CN110516335B - 一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质 - Google Patents
一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110516335B CN110516335B CN201910760802.5A CN201910760802A CN110516335B CN 110516335 B CN110516335 B CN 110516335B CN 201910760802 A CN201910760802 A CN 201910760802A CN 110516335 B CN110516335 B CN 110516335B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- radiation
- risk
- signal
- evaluated
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 184
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 56
- 238000012502 risk assessment Methods 0.000 title claims abstract description 45
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000013461 design Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 20
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 13
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 9
- 238000011158 quantitative evaluation Methods 0.000 abstract description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 8
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 6
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000000246 remedial effect Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/36—Circuit design at the analogue level
- G06F30/367—Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/20—Design optimisation, verification or simulation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
- G01R31/002—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
- G06F2119/10—Noise analysis or noise optimisation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y04—INFORMATION OR COMMUNICATION TECHNOLOGIES HAVING AN IMPACT ON OTHER TECHNOLOGY AREAS
- Y04S—SYSTEMS INTEGRATING TECHNOLOGIES RELATED TO POWER NETWORK OPERATION, COMMUNICATION OR INFORMATION TECHNOLOGIES FOR IMPROVING THE ELECTRICAL POWER GENERATION, TRANSMISSION, DISTRIBUTION, MANAGEMENT OR USAGE, i.e. SMART GRIDS
- Y04S10/00—Systems supporting electrical power generation, transmission or distribution
- Y04S10/50—Systems or methods supporting the power network operation or management, involving a certain degree of interaction with the load-side end user applications
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Financial Or Insurance-Related Operations Such As Payment And Settlement (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
本申请公开了一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质,该方法包括:基于产品设计模型确定待评估风险信号,判断待评估风险信号是否具有周期性;若是,则确定待评估风险信号对应的频谱幅值;获取辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离;利用频谱幅值、电流强度以及距离计算得到待评估风险信号的辐射强度;根据辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。本申请利用辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离计算得到待评估风险信号的辐射强度,实现了辐射风险的定量评估;且本申请基于产品设计模型确定待评估风险信号,无需等到产品生产后期才进行辐射测试,有效降低了后期由于辐射风险较大进行整改所耗费的人力物力。
Description
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,更具体地说,涉及一种辐射风险评估方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
背景技术
EMC(Electro Magnetic Compatibility,电磁兼容性测试)是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。EMC设计与EMC测试是相辅相成的,EMC设计的好坏需要通过EMC测试进行衡量。
EMC测试中的辐射测试一般在产品生产的后期进行,当产品定型或生产完成后发现辐射风险较高等不达标的问题,需要花费人力、物力去修改设计或采用补救的措施。另外,在现有的辐射测试中仅仅实现了对于风险进行定性的评估,因此,如何实现风险的定量评估并减少人力物力的浪费是本领域技术人员需要解决的问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种辐射风险评估方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质,实现了辐射风险的定量评估,有效降低了产品后期整改所耗费的人力物力成本。
为实现上述目的,本申请提供了一种辐射风险评估方法,包括:
基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;
若是,则确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;
获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;
利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;
根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。
可选的,所述利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度,包括:
基于第一公式利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;所述第一公式为:
其中,S为所述辐射强度;Cn为所述频谱幅值;I为所述电流强度;R为所述距离。
可选的,所述确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值,包括:
获取所述待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率;
利用第二公式、所述信号占空比、所述信号周期以及所述信号频率确定所述待评估风险信号的频谱幅值;所述第二公式为:
其中,cn为所述频谱幅值;A为风险信号时域的电压峰值;n为谐波次数;τ为所述信号占空比;T为所述信号周期;f为所述信号频率。
可选的,所述获取所述待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率,包括:
通过查询预设参数库获取所述待评估风险信号对应的信号占空比、信号周期及信号频率。
可选的,所述根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果,包括:
获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
利用所述对比结果确定对应的辐射风险评估结果。
可选的,还包括:
基于MATLAB工具生成所述待评估风险信号对应激励波形的仿真结果;
相应的,所述根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果,包括:
获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
利用所述对比结果和所述仿真结果确定辐射风险评估结果。
为实现上述目的,本申请提供了一种辐射风险评估装置,包括:
信号判断模块,用于基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;
幅值确定模块,用于若所述待评估风险信号具有周期性,则确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;
参数获取模块,用于获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;
强度计算模块,用于利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;
结果确定模块,用于根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。
可选的,还包括:
仿真生成模块,用于基于MATLAB工具生成所述待评估风险信号对应激励波形的仿真结果;
相应的,所述结果确定模块,包括:
对比单元,用于获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
确定单元,用于利用所述对比结果和所述仿真结果确定辐射风险评估结果。
为实现上述目的,本申请提供了一种电子设备,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现前述公开的任一种辐射风险评估方法的步骤。
为实现上述目的,本申请提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的任一种辐射风险评估方法的步骤。
通过以上方案可知,本申请提供的一种辐射风险评估方法,包括:基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;若是,则确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。由上可知,本申请利用辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离计算得到待评估风险信号的辐射强度,实现了辐射风险的定量评估;且本申请基于产品设计模型确定待评估风险信号,并可以进一步对待评估风险信号进行分析得到对应的辐射风险评估结果,无需等到产品生产后期才进行辐射测试,避免了产品定型或生产完成后由于辐射风险较大需要进行整改的过程,有效降低了人力物力成本。
本申请还公开了一种辐射风险评估装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质,同样能实现上述技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例公开的一种辐射风险评估方法的流程图;
图2为本申请实施例公开的另一种辐射风险评估方法的流程图;
图3为本申请实施例公开的又一种辐射风险评估方法的流程图;
图4为本申请实施例公开的一种仿真结果的示意图;
图5为本申请实施例公开的一种周期性信号波形图;
图6为本申请实施例公开的一种辐射风险评估装置的结构图;
图7为本申请实施例公开的一种电子设备的结构图;
图8为本申请实施例公开的另一种电子设备的结构图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在现有技术中,EMC测试中的辐射测试一般在产品生产的后期进行,当产品定型或生产完成后发现辐射风险较高等不达标的问题,需要花费人力、物力去修改设计或采用补救的措施。另外,在现有的辐射测试中仅仅实现了对于风险进行定性的评估。
因此,本申请实施例公开了一种辐射风险评估方法,实现了辐射风险的定量评估,有效降低了产品后期整改所耗费的人力物力成本。
参见图1,本申请实施例公开的一种辐射风险评估方法的流程图,如图1所示,包括:
S101:基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;若是,则进入S102;
本实施例中,获取产品设计模型并从中确定待评估风险信号,其中,产品设计模型可以具体为产品设计图纸,待评估风险信号指需要对其的辐射风险进行评估的信号,例如:USB信号。需要指出的是,本实施例在确定待评估风险信号后,需要判断该信号是否具有周期性,若该信号具有周期性,则启动步骤S102的工作流程。
S102:确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;
在本步骤中,需要确定待评估风险信号对应的频谱幅值。首先获取待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率,并根据上述参数确定待评估风险信号的频谱幅值。具体可以利用利用第二公式根据上述参数计算得到频谱幅值。其中,所述第二公式可以为:
在第二公式中,cn为所述频谱幅值;A为风险信号时域的电压峰值;n为谐波次数;τ为所述信号占空比;T为所述信号周期;f为所述信号频率。
具体实施中,上述获取待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率的过程可以为:通过查询预设参数库获取待评估风险信号对应的信号占空比、信号周期及信号频率。可以理解的是,本实施例中的预设参数库可以为预先根据信号以及信号对应的参数建立的数据库。
S103:获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;
在本步骤中,可以基于产品设计模型确定辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离。
S104:利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;
可以理解的是,本实施例可以将频谱幅值、电流强度以及待评估风险信号与辐射源之间的距离导入第一公式,从而计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;其中,上述第一公式可以具体为:
在第一公式中,S为辐射强度;Cn为频谱幅值;I为电流强度;R为待评估风险信号与辐射源之间的距离。
S105:根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。
可以理解的是,在计算得到待评估风险信号的辐射强度之后,可以根据该辐射强度确定待评估风险信号的辐射风险评估结果。具体地,可以预设多个辐射强度值,并为每个辐射强度值设定对应的辐射风险等级,从而计算得到待评估风险信号的当前辐射强度后,可以与预设的辐射强度值进行比较,得到当前辐射强度对应的辐射风险等级。在具体实施中,根据辐射强度确定对应的辐射风险评估结果的过程可以不限于上述实施方式,本实施例不对此进行限定。
通过以上方案可知,本申请提供的一种辐射风险评估方法,包括:基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;若是,则确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。由上可知,本申请利用辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离计算得到待评估风险信号的辐射强度,实现了辐射风险的定量评估;且本申请基于产品设计模型确定待评估风险信号,并可以进一步对待评估风险信号进行分析得到对应的辐射风险评估结果,无需等到产品生产后期才进行辐射测试,避免了产品定型或生产完成后由于辐射风险较大需要进行整改的过程,有效降低了人力物力成本。
本申请实施例公开了另一种辐射风险评估方法,相对于上一实施例,本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。具体的:
参见图2,本申请实施例提供的另一种辐射风险评估方法的流程图,如图2所示,包括:
S201:基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;若是,则进入S202;
S202:确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;
S203:获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;
S204:利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;
S205:获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
S206:利用所述对比结果确定对应的辐射风险评估结果。
本实施例中,预先设定了辐射的标准强度。在计算得到待评估风险信号的当前辐射强度后,通过对比当前辐射强度是否大于预设辐射强度值来判断是否具有辐射风险。其中,预设标准强度可以由系统自动设定,也可以通过预设接口获取人工设定的强度值,在实施过程中还可通过预设接口对该强度值进行修改,其数值可在具体实施根据实际情况进行设定。
本申请实施例公开了又一种辐射风险评估方法,相对于上一实施例,本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。具体的:
参见图3,本申请实施例提供的另一种辐射风险评估方法的流程图,如图3所示,包括:
S301:基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;若是,则进入S302;
S302:确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;
S303:获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;
S304:利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;
S305:获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
S306:基于MATLAB工具生成所述待评估风险信号对应激励波形的仿真结果;
S307:利用所述对比结果和所述仿真结果确定辐射风险评估结果。
本实施例中,在获取到待评估风险信号的当前辐射强度,并通过对比当前辐射强度与预设辐射强度值的大小得到对比结果之后,还利用MATLAB工具生成待评估风险信号对应激励波形的仿真结果,如图4所示。进而通过结合仿真结果和对比结果得到更为准确细化的辐射风险评估结果。具体地,利用MATLAB工具生成仿真结果的过程可以包括:将前述实施例提供的第二公式以及对应的待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率导入MATLAB工具中,生成待评估风险信号对应激励波形的仿真结果。
下面对本申请实施例中的第一公式以及第二公式的推导过程进行介绍。在现有技术方案中,如果一个函数的周期是T,则傅里叶级数公式为:以时间t和角频率ω0表示,上述公式可以表示为:公式中,a0为直流分量;n为n次谐波。公式中的余弦分量也可以用正弦分量来表示,由此,任意一个时域内的周期信号可以视为:从0次谐波(直流分量)到n次谐波的n个正弦波的叠加。如果利用上述n个正弦波来复原这个周期信号,则n的取值越大,越接近周期信号。本实施例中,预先定义周期性信号波形图,如图5所示,图中τ为信号占空比,T为信号周期。首先针对周期性信号x(t)利用复数领域的傅里叶级数表达:在公式两边同时乘以得到进一步地,在公式两边同时进行从t1到t1+T的定积分,即基于图5,得到利用欧拉公式将上述公式进一步转换成三角函数:从而得到根据角频率的定义对公式中ω0进行替换,得到即上述第二公式。进而根据辐射的定义,得到即上述第一公式。
下面对本申请实施例提供的一种辐射风险评估装置进行介绍,下文描述的一种辐射风险评估装置与上文描述的一种辐射风险评估方法可以相互参照。
参见图6,本申请实施例提供的一种辐射风险评估装置的结构图,如图5所示,包括:
信号判断模块11,用于基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;
幅值确定模块12,用于若所述待评估风险信号具有周期性,则确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;
参数获取模块13,用于获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;
强度计算模块14,用于利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;
结果确定模块15,用于根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。
关于上述模块11至15的具体实施过程可参考前述实施例公开的相应内容,在此不再进行赘述。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述辐射风险评估装置还可以进一步包括:
仿真生成模块,用于基于MATLAB工具生成所述待评估风险信号对应激励波形的仿真结果;
相应的,所述结果确定模块15,包括:
对比单元,用于获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
确定单元,用于利用所述对比结果和所述仿真结果确定辐射风险评估结果。
本申请还提供了一种电子设备,参见图7,本申请实施例提供的一种电子设备的结构图,如图7所示,包括:
存储器100,用于存储计算机程序;
处理器200,用于执行所述计算机程序时可以实现上述实施例所提供的步骤。
具体的,存储器100包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机可读指令,该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机可读指令的运行提供环境。处理器200在一些实施例中可以是一中央处理器(CentralProcessing Unit,CPU)、控制器、微控制器、微处理器或其他数据处理芯片,为电子设备提供计算和控制能力,执行所述存储器100中保存的计算机程序时,可以实现前述公开的任一种实施例所提供的辐射风险评估方法的步骤。
在上述实施例的基础上,作为优选实施方式,参见图8,所述电子设备还包括:
输入接口300,与处理器200相连,用于获取外部导入的计算机程序、参数和指令,经处理器200控制保存至存储器100中。该输入接口300可以与输入装置相连,接收用户手动输入的参数或指令。该输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是终端外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,也可以是键盘、触控板或鼠标等。
显示单元400,与处理器200相连,用于显示处理器12处理的数据以及用于显示可视化的用户界面。该显示单元15可以为LED显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)触摸器等。
网络端口500,与处理器200相连,用于与外部各终端设备进行通信连接。该通信连接所采用的通信技术可以为有线通信技术或无线通信技术,如移动高清链接技术(MHL)、通用串行总线(USB)、高清多媒体接口(HDMI)、无线保真技术(WiFi)、蓝牙通信技术、低功耗蓝牙通信技术、基于IEEE802.11s的通信技术等。
图8仅示出了具有组件100-500的电子设备,本领域技术人员可以理解的是,图8示出的结构并不构成对电子设备的限定,可以包括比图示更少或者更多的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
本申请还提供了一种计算机可读存储介质,该存储介质可以包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。该存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的任一种实施例所提供的辐射风险评估方法的步骤。
本申请利用辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离计算得到待评估风险信号的辐射强度,实现了辐射风险的定量评估;且本申请基于产品设计模型确定待评估风险信号,并可以进一步对待评估风险信号进行分析得到对应的辐射风险评估结果,无需等到产品生产后期才进行辐射测试,避免了产品定型或生产完成后由于辐射风险较大需要进行整改的过程,有效降低了人力物力成本。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以对本申请进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (9)
3.根据权利要求2所述的辐射风险评估方法,其特征在于,所述获取所述待评估风险信号的信号占空比、信号周期及信号频率,包括:
通过查询预设参数库获取所述待评估风险信号对应的信号占空比、信号周期及信号频率。
4.根据权利要求1至3任一项所述的辐射风险评估方法,其特征在于,所述根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果,包括:
获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
利用所述对比结果确定对应的辐射风险评估结果。
5.根据权利要求4所述的辐射风险评估方法,其特征在于,还包括:
基于MATLAB工具生成所述待评估风险信号对应激励波形的仿真结果;
相应的,所述根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果,包括:
获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
利用所述对比结果和所述仿真结果确定辐射风险评估结果。
7.根据权利要求6所述的辐射风险评估装置,其特征在于,还包括:
仿真生成模块,用于基于MATLAB工具生成所述待评估风险信号对应激励波形的仿真结果;
相应的,所述结果确定模块,包括:
对比单元,用于获取预设标准强度,并对比得到所述预设标准强度和所述辐射强度的对比结果;
确定单元,用于利用所述对比结果和所述仿真结果确定辐射风险评估结果。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述辐射风险评估方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述辐射风险评估方法的步骤。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910760802.5A CN110516335B (zh) | 2019-08-16 | 2019-08-16 | 一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质 |
PCT/CN2019/114536 WO2021031349A1 (zh) | 2019-08-16 | 2019-10-31 | 一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质 |
US17/615,531 US11829690B2 (en) | 2019-08-16 | 2019-10-31 | Radiation risk assessment method and device, electronic device and storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910760802.5A CN110516335B (zh) | 2019-08-16 | 2019-08-16 | 一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110516335A CN110516335A (zh) | 2019-11-29 |
CN110516335B true CN110516335B (zh) | 2023-04-07 |
Family
ID=68626456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910760802.5A Active CN110516335B (zh) | 2019-08-16 | 2019-08-16 | 一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11829690B2 (zh) |
CN (1) | CN110516335B (zh) |
WO (1) | WO2021031349A1 (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112115622B (zh) * | 2020-09-27 | 2024-03-26 | 武汉第二船舶设计研究所(中国船舶重工集团公司第七一九研究所) | 一种融合实测数据的辐射剂量场分布评估方法及系统 |
CN115409344B (zh) * | 2022-08-22 | 2023-09-05 | 北京市核与辐射安全中心 | 核技术利用单位辐射风险水平的计算方法、装置、电子设备 |
CN116502899B (zh) * | 2023-06-29 | 2023-09-01 | 吉贝克信息技术(北京)有限公司 | 基于人工智能的风险评级模型生成方法、装置及存储介质 |
CN117634187B (zh) * | 2023-11-28 | 2024-06-07 | 北京航空航天大学 | 一种电磁场耦合放电对燃油危害的安全阈值评估方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103116082A (zh) * | 2013-01-18 | 2013-05-22 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种服务器电磁辐射近场探测分析方法 |
CN104750917A (zh) * | 2015-03-11 | 2015-07-01 | 西安电子科技大学 | 分层介质粗糙面电磁散射系数的确定方法 |
CN207007954U (zh) * | 2017-05-23 | 2018-02-13 | 东风特汽(十堰)专用车有限公司 | 新能源汽车辐射骚扰风险评估简易测试系统 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1144530A (ja) | 1997-07-25 | 1999-02-16 | Fujitsu Ltd | 組立不具合自動検査装置 |
JP4124974B2 (ja) * | 2001-03-08 | 2008-07-23 | 松下電器産業株式会社 | 電磁波障害解析方法および電磁波障害解析装置およびこれを用いた半導体装置の製造方法 |
US7126356B2 (en) * | 2004-04-30 | 2006-10-24 | Intel Corporation | Radiation detector for electrostatic discharge |
JP2007156572A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-21 | Toshiba Corp | 設計支援システム、および設計支援方法 |
CN105808800B (zh) * | 2014-12-30 | 2019-01-18 | 中国舰船研究设计中心 | 一种电子设备机柜泄露辐射仿真预测方法 |
CN106547992A (zh) | 2016-11-25 | 2017-03-29 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种提高系统级电磁干扰仿真效率的设计方法 |
CN106932672B (zh) * | 2017-03-06 | 2019-06-07 | 吴伟 | 一种设备辐射干扰的评估方法 |
-
2019
- 2019-08-16 CN CN201910760802.5A patent/CN110516335B/zh active Active
- 2019-10-31 WO PCT/CN2019/114536 patent/WO2021031349A1/zh active Application Filing
- 2019-10-31 US US17/615,531 patent/US11829690B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103116082A (zh) * | 2013-01-18 | 2013-05-22 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种服务器电磁辐射近场探测分析方法 |
CN104750917A (zh) * | 2015-03-11 | 2015-07-01 | 西安电子科技大学 | 分层介质粗糙面电磁散射系数的确定方法 |
CN207007954U (zh) * | 2017-05-23 | 2018-02-13 | 东风特汽(十堰)专用车有限公司 | 新能源汽车辐射骚扰风险评估简易测试系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11829690B2 (en) | 2023-11-28 |
US20220318453A1 (en) | 2022-10-06 |
CN110516335A (zh) | 2019-11-29 |
WO2021031349A1 (zh) | 2021-02-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110516335B (zh) | 一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质 | |
Miguel et al. | A review of software quality models for the evaluation of software products | |
CN110503013B (zh) | 振感相似度评价方法、装置及存储介质 | |
CN110826071A (zh) | 软件漏洞风险预测方法、装置、设备及存储介质 | |
CN109117141B (zh) | 简化编程的方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质 | |
CN107807841B (zh) | 服务器模拟方法、装置、设备及可读存储介质 | |
CN108170425B (zh) | 一种程序代码的修改方法、修改装置及终端设备 | |
CN105740143B (zh) | 一种自动化测试方法、装置和计算设备 | |
CN111079354A (zh) | 一种芯片集成方法与装置、芯片集成设备及可读存储介质 | |
CN115016832B (zh) | 一种深度分析软件组件依赖关系的方法及相关装置、平台 | |
CN112098756A (zh) | 电磁兼容问题定位方法、装置、设备及存储介质 | |
CN107885965B (zh) | 一种数据探索发现方法、系统、电子设备及存储介质 | |
CN113626825A (zh) | 一种安全漏洞管控方法、装置、设备及计算机可读介质 | |
CN106951236B (zh) | 插件的开发方法及装置 | |
JP2015228195A (ja) | 環境負荷評価装置および環境負荷評価方法 | |
CN111984253B (zh) | 一种基于图形化编程工具添加编程角色的方法及装置 | |
CN104239199A (zh) | 虚拟机器人的生成方法、自动化测试方法及相关装置 | |
Sharma et al. | E-COCOMO: An effort estimation model for cleanroom software development approach | |
CN109241168B (zh) | 电网的技术标准数据的处理方法、装置、设备及存储介质 | |
US9507894B1 (en) | Automatic harmonic number identification for harmonic balance analysis | |
Tolvanen | Industrial experiences on using DSLs in embedded software development | |
US20120005055A1 (en) | Dynamic computation of roi for test automation | |
KR20150064448A (ko) | 산업발전부문의 사업장별 온실가스 예상 배출량 또는 에너지 예상 소비량을 산출하는 방법 및 상기 방법을 수행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능 기록 매체 | |
CN116862118B (zh) | 碳排放信息生成方法、装置、电子设备和计算机可读介质 | |
CN113156223B (zh) | 一种电磁辐射源电磁辐射污染的检测方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |