JP6007843B2 - 信号伝送回路、半導体集積回路、及び信号伝送回路の調整方法 - Google Patents

Description

開示する技術は、信号伝送回路、半導体集積回路、及び信号伝送回路の調整方法に関する。

半導体記憶装置に設けられるデータ出力ドライブ回路としては、複数のドライブインピーダンスに対応するデータ出力ドライブ回路が提案されている。データ出力ドライブ回路は、出力インピーダンスが複数のドライブインピーダンスの最小公倍数となるドライバ、及び出力インピーダンスが最小公倍数の約数となるドライバが並列配置され、ドライブインピーダンスに応じて、並列接続するドライバが設定される。また、ドライバは、出力インピーダンスの調整のために、各々に抵抗が接続された複数のＰＭＯＳトランジスタを用いたプルアップドライバ、及び各々に抵抗が接続された複数のＮＭＯＳトランジスタを用いたプルダウンドライバを用いて形成されている。

一方、半導体集積回路では、製造プロセスの変動、及び温度変動によりトランジスタ及び抵抗の抵抗値が変動する。ここから、半導体集積回路のインターフェイス回路としては、ドライバ回路に設けたトランジスタのオン抵抗を調整するためのキャリブレーション回路を備えたインターフェイス回路が提案されている。このインターフェイス回路は、複数のトランジスタを組み合わせたドライバ回路、及び終端抵抗備える。キャリブレーション回路は、定電流源を用いてＮチャネルのＭＯＳＦＥＴのオン抵抗値、ＰチャネルのＭＯＳＦＥＴのオン抵抗値、及び抵抗の抵抗値の変化を検出し、検出結果に基づいてドライバ回路の複数のトランジスタを選択的にオンする。これにより、インターフェイス回路は、製造プロセスの変動及び温度変動にかかわらず、ドライバ回路のトランジスタのオン抵抗と終端抵抗との合成抵抗値が伝送路の特性インピーダンスに合わせられる。

ところで、伝送線路に論理信号を送信する出力バッファ回路としては、伝送線路における信号減衰を補償するために、送信出力波形にプリエンファシスをかける出力バッファ回路が提案されている。この出力バッファ回路は、複数のバッファ回路の各々に相補的に動作するＰ型トランジスタとＮ型トランジスタとを設け、出力電圧に依らずバッファごとの出力インピーダンスが一定となるようにしている。この出力バッファ回路は、バッファごとの出力インピーダンスを伝送線路の特性インピーダンスに一致する範囲に設定することで、出力バッファ回路の出力インピーダンスを伝送線路の特性インピーダンスに整合させている。また、出力バッファ回路は、複数のバッファにスイッチを設け、プリエンファシス量及びプリエンファシスタップ数を調整する際に、出力インピーダンスを伝送線路の特性インピーダンスに整合するように、同時にオンするバッファ数を制限するようにしている。

特開２００７−２２８５８５号公報 特開２００８−１８２５１６号公報 特開２０１１−２３９４６７号公報

しかしながら、前記したように半導体集積回路では、例えば、製造プロセスの変動によりトランジスタ及び抵抗素子の抵抗値にばらつきが生じ、トランジスタ及び抵抗素子等の抵抗値が設計値と異なることがある。また、半導体集積回路では、温度や電圧等の変動に基因し、トランジスタ及び抵抗素子等の抵抗機能素子の抵抗値が変化することがある。

半導体集積回路に形成される信号伝送回路のドライブ回路は、トランジスタや抵抗素子の抵抗値の変動により出力抵抗値が変化するため、信号伝送回路の終端抵抗値が変動する。また、信号伝送回路は、ドライブ回路に設けたトランジスタや抵抗素子の抵抗値の変動に応じて、電気的特性に変動が生じるという問題を有している。

開示の技術は、一つの側面として、半導体集積回路の特性変動に基因する信号伝送回路の電気的特性の変化の抑制を図るものである。

開示の技術は、出力した信号が合成されるように並列接続された複数のドライバ回路を含む。複数のドライバ回路の各々は、所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を備える。複数のドライバ回路は、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて動作単位回路の出力抵抗値が設定され、動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の動作単位回路が並列接続して動作して入力される信号に応じた電圧の信号を出力する。個別検出部は、複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの動作単位回路の出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する。

設定部は、少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出する。また、設定部は、複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する。この際、設定部は、少なくとも一つのドライバ回路について算出した出力抵抗値に基づく比、及び複数のドライバ回路に対して予め設定された出力抵抗値に基づく比から、複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が予め設定された出力抵抗値となるようにする。

開示の技術は、一つの側面として、動作単位回路に設ける抵抗機能素子の特性変動に基因する電気的特性の変化を抑制することができる、という効果を有する。

第１の実施形態に係る送信回路の一例を示すブロック図である。 ドライバ回路の一例を示す回路図である。 ドライバ回路に用いるドライバユニットの他の一例を示す回路図である。 第１の実施形態に係る送信回路の要部の機能ブロック図である。 抵抗値の配列を示すドライバ回路の概略図である。 基礎設定部の一例を示す機能ブロック図である。 第１の実施形態に係るコード設定部の一例を示す機能ブロック図である。 （Ａ）及び（Ｂ）は、各々タップの重みの理論値とシミュレーション値を示す線図である。 第１の実施形態の比較例の送信回路の機能ブロック図である。 出力電圧の波形の一例を示す線図である。 第２の実施形態に係る調整制御部の機能ブロック図である。 第２の実施形態に係る重み設定部の一例を示す機能ブロック図である。 第３の実施形態に係るコード設定部の一例を示す機能ブロック図である。 第４の実施形態に係る調整制御部の一例を示す機能ブロック図である。 第５の実施形態に係る送信回路の要部の機能ブロック図である。 第５の実施形態に係る調整制御部の一例を示す機能ブロック図である。 第６の実施形態に係る調整制御部の一例を示す機能ブロック図である。 第６の実施形態に係る調整制御部の処理の一例を示す流れ図である。 第７の実施形態に係る調整制御部の一例を示す機能ブロック図である。 第７の実施形態に係る調整制御部の処理の一例を示す流れ図である。 （Ａ）及び（Ｂ）の各々は、ドライバユニットに設ける切替回路の他の一例を示す回路図である。 ドライバユニットに設ける切替回路の他の一例を示す回路図である。

以下、図面を参照して開示する技術の実施の形態の一例を詳細に説明する。
〔第１の実施形態〕
図１に、第１の実施形態に係る送信回路１０を示す。送信回路１０は、開示の技術に係る信号伝送回路の一例として機能する。送信回路１０は、信号伝送装置１２に含まれる。信号伝送装置１２は、送信回路１０、受信回路１４及び伝送線路１６を備え、伝送線路１６の一端に送信回路１０が接続され、伝送線路１６の他端に受信回路１４が接続される。

送信回路１０には、伝送すべきデータが入力信号Ｓｉとして入力される。送信回路１０は、入力信号Ｓｉに応じた電圧波形の伝送信号Ｓｏを生成し、生成した伝送信号Ｓｏを伝送線路１６へ出力する。これにより、信号伝送装置１２は、入力信号Ｓｉに応じたデータを、伝送線路１６を介して受信回路１４に伝送する。

信号伝送装置１２は、各種の機能部品の間を接続するインターフェイスの一部として機能する。信号伝送装置１２の送信回路１０は、半導体集積回路１８に設けられる。半導体集積回路１８は、第１の実施形態において半導体集積回路の一例として機能する。信号伝送装置１２の受信回路１４は、例えば、半導体集積回路１８とは別の半導体集積回路１８Ａ設けられる。これにより、信号伝送装置１２は、半導体集積回路１８から半導体集積回路１８Ａへデータを伝送する。

また、信号伝送装置１２は、例えば、受信回路１４を、送信回路１０と同じ半導体集積回路１８に設け、半導体集積回路１８内の異なるブロック回路間においてデータ伝送を行っても良い。また、信号伝送装置１２は、送信回路１０を、同一の回路基板内でのデータ伝送、及びバックプレーン（backplane）を介したドーターカード（ドーターボード：daughter board）間等の異なる回路基板間でのデータ伝送に適用しても良い。さらに、信号伝送装置１２は、送信回路１０を、例えばサーバー（server）や信号処理装置等に設け、異なるサーバ間や信号処理装置間でのデータ伝送に適用しても良い。

図１に示すように、送信回路１０は、入力信号Ｓｉが入力される信号変換部２０、複数のマルチプレクサ２２、プリバッファ部２４、及びファイナルドライバ部（以下、ドライバ部とする）２６を備える。また、送信回路１０は、調整制御部４６を含む。本実施の形態では、入力信号Ｓｉの一例としてパラレル信号（パラレルデータ）を適用しおり、信号変換部２０は、パラレル信号である入力信号Ｓｉを複数のマルチプレクサ２２の各々に分岐して出力する。信号変換部２０は、第１の実施形態において分岐部の一例として機能する。

各タップのマルチプレクサ２２は、クロック信号ＣＬＫに同期して動作し、パラレル信号をシリアル信号に変換（パラレル−シリアル変換）して出力する。送信回路１０は、パラレル−シリアル変換を行うことで、入力信号Ｓｉの伝送速度に対して、高い伝送速度の伝送信号Ｓｏを出力する。なお、入力信号Ｓｉは、パラレル信号に替えてシリアル信号を適用しても良く、この場合、マルチプレクサ２２を省略することができる。

プリドライバ部２４は、複数のマルチプレクサ２２の各々に対応するプリドライバ回路２８を備える。プリドライバ回路２８の各々は、マルチプレクサ２２から入力される信号に応じた電圧の信号を出力する。ドライバ部２６は、プリドライバ回路２８の各々に対応して複数のドライバ回路３０を備える。ドライバ回路３０の各々は、プリドライバ回路２８から入力された信号に応じた電圧の信号を出力する。送信回路１０は、ドライバ回路３０の各々から出力される信号を合成し、出力信号Ｓｏとして出力する。すなわち、送信回路１０は、複数のドライバ回路３０が並列配置され、各々のドライバ回路３０に対応して、マルチプレクサ２２及びプリドライバ回路２８が設けられ、信号変換部２０により入力信号Ｓｉを複数のドライバ回路３０の各々に分岐する。ドライバ回路３０は、第１の実施形態において複数のドライバ回路の一例として機能する。

ドライバ回路３０の各々は、複数のドライバユニット３２を備える。ドライバ回路３０の各々は、複数のドライバユニット３２から動作するドライバユニット３２の数（以下、動作数とする）が設定されることで、設定された動作数のドライバユニット３２が並列接続して動作する。ドライバ回路３０の各々は、並列接続したドライバユニット３２の出力抵抗値の合成値が、ドライバ回路３０の各々の出力抵抗値となる。送信回路１０は、複数のドライバ回路３０が並列接続されていることで、複数のドライバ回路３０の出力抵抗値の合成値が、終端抵抗値（終端インピーダンス）となる。送信回路１０は、終端抵抗値が伝送線路１６の特性インピーダンスと整合するように予め設定されている。調整制御部４６は、ドライバ回路３０の各々において、ドライバユニット３２の動作数を制御することで、送信回路１０が予め設定された終端抵抗値となるように調整する。

送信回路１０は、ＦＦＥ（Feed Forward Equalizer）機能を備え、一例として、ＦＦＥ機能を用いてデエンファシス（de-emphasis）を行う。デエンファシスは、伝送線路１６等における高周波信号の損失を補償する方法の一つであり、送信回路１０は、ＦＦＥ機能により、予め高周波成分に対して低周波成分を減衰させた信号を伝送信号Ｓｏとして生成する。この際、送信回路１０は、入力信号Ｓｉを複数に分岐し、分岐した各々の信号に対して遅延、及び極性反転等を行った後に合成することで伝送信号Ｓｏを生成する。本実施形態では、一例として分岐数を４（４tap）とし、それぞれをタップａ、タップｂ、タップｃ、及びタップｄと表記して説明する。また、以下の説明では、タップａ〜ｄに対応する機能部品の基本的構成が同じであり、特に区別する場合にａ〜ｄの符号を付記する。

送信回路１０は、タップ毎にマルチプレクサ２２、及びプリドライバ回路２８を備える。また、送信回路１０は、タップａに対応するドライバ回路３０ａ、タップｂに対応するドライバ回路３０ｂ、タップｃに対応するドライバ回路３０ｃ、及びタップｄに対応するドライバ回路３０ｄを備える。なお、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、基本的構成が同じであるので、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄを区別しない場合、ドライバ回路３０と表記する。

送信回路１０の信号変換部２０には、デエンファシスを行うためにタップａ〜ｄの各々に対して遅延時間、及び極性反転の有無が設定される。信号変換部２０は、入力信号Ｓｉに対し、タップａ〜ｄの各々に対する設定に基づいて遅延及び極性反転を行って出力する。これにより、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄには、入力信号Ｓｉがタップａ〜ｄについて設定された遅延時間及び極性反転の有無に応じて変換された信号Ｓｉａ、Ｓｉｂ、Ｓｉｃ、Ｓｉｄがプリドライバ回路２８から入力される。ドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、プリドライバ回路２８から入力される信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄに応じた電圧の信号Ｓｏａ〜Ｓｏｄを出力する。送信回路１０は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄが出力する信号Ｓｏａ〜Ｓｏｄを合成し、伝送信号Ｓｏとして出力する。信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄは、第１の実施形態においてドライバ回路の各々に入力される信号の一例として機能し、信号Ｓｏａ〜Ｓｏｄは、第１の実施形態においてドライバ回路の各々が出力する信号の一例として機能する。

送信回路１０は、タップａ〜ｄの間で重み付けが行われ、タップａ〜ｄの各々に対する遅延時間、及び極性反転の有無に加え、タップａ〜ｄの各々に対する重み付けを用いて伝送信号Ｓｏに対するデエンファシスを行う。送信回路１０は、タップａ〜ｄの重み付けを、タップａ〜ｄのドライバ回路３０ａ〜３０ｄの出力抵抗値に基づいた比を用い行う。送信回路１０は、重み付けを行う際のドライバ回路３０ａ〜３０ｄの出力抵抗値に基づいた比として、出力抵抗値の比の逆比が用いられる。本実施形態では、逆比を重みＷ（Ｗａ〜Ｗｄ）として用いる。送信回路１０は、タップａ〜ｄの各々に対する遅延時間、極性反転の有無、及びタップａ〜ｄの各々に対する重みＷａ〜Ｗｄの組み合わせによりデエンファシスの強度（低周波成分の減衰度）が設定される。以下では、ドライバ回路３０ａ、３０ｂ、３０ｃ、３０ｄの各々の出力抵抗値を合成抵抗値Ｒｏａ、Ｒｏｂ、Ｒｏｃ、Ｒｏｄとする。また、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄを総称する場合、合成抵抗値Ｒｏと表記する。合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄは、第１の実施形態においてドライバ回路の各々の出力抵抗値の一例として機能する。重みＷａ〜Ｗｄは、本実施形態においてドライバ回路の各々の出力抵抗値に基づく比の一例として機能する。

図２には、１タップ分のドライバ回路３０を示す。ドライバ回路３０は、複数のドライバユニット３２を備える。ドライバユニット３２は、一例として電圧モードで動作するＳＳＴ（source series terminated）を用いた単位回路３４を含む。ドライバユニット３２は、本実施形態において動作単位回路の一例として機能する。

単位回路３４は、Ｐ型ＭＯＳトランジスタを用いたトランジスタＭｇ、及びＮ型ＭＯＳトランジスタを用いたトランジスタＭｈを含む。単位回路３４は、トランジスタＭｇのソースＳに電圧Ｖｄｄが印加され、トランジスタＭｈのソースＳが接地されている。また、単位回路３４は、トランジスタＭｇのドレインＤとトランジスタＭｈのドレインＤとが接続され、この接続点に抵抗素子３６の一端が接続されている。これにより、単位回路３４は、トランジスタＭｇ、Ｍｈが相補的に動作するインバータとして機能し、信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄが入力されることで動作し、信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄに応じてトランジスタＭｇ、Ｍｈが駆動する。

ドライバユニット３２は、単位回路３４のトランジスタＭｇ、Ｍｈが動作したときの抵抗値Ｒｔ、及び抵抗素子３６の抵抗値Ｒにより、出力抵抗値が定まる。トランジスタＭｇ、Ｍｈ、及び抵抗素子３６が抵抗素子として機能する。ドライバユニット３２は、単位回路３４のトランジスタＭｇ、Ｍｈが相補的に動作することで出力抵抗値が一定となる。ドライバユニット３２は、出力抵抗値が予め設定した単位抵抗値Ｒｘが得られるように形成される。単位抵抗値Ｒｘは、第１の実施形態において動作単位回路の出力抵抗値の一例として機能する。

ドライバ回路３０は、ドライバユニット３２に限らず、相補的に動作するトランジスタＭｇ、Ｍｈを備える各種の構成を適用することができる。図３には、ドライバユニット３２に替えてドライバ回路３０に設け得るドライバユニットの一例を示す。図３に示すドライバユニット２５０は、単位回路２５２を備える。単位回路２５２は、直列接続された２つの抵抗素子２５４、２５６によりトランジスタＭｇのドレインＤとトランジスタＭｈのドレインＤとが接続されている。ドライバユニット２５０は、トランジスタＭｇがオフし、トランジスタＭｈがオンすることで、出力抵抗値がトランジスタＭｈと抵抗素子２５４との合成抵抗値となる。また、ドライバユニット２５０は、トランジスタＭｈがオフし、トランジスタＭｇがオンすることで、出力抵抗値がトランジスタＭｇと抵抗素子２５６との合成抵抗値となる。

従って、ドライバユニット２５０は、抵抗素子２５４、２５６の各々の抵抗値を、抵抗素子３６の抵抗値Ｒと同様とすることにより、ドライバユニット３２と電気的に等価となるように機能する。開示の技術における動作単位回路としては、ドライバユニット３２に限らず、所望の抵抗値を出力し得る機能を有するものであれば、例えば、トランジスタ等の能動素子のみで形成しても良く、抵抗素子のみで形成しても良く、更に、他の機能部品を含んでも良い。

図１及び図４に示すように、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々は、複数のドライバユニット３２が並列配置されて形成されている。ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの間では、ドライバユニット３２（単位回路３４、図２参照）のトランジスタＭｇ及びトランジスタＭｈのトランジスタサイズが合わせられ同様の抵抗値Ｒｔとなるように形成されている。また、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの間では、ドライバユニット３２の単位回路３４に設けている抵抗素子３６（図２参照）の抵抗値Ｒが異なっている。以下では、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに設けるドライバユニット３２を区別する場合、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄと表記する。また、以下では、ドライバユニット３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄの単位回路３４を区別する場合、単位回路３４ａ、３４ｂ、３４ｃ、３４ｄと表記する。また、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄ（単位回路３４ａ〜３４ｄ）の抵抗素子３６を区別する場合、抵抗素子３６ａ、３６ｂ、３６ｃ、３６ｄと表記し、抵抗素子３６ａ、３６ｂ、３６ｃ、３６ｄの抵抗値Ｒを、抵抗値Ｒａ、Ｒｂ、Ｒｃ、Ｒｄと表記する。

ドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、複数のドライバユニット３２ａ〜３２ｄのうち動作するドライバユニット３２ａ〜３２ｄが並列に接続する。従って、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄは、動作するドライバユニット３２ａ〜３２ｄの数、及びドライバユニット３２ａ〜３２ｄの単位抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄにより定まる。

送信回路１０のドライバ部２６は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄが並列配置され、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの出力が合成される。これにより、送信回路１０の出力抵抗値である終端抵抗値（出力インピーダンス）Ｚoutは、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの合成値となる。送信回路１０は、終端抵抗値Ｚoutが伝送線路１６の特性インピーダンスＺｏとなるように設定される。終端抵抗値Ｚoutは、第１の実施形態においてドライバ回路の出力抵抗値を合成した終端抵抗値の一例として機能する。

前記したように、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々は、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄが重みＷ（Ｗａ〜Ｗｄ）に応じて設定される。重みＷａ〜Ｗｄは、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの比の逆比が用いられ、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄは、重みＷａ〜Ｗｄの数値が大きいほど小さくなる。送信回路１０は、ドライバ回路３０の各々のドライバユニット３２ａ〜３２ｄの単位抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄが、重みＷａ〜Ｗｄに基づいて設定されている。

ここで、単位重み（重みＷ＝１）当たりのドライバユニット３２の抵抗値を抵抗値Ｒunitとする。ドライバユニット３２ａ〜３２ｄの単位抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄは、抵抗値Ｒunit、及び重みＷａ〜Ｗｂにより定まる。また、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄは、単位抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄと並列接続されるドライバユニット３２ａ〜３２ｄの数Ｎにより定まる。送信回路１０の終端抵抗値Ｚoutは、並列接続されているドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄから得られる。ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々についてＮ個のドライバユニット３２を並列接続して終端抵抗値Ｚoutとする場合、終端抵抗値Ｚoutは、抵抗値Ｒunit、重みＷａ〜Ｗｄ、及びドライバユニット３２の個数Ｎにより定まる。ここから、抵抗値Ｒunitは、終端抵抗値Ｚout、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの比の逆比とする重みＷａ〜Ｗｄ、及び所定数Ｎから、以下に示す（１）式から設定される。抵抗値Ｒunitは、本実施形態において単位重み当たりの抵抗値の一例として機能する。
Ｒunit＝Ｚout・（Ｗａ＋Ｗｂ＋Ｗｃ＋Ｗｄ）・Ｎ ・・・（１）

また、単位抵抗値ＲunitのＮ個のドライバユニット３２を並列接続した場合のドライバ回路３０の合成抵抗値Ｒｏは、以下に示す（２）式から得られる。
Ｒｏ＝Ｒunit／Ｎ ・・・（２）

ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ、Ｒｏｂ、Ｒｏｃ、Ｒｏｄは、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの比の逆比としているドライバ回路３０ａ〜３０ｄの重みＷａ〜Ｗｄに応じる。従って、（１）式及び（２）式から、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄは、一例として、以下の（３）、（４）、（５）、（６）式の演算により得られる。
Ｒｏａ＝（Ｗａ＋Ｗｂ＋Ｗｃ＋Ｗｄ）・Ｚout／Ｗａ ・・・（３）
Ｒｏｂ＝（Ｗａ＋Ｗｂ＋Ｗｃ＋Ｗｄ）・Ｚout／Ｗｂ ・・・（４）
Ｒｏｃ＝（Ｗａ＋Ｗｂ＋Ｗｃ＋Ｗｄ）・Ｚout／Ｗｃ ・・・（５）
Ｒｏｄ＝（Ｗａ＋Ｗｂ＋Ｗｃ＋Ｗｄ）・Ｚout／Ｗｄ ・・・（６）

図５には、一例として、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々でＮ個のドライバユニット３２（３２ａ〜３２ｄ）を並列接続した場合の抵抗値の概略を示す。ドライバ回路３０ａは、Ｎ個の抵抗素子３６ａによる抵抗値がＲａ／Ｎとなり、ドライバ回路３０ｂは、Ｎ個の抵抗素子３６ｂによる抵抗値がＲｂ／Ｎとなる。また、ドライバ回路３０ｃは、Ｎ個の抵抗素子３６ｃによる抵抗値がＲｃ／Ｎとなり、ドライバ回路３０ｄは、Ｎ個の抵抗素子３６ｄによる抵抗値がＲｄ／Ｎとなる。

例えば、重みＷａ〜Ｗｄが、Ｗａ：Ｗｂ：Ｗｃ：Ｗｄ＝１：３：１０：２、終端抵抗値Ｚout＝Ｚｏ＝５０Ωとする。Ｎ＝７の場合、抵抗値Ｒunitは、Ｒunit＝５６００Ωとなる。また、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄは、抵抗値Ｒunitから、合成抵抗値Ｒｏａ＝８００Ω、合成抵抗値Ｒｏｂ＝２６７Ω、合成抵抗値Ｒｏｃ＝８０Ω、合成抵抗値Ｒｏｄ＝４００Ωとして得られる。なお、第１の実施形態では、重みＷａ〜Ｗｄの値を整数値として説明する。

合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの各々は、以下の演算式に示すように、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄの単位抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄと並列接続されるドライバユニット３２ａ〜３２ｄの数Ｎから得られる。
Ｒｏａ＝Ｒｘａ／Ｎ＝（Ｒｔ＋Ｒａ）／Ｎ
Ｒｏｂ＝Ｒｘｂ／Ｎ＝（Ｒｔ＋Ｒｄ）／Ｎ
Ｒｏｃ＝Ｒｘｃ／Ｎ＝（Ｒｔ＋Ｒｃ）／Ｎ
Ｒｏｄ＝Ｒｘｄ／Ｎ＝（Ｒｔ＋Ｒｄ）／Ｎ
従って、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄに設ける抵抗素子３６ａ〜３６ｄの抵抗値Ｒａ〜Ｒｄは、Ｒｘａ＝Ｒｏａ・Ｎ、Ｒｘｂ＝Ｒｏｂ・Ｎ、Ｒｘｃ＝Ｒｏｃ・Ｎ、Ｒｘｄ＝Ｒｏｄ・Ｎとなる。なお、各ドライバユニット３２の抵抗素子３６の抵抗値Ｒの設定方法はこれに限るものではない。

ところで、半導体集積回路１８に形成されるトランジスタ及び抵抗素子等は、製造プロセス（Process）に基因して抵抗値にばらつきが生じることがある。また、製造された半導体集積回路１８は、温度（Temperature）の変動、及び電圧（Voltage）の変動等に基因し、内部に形成されたトランジスタ及び抵抗素子等の抵抗値の変動が生じる。送信回路１０は、トランジスタ及び抵抗素子の抵抗値が変動することで特性変動が生じる。

送信回路１０に設けられるドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄのトランジスタＭｇ、Ｍｈの抵抗値Ｒｔ及び抵抗素子３６ａ〜３６ｄの抵抗値Ｒａ〜Ｒｄにばらつきが生じると、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄが変化する。送信回路１０は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄが変動することで終端抵抗値Ｚoutが変化する。また、送信回路１０は、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの変化が、重みＷａ〜Ｗｄの変化として現れて所望のデエンファシスを行った出力信号Ｓｏが得られなくなるなどの電気的特性に変化が生じてしまう。

図１に示すように、調整制御部４６は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々に調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを出力し、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々において動作させるユニット３２ａ〜３２ｄの数とする動作数Ｎａ〜Ｎｄを制御する。調整制御部４６は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄと共に半導体集積回路１８に設けたトランジスタ及び抵抗素子の抵抗値に応じて調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを設定する。動作数Ｎａ〜Ｎｄは、第１の実施形態において動作単位回路の動作数の一例として機能する。送信回路１０では、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々に並列配置するユニット３２ａ〜３２ｄの数Ｌを、終端抵抗値Ｚoutを特性インピーダンスＺｏに整合させるための合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄが得られる数よりも多くしている。例えば、終端抵抗値Ｚoutを特性インピーダンスＺｏに整合させるための合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄが得られるドライバユニット３２ａ〜３２ｄの数をＮとした場合、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄの数Ｌは、Ｎより大きく設定される（Ｎ＜Ｌ）。本実施形態では、例えば、Ｎ＝８で送信回路１０を設計する場合に、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々に設けるユニット３２ａ〜３２ｄの数ＬをＬ＝９としている。

調整制御部４６は、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄによりドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々において動作するユニット３２ａ〜３２ｄの数を変えることで、送信回路１０の終端抵抗値Ｚout、及びタップａ〜ｄの重みＷａ〜Ｗｄを制御する。なお、並列配置するユニット３２の数Ｌは、例えば、重みＷの数値が最も大きいドライバ回路３０の数Ｌを、他のドライバ回路３０より多くするなどしてドライバ回路３０ａ〜３０ｄの間で異なっても良い。

図２に示すように、ドライバユニット３２は、切替回路３８を含む。切替回路３８は、一例として、ＮＡＮＤ回路４０、ＮＯＲ回路４２、及びインバータ回路４４を含む。ＮＡＮＤ回路４０は、出力端子が単位回路３４のトランジスタＭｇのゲートＧに接続され、ＮＯＲ回路４２は、出力端子が単位回路３４のトランジスタＭｈのゲートＧに接続されている。また、ＮＡＮＤ回路４０、及びＮＯＲ回路４２には、信号Ｓｉａ、Ｓｉｂ、Ｓｉｃ、Ｓｉｄが入力される。

調整制御部４６は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々に対する動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。調整制御部４６は、動作数Ｎａ〜Ｎｄに基づいた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに出力する。調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄは、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄにおいて動作数Ｎａ〜Ｎｄに対応するデータを示す。調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄの各々は、例えば、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに並列配置したユニット３２の数Ｌに対応するビット数を含むバイナリデータが用いられる。

ドライバユニット３２ａ〜３２ｄの各々は、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄが切替回路３８に入力される。切替回路３８は、調整コードＣｃａ〜ＣｃｄがＮＡＮＤ回路４０に入力され、また、インバータ回路４４を介してＮＯＲ回路４２に入力される。切替回路３８は、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄの対応するビットのデータ（１又は０）により、信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄを単位回路３４へ入力するか否かを切り替える。ドライバユニット３２ａ〜３２ｄは、切替回路３８から信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄが単位回路３４に入力されることで動作する。ドライバユニット３２ａ〜３２ｄは、動作する単位回路３４が並列に接続された状態となる。また。ドライバユニット３２ａ〜３２ｄは、切替回路３８から信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄが単位回路３４に入力されないことで動作を停止し、並列接続から切り離される。

図１及び図４に示すように、調整制御部４６は、基礎設定部４８、バッファ部５０、及びコード設定部５２を含む。コード設定部５２は、第１の実施形態において設定部の一例として機能する。図６には、基礎設定部４８の一例を示す。基礎設定部４８は、基礎電圧検出部５４、単位抵抗算出部５６、及び基礎数設定部５８を含む。基礎電圧検出部５４は、第１の実施形態において基礎検出部の一例として機能する。単位抵抗算出部５６は、第１の実施形態において単位抵抗算出部の一例として機能する。基礎数設定部５８は、第１の実施形態において基礎設定部の一例として機能する。

基礎電圧検出部５４は、レプリカユニット６０ａ、６０ｂ、６０ｃ、６０ｄを含む。レプリカユニット６０ａは、ドライバ回路３０ａのドライバユニット３２ａに対応し、レプリカユニット６０ｂは、ドライバ回路３０ｂのドライバユニット３２ｂに対応する。また、レプリカユニット６０ｃは、ドライバ回路３０ｃのドライバユニット３２ｃに対応し、レプリカユニット６０ｄは、ドライバ回路３０ｄのドライバユニット３２ｄに対応する。レプリカユニット６０ａ〜６０ｄは、第１の実施形態において全検出部に用いる複数の複製回路の一例として機能する。

レプリカユニット６０ａ〜６０ｄは、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄから切替回路３８を除いた単位回路３４ａ〜３４ｄに対応し、トランジスタＭｇ、Ｍｈ及び抵抗素子３６ａ〜３６ｄを用いたＳＳＴが形成されている。従って、ユニット６０ａ〜６０ｄの各々は、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄの各々の単位回路３４ａ〜３４ｄと同様に機能する。

基礎電圧検出部５４は、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄを用いることで、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄの一つずつの組（以下、スライスと称する）に対応するレプリカ回路６２が形成されている。レプリカ回路６２は、第１の実施形態において全複製回路の一例として機能する。レプリカ回路６２は、半導体集積回路１８に形成されることで、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄの抵抗値とする出力抵抗値がドライバユニット３２ａ〜３２ｄの単位抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄと同様に、製造プロセス、温度、及び電圧の影響を受ける。

基礎電圧検出部５４は、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄの各々に、電圧Ｖｄｄが入力される。また、基礎電圧検出部５４は、ノード６６においてレプリカユニット６０ａ〜６０ｄの各々の出力側が接続されている。

基礎電圧検出部５４は、較正用の基準抵抗素子６８を備える。基準抵抗素子６８は、一端側に電圧Ｖｄｄが印加され、他端がノード６６に接続されている。基準抵抗素子６８は、所定の抵抗値Ｒcalが、製造プロセスの変動、温度の変動、及び電圧の変動の影響を受けずに一定となるように形成されている。

半導体集積回路１８では、例えば抵抗素子を形成する際の面積を大きくするほど、抵抗素子の抵抗値が製造プロセスの変動、温度の変動、及び電圧の変動の影響を受け難くなる。基準抵抗素子６８は、製造プロセスの変動、温度の変動、及び電圧の変動による抵抗値Ｒcalの変化が抑えられるように半導体集積回路１８に形成されている。なお、基準抵抗素子６８は、半導体集積回路１８に形成されるものに限らず、半導体集積回路１８の外部に設けるものであっても良い。

基礎電圧検出部５４は、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄの各々に電圧Ｖｄｄが入力されることで、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄの各々においてトランジスタＭｈがオンする。ノード６６の電圧Ｖｍは、電圧Ｖｄｄ、及びレプリカユニット６０ａ〜６０ｄの出力抵抗値の合成抵抗値と基準抵抗素子６８の抵抗値Ｒcalとの比率に応じた電圧となる。電圧Ｖｍは、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄに設けているトランジスタＭｇ、Ｍｈの抵抗値及び抵抗素子３６（３６ａ〜３６ｄ）の抵抗値に応じて変化する。

基礎電圧検出部５４は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄにおける１スライス分のドライバユニット３２ａ〜３２ｄの単位抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄの合成抵抗値に応じた電圧Ｖｍを出力する。なお、基礎電圧検出部５４は、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄのトランジスタＭｈをオン駆動しているが、例えば、レプリカ回路６０ａ〜６０ｄの各々の入力側を接地してトランジスタＭｇをオン駆動するようにしても良い。また、基礎電圧検出部５４は、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄの各々のトランジスタＭｇ又はトランジスタＭｈの一方をオン駆動すればよいので、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄのトランジスタＭｇ又はトランジスタＭｈの他方を省略しても良い。

単位抵抗算出部５６は、基礎電圧検出部５４が出力する電圧Ｖｍに基づいて、１スライス分のドライバユニット３２ａ〜３２ｄの抵抗値に応じた合成抵抗値を、抵抗値Ｒsliceとして算出する。電圧Ｖｍは、抵抗値Ｒsliceと基準抵抗素子６８の抵抗値Ｒcalとの比に応じた電圧となる。ここから、単位抵抗算出部５６は、例えば、以下に示す一般的演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。なお、ロジック回路を用いる場合、単位抵抗算出部５６では、電圧Ｖｍに対してアナログ‐デジタル変換を行う。また、以下の説明においてロジック回路を用いて演算処理を行う場合、演算結果に対して端数処理を行う。
Ｒslice＝Ｒcal・Ｖｍ／（Ｖｄｄ−Ｖｍ）

基礎数設定部５８は、抵抗値Ｒslice、及び送信回路１０に要求される終端抵抗値Ｚout（伝送線路１６の特性インピーダンスＺｏ）に基づいて、基礎動作数ＳＮを設定する。基礎動作数ＳＮは、第１の実施形態において基礎動作数の一例として機能する。基礎数設定部５８で設定される基礎動作数ＳＮは、送信回路１０の終端抵抗値Ｚoutを特性インピーダンスＺｏに整合させるのに必要なスライスの数であり、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの間でドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数と同数となる。ドライバ部２６は、ＳＮスライス分のドライバユニット３２ａ〜３２ｄを動作させることで、抵抗値Ｒsliceの抵抗をＳＮ個だけ並列接続した合成値が出力抵抗値となる。ここから、基礎数設定部５８は、例えば、前記した（２）式に基づき、以下の演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。なお、基礎動作数ＳＮは、整数値が用いられるが、第１の実施形態では、基礎動作数ＳＮに対して補正処理を行うので、必ずしも整数である必要はない。
ＳＮ＝Ｒslice／Ｚout

図１及び図４に示すように、基礎設定部４８は、バッファ部５０に接続されている。また、バッファ部５０は、コード設定部５２に接続されている。バッファ部５０は、基礎設定部４８の基礎数設定部５８で設定された基礎動作数ＳＮを読み込んで保持する。コード設定部５２は、バッファ部５０が保持した基礎動作数ＳＮを用いて、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々に対する動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。

基礎動作数ＳＮは、その数のドライバ回路３０ａ〜３０ｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄを動作させることで、送信回路１０の終端抵抗値Ｚoutを伝送線路１６の特性インピーダンスＺｏに整合させることができる。ただし、基礎動作数ＳＮは、必ずしもドライバ回路３０ａ〜３０ｄの出力抵抗値を重みＷａ〜Ｗｄに応じた合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄとしていない場合がある。コード設定部５２は、少なくとも一つのドライバ回路３０について重みを算出し、算出した重み、予め設定された重みＷａ〜Ｗｄ、及び基礎動作数ＳＮを用い、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに対する基礎動作数ＳＮを設定する。

図７には、コード設定部５２の一例を示す。コード設定部５２は、重み設定部７０、及び動作数設定部７２を含む。重み設定部７０は、基準検出部７４、対象検出部７６、及び重み算出部８４を含む。基準検出部７４及び対象検出部７６は、第１の実施形態において個別検出部の一例として機能する。重み算出部８４は、第１の実施形態において抵抗比算出部の一例として機能する。重み設定部７０は、タップａ〜タップｄのドライバ回路３０ａ〜３０ｄのうちの少なくとも２つのドライバ回路３０に対応されている。また、重み設定部７０は、２つのドライバ回路３０のうちの一方のドライバ回路３０を基準として他方のドライバ回路３０を較正対象とし、基準のドライバ回路３０に対する較正対象のドライバ回路３０の重みを算出する。また、重み設定部７０は、算出した重みを較正対象のドライバ回路３０の重みに設定する。基準検出部７４は、基準とするタップのドライバ回路３０に設けたドライバユニット３２に対応し、対象検出部７６は、較正対象とするタップのドライバ回路３０に設けたドライバユニット３２に対応する。

基準とするタップのドライバ回路３０及び較正対象のタップのドライバ回路３０は、タップａ〜ｄから任意のタップが設定される。また、基準とするタップのドライバ回路３０としては、重みに応じて設定される合成抵抗値Ｒｏが最も大きいタップ（例えば、重みＷａ＝１のタップａ）のドライバ回路３０ａとすることが好ましい。

較正対象のタップのドライバ回路３０は、例えば、半導体集積回路１８の製造に先立って、半導体集積回路１８に形成する送信回路１０の動作のシミュレーションを行い、シミョレーションの結果に基づいて設定する。較正対象のタップのドライバ回路３０は、シミュレーションの結果から、例えば、重みＷに変化が生じたドライバ回路３０、又は重みＷの変化が最も大きいドライバ回路３０を適用する。また、較正対象のタップのドライバ回路３０としては、重みに応じて設定される合成抵抗値Ｒｏが最も小さいタップ（例えば、重みＷｃ＝１０のタップｃ）のドライバ回路３０ｃを適用しても良い。

図７では、一例として、基準としてタップａのドライバ回路３０ａを適用し、較正対象としてタップｃのドライバ回路３０ｃを適用している。半導体集積回路１８では、予め基準とするタップ及び較正対象とするタップが予め設定されることで、基準とするタップのドライバ回路３０ａに対応して基準検出部７４が形成される。また、半導体集積回路１８には、較正対象のタップのドライバ回路３０ｃに対応して対象検出部７６が形成される。

基準検出部７４は、タップａのドライバユニット３２ａ（単位回路３４ａ）に対応するトランジスタ及び抵抗素子（以下、トランジスタＭｈ及び抵抗素子３６ａとする）を含むレプリカ回路７４ａを備える。対象検出部７６は、タップｃのドライバユニット３２ｃ（単位回路３４ｃ）に対応するトランジスタ及び抵抗素子（以下、トランジスタＭｈ及び抵抗素子３６ｃとする）を含むレプリカ回路７６ｃを備える。また、基準検出部７４及び対象検出部７６は、所定の抵抗値の抵抗素子７８を含む。レプリカ回路７４ａ、７６ｃは、第１の実施形態において個別検出部に用いられる複製回路の一例として機能する。なお、レプリカ回路７４ａ及びレプリカ回路７６ｃは、トランジスタＭｈに替えてトランジスタＭｇを用いて形成しても良い。

基準検出部７４のレプリカ回路７４ａは、抵抗素子３６ａ及び抵抗素子７８を介してトランジスタＭｈのドレインＤに電圧Ｖｄｄが印加され、トランジスタＭｈのゲートＧに電圧Ｖｄｄが入力される。また、対象検出部７６のレプリカ回路７６ｃは、抵抗素子３６ｃ及び抵抗素子７８を介してトランジスタＭｈのドレインＤに電圧Ｖｄｄが印加され、トランジスタＭｈのゲートＧに電圧Ｖｄｄが入力される。

基準検出部７４は、抵抗素子３６ａと抵抗素子と７８の接続点となるノード８０から、トランジスタＭｈ及び抵抗素子３６ａの抵抗値（合成抵抗値）と抵抗素子７８の抵抗値との比に応じた電圧Ｖｍｓを出力する。対象検出部７６は、抵抗素子３６ｃと抵抗素子７８との接続点となるノード８２から、トランジスタＭｈ及び抵抗素子３６ｃの抵抗値（合成抵抗値）と抵抗素子７６の抵抗値との比に応じた電圧Ｖｍｏを出力する。

電圧Ｖｍｓは、ドライバユニット３２ａの実際の単位抵抗値Ｒｘａｍと抵抗素子７８の抵抗値との比に対応する。電圧Ｖｍｏは、ドライバユニット３２ｃの実際の単位抵抗値Ｒｘｃｍと抵抗素子７８の抵抗値との比に対応する。従って、電圧Ｖｍｓに対する電圧Ｖｍｏの比は、ドライバ回路３０ａの重みに対するドライバ回路３０ｃの重みの比となる。レプリカ回路７４ａ、７６ｃは、半導体集積回路１８に形成されることで、出力抵抗値が、ドライバユニット３２ａ、３２ｃの出力抵抗値である単位抵抗値Ｒｘａ、Ｒｘｃと同様に、製造プロセス、温度、及び電圧の影響を受ける。

重み算出部８４は、電圧Ｖｍｓ、Ｖｍｏに基づき、基準とするタップ（タップａ）の重みＷに対する較正対象のタップ（タップｃ）の重みＷの比を算出する。また、重み算出部８４は、算出した重みＷの比、及び基準とするタップ（タップａ）の重みＷ（Ｗａ）に基づき、較正対象のタップ（タップｃ）の重みＷ（ＣＷｃ）を算出する。基準検出部７４と対象検出部７６との間では、同様の電圧Ｖｄｄ及び抵抗素子７８を用いていることで、電圧Ｖｍｓと電圧Ｖｍｏとの比は、実際の単位抵抗値ＲｘａｍとＲｘｃｍとの比となる。重みＷは、合成抵抗値Ｒｏの比の逆比を適用している。従って、較正対象のドライバ回路３０ｃの重みＷｃ（較正した重みＣＷｃ）は、基準とするドライバ回路３０ａに対する重みＷａ、及び電圧Ｖｍｏ、Ｖｍｓから一般的演算式を用いて得られる。重み算出部８４は、例えば、以下の演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。
ＣＷｃ＝Ｗａ・Ｖｍｓ（Ｖｄｄ‐Ｖｍｏ）／Ｖｍｏ（Ｖｄｄ‐Ｖｍｓ）

動作数設定部７２は、ユニット設定部８６、及びタップａ〜ｄの各々に対応する個別設定部８８ａ、８８ｂ、８８ｃ、８８ｄを含む。ユニット設定部８６は、第１の実施形態において抵抗値設定部の一例として機能する。個別設定部８８ａ〜８８ｄは、第１の実施形態において個別設定部の一例として機能する。

ユニット設定部８６は、ユニット３２の単位重み（Ｗ＝１）当たりの抵抗値Ｒunitを設定する。ユニット設定部８６は、抵抗値Ｒunitの設定に、重み算出部８４で算出した較正対象のタップｃ（ドライバ回路３０ｃ）に対応する重みＣＷｃ、及び較正対象のタップｃ以外の各タップａ、ｂ、ｄに対して予め設定されている重みＷａ、Ｗｂ、Ｗｄを用いる。また、ユニット設定部８６は、抵抗値Ｒunitの設定に、バッファ部５０（図１、図４参照）に保持されている基礎動作数ＳＮ、及び終端抵抗値Ｚout（又は目標とする特性インピーダンスＺｏ）を用いる。

ユニット設定部８６における抵抗値Ｒunitの設定には、前記（１）式に基づき、例えば、以下の演算式を実行するロジック回路が用いられる。
Ｒunit＝Ｚout・（Ｗａ＋Ｗｂ＋ＣＷｃ＋Ｗｄ）・ＳＮ

個別設定部８８ａは、タップａのドライバ回路３０ａに対する動作数Ｎａを設定し、設定した動作数Ｎａに基づく調整コードＣｃａを出力する。個別設定部８８ｂは、タップｂのドライバ回路３０ｂに対する動作数Ｎｂを設定し、設定した動作数Ｎｂに基づく調整コードＣｃｂを出力する。また、個別設定部８８ｃは、タップｃのドライバ回路３０ｃに対する動作数Ｎｃを設定し、設定した動作数Ｎｃに基づく調整コードＣｃｃを出力する。個別設定部８８ｄは、タップｄのドライバ回路３０ｄに対する動作数Ｎｄを設定し、設定した動作数Ｎｄに基づく調整コードＣｃｄを出力する。

個別設定部８８ａ〜８８ｄは、動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定に、抵抗値Ｒunit、タップａ〜ｄの各々に対する重みＷａ〜Ｗｄ、及び予め設定されたドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ、Ｒｏｂ、Ｒｏｃ、Ｒｏｄを用いる。この際、較正対象以外のタップ（タップａ、ｂ、ｄ）に対応する個別設定部８８ａ、８８ｂ、８８ｄは、予め設定された重みＷａ、Ｗｂ、Ｗｄを用いる。また、較正対象のタップ（タップｃ）に対応する個別設定部８８ｃは、重み算出部８４において算出した重みＣＷｃを用いる。

個別設定部８８ａ〜８８ｄの各々は、前記（１）式〜（６）式に基づき、例えば、以下の演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。
Ｎａ＝Ｒunit／（Ｒｏａ・Ｗａ）
Ｎｂ＝Ｒunit／（Ｒｏｂ・Ｗｂ）
Ｎｃ＝Ｒunit／（Ｒｏｃ・ＣＷｃ）
Ｎｄ＝Ｒunit／（Ｒｏｄ・Ｗｄ）

個別設定部８８ａ〜８８ｄは、動作数Ｎａ〜Ｎｄの演算結果に対して所定の端数処理（例えば、四捨五入等）を行い、動作数Ｎａ〜Ｎｄを正の整数値に設定する。また、個別設定部８８ａ〜８８ｄは、動作数Ｎａ〜Ｎｄをバイナリデータ（調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄ）に変換して出力する。

個別設定部８８ａ〜８８ｄで設定する動作数Ｎａ〜Ｎｄは、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄで動作させるドライバユニット３２ａ〜３２ｄの数に対応する。個別設定部８８ａ〜８８ｄが、基礎動作数ＳＮに基づいて設定された抵抗値Ｒunitを用いることで、動作数Ｎａ〜Ｎｄは、基礎動作数ＳＮをドライバ回路３０ａ〜３０ｂについて補正した値となっている。

図１に示すように、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄは、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに入力される。ドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄに設けている切替回路３８の各々に調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄが入力され、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄに応じた数のドライバユニット３２ａ〜３２ｄが動作する。

以下に、第１の実施形態の作用を説明する。
送信回路１０は、タップａ〜ｄの各々に設定された重みＷａ〜Ｗｄに基づいてドライバ回路３０ａ〜３０ｄが形成される。送信回路１０が設けられる半導体集積回路１８は、製造に先立って送信回路１０の動作のシミュレーションが行われる。送信回路１０の動作のシミュレーションにおいては、例えば、製造プロセスに基因するタップａ〜ｄの重みＷａ〜Ｗｄの変動の有無の判定が行われる。

図８（Ａ）及び図８（Ｂ）には、タップａ〜ｄの重みＷａ、Ｗｂ、Ｗｃ、Ｗｄが、Ｗａ：Ｗｂ：Ｗｃ：Ｗｄ＝１：３：１０：２の場合のシミュレーションの結果の一例を示す。なお、図８（Ａ）及び図８（Ｂ）では、シミュレーションの結果を実線で示し、理論値（設計値）を二点鎖線で示している。

図８（Ａ）には、標準条件において、タップａの重みＷａ＝１を基準としたタップｂ〜ｄの重みＷｂ〜Ｗｄを示している。半導体集積回路１８の送信回路１０では、標準条件において、タップａ〜ｄの何れかで重みＷの相対値が変化することがある。特に、重みＷとして合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの比の逆比を用いていることで、重みＷの数値が大きいタップにおいては、ドライバ回路３０の合成抵抗値Ｒｏが小さく重みの変化が現れ易い。

また、半導体集積回路１８に形成されるトランジスタや抵抗素子は、製造プロセス等に基因して動作速度の特性が設計時の特性と異なることがあり、動作速度等の特性の相違によりトランジスタの抵抗値、及び抵抗素子の抵抗値が変化する。図８（Ｂ）には、トランジスタを形成する領域が設計より遅く動作し、抵抗素子を形成する領域が設計より速く動作する条件において、温度を高くした場合のシミュレーションの結果を示す。

半導体集積回路１８の送信回路１０では、動作速度の特性や温度によってタップａ〜ｄの何れかで重みＷの相対値が変化することがある。較正対象とするタップは、シミュレーションにより例えば、タップｃの重みが変化した場合、タップｃが設定される。また、基準とするタップは、例えば、重みＷの数値が最も小さく、合成抵抗値Ｒｏが大きく設定されたタップａが適用される。

調整制御部４６のコード設定部５２は、タップｃが較正対象とされることで、重み設定部７０の対象検出部７６に、タップｃのドライバ回路３０ｃのドライバユニット３２ｃに対応するレプリカ回路７６ｃが形成される。また、コード設定部５２は、タップａが基準に設定されることで、重み設定部７０の基準検出部７４に、タップａのドライバ回路３０ａのドライバユニット３２ａに対応するレプリカ回路７４ａが形成される。重み設定部７０は、タップａの重みＷａを基準としたタップｃの重みＣＷｃを算出する。

また、コード設定部５２のユニット設定部８６は、予め設定されているタップｃの重みＷｃに替えて、重み設定部７０で算出される重みＣＷｃを用いて抵抗値Ｒunitを設定するように形成される。さらに、コード設定部５２の個別設定部８８ｃは、重みＣＷｃを用いて調整コードＣｃｃを設定するように形成される。

従って、半導体集積回路１８は、タップａを基準としてタップｃを較正対象とした調整制御部４６を含む送信回路１０が形成されて製造される。製造された半導体集積回路１８の送信回路１０は、例えば、半導体集積回路１８に電源に接続されて電力が供給開始されることで、調整制御部４６が動作する。調整制御部４６は、動作することでドライバ回路３０ａ〜３０ｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定し、設定した動作数Ｎａ〜Ｎｄに基づいた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄをドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々へ出力する。

調整制御部４６は、単位抵抗算出部５６が、レプリカ回路６２から出力する電圧Ｖｍに基づき１スライス分のドライバユニット３２ａ〜３２ｄの出力抵抗値の合成値である抵抗値Ｒsliceを算出する。基礎数設定部５８は、抵抗値Ｒsliceを用いて、現状のトランジスタＭｇ、Ｍｈの抵抗値Ｒｔ及び抵抗素子３６ａ〜３６ｄの抵抗値Ｒａ〜Ｒｄから終端抵抗値Ｚoutを特性インピーダンスＺｏとするための基礎動作数ＳＮを設定する。

従って、終端抵抗値Ｚoutを特性インピーダンスＺｏとする場合、基礎動作数ＳＮは、少なくとも送信回路１０の終端抵抗値Ｚoutを特性インピーダンスＺｏとする数値となっている。しかし、送信回路１０では、タップａ〜ｄの間で重みＷの相対値が変化し、重みＷの変化に基因してＦＦＥとしての電気的特性が変化していることがある。

ここから、調整制御部４６のコード設定部５２は、較正対象のタップｃの実際の重みＣＷｃ、及び基礎動作数ＳＮを含めて、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々に対する動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。コード設定部５２の重み設定部７０は、基準検出部７４から出力される電圧Ｖｍｓ、及び対象検出部７６から出力される電圧Ｖｍｏから、タップａの重みＷａを基準としたタップｃの重みＣＷｃを算出する。

コード設定部５２のユニット設定部８６は、基礎設定部４８で設定された基礎動作数ＳＮ、較正対象以外のタップａ、ｂ、ｄの重みＷａ、Ｗｂ、Ｗｄ、及び較正対象のタップｃの重みＣＷｃを用いて、抵抗値Ｒunitを設定する。また、個別設定部８８ａ〜８８ｄは、タップａ〜ｄのドライバ回路３０ａ〜３０ｄに対する動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。

例えば、電圧Ｖｄｄ＝０．８ｖ、基準検出部７４の電圧Ｖｍｏ＝０．２２９ｖ、及び対象検出部７６の電圧Ｖｍｓ＝０．６１８ｖであった場合、重み算出部８４において算出される重みＣＷｃは、８．２（ＣＷｃ＝８．２）となる。また、基礎動作数ＳＮ＝８であった場合、ユニット設定部８６において設定される抵抗値Ｒunitは、５６８０Ω（Ｒunit＝５６８０）となる。

個別設定部８８ａは、抵抗値Ｒunitに基づいてタップａのドライバ回路３０ａに対する動作数Ｎａを７（Ｎａ＝７）に設定し、個別設定部８８ｂは、抵抗値Ｒunitに基づいてタップｂのドライバ回路３０ａに対する動作数Ｎｂを７（Ｎｂ＝７）に設定する。また、個別設定部８８ｄは、抵抗値Ｒunitに基づいてタップｄのドライバ回路３０ｄに対する動作数Ｎｄを７（Ｎｄ＝７）に設定する。さらに、個別設定部８８ｃは、抵抗値Ｒunitに基づいてタップｃのドライバ回路３０ｃに対する動作数Ｎｃを９（Ｎｃ＝９）に設定する。

従って、ドライバ回路３０ａ〜３０には、半導体集積回路１８上の実際のトランジスタＭｇ、Ｍｈの抵抗値Ｒｔ、及び抵抗素子３６ａ〜３６ｄの抵抗値Ｒａ〜Ｒｄに合わせた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄが入力される。

ドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄによりドライバユニット３２ａ〜３２ｄ毎に動作・停止が切り替えられ、動作数Ｎａ〜Ｎｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄが動作する。従って、送信回路１０は、終端抵抗値Ｚoutが特性インピーダンスＺｏに整合された状態で、かつタップａ〜ｄの間の相対的な重みＷが、予め設定された重みＷａ〜Ｗｄに維持されて動作する。重みＷａ〜Ｗｄは、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄの比の逆比が用いられており、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、予め設定された合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄに調整される。

（比較例）
図９には、第１の実施形態における比較例とする送信回路３００を示す。送信回路３００は、４タップ（タップａ〜ｄ）のＦＦＥとして機能する。送信回路３００は、プリドライバ部２４に対応するプリドライバ部３０２が、プリドライバ回路２８に対応するプリドライバ回路３０４を備える。また、送信回路３００は、ドライバ部２６に対応するドライバ部３０６が、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに対応するドライバ回路３０８ａ〜３０ｄを備える。ドライバ回路３０８ａ〜３０８ｄは、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄに対応する複数のドライバユニット３１０ａ〜３１０ｄを備える。また、送信回路３００は、調整制御部３１２を備え、調整制御部３１２は、基礎設定部３１４及びバッファ部３１６を備える。

基礎設定部３１４は、基礎設定部４８に対応する機能を備え、送信回路３００の終端抵抗値を伝送線路の特性インピーダンスに整合させるための基礎動作数ＳＮを出力する。バッファ部３１６は、基礎動作数ＳＮに基づいた調整コードＣｃを格納し、かつ格納した調整コードＣｃをドライバ回路３０８ａ〜３０８ｄの各々へ出力する。これにより、送信回路３００のドライバ回路３０８ａ〜３０８ｄは、同一の調整コードＣｃに基づき、同数のドライバユニット３１０ａ〜３１０ｄが動作する。ドライバ回路３０８ａ〜３０８ｄは、ドライバユニット３１０ａ〜３１０ｄの動作数が所謂スライス単位で設定される。

図１０には、第１の実施形態に係る送信回路１０が伝送信号Ｓｏとして出力する電圧波形の一例を実線で示し、比較例に係る送信回路３００が出力する電圧波形を破線で示す。なお、送信回路１０及び送信回路３００は、入力信号Ｓｉが０ｖ（直流）である時の出力電圧（図１０において、点Ｐ_０、点Ｑ_０に対応する電圧）に対するピーク電圧が８．５ｄＢ（理論値）となるように設計されている。

また、一般に、電圧波形の振幅の許容範囲が、理論値に対して±１ｄＢであることから、送信回路１０、及び送信回路３００には、入力信号Ｓｉ＝０ｖを基準としてピーク電圧が８．５ｄＢ±１ｄＢとなることが好ましい。ここで、送信回路３００では、入力信号Ｓｉが０ｖ（点Ｑ_０）の場合の出力電圧が０．１２ｖであり、ピーク電圧（点Ｑｐ）が０．４３ｖとなっている。従って、送信回路３００では、ピークの電圧の比が１１．３ｄＢとなっており、理論値の許容範囲から大きく外れる。

これに対して、送信回路１０は、ピーク電圧（点Ｐｐ）が０．４３ｖであり、入力信号Ｓｉが０ｖ（点Ｐ_０）の出力電圧が０．１７ｖとなっている。従って、送信回路１０では、ピークの電圧の比が理論値の８．５ｄＢに近い８．３ｄＢであり、要求される回路特性が満たされる。

送信回路１０の調整制御部４６は、較正対象として設定されたタップｃの重みＣＷｃを算出し、算出した重みＣＷｃに基づいてドライバ回路３０ａ〜３０ｄに対するドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄを個別に設定する。また、調整制御部４６は、半導体集積回路１８に電力の供給が開始されたとき、送信回路１０の動作に先立ってドライバ回路３０ａ〜３０ｄに対するドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。

従って、送信回路１０は、製造プロセスの変動、温度の変動、及び電圧変動に基因して抵抗素子３６等の抵抗値が変化しても、所望の電圧波形の伝送信号Ｓｏを出力することができる。また、送信回路１０は、デエンファシスの強度を適切にし、受信回路１４で適切に復調可能な伝送信号Ｓｏを出力することができる。

以上説明した第１の実施形態では、半導体集積回路１８の製造前に行うシミュレーションの結果に基づいて較正対象とするタップを設定したが、シミュレーションを行うことなく、予め何れかのタップに対して重みＷの較正が行われるものであっても良い。

この場合の較正対象に設定するタップは、例えば、複数のタップの間で重みＷの数値が最も大きいタップを適用する。重みＷの数値の最も大きいタップは、合成抵抗値Ｒｏが小さく、抵抗値の変動により重みＷが変動し易い。また、基準とするタップは、重みＷの数値が小さく、合成抵抗値Ｒｏが大きく設定されたタップが好ましい。これにより、送信回路１０では、タップａ〜ｄの間の相対的な重みの変化を高精度で抑制することができる。従って、送信回路１０は、製造プロセス、温度、及び電圧の変動に基因して、トランジスタＭｇ、Ｍｈ、及び抵抗素子３６の抵抗値に変化が生じても、回路特性の変化が抑えられる。

また、第１の実施形態では、ドライバ回路の出力抵抗値に基づく比として、出力抵抗値の比の逆比とする重みＷを用いたが、これに限らず、出力抵抗値の比を用いても良い。更に、第１の実施形態では、複数のタップａ〜ｄから一つのタップを較正対象として設定したが、これに限らず、２個以上のタップを較正対象としても良い。

〔第２の実施形態〕
次に開示の技術に係る第２の実施形態を詳細に説明する。なお、第２の実施形態の基本的構成は、第１の実施形態と同じであり、第２の実施形態において第１の実施形態と同様の機能部品については、同一の符号を付与してその説明を省略する。

図１１には、第２の実施形態に係る調整制御部９０を示す。調整制御部９０は、第１の実施形態に係る調整制御部４６に替えて用いる。調整制御部９０は、基礎設定部４８、バッファ部５０、及びコード設定部９２を備える。コード設定部９２は、第１の実施形態に係るコード設定部５２に替えて用いる。コード設定部９２は、第２の実施形態において設定部の一例として機能する。

コード設定部９２は、重み設定部９４、ユニット設定部９６、及び個別設定部９８ａ、９８ｂ、９８ｃ、９８ｄを備える。ユニット設定部９６は、第２の実施形態において抵抗値設定部の一例として機能し、個別設定部９８ａ〜９８ｄは、第２の実施形態において個別設定部の一例として機能する。

図１２には、重み設定部９４を示す。重み設定部９４は、複数のタップａ〜ｄのうちの一つのタップ（タップａ）に対応する基準検出部７４、及び他のタップ（タップｂ、ｃ、ｄ）の各々に対応する対象検出部１００、７６、１０２を含む。すなわち、重み設定部９４は、タップａを基準として、タップｂ、ｃ、ｄの各々を較正対象としている。基準検出部７４、及び対象検出部７６、１００、１０２は、第２の実施形態において個別検出部の一例として機能する。

対象検出部１００は、タップｂのドライバ回路３０ｂに対応し、対象検出部１０２は、タップｄのドライバ回路３０ｄに対応し、対象検出部１００、１０２の基本的構成は、対象検出部７６と同様としている。対象検出部１００は、ドライバユニット３２ｂ（単位回路３４ｂ）に対応するトランジスタＭｈ及び抵抗素子３６ｂを含むレプリカ回路１００ｂを備える。対象検出部１０２は、ドライバユニット３２ｄ（単位回路３４ｄ）に対応するトランジスタＭｈ及び抵抗素子３６ｄを含むレプリカ回路１０２ｄを備える。

これにより、対象検出部１００は、抵抗素子３６ｂと抵抗素子７８との接続点となるノード１０４から、抵抗素子７８の抵抗値とドライバユニット３２ｂの抵抗値Ｒｘａに応じた抵抗値とに基づく電圧Ｖｍｎを出力する。また、対象検出部１０２は、抵抗素子３６ｄと抵抗素子７８との接続点となるノード１０６から、抵抗素子７８の抵抗値とドライバユニット３２ｄの出力抵抗値に応じた抵抗値とに基づく電圧Ｖｍｐを出力する。

重み設定部９４は、タップｃに対応する重み算出部８４、タップｂに対応する重み算出部１０８、及びタップｄに対応する重み算出部１１０を備える。重み算出部１０８には、基準検出部７４の電圧Ｖｍｓ、及び対象検出部１００の電圧Ｖｍｎが入力される。重み算出部１０８は、電圧Ｖｍｓ、Ｖｍｎに基づき、タップａの重みＷａを基準としたタップｂに対する重みＣＷｂを算出する。また、重み算出部１１０には、基準検出部７４の電圧Ｖｍｓ、及び対象検出部１０２の電圧Ｖｍｐが入力される。重み算出部１１０は、電圧Ｖｍｓ、Ｖｍｐに基づき、タップａの重みＷａを基準としたタップｄに対する重みＣＷｄを算出する。

重みＣＷｂの算出に用いる重み算出部１０８、及び重みＣＷｄの算出に用いる重み算出部１１０の各々は、重み算出部８４と同様に、例えば、以下の演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。
ＣＷｂ＝Ｗａ・Ｖｍｓ（Ｖｄｄ‐Ｖｍｎ）／Ｖｍｎ（Ｖｄｄ‐Ｖｍｓ）
ＣＷｄ＝Ｗａ・Ｖｍｓ（Ｖｄｄ‐Ｖｍｐ）／Ｖｍｐ（Ｖｄｄ‐Ｖｍｓ）

図１１に示すように、重み設定部９４で算出された重みＣＷｂ、ＣＷｃ、ＣＷｄは、ユニット設定部９６に入力される。ユニット設定部９６は、タップａの重みＷａ、タップｂに対応する重みＣＷｂ、タップｃに対応する重みＣＷｃ、及びタップｄに対応する重みＣＷｄ、並びに基礎設定部４８で設定された基礎動作数ＳＮから抵抗値Ｒunitの設定を行う。

ユニット設定部９６における抵抗値Ｒunitの設定には、前記（１）に基づき、例えば、以下の演算式を実行するロジック回路が用いられ。
Ｒunit＝Ｚout・（Ｗａ＋ＣＷｂ＋ＣＷｃ＋ＣＷｄ）・ＳＮ

一方、個別設定部９８ａは、個別設定部８８ａと同様に動作し、ドライバ回路３０ａのドライバユニット３２ａに対する動作数Ｎａを設定する。個別設定部９８ｃは、個別設定部８８ｃと同様に動作し、ドライバ回路３０ｃのドライバユニット３２ｃに対する動作数Ｎｃを設定する。

個別設定部９８ｂは、抵抗値Ｒunit、タップｂに対して設定された重みＣＷｂ、及びタップｂに対応するドライバ回路３０ｂの合成抵抗値Ｒｏｂに基づいて、ドライバ回路３０ｂのドライバユニット３２ｂに対する動作数Ｎｂを設定する。個別設定部９８ｄは、抵抗値Ｒunit、タップｄに対して設定された重みＣＷｄ、及びタップｄに対応するドライバ回路３０ｄの合成抵抗値Ｒｏｄに基づいて、ドライバ回路３０ｄのドライバユニット３２ｄに対する動作数Ｎｄを設定する。

個別設定部９８ａ〜９８ｄの各々は、例えば、前記（１）式〜（６）式に基づき、以下の演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。
Ｎａ＝Ｒunit／（Ｒｏａ・Ｗａ）
Ｎｂ＝Ｒunit／（Ｒｏｂ・ＣＷｂ）
Ｎｃ＝Ｒunit／（Ｒｏｃ・ＣＷｃ）
Ｎｄ＝Ｒunit／（Ｒｏｄ・ＣＷｄ）

個別設定部９８ａ〜９８ｄは、設定した動作数Ｎａ〜Ｎｄに応じた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを出力する。従って、コード設定部９２は、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄのトランジスタＭｇ、Ｍｈの抵抗値Ｒｔ、及び抵抗素子３６ａ〜３６ｄの抵抗値Ｒａ〜Ｒｂが変動した場合でも、タップａ〜ｄの間で適切な重み付けを行うことができる。また、コード設定部９２は、一つのタップを基準として、基準としたタップ以外の全てのタップの重みＷを設定するので、抵抗値の変化に起因する重みの誤差を高精度で抑制することができる。

調整制御部９０が設けられる送信回路１０は、コード設定部９２から出力する調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄに基づい動作数Ｎａ〜Ｎｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄが操作する。従って、調整制御部９０が設けられる送信回路１０は、製造プロセスの変動、温度の変動、及び電圧の変動が生じた場合でも、デエンファシスの効果が損なわれることがない。

なお、第２の実施形態では、タップａを基準としてタップｂ〜ｄの各々の相対的な重みＣＷｂ〜ＣＷｄを算出したが、較正対象を少なくとも２つ以上のタップに設定するものであれば良い。例えば、較正対象とするタップは、重みＷｂ、Ｗｃ、Ｗｄのうちから数値が大きく、合成抵抗値Ｒｏが小さく設定された２つのタップとしても良い。

〔第３の実施形態〕
次に開示の技術に係る第３の実施形態を説明する。なお、第３の実施形態の基本的構成は、第１の実施形態と同じであり、第３の実施形態において第１の実施形態と同様の機能部品については、同一の符号を付与してその説明を省略する。また、第３の実施形態では、一例として、タップａを基準としてタップｃに対する重みＣＷｃの設定を行う。

図１３には、第３の実施形態に係るコード設定部１１２を示している。コード設定部１１２は、第１の実施形態に係るコード設定部５２に替えて用いる。コード設定部１１２は、第３の実施形態において設定部の一例として機能する。コード設定部１１２は、重み設定部１１４を備える。重み設定部１１４は、第１の実施形態に係る重み設定７０に替えて用いる。

重み設定部１１４は、変位検出部１１６及び重み算出部１１８を含む。変位検出部１１６は、第３の実施形態において個別検出部の一例として機能する。変位検出部１１６は、基準とするタップａのユニット３２ａに対応するトランジスタＭｇ、及び抵抗素子３６ａを備えるレプリカ回路１１６ａを含む。また、変位検出部１１６は、較正対象のタップｃのユニット３２ｃに対応するトランジスタＭｈ抵抗素子３６ｃを備えるレプリカ回路１１６ｃを含む。レプリカ回路１１６ａ、１１６ｃは、第３の実施形態において個別検出部に用いる複製回路の一例として機能する。

変位検出部１１６は、抵抗素子３６ａ、３６ｃが直列接続され、抵抗素子３６ａ、３６ｃを介してトランジスタＭｇのドレインＤとトランジスタＭｈのドレインＤとが接続されている。変位検出部１１６は、レプリカ回路１１６ａのトランジスタＭｇのゲートＧを接地させ、レプリカ回路１１６ｃのトランジスタＭｈのゲートＧに電圧Ｖｄｄを印加している。これにより、変位検出部１１６は、レプリカ回路１１６ａのトランジスタＭｇ、及びレプリカ回路１１６ｃのトランジスタＭｈがオン駆動している。

変位検出部１１６は、トランジスタＭｇ、Ｍｈがオン駆動していることで、レプリカ回路１１６ａの抵抗素子３６ａとレプリカ回路１１６ｃの抵抗素子３６ｃとの接続点のノード１２０から電圧Ｖｖを出力する。電圧Ｖｖは、ドライバユニット３２ａの抵抗値Ｒｘａに対応する抵抗値とドライバユニット３２ｃの抵抗値Ｒｘｃに対応する抵抗値との比に応じた電圧となっている。また、変位検出部１１６は、ドライバユニット３２ａの出力抵抗値とドライバユニット３２ｃの出力抵抗値との相対値、及び電圧Ｖｄｄの少なくとも一方が変化すると電圧Ｖｖが変化する。

重み算出部１１８は、電圧Ｖｖに基づいてタップａの重みＷａに対するタップｃの重みＣＷｃを算出する。重み算出部１１８は、例えば、以下の一般的な演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。
ＣＷｃ＝Ｗａ・（Ｖｄｄ‐Ｖｖ）／Ｖｖ

ユニット設定部８６は、タップｃの重みＣＷｃを用いて抵抗値Ｒunitを設定する。個別設定部８８ａ〜８８ｄは、抵抗値Ｒunit、及び重みＷａ、Ｗｂ、ＣＷｃ、Ｗｄを用いて動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。また、個別設定部８８ａ〜８８ｄは、設定した動作数Ｎａ〜Ｎｄに基づいた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを出力する。

ドライバ回路３０ａ〜３０ｄは、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄによりドライバユニット３２ａ〜３２ｄの各々の動作／停止が切り替えられ、動作数Ｎａ〜Ｎｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄが動作する。送信回路１０は、動作数Ｎａ〜Ｎｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄが動作することにより、製造プロセス、温度、及び電圧に変動が生じても、終端抵抗値Ｚoutの変動を抑え、かつ回路特性の変化が抑えられる。コード設定部１１２は、較正対象のタップの重みＷ（例えばタップｃの重みＣＷｃ）を算出する際に抵抗素子７８が不要となるなどの部品数の削減が図られる。

〔第４の実施形態〕
次に開示の技術に係る第４の実施形態を説明する。第４の実施形態の基本的構成は、第２の実施形態と同じであり、第４の実施形態において第２の実施形態と同様の機能部品については、第２の実施形態と同一の符号を付与して説明を省略する。

図１４には、第４の実施形態に係る調整制御部１２２を示す。調整制御部１２２は、第２の実施形態に係る調整制御部９０に替えて用いる。調整制御部１２２は、基礎設定部４８、バッファ部５０及びコード設定部１２４を含み、コード設定部１２４は、重み設定部９４、及びユニット設定部９６を含む。コード設定部１２４は、第４の実施形態において設定部の一例として機能する。

コード設定部１２４は、個別設定部１２６ａ、１２６ｂ、１２６ｃ、１２６ｄ、及び重み入力部１２８を含む。個別設定部１２６ａ〜１２６ｄは、第２の実施形態に係る個別設定部９８ａ〜９８ｄに替えて用いる。個別設定部１２６ａ〜１２６ｄは、第４の実施形態において個別設定部の一例として機能する。

例えば、信号伝送装置１２において伝送線路１６が替わった場合、伝送線路１６は、特性インピーダンスＺｏが変わらなくても、高周波信号の損失等の特性が変化する。ＦＦＥ機能を備える送信回路１０は、伝送線路１６の高周波信号の損失等の特性の変化に応じてタップ毎のデエンファシスの強度（減衰度）等を変えることが好ましい。ＦＦＥ機能を用いてデエンファシスを行う送信回路１０は、信号変換部２０におけるタップａ〜ｄに対する遅延時間の設定、及び極性反転の有無の設定が変わらなくとも、タップａ〜ｄの間の重みを相対的に変えることでデエンファシスの強度が変わる。従って、送信回路１０は、タップａ〜ｄの重み又は重みの相対値を変化させることで、デエンファシスの強度等の効果を細かく調整することができる。

調整制御部１２２は、重み受付部１２８を備える。重み受付部１２８は、基準とするタップａ以外のタップｂ〜ｄに対する重みＷｉｂ、Ｗｉｃ、Ｗｉｄの入力を受け付ける。また、個別設定部１２６ａ〜１２６ｄは、重み受付部１２８が、重みＷｉｂ〜Ｗｉｄを受け付けた場合、動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する際に、予め設定された重みＷｂ〜Ｗｄに替えて、重み受付部１２８が受け付けた重みＷｉｂ、Ｗｉｃ、Ｗｉｄを用いる。重み受付部１２８は、予め設定された重みＷａ〜Ｗｂを格納している。新たな重みＷｉｂ〜Ｗｉｄが入力されていない場合、個別設定部１２６ａ〜１２６ｄは、動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する際に、重み受付部１２８が格納している予め設定された重みＷａ〜Ｗｄを用いる。なお、重み受付部１２８は、基準とするタップａ以外のタップｂ〜ｄの何れか少なくとも一つのタップに対応する重みＷｉを受け付けるものであっても良い。この場合、動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定には、重みＷｉを受け付けたタップ以外のタップについて、予め設定された重みＷが用いられる。

重み受付部１２８は、例えば、記憶素子、又は記憶機能を含むロジック回路を用いることができる。重み受付部１２８は、記憶素子等に重みＷｉｂ、Ｗｉｃ、Ｗｉｄが書き込まれることで重みＷｉｂ〜Ｗｉｄを受け付ける。重み受付部１２８に記憶素子を用いる場合、記憶素子は、不揮発性であることが好ましく、これにより、受け付けた重みＷｉｂ、Ｗｉｃ、Ｗｉｄが消失するのを防止できる。

また、重み受付部１２８は、記憶素子に限らず、基準とするタップａを除く個別設定部１２６ｂ〜１２６ｄの各々に、重みＷｉｂ、Ｗｉｃ、Ｗｉｄを入力し得る機能を含むものであれば良い。また、重み受付部１２８は、半導体集積回路１８の外部から、個別設定部１２６ｂ〜１２６ｄに、新たな重みＷｉｂ、Ｗｉｃ、Ｗｉｄを入力し得るものであっても良い。

調整制御部１２２に用いる個別設定部１２６ａ〜１２６ｄは、ドライバユニット３２ａ〜３２ｄに対する動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する際、例えば、以下の演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。以下の、演算式は、前記（１）式〜（６）式を用いることで得られる。なお、以下に示す演算式では、重みＷｉｂ〜Ｗｉｄが入力されない場合、重みＷｉｂ〜Ｗｉｄが重みＷｂ〜Ｗｄに置き換えられる。
Ｎａ＝Ｒunit／（Ｚｏ・Ｗａ・（Ｗａ＋Ｗｉｂ＋Ｗｉｃ＋Ｗｉｄ））
Ｎｂ＝Ｒunit／（Ｚｏ・ＣＷｂ・（Ｗａ＋Ｗｉｂ＋Ｗｉｃ＋Ｗｉｄ））
Ｎｃ＝Ｒunit／（Ｚｏ・ＣＷｃ・（Ｗａ＋Ｗｉｂ＋Ｗｉｃ＋Ｗｉｄ））
Ｎｄ＝Ｒunit／（Ｚｏ・ＣＷｄ・（Ｗａ＋Ｗｉｂ＋Ｗｉｃ＋Ｗｉｄ））

調整制御部１２２は、動作数Ｎａ〜Ｎｄを、基礎設定部４８で設定した基礎動作数ＳＮ、重み設定部９４で設定した重みＣＷｂ、ＣＷｃ、ＣＷｄ、及び重み受付部１２８に入力された重みＷｉｂ、Ｗｉｃ、Ｗｉｄに基づいて設定する。

従って、調整制御部１２２が設けられた送信回路１０は、伝送線路１６が替わった場合でも、終端抵抗値Ｚoutを伝送線路１６の特性インピーダンスＺｏに整合させながら、所望のデエンファシスの強度が得られる伝送信号Ｓｏを出力する。また、調整制御部１２２は、タップａ〜タップｄの遅延時間及び極性反転の有無の設定を変えることなく、デエンファシスの強度等を調整することができる。

なお、第４の実施形態では、一例として第２の実施形態に係る調整制御部９０における個別設定部９８ａ〜９８ｄに替えて個別設定部１２６ａ〜１２６ｄ及び重み受付部１２８を用いているが、これに限るものではない。個別設定部１２６ａ〜１２６ｄ及び重み入力部１２８は、例えば、第１の実施形態、又は第３の実施形態に係る個別設定部８８ａ〜８８ｄに替えて用いられても良い。

〔第５の実施形態〕
次に開示の技術における第５の実施形態を説明する。第５の実施形態の基本的構成は、第１の実施形態と同じであり、第５の実施形態において第１の実施形態と同様の機能部品については、第１の実施形態と同一の符号を付与して説明を省略する。

図１５には、第５の実施形態に係る送信回路１３０を示す。送信回路１３０は、調整制御部１３２を備える。調整制御部１３２は、第１の実施形態の調整制御部４６に替えて用いる。調整制御部１３２は、コード設定部１３４及びバッファ部１３６を含む。

図１６には、コード設定部１３４の一例を示す。コード設定部１３４は、検出部１３８、ユニット算出部１４０、及び個別設定部１４２ａ、１４２ｂ、１４２ｃ、１４２ｄを備える。検出部１３８は、第５の実施形態において電圧検出部の一例として機能する。レプリカ回路６０ａ〜６０ｄは、第５の実施形態において電圧検出部に用いられる複製回路の一例として機能する。また、ユニット算出部１４０及び個別設定部１４２ａ〜１４２ｄは、第５の実施形態において電圧検出部が検出する複製回路の出力電圧に基づいて動作数を設定する設定部の一例として機能する。

検出部１３８は、レプリカユニット６０ａ〜６０ｄを用いたレプリカ回路６２、抵抗素子６４、及び較正用の基準抵抗素子６８を含む。また、検出部１３８は、スイッチ素子１４４（１４４ａ〜１４４ｄ）、及びスイッチ素子１４６（１４６ａ〜１４６ｄ）を含む。検出部１３８は、スイッチ素子１４４ａ〜１４４ｄを含む点で第１の実施形態に係る基礎検出部５４と相違する。

スイッチ素子１４４ａ〜１４４ｄは、レプリカ回路６２と基準抵抗素子６８との間に設けられる。スイッチ素子１４４ａは、レプリカユニット６０ａに対応し、スイッチ素子１４４ｂは、レプリカユニット６０ｂに対応し、スイッチ素子１４４ｃは、レプリカユニット６０ｃに対応し、スイッチ素子１４４ｄは、レプリカユニット６０ｄに対応する。また、スイッチ素子１４６ａ〜１４６ｄは、ユニット算出部１４０と個別設定部１４２ａ〜１４２ｄとを接続する。スイッチ素子１４６ａは、個別設定部１４２ａに対応し、スイッチ素子１４６ｂは、個別設定部１４２ｂに対応し、スイッチ素子１４６ｃは、個別設定部１４２ｃに対応し、スイッチ素子１４６ｄは、個別設定部１４２ｄに対応する。

コード設定部１３４では、スイッチ素子１４４ａ〜１４４ｄが一つずつ閉じられる。検出部１３８は、スイッチ素子１４４ａの接点が閉じられると、レプリカユニット６０ａと基準抵抗素子６８とが接続され、レプリカユニット６０ａ内のトランジスタＭｈ及び抵抗素子３６ａ（図２参照）の抵抗値に応じた電圧Ｖｍａを出力する。同様に、検出部１３８は、スイッチ素子１４４ｂの接点が閉じられることで、ドライバユニット３２ｂの抵抗値Ｒｘｂに対応する抵抗値に応じた電圧Ｖｍｂを出力する。検出部１３８は、スイッチ素子１４４ｃの接点が閉じられることで、ドライバユニット３２ｃの抵抗値Ｒｘｃに対応する抵抗値に応じた電圧Ｖｍｃを出力する。また、検出部１３８は、スイッチ素子１４４ｄの接点が閉じられることで、ドライバユニット３２ｄの抵抗値Ｒｘｄに対応する抵抗値に応じた電圧Ｖｍｂを出力する。

ユニット算出部１４０には、スイッチ素子１４４ａ〜１４４ｄが一つずつ閉じられることで電圧Ｖｍａ〜Ｖｍｄが個別に入力される。ユニット算出部１４０は、電圧Ｖｍａ〜Ｖｍｄ、及び較正用の基準抵抗素子６８の抵抗値Ｒcalに基づき、ドライバユニット３２ａ〜３０ｄの抵抗値Ｒｘａ〜Ｒｘｄに対応する実際の抵抗値Ｒｘａｍ〜Ｒｘｄｍを算出する。

ユニット算出部１４０は、例えば、以下の演算式を実行するロジック回路を用いて形成することができる。（但し、Ｒｘｍ＝Ｒｘａｍ〜Ｒｘｄｍ、Ｖcal＝Ｖｍａ〜Ｖｍｄとする。）
Ｒｘｍ＝（Ｖcal・Ｒcal）／（Ｖｄｄ‐Ｖcal）

コード設定部１３４は、スイッチ素子１４４ａ〜１４４ｄとスイッチ素子１４６ａ〜１４６ｄとが同期して動作させる。コード設定部１３４は、スイッチ素子１４４ａとスイッチ素子１４６ａとを同期させて閉じ、スイッチ素子１４４ｂとスイッチ素子１４６ｂとを同期させて閉じる。また、コード設定部１３４は、スイッチ素子１４４ｃとスイッチ素子１４６ｃとを同期させて閉じ、スイッチ素子１４４ｄとスイッチ素子１４６ｄとを同期させて閉じる。

従って、個別設定部１４２ａには、スイッチ素子１４４ａ、１４６ａが閉じられることにより、ドライバユニット３２ａに対応する抵抗値Ｒｘａｍが入力され、個別設定部１４２ｂには、ドライバユニット３２ｂに対応する抵抗値Ｒｘｂｍが入力される。また、個別設定部１４２ｃには、ドライバユニット３２ｃに対応する抵抗値Ｒｘｃｍが入力され、個別設定部１４２ｄには、ドライバユニット３２ｄに対応する抵抗値Ｒｘｄｍが入力される。

個別設定部１４２ａ〜１４２ｄは、抵抗値Ｒｘａｍ〜Ｒｘｄｍ、及びドライバ回路３０ａ〜３０ｄに設定されている合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄを用いて、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに対するドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。

合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄは、重みＷを考慮してドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々に設定されている。重みＷａ〜Ｗｄに応じたドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄを得るために必要なドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄは、合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄ、及び電圧Ｖｍａ〜Ｖｍｄに基づいた抵抗値Ｒｘｍａ〜Ｒｘｍｄから得られる。

ここから、個別設定部１４２ａ〜１４２ｄは、前記（１）式〜（６）式に基づき、例えば、以下に示す演算式を実行するロジック回路によって形成することができる。
Ｎａ＝Ｒｘａｍ／Ｒｏａ
Ｎｂ＝Ｒｘｂｍ／Ｒｏｂ
Ｎｃ＝Ｒｘｃｍ／Ｒｏｃ
Ｎｄ＝Ｒｘｄｍ／Ｒｏｄ

図１５に示すうように、バッファ部１３６は、ドライバ回路３０ａに対応するレジスタバッファ回路１３６ａ、及びドライバ回路３０ｂに対応するレジスタバッファ回路１３６ｂを含む。また、バッファ部１３６は、ドライバ回路３０ｃに対応するレジスタバッファ回路１３６ｃ、及びドライバ回路３０ｄに対応するレジスタバッファ回路１３６ｄを含む。

レジスタバッファ回路１３６ａ〜１３６ｄは、調整制御部１３２から出力する調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを格納して保持する。また、レジスタバッファ回路１３６ａ〜１３６ｄは、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを対応するドライバ回路３０ａ〜３０ｄへ出力する。送信回路１３０は、調整制御部１３２が出力する調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄに基づき、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々においてドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄが制御される。

従って、送信回路１３０は、製造プロセスの変動、温度の変動、及び電圧の変動等に基因してドライバユニット３２に設けている素子の抵抗値が変化しても、終端抵抗値Ｚoutが伝送線路１６の特性インピーダンスＺｏに整合される。

〔第６の実施形態〕
次に開示の技術における第６の実施形態を説明する。第６の実施形態の基本的構成は、第１の実施形態と同じであり、第６の実施形態において第１の実施形態と同様の機能部品については、第１の実施形態と同一の符号を付与して説明を省略する。

図１７には、第６の実施形態に係る調整制御部１５０を示している。調整制御部１５０は、第１の実施形態に係る送信回路１０における調整制御部４６に替えて用いる。

調整制御部１５０は、基礎設定部４８、バッファ部５０、及びコード設定部５２を含む。基礎設定部４８は、基礎動作数ＳＮを設定し、バッファ部５０は、基礎動作数ＳＮを保持する。また、バッファ部５０は、保持した基礎動作数ＳＮをコード設定部５２へ出力する。

コード設定部５２は、重み設定部７０、ユニット設定部８６、及び個別設定部８８ａ〜８８ｄを備える。コード設定部５２は、例えば、タップａの重みＷａを基準として較正対象のタップｃの重みＣＷｃを設定し、基礎動作数ＳＮ、及びタップａ〜ｄの重みＷａ、Ｗｂ、ＣＷｃ、Ｗｄに基づいて抵抗値Ｒunitを設定する。また、コード設定部５２は、個別設定部８８ａ〜８８ｄが、抵抗値Ｒunit、重みＷａ、Ｗｂ、ＣＷｃ、Ｗｄ、及び合成抵抗値Ｒｏａ、Ｒｏｂ、Ｒｏｃ、Ｒｏｄに基づいて動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定する。

一方、調整制御部１５０は、動作制御部１５２を含む。動作制御部１５２は、コード設定部５２の動作を制御する。動作制御部１５２は、所定ビットのカウンタ部１５４、フラグ制御部１５６、及び２つのＡＮＤ回路１５８、１６０を含む。 ＡＮＤ回路１５８は、ユニット設定部８６に対応して設けられ、ＡＮＤ回路１６０は、個別設定部８８ａ〜８８ｄに対応して設けられている。カウンタ部１５４、フラグ制御部１５６、及びＡＮＤ回路１５８は、第６の実施形態において第１の時間計測部の一例として機能する。カウンタ部１５４、フラグ制御部１５６、及びＡＮＤ回路１６０は、第６の実施形態において第２の時間計測部の一例として機能する。

動作制御部１５２のカウンタ部１５４は、クロック信号ＣＬＫが入力されることで、入力されたクロック信号ＣＬＫに基づいてフラグ制御部１５６へ動作信号を出力する。フラグ制御部１５６は、動作信号が入力されることで入力された動作信号に応じてフラグ信号Ｆｒ、Ｆｓを出力する。

ＡＮＤ回路１５８は、入力端子にクロック信号ＣＬＫ、及びフラグ制御部１５６が出力するフラグ信号Ｆｒが入力される。また、ＡＮＤ回路１５８は、出力端子がユニット設定部８６に接続され、フラグ信号ＦｒがＨレベル（オン）なることで、クロック信号ＣＬＫをユニット設定部８６へ出力する。ユニット設定部８６は、クロック信号ＣＬＫが入力されることで、クロック信号ＣＬＫに同期して動作し、抵抗値Ｒunitの設定を開始する。

ＡＮＤ回路１６０は、入力端子にクロック信号ＣＬＫ、及びフラグ制御部１５６が出力するフラグ信号Ｆｓが入力される。また、ＡＮＤ回路１６０は、出力端子が個別設定部８８ａ〜８８ｄの各々に接続され、フラグ信号ＦｓがＨレベル（オン）となることで、クロック信号ＣＬＫを個別設定部８８ａ〜８８ｄの各々へ出力する。個別設定部８８ａ〜８８ｄは、クロック信号ＣＬＫが入力されることで、クロック信号ＣＬＫに同期して動作し、動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定を開始する。

動作制御部１５２は、カウンタ部１５４及びフラグ制御部１５６が、コード設定部５２を動作させるタイマーとして機能する。例えば、カウンタ部１５４は、クロック信号ＣＬＫをカウントし、カウント値が所定値に達する毎に所定の動作信号（例えば、１クロック分のパルス）をフラグ制御部１５６へ出力する。

フラグ制御部１５６は、例えば、動作信号をカウントし、カウント値から予め設定された時間が経過した否かを判定する。この際、フラグ制御部１５６は、最初に動作信号が入力されてから所定の時間Ｔｒが経過するとフラグ信号Ｆｒをオンする。また、フラグ制御部１５６は、フラグ信号Ｆｒがオンしてから所定の時間Ｔｓが経過するとフラグ信号Ｆｓをオンする。

フラグ制御部１５６は、時間Ｔｒとして、半導体集積回路１８に電力が供給されて調整制御部１５０が動作を開始してから、基礎動作数ＳＮの設定及び較正対象のタップに対する重みの算出が終了するまでの時間が設定されている。また、フラグ制御部１５６は、時間Ｔｓとして、フラグ信号Ｆｒがオンしてからユニット設定部８６で抵抗値Ｒunitの設定が終了するまでの時間が設定されている。カウンタ部１５４及びフラグ制御部１５６は、一般的論理素子を用いて形成される。

ここで、図１８を参照しながら、動作制御部１５２に制御されて動作するコード設定部５２を含む調整制御部１５０における処理の流れを説明する。調整制御部１５０は、例えば、半導体集積回路１８に電力の供給が開始され、クロック信号ＣＬＫが入力されることで動作を開始する。調整制御部１５０は、最初に基礎設定部４８が動作し、基礎動作数ＳＮの設定処理を開始する（ステップ２００）。また、調整制御部１５０は、重み設定部７０が動作し、較正対象のタップの重みＷ（ＣＷｃ）の算出処理を開始する（ステップ２０２）。さらに、動作制御部１５２は、カウンタ部１５４がクロック信号ＣＬＫのカウントを開始し、所定の時間間隔でフラグ制御部１５６へ動作信号を出力する。

フラグ制御部１５６は、最初に動作信号が入力されてから所定の時間Ｔｒが経過すると、フラグ信号Ｆｒを出力（オン）する。フラグ信号Ｆｒは、基礎設定部４８及び重み設定部７０が動作を開始してから時間Ｔｒが経過した後にオンする。従って、フラグ信号Ｆｒは、基礎動作数ＳＮの設定、及び重みＣＷｃの算出が終了した後にオンされる。

フラグ信号Ｆｒがオンされると、ＡＮＤ回路１５８は、ユニット設定部８６へクロック信号ＣＬＫを出力する（ステップ２０４で肯定判定）。ユニット設定部８６は、クロック信号ＣＬＫが入力されることで、クロック信号ＣＬＫに同期して抵抗値Ｒunitの設定を開始する（ステップ２０６）。

また、フラグ制御部１５６は、フラグ信号Ｆｒをオンした後、所定の時間Ｔｒが経過すると、フラグ信号ＦｓをＡＮＤ回路１６０に出力（フラグＦｓをオン）する。フラグ信号Ｆｓは、フラグ信号Ｆｒがオンしてから時間Ｔｓが経過すると出力されるように設定されている。従って、フラグ信号Ｆｓは、抵抗値Ｒunitの設定が終了した後にオンされる。

フラグ信号Ｆｓがオンされると、ＡＮＤ回路１６０は、個別設定部８８ａ〜８８ｄの各々にクロック信号ＣＬＫを出力する（ステップ２０８で肯定判定）。個別設定部８８ａ〜８８ｄは、クロック信号ＣＬＫが入力されると、クロック信号ＣＬＫに同期して動作し、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄに対するドライバユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定を開始する（ステップ２１０）。

この後、調整制御部１５０は、個別設定部８８ａ〜８８ｄの各々において動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定が終了すると、設定した動作数Ｎａ〜Ｎｄに応じた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄをドライバ回路３０ａ〜３０ｄの各々へ出力する。従って、調整制御部１５０は、動作制御部１５２を備えることで、半導体集積回路１８が電源に接続され電力の供給が開始される毎に、動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定を円滑に行うことができる。

なお、第６の実施形態では、半導体集積回路１８に電力の供給が開始されることで、調整制御部１５０と動作制御部１５２とが動作を開始するようにしたが、調整制御部１５０及び動作制御部１５０の動作開始は、これに限るものではない。例えば、調整制御部１５０と動作制御部１５２とをリセットするリセット機構を設け、リセット機構によりリセットされる毎に、調整制御部１５０及び動作制御部１５２が動作を開始するものであっても良い。これにより、送信回路１０は、動作数Ｎａ〜Ｎｄが任意のタイミングでリセットされ、その時点での電圧及び温度に応じた適切なユニット３２ａ〜３２ｄの動作数Ｎａ〜Ｎｄが設定される。

〔第７の実施形態〕
次に開示の技術に係る第７の実施形態を説明する。第７の実施形態の基本的構成は、第１の実施形態と同じであり、第７の実施形態において第１の実施形態と同様の機能部品については、第１の実施形態と同一の符号を付与して説明を省略する。

第１の実施形態では、ロジック回路を用いて各種の演算等を実行するようにしているが、第７の実施形態では、ロジック回路に替え、プログラムを実行する。第７の実施形態では、プログラムを実行することで、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄに対する動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定を行う。

図１９には、第７の実施形態に係る調整制御部１６２を示す。調整制御部１６２は、第７の実施形態において第１の実施形態に係る調整制御部４６に替えて用いる。調整制御部１６２は、コンピュータ１６４を備える。コンピュータ１６４は、ＣＰＵ１６６、メモリ１６８、及び不揮発性の記憶部１７０等を備え、これらがバス１７２に接続されている。

また、調整制御部１６２は、基礎電圧検出部５４、基準検出部７４、及び対象検出部７６を備える。基礎電圧検出部５４、基準検出部７４、及び対象検出部７６の各々は、例えばＡ−Ｄ変換器（ＡＤＣ）１７４、１７６、１７８を介してバス１７２に接続されている。これにより、コンピュータ１６４には、基礎電圧検出部５４で検出される電圧Ｖｍ、基準検出部７４で検出される電圧Ｖｍｓ、及び対象検出部７６で検出される電圧Ｖｍｏが入力される。

コンピュータ１６４の記憶部１７０には、コンピュータ１６４を基礎設定部４８として動作させるための基礎設定プログラム１８０が記憶される。基礎設定プログラム１８０は、コンピュータ１６４を単位抵抗算出部５６として動作させるための単位抵抗算出プロセス１８２、及び基礎数設定部５８として動作させるための基礎数設定プロセス１８４を含む。

また、記憶部１７０には、コンピュータ１６４を、重み設定部７０として動作させるための重み設定プログラム１８６が記憶される。重み設定プログラム１８６には、コンピュータ１６４を重み算出部８４として機能させるための重み算出プロセス１８８が含まれる。

また、記憶部１７０には、コンピュータ１６４を動作数設定部７２として動作させるための動作数設定プログラム１９０が記憶される。動作数設定プログラム１９０には、コンピュータ１６４をユニット設定部８６として動作させるためのユニット設定プロセス１９２が含まれる。また、動作数設定プログラム１９０には、コンピュータ１６４を個別設定部８８ａ、８８ｂ、８８ｃ、８８ｄとして動作させるための個別設定プロセス１９４ａ、１９４ｂ、１９４ｃ、１９４ｄが記憶される。

また、コンピュータ１６４により調整制御部１６２が実現される場合、記憶部１７０には、タップａ〜ｄの各々ついて設定された重みＷａ、Ｗｂ、Ｗｃ、Ｗｄ、及びドライバ回路３０ａ〜３０ｄの合成抵抗値Ｒｏａ〜Ｒｏｄ等の情報が記憶される。

ＣＰＵ１６６は、記憶部１７０から基礎設定プログラム１８０を読出してメモリ１６８に展開し、基礎設定プログラム１８０が有する単位抵抗算出プロセス１８２、及び基礎数設定プロセス１８４等のプロセスを順に実行する。また、ＣＰＵ１６６は、記憶部１７０から重み設定プログラム１８６を読出してメモリ１６８に展開し、重み設定プログラム１８６が有する重み算出プロセス１８８等のプロセスを順に実行する。

さらに、ＣＰＵ１６６は、記憶部１７０から動作数設定プログラム１９０を読出してメモリ１６８に展開し、動作数設定プログラムが有するユニット設定プロセス１９２、及び個別設定プロセス１９４ａ、１９４ｂ、１９４ｃ、１９４ｄ等のプロセスを順に実行する。

次に、図２０を参照しながら、調整制御部１６２で実行される処理の流れを説明する。なお、図２０において図１８と対応する処理には、図１８と同一のステップ番号を括弧書きで併記する。

調整制御部１６２のコンピュータ１６４は、半導体集積回路１８に電源が供給されると動作を開始する。また、調整制御部１６２は、半導体集積回路１８に電源が供給されると基礎電圧検出部５４、基準検出部７４、及び対象検出部７６が動作を開始する。

図２０のフローチャートの最初のステップ２２０において、コンピュータ１６４は、基礎電圧検出部５４から出力される電圧Ｖｍを読み込み、ステップ２２２において、電圧Ｖｍに基づいて１スライス分の抵抗値Ｒsliceを算出する。また、コンピュータ１６４は、ステップ２２４において、抵抗値Ｒslice及び目標とする終端抵抗値Ｚoutに基づいて基礎動作数ＳＮを設定する。

ステップ２２６では、基準検出部７４から出力される電圧Ｖｍｓ、及び対象検出部７６から出力される電圧Ｖｍｏを読み込む。ステップ２２８では、読み込んだ電圧Ｖｍｓ、Ｖｍｏ、及び基準とするタップａの重みＷａから、較正対象のタップｃの重みＷｃ（ＣＷｃ）を算出する。なお、ステップ２２０〜２２４とステップ２２６〜２２８とは、並行して実行されるものであって良い。

一方、ステップ２３０では、基礎動作数ＳＮ、及び較正対象のタップｃに対する重みＣＷｃが得られた否かが確認され、肯定判定されるとステップ２３２へ移行する。ステップ２３２では、抵抗値Ｒunitの設定を行う。抵抗値Ｒunitの設定には、基礎動作数ＳＮ、終端抵抗値Ｚoutの目標値（Ｚｏ）、較正対象のタップｃについて算出された重みＣＷｃ、及びタップｃ以外のタップａ、ｂ、ｄの重みＷａ、Ｗｂ、Ｗｄが用いられる。

コンピュータ１６４は、抵抗値Ｒunitの設定が終了すると、ステップ２３２へ移行し、タップａ〜ｄの各々に対応する動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定を行う。また、コンピュータ１６４は、動作数Ｎａ〜Ｎｄの設定を終了すると、ステップ２３４へ移行し、設定した動作数Ｎａ〜Ｎｄに応じた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄをドライバ回路３０ａ〜３０ｄへ出力する。

送信回路１０は、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄの各々に調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄが入力されることで、動作数Ｎａ〜Ｎｄに応じたドライバユニット３２ａ〜３２ｄが動作する。従って、送信回路１０は、製造プロセスの変動のみでなく、温度の変動、及び電圧の変動などによってドライバユニット３２ａ〜３２ｄの抵抗値が変化した場合でも、終端抵抗値Ｚoutが特性インピーダンスＺｏに整合される。また、送信回路１０は、抵抗値の変化に基因する重みの変動が抑えられるので、所望のデエンファシスの強度となる伝送信号Ｓｏを出力する。従って、送信回路１０は、受信回路１４が高精度で入力信号Ｓｉを復調できるようにデータ伝送を行うことができる。

以上説明した第７の実施形態では、コンピュータ１６４を含む調整制御部１６２を、第１の実施形態に係る調整制御部４６に替えて用いたが、コンピュータ１６４は、第２〜第６の実施形態に適用しても良い。例えば、コンピュータ１６４は、第２の実施形態に係る調整制御部９０、第３の実施形態に係るコード設定部１１２を含む調整制御部、及び第４の実施形態に係る調整制御部１２２に用いることができる。また、コンピュータ１６４は、第５の実施形態に係る調整制御部１３２、及び第６の実施形態に係る調整制御部１５０に用いても良い。

送信回路１０は、コンピュータ１６４を含む調整制御部１６２を備えることで、予め設定した任意のタイミングで、ドライバ回路３０ａ〜３０ｄのドライバユニット３２ａ〜３２ｄに対する動作数Ｎａ〜Ｎｄを設定することができる。従って、送信回路１０は、製造プロセスの変動のみでなく、動作中の半導体集積回路１８に温度変動、及び電圧変動等が生じても、伝送線路１６への終端抵抗値Ｚoutの整合、及び適切なデエンファシスの強度の維持を図ることができる。

また、コンピュータ１６４を用いた場合、送信回路１０は、基準とするタップａを除く、他のタップｂ〜ｄに対する重みＷ（Ｗｉｂ〜Ｗｉｄ）を変化させることができる。これにより、送信回路１０は、伝送線路１６の特性の変化に対応し得るのみでなく、デエンファシスの強度を任意に調整することができる。

さらに、コンピュータ１６４は、半導体集積回路１８の外部に設けられ、任意のタイミングで半導体集積回路１８に接続されても良い。この場合、コンピュータ１６４は、半導体集積回路１８に形成した基礎電圧検出部５４、基準検出部７４、及び対象検出部７６に接続し、電圧Ｖｍ、Ｖｍｓ、Ｖｍｏを取得する。また、コンピュータ１６４は、例えば、バッファ回路を介してドライバ回路３０ａ〜３０ｄに接続し、動作数Ｎａ〜Ｎｄに応じた調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを送信回路１０に入力すれば良い。

一方、本実施形態では、ドライバユニット３２の各々に切替回路３８を設け、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄに応じてドライバユニット３２の各々の動作／停止が切替られるようにしたが、ドライバユニット３２の動作／停止の切り替えは、これに限るものではない。図２１（Ａ）、図２１（Ｂ）、及び図２２には、切替回路３８に替えて設ける切替部を示す。なお、図２１（Ａ）、２１（Ｂ）、及び図２２では、調整コードＣｃａ〜Ｃｃｄを、調整コードＣｃとして表記し、調整コードＣｃを反転した信号を調整コードＣｃｘと表記する。

図２１（Ａ）には、ドライバユニット２６０を示す。ドライバユニット２６０は、単位回路２６２を備える。単位回路２６２は、相補的に動作するトランジスタＭｇ、Ｍｈ、及び抵抗素子２６４を備える。また、ドライバユニット２６０は、切替回路２６６を備える。切替回路２６６は、Ｐ型ＭＯＳトランジスタを用いたトランジスタＭｍ、Ｎ型ＭＯＳトランジスタを用いたトランジスタＭｎ、及びインバータ２６８を備える。トランジスタＭｍは、トランジスタＭｇの電源側に設けられ、トランジスタＭｍのドレインＤが、トランジスタＭｇのソースＳに接続され、トランジスタＭｍのソースＳに電圧Ｖｄｄが印加される。また、トランジスタＭｎは、トランジスタＭｈの接地側に設けられ、トランジスタＭｎのドレインＤがトランジスタＭｈのソースＳに接続され、トランジスタＭｎのソースＳが接地されている。切替回路２６６は、トランジスタＭｍのゲートＧ又はトランジスタＭｎのゲートＧにインバータ２６８が接続されている。なお、切替回路２６６では、一例としてトランジスタＭｍのゲートＧにインバータ２６８が接続されている。

切替回路２６６のトランジスタＭｎには、ゲートＧに調整コードＣｃが入力され、トランジスタＭｍには、調整コードＣｃがインバータ２６８により反転されて調整コードＣｃｘとして入力される。従って、切替回路２６０は、ドライバユニット２６０に入力される調整コードＣｃによりトランジスタＭｍ、Ｍｎの各々がオンするか、又はトランジスタＭｍ、Ｍｎの各々がオフする。

ドライバユニット２６０は、切替回路２６０のトランジスタＭｍ、Ｍｎの各々がオンすることにより、単位回路２６２のトランジスタＭｇのソースＳに電圧Ｖｄｄが印加され、トランジスタＭｈのソースＳが接地される。従って、ドライバユニット２６０は、切替回路２６０のトランジスタＭｍ、Ｍｎがオンすることで、トランジスタＭｇ、Ｍｈの各々のゲートＧに信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄが入力され、信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄに応じた電圧の信号を出力する。この際、ドライバユニット２６０は、出力抵抗値が、トランジスタＭｇ、Ｍｍ、及び抵抗素子２６４の合成抵抗値又はトランジスタＭｈ、Ｍｎ、及び抵抗素子２６４の合成抵抗値となる。

また、ドライバユニット２６０は、切替トランジスタＭｍ、Ｍｎの各々がオフすることで、トランジスタＭｇ、Ｍｈの動作が停止される。従って、切替回路２６６は、調整コードＣｃに応じてドライバユニット２６０の動作／停止の切り替えを行うことができる。

図２１（Ｂ）には、ドライバユニット２７０を示す。ドライバユニット２７０は、単位回路２７２を備える。単位回路２７２は、相補的に動作するトランジスタＭｇ、Ｍｈ、及び抵抗素子２７４を備える。また、ドライバユニット２７０は、切替回路２７６を備える。切替回路２７６は、トランスミッションゲート（以下、ＴＧとする）２７８、及びインバータ２８０を備える。

切替回路２７６のＴＧ２７８は、入力側が、トランジスタＭｇとトランジスタＭｈとの間のノード２８２に接続され、出力側が抵抗素子２７４に接続されている。これにより、ドライバユニット２７０は、切替回路２７６のＴＧ２７８がオンすることにより、信号ｓｉａ〜Ｓｉｄに応じた電圧の信号を、抵抗素子２７４を介して出力する。また、ドライバユニット２７０は、ＴＧ２７８がオフすることにより、トランジスタＭｇ、Ｍｈと抵抗素子２７４との間が開放され、信号Ｓｉａ〜が入力されても電圧出力を停止する。

切替回路２７６は、ＴＧ２７８はＰ型ＭＯＳトランジスタのゲート側の制御端子２７８ｐ又はＮ型ＭＯＳトランジスタのゲート側の制御端子２７８ｎの一方にインバータ２８０が接続される。なお、切替回路２７６では、一例として制御端子２７８ｐにインバータ２８０が接続されている。

切替回路２７６は、ＴＧ２７８の制御端子２７８ｎに調整コードＣｃが入力され、ＴＧ２７８の制御端子２７８ｐに、インバータ２８０により反転された調整コードＣｃ（インバータＣｃｘ）を介して入力され、調整コードＣｃによりＴＧ２７８がオン・オフされる。従って、ドライバユニット２７０は、切替回路２７６に入力される調整コードＣｃにより電圧出力／停止が切り替えられる。

図２２には、ドライバユニット２７４を示す。ドライバユニット２８４は、単位回路２８６を備える。単位回路２８６は、相補的に動作するトランジスタＭｇ、Ｍｈ、及び抵抗素子２８８を備える。また、ドライバユニット２８４は、切替回路２９０を備える。切替回路２９０は、Ｐ型ＭＯＳトランジスタを用いたトランジスタＭｒ、Ｎ型ＭＯＳトランジスタを用いたトランジスタＭｓ、２つのトランスミッションゲート（ＴＧ）２９２、２９４、及びインバータ２９６を備える。

切替回路２９０のＴＧ２９２は、単位回路２８６のトランジスタＭｇのゲートＧ側に設けられ、トランジスタＭｇのゲートＧとドライバユニット２８４の信号入力側との間を開閉する。また、ＴＧ２９４は、単位回路２８６のトランジスタＭｈのゲートＧ側に設けられ、トランジスタＭｈのゲートＧとドライバユニット２８４の信号入力側との間を開閉する。

切替回路２９０のトランジスタＭｒは、単位回路２８６のトランジスタＭｇとＴＧ２９２との間に設けられ、ドレインＤがトランジスタＭｇのゲートＧに接続され、ソースＳに電圧Ｖｄｄが印加される。また、トランジスタＭｓは、トランジスタＭｈとＴＧ２９４との間に設けられ、ドレインＤがトランジスタＭｈのゲートＧに接続され、ソースＳが接地されている。

切替回路２９０は、トランジスタＭｒがオンすることにより単位回路２８６のトランジスタＭｇのゲートＧに電圧Ｖｄｄを印加さ、トランジスタＭｓがオンすることにより単位回路２８６のトランジスタＭｈのゲートＧを接地させる。単位回路２８６は、トランジスタＭｇのゲートＧに電圧Ｖｄｄが印加されることにより、トランジスタＭｇが動作を停止し、トランジスタＭｈのゲートＧが接地されることにより、トランジスタＭｈが動作を停止する。

切替回路２９０は、ＴＧ２９２、２９４の各々がオンすることにより、信号Ｓｉａ〜ＳｉｄをトランジスタＭｇのゲートＧ、及びトランジスタＭｈのゲートＧへ入力する。また、切替回路２９０は、ＴＧ２９２、２９４の各々がオフすることにより、単位回路２８６をドライバユニット２８４の信号入力側から切り離す。

切替回路２９０は、一例として、調整コードＣｃが、トランジスタＭｒのゲートＧ、及びＴＧ２９２、２９４の各々のＰ型ＭＯＳトランジスタのゲート側の制御端子２９２ｐ、２９４ｐに入力される。また、切替回路２９０は、調整コードＣｃがインバータ２９６により反転されて、調整コードＣｃｘとされてトランジスタＭｓのゲートＧ、及びＴＧ２９２、２９４の各々のＮ型ＭＯＳトランジスタのゲート側の制御端子２９２ｎ、２９４ｎに入力される。

従って、切替回路２９０は、調整コードＣｃに応じ、トランジスタＭｒ、Ｍｓがオン・オフされ、ＴＧ２９２、２９４が、オフ・オンされる。また、切替回路２９０は、トランジスタＭｒ、Ｍｓの各々がオフする際、ＴＧ２９２、２９４の各々がオンし、トランジスタＭｒ、Ｍｓの各々がオンする際、ＴＧ２９２、２９４の各々がオフする。

ドライバユニット２８４は、切替回路２９０のトランジスタＭｒ、Ｍｓの各々がオフし、ＴＧ２９２、２９４の各々がオンすることにより抵抗素子２８８を介して、信号Ｓｉａ〜Ｓｉｄに応じた電圧の信号を出力する。また、ドライバユニット２８４は、切替回路２９０のトランジスタＭｒ、Ｍｓの各々がオンし、ＴＧ２９２、２９４の各々がオフすることにより、トランジスタＭｇ、Ｍｈの動作が停止される。

従って、ドライバユニット２８４は、切替回路２９０を設けることによって、調整コードＣｃ（Ｃｃａ〜Ｃｃｄ）に応じてトランジスタＭｇ、Ｍｈの動作／停止が切り替えられる。また、ドライバユニット２８４は、トラジス多Ｍｇ、Ｍｈの動作が停止される際に、信号入力側と単位回路２８６との間が開放される。

開示の技術は、上記実施の形態に記載に限らず、各部分が目的とする機能を含む形態であれば良い。また、本明細書に記載された全ての特許出願及び特許出願に開示される技術文献は、個々の文献、特許出願及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に、参照により取り込まれる。

開示の技術は、以下の付記を含む。

（付記１）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように並列接続された複数のドライバ回路と、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出部と、
前記個別検出部で検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出し、少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する設定部と、
を含む信号伝送回路。

（付記２）
前記個別検出部は、前記複製回路として前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応するドライバ回路毎の複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出し、
前記設定部において、前記個別検出部で検出した前記複数のドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記複数のドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の各々の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路の出力抵抗値に対する前記他のドライバ回路の各々の出力抵抗値に基づく比を算出する、
付記１記載の信号伝送回路。

（付記３）
前記個別検出部は、前記複製回路として、前記複数のドライバ回路のうちの２つのドライバ回路の動作単位回路に対応する複製回路を用い、当該複製回路の一方を電源側とし他方を接地側として直列接続した接続点の電圧を前記出力電圧として検出する、
付記１記載の信号伝送回路。

（付記４）
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎検出部と、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続して前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎検出部で検出した電圧に基づいて設定する基礎設定部と、
を含み、前記設定部が、前記基礎動作数、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比、及び前記複数のドライバ回路の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
付記１から付記３の何れかに記載の信号伝送回路。

（付記５）
前記設定部は、前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定部と、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した重み、及び前記複数のドライバ回路の各々の重みに基づいて、前記複数のドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎に動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
を含む付記４記載の信号伝送回路。

（付記６）
前記個別検出部が出力電圧を検出する動作、及び前記基礎検出部が前記出力電圧を検出する動作を開始してから前記基礎動作数の設定が終了するまでの第１の時間が設定され、前記個別検出部及び前記基礎検出部が前記動作を開始してから前記第１の時間が経過することで前記抵抗値設定部の動作を開始させる第１の時間計測部と、
前記抵抗値設定部が動作を開始してから前記単位重み当たりの抵抗値の設定を終了するまでの第２の時間が設定され、前記抵抗値設定部が動作を開始してから前記第２の時間が経過することで、前記個別設定部の各々において前記動作数の設定を開始させる第２の時間計測部と、
を含む付記４記載の信号伝送回路。

（付記７）
前記設定部は、前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定部と、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付ける受付部と、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
を含む付記４記載の信号伝送回路。

（付記８）
前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を基準として前記他のドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
付記１から付記７の何れかに記載の信号伝送回路。

（付記９）
前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
付記１から付記８の何れかに記載の信号伝送回路。

（付記１０）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力された信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように並列接続された複数のドライバ回路と、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、前記複数の複製回路の各々の出力電圧を検出する電圧検出部と、
前記電圧検出部で検出される前記出力電圧、及び前記複数のドライバ回路の各々の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の前記動作単位回路の出力抵抗値を算出し、当該算出した出力抵抗値に基づいて前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する設定部と、
を含む信号伝送回路。

（付記１１）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値の比の逆比を重みとし、当該重み応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように並列接続された複数のドライバ回路と、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎電圧検出部と、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続し前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎電圧検出部で検出した出力電圧に基づいて設定する基礎設定部と、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出部と、
前記個別検出部で検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の重みを算出する抵抗比算出部と、
前記基礎動作数、前記抵抗比算出部で算出した重み、及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された重みに基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定部と、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付ける受付部と、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となり、かつ重みが受け付けられたドライバ回路を除くドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
を含む信号伝送回路。

（付記１２）
前記動作単位回路は、前記入力される信号に応じて相補的に動作する一対の能動素子、及び抵抗素子を含む、付記１から付記１１の何れかに記載の信号伝送回路。

（付記１３）
入力される信号を複数に分岐する分岐部と、
所定の出力抵抗値となるように形成され前記分岐部で分岐されて入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように前記分岐部で分岐された信号の各々に対して設けられて並列接続された複数のドライバ回路と、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出部と、
前記個別検出部で検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出し、少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する設定部と、
を含む半導体集積回路。

（付記１４）
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎検出部と、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続して前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎検出部で検出した電圧に基づいて設定する基礎設定部と、
を含み、前記設定部が、前記基礎動作数、及び前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
付記１３記載の半導体集積回路。

（付記１５）
前記設定部は、前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定部と、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した重み、及び前記複数のドライバ回路の各々の重みに基づいて、前記複数のドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎に動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
を含む付記１４記載の半導体集積回路。

（付記１６）
前記個別検出部が出力電圧を検出する動作、及び前記基礎検出部が前記出力電圧を検出する動作を開始してから前記基礎動作数の設定が終了するまでの第１の時間が設定され、前記個別検出部及び前記基礎検出部が前記動作を開始してから前記第１の時間が経過することで前記抵抗値設定部の動作を開始させる第１の時間計測部と、
前記抵抗値設定部が動作を開始してから前記単位重み当たりの抵抗値の設定を終了するまでの第２の時間が設定され、前記抵抗値設定部が動作を開始してから前記第２の時間が経過することで、前記個別設定部の各々において前記動作数の設定を開始させる第２の時間計測部と、
を含む付記１５記載の半導体集積回路。

（付記１７）
前記設定部は、前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定部と、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付ける受付部と、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
を含む付記１４記載の半導体集積回路。

（付記１８）
前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を基準として前記他のドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
付記１３から付記１７の何れかに記載の半導体集積回路。

（付記１９）
前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
付記１３から付記１８の何れかに記載の半導体集積回路。

（付記２０）
入力される信号を複数に分岐する分岐部と、
所定の出力抵抗値となるように形成され前記分岐部で分岐されて入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力された信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように前記分岐部で分岐された信号の各々に対して設けられて並列接続された複数のドライバ回路と、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、前記複数の複製回路の各々の出力電圧を検出する電圧検出部と、
前記電圧検出部で検出される前記出力電圧、及び前記複数のドライバ回路の各々の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の前記動作単位回路の出力抵抗値を算出し、当該算出した出力抵抗値に基づいて前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する設定部と、
を含む半導体集積回路。

（付記２１）
入力される信号を複数に分岐する分岐部と、
所定の出力抵抗値となるように形成され前記分岐部で分岐されて入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値の比の逆比を重みとし、当該重み応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように前記分岐部で分岐された信号の各々に対して設けられて並列接続された複数のドライバ回路と、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎電圧検出部と、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続し前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎電圧検出部で検出した出力電圧に基づいて設定する基礎設定部と、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出部と、
前記個別検出部で検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の重みを算出する抵抗比算出部と、
前記基礎動作数、前記抵抗比算出部で算出した重み、及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された重みに基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定部と、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付ける受付部と、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となり、かつ重みが受け付けられたドライバ回路を除くドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
を含む半導体集積回路。

（付記２２）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力する複数のドライブ回路を、各々が出力した信号を合成するように並列接続し、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用いる個別検出部により、当該複製回路の各々の出力電圧を検出し、
前記個別検出部により検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出し、
前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する、
ことを含む信号伝送回路の調整方法。

（付記２３）
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用いる基礎検出部により、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出し、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続して前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎検出部により検出した電圧に基づいて設定し、
前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、前記基礎動作数、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
ことを含む付記２２記載の信号伝送回路の調整方法。

（付記２４）
前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、
前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定し、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した重み、及び前記複数のドライバ回路の各々の前記予め設定された出力抵抗値に対する重みに基づいて、前記複数のドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎の動作単位回路の前記動作数を設定する、
ことを含む付記２３記載の信号伝送回路の調整方法。

（付記２５）
前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、
前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定し、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付け、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎の動作単位回路の前記動作数を設定する、
ことを含む付記２３記載の信号伝送回路の調整方法。

（付記２６）
前記個別検出部に、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を含め、
前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を基準として前記他のドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
ことを含む付記２２から付記２５の何れかに記載の信号伝送回路の調整方法。

（付記２７）
前記個別検出部に、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路を含め、
前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
ことを含む付記２２から付記２６の何れかに記載の信号伝送回路の調整方法。

（付記２８）
前記信号伝送回路を形成する半導体集積回路の製造に先立って、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値の変化を検出するシミュレーションを行い、前記シミュレーション結果に基づき、前記個別検出部に用いる複製回路が対応する前記少なくとも２つのドライバ回路を設定する、
ことを含む付記２２から付記２７の何れかに記載の信号伝送回路の調整方法。

（付記２９）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力された信号に応じた電圧の信号を出力する複数のドライバ回路を、出力した信号が合成されるように並列接続し、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の出力抵抗値となる複数の複製回路を用いる電圧検出部により、当該複数の複製回路の各々の出力電圧を検出し、
前記電圧検出部で検出される前記出力電圧、及び前記複数のドライバ回路の各々の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の前記動作単位回路の出力抵抗値を算出し、
前記算出した出力抵抗値に基づいて前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
ことを含む信号伝送回路の調整方法。

（付記３０）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値の比の逆比を重みとし、当該重み応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力する複数のドライバ回路を、出力した信号が合成されるように並列接続し、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用いる基礎電圧検出部により、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出し、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続し前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎電圧検出部で検出した出力電圧に基づいて設定し、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用いる個別検出部により、当該複製回路の各々の出力電圧を検出し、
前記個別検出部で検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の重みを算出し、
前記基礎動作数、前記抵抗比算出部で算出した重み、及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された重みに基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定し、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付け、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となり、かつ重みが受け付けられたドライバ回路を除くドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
ことを含む信号伝送回路の調整方法。

（付記３１）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、各々が出力した信号を合成するように並列接続された複数のドライブ回路を含む信号伝送回路に接続されるコンピュータを、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出ステップと、
前記個別検出ステップにより検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出し、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する設定ステップと、
を含む処理を実行させるための信号伝送回路の調整プログラム。

（付記３２）
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎検出ステップと、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続して前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎検出部により検出した電圧に基づいて設定する基礎設定ステップと、
を含み、前記設定ステップは、前記基礎動作数、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比、及び前記複数のドライバ回路の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
ことを含む処理を実行する付記３１記載の信号伝送回路の調整プログラム。

（付記３３）
前記設定ステップは、
前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定ステップと、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した重み、及び前記複数のドライバ回路の各々の前記予め設定された出力抵抗値に対する重みに基づいて、前記複数のドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎の動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定ステップと、
を含む付記３２記載の信号伝送回路の調整プログラム。

（付記３４）
前記設定ステップは、
前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定ステップと、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付ける受付ステップと、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎の動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定ステップと、
を含む付記３２記載の信号伝送回路の調整プログラム。

（付記３５）
前記個別検出ステップにより検出する前記出力電圧に、前記複数のドライバ回路のうちで前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧を含め、
前記設定ステップは、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を基準として前記他のドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
ことを含む付記３１から付記３４の何れかに記載の信号伝送回路の調整プログラム。

（付記３６）
前記個別検出ステップにより検出する前記出力電圧に、前記複数のドライバ回路のうちで前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧を含め、
前記設定ステップは、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
ことを含む付記３１から付記３５の何れかに記載の信号伝送回路の調整プログラム。

（付記３７）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力された信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように並列接続された複数のドライバ回路を含む信号伝送回路に接続されるコンピュータを、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路の各々の出力電圧を検出する電圧検出ステップと、
前記電圧検出ステップにより検出した前記出力電圧、及び前記複数のドライバ回路の各々の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の前記動作単位回路の出力抵抗値を算出し、前記算出した出力抵抗値に基づいて前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する設定ステップと、
を含む処理を実行させるための信号伝送回路の調整プログラム。

（付記３８）
所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値の比の逆比を重みとし、当該重み応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように並列接続された複数のドライバ回路を含む信号伝送回路に接続されるコンピュータを、
前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎電圧検出ステップと、
前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続し前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎電圧検出ステップにより検出した出力電圧に基づいて設定する基礎設定ステップと、
前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出ステップと、
前記個別検出ステップにより検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の重みを算出する抵抗比算出ステップと、
前記基礎動作数、前記抵抗比算出部で算出した重み、及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された重みに基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定ステップと、
前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路について新に設定する重みを受け付ける受付ステップと、
前記単位重み当たりの抵抗値、前記受付部で受け付けた重み、及び前記出力抵抗値に基づく重みから、重みが受け付けられたドライバ回路の出力抵抗値が受け付けた重みに応じた出力抵抗値となり、かつ重みが受け付けられたドライバ回路を除くドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する設定ステップと、
を含む処理を実行させるための信号伝送回路の調整プログラム。

１０、１３０ 送信回路
１２ 信号伝送装置
１６ 伝送線路
１８ 半導体集積回路
２０ 信号変換部
２２ マルチプレクサ
２４ プリドライバ部
２６ ドライバ部
３０（３０ａ〜３０ｄ） ドライバ回路
３２（３２ａ〜３２ｄ） ドライバユニット
３４（３４ａ〜３４ｄ） 単位回路
４６、９０、１２２、１３２、１５０、１６２ 調整制御部
４８ 基準設定部
５２、９２、１１２、１２４ コード設定部
５４ 基礎検出部
５６ 単位抵抗算出部
５８ 基礎数設定部
６０ａ〜６０ｄ レプリカ回路
６２ レプリカ回路
７０、９４、１１４ 重み設定部
７２ 動作数設定部
７４ 基礎検出部
７６、１００、１０２ 対象検出部
８４、１０８、１１０、１１８ 重み算出部
８６、９６ ユニット設定部
８８ａ〜８８ｄ、９８ａ〜９８ｄ、１２６ａ〜１２６ｄ、１４２ａ〜１４２ｄ コード設定部
１１６ 変位検出部
１２８ 重み入力部
１３４ コード設定部
１３８ 検出部
１４０ ユニット算出部
１４４ａ〜１４４ｄ、１４６ａ〜１４６ｄ スイッチ素子
１５２ 動作制御部
１５４ カウンタ部
１５６ フラグ制御部
１６４ コンピュータ

Claims (15)

1. 所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように並列接続された複数のドライバ回路と、
   前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出部と、
   前記個別検出部で検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出し、少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する設定部と、
   を含む信号伝送回路。
2. 前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎検出部と、
   前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続して前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎検出部で検出した電圧に基づいて設定する基礎設定部と、
   を含み、前記設定部が、前記基礎動作数、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比、及び前記複数のドライバ回路の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
   請求項１記載の信号伝送回路。
3. 前記設定部は、前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値（Ｒunit）を設定する抵抗値設定部と、
   前記単位重み当たりの抵抗値、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した重み、及び前記複数のドライバ回路の各々の重みに基づいて、前記複数のドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎に動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
   を含む請求項２記載の信号伝送回路。
4. 前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を基準として前記他のドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
   請求項１から請求項３の何れか１項記載の信号伝送回路。
5. 前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
   請求項１から請求項４の何れか１項記載の信号伝送回路。
6. 入力される信号を複数に分岐する分岐部と、
   所定の出力抵抗値となるように形成され前記分岐部で分岐されて入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力し、出力した信号が合成されるように前記分岐部で分岐された信号の各々に対して設けられて並列接続された複数のドライバ回路と、
   前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用い、当該複製回路の各々の出力電圧を検出する個別検出部と、
   前記個別検出部で検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出し、少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比、及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する設定部と、
   を含む半導体集積回路。
7. 前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用い、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出する基礎検出部と、
   前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続して前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎検出部で検出した電圧に基づいて設定する基礎設定部と、
   を含み、前記設定部が、前記基礎動作数、及び前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
   請求項６記載の半導体集積回路。
8. 前記設定部は、前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定する抵抗値設定部と、
   前記単位重み当たりの抵抗値、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した重み、及び前記複数のドライバ回路の各々の重みに基づいて、前記複数のドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎に動作単位回路の前記動作数を設定する個別設定部と、
   を含む請求項７記載の半導体集積回路。
9. 前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を基準として前記他のドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
   請求項６から請求項８の何れか１項記載の半導体集積回路。
10. 前記個別検出部は、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路を含み、前記設定部において、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
    請求項６から請求項９の何れか１項記載の半導体集積回路。
11. 所定の出力抵抗値となるように形成され入力される信号に応じた電圧を出力するように動作する複数の動作単位回路を各々が備え、各々に対して予め設定された出力抵抗値に応じて前記動作単位回路の前記出力抵抗値が設定され、前記動作単位回路の動作数が設定されることにより当該動作数の前記動作単位回路が並列接続して動作して前記入力される信号に応じた電圧の信号を出力する複数のドライブ回路を、各々が出力した信号を合成するように並列接続し、
    前記複数のドライバ回路のうちの少なくとも２つのドライバ回路について抵抗値が一つの前記動作単位回路の前記出力抵抗値となる複製回路を用いる個別検出部により、当該複製回路の各々の出力電圧を検出し、
    前記個別検出部により検出した前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの一つのドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧と前記少なくとも２つのドライバ回路のうちの他のドライバ回路に対応する複製回路の出力電圧との電圧比に基づいて、前記一つのドライバ回路に対する前記他のドライバ回路の出力抵抗値に基づく比を算出し、
    前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路に対して前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の動作数を設定する、
    ことを含む信号伝送回路の調整方法。
12. 前記複数のドライバ回路の各々の一つの動作単位回路に対応し、抵抗値が対応する動作単位回路の前記出力抵抗値となる複数の複製回路を用いる基礎検出部により、当該複数の複製回路を並列接続した全複製回路の出力電圧を検出し、
    前記複数のドライバ回路の各々において同数の動作単位回路を並列接続して前記複数のドライバ回路の出力抵抗値の合成した終端抵抗値を所定値とする際の基礎動作数を、前記基礎検出部により検出した電圧に基づいて設定し、
    前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、前記基礎動作数、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した前記出力抵抗値に基づく比及び前記複数のドライバ回路の前記予め設定された出力抵抗値に基づく比から、前記複数のドライバ回路の各々の出力抵抗値が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記複数のドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する、
    ことを含む請求項１１記載の信号伝送回路の調整方法。
13. 前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、前記予め設定された出力抵抗値に基づく比として、前記予め設定された出力抵抗値の比の逆比から得られる重みを用い、前記複数のドライバ回路の各々の重み、及び前記基礎動作数に基づいて、前記終端抵抗値を得るための動作単位回路の単位重み当たりの抵抗値を設定し、
    前記単位重み当たりの抵抗値、前記少なくとも一つのドライバ回路について算出した重み、及び前記複数のドライバ回路の各々の前記予め設定された出力抵抗値に対する重みに基づいて、前記複数のドライバ回路の各々が前記予め設定された出力抵抗値となるように、前記ドライバ回路毎の動作単位回路の前記動作数を設定する、
    ことを含む請求項１２記載の信号伝送回路の調整方法。
14. 前記個別検出部に、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を含め、
    前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、前記予め設定された出力抵抗値が最も大きいドライバ回路を基準として前記他のドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
    ことを含む請求項１１から請求項１３の何れか１項記載の信号伝送回路の調整方法。
15. 前記個別検出部に、前記少なくとも２つのドライバ回路に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路を含め、
    前記ドライバ回路の各々の動作単位回路の前記動作数を設定する際に、前記予め設定された出力抵抗値が最も小さいドライバ回路の出力抵抗値の比を算出する、
    ことを含む請求項１１から請求項１４の何れか１項記載の信号伝送回路の調整方法。

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