JP5935045B2 - 成膜装置および成膜方法 - Google Patents
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Description
真空チャンバと、
前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、
前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、
前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備え、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分は前記蒸着源と反対側に延びていて、
前記角度補正部材は、穴を設けた複数の部材、若しくは、メッシュまたはスリットを設けた複数の部材により構成されている、成膜装置である。
真空チャンバと、
前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、
前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、
前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備え、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分は前記蒸着源と反対側に延びていて、
前記角度補正部材は、成膜中において前記基材に対して移動可能である、成膜装置である。
真空チャンバと、前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備えた成膜装置における成膜方法であって、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分が前記蒸着源と反対側に延びている前記角度補正部材を用いて、前記基材に対して、前記成膜材料が飛来してくる方向を規制し、
前記角度補正部材は、穴を設けた複数の部材、若しくは、メッシュまたはスリットを設けた複数の部材により構成されている、成膜方法である。
真空チャンバと、前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備えた成膜装置における成膜方法であって、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分が前記蒸着源と反対側に延びている前記角度補正部材を用いて、前記基材に対して、前記成膜材料が飛来してくる方向を規制し、
前記角度補正部材は、成膜中において前記基材に対して移動可能であり、
前記角度補正部材の位置を異なる位置に移動させてそれぞれの位置で成膜を行うことにより、前記基材への蒸着粒子の入射角度分布を変化させながら成膜する、成膜方法である。
図1は、本発明の実施の形態1における成膜装置を正面から見た概略図である。本発明の実施の形態において、100は真空チャンバ、2はターゲット、3はバッキングプレート、4は高電圧印加電源である。電源は直流電源のほかに高周波電源や、パルス電源、これらの重畳でも良い。ターゲット2と対向する位置には基板ホルダ5があり、被処理物としての基板6を設置する。7は排気装置、8は排気口、9はバルブ、10はアースシールド、11は磁気回路である。さらに基板6の前面には角度補正板12が設置され、移動機構13により移動可能に保持されている。
{(45°)/(角度∠ABC)}×(距離AB) ≦L・・・・・・・(1)
を満たすように第2の角度補正板112の形状を決定すれば良好な効果を得ることが可能であると考えられる。
(実施の形態2)
以下、本発明の実施の形態2について説明する。
(実施の形態3)
以下、本発明の実施の形態3について説明する。
(実施の形態4)
以下、本発明の実施の形態4について説明する。
2 ターゲット
3 バッキングプレート
4 高電圧印加電源
5 基板ホルダ
6 基板
7 排気装置
8 排気口
9 バルブ
10 アースシールド
11 磁気回路
12 角度補正板
13 移動機構
14 蒸着粒子
15 補正部材
16 冷却機構
17 蒸着粒子流
18 堆積膜
21 蒸着源
22 巻き取りロール
23 巻き出しロール
24 ロール
25 マスク
25a 開口部
70 シート状部材
Claims (4)
- 真空チャンバと、
前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、
前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、
前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備え、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分は前記蒸着源と反対側に延びていて、
前記角度補正部材は、穴を設けた複数の部材、若しくは、メッシュまたはスリットを設けた複数の部材により構成されている、成膜装置。 - 真空チャンバと、
前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、
前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、
前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備え、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分は前記蒸着源と反対側に延びていて、
前記角度補正部材は、成膜中において前記基材に対して移動可能である、成膜装置。 - 真空チャンバと、前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備えた成膜装置における成膜方法であって、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分が前記蒸着源と反対側に延びている前記角度補正部材を用いて、前記基材に対して、前記成膜材料が飛来してくる方向を規制し、
前記角度補正部材は、穴を設けた複数の部材、若しくは、メッシュまたはスリットを設けた複数の部材により構成されている、成膜方法。 - 真空チャンバと、前記真空チャンバの中で基材を保持する保持部と、前記保持された前記基材の主面に対して傾いた主面を有する、成膜材料を保持する蒸着源と、前記蒸着源の主面の外周と前記基材の主面の外周を結ぶ線分で囲まれた空間領域の外であって、前記基材の主面の上部空間を覆い、前記基材から見て前記蒸着源と逆の方向に蒸着粒子が散乱を受ける空間が存在しないように設けられた角度補正部材とを備えた成膜装置における成膜方法であって、
前記基材の主面と、前記蒸着源の主面と、前記角度補正部材の前記基材に対面する側の主面の各面は、前記真空チャンバの正面から見て奥方向に延びており、
前記真空チャンバの正面から見て、前記基材の前記主面上の任意の点を第1の点とし、前記蒸着源の前記主面上の少なくとも中央の点を第2の点としたときに、
それぞれの前記第1の点と、前記第2の点とを結ぶ各線に対して、前記それぞれの第1の点から45度の角度をなす各線上に、前記角度補正部材の前記主面の少なくとも一部があり、前記角度補正部材の前記主面の他の部分が前記蒸着源と反対側に延びている前記角度補正部材を用いて、前記基材に対して、前記成膜材料が飛来してくる方向を規制し、
前記角度補正部材は、成膜中において前記基材に対して移動可能であり、
前記角度補正部材の位置を異なる位置に移動させてそれぞれの位置で成膜を行うことにより、前記基材への蒸着粒子の入射角度分布を変化させながら成膜する、成膜方法。
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WO2019171545A1 (ja) * | 2018-03-08 | 2019-09-12 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 成膜装置、蒸着膜の成膜方法および有機el表示装置の製造方法 |
US20200135464A1 (en) * | 2018-10-30 | 2020-04-30 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for patterning substrates using asymmetric physical vapor deposition |
JP2022513448A (ja) * | 2018-12-17 | 2022-02-08 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 封入のためのpvd指向性堆積 |
CN113416931B (zh) * | 2021-08-18 | 2021-11-09 | 华芯半导体研究院(北京)有限公司 | Vcsel芯片蒸镀用夹具、vcsel芯片蒸镀系统和方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0853763A (ja) * | 1994-06-06 | 1996-02-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜の製造方法 |
US20080076269A1 (en) * | 2004-03-26 | 2008-03-27 | Masanobu Kusunoki | Process for Forming Thin Film and System for Forming Thin Film |
JP2009150000A (ja) * | 2007-03-09 | 2009-07-09 | Panasonic Corp | 真空蒸着装置 |
JP2009179856A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Panasonic Corp | 真空蒸着装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3447077B2 (ja) * | 1993-03-19 | 2003-09-16 | 株式会社フジクラ | 薄膜積層体と酸化物超電導導体およびそれらの製造方法 |
US5885425A (en) * | 1995-06-06 | 1999-03-23 | International Business Machines Corporation | Method for selective material deposition on one side of raised or recessed features |
US6036821A (en) * | 1998-01-29 | 2000-03-14 | International Business Machines Corporation | Enhanced collimated sputtering apparatus and its method of use |
JP4843873B2 (ja) * | 2001-07-05 | 2011-12-21 | ソニー株式会社 | 斜め蒸着装置および斜め蒸着方法 |
PT1350863E (pt) | 2002-03-19 | 2006-12-29 | Scheuten Glasgroep Bv | Dispositivo e processo para a aplicação orientada de um material a depositar num substrato |
JP4566681B2 (ja) * | 2004-10-06 | 2010-10-20 | 株式会社昭和真空 | スパッタ装置 |
JP4642789B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2011-03-02 | セイコーエプソン株式会社 | 成膜装置及び成膜方法 |
JP4142706B2 (ja) * | 2006-09-28 | 2008-09-03 | 富士フイルム株式会社 | 成膜装置、成膜方法、絶縁膜、誘電体膜、圧電膜、強誘電体膜、圧電素子および液体吐出装置 |
JP2008216544A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | Seiko Epson Corp | 成膜装置、成膜方法、液晶装置、並びにプロジェクタ |
JP2008216587A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | Canon Inc | Si酸化膜の形成方法、配向膜および液晶光学装置 |
WO2009098893A1 (ja) * | 2008-02-08 | 2009-08-13 | Panasonic Corporation | 蒸着膜の形成方法 |
CN201713568U (zh) * | 2010-05-07 | 2011-01-19 | 上海承哲光电科技有限公司 | 具有冷却遮板的溅镀装置 |
-
2012
- 2012-02-15 CN CN201280015418.9A patent/CN103443324B/zh not_active Expired - Fee Related
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0853763A (ja) * | 1994-06-06 | 1996-02-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜の製造方法 |
US20080076269A1 (en) * | 2004-03-26 | 2008-03-27 | Masanobu Kusunoki | Process for Forming Thin Film and System for Forming Thin Film |
JP2009150000A (ja) * | 2007-03-09 | 2009-07-09 | Panasonic Corp | 真空蒸着装置 |
JP2009179856A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Panasonic Corp | 真空蒸着装置 |
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