JP2007156572A - 設計支援システム、および設計支援方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】筐体から電磁波が漏れる箇所を簡易にチェックすること。
【解決手段】筐体を含む前記製品の複数の部品形状モデルの中からチェック対象となる部品形状モデルを設定するチェック対象設定手段と、前記複数の部品形状モデルのそれぞれの材質の情報を取得する材質情報取得手段と、複数の部品形状モデルの中から基準GNDとなる部品形状モデルを設定する基準GND設定手段と、前記部品モデルのそれぞれの材質の情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまで、導電性がある経路を抽出し、前記抽出された経路の長さを測定する抽出/測定手段と、前記測定された経路長に応じて、基準以上の電磁波が前記筐体の外部に漏れる箇所を検出する手段とを具備する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、筐体から電磁波が漏れるか否かをチェックする設計支援システム、および設計支援方法に関する。
電子機器から放射される電磁波の量は、規制されている。電子機器から放射される電磁波の量を規制範囲内に抑えるために、製品の設計段階から電磁界解析を行って、電磁波が漏れて問題となる箇所を探している(特許文献1)。
特開2002−149720号公報
ところが、電磁界解析を行うのには多大な時間がかかる。電磁波が漏れる箇所に対策を施すのが遅れ、製品の設計時間が長くなる。しかし、製品の設計時間を短縮するためにも簡易に電磁波が漏れる箇所を簡易に求めることが求められている。
本発明の目的は、筐体から電磁波が漏れる箇所を簡易にチェックすることが可能な設計支援システム、および設計支援方法を提供することにある。
本発明の一例に係わる、製品の設計の検証を支援する設計支援システムは、筐体を含む前記製品の複数の部品形状モデルの中からチェック対象となる部品形状モデルを設定するチェック対象設定手段と、前記複数の部品形状モデルのそれぞれの材質の情報を取得する材質情報取得手段と、複数の部品形状モデルの中から基準GNDとなる部品形状モデルを設定する基準GND設定手段と、前記部品モデルのそれぞれの材質の情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまで、導電性がある経路を抽出し、前記抽出された経路の長さを測定する抽出/測定手段と、前記測定された経路長に応じて、基準以上の電磁波が前記筐体の外部に漏れる箇所を検出する手段とを具備することを特徴とする。
筐体から電磁波が漏れる箇所を簡易にチェックすることが可能になる。
本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。
図1は、EMC(Electro Magnetic Compatibility)設計支援システムの構成を示すブロック図である。
EMC設計支援システム100は、データベース10から種々のデータ(情報)を取得するCAD(Computer Aided Design)データ取得部101、材質情報取得部102、および導電性メッキ塗布範囲取得部103を有する。
CADデータ取得部101は、データベース10からCADデータ11を取得する。材質情報取得部102は、データベース10から材質情報12を取得する。導電性メッキ塗布範囲取得部103は、データベース10から導電性メッキ塗布範囲情報13を取得する。
CADデータ取得部101が取得するCADデータ11は、複数の小さなファイルをアセンブリした形で形成されている。例えば、図2に示すように、ツリー構造を示している。即ち、BRACKET.PRT、BUSHING.PRT、およびRING.PRTの3つのファイル(部品形状モデル)のアセンブリとしてBASE.ASMが構成されている。以下、個々のパーツのファイルをPRTファイル、PRTファイルを複数集めたものをASMファイルと呼ぶ。ただしASMファイルは複数のASMファイルを含むこともある。
BASE.ASMで表される部品形状を図3(A)に示す。BRACKET.PRTで表される部品形状を図3(B)に示す。BUSHING.PRTで表される部品形状を図3(C)に示す。RING.PRTで表される部品形状を図3(D)に示す。
材質情報取得部102は、データベース10から材質情報12を取得する。PRTファイルには部品の形状に関するデータは含まれているが、材質的な情報は含まれていないケースがある。EMC的な観点でチェックを行うには、金属/非金属の区別は重要となるため、データベース10に各PRTファイル毎の材質情報を格納する。可能であれば導電率などの物性値も付加する。材質情報取得部102が取得する材質情報12は、図4に示すように、CADデータ11の各PRTファイルに対応付けられている。
導電性メッキ塗布範囲取得部103は、データベース10から導電性メッキ塗布範囲情報13を取得する。デジタル機器を設計する際、基板からのノイズが機器外に漏れるのを抑制するために、非導電性の筐体の内側に導電性メッキを塗る場合がある。EMC的には、導電性メッキの塗布範囲が重要になってくる。なお、可能であれば導電性メッキの導電率などの物性値も導電性メッキ塗布範囲情報13に付加する。
導電性メッキ範囲合成部104は、導電性メッキ塗布範囲情報13で取得された導電性メッキ塗布情報をCADデータ取得部101で取得されたCADデータ中のPRTファイルに組み込む。導電性メッキ塗布範囲情報をPRTファイルに組み込んだ例を図5に示す。図5に示す例では、排熱用の孔201が設けられた領域を除いて、導電性メッキが塗布されている。
基準GND設定部105は、筐体フレームの基準GNDとなる部品/領域を接続経路抽出/測定部108に設定する。筐体フレームの基準GNDとなる部品/領域の設定は、ユーザの指定によって行われる。例えば、基準GND設定部105は、ASMファイルに対応する構造を表示装置121に表示する。表示の際、基準GND設定部105は、導電部、および導電メッキ塗布範囲を特殊な表示にする。ユーザは、特殊な表示部分をマウス等の入力装置122で選択することで、基準GNDとなる部品/領域を指定する。なお、基準GNDとなる部品及び領域は複数選択可能とする。また、ASMファイル/PRTファイルそれぞれでも指定可能である。部品の一部に導電性メッキが塗布されているような場合には、その導電性メッキの塗布領域のみを基準GNDと指定することが可能である。
チェック対象設定部106は、チェック対象となる部品を接続経路抽出/測定部108に設定する。チェック対象となる部品/領域の設定は、ユーザの指定によって行われる。例えば、チェック対象設定部106は、ASMファイルに対応する構造を表示装置121に表示する。そして、ユーザがマウス等の入力装置122で選択することで、チェック対象となる部品/領域を指定する。なお、基準GNDとなる部品及び領域は複数選択可能とする。又、ASMファイル/PRTファイルそれぞれでも指定可能である。
抽出距離設定部107は、ユーザがキーボード等の入力装置122から入力した抽出距離Lmaxを接続経路抽出/測定部108に設定する。
接続経路抽出/測定部108は、チェック対象設定部106によって設定されたチェック対象となる部品/領域から、抽出距離設定部107によって設定された抽出距離Lmaxの範囲内で、基準GND設定部105によって設定された基準GND部品/領域までの「導電性のある」経路を全て抽出し、抽出された経路の長さをそれぞれ測定する。接続経路抽出/測定部108は、抽出した経路および経路長を判定部110に供給する。
接続判定距離設定部109は、ユーザがキーボード等の入力装置122から入力した接続判定距離Lを判定部110に設定する。
判定部110は、接続経路抽出/測定部108から供給された経路の測定距離が、接続判定距離設定部109によって設定された接続判定距離Lに応じて、基準以上の電磁波が漏れるか否かを判定する。判定部110は、判定結果を結果出力部111に供給する。接続距離が長いと、電磁波の発生量が大きくなりやすい。そこで、接続経路抽出/測定部108によって求められた経路長が接続判定距離L以上の場合に、基準以上の電磁波が漏れると判定する。
結果出力部111は、判定部110から供給された判定結果を表示装置に表示する。
次ぎに、実際の手順を図6のフローチャートを参照して説明する。
先ず、CADデータ取得部101は、データベース10から、チェック対象部品/領域を含むメカCADデータ11を取得する(ステップS11)。例えば、図7に示すように、筐体ベース221と筐体カバー222との内部に電磁波を発生する基板210が設置されるようなCADデータ11を取得する。
次ぎに、材質情報取得部102は、データベース10から材質情報12を取得する(ステップS12)。筐体ベース221、筐体カバー222がプラスチック部品(非導電性部品)である。
次ぎに、導電性メッキ塗布範囲取得部103は、データベース10から導電性メッキ塗布範囲情報13を取得する(ステップS13)。筐体ベース221、筐体カバー222の一部に導電性メッキが塗布されているので、筐体ベース221、筐体カバー222に対応するそれぞれの導電性メッキ塗布範囲情報13を取得する。
次ぎに、導電性メッキ範囲合成部104は、導電性メッキ塗布範囲情報13で取得された導電性メッキ塗布情報をCADデータ取得部101で取得されたCADデータ中のPRTファイルに組み込む(ステップS14)。
次ぎに、基準GND設定部105は、ユーザの指定によって基準GNDとなる部品/領域を接続経路抽出/測定部108に設定する(ステップS15)。ここでは、筐体ベース221、筐体カバー222の一部に塗布された導電性メッキを基準GNDとする。
次ぎに、チェック対象設定部106は、ユーザの指定によってチェック対象となる部品/領域を接続経路抽出/測定部108に設定する(ステップS16)。本実施形態の場合、チェック対象として基板210を設定する。
次ぎに、抽出距離設定部107は、ユーザが入力装置122から入力した抽出距離Lmaxを接続経路抽出/測定部108に設定する(ステップS17)。なお、この処理は、次のステップS18の処理を実行する前であれば、いつ行っても構わない。
次ぎに、接続経路抽出/測定部108は、チェック対象設定部106によって設定されたチェック対象となる部品/領域から、抽出距離設定部107によって設定された抽出距離Lmaxの範囲内で、基準GND設定部105によって設定された基準GND部品/領域までの「導電性のある」経路を全て抽出し、抽出された経路の距離をそれぞれ測定する(ステップS18)。接続経路抽出/測定部108は、抽出した経路および測定距離を判定部110に供給する。図8に示すように、基板210の接続箇所C1,C2,C3,C7,C8,C9は、筐体ベース221および筐体カバー222に接続する。また、基板210の接続箇所C4,C6は、筐体ベース221に接続する。また、基板210の接続箇所C5は、筐体カバー222に接続する。
接続判定距離設定部109は、ユーザが入力装置122から入力した接続判定距離Lを接続経路抽出/測定部108に設定する(ステップS19)。なお、この処理は、次のステップS20の処理を実行する前であれば、いつ行っても構わない。
判定部110は、接続経路抽出/測定部108によって抽出された経路の一つを選ぶ。判定部110は、選ばれた経路の測定長が、接続判定距離設定部109によって設定された接続判定距離L未満であるか否かを判定する(ステップS20)。
測定長が接続判定距離L未満である場合(ステップS20のYes)、判定部110は、選ばれた経路から筐体221,222の外部に漏れる電磁波の量が基準内であると推定し、OKで有るとする(ステップS21)。測定長が接続判定距離L以上である場合(ステップS20のNo)、判定部110は、選ばれた経路から筐体221,222の外部に漏れる電磁波の量が基準以上であると推定し、選ばれた経路はNGで有ると判定する(ステップS22)。
ステップS21、またはステップS22の処理の後、判定部110は、接続経路抽出/測定部108によって抽出された経路のうち、判定を行っていない経路があるか否かを判定する(ステップS23)。判定を行っていない経路がある場合(ステップS23のYes)、判定を行っていない経路を選択し、ステップS20の処理を実行する。
判定を行っていない経路がない場合(ステップS23のNo)、結果出力部111は、接続経路抽出/測定部108によって抽出された全経路の判定結果を表示装置121に表示する(ステップS24)。判定結果を図9に示す。なお、図8に示すように、基板210と筐体ベース221,筐体カバー222との接続に応じて区別して接続箇所を表示することもできる。
フレームGND接続構造を一括して抽出し、なおかつ接続経路長に応じて基準以上の電磁波が漏れるか否かの判定を行うことにより、筐体から電磁波が漏れる箇所を簡易にチェックすることができ、問題となりやすい箇所を機械的に抽出可能となる。その結果、電磁波漏洩対策を迅速に行うことが出来、製品の設計時間を短くすることができる。
なお、本支援システムは、導電性のある経路を表示する機能を更に有することが好ましい。また、本支援システムは、接続経路の間の部品の物性値から抵抗値を概算する機能を更に有することが好ましい。また、本支援システムは、図9に示すようなチェック結果のレポート作成機能を有することが好ましい。また、本支援システムは、機器で使用している信号の周波数に接続間隔の妥当性をチェックする機能を有することが好ましい。
なお、本実施形態の筐体から電磁波が漏れる箇所をチェックするための処理は全てコンピュータプログラムによって実現されているので、このコンピュータプログラムをコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を通じて通常のコンピュータにインストールするだけで、本実施形態と同様の効果を容易に実現することができる。また、このコンピュータプログラムは、パーソナルコンピュータのみならず、プロセッサを内蔵した各種電子機器上で実行することができる。
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
本発明の一実施形態に係わるEMC設計支援システムの概略構成を示すブロック図。 本発明の一実施形態に係わるCADデータの構造を示す図。 本発明の一実施形態に係わるCADデータよって表される部品形状を示す図。 PRTファイルと材質情報との対応関係を示す図。 導電性メッキ塗布範囲情報をPRTファイルに組み込んだ例を示す図。 本発明の一実施形態に係わるEMC設計支援システムによる処理の手順を示すフローチャート。 CADデータによって表される、基板、筐体ベース、筐体カバーの構成を示す図。 基板上の基準GNDとの接続箇所を示す図。 本発明の一実施形態に係わるEMC設計支援システムによる判定結果を示す表。
符号の説明
10…データベース,11…CADデータ,12…材質情報,13…導電性メッキ塗布範囲情報,100…EMC設計支援システム,101…CADデータ取得部,102…材質情報取得部,103…導電性メッキ塗布範囲取得部,104…導電性メッキ範囲合成部,105…GND設定部,106…チェック対象設定部,107…抽出距離設定部,108…接続経路抽出/測定部,109…接続判定距離設定部,110…判定部,111…結果出力部,121…表示装置,122…入力装置,201…孔,210…基板,221…筐体ベース,222…筐体カバー

Claims (12)

  1. 製品の設計の検証を支援する設計支援システムであって、
    筐体を含む前記製品の複数の部品形状モデルの中からチェック対象となる部品形状モデルを設定するチェック対象設定手段と、
    前記複数の部品形状モデルのそれぞれの材質の情報を取得する材質情報取得手段と、
    複数の部品形状モデルの中から基準GNDとなる部品形状モデルを設定する基準GND設定手段と、
    前記部品モデルのそれぞれの材質の情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまで、導電性がある経路を抽出し、前記抽出された経路の長さを測定する抽出/測定手段と、
    前記測定された経路長に応じて、基準以上の電磁波が前記筐体の外部に漏れる箇所を検出する手段とを具備することを特徴とする設計支援システム。
  2. 前記複数の部品形状モデルのうち導電性メッキが塗布される部品形状モデルについて、導電性メッキが塗布される範囲を示す導電性メッキ塗布部分情報を取得する手段と、
    前記導電性メッキ塗布範囲情報に対応する前記部品形状モデルに、前記導電性メッキ塗布範囲情報を組み込む手段とを更に具備し、
    前記抽出/測定手段は、前記部品モデルのそれぞれの材質の情報、および前記部品形状モデルに組み込まれた導電性メッキ塗布範囲情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまでの導電性がある経路を抽出することを特徴とする請求項1記載の設計支援システム。
  3. 前記検出手段は、前記抽出された経路のうち、前記経路長が判定距離以上の経路を前記基準以上の電磁波が前記筐体の外部に漏れる箇所として検出することを特徴とする請求項1記載の設計支援システム。
  4. 前記抽出/測定手段は、予め設定された抽出距離の範囲内の経路を抽出することを特徴とする請求項1記載の設計支援システム。
  5. コンピュータによって製品の設計の検証を支援する設計支援方法であって、
    筐体を含む前記製品の複数の部品形状モデルの中からチェック対象となる部品形状モデルを設定するステップと、
    前記複数の部品形状モデルのそれぞれの材質の情報を取得するステップと、
    複数の部品形状モデルの中から基準GNDとなる部品形状モデルを設定するステップと、
    前記部品モデルのそれぞれの材質の情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまで、導電性がある経路を抽出し、前記抽出された経路の長さを測定するステップと、
    前記測定された経路長に応じて、基準以上の電磁波が前記筐体の外部に漏れる箇所を検出するステップとを含むことを特徴とする設計支援方法。
  6. 前記複数の部品形状モデルのうち導電性メッキが塗布される部品形状モデルについて、導電性メッキが塗布される範囲を示す導電性メッキ塗布部分情報を取得するステップと、
    前記導電性メッキ塗布範囲情報に対応する前記部品形状モデルに、前記導電性メッキ塗布範囲情報を組み込むステップとを更に含み、
    前記部品モデルのそれぞれの材質の情報、および前記部品形状モデルに組み込まれた導電性メッキ塗布範囲情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまでの導電性がある経路を抽出することを特徴とする請求項5記載の設計支援方法。
  7. 前記検出は、
    前記抽出された経路のうち、前記経路長が判定距離以上の経路を前記基準以上の電磁波が前記筐体の外部に漏れる箇所として検出することを特徴とする請求項5記載の設計支援方法。
  8. 前記抽出される経路は、予め設定された抽出距離の範囲内の経路であることを特徴とする請求項5記載の設計支援方法。
  9. コンピュータに製品の設計の検証を支援する処理を実行させるプログラムであって、
    前記コンピュータに、筐体を含む製品の複数の部品形状モデルの中からチェック対象となる部品形状モデルを設定する処理を実行させる手順と、
    前記コンピュータに、前記複数の部品形状モデルのそれぞれの材質の情報を取得する処理を実行させる手順と、
    前記コンピュータに、複数の部品形状モデルの中から基準GNDとなる部品形状モデルを設定する処理を実行させる手順と、
    前記コンピュータに、前記部品モデルのそれぞれの材質の情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまで、導電性がある経路を抽出し、前記抽出された経路の長さを測定する処理を実行させる手順と、
    前記コンピュータに、前記測定された経路長に応じて、前記筐体から基準以上の電磁波が漏れる箇所を検出させる処理を実行させる手順とを含むことを特徴とするプログラム。
  10. 前記コンピュータに、前記複数の部品形状モデルのうち導電性メッキが塗布される部品形状モデルについて、導電性メッキが塗布される範囲を示す導電性メッキ塗布部分情報を取得する処理を実行させる手順と、
    前記コンピュータに、前記導電性メッキ塗布範囲情報に対応する前記部品形状モデルに、前記導電性メッキ塗布範囲情報を組み込む処理を実行させる手順とを更に含み、
    前記抽出/測定手順は、前記コンピュータに、前記部品モデルのそれぞれの材質の情報、および前記部品形状モデルに組み込まれた導電性メッキ塗布範囲情報に基づいて、前記チェック対象として設定された部品形状モデルから前記基準GNDとなる部品形状モデルまでの導電性がある経路を抽出する処理を実行させることを特徴とする請求項9記載のプログラム。
  11. 前記検出は、
    前記抽出された経路のうち、前記経路長が判定距離以上の経路を前記基準以上の電磁波が前記筐体の外部に漏れる箇所として検出することを特徴とする請求項9記載のプログラム。
  12. 前記抽出される経路は、予め設定された抽出距離の範囲内の経路であることを特徴とする請求項9記載のプログラム。
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