品化前に試作用の電子機器を作製し、作製した試作用の電子機器を用いて電気検証などの各種の検証を行っている。

従って、こうした試作用の電子機器を用いた検証の前に設計データもしくは設計データを利用したデータ上で電気検証を行うことができれば、試作用の電子機器を用いた検証を行う前にデータ上で電気検証を行うことによって、試作用の電子機器を用いた電気検証を行う際に不合格となる検証結果を得ることが少なくなる。

これにより、検証結果に基づく設計変更を効率的に行うことができるようになる。

このため、設計データなどを利用したデータ上でシミュレーションにより電気検証を実行することできる電気検証装置および電気検証方法の提案が強く望まれていた。

なお、本願出願人が特許出願のときに知っている先行技術は、文献公知発明に係る発明ではないため、本願明細書に記載すべき先行技術文献情報はない。

本発明は、従来の技術の有する上記したような問題点や従来の技術に対する上記したような要望に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、設計データなどを利用してデータ上で電気検証を行うことができる電気検証装置、電気検証方法、プログラムおよびコンピューター読み取り可能な記録媒体を提供しようとするものである。

上記目的を達成するために、本発明は、電子基板および筐体の設計データを利用して、コンピューター画面上で電気検証用に電子基板および筐体の設計データを３次元形状にして合成し、この３次元の合成データを利用して電気検証作業をコンピューター画面上で行うようにしたものである。

これにより、本発明においては、安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ検証といった電気検証に要する時間、費用、人為的なミスを軽減することができる。

また、本発明は、電子基板および筐体の設計データを３次元形状にして合成した合成データを用いて、電気検証の対象となる部品間に絶縁体が配置されている場合であっても、当該絶縁体を迂回して当該部品間の空間距離および沿面距離の測定を行うようにしたものである。

これにより、本発明においては、対象となる部品間の空間距離および沿面距離を正確に測定することができるとともに、測定した結果を安全規格や静電気対策の基準値と比較して、合否判断を行うことができる。

さらに、本発明は、空間距離および沿面距離の測定経路と測定結果に基づく合否判定結果とを可視化するようにしたものである。

これにより、本発明においては、放電対策が必要な部品を見分けることが容易になり、静電気検証を効率よく行うことができる。

さらにまた、本発明は、指定した導体部品間における静電気の伝導経路を複数パターン検索するようにしたものである。

これにより、本発明においては、静電気の伝導経路を試作前の段階で確認することができる。

また、本発明は、筐体内部で電気的に導通されているＧＮＤ同士を検出して、検出したＧＮＤを導通部のネジなどの金属部品を含め、電気的に導通されていないＧＮＤと識別可能に表示するようにしたものである。

これにより、本発明においては、ＧＮＤの分離、導通の状態を試作前の段階で確認することができる。

即ち、本発明による電気検証装置は、電子基板および筐体よりなる電子機器を構成する各部品の配置位置および各部品の３次元形状を表すモデルデータと属性を表す構成データとからなる検証用データを作成する作成手段と、上記電子機器における各部品のうち、検証の対象とする部品を設定する対象部品設定手段と、上記対象部品設定手段により設定した部品に対して実行する検証条件を設定する検証条件設定手段と、上記対象部品設定手段により設定した部品に対し、上記検証条件設定手段により設定した検証条件と、上記検証用データにおける各部品の３次元形状、属性、配置位置とに基づいて検証および距離の測定の少なくともいずれか一方を実行する検証実行手段とを有し、上記作成手段は、上記電子基板の設計データとしての電子基板設計データを検証用基板データに変換するとともに上記筐体の設計データとしての筺体設計データを検証用筺体データに変換し、上記検証用基板データと上記検証用筺体データとを合成して上記検証用データを作成するようにしたものである。

また、本発明による電気検証装置は、上記した電気検証装置において、上記検証実行手段は、上記対象部品設定手段により設定した部品間の空間距離を上記検証条件設定手段により設定した検証条件で測定および検証する際に、該部品間に絶縁体が存在しているときは、上記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において上記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行うようにしたものである。

また、本発明による電気検証装置は、上記した電気検証装置において、上記検証実行手段は、上記対象部品設定手段により設定した部品間の沿面距離を上記検証条件設定手段により設定した検証条件で測定および検証する際に、 該部品間に絶縁体が存在しているときは、上記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において上記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規格値とを比較して検証を行うようにしたものである。

また、本発明による電気検証装置は、上記した電気検証装置において、さらに、上記検証実行手段により測定された測定値および測定経路のうち少なくともいずれか一方を上記検証用データのモデルデータ上に表示する表示手段とを有するようにしたものである。

また、本発明による電気検証装置は、上記した電気検証装置において、さらに、上記検証実行手段により測定した測定値と判定距離とを比較し、測定値の合否を検証した検証結果を上記検証用データのモデルデータ上に識別表示する第１の識別表示手段とを有するようにしたものである。

また、本発明による電気検証装置は、上記した電気検証装置において、上記検証実行手段は、上記対象部品設定手段により設定した部品間の伝導経路を１つ以上探索し、探索した伝導経路について上記検証条件設定手段により設定した検証条件で測定するようにしたものである。

また、本発明による電気検証装置は、上記した電気検証装置において、さらに、上記対象部品設定手段により設定した所定の部品に対して、設定された検証条件に一致する接続状態にある部品を、識別可能に表示する第２の識別表示手段とを有するようにしたものである。

また、本発明による電気検証装置は、上記した電気検証装置において、上記検証条件は、上記所定の部品に対して接続状態にあると判断されるべき部品が有するべき属性名および属性値を含むようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、電気検証装置により電子機器の電気検証を行う電気検証方法において、電子基板および筐体よりなる電子機器を構成する各部品の配置位置および３次元形状を表すモデルデータと属性を表す構成データとからなる検証用データを作成する作成工程と、上記電子機器における各部品のうち、検証の対象とする部品を設定する対象部品設定工程と、上記対象部品設定工程で設定した部品に対して実行する検証条件を設定する検証条件設定工程と、上記対象部品設定工程で設定した部品に対し、上記検証条件設定工程で設定した検証条件と、上記検証用データにおける各部品の３次元形状、属性、配置位置とに基づいて検証および距離の測定の少なくともいずれか一方を実行する検証実行工程とを有し、上記作成工程では、上記電子基板の設計データとしての電子基板設計データを検証用基板データに変換するとともに上記筐体の設計データとしての筺体設計データを検証用筺体データに変換し、上記検証用基板データと上記検証用筺体データとを合成して上記検証用データを作成するようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、上記した電気検証方法において、上記検証実行工程は、上記対象部品設定工程で設定した部品間の空間距離を上記検証条件設定工程で設定した検証条件で測定および検証する際に、該部品間に絶縁体が存在しているときは、上記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において上記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行うようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、上記した電気検証方法において、上記検証実行工程は、上記対象部品設定工程で設定した部品間の沿面距離を上記検証条件設定工程で設定した検証条件で測定および検証する際に、該部品間に絶縁体が存在しているときは、上記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において上記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規格値とを比較して検証を行うようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、上記した電気検証方法において、さらに、上記検証実行工程で測定された測定値および測定経路のうち少なくともいずれか一方を上記検証用データのモデルデータ上に表示する表示工程とを有するようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、上記した電気検証方法において、さらに、上記検証実行方法で測定した測定値と判定距離とを比較し、測定値の合否を検証した検証結果を上記検証用データのモデルデータ上に識別表示する第１の識別表示工程とを有するようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、上記した電気検証方法において、上記検証実行手段は、上記対象部品設定工程で設定した部品間の伝導経路を１つ以上探索し、探索した伝導経路について上記検証条件設定工程で設定した検証条件で測定するようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、上記した電気検証方法において、さらに、上記対象部品設定工程で設定した所定の部品に対して、設定された検証条件に一致する接続状態にある部品を、識別可能に表示する第２の識別表示する形成工程とを有するようにしたものである。

また、本発明による電気検証方法は、上記した電気検証方法において、上記検証条件は、上記所定の部品に対して接続状態にあると判断されるべき部品が有するべき属性名および属性値を含むようにしたものである。

また、本発明によるプログラムは、上記した発明に記載の電気検証装置としてコンピューターを機能させるようにしたものである。

また、本発明によるプログラムは、上記した発明に記載の電気検証方法をコンピューターに実行させるようにしたものである。

また、本発明によるコンピューター読み取り可能な記録媒体は、上記した発明に記載のプログラムを記録したようにしたものである。

本発明は、以上説明したように構成されているので、設計データなどを利用したデータ上で電気検証を行うことができるという優れた効果を奏するものである。

図１（ａ）は、静電気検証において放電ガンを用いて筐体外部より静電気を発生させた状態を示す説明図であり、また、図１（ｂ）は、静電気検証において導体部品間の静電気の伝導経路を示した説明図である。 図２は、電子基板におけるアナログ回路に導通するＧＮＤとデジタル回路に導通するＧＮＤとを表す説明図である。 図３（ａ）は、従来技術により導体部品間に絶縁体が存在する際に測定していた空間距離を破線で示した説明図であり、また、図３（ｂ）は、従来技術により導体部品間に絶縁体が存在する際に測定していた沿面距離を破線で示した説明図である。 図４は、本発明による電気検証装置のハードウエア構成を示すブロック構成説明図である。 図５は、本発明による電気検証装置の機能的構成を表すブロック説明図である。 図６は、本発明による電気検証装置のデータ構造を示すブロック説明図である。 図７は、設計データ変換部において電子基板設計データから検証用基板データに引き継ぐ情報を示した説明図である。 図８は、設計データ変換部において電子基板設計データから検証用基板データに引き継ぐ情報を示した説明図である。 図９は、表示装置の表示画面上に表示される表示ウインドウを示す説明図である。 図１０（ａ）は、検証用筐体モデルデータに検証用基板モデルデータをインポートする状態を示す説明図であり、また、図１０（ｂ）は、インポート後の検証用モデルデータであり、検証用基板モデルデータは詳細な３次元形状データを用いて作成されたことを示す説明図である。 図１１は、ネジ、ＧＮＤパターンおよび筐体の接続状態の一例を示す説明図である。 図１２は、本発明による電気検証装置における電子基板設計データ変換処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。 図１３は、本発明による電気検証装置における筐体設計データ変換処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。 図１４は、本発明による電気検証装置における放電ガン設計データ変換処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。 図１５は、本発明による電気検証装置における検証用データ作成処理の処理手順を示すフローチャートである。 図１６は、本発明による電気検証装置における安全規格検証の処理手順を示すフローチャートである。 図１７は、本発明による電気検証装置における安全規格検証処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。 図１８は、本発明による電気検証装置における静電気検証の放電検証の処理手順を示すフローチャートである。 図１９は、本発明による電気検証装置における静電気処理の放電検証処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。 図２０は、本発明による電気検証装置における静電気検証の伝導経路探索の処理手順を示すフローチャートである。 図２１は、本発明による電気検証装置における静電気検証の伝導経路探索処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。 図２２は、本発明による電気検証装置におけるＥＭＣ検証の処理手順を示すフローチャートである。 図２３は、本発明による電気検証装置におけるＥＭＣ検証処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。 図２４（ａ）は、安全規格検証メニューを示す説明図であり、また、図２４（ｂ）は、安全規格検証における抽出条件設定ウインドウを示す説明図である。 図２５（ａ）（ｂ）は、抽出条件を検証用構成データおよび検証用モデルデータから直接選択した際に、選択した箇所がハイライトされて表示された状態を示す説明図である。 図２６は、安全規格検証における検証条件設定ウインドウを示す説明図である。 図２７（ａ）は、検証対象Ａと検証対象Ｂとの位置関係を示す説明図であり、また、図２７（ｂ）は、図２７（ａ）とは異なる検証対象Ａと検証対象Ｂとの位置関係を示す説明図である。 図２８（ａ）は、静電気検証における放電検証メニューを示す説明図であり、また、図２８（ｂ）は、放電検証における検証条件設定ウインドウを示す説明図であり、また、図２８（ｃ）は、警告距離を説明する説明図である。 図２９は、静電気検証における放電検証の検証結果を検証用モデルデータにおいて識別表示した状態を示す説明図である。 図３０（ａ）は、静電気検証における伝導経路探索メニューを示す説明図であり、また、図３０（ｂ）は、伝導経路探索における検証条件設定ウインドウを示す説明図である。 図３１（ａ）は、ＥＭＣ検証メニューを示す説明図であり、また、図３１（ｂ）は、抽出条件を検証用構成データおよび検証用モデルデータにおいて直接選択した箇所がハイライトされて表示された状態を示す説明図であり、また、図３１（ｃ）は、ＥＭＣ検証における検証条件設定ウインドウを示す説明図である。 図３２は、ＥＭＣ検証における検証結果をモデルデータで表示した状態を示す説明図である。 図３３（ａ）は、安全規格検証における空間距離の測定結果と測定経路とを表示した検証用モデルデータの一部を示す説明図であり、また、図３３（ｂ）は、安全規格検証における沿面距離の測定結果と測定経路とを表示した検証用モデルデータの一部を示す説明図である。 図３４は、電子基板設計データから引き継いだネットリストを示す説明図である。 図３５は、ネットリストを利用した接続情報の取得を説明するための説明図である。

以下、添付の図面を参照しながら、本発明による電気検証装置、電気検証方法、プログラムおよびコンピューター読み取り可能な記録媒体の実施の形態の一例を詳細に説明するものとする。

まず、図４には、本発明による電気検証装置のハードウエア構成を表すブロック構成説明図が示されている。

即ち、この本発明による電気検証装置１０は、公知のパーソナルコンピューターや汎用コンピューターなどで実現されており、その動作を中央処理装置（ＣＰＵ）１２を用いて制御するように構成されている。

そして、このＣＰＵ１２には、バス１４を介して、ＣＰＵの制御のためのプログラムや各種のデータなどを記憶するリードオンリメモリ（ＲＯＭ）やＣＰＵ１２のためのワーキングエリアとして用いられる記憶領域などを備えたランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）などから構成される記憶装置１６と、外部に接続される各種機器の入出力インターフェース回路（Ｉ／Ｏ）２６とが接続されている。

また、この電気検証装置１０においては、ＣＰＵ１２の制御により生成された各種データを出力するプリンターなどの出力装置１８と、ＣＰＵ１２の制御に基づいて各種の表示を行うＣＲＴや液晶パネルなどの画面を備えた表示装置２０と、表示装置２０の表示画面上における任意の位置を指定するための入力装置たるマウスなどのポインティングデバイス２２と、任意の文字を入力するための入力装置たるキーボードなどの文字入力デバイス２４とを有して構成されている。

さらに、この電気検証装置１０においては、ハードディスクなどの外部記憶装置２８がＩ／Ｏ２６を介して接続されているとともに、コンパクトディスク（ＣＤ）やデジタルバーサタイルディスク（ＤＶＤ）などのようなコンピューター読み取り可能な記録媒体（以下、単に「記録媒体」と適宜に称する。）３０へＣＰＵ１２の制御に基づき生成された各種データを書き込んだり、記録媒体３０から記憶装置１６へ各種データを読み込んだりするためのリードライト装置３２がＩ／Ｏ２６を介して接続されている。

ここで、後述する電気検証装置１０により電気検証処理を実行するためのプログラムや当該電気検証処理に用いる各種データは、記憶装置１６のリードオンリメモリやランダムアクセスメモリへ予め記憶するようにしてもよいし、外部記憶装置２８や記憶媒体３０から記憶装置１６のランダムアクセスメモリへ読み込むようにしてもよい。

また、電気検証装置１０に通信機能を設けるようにして、後述する電気検証装置１０による電気検証処理を実行するためのプログラムや当該電気検証処理に用いる各種データを、通信により外部から電気検証装置１０の記憶装置１６のランダムアクセスメモリへ読み込むようにしてしてもよい。

なお、以下の説明においては、電気検証装置１０の理解を容易にするために、記憶装置１６に電気検証装置１０による電気検証処理を実行するためのプログラムや当該電気検証処理に用いる各種データが予め記憶されているものとする。

次に、図５を参照しながら、本発明による電気検証装置１０について、詳細に説明することとする。図５は、本発明による電気検証装置の機能的構成を表すブロック構成説明図である。

この電気検証装置１０は、基板設計を行うＣＡＤシステムなどのような電子基板設計装置で作成された電子基板の設計データたる電子基板設計データ４０および筐体設計を行うＣＡＤシステムなどのような筐体設計装置で作成された筐体の設計データたる筐体設計データ４２を、それぞれ変換して電気検証装置１０において利用可能な検証用基板データおよび検証用筐体データに変換して読み込む設計データ変換部４４と、設計データ変換部４４で変換した検証用基板データおよび検証用筐体データに関して、それぞれ電子基板および筐体を構成する構成部品の属性を示す構成データをツリー形式（以下、構成データをツリー形式にしたものを「構成ツリー」と適宜に称することとする。）として管理する構成データ管理部４６と、構成データに対して電気検証に必要な属性を設定する構成データ属性設定部４８と、設計データ変換部４４で変換した検証用基板データと検証用筐体データとを合成して検証用データを作成して同一管理上のデータとして格納し、表示装置２０の表示画面において同一画面上に表示する検証用データ合成部５０と、電気検証の対象とする構成データを抽出するための抽出条件を設定する抽出条件設定部５２と、抽出条件設定部５２において抽出した構成データを検証するための検証条件を設定する検証条件設定部５４と、抽出条件設定部５２により設定された抽出条件に基づいて、検証を行う構成データを検証用データから抽出するとともに、抽出した構成データに検証条件設定部５４において設定された検証条件を付加する検証対象抽出部５６と、検証対象抽出部５６により検証条件を付加されて抽出された構成データに対して伝導経路の探索を行なったり、検証対象抽出部５６により検証条件を付加されて抽出された構成データに対して、付加された検証条件（つまり、検証条件設定部５４において設定された検証条件である。）と、後述する経路測定部６０により測定された空間距離および沿面距離、あるいは、探索された伝導経路とに基づいて電気検証を行う検証実行部５８と、検証対象抽出部５６により検証条件を付加されて抽出された構成データについて、空間距離、沿面距離または検証実行部５８において探索された伝導経路の距離の測定を行う経路測定部６０と、検証実行部５８により電気検証された検証結果を反映した測定経路（空間距離あるいは沿面距離を測定する際の経路のことである。）や判定結果などを検証用モデルデータ中に付加して表示装置２０の表示画面上に表示することにより測定経路、探索経路あるいは判定結果などを可視化する測定経路可視化部６２とを有して構成されている。

より詳細には、この設計データ変換部４４においては、電子基板設計データ４０を検証用基板データに変換するとともに、筐体設計データ４２を検証用筐体データに変換するものである。

なお、検証用基板データは、電子基板を構成する各構成部品の３次元形状および配置位置を表す検証用基板モデルデータと、電子基板を構成する各構成部品の属性を示す検証用基板構成データとから構成され、また、検証用筐体データは、筐体を構成する各構成部品の３次元形状および配置位置を表す検証用筐体モデルデータと、筐体を構成する各構成部品の属性を示す検証用筐体構成データとから構成されている（図６を参照する。）。

そして、設計データ変換部４４において変換された検証用基板データと検証用筐体データとを、検証用データ合成部５０により合成して検証用データを作成することとなる。この検証用データは、電子基板設計データで表される電子基板および筐体設計データで表される筐体からなる電子機器を表すデータとなる。

即ち、検証用基板モデルデータと検証用筐体モデルデータとを合成することにより、検証用筐体モデルデータにより示される３次元形状の筐体に検証用基板モデルデータにより示される３次元形状の電子基板が収容された状態を示す検証用モデルデータを作成する。つまり、この検証用モデルデータは、電子機器を構成する各構成部品の３次元形状および配置位置を表すデータとなる。

そして、検証用基板モデルデータと検証用筐体モデルデータとを合成すると、検証用基板構成データと検証用筐体構成データとにより、検証用構成データも作成される。つまり、この検証用構成データは、電子機器を構成する各構成部品の属性を表すデータとなる。

従って、検証用データは、３次元形状の筐体内に３次元形状の電子基板が配設された状態を表す検証用モデルデータと、筐体および電気基板を構成する各構成部品の属性を示す検証用構成データとから構成されることとなる。

ここで、検証用基板構成データは、導体部品であるか絶縁体であるかの情報や、検証用基板モデルデータを特定する情報が含まれていて、例えば、選択、移動、追加、削除が検証用基板モデルデータおよび検証用基板構成データ間において相互に連動しており、検証用基板構成データの所定のデータを選択すると、連動して検証用基板モデルデータにおける当該所定のデータに対応するデータも選択されるようになされている。

同様に、検証用筐体構成データは、導体部品であるか絶縁体であるかの情報や、検証用筐体モデルデータを特定する情報が含まれていて、例えば、選択、移動、追加、削除が検証用筐体モデルデータおよび検証用筐体構成データ間において相互に連動しており、検証用筐体構成データの所定のデータを削除すると、連動して検証用筐体モデルデータにおける当該所定のデータに対応するデータも削除されるようになされている。

従って、検証用構成データにおいては、導体部品であるか絶縁体であるかの情報や、検証用モデルデータを特定する情報が含まれていることとなり、例えば、選択、移動、追加、削除が、検証用モデルデータおよび検証用構成データ間において相互に連動していることとなる。

また、電子基板設計データ４０から検証用基板データを取得する際に、電子基板設計データ４０が３次元形状であれば、電子基板設計データ４０をそのまま利用し、電子基板設計データ４２が２次元形状であれば、例えば、特開２００１−２０２４０１号公報に開示されている技術を用いて３次元形状に変換して検証用基板モデルデータを作成する。作成した検証用基板モデルデータは表示装置２０の表示画面に表示されるウインドウ２００のモデルデータ表示部２００ｂに表示される（図９を参照する。）。

なお、電子基板設計データ４０から検証用基板データを取得する際には、電子基板設計データ４０の仕様に基づいて、自動的に検証用基板構成データを取得し、構成データ管理部４６において取得した構成データから構成管理データを作成することとなる。そして、作成された構成管理データは構成ツリーとして、表示装置２０の表示画面に表示されるウインドウ２００の構成ツリー表示部２００ａに表示される（図９を参照する。）。

また、筐体設計データ４２から検証用筐体データを取得する際には、筐体設計データ４２は一般には３次元形状であるため、筐体設計データ４２をそのまま利用することができ、その３次元形状のデータがモデルデータ表示部２００ｂに表示される。

なお、筐体設計データ４２から検証用筐体データを取得する際には、筐体設計を行うＣＡＤシステムにおいて作成された構成ツリーをそのまま利用して構成管理データを作成することとなる。そして、作成された構成管理データは構成ツリーとして構成ツリー表示部２００ａに表示される。

また、こうした設計データ変換部４４においては、例えば、ラティス・テクノロジー株式会社のＸＶＬ（ｅＸｔｅｎｓｉｂｌｅ Ｖｉｒｔｕａｌ ｗｏｒｌｄ ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｌａｎｇｕａｇｅ）技術などを利用して、３次元形状データの軽量化を図りながら、検証用基板モデルデータおよび検証用筐体モデルデータを取得するようにしてもよい。

また、設計データ変換部４４は、電子基板設計データ４０を利用して検証用基板データに変換するが、こうした変換時には、電子基板設計データ４０から、基板外形として形状、厚さ、色などの情報、製造情報（レジスト層、シルク層などの３次元形状）として形状、厚さ、色などの情報、信号情報（ネットの３次元形状）として形状、厚さ、名称、色、属性情報などの情報、部品情報（電子部品の形状）として形状、厚さ、名称、色、属性情報などの情報を引き継ぐとともに、層構成（厚み情報）を引き継ぐものである（図７、図８を参照する。）。

また、設計データ変換部４４は、筐体設計データ４２を利用して検証用筐体データに変換するが、こうした変換時には、筐体設計データ４２から、筐体の３次元形状、色、属性などの情報を引き継ぐものである。

構成データ管理部４６は、検証用基板構成データ、検証用筐体構成データおよび検証用構成データについて、それぞれ構成ツリーとして構成管理データを生成して管理する。

即ち、構成データ管理部４６においては、検証用データ合成部５０で検証用基板モデルデータと検証用筐体モデルデータとを合成して検証用モデルデータが作成されると、設計データ変換部４４で変換された検証用基板データと検証用筐体データとからそれぞれ、検証用基板構成データと検証用筐体構成データとを読み込み、構成管理データを作成する。

構成データ属性設定部４８は、電気検証に必要な属性を設定するものであって、設計データ変換部４４において、電子基板設計データ４０から検証用基板データに変換するとともに、筐体設計データ４２から検証用筐体データに変換する際に、電子基板設計データ４０および筐体設計データ４２から電気検証に必要な属性を抽出し、その属性を検証用データ合成部５０で合成した検証用データの検証用構成データに付加する。

また、構成データ属性設定部４８においては、検証用構成データにおいて導体部品または絶縁体などの属性がない場合には、作業者による設定作業により設定された属性を検証用構成データに付加する。

検証用データ合成部５０は、検証用筐体データと検証用基板データとを合成し、検証用データを作成する。

即ち、設計データ変換部４４において変換した検証用筐体データに対して検証用基板データをインポートし検証用筐体データと検証用基板データとを合成して、検証用データを作成するものであるが、この際には、検証用筐体モデルデータおよび検証用基板モデルデータが表示装置２０に表示されたウインドウ２００のモデルデータ表示部２００ｂに表示され（図９を参照する。）、作業者はモデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用筐体モデルデータおよび検証用基板モデルデータを参照しながら、ポインティングデバイス２２などを用いて検証用筐体モデルデータ上の所定の位置に検証用基板モデルデータを配置させるようにする（図１０（ａ）を参照する。）。

このようにして、検証用筐体モデルデータに検証用基板モデルデータをインポートすると、検証用筐体データと検証用基板データとは、検証用データとして同一管理上のデータとして格納され、モデルデータ表示部２００ｂには検証用筐体データ上に検証用基板データが配置された状態の検証用モデルデータが表示されるので、作業者はポインティングデバイス２２などを用いて検証用筐体モデルデータ上の検証用基板モデルデータを移動あるいは拡大しながら位置合わせを行う。

その後、モデルデータ表示部２００ｂにおいて、ネジなどのモデルデータ（３次元形状）により、検証用筐体モデルデータ上に検証用基板モデルデータを接合するようにする。この際、ネジおよびネジにより接合される検証用筐体モデルデータおよび検証用基板モデルデータの部品が全て金属であった場合には、導通していることとなる。

そして、検証用データ合成部５０において、この導通しているという新たな情報が作成され、こうした導通しているという情報を構成データが保有されることとなる。

また、検証用筐体モデルデータ上に検証用基板モデルデータが接合されると、検証用筐体構成データの構成管理データに検証用基板構成データの構成管理データが付加されるとともに、検証用筐体モデルデータと検証用基板モデルデータとを接合する上記したネジが構成データとして付加されることとなる。

なお、電子基板の導体部品について、詳細な３次元形状のデータが用意されているのであれば、例えば、特開２００１−２０２４０１号公報に開示されている技術を用いて検証用基板モデルデータにおける導体部品を当該３次元形状のデータに置換すれば、電気検証の精度を向上することができるようになる（図１０（ｂ）を参照する。）。

このように、検証用基板モデルデータを検証用筐体モデルデータにインポートし、位置合わせの後に検証用筐体モデルデータに検証用基板モデルデータをネジなどで接合するという作業を繰り返し、パーツ（つまり、筐体内に配設される電子基板のことである。）を組み立てることにより、検証用データ合成部５０においては、検証用筐体モデルデータと検証用基板モデルデータとを合成した検証用モデルデータが作成される。

検証用筐体モデルデータに検証用基板モデルデータを接合する際には、検証用筐体モデルデータと検証用意基板モデルデータの接触面が金属部品のデータ同士である場合は、それらの金属部品のデータは導通していることになる。

例えば、ネジ、ＧＮＤパターン、筐体が図１１に示すように接続され、ネジ、ＧＮＤパターン、筐体が金属部品のデータである場合には、ネジ上部とＧＮＤパターンの接触面およびネジ下部と筐体の接触面とが金属部品同士のデータであることから、ネジ、ＧＮＤパターン、筐体の金属部品のデータは導通していることになる。

抽出条件設定部５２は、電気検証の対象とする構成データ（導体部品）を抽出するための抽出条件を設定するものである、例えば、表示装置２０に表示されるウインドウ２００において各種設定の条件や検証の結果が表示される検証実行メニューを表示する検証実行メニュー表示部２００ｃ（図９を参照する。）の各種電気検証の種類に応じて表示される検証実行メニュー内に設けられた抽出条件設定ボタン（図示せず。）を選択することにより抽出条件設定ウインドウ（図２４（ｂ）を参照する。）が表示され、この抽出条件設定ウインドウ上で、作業者が資料などを参照しながら文字入力デバイス２４により抽出条件を直接入力したり、あるいは、構成ツリー表示部２００ａに表示された検証用構成データの構成管理データによる構成ツリーもしくはモデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用モデルデータにおいて、作業者がポインティングデバイス２２により抽出条件を直接選択するものである。

また、検証条件設定部５４は、抽出条件設定部５２において抽出した構成データを検証するための検証条件を設定するものである。例えば、検証実行メニュー表示部２００ｃの各種電気検証の種類に応じて表示される検証実行メニュー内に設けられた検証条件設定ボタン（図示せず。）を選択することにより検証条件設定ウインドウ（図２６、図２８（ｂ）、図３０（ｂ）、図３１（ｃ）を参照する。）が表示され、この検証条件設定ウインドウ上で安全規格に規定された値やメーカー独自の規定値などを、作業者が文字入力デバイス２４により入力することとなる。

具体的には、安全規格検証においては、検証条件設定部５４では、導体部品間で設けるべき空間距離の値が、対象とする導体部品間の空間距離の合否判定の基準となる判定距離（空間）として設定され、導体部品間で設けるべき沿面距離の値が、対象とする導体部品間の沿面距離の合否判定の基準となる判定距離（沿面）として設定されるとともに、空間距離および沿面距離を測定する際の測定距離の上限値としての最大測定距離とが設定される。（図２６を参照する。）。

なお、空間距離の値とは、導体部品間の空間を通る最短距離である空間距離が最低限に保持していなければならない値のことであり、沿面距離の値とは、導体部品間の絶縁物の表面に沿った最短距離である沿面距離が最低限に確保していなければならない値のことである。

また、静電気検証における放電検証においては、検証条件設定部５４では、静電気を発生させる箇所と対象となる導体部品との間で設けるべき空間距離の値が、当該箇所と当該導体部品との間の空間距離の合否判定の基準となる判定距離として設定され、測定した空間距離に対して警告を行うべき距離となる警告距離が設定されるとともに、当該空間距離を測定する際の測定距離の上限値として最大測定距離が設定される（図２８（ｂ）を参照する。）。

さらに、静電気検証における伝導経路探索検証においては、検証モードとして、簡易な伝導経路の検索を行うか、あるいは、詳細な伝導経路の探索を行うかが設定され、探索する伝導経路の数の上限たる探索件数上限が設定されるとともに、探索した伝導経路の距離を測定する際の測定距離の上限値として最大測定距離が設定される（図３０（ｂ）を参照する。）。

なお、この伝導経路探索検証においては、伝導経路上に位置する導体部品数の上限値として最大経由部品数上限を設定するようにしてもよい。こうした探索した伝導経路において経由する部品数が指定した個数を超える、つまり、最大経由部品数上限を超えるか否かを検証することにより、伝導経路探索検証を行う経路の範囲が狭くなり、伝導経路探索検証をより早く行うことができるようになる。

また、ＥＭＣ検証においては、検証条件設定部５４では、対象となる導体部品と接続状態にある金属部品全ての属性名および属性値を設定する（図３１（ｃ）を参照する。）。

検証対象抽出部５６は、抽出条件設定部５２により設定された抽出条件に基づいて、検証を行う検証対象を検証用データから抽出し、抽出した検証対象に検証条件設定部５４において設定された検証条件を付加するとともに、検証実行メニュー表示部２００ｃにおける検証実行メニューに抽出した検証対象および当該検証対象に付加した検証条件を表示する。

検証実行部５８は、検証対象抽出部５６により検証条件を付加されて抽出された検証対象に対して、当該検証条件に基づいて伝導経路の探索を行うとともに、検証対象抽出部５６により検証条件を付加されて抽出された検証対象に対して、付加された検証条件と、経路測定部６０により測定された空間距離および沿面距離、あるいは、探索された伝導経路の距離に基づいて電気検証を行うものである。

経路測定部６０では、検証対象抽出部５６により検証条件を付加されて抽出された構成データについて、沿面距離、空間距離または検証実行部５８において探索された伝導経路の距離の測定を行うものである。

測定経路可視化部６２では、検証実行部５８により電気検証された検証結果を反映した測定経路や判定結果などを、検証用モデルデータ中に付加して表示装置２０の表示画面に表示されるウインドウのモデルデータ表示部２００ｂにおいて、測定経路（空間距離および沿面距離を測定する際の経路）、探索経路および判定結果などを可視化するものである。

以上の構成において、本発明による電気検証装置１０により、電子基板設計および筐体設計が完了した電子機器における電気検証を行う場合について説明する。

まず、図１２乃至図１５を参照しながら、表示装置２０に表示されるウインドウ２００の構成ツリー表示部２００ａおよびモデルデータ表示部２００ｂに表示される検証用構成データおよび検証用モデルデータの作成について説明する。

ここで図１２には、本発明による電気検証装置における電子基板設計データ変換処理の処理ルーチンを表すフローチャートが示されており、また、図１３には、本発明による電気検証装置における筐体設計データ変換処理の処理ルーチンを表すフローチャートが示されており、また、図１４には、本発明による電気検証装置における放電ガン設計データ変換処理の処理ルーチンを表すフローチャートが示されており、また、図１５には、本発明による電気検証装置における検証用データ作成処理の処理手順を表すフローチャートが示されている。

まず、作業者により電子基板設計データのファイルの読み込みが選択されると、電子基板設計データ変換処理が実行される。

この電子基板設計データ変換処理においては、まず、設計データ変換部４４において、電子基板設計装置において設計された電子基板設計データ４０を読み込む（ステップＳ２３０２）。

次に、設計データ変換部４４において、読み込んだ電子基板設計データ４０を変換して検証用基板モデルデータおよび検証用基板構成データからなる検証用基板データを作成する（ステップＳ２３０４）。

この際、電子基板設計データ４０が２次元形状であった場合には、設計データ変換部４４において３次元形状にした後に、検証用基板モデルデータを作成するものである。

そして、ステップＳ２３０４の処理で作成された検証用基板モデルデータは、表示装置２０に表示されるウインドウ２００のモデルデータ表示部２００ｂに表示される。

ステップＳ２３０４の処理により検証用基板データが作成されると、構成データ管理部４６において、検証用基板構成データから構成管理データを生成し（ステップＳ２３０６）、当該構成管理データを構成ツリーとして表示装置２０に表示されるウインドウ２００の構成ツリー表示部２００ａに表示し（ステップＳ２３０８）、電子基板設計データ変換処理を終了する。

その後、作業者は、構成ツリー表示部２００ａにツリー形式で表示された検証用基板構成データそれぞれについて属性を参照し、電気検証で必要となる属性が不足している場合には、構成データ属性設定部４８において、その検証用基板構成データに対して電気検証で必要となる属性を追加する。

こうして作成された検証用基板データは、作業者により検証用基板データのファイルとして保存される。このとき、構成管理データも保存されることとなる。

次に、作業者により筐体設計データのファイルの読み込みが選択されると、筐体設計データ変換処理が実行される。

この筐体設計データ変換処理においては、まず、設計データ変換部４４において、筐体設計装置において設計された筐体設計データ４２を読み込む（ステップＳ２４０２）。

すると、設計データ変換部４４において、読み込んだ筐体設計データ４２を変換して検証用筐体モデルデータおよび検証用筐体構成データからなる検証用筐体データを作成する（ステップＳ２４０４）。

この際、筐体設計データ４２が２次元形状であった場合には、設計データ変換部４４において３次元形状にした後に、検証用筐体モデルデータを作成するものである。

そして、ステップＳ２４０４の処理で作成された検証用筐体モデルデータは、表示装置２０に表示されるウインドウ２００のモデルデータ表示部２００ｂに表示される。

ステップＳ２４０４の処理により検証用筐体データが作成されると、構成データ管理部４６において、検証用筐体構成データから構成管理データを生成し（ステップＳ２４０６）、当該構成管理データを構成ツリーとして表示装置２０に表示されるウインドウ２００の構成ツリー表示部２００ａに表示し（ステップＳ２４０８）、筐体設計データ変換処理を終了する。

その後、作業者は、構成ツリー表示部２００ａにツリー形式で表示された検証用筐体構成データそれぞれについて属性を参照し、電気検証で必要となる属性が不足している場合には、構成データ属性設定部４８において、その検証用筐体構成データに対して電気検証で必要となる属性を追加する。

こうして作成された検証用筐体データは、作業者により検証用筐体データのファイルとして保存される。このとき、構成管理データも保存されることとなる。

さらに、作業者により放電ガンの静電気検証における放電検証を行う際に必要となる、放電ガンのデータについても設計データ変換部４４により検証用放電ガンデータを作成する。

即ち、作業者により所定の設計装置で設計された放電ガンの設計データたる放電ガン設計データのファイルの読み込みが選択されると、放電ガン設計データ変換処理が実行される。なお、放電ガン設計データは、例えば、３次元形状により検査針の部分だけを設計したものである。

この放電ガン設計データ変換処理においては、まず、設計データ変換部４４において、所定の設計装置において設計された放電ガン設計データを読み込む（ステップＳ２５０２）。

すると、設計データ変換部４４において、読み込んだ放電ガン設計データを変換して検証用放電ガンモデルデータおよび検証用放電ガン構成データからなる検証用放電ガンデータを作成する（ステップＳ２５０４）。

そして、ステップＳ２５０４の処理で作成された検証用放電ガンモデルデータは、表示装置２０に表示されるウインドウ２００のモデルデータ表示部２００ｂに表示される。

ステップＳ２５０４の処理により検証用放電ガンデータが作成されると、構成データ管理部４６において、検証用放電ガン構成データから構成管理データを生成し（ステップＳ２５０６）、当該検証用放電ガン構成データを表示装置２０に表示されるウインドウ２００の構成ツリー表示部２００ａに表示し（ステップＳ２５０８）、筐体設計データ変換処理を終了する。

その後、作業者は、構成ツリー表示部２００ａに表示された検証用放電ガン構成データについて属性を参照し、検証用放電ガン構成データにおいて電気検証で必要となる属性が不足している場合には、構成データ属性設定部４８により、その検証用放電ガン構成データに対して電気検証で必要となる属性を追加する。

こうして作成された検証用放電ガンデータは、作業者により検証用放電ガンデータのファイルとして保存される。このとき、構成管理データも保存されることとなる。

なお、検証用放電ガンモデルデータとしては、球、立方体などの３次元形状や円、四角、点などの単純な形状としてもよい。

検証用基板データ、検証用筐体データおよび検証用放電ガンデータを作成すると、次に、検証用データの作成を行う。

検証用データの作成では、まず、作業者によって検証用筐体データのファイルの読み込みが行われる。（ステップＳ２６０２）。

検証用筐体データのファイルの読み込みが完了すると、検証用筐体モデルデータがモデルデータ表示部２００ｂに表示されるとともに、検証用筐体構成データの構成ツリーが構成ツリー表示部２００ａに表示される。

次に、作業者によって検証用基板データのファイルの読み込みが行われる（ステップＳ２６０４）。

検証用基板データのファイルの読み込みが完了すると、検証用筐体モデルデータが既に表示されているモデルデータ表示部２００ｂに検証用基板モデルデータが表示されるとともに、構成ツリー表示部２００ａにおいて、既に表示されている検証用筐体構成データの構成ツリーの最上位層に検証用基板構成データの構成ツリーが付加される。

その後、作業者はモデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用基板モデルデータを移動および回転させて検証用筐体モデルデータの所定の位置に位置合わせを行う（ステップＳ２６０６）とともに、検証用筐体モデルデータの所定の位置に検証用基板モデルデータを固定する（ステップＳ２６０８）。

検証用筐体モデルデータ上に検証用基板モデルデータを固定する際に、ネジなどの部品により固定するものであるが、こうした固定部品の構成データは検証用筐体構成データの構成ツリーの最上位層に付加される。

こうして、検証用筐体モデルデータ上に検証用基板モデルデータを固定したデータを検証用モデルデータとするとともに、検証用筐体構成データに検証用基板構成データおよび固定部品の構成データが付加された構成データを検証用構成データとして、検証用モデルデータおよび検証用構成データからなる検証用データが作成される。

なお、こうした検証用データの作成は、検証用データ合成部５０において処理されるものである。

また、こうして作成された構成ツリーは、ツリー形式の構成データとして構成管理データとして管理されることとなる。

そして、作成された検証用データは検証用データのファイルとして保存される（ステップＳ２６１０）。このとき、構成管理データも保存されることとなる。

こうして、検証用モデルデータおよび検証用構成データにより構成管理データを作成した後に、作業者がポインティングデバイス２２などを用いて、表示装置２０に表示されるウインドウ２００の検証実行メニュー表示部２００ｃに表示される検証実行メニュー内に設けられた安全規格検証タブ２００ｃ−１、静電気検証タブ２００ｃ−２およびＥＭＣ検証タブ２００ｃ−３のいずれかを選択することにより、実行する検証内容を選択するとともに実行する検証メニューを表示する。

以下、安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ検証における処理について、図１６乃至図２３を参照しながら、それぞれ詳細に説明することとする。

ここで、図１６には、本発明による電気検証装置における安全規格検証の処理手順を表すフローチャートが示されており、また、図１７には、安全規格検証処理の処理ルーチンを表すフローチャートが示されており、また、図１８には、本発明による電気検証装置における静電気検証の放電検証の処理手順を表すフローチャートが示されており、また、図１９には、静電気検証における放電検証処理の処理ルーチンを表すフローチャートが示されており、また、図２０には、本発明による電気検証装置における静電気検証の伝導経路探索の処理手順を表すフローチャートが示されており、また、図２１には、静電気検証における伝導経路探索処理の処理ルーチンを表すフローチャートが示されており、また、図２２には、本発明による電気検証装置におけるＥＭＣ検証の処理手順を表すフローチャートが示されており、また、図２３には、ＥＭＣ検証処理の処理ルーチンを表すフローチャートが示されている。

（１）安全規格検証
安全規格検証を行うには、作業者がポインティングデバイス２２などを用いて、検証実行メニュー内に設けられた安全規格検証タブ２００ｃ−１を選択する。これにより検証実行メニュー表示部２００ｃにおいて安全規格検証メニュー２００ｃａが表示される（図２４（ａ）を参照する。）。

安全規格検証メニュー２００ｃａが表示されると、作業者は、まず、構成データに対する抽出条件を設定する（ステップＳ２７０２）。

このステップＳ２７０２の処理においては、抽出条件設定部５２により抽出条件を設定するものであり、まず、作業者がポインティングデバイス２２などにより、安全規格検証メニュー２００ｃａに設けられた抽出条件設定ボタン（図示せず。）を選択して抽出条件設定ウインドウ２０２を表示させる（図２４（ｂ）を参照する。）。

そして、作業者は、この抽出条件設定ウインドウ２０２において安全規格検証の対象とする導体部品間の一方の導体部品を検証対象Ａとして検証対象Ａについての抽出条件を設定するとともに、他方の導体部品を検証対象Ｂとして検証対象Ｂについての抽出条件を設定する。

抽出条件の設定においては、作業者が、例えば、資料などを参照しながら検証対象Ａとして設定する部品の属性名を属性名欄２０２ａ−１に入力するとともに、当該部品の属性値を属性値欄２０２ｂ−１に入力することにより検証対象Ａの抽出条件の設定を行うものである。同様に、検証対象Ｂとして設定する部品の属性名を属性名欄２０２ａ−２に入力するとともに、当該部品の属性値欄２０２ｂ−２に入力することにより検証対象Ｂの抽出条件の設定を行うものである。

なお、こうした検証対象Ａおよび検証対象Ｂの抽出条件については、それぞれ複数設定することが可能であり、複数の設定を行う場合には、演算子欄２０２ｃ−１および演算子欄２０２ｃ−２においてＡＮＤ条件およびＯＲ条件を適宜に組み合わせて設定を行う。

そして、各種数値を入力した後に抽出条件設定ウインドウ２０２内に設けられた決定ボタン（図示せず。）を選択することにより、設定した内容が記憶されるとともに、抽出条件設定ウインドウ２０２が閉じることとなる。

具体的には、例えば、図２４（ｂ）に示すように検証対象Ａの抽出条件を設定したとすると、検出対象Ａについては、交流（ＡＣ）のトランスまたはトランジスタを抽出対象とすることとなる。さらに、図２４（ｂ）に示すように検証対象Ｂの抽出条件を設定したとすると、検証対象Ｂについては、直流（ＤＣ）のトランスまたはトランジスタを抽出条件することとなる。

なお、こうした抽出条件の設定においては、モデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用モデルデータにおいて検証対象とする部品を直接選択して設定するようにしてもよいし、または、構成ツリー表示部２００ａに表示された検証用構成データにおいて対象とする部品を直接選択して設定するようにしてもよい。

具体的には、検証用モデルデータを用いて検証対象Ａの抽出条件を設定する場合には、作業者が検証用モデルデータ中で検証対象Ａとして設定する部品を直接選択することにより、属性名欄２０２ａ−１に選択した部品の属性名が入力されるとともに、属性値欄２０２ｂ−１に属性値が入力される。

このとき、検証用モデルデータ中で直接選択された部品は当該検証用モデルデータ中においてハイライトされて表示されるとともに、構成ツリー表示部２００ａにおいて表示されている構成ツリーのうちの当該部品に対応する構成データがハイライトされて表示される（図２５（ａ）を参照する。）。

そして、演算子欄２０２ｃ−１においてＡＮＤ条件またはＯＲ条件を設定し、さらに検証対象Ａとして設定する部品がある場合には、同様にして検証対象Ａとして設定する部品を検証用モデルデータで直接選択することにより属性名および属性値を入力して検証対象Ａの抽出条件の設定を行う。

検証用モデルデータを用いて検証対象Ｂの抽出条件を設定する場合には、上記した検証対象Ａの抽出条件を設定する場合と同様にして、作業者が検証用モデルデータ中で検証対象Ｂとして設定する部品を直接選択することにより、属性名欄２０２ａ−２に選択した部品の属性名が入力されるとともに、属性値欄２０２ｂ−２に属性値が入力される。

このとき、検証用モデルデータ中で直接選択された部品は当該検証用モデルデータ中においてハイライトされて表示されるとともに、構成ツリー表示部２００ａにおいて表示されている構成ツリーのうちの当該部品に対応する構成データがハイライトされて表示される（図２５（ｂ）を参照する。）。

そして、演算子欄２０２ｃ−２においてＡＮＤ条件またはＯＲ条件を設定し、さらに検証対象Ｂとして設定する部品がある場合には、同様にして検証対象Ｂとして設定する部品を検証用モデルデータで直接選択することにより属性名および属性値を入力して検討対象Ｂの抽出条件の設定を行う。

また、検証用構成データの構成ツリーを用いて検証対象Ａの抽出条件を設定する場合には、作業者が検証用構成データの構成ツリーの中から検証対象Ａとして設定する部品の構成データを直接選択することにより、属性名欄２０２ａ−１に選択した部品の属性名が入力されるとともに、属性値欄２０２ｂ−１に属性値が入力される。

このとき、構成ツリー中で直接選択された部品は当該構成ツリーにおいてハイライトされて表示されるとともに、モデルデータ表示部２００ｂにおいて表示されている検証用モデルデータ中の当該部品に対応するデータがハイライトされて表示される（図２５（ａ）を参照する。）。

そして、演算子２０２ｃ−１においてＡＮＤ条件またはＯＲ条件を設定し、さらに検証対象Ａとして設定する部品がある場合には、同様にして検証対象Ａとし設定する部品を構成ツリー中から直接選択することにより属性名および属性値を入力して検証対象Ａの抽出条件の設定を行う。

検証用構成データに構成ツリーを用いて検証対象Ｂの抽出条件を設定する場合には、上記した検証対象Ａの抽出条件を設定する場合と同様にして、作業者が検証用構成データの構成ツリーの中から検証対象Ｂとして設定する部品の構成データを直接選択することにより、属性名欄２０２ａ−１に選択した部品の属性名が入力されるとともに、属性値欄２０２ｂ−１に属性値が入力される。

このとき、構成ツリー中で直接選択された部品は当該構成ツリー中においてハイライトされて表示されるとともに、モデルデータ表示部２００ｂにおいて表示されている検証用モデルデータ中の当該部品に対応するデータがハイライトされて表示される（図２５（ｂ）を参照する。）。

そして、演算子２０２ｃ−２においてＡＮＤ条件またはＯＲ条件を設定し、さらに検証対象Ａとして設定する部品がある場合には、同様にして検証対象Ｂとし設定する部品を構成ツリー中から直接選択することにより属性名および属性値を入力して検証対象Ｂの抽出条件の設定を行う。

こうして抽出条件の設定が完了すると、次に、作業者により構成データに対する検証条件を設定する（ステップＳ２７０４）。

このステップＳ２７０４の処理においては、検証条件設定部５４により検証条件を設定するものであり、まず、作業者がポインティングデバイス２２などにより、安全規格検証メニュー２００ｃａに設けられた検証条件設定ボタン（図示せず。）を選択して検証条件設定ウインドウ２０４を表示させる（図２６を参照する。）。

そして、作業者は、この検証条件設定ウインドウ２０４において、ステップＳ２７０２の処理において設定した抽出条件に合致した検証対象Ａおよび検証対象Ｂとの間の空間距離における安全規格の規定値を「安全規格検証（空間）」の判定距離として入力ボックス２０４ａに入力するとともに、当該検証対象Ａおよび当該検証対象Ｂとの間の沿面距離における安全規格の規定値を安全規格検証（沿面）の判定距離として入力ボックス２０４ｂ入力し、当該検証対象Ａおよび当該検証対象Ｂとの間の空間距離および沿面距離を測定する際の上限として最大測定距離を入力ボックス２０４ｃに入力する。

そして、各種数値を入力した後に検証条件設定ウインドウ２０４内に設けられた決定ボタン（図示せず。）を選択することにより、設定した内容が記憶されるとともに、検証条件設定ウインドウ２０４が閉じることとなる。

この最大測定距離は、空間距離および沿面距離を測定する際の上限値として最大距離を示すものであり、空間距離あるいは沿面距離にいずれか一方が最大測定距離を超えた時点で測定を中断し、検証を終了することを意図している。

即ち、この最大測定距離は、経路測定部６０における測定を行う必要がないと判断する際の基準となる距離であって、この安全規格検証においては、空間距離あるいは沿面距離にいずれか一方を測定中に最大測定距離を超えた時点で測定を中止することとなる。

なお、安全規格検証（空間）および安全規格検証（沿面）は、それぞれチェックボックス２０４ｄ、２０４ｅにチェックを入れるか否かによって検証の有効・無効を切り替えるものであり、例えば、検証対象Ａと検証対象Ｂとの間の沿面距離のみ検証する場合には、チェックボックス２０４ｅにチェックを入れて安全規格検証（沿面）を有効にするとともに、チェックボックス２０４ｄにチェックを入れずに安全規格検証（空間）を無効にする。

また、チェックボックス２０４ｆにチェックを入れるか否かによって最大測定距離の有効・無効を切り替えることができ、最大測定距離を有効にする場合には、チェックボックス２０４ｆにチェックを入れるようにする。こうした最大測定距離を有効にすることにより、明らかに安全な間隔を備えた導体部品間の空間距離および沿面距離の測定を省くことにより、測定処理時間が短くすることができる。

従って、チェックボックス２０４ｆにチェックを入れない場合には、最大測定距離が無効になり、全ての空間距離および沿面距離の測定が行われることになり、測定処理時間が長くなってしまう。

このため、チェックボックス２０４ｆにチェックを入れない場合には、例えば、空間距離の判定距離および沿面距離の判定距離の大きい方の値に所定の係数を乗算するなどして、最大測定距離に相当する測定上限値を自動設定できる構成としてもよい。

具体的には、例えば、図２６に示すように、チェックボックス２０４ｄ、２０４ｅ、２０４ｆにチェックを入れるとともに、入力ボックス２０４ａに「８」、入力ボックス２０４ｂに「１０」、入力ボックス２０４ｃに「１５」を入力すると、安全規格検証において空間距離および沿面距離の測定を行うこととなり、空間距離の規定値、つまり、空間距離として最低限確保していなければならない距離が８ｍｍ、沿面距離の規定値、つまり、沿面距離として最低限確保しなければならない距離１０ｍｍ、空間距離および沿面距離を測定する際の上限値が１５ｍｍと設定したこととなる。

その後、ステップＳ２７０２の処理において設定内容およびステップＳ２７０４の処理において設定した設定内容を合わせた設定内容に対して、ルール名を設定する（ステップＳ２７０６）。

なお、こうしたルール名の設定としては、例えば、検証条件設定ウインドウ２０４中にルール名設定ボックス（図示せず。）が設けられており、このルール名設定ボックスにルール名を入力することにより設定されるものであり、例えば、図２４（ｂ）に示すような検証条件を設定したものに対しては「ＡＣ−ＤＣ」と設定する。

そして、作業者は、安全規格検証メニュー２００ｃａに設けられたルール名入力ボックス２００ｃａ−１に安全規格検証を行おうとするルール名を入力し、抽出実行ボタン２００ｃａ−２を選択して、安全規格検証メニュー２００ｃａ上に設定内容を表示させる（ステップＳ２７０８）。

このステップＳ２７０８の処理では、ステップＳ２７０６の処理で設定したルール名を入力することにより、入力したルール名の設定内容（つまり、ステップＳ２７０２の処理において設定した抽出条件およびステップＳ２７０４の処理において設定した検証条件である。）を検証対象抽出部５６により抽出して安全規格検証メニュー２００ｃａに表示するものである。

また、安全規格検証メニュー２００ｃａに表示される際には、ステップＳ２７０２の処理で設定した抽出条件に合致した検証対象Ａおよび検証対象Ｂがそれぞれ抽出されて表示され、その検証対象Ａおよび検証対象Ｂの総当たりの組み合わせが表示される。

そして、検証対象Ａおよび検証対象Ｂの各組み合わせに対してステップＳ２７０４の処理で設定した検証条件を付加されて安全規格検証メニュー２００ｃａに表示される。

具体的には、図２４（ｂ）および図２６に示す設定内容に、ルール名をＡＣ−ＤＣと設定したとすると、作業者は、安全規格検証メニュー２００ｃａのルール名入力ボックス２００ｃａ−１にＡＣ−ＤＣと入力した後に、抽出実行ボタン２００ｃａ−２を選択すると、安全規格検証メニュー２００ｃａにおいて、ルール名を表示するルール名欄２００ｃａ−３には、ルール名入力ボックス２００ｃａ−１に入力したルール名「ＡＣ−ＤＣ」が表示され、検証対象Ａを表示する検証対象Ａ欄２００ｃａ−４および検証対象Ｂを表示する検証対象Ｂ欄２００ｃａ−５には、それぞれステップＳ２７０６の処理で判定した抽出条件に合致した検証対象Ａおよび検証対象Ｂが表示される（図２４（ａ）を参照する。）。即ち、検証対象Ａおよび検証対象Ｂには、部品名称が表示されることとなる。

さらに、ステップＳ２７０４の処理で設定した検証条件に基づいて、測定の種別を表示する種別欄２００ｃａ−６に空間距離あるいは沿面距離のいずれかが表示される。この種別欄２００ｃａ−６においては、測定の種別が空間距離であれば「空間」と表示され、沿面距離であれば「沿面」と表示される。

また、測定の種別に対応した判定距離が判定距離欄２００ｃａ−７に表示されるとともに、最大測定距離が最大測定距離欄２００ｃａ−８に表示される。従って、判定距離欄２００ｃａ−７においては、種別欄２００ｃａ−６が「空間」と表示されている場合には、「８ｍｍ」と表示され、「沿面」と表示されている場合には、「１０ｍｍ」と表示されるとともに、最大測定距離を表示する最大測定距離欄２００ｃａ−８においては、「１５ｍｍ」と表示されることとなる。

抽出条件および検証条件がリストアップされて安全規格検証メニュー２００ｃａに表示されると、作業者が検証実行ボタン２００ｃａ−９を選択して、安全規格検証処理を実行する（ステップＳ２７１０）。なお、こうした安全規格検証処理は、検証実行部５８および経路測定部６０により実行される。

ここで、図１７のフローチャートには、このステップＳ２７１０における安全規格検証処理の詳細な処理内容が示されており、この安全規格検証処理においては、まず、安全規格検証メニュー２００ｃａに表示されたリストの最上段（リスト１）に表示された検証対象Ａ、Ｂを測定対象とする（ステップＳ２８０２）。

次に、測定対象とした検証対象Ａ、Ｂ間の距離を設定された種別の内容に基づいて測定する（ステップＳ２８０４）。

つまり、ステップＳ２８０４の処理においては、リストにおいて測定対象とした検証対象Ａ、Ｂの種別欄２００ｃａ−６に「空間」と表示されている場合には、経路測定部６０において検証対象Ａ、Ｂ間の空間距離を測定し、種別欄２００ｃａ−６に「沿面」と表示されている場合には、経路測定部６０において検証対象Ａ、Ｂ間の沿面距離を測定するものである。

そして、ステップＳ２８０４の処理における測定中に、測定値が最大測定距離を超過したか否かを判断する（ステップＳ２８０６）。

このステップＳ２８０６の判断処理においては、ステップＳ２８０４の処理により測定される測定値が、最大測定距離として設定された閾値を超えたか否かを判断するものであって、測定値が測定中に当該閾値を超えた時点で、測定値が最大測定距離を超過したと判断する。従って、最大測定距離を超過していないという判断がなされる場合は、測定が終了した時点ということとなる。

このステップＳ２８０６の判断処理により、測定値が最大測定距離を超過していないと判断されると、測定された測定値と設定された判定距離とを比較し測定値の合否判定を行う（ステップＳ２８０８）。

即ち、このステップＳ２８０８の処理では、測定値が判定距離未満であればＮＧ（不合格）、判定距離以上であればＯＫ（合格）と判定することとなる。

具体的には、図２４（ａ）に示されたリスト１に表示された設定内容のときに、検証対象Ａと検証対象Ｂとが図２７（ａ）に示すような位置にあった場合、つまり、実際の検証対象Ａ、Ｂ間の空間距離が７ｍｍ、沿面距離が１１ｍｍである場合、空間距離は最大測定距離１５ｍｍ未満であるため、測定した空間距離の測定値の合否判定が行われる。

即ち、リスト１においては、測定値が「７ｍｍ」であるのに対して判定距離は「８ｍｍ」となっており、測定値が判定距離未満となっているため「ＮＧ」（つまり、不合格である。）の判定がなされる。

また、図２４（ａ）に示されたリスト２に表示された設定内容のときに、検証対象Ａと検証対象Ｂとが図２７（ａ）に示すような位置にあった場合、つまり、実際の検証対象Ａ、Ｂ間の空間距離が７ｍｍ、沿面距離が１１ｍｍである場合、沿面距離は最大測定距離１５ｍｍ未満であるため、測定した沿面距離の測定値の合否判定が行われる。

即ち、リスト２においては、測定値が「１１ｍｍ」であるのに対し判定距離が「１０ｍｍ」となっており、測定値が判定距離以上となっているため「ＯＫ」（つまり、合格である。）の判定がなされる。

その後、リストの次の段（ステップＳ２８０４の処理においてリスト１について検証対象Ａ、Ｂ間の測定を行った場合には、次の段はリスト２となる。）に検証対象Ａ、Ｂが表示されているか否かの判断を行う（ステップＳ２８１０）。

一方、ステップＳ２８０６の判断処理により、測定値が最大測定距離を超過していると判断されると、その時点で測定が中断され（ステップＳ２８１２）、ステップＳ２８１０の判断処理に進む。

具体的には、図２４（ａ）に示されたリスト３およびリスト４に表示された設定内容のときに、検証対象Ａと検証対象Ｂとが図２７（ｂ）に示すような位置にあった場合、つまり、実際の検証対象Ａ、Ｂ間の空間距離が７ｍｍ、沿面距離が１７ｍｍである場合、空間距離は最大測定距離１５ｍｍ未満であるが、沿面距離は最大測定距離１５ｍｍ以上となっている。

従って、沿面距離については、測定中に最大測定距離１５ｍｍを超えた時点で測定が中止されるとともに、合否判定を行わないものとなり、この検証対象Ａ、Ｂについては検証の対象から外される。

ステップＳ２８１０の判断処理において、次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されていると判断されると、当該次の段の検証対象Ａ、Ｂが測定対象とされ（ステップＳ２８１４）、ステップＳ２８０４の処理に進み、ステップＳ２８１４の処理により測定対象とされた検証対象Ａ、Ｂ間の測定を実行する。

ステップＳ２８１０の判断処理において、次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されていないと判断されると、安全規格検証メニュー２００ｃａにおいて、測定結果欄２００ｃａ−１０に測定した測定値を表示するとともに、合否判定の判定結果たる判定値を表示する判定値欄２００ｃａ−１１に合否判定の結果を表示し（ステップＳ２８１６）、安全規格検証処理を終了して安全規格検証を終了する。

即ち、ステップＳ２８１６の処理においては、同じ検証対象Ａ、Ｂ間において測定した異なる種別の距離において、どちらも最大測定距離を超えていなかった場合には、測定した測定値を測定結果欄２００ｃａ−１０に表示するとともに、ステップＳ２８０８の処理において判定した判定結果を判定値欄２００ｃａ−１１に表示するようにする（図２４（ａ）のリスト１、リスト２を参照する。）。

具体的には、図２４（ａ）に示す設定の内容において、実際に検証対象Ａ、ＢとなるＱ１、Ｑ２、Ｑ３の位置が、Ｑ１、Ｑ２間の空間距離７ｍｍ、沿面距離１１ｍｍ、Ｑ１、Ｑ３間の空間距離１０ｍｍ、沿面距離１７ｍｍであった場合には、Ｑ１、Ｑ２間の空間距離の検証内容を示すリスト１においては、測定結果欄２００ｃａ−１０には「７ｍｍ」、判定値欄２００ｃａ−１１には「ＮＧ」が表示される。また、Ｑ１、Ｑ２間の沿面距離の検証内容を示すリスト２においては、測定結果欄２００ｃａ−１０には「１１ｍｍ」、判定値欄２００ｃａ−１１には「ＯＫ」が表示される。

ここで、Ｑ１、Ｑ３間の空間距離は１０ｍｍと測定され、ステップＳ２８０８の処理における合否判定は「ＯＫ」となるはずであるが、Ｑ１、Ｑ３間においては沿面距離が１７ｍｍであるため測定を中止して合否判定を行っていない。

このため、Ｑ１、Ｑ３間は検証の対象から外されたこととなり、Ｑ１、Ｑ３間の空間距離の検証内容を示すリスト３およびＱ１、Ｑ３間の沿面距離の検証内容を示すリスト４においては、測定結果欄２００ｃａ−１０および判定値欄２００ｃａ−１１に「−」が表示される。

なお、空間距離および沿面距離の少なくともいずれか一方が最大測定距離を超えていた場合、検証対象Ａ、Ｂ間は十分な距離が設けられていることを示しているので、合否判定については「ＯＫ」とするようにしてもよい。

（２）静電気検証
静電気検証を行うには、作業者がポインティングデバイス２２などを用いて検証実行メニュー内に設けられた静電気検証タブ２００ｃ−２を選択する。これにより、静電気検証における放電検証または伝導経路探索を選択する選択ウインドウ（図示せず。）が表示され、作業者は、表示された選択ウインドウにおいて放電検証または伝導経路探索のいずれかを選択する。

（２−１）静電気検証における放電検証
作業者が選択ウインドウ（図示せず。）において放電検証を選択すると、検証実行メニュー表示部２００ｃにおいて放電検証メニュー２００ｃｂが表示される（図２８（ａ）を参照する。）。

放電検証メニュー２００ｃｂが表示されると、作業者は、まず、構成データに対する抽出条件を設定する（ステップＳ２９０２）。

このステップＳ２９０２の処理においては、抽出条件設定部５２により抽出条件を設定するものであり、上記した安全規格検証における抽出条件の設定と同様にして、検証用モデルデータ中あるいは検証用構成データ中から検証対象Ａ、Ｂを直接選択して属性名および属性値を設定することができる。

即ち、モデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用モデルデータ中の部品を選択したり、構成ツリー表示部２００ａに表示された検証用構成データの構成ツリー中から構成データを選択することにより、検証対象Ａおよび検証対象Ｂにそれぞれ属性名および属性値を設定するものである。

さらに、作業者が放電検証メニュー２００ｃｂに設けられた抽出条件設定ボタン（図示せず。）を選択して抽出条件設定ウインドウ（図示せず。）を表示させ、この抽出条件ウインドウにおいて検証対象Ａ、Ｂを設定するようにしてもよい。

なお、この抽出条件設定ウインドウは、上記した安全規格検証において説明した抽出条件設定ウインドウ２０２と同様であって、「検証対象Ａの抽出条件」および「検証対象Ｂの抽出条件」においてそれぞれ属性名および属性値を入力することにより、検証対象Ａ、Ｂを設定するものである。

また、放電検証では、検証対象Ａ、Ｂのうちの一方は、必ず放電ガンとなるため、検証対象Ａ（あるいは、検証対象Ｂ）は、放電ガンを抽出する属性名および属性値を入力して検証対象Ａ（あるいは、検証対象Ｂ）の抽出条件を設定することになる。

こうして抽出条件の設定が完了すると、次に、作業者により構成データに対する検証条件を設定する（ステップＳ２９０４）。

このステップＳ２９０４の処理においては、検証条件設定部５４により検証条件を設定するものであり、まず、作業者が放電検証メニュー２００ｃｂに設けられた検証条件設定ボタン（図示せず。）を選択して検証条件設定ウインドウ２１４を表示させる（図２８（ｂ）を参照する。）。

そして、作業者は、この検証条件設定ウインドウ２１４においてステップＳ２９０２の処理において設定した抽出条件に合致する検証対象Ａ、Ｂ間の空間距離における規定値を判定距離として入力ボックス２１４ａに入力するとともに、警告を表示するための下限の規定値を警告距離として入力ボックス２１４ｂに入力し、空間距離Ａ、Ｂ間の空間距離を測定する際の上限として最大測定距離を入力ボックス２１４ｃに入力する。

そして、各種数値を入力した後に検証条件設定ウインドウ２１４内に設けられた決定ボタン（図示せず。）を選択することにより、設定した内容が記憶されるとともに、検証条件設定ウインドウ２１４が閉じることとなる。

この最大測定距離は、経路測定部６０における測定を行う必要がないと判断する際の基準となる距離であって、この放電検証においては、空間距離を測定中に最大測定距離を超えた時点で測定を中止することとなる。

また、警告距離は、測定結果が警告距離の範囲内にあった場合、判定値に「Ｗａｒｎｉｎｇ」と警告表示するための基準となる距離であって、例えば、警告距離の入力ボックス２１４ｂに「２５」と入力すると、警告距離は、判定距離の２５％ということとなり、これにより判定値は、０≦測定結果＜７．５ｍｍの場合には「ＮＧ」となり、７．５ｍｍ≦測定結果＜１０の場合には「Ｗａｒｎｉｎｇ」となり、１０ｍｍ≦測定結果＜最大計測距離の場合には「ＯＫ」となる（図２８（ｃ）を参照する。）。

従って、入力ボックス２１４ｂに「０」と入力すると、警告距離は判定距離の０％ということとなり、判定値は「ＯＫ」、「ＮＧ」の２段階で表されることとなる。

なお、チェックボックス２１４ｆにチェックを入れるか否かによって最大測定距離の有効・無効を切り替えることができ、最大測定距離を有効にする場合には、チェックボックス２１４ｆにチェックを入れるようにする。こうした最大測定距離を有効にすることにより、明らかに安全な間隔を備えた放電ガン（検証対象Ａ）と検証対象Ｂとの間の空間距離の測定を省くことができ、測定処理時間が短くすることができる。

従って、チェックボックス２１４ｆにチェックを入れない場合には、最大測定距離が無効になり、全ての空間距離の測定が行われることになって、測定処理時間が長くなってしまう。

このため、チェックボックス２１４ｆにチェックを入れない場合には、例えば、判定距離の値に所定の係数を乗算するなどして、最大測定距離に相当する測定上限値を自動設定できる構成としてもよい。

具体的には、例えば、図２８（ｂ）に示すように、チェックボックス２１４ｆにチェックを入れるとともに、入力ボックス２１４ａに「１０」、入力ボックス２１４ｂに「２５」、入力ボックス２１４ｃに「１５」を入力すると、放電検証において、空間距離の規定値、つまり、空間距離として最低限確保していなければならない距離が１０ｍｍ、判定値で「Ｗａｒｎｉｎｇ」と表示する距離が７．５ｍｍ以上、１０ｍｍ（空間距離の規定値）未満、空間距離を測定する際の上限値が１５ｍｍと設定したことになる。

その後、作業者は、放電検証メニュー２００ｃｂに設けられた抽出実行ボタン２００ｃｂ−４を選択して、放電検証メニュー２００ｃｂ上に設定内容を表示させる（ステップＳ２９０６）。

このステップＳ２９０６の処理では、検証対象抽出部５６によりステップＳ２９０２の処理で設定した抽出条件に合致した検証対象Ａ、Ｂが抽出されて表示されるとともに、検証対象Ａ、Ｂが表示されたリストにステップＳ２９０４の処理で設定した検証条件を付加して表示される。

具体的には、ステップＳ２９０２の処理において検証対象Ａとして「Ｅ＿ＧＵＮ１」、検証対象Ｂとして「Ｚ＿ＪＣ−ＱＦＰ」および「Ｚ＿Ｃ−３２＿１１」が設定されるとともに、ステップＳ２９０４の処理において図２８（ｂ）に示す検証条件が設定された場合、作業者が抽出実行ボタン２００ｃｂ−４を選択すると、放電検証メニュー２００ｃｂにおいて、検証対象Ａを表示する検証対象Ａ欄２００ｃｂ−１に「Ｅ＿ＧＵＮ１」が表示されるとともに、検証対象Ｂを表示する検証対象Ｂ欄２００ｃｂ−２に「Ｚ＿ＪＣ−ＱＦＰ」および「Ｚ＿Ｃ−３２＿１１」が表示される。さらに、測定の種別を表示する種別欄２００ｃｂ−３には空間距離を表す「空間」が表示されるとともに、判定距離を表示する判定距離欄２００ｃｂ−５に「１０ｍｍ」、最大測定距離を表示する最大測定距離欄２００ｃｂ−６に「１５ｍｍ」と表示される（図２８（ａ）を参照する。）。

こうして抽出条件および検証条件がリストアップされて放電検証メニュー２００ｃｂに表示されると、作業者が検証実行ボタン２００ｃｂ−９を選択して、放電検証処理を実行する（ステップＳ２９０８）。なお、こうした放電検証処理は、検証実行部５８、経路測定部６０および測定経路可視化部６２により実行される。

ここで、図１９のフローチャートには、このステップＳ２９０８における放電検証処理の詳細な処理内容が示されており、この放電検証処理においては、まず、放電検証メニュー２００ｃｂに表示されたリストの最上段（図２８（ａ）のリスト１を参照する。）に表示された検証対象Ａ、Ｂを測定対象とする（ステップＳ３００２）。

次に、測定対象とした検証対象Ａ、Ｂ間の空間距離を測定する（ステップＳ３００４）。

例えば、筐体側面に位置する放電ガン（検証対象Ａ）から発生した静電気は、最短経路を通って検証対象Ｂに到達するものであるため、ステップＳ３００４の処理では、放電ガン、つまり、検証対象Ａと検証対象Ｂとの間の空間距離を経路測定部６０により測定するものである。

そして、ステップＳ３００４の処理における空間距離の測定中に測定値が最大測定距離を超過したか否かを判断する（ステップＳ３００６）。

このステップＳ３００６の判断処理においては、ステップＳ３００４の処理により測定される測定値が、最大測定距離として設定された閾値を超えたか否かを判断するものであって、測定値が測定中に当該閾値を超えた時点で、測定値が最大測定距離を超過したと判断する。従って、最大測定距離を超過していないという判断がなされる場合は、測定が終了した時点ということとなる。

このステップＳ３００６の判断処理により、測定値が最大測定距離を超過していないと判断されると、測定された測定値と設定された判定距離および警告距離とを比較し、測定値の合否判定を行う（ステップＳ３００８）。

即ち、このステップＳ３００８の処理では、警告距離の範囲の下限値より小さい場合はＮＧ（不合格）であり、警告距離の範囲であればＷａｒｎｉｎｇ（警告）であり、警告距離の範囲の上限値以上の場合にはＯＫ（合格）と判定することとなる。

なお、この警告距離の範囲とは、例えば、図２８（ｃ）に示すように判定距離１０ｍｍ、警告距離２５％としたときに、７．５〜１０ｍｍとなり、この警告距離の範囲の下限値は７．５ｍｍとなるとともに上限値は１０ｍｍとなる。

具体的には、図２８（ａ）のリスト１に表示された設定内容のときに、リスト１における検証対象Ｂ「Ｚ＿ＪＣ＿ＱＦＰ」と検証対象Ａ「Ｅ＿Ｇｕｎ１」（放電ガン）との実際の空間距離が１１ｍｍであった場合、その空間距離は、最大測定距離１５ｍｍ未満であるため、測定した空間距離の測定値の合否判定が行われることとなる。

即ち、リスト１においては、測定値が「１１ｍ」となるのに対して判定距離は「１０ｍｍ」となっており、判定値が判定距離以上となっているため「ＯＫ」（つまり、合格である。）の判定がなされる。

また、図２８（ａ）のリスト２に表示された設定内容のときに、リスト２における検証対象Ｂ「Ｚ＿Ｃ−３２＿１１」と検証対象Ａ「Ｅ＿Ｇｕｎ１」（放電ガン）との実際の空間距離が９．８５ｍｍである場合、その空間距離は最大測定距離１５ｍｍ未満であるため、測定した空間距離の測定値の合否判定が行われることとなる。

即ち、リスト２においては、測定値が「９．８５ｍｍ」となるのに対して判定距離は「１０ｍｍ」となっており、測定値は警告距離の範囲内となっているため「Ｗａｒｎｉｎｇ」（つまり、警告である。）の判定がなされる。

その後、リストの次の段（つまり、ステップＳ３００４の処理においてリスト１について検証対象Ａ、Ｂ間の測定を行った場合には、次の段はリスト２となる。）に検証対象Ａ、Ｂが表示されているか否かの判断を行う（ステップＳ３０１０）。

一方、ステップＳ３００６の判断処理により、測定値が最大測定距離を超過していないと判断されると、その時点で測定が中断され（ステップＳ３０１２）、ステップＳ３０１０の判断処理に進む。

具体的には、図２８（ａ）のリスト１に表示された設定内容のときに、リスト１における検証対象Ｂ「Ｚ＿ＪＣ＿ＱＦＰ」と検証対象Ａ「Ｅ＿Ｇｕｎ１」（放電ガン）との実際の空間距離が１７ｍｍであった場合、その空間距離は、最大測定距離１５ｍｍ以上となっている。

従って、リスト１については、測定中に最大測定距離１５ｍｍを超えた時点で測定が中止されるとともに、合否判定を行わないものとなり、この検証対象Ａ、Ｂについては検証対象から外されることとなる。

そして、ステップＳ３０１０の判断処理において、次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されていると判断されると、当該次の段の検証対象Ａ、Ｂが測定対象とされ（ステップＳ３０１４）、ステップＳ３００４の処理に進み、ステップＳ３００４の処理により測定対象とされた検証対象Ａ、Ｂ間の空間距離の測定を実行する。

また、ステップＳ３０１０の判断処理において、次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されていないと判断されると、放電検証メニュー２００ｃｂの測定結果欄２００ｃｂ−７に測定した測定値を表示するとともに、合否判定の判定結果たる判定値を表示する判定値欄２００ｃｂ−８に合否判定の結果を表示する（ステップＳ３０１６）。

即ち、ステップＳ３０１６の処理においては、例えば、図２８（ａ）のリスト１およびリスト２に表示された設定内容のときに、リスト１における検証対象Ｂ「Ｚ＿ＪＣ＿ＱＦＰ」と検証対象Ａ「Ｅ＿Ｇｕｎ１」（放電ガン）との実際の空間距離が１１ｍｍ、リスト２における検証対象Ｂ「Ｚ＿Ｃ−３２＿１１」と検証対象Ａ「Ｅ＿Ｇｕｎ１」（放電ガン）との実際の空間距離が９．８５ｍｍである場合、リスト１においては、測定結果欄２００ｃｂ−７には「１１ｍｍ」、判定値欄２００ｃｂ−８には「ＯＫ」が表示され、また、リスト２においては、測定結果欄２００ｃｂ−７には「９．８５ｍｍ」、判定値欄２００ｃｂ−８には「Ｗａｒｎｉｎｇ」が表示される（図２８（ａ）を参照する。）。

また、ステップＳ３０１６の処理において、例えば、図２８（ａ）のリスト１に表示された設定内容のときに、リスト１における検証対象Ｂ「Ｚ＿ＪＣ＿ＱＦＰ」と検証対象Ａ「Ｅ＿Ｇｕｎ１」（放電ガン）との実際の空間距離が１７ｍｍである場合、測定結果欄２００ｃｂ−７および判定値欄２００ｃｂ−８に、検証の対象から外されたことを示す「−」が表示される。

その後、放電検証メニュー２００ｃｂに表示された合否判定結果を検証用モデルデータ上に反映させて識別表示し（ステップＳ３０１８）、放電検証処理を終了して静電気検証における放電検証を終了する。

即ち、このステップＳ３０１８の処理においては、モデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用モデルデータにおいて、測定経路可視化部６２により測定した空間距離の測定経路を表示するとともに、合否判定結果（判定値）に基づいて、表示した測定経路の線種や色彩を変更して表示するようにする（図２９を参照する。）。

（２−２）静電気検証における伝導経路探索
作業者が選択ウインドウ（図示せず。）において伝導経路探索を選択すると、検証実行メニュー表示部２００ｃにおいて伝導経路探索メニュー２００ｃｃが表示される（図３０（ａ）を参照する。）。

導電経路探索メニュー２００ｃｃが表示されると、作業者は、まず、構成データに対する抽出条件を設定する（ステップＳ３１０２）。

このステップＳ３１０２の処理においては、抽出条件設定部５２により抽出条件を設定するものであり、上記した安全規格検証における抽出条件の設定と同様にして、検証用モデルデータ中あるいは検証用構成データ中から検証対象Ａ、Ｂを直接選択して属性名および属性値を設定することができる。

即ち、モデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用モデルデータ中の部品を選択したり、構成ツリー表示部２００ａに表示された検証用構成データの構成ツリー中から構成データを選択することにより、検証対象Ａおよび検証対象Ｂにそれぞれ属性名および属性値を設定するものである。

さらに、作業者が導電経路探索メニュー２００ｃｃに設けられた抽出条件設定ボタン（図示せず。）を選択して抽出条件設定ウインドウ（図示せず。）を表示させ、この抽出条件ウインドウにおいて検証対象Ａ、Ｂを設定するようにしてもよい。

なお、この抽出条件設定ウインドウは、上記した安全規格検証において説明した抽出条件設定ウインドウ２０２と同様であって、「検証対象Ａの抽出条件」および「検証対象Ｂの抽出条件」においてそれぞれ属性名および属性値を入力することより、検証対象Ａ、Ｂを設定するものである。

こうして抽出条件の設定が完了すると、次に、作業者は構成データに対する検証条件を設定する（ステップＳ３１０４）。

このステップＳ３１０４の処理においては、検証条件設定部５４により検証条件を設定するものであり、まず、作業者が導電経路探索メニュー２００ｃｃに設けられた検証条件設定ボタン（図示せず。）を選択して検証条件設定ウインドウ２２４を表示させる（図３０（ｂ）を参照する。）。

そして、作業者は、この検証条件設定ウインドウ２２４において、伝導経路探索の検証モードを「簡易」あるいは「詳細」から選択するとともに、ステップＳ３１０２の処理において設定した抽出条件に合致した検証対象Ａ、Ｂ間の伝導経路として探索する上限として探索件数上限を設定し、当該検証条件Ａ、Ｂ間の伝導経路を探索する際の経路長の上限として最大測定距離を設定する。

なお、探索件数上限は、検証対象Ａ、Ｂ間の伝導経路を探索する際の最大件数を設定するものであって、当該最大件数を入力ボックス２２４ａに入力することにより設定されるものである。例えば、入力ボックス２２４ａにおいて「５」を入力すると、検証実行部５８により探索された伝導経路のうち経路長が短いものから５つが伝導経路探索メニュー２００ｃｃに表示されることとなる。このとき、探索された伝導経路の件数が探索件数上限で入力した「５」よりも少ない場合には、そこまでの件数を取得して処理を終了することとなる。

また、検証実行部５８により伝導経路の探索が行われる際は、経路測定部６０により探索された伝導経路の経路長が測定されており、最大測定距離は、こうした経路測定部６０における測定を行う必要がないと判断する際の基準となる距離であって、経路測定部６０においては、経路長を測定中に最大測定距離を超えた時点で伝導経路の探索を中止することとなる。そして、この最大測定距離を入力ボックス２２４ｃに入力することにより設定するものである。

なお、チェックボックス２２４ｆにチェックを入れるか否かによって最大測定距離の有効・無効を切り替えることができ、最大測定距離を有効にする場合には、チェックボックス２２４ｆにチェックを入れるようにする。こうした最大測定距離を有効にすることにより、無用な伝導経路の探索を省くことができるとともに、測定処理時間が短くすることができる。

さらに、検証モードにおいて、「簡易」を選択すると、検証の高速化を目的とした簡易モードとなり、配線やビアなどを無視した直線により検証用モデルデータ上で伝導経路の探索が行われるものである。また、「詳細」を選択すると、配線やビアなどを無視することなく検証用モデルデータ上で伝導経路の探索が行われるものである。

ここで、検証条件として、探索された伝導経路上に位置する導体部品数の上限値たる最大経由部品数上限を設定可能とする場合には、検証条件設定ウインドウ２２４内に最大経由部品数上限を入力する入力ボックスを設け、当該入力ボックスに最大経由部品数上限を入力するようにすればよい。

なお、最大経由部品数上限は、検証対象Ａ、Ｂ間の伝導経路を探索する際に当該伝導経路が経由する導体部品数の最大数を設定するものであり、当該最大値を最大経由部品数上限を入力する入力ボックスに入力することにより設定されるものである。例えば、当該入力ボックスにおいて「１０」を入力すると、検証実行部５８により検索される伝導経路において経由する導体部品数が１０個を超えた時点で伝導経路の探索を中止することとなる。

具体的には、例えば、図３０（ｂ）に示すように、検証モードで「簡易」を選択し、チェックボックス２２４ｆにチェックを入れるとともに、入力ボックス２２４ａに「２」、入力ボックス２２４ｃに「１５０」を入力すると、簡易モードにおいて、探索する際の最大件数が２件、探索する際の導電経路の上限値が１５０ｍｍと設定したことになる。

その後、作業者は、伝導経路探索メニュー２００ｃｃに設けられた抽出実行ボタン２００ｃｃ−１を選択して、伝導経路探索メニュー２００ｃｃ上に設定内容を表示させる（ステップＳ３１０６）。

このステップＳ３１０６の処理では、検証対象抽出部５６によりステップＳ３１０２の処理で設定した抽出条件に合致する検証対象Ａ、Ｂが抽出されて表示されるとともに、表示された検証対象Ａ、ＢにステップＳ３１０４の処理で設定した検証条件を付加して表示される。

具体的には、ステップＳ３１０２の処理において検証対象Ａとして「Ｃ２５６」を、検証対象Ｂとして「Ｂａｔｔｅｒｙ Ｃａｓｅ」を設定されるとともに、ステップＳ３１０４の処理において図３０（ｂ）に示す検証条件が設定された場合、作業者が抽出実行ボタン２００ｃｃ−１を選択すると、伝導経路探索メニュー２００ｃｃにおいて、検証対象Ａを表示する検証対象Ａ欄２００ｃｃ−２に「Ｃ２５６」、検証対象Ｂを表示する検証対象Ｂ欄２００ｃｃ−３に「Ｂａｔｔｅｒｙ Ｃａｓｅ」、検証の種別を表示する種別欄２００ｃｃ−４に「伝導（簡易）」、探索件数上限を表示する判定上限数欄２００ｃｃ−５に「２」、最大測定距離を表示する最大測定距離欄２００ｃｃ−６に「１５０ｍｍ」と表示される（図３０（ａ）を参照する。）。

こうして抽出条件および検証条件がリストアップされて伝導経路探索メニュー２００ｃｃに表示されると、作業者が検証実行ボタン２００ｃｃ−７を選択して、伝導経路探索処理を実行する（ステップＳ３１０８）。なお、こうした伝導経路探索処理については、検証実行部５８、経路測定部６０および測定経路可視化部６２により実行される。

ここで、図２１のフローチャートには、このステップＳ３１０８における伝導経路探索処理の詳細な処理内容が示されており、この伝導経路探索処理においては、まず、伝導経路探索メニュー２００ｃｃに表示されたリストの最上段に表示された検証対象Ａ、Ｂを探索対象とする（ステップＳ３２０２）。

次に、探索対象とした検証対象Ａ、Ｂ間の伝導経路の探索を行うものであるが、当該検証対象Ａ、Ｂのうちまだ伝導経路の探索をしていない導体険路の探索を行う（ステップＳ３２０４）。

このステップＳ３２０４の処理では、探索対象とした検証対象Ａ、Ｂ間の簡易な伝導経路の探索を行うとともに、当該簡易な伝導経路の経路長の測定および経由した導体部品情報の取得を行う。

そして、ステップＳ３２０４の処理において探索している伝導経路が不正な経路を経由した、あるいは、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したか否かの判断をする（ステップＳ３２０６）。

即ち、このステップＳ３２０６の判断処理においては、ステップＳ３２０４の処理において探索中の伝導経路が不正な経路（つまり、循環や逆戻りのような経路のことである。）を経由したか否かを判断するとともに、ステップＳ３２０４の処理において探索中の伝導経路の経路長が最大測定距離を超過しているか否かを判断し、当該判断結果に基づいて、探索している伝導経路が不正な経路を経由した、あるいは、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したか否かの判断を行うものである。

従って、探索中の伝導経路が不正な経路を経由した時点、あるいは、探索中の伝導経路の経路長が最大測定距離を超過した時点で、探索している伝導経路が不正な経路を経由した、あるいは、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したと判断されることとなる。

なお、探索している伝導経路が不正な経路を経由した、あるいは、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したものではないと判断された場合は、探索中に伝導経路が不正な伝導経路を経由せず、かつ、当該伝導経路の経路長が最大測定距離を超過しなかったときである。

ここで、ステップＳ３２０６の判断処理中においても伝導経路の探索が実行中なので、探索している伝導経路が不正な経路を経由した、あるいは、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したものではないと判断された場合には、伝導経路の探索中に不正な経路の経由および経路長の最大測定距離の超過がない状態で伝導経路の探索が終了していることとなる。

ステップＳ３２０６の判断処理により、探索している伝導経路が不正な経路を経由した、あるいは、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したと判断されると、伝導経路の探索を中止して（ステップＳ３２０８）、ステップＳ３２０４の処理に戻り、ステップＳ３２０４の処理以降の処理を行う。

一方、ステップＳ３２０６の判断処理により探索している伝導経路が不正な経路を経由した、あるいは、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したものではないと判断されると、検証モードが簡易モードであるか否かを判断する（ステップＳ３２１０）。

このステップＳ３２１０の判断処理においては、ステップＳ３１０４の処理において作業者により設定された検証条件における検証モードが簡易モードであるか否かの判断を行うものである。

ステップＳ３２１０の判断処理により検証モードは簡易モードではない、つまり、詳細モードであると判断されると、探索された伝導経路のうち、まだリファインメント処理していない伝導経路についてリファインメント処理を行う（ステップＳ３２１２）。

なお、リファインメント処理とは、簡易な伝導経路から詳細な伝導経路を求めるものであって、この際には、詳細な伝導経路の経路長も測定される。

そして、リファインメント処理している伝導経路の経路長が、最大測定距離を超過しているか否かの判断を行う（ステップＳ３２１４）。

即ち、このステップＳ３２１４の判断処理においては、リファインメント処理している伝導経路の経路長が、最大測定距離として設定された閾値を超えたか否かを判断するものであって、当該経路長が当該閾値を超えた時点で、当該経路長が最大測定距離を超過したと判断する。従って、最大測定距離を超過していないという判断がなされる場合は、測定が終了した時点ということとなる。

ステップＳ３２１４の判断処理により、リファインメント処理している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したと判断された場合には、ステップＳ３２１２の処理に戻り、ステップＳ３２１２の処理以降の処理を行う。

一方、ステップＳ３２１４の判断処理により、リファインメント処理している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過しなかったと判断された場合には、リファインメント処理した伝導経路のうち、経路長が最短のものから探索件数上限の件数分を詳細な伝導経路として取得する（ステップＳ３２１６）。このとき、この伝導経路においては、経路長および経由した導体部品情報を合わせて取得することとなる。

その後、リストの次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されているか否かの判断を行う（ステップＳ３２１８）。

一方、ステップＳ３２１０の判断処理により検証モードは簡易モードであると判断されると、探索した伝導経路のうち、経路長が最短のものから探索件数上限の件数分を簡易な伝導経路として取得する（ステップＳ３２２０）。このとき、この伝導経路においては、経路長および経由した導体部品情報を合わせて取得することとなる。

その後、ステップＳ３２１８の判断処理に進み、リストの次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されているか否かの判断を行う。

このステップＳ３２１８の判断処理において、次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されていると判断されると、当該次の段の検証対象Ａ、Ｂが探索対象とされ（ステップＳ３２２２）、ステップＳ３２０４の処理に進み、当該検証対象Ａ、Ｂ間の伝導経路の探索を実行する。

また、ステップＳ３２１８の判断処理において、次の段に検証対象Ａ、Ｂが表示されていないと判断されると、取得した探索件数上限の件数分の各伝導経路について、図３０（ａ）に示すように、伝導経路探索メニュー２００ｃｃの測定結果欄２００ｃｃ−８の探索した伝導経路の経路長を表示するとともに、経由部品欄２００ｃｃ−９に探索した導体経路が経由した導体部品名を表示する（ステップＳ３２２４）。

この図３０（ａ）においては、最短の経路長の伝導経路が最も上段に表示され、当該伝導経路の経路長たる測定結果が７３．３７ｍｍと表示されるとともに、経由部品「ＧＮＤ＿ＢＡＴＴＥＲＹ １％」、「ＣＮ２０２」、「ＣＮ５ ％１」、「ＤＧＮＤ ％１」、「Ｓｃｒｅｗ３」の５つの導体部品が表示されており、その下段には、当該伝導経路の経路長たる測定結果が１０５０５１ｍｍと表示されるとともに、「ＶＣＣ ％４」、「ＪＡ１」、「ＧＮＤ＿ＢＡＴＴＥＲＹ ％１」、「ＬＣＤ」の４つの導体部品が表示されている。

その後、取得した伝送経路を検証用モデルデータには反映させて表示し（ステップＳ３２２６）、伝導経路探索処理を終了して静電気検証における伝導経路探索を終了する。

このステップＳ３２２６の処理においは、伝導経路探索メニュー２００ｃｃに表示した伝導経路をそれぞれ異なる色彩で検証用モデルデータに表示するようにしてもよいし、探索した伝導経路のうち作業者がリストを指定することにより指定したリストに対応した伝導経路を表示するようにしてもよい。

なお、検証条件として、最大経由部品数を設定した場合には、ステップＳ３２０６の処理は、探索している伝導経路が不正な経路を経由した、当該伝導経路の経路長が最大測定距離を超過した、あるいは、当該伝導経路の経由する部品数が最大経由部品数を超過したか否かの判断を行うようにする。

即ち、このときのステップＳ３２０６の判断処理においては、ステップＳ３２０４の処理において探索中の伝導経路が不正な経路を経由したか否かを判断し、ステップＳ３２０４の処理において探索中の伝導経路の経路長が最大測定距離を超過したか否かを判断するとともに、ステップＳ３２０４の処理において探索中の伝導経路が経由した導体部品数が最大経由部品数を超過したか否かの判断を行い、当該判断結果に基づいて、探索している伝導経路が不正な経路を経由した、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過した、あるいは、探索している伝導経路の経由する部品数が最大経由部品数を超過したか否かの判断を行う。

従って、探索中の伝導経路が不正な経路を経由した時点、探索中の伝導経路の経路長が最大測定距離を超過した時点、あるいは、探索中の伝導経路の経由した部品数が最大経由部品数を超過した時点で、探索している伝導経路が不正な伝導経路を経由した、探索している伝導経路の経路長が最大測定距離を超過した、あるいは、探索している伝導経路の経由する部品数が最大経由部品数を超過したと判断される。

（３）ＥＭＣ検証
ＥＭＣ検証を行うには、作業者がポインティングデバイス２２などを用いて検証実行メニュー内に設けられたＥＭＣ検証タブ２００ｃ−３を選択する。これにより検証実行メニュー表示部２００ｃにおいてＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄが表示される（図３１（ａ）を参照する。）。

ＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄが表示されると、作業者は、まず、構成データに対する抽出条件を設定する（ステップＳ３３０２）。

このステップＳ３３０２の処理においては、抽出条件設定部５２により抽出条件を設定するものであり、ＥＭＣ検証では、対象とする部品と接続状態にある部品が金属部品であるか否かを確認するものであるので、抽出条件として設定する条件としては検証対象Ａに対する条件のみとなり、このステップＳ３３０２の処理では、検証対象Ａの抽出条件を設定することとなる。この部品間で接続状態にあるか否かは、電子基板における各部品の配置位置などから判断するものである。

この部品間における接続状態の判断については、基本的には部品の配置位置から判断されるが、当該配置位置だけでは接続状態の判断ができないものについては、設計データ変換部４４で作成した情報を用いて判定することとなる。

具体的な設定方法としては、モデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用モデルデータにおいて検証対象とする部品を直接選択して設定したり、または、構成ツリー表示部２００ａに表示された検証用構成データにおいて対象とする部品を直接選択して設定する。

即ち、検証用モデルデータを用いて検証対象Ａの抽出条件を設定する場合には、作業者が検証用モデルデータ中で検証対象Ａとして設定する部品を直接選択する。

このとき、検証用モデルデータ中で直接選択された部品は当該検証用モデルデータ中でハイライトされて表示されるとともに、構成ツリー表示部２００ａにおいて表示されている構成ツリーのうち当該部品に対応する構成データがハイライトされて表示される（図３１（ｂ）を参照する。）。

また、検証用構成データの構成ツリーを用いて検証対象Ａの抽出条件を設定する場合には、作業者が構成ツリー表示部２００ａに表示された構成ツリーの中のから検証対象Ａとして設定する部品の構成データを直接選択する。

このとき、構成ツリー中で選択された部品は当該構成ツリー中でハイライトされて表示されるとともに、モデルデータ表示部２００ｂにおいて表示されている検証用モデルデータのうち当該部品に対応するデータがハイライトされて表示される（図３１（ｂ）を参照する。）。

こうして抽出条件の設定が完了すると、次に、作業者により構成データに対する検証条件を設定する（ステップＳ３３０４）。

このステップＳ３３０４の処理においては、検証条件設定部５４により検証条件を設定するものであり、まず、作業者がＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄに設けられた検証条件設定ボタンを選択して検証条件設定ウインドウ２３４を表示させる（図３１（ｃ）を参照する。）。

そして、作業者は、この検証条件設定ウインドウ２３４において、ステップＳ３３０２の処理において設定した抽出条件に合致する検証対象Ａと接続状態にある金属部品の属性名を入力するとともに、当該金属部品の属性値が、ネジなどの部品を表す「Ｍｅｔａｌ」であるのか、ＧＮＤなどの部品を表す「ＧＲＯＵＮＤ」であるのかを設定する。

即ち、検証条件の設定においては、検証対象Ａと接続状態にある金属部品の属性名および属性値を全て入力する必要があり、さらに、当該金属部品と接続状態にある金属部品についてもその属性および属性値を全て入力する。

作業者は、この検証条件設定ウインドウ２３４において、ステップＳ３３０２の処理において設定した抽出条件に合致する検証対象Ａと接続状態にある金属部品の属性名を属性名欄２３４ａに入力するとともに、当該属性名に対応する属性値を属性値欄２３４ｂに入力し、演算子欄２３４ｃにおいてＡＮＤ条件およびＯＲ条件を適宜に組み合わせて設定を行う。

そして、全ての属性名および属性値を入力した後に検証条件設定ウインドウ２３４内に設けられた決定ボタン（図示せず。）を選択することにより、設定した内容が記憶されるとともに、設定条件設定ウインドウ２３４が閉じることとなる。

具体的には、例えば、図３１（ｃ）に示すように検証条件を設定したとすると、検証条件としては、検証対象Ａに接続する金属部品は、属性名「Ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｉｔｙ」について属性値「Ｍｅｔａｌ」とし、属性名「Ｓｉｇｎａｌ Ｔｙｐｅ」について属性値「ＧＲＯＵＮＤ」と設定したこととなる。

その後、作業者は、ＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄに設けられた抽出実行ボタン２００ｃｄ−１を選択して、ＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄ上に設定内容を表示させる（ステップＳ３３０６）。

このステップＳ３３０６の処理では、検証対象抽出部５６によりステップＳ３３０２の処理で設定した抽出条件に合致した検証対象Ａが抽出されて表示されるとともに、検証対象Ａが表示されたリストにステップＳ３３０４の処理で設定した検証条件を付加して表示される。

また、図３１（ｂ）に示すように、検証対象Ａとして「ＧＮＤ＿ＳＵＢ」が選択されていた場合、図３１（ａ）に示すように、ＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄにおいて、検証対象Ａとして「ＧＮＤ＿ＳＵＢ」が表示されることとなる。

なお、図３１（ａ）においては、便宜上、検証条件を表示する部分が省略して示されている。

このとき、作業者が、ステップＳ３３０２の処理で検証対象Ａを複数選択した場合には、検証対象Ａを複数表示可能なように、リストが複数段表示される。

こうして抽出条件および検証条件がリストアップされてＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄに表示されると、作業者が検証実行ボタン２００ｃｄ−２を選択して、ＥＭＣ検証処理を実行する（ステップＳ３３０８）。なお、こうしたＥＭＣ検証処理は、検証実行部５８および測定経路可視化部６２により実行される。

ここで、図２３のフローチャートには、このステップＳ３３０８におけるＥＭＣ検証処理の詳細な処理内容が示されており、このＥＭＣ検証処理においは、まず、ＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄに表示されたリストの最上段に表示された検証対象Ａを検証対象とする（ステップＳ３４０２）。

次に、検証用データ中で検証対象Ａと接続状態にある部品が存在するか否かを判断する（ステップＳ３４０４）。

そして、ステップＳ３４０４の判断処理において、検証用データ中で検証対象Ａと接続状態にある部品がないと判断されると、後述するステップＳ３４１８の判断処理に進む。

ステップＳ３４０４の判断処理において、検証用データ中で検証対象Ａと接続状態にある部品が存在すると判断されると、検証用データ中の検証対象Ａと接続状態にある部品の属性名および属性値を参照する（ステップＳ３４０６）。

次に、ステップＳ３４０６の処理で参照した属性名および属性値と、検証条件として設定した属性名および属性値とが一致するか否かを判断する（ステップＳ３４０８）。

つまり、このステップＳ３４０８の処理においては、検証用データ中の検証対象Ａと接続状態にある部品の属性名および属性値が、検証条件として設定した属性名および属性値と一致するか否かの判断を行うものである。

ステップＳ３４０８の判断処理において、検証用データ中の検証対象Ａと接続状態にある部品の属性名および属性値が、検証条件として設定した属性名および属性値と一致しないと判断されると、後述するステップＳ３４１８の判断処理に進む。

一方、ステップＳ３４０８の判断処理において、検証用データ中の検証対象Ａと接続状態にある部品の属性名および属性値が、検証条件として設定した属性名および属性値と一致したと判断されると、一致した部品を導通部品としてＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄに表示される（ステップＳ３４１０）。

具体的には、「ＧＮＤ＿ＳＵＢ」という部品を検証対象Ａとし、この検証対象Ａに、実際に「ＤＧＮＤ ％１」、「Ｂａｔｔｅｒｙ＿Ｃａｓｅ」、「Ｓｃｒｅｗ１」、「Ｓｃｒｅｗ２」、「Ｓｃｒｅｗ３」の５つの部品が導通している場合、検証対象Ａ欄２００ｃｄ−３に表示された「ＧＮＤ＿ＳＵＢ」の導通部品として、導通部品欄２００ｃｄ−３に「ＤＧＮＤ ％１」、「Ｂａｔｔｅｒｙ＿Ｃｓｅ」、「Ｓｃｒｅｗ１」、「Ｓｃｒｅｗ２」、「Ｓｃｒｅｗ３」が表示されるとともに、当該導通部品の属性値が属性値欄２００ｃｄ−４に表示され、導通部品数欄２００ｃｄ−５に導通部品の総数が表示される（図３１（ａ）を参照する。）。なお、この図３１（ａ）においは、検証条件に設定した設定内容は省略されている。

なお、設計データ変換部４４において電子基板設計データから変換されて検証用基板データを取得する際には、ネットリストが取得されており、このネットリストは、電子基板設計データにおける導体部品間のパターンの接続情報となっている（図３４を参照する。）。

ＥＭＣ検証においては、金属部品間の接続について、こうしたデータも利用して検証が行われるものであり、これにより検証時間が短縮される。

例えば、図３５を参照しながらネット名ＳＩＧＮ００１２３と電子部品Ｒ３４の接続情報をまとめると、ネットリストからネット名：ＳＩＧＮ００１２３のみを取得するとともに（図３５（ａ）参照する。）、ネットリストからリファレンス名：Ｒ３４のみを取得する（図３５（ｂ）を参照する。）。

すると、ＳＩＧＮ００１２３は電子部品（ＢＤ−ＶＸＬセクションの属性：Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ）のＲ３４、Ｒ３５に接続しており、さらに、電子部品（ＢＤ−ＶＸＬセクションの属性：Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ）のＲ３４に接続しているネットは、ＳＩＧＮ００１２３、Ｖ＋３７（図３５（ｃ）に示すハッチングの領域）であることがわかる。

次に、検証対象Ａの導通部品として表示された導通部品に接続状態にある部品が存在するか否かを判断する（ステップＳ３４１２）。

即ち、ステップＳ３４１２の判断処理では、ＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄの導通部品欄２００ｃｄ−３に表示された導通部品のそれぞれについて、既に接続状態にある部品の検証がなされた部品（例えば、検証対象Ａである。）を除外して、接続された部品があるか否かの判断を行う。

このステップＳ３４１２の判断処理において、導通部品欄２００ｃｄ−３に表示された導通部品のそれぞれについて、接続された部品がないと判断されると、後述するステップＳ３４１８の判断処理に進む。

一方、ステップＳ３４１２の判断処理において、導通部品欄２００ｃｄ−３に表示された導通部品のそれぞれについて接続された部品があると判断されると、検証用データ中で導通部品と接続状態にある部品の属性名および属性値を参照する（ステップＳ３４１４）。

そして、ステップＳ３４１４の処理で参照した属性名および属性値と、検証条件として設定した属性名および属性値とが一致するか否かを判断する（ステップＳ３４１６）。

つまり、このステップＳ３４１６の処理においては、検証用データ中の導通部品と接続状態にある部品の属性名および属性値が、検証条件として設定した属性名および属性値と一致するか否かの判断を行うものである。

このステップＳ３４１６の判断処理において、検証用データ中の導通部品と接続状態にある部品の属性名および属性値が、検証条件として設定した属性名および属性値と一致したと判断されると、ステップＳ３４１０の処理に進み、一致した部品を導通部品としてＥＭＣ検証メニュー２００ｃｄに表示される。

具体的には、既に表示された検証対象Ａの導通部品欄２００ｃｄ−３に、ステップＳ３４１６の判断処理において一致したと判断された部品名を追加するとともに、当該部品の属性値を属性値欄２００ｃｄ−４に表示し、既に表示されている導通部品数に追加となった部品数だけ加算してあらたな導通部品数として導体部品数欄２００ｃｄ−５に表示する。

また、ステップＳ３４１６の処理において、証用データ中の導通部品と接続状態にある部品の属性名および属性値が、検証条件として設定した属性名および属性値と一致しないと判断されると、次の段に検証対象Ａが表示されているか否かを判断する（ステップＳ３４１８）。

ステップＳ３４１８の判断処理において、次の段に検証対象Ａが表示されていると判断されると、当該次の段の検証対象Ａを検証対象とし（ステップＳ３４２０）、ステップＳ３４０４の処理に進み、ステップＳ３４０４以降の処理を行う。

一方、ステップＳ３４１８の判断処理において、次の段に検証対象Ａが表示されていないと判断されると、検証対象Ａと導通部品とをモデルデータ表示部２００ｂに識別表示し（ステップＳ３４２２）、ＥＭＣ検証処理を終了してＥＭＣ検証が終了する。

即ち、ステップＳ３４２２の処理においては、検証実行部５８において検証対象Ａおよび検証対象Ａと接続状態にある部品が存在するか否かによる判断により検証対象Ａに対して導通状態にあるとされた導通部品により部品群を形成し、モデルデータ表示部２００ｂにおいて当該部品群のみをモデルデータとして表示してもよいし、検証用モデルデータ中で当該部品群をハイライトして表示するようにしてもよい。

具体的には、例えば、検証対象および検証対象と導通状態にある部品により作成した部品群をモデルデータ表示部２００ｂにおいて指定色で表示するようにしてもよい（図３２を参照する。）。

このようにして、異なる検証対象Ａを抽出条件で設定して、ＥＭＣ検証処理を実行し、互いに導通状態にないＧＮＤを異なる色で表示することにより、互いに導通していないＧＮＤ同士を識別して表示することが可能となる。

上記において説明したように、本発明による電気検証装置１０においては、基板設計を行うＣＡＤシステムなどのような電子基板設計装置で作成された電子基板設計データおよび筐体設計を行うＣＡＤシステムなどのような筐体設計装置で作成された筐体設計データの情報を利用して、安全規格検証、静電気検証およびＥＭＣ検証を行うようにした。

これにより、本発明による電子検証装置１０によれば、試作用の電子機器を用いて電気検証を行う前に、データ上で電気検証を行うことができるようになり、電気検証に費やす時間と費用とが低減することができるとともに、検査漏れなどの人為的なミスの発生を低減することができるようになる。

さらに、本発明による電子検証装置１０によれば、試作用の電子機器を用いた電気検証における不具合を低減することができるため、試作用の電子機器の作成費用を抑制することができ、コスト高を抑制することができるようになる。

また、本発明による電気検証装置１０によれば、静電気検証においては、放電ガンによる放電検証の際には、発生した静電気が落ちる経路や静電気が落ちる部品が表示されるので、作業に習熟していない作業者であっても、容易に検証を行うことができるようになる。

さらにまた、本発明による電気検証装置１０によれば、ＥＭＣ検証において、複雑な構成の電子基板であっても、指定した部品と接続関係にあるような部品を容易に発見することができ、検証時間を短縮することができるようになる。

従って、こうした本発明による電子検証装置１０に、電子基板設計装置および筐体設計装置からの設計データを利用して筐体と電子基板との干渉チェックや断面検証も行う構成を盛り込むことにより、電気検証や詳細な干渉チェックを行うことができるようになり、より広範囲な検証を行う装置として構成することができる。

なお、上記した実施の形態は、以下の（１）乃至（１２）に示すように変形することができるものである。

（１）上記した実施の形態においては、測定結果可視化部６２においては、検証用モデルデータ上に測定経路や合否判定結果を識別表示するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論である。

例えば、測定結果可視化部６２において、表示した測定経路の近傍に、測定した測定値たる測定結果を表示するようにしてもよい。

また、測定経路と当該測定経路を測定した測定値とを表示するようにしてもよいし、単に測定経路のみを表示するようにしてもよい。

（２）上記した実施の形態においては、所定の設計装置で設計された放電ガンの設計データたる放電ガン設計データを、設計データ変換部４４により変換して検証用放電ガン構成データおよび検証放電ガンモデルデータを作成して検証用放電ガンデータを作成するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、こうした検証用放電ガンデータを予めデータとして記憶しておくようにしてもよい。

（３）上記した実施の形態においては、３次元形状データの軽量化を図るためにＸＶＬ技術を用いるようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、３次元形状データを軽量化することができる各種技術を用いるようにしてもよい。

（４）上記した実施の形態においては、安全規格検証において、沿面距離および空間距離の測定結果を安全規格検証メニュー２００ｃａに表示するだけであったが、こうした沿面距離および空間距離の測定結果を測定経路とともにモデルデータ表示部２００ｂにおける検証用モデルデータ内に表示するようにしてもよい（図３３（ａ）（ｂ）を参照する。）。さらに、検証用モデルデータ内に表示した測定経路に対して、合否判定の結果を反映させて識別表示するようにしてもよい。

なお、こうした測定経路や合否判定の結果を検証用モデルデータ内に反映させて表示するタイミングとしては、ステップＳ２８１６の処理において合否判定の判定結果たる判定値を表示する判定値欄２００ｃａ−１１に合否判定の結果を表示した後とする。

（５）上記した実施の形態においては、作業者はモデルデータ表示部２００ｂに表示された検証用筐体モデルデータおよび検証用基板モデルデータを参照しながら、ポインティングデバイス２２などを用いて検証用筐体モデルデータ上の所定の位置に検証用基板モデルデータを配置させるようにするようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、検証用筐体モデルデータ上に検証用基板モデルデータを配置する際に、検証用筐体モデルデータおよび検証用基板モデルデータが互いに接続する部位を指定し、当該部位の中心軸が一致するように指定して検証用筐体モデルデータ上に検証用基板モデルデータを位置合わせを行うようにしてもよい。

（６）上記した実施の形態においては、表示装置２０の表示画面上に検証結果を表示するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、検証結果を表示するとともに、音声ガイダンスや警告音を発して検証結果を作業者に通知するようにしたり、当該表示画面上に検証結果を表示することなく、音声ガイダンスや警告音のみによって検証結果を作業者に通知するようにしてもよい。

（７）上記した実施の形態においては、最大経由部品数上限を設定可能としたが、これに限られるものではないことは勿論であり、この最大経由部品数上限の設定を省略してもよい。

（８）上記した実施の形態においては、ステップＳ２８１６の処理において、同じ検証対象Ａ、Ｂ間において測定した異なる種別の距離（つまり、空間距離および沿面距離である。）において、どちらも最大測定距離を超えていなかった場合には、測定した測定値を測定結果欄２００ｃａ−１０に表示するとともに、ステップＳ２８０８の処理において判定した判定結果を判定値欄２００ｃａ−１１に表示するようにし、当該異なる種別の距離において、少なくともどちらか一方が最大測定距離を超えていた場合には、その検証対象Ａ、Ｂ間においては、種別に関わらず測定結果欄２００ｃａ−１０および判定値欄２００ｃａ−１１に、検証の対象から外したことを示す「−」を表示するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論である。

即ち、同じ検証対象Ａ、Ｂ間において測定した異なる種別の距離において、一方の距離の測定値が最大測定距離を超えた場合には、当該一方の距離の測定を中止するが、他方の距離が未測定であれば、他方の距離の測定は行うようにしてもよい。

具体的には、沿面距離の測定値が最大測定距離を超えた場合には、沿面距離の測定を中止し、まだ空間距離の測定が行われていないならば、沿面距離の測定中止後に空間距離の測定を開始するようにする。

ここで、上記した実施の形態に記載した場合では、最大測定距離を超えた場合、距離が十分に確保できていると判断して、検証結果を合格とみなし、測定を中断するようにしていたが、例えば、最大測定距離の値をあまり大きく設定しなかった場合など、一方の距離の測定で最大測定距離を超えていた場合においても、他方の距離が合格になるとは限らない。

しかしながら、上記したように一方の距離の測定値が最大測定距離を超えた場合に、当該一方の距離の測定を中止して、他方の距離の測定を行うようにすることにより、より正確な検証を行うことができるようになる。

（９）上記した実施の形態においては、放電検証において、作業者が検証対象Ａとして放電ガンを設定するようにしていたが、これに限られるものではないことは勿論であり、予め検証対象Ａについては放電ガンとなるように設定しておき、放電検証メニュー２００ｃｂでは、常に検証対象Ａ欄２００ｃｂ−１に放電ガンを表す「Ｅ＿Ｇｕｎ１」が表示されるとともに、測定の種別を表示する種別欄２００ｃｂ−３に空間距離であることを表す「空間」が表示されるようにしてもよい。

（１０）上記した実施の形態においては、電子検証装置１０において、電子基板設計データおよび筐体設計データ４２を設計データ変換部４４で変換して検証用基板データおよび検証用筐体データを作成し、作成した検証用基板データおよび検証用筐体データに関して、構成データ管理部４６においてそれぞれ構成する部品の属性を示す構成データを管理するとともに、こうした検証用基板データおよび検証用筐体データを合成して検証用データを作成するようにしたが、これに限られるものではないことはもちろんである。

即ち、例えば、電気検証装置１０以外の装置により検証用基板データおよび検証用筐体データを作成するとともに、検証用データを作成し、作成した検証用基板データ、検証用筐体データおよび検証用データを電気検証装置１０による電気検証時に用いるようにしてもよい。

（１１）上記した実施の形態においては、導体部品Ａと導体部品Ｂとの間に絶縁体Ａが存在する場合について空間距離および沿面距離を測定する際には、当該絶縁体Ａを迂回して測定するようにしたが、例えば、導体部品Ａと導体部品Ｂとの間に導体部品Ｃが存在する場合には、導体部品Ａと導体部品Ｂとの間に導体部品Ｃがないものとして導体部品Ａと導体部品Ｂとを直線で結んだ最短経路を測定するようにしてもよい。

これは、導体部品Ａと導体部品Ｂとの間に導体部品Ｃが存在する場合には、導体部品Ａと導体部品Ｂとの間では放電は発生せず、導体部品Ａと導体部品Ｃとの間あるいは、導体部品Ｂと導体部品Ｃとの間に放電が発生することになる。

このため、後の設計変更により、導体部品Ａと導体部品Ｂとの間にある導体部品Ｃがなくなった場合を想定して、電気検証装置１０においてこうした検証を行うようにすると、設計変更で導体部品Ｃが削除されても、導体部品Ａと導体部品Ｂとの検証は終了しているので、再検証を行う必要がなくなり、作業性が向上することとなる。

（１２）上記した実施の形態ならびに上記した（１）乃至（１１）に示す変形例は、適宜に組み合わせるようにしてもよい。

本発明は、電子基板を設計する際に用いて好適である。

１０ 電気検証装置
１２ ＣＰＵ
１４ バス
１６ 記憶装置
１８ 出力装置
２０ 表示装置
２２ ポインティングデバイス
２４ 文字入力デバイス
２６ Ｉ／Ｏ
２８ 外部記憶装置
３０ 記録媒体
３２ リードライト装置
４０ 電気基板設計データ
４２ 筐体設計データ
４４ 設計データ変換部
４６ 構成データ管理部
４８ 構成データ属性設定部
５０ 検証用データ合成部
５２ 抽出条件設定部
５４ 検証条件設定部
５６ 検証対象抽出部
５８ 検証実行部
６０ 経路測定部
６２ 測定経路可視化部
２００ ウインドウ
２００ａ 構成ツリー表示部
２００ｂ モデルデータ表示部
２００ｃ 検証実行メニュー表示部

Claims (19)

1. 電子基板および筐体よりなる電子機器を構成する各部品の配置位置および各部品の３次元形状を表すモデルデータと属性を表す構成データとからなる検証用データを作成する作成手段と、
   前記電子機器における各部品のうち、検証の対象とする部品を設定する対象部品設定手段と、
   前記対象部品設定手段により設定した部品に対して実行する検証条件を設定する検証条件設定手段と、
   前記対象部品設定手段により設定した部品に対し、前記検証条件設定手段により設定した検証条件と、前記検証用データにおける各部品の３次元形状、属性、配置位置とに基づいて検証および距離の測定の少なくともいずれか一方を実行する検証実行手段と
   を有し、
   前記作成手段は、前記電子基板の設計データとしての電子基板設計データを検証用基板データに変換するとともに前記筐体の設計データとしての筺体設計データを検証用筺体データに変換し、前記検証用基板データと前記検証用筺体データとを合成して前記検証用データを作成する
   ことを特徴とする電気検証装置。
2. 請求項１に記載の電気検証装置において、
   前記検証実行手段は、前記対象部品設定手段により設定した部品間の空間距離を前記検証条件設定手段により設定した検証条件で測定および検証する際に、
   該部品間に絶縁体が存在しているときは、前記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、
   該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において前記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行う
   ことを特徴とする電気検証装置。
3. 請求項１に記載の電気検証装置において、
   前記検証実行手段は、前記対象部品設定手段により設定した部品間の沿面距離を前記検証条件設定手段により設定した検証条件で測定および検証する際に、
   該部品間に絶縁体が存在しているときは、前記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、
   該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において前記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規格値とを比較して検証を行う
   ことを特徴とする電気検証装置。
4. 請求項１に記載の電気検証装置において、さらに、
   前記検証実行手段により測定された測定値および測定経路のうち少なくともいずれか一方を前記検証用データのモデルデータ上に表示する表示手段と
   を有することを特徴とする電気検証装置。
5. 請求項１に記載の電気検証装置において、さらに、
   前記検証実行手段により測定した測定値と判定距離とを比較し、測定値の合否を検証した検証結果を前記検証用データのモデルデータ上に識別表示する第１の識別表示手段と
   を有することを特徴とする電気検証装置。
6. 請求項１に記載の電気検証装置において、
   前記検証実行手段は、前記対象部品設定手段により設定した部品間の伝導経路を１つ以上探索し、探索した伝導経路について前記検証条件設定手段により設定した検証条件で測定する
   ことを特徴とする電気検証装置。
7. 請求項１に記載の電気検証装置において、さらに、
   前記対象部品設定手段により設定した所定の部品に対して、設定された検証条件に一致する接続状態にある部品を、識別可能に表示する第２の識別表示手段と
   を有することを特徴とする電気検証装置。
8. 請求項７に記載の電気検証装置において、前記検証条件は、前記所定の部品に対して接続状態にあると判断されるべき部品が有するべき属性名および属性値を含む
   ことを特徴とする電気検証装置。
9. 電気検証装置により電子機器の電気検証を行う電気検証方法において、
   電子基板および筐体よりなる電子機器を構成する各部品の配置位置および３次元形状を表すモデルデータと属性を表す構成データとからなる検証用データを作成する作成工程と、
   前記電子機器における各部品のうち、検証の対象とする部品を設定する対象部品設定工程と、
   前記対象部品設定工程で設定した部品に対して実行する検証条件を設定する検証条件設定工程と、
   前記対象部品設定工程で設定した部品に対し、前記検証条件設定工程で設定した検証条件と、前記検証用データにおける各部品の３次元形状、属性、配置位置とに基づいて検証および距離の測定の少なくともいずれか一方を実行する検証実行工程と
   を有し、
   前記作成工程では、前記電子基板の設計データとしての電子基板設計データを検証用基板データに変換するとともに前記筐体の設計データとしての筺体設計データを検証用筺体データに変換し、前記検証用基板データと前記検証用筺体データとを合成して前記検証用データを作成する
   ことを特徴とする電気検証方法。
10. 請求項９に記載の電気検証方法において、
    前記検証実行工程は、前記対象部品設定工程で設定した部品間の空間距離を前記検証条件設定工程で設定した検証条件で測定および検証する際に、
    該部品間に絶縁体が存在しているときは、前記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、
    該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において前記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行う
    ことを特徴とする電気検証方法。
11. 請求項９に記載の電気検証方法において、
    前記検証実行工程は、前記対象部品設定工程で設定した部品間の沿面距離を前記検証条件設定工程で設定した検証条件で測定および検証する際に、
    該部品間に絶縁体が存在しているときは、前記絶縁体を迂回した経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規定値とを比較して検証を行い、
    該部品間に導体が存在しているときは、該部品間において前記導体がないものとして該部品間の最短経路を算出し、該経路における距離を測定するとともに、測定した測定値と該検証条件で設定した規格値とを比較して検証を行う
    ことを特徴とする電気検証方法。
12. 請求項９に記載の電気検証方法において、さらに、
    前記検証実行工程で測定された測定値および測定経路のうち少なくともいずれか一方を前記検証用データのモデルデータ上に表示する表示工程と
    を有することを特徴とする電気検証方法。
13. 請求項９に記載の電気検証方法において、さらに、
    前記検証実行方法で測定した測定値と判定距離とを比較し、測定値の合否を検証した検証結果を前記検証用データのモデルデータ上に識別表示する第１の識別表示工程と
    を有することを特徴とする電気検証方法。
14. 請求項９に記載の電気検証方法において、
    前記検証実行手段は、前記対象部品設定工程で設定した部品間の伝導経路を１つ以上探索し、探索した伝導経路について前記検証条件設定工程で設定した検証条件で測定する
    ことを特徴とする電気検証方法。
15. 請求項９に記載の電気検証方法において、さらに、
    前記対象部品設定工程で設定した所定の部品に対して、設定された検証条件に一致する接続状態にある部品を、識別可能に表示する第２の識別表示する形成工程と
    を有することを特徴とする電気検証方法。
16. 請求項１５に記載の電気検証方法において、
    前記検証条件は、前記所定の部品に対して接続状態にあると判断されるべき部品が有するべき属性名および属性値を含む
    ことを特徴とする電気検証方法。
17. 請求項１、２、３、４、５、６、７または８のいずれか１項に記載の電気検証装置としてコンピューターを機能させるためのプログラム。
18. 請求項９、１０、１１、１２、１３、１４、１５または１６のいずれか１項に記載の電気検証方法をコンピューターに実行させるためのプログラム。
19. 請求項１７または１８のいずれか１項に記載のプログラムを記録したコンピューター読み取り可能な記録媒体。