JP5967078B2 - 質量分析装置及び質量分析方法 - Google Patents
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Description
a)前記目的化合物由来のイオンに対しイオン選択操作を伴わずにフラグメンテーションを促進するために、前記イオントラップの内部空間に捕捉したイオンをクーリングするためのクーリングガスとして、第1の不活性ガスと、該第1の不活性ガスに比べて脱離作用が相対的に大きな第2の不活性ガスと、を選択的に前記イオントラップに導入するガス選択供給手段と、
b)前記ガス選択供給手段において選択した第1の不活性ガスをクーリングガスとしたクーリングを行うことにより、前記目的化合物由来のイオンについてフラグメンテーション促進操作を行わずに、前記質量分析器により質量分析を実行して第1のマススペクトルを取得する第1分析実行手段と、
c)前記ガス選択供給手段において選択した第2の不活性ガスをクーリングガスとしたクーリングを行うことにより、前記目的化合物由来のイオンについてフラグメンテーション促進操作を行った後に、前記質量分析器により質量分析を実行して第2のマススペクトルを取得する第2分析実行手段と、
d)前記目的化合物由来のイオンに対して取得した前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとを比較することにより、該目的化合物由来のピークの帰属を判断する手段であって、前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとの間で、同一質量電荷比におけるピーク同士の強度の比較、又は、いずれか1つのマススペクトル上で所定の質量電荷比差をもつ複数のピークの強度比の比較、の少なくともいずれかを実行することにより、前記目的化合物から前記修飾物及び/又は官能基が全て脱離した基幹構造物に対応するピークを見出すデータ処理手段と、
を備えることを特徴としている。
a)前記イオントラップの内部空間に捕捉したイオンをクーリングするためのクーリングガスとして第1の不活性ガスを用いることにより、前記目的化合物由来のイオンについてフラグメンテーション促進操作を行わずに、前記質量分析器により質量分析を実行して第1のマススペクトルを取得する第1分析実行ステップと、
b)前記クーリングガスとして前記第1の不活性ガスに比べて脱離作用が相対的に大きな第2の不活性ガスを用いることにより、前記目的化合物由来のイオンに対し、イオン選択操作を伴わずにフラグメンテーションを促進するイオン非選択フラグメンテーション促進操作を行った後に前記質量分析器により質量分析を実行して第2のマススペクトルを取得する第2分析実行ステップと、
c)前記目的化合物由来のイオンに対して取得した前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとを比較することにより、前記目的化合物由来のピークの帰属を判断するステップであって、前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとの間で、同一質量電荷比におけるピーク同士の強度の比較、又は、いずれか1つのマススペクトル上で所定の質量電荷比差をもつ複数のピークの強度比の比較、の少なくともいずれかを実行することにより、前記目的化合物から前記修飾物及び/又は官能基が全て脱離した基幹構造物に対応するピークを見出すデータ処理ステップと、
を有することを特徴としている。
本発明の一実施例であるイオントラップ質量分析装置と該装置により実施される特徴的な質量分析方法について、添付図面を参照して説明する。
続いて、スペクトル比較処理部53は、上記のようなニュートラルロスの解析により抽出されたピーク群に含まれる複数のピークの強度をそれぞれ求める。また、もう一方のマススペクトル上で、上記ピーク群に含まれる各ピークと同じ質量電荷比に現れるピークを抽出して、そのピークの強度もそれぞれ求める。
図8(a)中のピーク(1)は、目的化合物がイオン化して得られるプロトン付加イオンピーク[M+H]+である。ヘリウムによる弱い脱離促進作用によって、一部の糖は分析中に脱離する。図8(a)中の主要イオンピーク群(2)〜(5)は、目的化合物からの糖の脱離により生じたものであり、それぞれ [M+H]+−Sia、[M+H]+−2Sia、[M+H]+−3Sia、及びN-結合型糖ペプチドに特徴的な、糖が全て脱離したペプチドイオン、HexNAc環開裂付加ペプチドイオン、及びHexNAc付加ペプチドイオンで構成されるトリプレットピークである。当然、目的化合物が不明である状況では、これらのピークの帰属は不明である。
次に、本発明には包含されないものの関連する一参考例であるイオントラップ質量分析装置と該装置により実施される特徴的な質量分析方法について、添付図面を参照して説明する。本参考例のイオントラップ質量分析装置は、特に、遊離性の高い糖が付加した糖ペプチド(具体的にはN-結合型糖ペプチド)の構造解析を目的としたものであり、上記実施例とは本発明におけるイオン非選択フラグメンテーション促進手段に相当する手段が相違する。また、本参考例のイオントラップ質量分析装置では、単にマススペクトル上のピークの帰属を決定するのみならず、そのピーク帰属結果を利用してプリカーサイオンを決定し、さらにそのプリカーサイオンについてのMS2分析(擬似MS3分析)を実行して得られたマススペクトルを用いて糖ペプチドを構成するペプチドの同定及び糖鎖構造解析も行っている。
11…レーザ照射部
12…サンプルプレート
13…アパーチャ
14…イオンレンズ
2…イオントラップ
21…リング電極
22…入口側エンドキャップ電極
23…イオン入射口
24…出口側エンドキャップ電極
25…イオン出射口
3…検出部
31…コンバージョンダイノード
32…二次電子増倍管
4…ガス供給部
41…ガス導入管
42…ガス選択バルブ
43…ヘリウム供給源
44…アルゴン供給源
5…データ処理部
51…マススペクトル作成部
52…ニュートラルロス解析部
53…スペクトル比較処理部
54…ピーク帰属決定部
55…プリカーサイオン選択部
56…ペプチド同定部
57…糖鎖構造解析部
6…制御部
61…プレCID実行制御部
7…主電源部
8…補助電源部
Claims (6)
- 分析対象である化合物由来のイオンをイオントラップの内部空間に捕捉し、そのあとに質量分析器である該イオントラップ自体により又は該イオントラップからイオンを吐き出して外部の質量分析器によりイオンを質量電荷比に応じて分離し、分離されたイオンを検出器により検出する質量分析装置であって、修飾物及び/又は官能基が基幹構造物に対し1又は複数結合している化合物を目的化合物として分析するための質量分析装置において、
a)前記目的化合物由来のイオンに対しイオン選択操作を伴わずにフラグメンテーションを促進するために、前記イオントラップの内部空間に捕捉したイオンをクーリングするためのクーリングガスとして、第1の不活性ガスと、該第1の不活性ガスに比べて脱離作用が相対的に大きな第2の不活性ガスと、を選択的に前記イオントラップに導入するガス選択供給手段と、
b)前記ガス選択供給手段において選択した第1の不活性ガスをクーリングガスとしたクーリングを行うことにより、前記目的化合物由来のイオンについてフラグメンテーション促進操作を行わずに、前記質量分析器により質量分析を実行して第1のマススペクトルを取得する第1分析実行手段と、
c)前記ガス選択供給手段において選択した第2の不活性ガスをクーリングガスとしたクーリングを行うことにより、前記目的化合物由来のイオンについてフラグメンテーション促進操作を行った後に、前記質量分析器により質量分析を実行して第2のマススペクトルを取得する第2分析実行手段と、
d)前記目的化合物由来のイオンに対して取得した前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとを比較することにより、該目的化合物由来のピークの帰属を判断する手段であって、前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとの間で、同一質量電荷比におけるピーク同士の強度の比較、又は、いずれか1つのマススペクトル上で所定の質量電荷比差をもつ複数のピークの強度比の比較、の少なくともいずれかを実行することにより、前記目的化合物から前記修飾物及び/又は官能基が全て脱離した基幹構造物に対応するピークを見出すデータ処理手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記修飾物及び/又は官能基はシアル酸、硫酸基、又はリン酸基のいずれかであることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載の質量分析装置であって、
前記第1の不活性ガスはヘリウムであり、前記第2の不活性ガスは窒素、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノン又はそれら2種以上を混合したガスのいずれかであることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の質量分析装置であって、
前記第2分析実行手段は、脱離作用が相対的に大きな前記第2の不活性ガスをクーリングガスとして前記イオントラップ内に導入してクーリングを行うのに加え、目的化合物由来のイオンを前記イオントラップ内に捕捉した状態で、プリカーサイオン選択を行うことなく衝突誘起解離操作を実行することを特徴とする質量分析装置。 - 分析対象である化合物由来のイオンをイオントラップの内部空間に捕捉し、そのあとに質量分析器である該イオントラップ自体により又は該イオントラップからイオンを吐き出して外部の質量分析器によりイオンを質量電荷比に応じて分離し、分離されたイオンを検出器により検出する質量分析装置を用いた質量分析方法であって、修飾物及び/又は官能基が基幹構造物に対し1又は複数結合している化合物を目的化合物として分析する質量分析方法において、
a)前記イオントラップの内部空間に捕捉したイオンをクーリングするためのクーリングガスとして第1の不活性ガスを用いることにより、前記目的化合物由来のイオンについてフラグメンテーション促進操作を行わずに、前記質量分析器により質量分析を実行して第1のマススペクトルを取得する第1分析実行ステップと、
b)前記クーリングガスとして前記第1の不活性ガスに比べて脱離作用が相対的に大きな第2の不活性ガスを用いることにより、前記目的化合物由来のイオンに対し、イオン選択操作を伴わずにフラグメンテーションを促進するイオン非選択フラグメンテーション促進操作を行った後に前記質量分析器により質量分析を実行して第2のマススペクトルを取得する第2分析実行ステップと、
c)前記目的化合物由来のイオンに対して取得した前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとを比較することにより、前記目的化合物由来のピークの帰属を判断するステップであって、前記第1のマススペクトルと前記第2のマススペクトルとの間で、同一質量電荷比におけるピーク同士の強度の比較、又は、いずれか1つのマススペクトル上で所定の質量電荷比差をもつ複数のピークの強度比の比較、の少なくともいずれかを実行することにより、前記目的化合物から前記修飾物及び/又は官能基が全て脱離した基幹構造物に対応するピークを見出すデータ処理ステップと、
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項5に記載の質量分析方法であって、
前記修飾物及び/又は官能基はシアル酸、硫酸基、又はリン酸基のいずれかであることを特徴とする質量分析方法。
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