JP5918205B2 - 試験装置及びその試験方法 - Google Patents
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Description
表面に少なくとも1つの電気的接続点を有するチップと位置合わせ可能なフレームと、
フレーム内に固定された多層基板と、
少なくとも1つの電気的接続点と対応して多層基板の上面に形成されており、少なくとも1つの電気的接続点と接触し、チップに対し電気的試験を行うための少なくとも1つの電気的試験点とを備える。
前記多層基板の上面に形成された少なくとも1つの電気的試験点を有する多層基板を提供するステップと、
少なくとも1つの電気的接続点と少なくとも1つの電気的試験点を対応的に接触させるようにチップを移動させるステップと、
チップに対し電気的試験を行うステップとを備える。
多層基板500の上面に形成された少なくとも1つの電気的試験点600を有する多層基板500を提供するステップと、
チップ200を移動させ、電気的接続点300と電気的試験点600を接触させるステップと、
チップ200に対し電気的試験を行うステップとを備える。
102 挟持部材
104 上挟持板
106 下挟持板
108 締結ネジ
110 調整バネ
112 吸着孔
200 チップ
300 電気的接続点
400 金属
500 多層基板
600 電気的試験点
700 弾性支持体
800 支持凸点
900 固定接点
F 所定の外力
Claims (7)
- 試験方法であって、少なくとも1つの電気的接続点を有するチップに対し電気的試験を行う試験方法であって、
不活性金属又は貴金属によって、前記少なくとも1つの電気的接続点の表面を厚さ範囲が10nmから100nmの間で形成又は被覆するステップと、
上面に形成された少なくとも1つの電気的試験点を有する多層基板を提供するステップと、
前記少なくとも1つの電気的接続点と前記少なくとも1つの電気的試験点を対応的に接触させるように前記チップを移動させるステップと、
前記チップに対し電気的試験を行うステップと、
前記チップに対し電気的試験を行うステップの後に、前記不活性金属又は前記貴金属を前記少なくとも1つの電気的接続点に溶け込ませるように前記チップに対し熱処理を行うステップと、を備えることを特徴とする試験方法。 - 前記少なくとも1つの電気的接続点と前記少なくとも1つの電気的試験点は、前記電気的試験が行われた後に構造が完全に維持されることを特徴とする請求項1に記載の試験方法。
- 前記少なくとも1つの電気的接続点の前記接触面積内における表面は構造が完全に維持されることを特徴とする請求項1に記載の試験方法。
- 前記チップに対し電気的試験を行うステップにおいて、前記多層基板に支持力を提供するために、前記多層基板を提供するステップの前に、前記フレームと前記多層基板との間に弾性支持体を設置するステップを更に備えることを特徴とする請求項1に記載の試験方法。
- 前記チップに対し電気的試験を行うステップにおいて、前記多層基板に支持力を提供するために、前記多層基板を提供するステップの前に、前記少なくとも1つの電気的試験点と対応して、前記多層基板の下面に少なくとも1つの支持凸点を形成するステップを更に備えることを特徴とする請求項1に記載の試験方法。
- 前記多層基板を提供するステップにおいて、複数の挟持部材によって、前記多層基板を前記フレーム内に挟持することを更に備えることを特徴とする請求項1に記載の試験方法。
- これらの挟持部材は、前記多層基板を前記フレーム内に固定するための上挟持板と下挟持板を更に備えることを特徴とする請求項6に記載の試験方法。
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