JP5903625B2 - はんだ材料 - Google Patents
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0.3〜4.0mass%のAgと、
0.2〜1.0mass%のBiと、
0.1〜0.6mass%のCrと、
0.4〜1.9mass%のGeと、を含み、
残部は、Snで構成されることを特徴とする、はんだ材料である。
3.5mass%の前記Agと、
0.5mass%の前記Biと、
0.3mass%の前記Crと、
0.5mass%の前記Geと、を含み、
前記残部は、89.2mass%の前記Snで構成され、
Pを含むNiめっきを有するAu電極のはんだ付けに利用されることを特徴とする、第1の本発明のはんだ材料である。
はじめに、図1および2を主として参照しながら、本実施の形態1の原理について説明する。
(数1)
(試験サイクル数)
=−570.7×(In含有率)2+6964×(In含有率)−17926
のグラフとして図示されている。
(数2)
(In含有率)
=2.11×(Cr含有率)+5.126
のグラフが得られる。
(数3)
(In含有率)
=2.11×(Cr含有率)+4.626
のグラフとなり、In含有率はCr含有率が0.1mass%である場合は4.9(=5.4−0.5)mass%である。
(In含有率)
=2.11×(Cr含有率)+4.126
のグラフ(一点鎖線で図示されている)である。
In含有率は、(1)Ni含有率がゼロである場合は5.4mass%以下であるが、(2)Ni含有率が増大すると、Inの減少が抑制されるので、増大していき、(3)Ni含有率がおよそ0.03mass%を越えた場合は5.4mass%以上となり、そして(4)Ni含有率が0.12mass%になるとほぼ6mass%になる。
In含有率は、(1)Fe含有率がゼロである場合は5.4mass%以下であるが、(2)Fe含有率が増大すると、Inの減少が抑制されるので、増大していき、(3)Fe含有率がおよそ0.02mass%を越えた場合は5.4mass%以上となり、そして(4)Fe含有率が0.08mass%になるとほぼ6mass%になる。
In含有率は、(1)Co含有率がゼロである場合は5.4mass%以下であるが、(2)Co含有率が増大すると、Inの減少が抑制されるので、増大していき、(3)Co含有率がおよそ0.03mass%を越えた場合は5.4mass%以上となり、そして(4)Co含有率が0.18mass%になるとほぼ6mass%になる。
In含有率は、(1)Si含有率がゼロである場合は5.4mass%以下であるが、(2)Si含有率が増大すると、Inの減少が抑制されるので、増大していき、(3)Si含有率がおよそ0.3mass%を越えた場合は5.4mass%以上となり、そして(4)Si含有率が0.8mass%になるとほぼ6mass%になる。
In含有率は、(1)Ge含有率がゼロである場合は5.4mass%以下であるが、(2)Ge含有率が増大すると、Inの減少が抑制されるので、増大していき、(3)Ge含有率がおよそ0.4mass%を越えた場合は5.4mass%以上となり、そして(4)Ge含有率が1.1mass%になるとほぼ6mass%になる。
In含有率は、(1)Al含有率がゼロである場合は5.4mass%以下であるが、(2)Al含有率が増大すると、Inの減少が抑制されるので、増大していき、(3)Al含有率がおよそ0.3mass%を越えた場合は5.4mass%以上となり、そして(4)Al含有率が0.7mass%になるとほぼ6mass%になる。
つぎに、図5および6を主として参照しながら、本実施の形態のはんだ材料について具体的に説明する。
(数4)
(In含有率)
=1.91×(Zn含有率)+5.079
のグラフが得られる。
In含有率は、(1)Ga含有率がゼロである場合は5.4mass%以下であるが、(2)Ga含有率が増大すると、Inの減少が抑制されるので、増大していき、(3)Ga含有率がおよそ0.05mass%を越えた場合は5.4mass%以上となり、そして(4)Ga含有率が0.5mass%になるとIn含有率はほぼ6mass%になる。
また、はんだ材料のGe含有率が0.4mass%以上1.9mass%以下であることにより、Au電極に対するはんだ付けにおいても、より高い熱疲労特性を維持することが可能であり、車載基準の信頼性を満たすことができる。
402 液相線
601 固相線
602 液相線
711、712 はんだ部
720 電子部品
721、722 Au電極
730 電子回路基板
731、732 基板電極
Claims (2)
- 3〜8mass%のInと、
0.3〜4.0mass%のAgと、
0.2〜1.0mass%のBiと、
0.1〜0.6mass%のCrと、
0.4〜1.9mass%のGeと、を含み、
残部は、Snで構成されることを特徴とする、はんだ材料。 - 6mass%の前記Inと、
3.5mass%の前記Agと、
0.5mass%の前記Biと、
0.3mass%の前記Crと、
0.5mass%の前記Geと、を含み、
前記残部は、89.2mass%の前記Snで構成され、
Pを含むNiめっきを有するAu電極のはんだ付けに利用されることを特徴とする、請求項1記載のはんだ材料。
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JP2012060383A JP5903625B2 (ja) | 2012-03-16 | 2012-03-16 | はんだ材料 |
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JP2012060383A JP5903625B2 (ja) | 2012-03-16 | 2012-03-16 | はんだ材料 |
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JP2013193092A5 JP2013193092A5 (ja) | 2015-04-09 |
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