JP5942867B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Description
基板上の絶縁膜に、所定の開口パターンを有するメタルマスクを形成し、
前記メタルマスクを用いて前記絶縁膜に配線溝を形成し、
前記配線溝の内壁および前記メタルマスクを含む全面に、前記メタルマスクと異なる材料でバリアメタルを形成し、
前記バリアメタル上に銅めっき層を成長し、
前記銅めっき層を平坦化して前記配線溝の内部に銅配線を形成し、
前記平坦化により露出した前記バリアメタルを、前記メタルマスクを電極として用いて電解除去し、
その後、前記メタルマスクを除去して、前記銅配線上にキャップ膜を形成する
ことを特徴とする。
(付記1)
基板上の絶縁膜に、所定の開口パターンを有するメタルマスクを形成し、
前記メタルマスクを用いて前記絶縁膜に配線溝を形成し、
前記配線溝の内壁および前記メタルマスクを含む全面に、前記メタルマスクと異なる材料でバリアメタルを形成し、
前記バリアメタル上に銅めっき層を成長し、
前記銅めっき層を平坦化して前記配線溝の内部に銅配線を形成し、
前記平坦化により露出した前記バリアメタルを、前記メタルマスクを電極として用いて電解除去し、
その後、前記メタルマスクを除去して、前記銅配線上にキャップ膜を形成する
ことを特徴とする半導体装置の製造方法。
(付記2)
前記電解除去により、前記メタルマスクと接触する部分のバリアメタルが除去され、前記配線溝内のバリアメタルの上端が前記絶縁膜の表面と高さがそろうことを特徴とする付記1に記載の半導体装置の製造方法。
(付記3)
前記メタルマスクの除去は、前記バリアメタルの電解除去に用いる電解液と異なる種類のエッチング液を用いたウェットエッチング、またはドライエッチングにより行うことを特徴とする付記1に記載の半導体装置の製造方法。
(付記4)
前記メタルマスクは、Cr、Co、Ni、Fe、Pt,Auから選択され、前記バリアメタルは、Ti、W、Co、Ni,またはこれらの合金で形成されることを特徴とする付記1〜3のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
(付記5)
前記キャップ膜は絶縁性のキャップ膜または導電性のキャップ膜であることを特徴とする付記1〜4のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
(付記6)
前記銅めっき層の平坦化は、化学的機械的研磨により行うことを特徴とする付記1〜5のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
(付記7)
前記基板上に複数の半導体チップを実装し、前記複数の半導体チップを、前記銅配線で電気的に接続する工程、
をさらに含むことを特徴とする付記1〜6のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
(付記8)
基板上の絶縁膜に形成される配線溝と、
前記配線溝の内壁に形成されるバリアメタルと、
前記配線溝の内部に形成され、上端が前記絶縁膜の表面よりも突出している銅配線と、
前記銅配線上に形成されるキャップ膜と、
を有することを特徴とする半導体装置。
(付記9)
前記基板に搭載される複数の半導体チップ、
をさらに有し、前記銅配線は、前記複数の半導体チップを電気的に接続する再配線であることを特徴とする付記8に記載の半導体装置。
(付記10)
前記銅配線は、前記基板に形成される複数の回路ブロックを電気的に接続するグローバル配線であることを特徴とする付記8に記載の半導体装置。
11、45 絶縁膜
12、49 配線溝(トレンチ)
13、46 メタルマスク
14、51 バリアメタル
15、43 Cu配線
16、53 Cuめっき層
17 キャップ膜
18 対向電極
19 電解液
30A、30B 半導体チップ
31 パッケージ基板
40 中継基板(インターポーザ)
41 シリコン基板
61 絶縁性キャップ膜
62 メタルキャップ
79a、79b 再配線
C 突出部
Claims (4)
- 基板上の絶縁膜に、所定の開口パターンを有するメタルマスクを形成し、
前記メタルマスクを用いて前記絶縁膜に配線溝を形成し、
前記配線溝の内壁および前記メタルマスクを含む全面に、前記メタルマスクと異なる材料でバリアメタルを形成し、
前記バリアメタル上に銅めっき層を成長し、
前記銅めっき層を平坦化して前記配線溝の内部に銅配線を形成し、
前記平坦化により露出した前記バリアメタルを、前記メタルマスクを電極として用いて電解除去し、
その後、前記メタルマスクを除去して、前記銅配線上にキャップ膜を形成する
ことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記メタルマスクの除去は、前記バリアメタルの電解除去に用いる電解液と異なる種類のエッチング液を用いたウェットエッチング、またはドライエッチングにより行うことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記メタルマスクは、Cr、Co、Ni、Fe、Pt,Auから選択され、前記バリアメタルは、Ti、W、Co、Ni,またはこれらの合金で形成されることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記キャップ膜は絶縁性のキャップ膜または導電性のキャップ膜であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
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