JP5891198B2 - アンテナ共用器およびこれを用いた電子機器 - Google Patents

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Description

本発明は、アンテナ共用器およびこれを用いた電子機器に関する。
図10に示すように、従来のアンテナ共用器101は、送信フィルタ102と受信フィルタ103とを備える。送信フィルタ102は、第1の圧電基板104と、第1の圧電基板104の上方に形成された第1のIDT電極105と、第1のIDT電極105を覆うように第1の圧電基板104の上方に形成された第1の誘電膜106とを有する。また、受信フィルタ103は、第2の圧電基板107と、第2の圧電基板107の上方に形成された第2のIDT電極108と、第2のIDT電極108を覆うように第2の圧電基板107の上方に形成された第2の誘電膜109とを有する。
これら第1、第2の誘電膜106、109として、第1、第2の圧電基板104、107の温度係数と逆の温度係数を有する材料を採用することにより、アンテナ共用器101の周波数温度特性を改善していた。
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
国際公開第2010/146826号
従来のアンテナ共用器101において、送信フィルタ102には、その入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが供給されるので、送信フィルタ102が相対的に高く発熱することにより、送信フィルタ102の周波数温度特性が相対的に劣化するという問題があった。
その結果、アンテナ共用器101の周波数温度特性が劣化するという課題を有していた。
そこで、本発明は、アンテナ共用器の周波数温度特性を向上させることを目的とする。
上記目的を達成するために本発明のアンテナ共用器は、送信フィルタと受信フィルタとを有するアンテナ共用器であって、送信フィルタは、第1の圧電基板と、第1の圧電基板の上方に形成された第1のIDT電極と、第1のIDT電極を覆うように第1の圧電基板の上方に形成された第1の誘電膜とを有し、受信フィルタは、第2の圧電基板と、第2の圧電基板の上方に形成された第2のIDT電極と、第2のIDT電極を覆うように第2の圧電基板の上方に形成された第2の誘電膜とを有し、第1の圧電基板の上面からの第1の誘電膜の上面における第1の最高部と第1の最低部との第1の高低差は、第2の圧電基板の上面からの第2の誘電膜の上面における第2の最高部と第2の最低部との第2の高低差より大きいことを特徴とする。
上記構成により、送信フィルタにおける第1の誘電膜の上面の単位領域あたりの表面積は、受信フィルタにおける第2の誘電膜の上面の単位領域あたりの表面積より大きくなる。これにより、送信フィルタにおける第1の誘電膜の上面の放熱性が相対的に高まる。その結果、送信フィルタの入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが送信フィルタに供給されても、送信フィルタが発熱することを抑制し、送信フィルタの周波数温度特性が劣化することを抑制することができる。これにより、アンテナ共用器の周波数温度特性が向上する。
なお、受信フィルタにおいては、第2の誘電膜の上面における段差が相対的に小さくなり、周波数バラツキを抑制することができるのである。
本発明の実施の形態1におけるアンテナ共用器の断面模式図 同アンテナ共用器の特性を示す図 同アンテナ共用器の特性を示す図 同アンテナ共用器の断面模式図 同アンテナ共用器の断面模式図 同アンテナ共用器の回路ブロック図 同アンテナ共用器の断面模式図 同アンテナ共用器の断面模式図 同アンテナ共用器を搭載した電子機器の模式図 従来のアンテナ共用器の断面模式図
(実施の形態1)
以下、本発明の実施の形態1のアンテナ共用器1について図面を参照しながら説明する。
図1は、実施の形態1におけるアンテナ共用器1の断面模式図である。
図1において、アンテナ共用器1は、第1の周波数帯の通過帯域を有する送信フィルタ2と第1の周波数帯より高い通過帯域を有する受信フィルタ3とを備える。送信フィルタ2は、第1の圧電基板4と、第1の圧電基板4の上方に形成された第1のIDT電極5と、第1のIDT電極5を覆うように第1の圧電基板4の上方に形成された第1の誘電膜6とを有する。また、受信フィルタ3は、第2の圧電基板7と、第2の圧電基板7の上方に形成された第2のIDT電極8と、第2のIDT電極8を覆うように第2の圧電基板7の上方に形成された第2の誘電膜9とを有する。
また、図1において、送信フィルタ2における第1の誘電膜6の上面には溝10が形成されている。この溝10は第1のIDT電極5の電極指の上方において電極指の延伸方向に伸びたものを示すが、これに限らない。また、図1において、受信フィルタ3における第2の誘電膜9の上面には溝20が形成されている。この溝20は第2のIDT電極8の電極指の上方において電極指の延伸方向に伸びたものを示すが、これに限らない。また、第2の誘電膜9の上面は平坦であっても良い。すなわち、第1の誘電膜6の上面のうち、第1の圧電基板4の上面から最も高い部分を第1の最高部とし、第1の圧電基板4の上面から最も低い部分を第1の最低部とし、第2の誘電膜9の上面のうち、第2の圧電基板7の上面から最も高い部分を第2の最高部とし、第2の圧電基板7の上面から最も低い部分を第2の最低部とすると、第1の最高部と第1の最低部との高低差である第1の高低差が、第2の最高部と第2の最低部との高低差である第2の高低差より大きい状態であれば良い。なお、前記第1の高低差は、送信フィルタ2における第1のIDT電極5が励振する主要弾性波の波長λで規格化された値であり、前記第2の高低差は、受信フィルタ3における第2のIDT電極8が励振する主要弾性波の波長λで規格化された値であり、前者が後者より大きい。
なお、図1の場合、溝10の底部が第1の最低部となり、溝10とその隣の溝10との間における第1の誘電膜6の上面が第1の最高部となる。また、溝20の底部が第2の最低部となり、溝20とその隣の溝20との間における第2の誘電膜9の上面が第2の最高部となる。
上記構成により、送信フィルタ2における第1の誘電膜6の上面の単位領域あたりの表面積は、受信フィルタ3における第2の誘電膜9の上面の単位領域あたりの表面積より大きくなる。これにより、送信フィルタ2における第1の誘電膜6の上面の放熱性が相対的に高まる。その結果、送信フィルタ2の入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが送信フィルタ2に供給されても、送信フィルタ2が発熱することを抑制し、送信フィルタ2の周波数温度特性が劣化することを抑制することができる。これにより、アンテナ共用器1の周波数温度特性が向上する。なお、受信フィルタ3においては、第2の誘電膜9の上面における段差が相対的に小さくなり、周波数バラツキを抑制することができるのである。
以下、本実施の形態1のアンテナ共用器1の各構成について詳述する。
第1の圧電基板4、或いは第2の圧電基板7として、圧電基板4、7のカット角φ、θと伝搬角ψがオイラー角(φ、θ、ψ)表記で、−10°≦φ≦10°、33°≦θ≦43°、−10°≦ψ≦10°のニオブ酸リチウム(LiNbO)系基板を用いている。すなわち、第1の圧電基板4、或いは第2の圧電基板7を伝搬する主要弾性波をレイリー波とする。特に、第1の圧電基板4を伝搬する主要弾性波をレイリー波とした場合、溝10を第1のIDT電極5の電極指の上方において電極指の延伸方向に伸びたものとする、即ち、第1の誘電膜6の上面における最低部を前記第1のIDT電極の上方に位置することで、送信フィルタ2における第1の誘電膜6に溜まったレイリー波のエネルギーによる熱を効率良く放熱させることができる。その結果、送信フィルタ2の周波数温度特性の劣化を更に抑制することができる。
また、第1の圧電基板4、或いは第2の圧電基板7は、例えば、水晶、タンタル酸リチウム(LiTaO)系、又はニオブ酸カリウム(KNbO)系、他のオイラー角のニオブ酸リチウム(LiNbO)系の基板又は薄膜など他の圧電媒質であっても構わない。なお、第1の圧電基板4、或いは第2の圧電基板7に、オイラー角表示(φ,θ,ψ)において−100°≦θ≦−60°の範囲のニオブ酸リチウム(LiNbO)系基板を用いる場合、この基板は下記の範囲のオイラー角であることが望ましい。即ち、WO2011/052218にも記載のように、このニオブ酸リチウムからなる圧電基板4、7のオイラー角(φ,θ,ψ)は、−100°≦θ≦−60°、1.193φ−2°≦ψ≦1.193φ+2°、ψ≦−2φ−3°、−2φ+3°≦ψを満たすことが望ましい。このオイラー角にすることで、レイリー波による不要スプリアスの発生を抑制しながら速い横波が発生する周波数帯付近における不要スプリアスを抑制することができる。
さらに、これら第1の圧電基板4、或いは第2の圧電基板7は、同一基板であっても構わない。
第1のIDT電極5、或いは第2のIDT電極8は、例えば、圧電基板4、7側から順に、膜厚0.04λのモリブデンを主成分とする第1電極層(図示せず)と、第1電極層の上に設けられた膜厚0.08λのアルミニウムを主成分とする第2電極層(図示せず)とを有する。なお、送信フィルタ2においては、λは各々の第1のIDT電極5が励振する主要弾性波の共振点における平均波長であり、各第1のIDT電極5の平均ピッチの2倍とする。また、受信フィルタ3においては、λは各々の第2のIDT電極8が励振する主要弾性波の共振点における平均波長であり、各第2のIDT電極8の平均ピッチの2倍とする。
なお、第1のIDT電極5、或いは第2のIDT電極8は他の金属でも良く、例えば、アルミニウム、銅、銀、金、チタン、タングステン、白金、若しくはクロムからなる単体金属、又はこれらを主成分とする合金、又はこれらの金属が積層された構成であっても良い。例えば、圧電基板4、7と第1電極層との間、あるいは第1電極層と第2電極層との間に、チタンあるいはチタンナイトライドを挟んだ電極構成としても良い。このような構成とすることにより電極の配向性が向上しマイグレーションによる劣化を抑制することができる。
このIDT電極5、8の総膜厚は、IDT電極5、8の総密度をbとし、アルミニウムの密度をaとした場合、0.05λ×b/a以上0.15λ×b/a以下であることが望ましい。このときに、圧電基板4、7の表面に主要弾性波を集中させることができる。
第1の誘電膜6、或いは第2の誘電膜9は、無機絶縁膜である。これら誘電膜6、9を、酸化ケイ素(SiO)膜等の圧電基板4、7の周波数温度係数と逆符号の周波数温度係数を有する薄膜とすることで、アンテナ共用器1の周波数温度特性を向上させることができる。なお、これら誘電膜6、9は、例えば、ダイヤモンド、窒化ケイ素、酸化窒化ケイ素、窒化アルミニウム、または酸化アルミニウムを主成分とする媒質など他の無機絶縁膜であっても良い。なお、誘電膜6、9が酸化ケイ素等の酸化膜からなる場合に、誘電膜6、9の上にさらに窒化ケイ素膜、窒化アルミニウム膜等の非酸化膜を設けることで、IDT電極5、8の酸化防止を図っても良い。
また、第1の圧電基板4、或いは第2の圧電基板7がニオブ酸リチウム(LiNbO)系基板で誘電膜6、9が酸化ケイ素からなる場合、アンテナ共用器1の周波数温度依存性の抑制と通過帯域の確保の両者の観点から、誘電膜6、9の膜厚(第1の圧電基板4の上面からの第1の誘電膜6の上面における第1の最高部の高さ、或いは第2の圧電基板7の上面からの第2の誘電膜9の上面における第2の最高部の高さ)は、0.24λ以上0.38λ未満であることが望ましい。
第1の誘電膜6の上面における溝10、或いは第2の誘電膜9の上面における溝20は、図1においては、第1のIDT電極5、或いは第2のIDT電極8の直上方に形成されたものを示したが、これらの直上方に形成されてなくとも良い。この溝10、20の形成方法として、反応性の気体やイオン、ラジカルによって材料をエッチングする、いわゆるドライエッチング法が挙げられる。
第1の誘電膜6の上面において、第1のIDT電極5の電極指の上方において電極指の延伸方向に伸びた溝が形成される場合は、第1のIDT電極5が励振する主要弾性波の波長をλとすると、第1の誘電膜6の上面における溝10の深さを、0.016λ以上0.068λ以下とすることが望ましい。図2は、図1の送信フィルタ2において、第1の圧電基板4として、カット角φ、θと伝搬角ψがオイラー角(φ、θ、ψ)表記で、−10°≦φ≦10°、33°≦θ≦43°、−10°≦ψ≦10°のニオブ酸リチウム(LiNbO)系基板を用い、第1のIDT電極5として、膜厚が0.025λ、0.04λ、0.0545λのモリブデン電極を用い、膜厚(第1の圧電基板4の上面からの第1の誘電膜6の上面における第1の最高部の高さ)が0.34λの酸化ケイ素(SiO)からなる第1の誘電膜6の上面における溝10の深さ(λ)を変化させた場合の送信フィルタ2の周波数温度特性(ppm)を示す。
図2により、第1のIDT電極5の膜厚にはほとんど依存せずに、溝10の深さが0.016λ以上0.068λ以下である場合に、送信フィルタ2の周波数温度特性が±10ppmの範囲内と良好であることが分かる。特性が第1のIDT電極5の膜厚にほとんど依存しないということにより、特性がIDT電極5の質量や材料に依存しないことは言うまでもない。受信フィルタ3においては、第2の誘電膜9の上面段差を0.016λ以下にすることで、周波数バラツキを更に抑制することができるのである。
また、図3は、上記と同様に、送信フィルタ2において、第1の圧電基板4として、カット角φ、θと伝搬角ψがオイラー角(φ、θ、ψ)表記で、−10°≦φ≦10°、33°≦θ≦43°、−10°≦ψ≦10°のニオブ酸リチウム(LiNbO)系基板を用い、第1のIDT電極5として、膜厚が0.025λ、0.04λ、0.0545λのモリブデン電極を用い、膜厚(第1の圧電基板4の上面からの第1の誘電膜6の上面における第1の最高部の高さ)が0.34λの酸化ケイ素(SiO)からなる第1の誘電膜6の上面における溝10の深さ(λ)を変化させた場合の第1のIDT電極5が構成する共振子の反共振周波数におけるQ値を示す。図3により、第1のIDT電極5の膜厚がどの値であっても、溝10の深さが0.075λ以下である場合に、反共振周波数におけるQ値を確保できることが分かる。
また、第1の誘電膜6と第2の誘電膜9が酸化ケイ素(SiO)膜等の圧電基板4、7の周波数温度係数と逆符号の周波数温度係数を有する薄膜である場合、第1の誘電膜6の膜厚(第1の圧電基板4の上面からの第1の誘電膜6の上面における第1の最高部の高さ)は、第2の誘電膜9の膜厚(第2の圧電基板7の上面からの第2の誘電膜9の上面における第2の最高部の高さ)より大きいほうが望ましい。これにより、送信フィルタ2が相対的に高く発熱しても、送信フィルタの周波数温度特性が劣化することを抑制することができる。例えば、第1の誘電膜6の膜厚(第1の圧電基板4の上面からの第1の誘電膜6の上面における第1の最高部の高さ)は、0.32λ以上0.38λ未満であり、第2の誘電膜9の膜厚(第2の圧電基板7の上面からの第2の誘電膜9の上面における第2の最高部の高さ)は、0.24λ以上0.32λ未満とすることで、アンテナ共用器1の周波数温度依存性の抑制と通過帯域の確保の両立を図ることができる。
さらに、図4に示すように、第1の誘電膜6の上面は第1の最高部から第1の最低部にかけて第1の圧電基板4からの高さが徐々に低くなる第1のテーパ面31を有し、第2の誘電膜9の上面は第2の最高部から第2の最低部にかけて第2の圧電基板7からの高さが徐々に低くなる第2のテーパ面32を有し、第1の圧電基板4に対する第1のテーパ面31のなす角θ1は、第2の圧電基板7に対する第2のテーパ面32のなす角θ2より大きいことが望ましい。これにより、送信フィルタにおける第1の誘電膜の上面の単位領域あたりの表面積が相対的に大きくなり、送信フィルタ2における第1の誘電膜6の放熱性が相対的に高まる。その結果、送信フィルタ2の入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが送信フィルタ2に供給されても、送信フィルタ2が発熱することを抑制し、送信フィルタ2の周波数温度特性が劣化することを抑制することができる。これにより、アンテナ共用器1の周波数温度特性が向上する。
さらに、図5に示すように、第1の誘電膜6の上面には第1のIDT電極5の電極指の上方において電極指の延伸方向に延びる凸部40が形成されていても良い。この場合、凸部40の頂部が第1の最高部となり、凸部40とその隣の凸部40との間における第1の誘電膜6の上面が第1の最低部となる。
この場合においても、第1の圧電基板4の上面からの第1の誘電膜6の上面における第1の最高部と第1の最低部との第1の高低差は、第2の誘電膜9の上面における第2の圧電基板7の上面からの第2の最高部と第2の最低部との第2の高低差より大きい。
上記構成により、送信フィルタ2における第1の誘電膜6の上面の単位領域あたりの表面積は、受信フィルタ3における第2の誘電膜9の上面の単位領域あたりの表面積より大きくなる。これにより、送信フィルタ2における第1の誘電膜6の上面の放熱性が相対的に高まる。その結果、送信フィルタ2の入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが送信フィルタ2に供給されても、送信フィルタ2が発熱することを抑制し、送信フィルタ2の周波数温度特性が劣化することを抑制することができる。これにより、アンテナ共用器1の周波数温度特性が向上する。
この第1の誘電膜6の上面の凸部40は、その凸部40の最高部から最低部にかけて下に凸な曲線形状を有することが望ましい。この場合、この下に凸な曲線若しくはその延長線と最高部を含む第1の圧電基板4の上面に平行な直線とが交わる点同士の間の距離で定義される頂部の幅Lは、第1のIDT電極5の電極指の幅よりも小さい。これにより、凸部40における第1の誘電膜6の質量付加が連続的かつ緩やかに変化する。その結果、第1の誘電膜6の形状に起因する不要な反射を発生させることを抑制しつつ、送信フィルタ2の電気的特性を向上することができる。
この凸部40の形成方法として、第1の圧電基板4側にバイアスを印加しながらスパッタリングで成膜を行う、いわゆるバイアススパッタリング法が挙げられる。その際、凸部40の形状をコントロールする手段としては、第1の誘電膜6を堆積させる途中で第1の圧電基板4に印加するバイアスとスパッタリング電力の比を変化させたり、成膜の初期は第1の圧電基板4に成膜と同時にバイアスを印加して成膜し、途中からバイアスをかけずに成膜したりすればよい。この際、第1の圧電基板4の温度についても管理を行う。
図6は、アンテナ共用器1が一実施の形態として3GPP(3rd Generation Partnership Project)において定められたBand2用のアンテナ共用器である場合の回路ブロック図を示す。
アンテナ共用器1は、入力端子11とアンテナ端子16の間に接続されて第1周波数帯(1.85GHz〜1.91GHz)の通過帯域を有する送信フィルタ2と、アンテナ端子16と二つの出力端子17、18との間に接続されて第1周波数帯より高い第2周波数帯(1.93GHz〜1.99GHz)の通過帯域を有する受信フィルタ3とを備える。
送信フィルタ2は、直列共振器と並列共振器とを有するラダー型弾性波フィルタであり、たとえば、入力端子11と出力端子であるアンテナ端子16との間に、入力端子11側から順に接続された直列共振器12、13、14、15を備える。さらに、送信フィルタ2は、直列共振器12、13の接続部分とグランド端子19との間に接続された並列共振器28と、直列共振器13、14の接続部分とグランド端子19との間に接続された並列共振器29と、直列共振器14、15の接続部分とグランド端子19との間に接続された並列共振器30とを備える。これら直列共振器12〜15および並列共振器28〜30は、それぞれ第1のIDT電極5と、これら第1のIDT電極5を挟むように配置された2つの反射器により構成される。
受信フィルタ3は、例えば、入力側から共振器21と、これに縦続接続された2つの二重モードSAWフィルタ22、23と、これに縦続接続された二重モードSAWフィルタ24とを備える。これら二重モードSAWフィルタ22、23、24は、それぞれ弾性波の伝搬方向に配置された複数の第2のIDT電極8と、これら第2のIDT電極8を挟むように配置された2つの反射器により構成される。
上記アンテナ共用器1の送信フィルタ2において、直列共振器12、13、14、15のうち最も入力端子11に近い直列共振器12或いは並列共振器28、29、30のうち最も入力端子11に近い並列共振器28に対し、送信フィルタ2の入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが供給される。その結果、最も入力端子11に近い直列共振器12或いは並列共振器28が他の共振器と比較して相対的に高く発熱することにより、送信フィルタ2の周波数温度特性が劣化する。
そこで、図7に示すように、複数の直列共振器のうち最も入力端子11に近い直列共振器12の上方における第1の誘電膜6の上面における第1の圧電基板4の上面からの第1の最高部と第1の最低部との第1の高低差を、他の直列共振器13等の上方における第1の誘電膜6の上面における第1の圧電基板4の上面からの第3の最高部と第3の最低部との第2の高低差より大きくする。例えば、直列共振器12を構成するIDT電極の電極指の上方における溝10Aの深さを、直列共振器13を構成するIDT電極の電極指の上方における溝10Bの深さよりも深くする。これにより、最も入力端子11に近い直列共振器12の上方における第1の誘電膜6の上面の単位領域あたりの表面積は、その他の直列共振器13の上方における第1の誘電膜6の単位領域あたりの表面積より大きくなる。これにより、複数の直列共振器のうち最も入力端子11に近い直列共振器12の上方における第1の誘電膜6の上面の放熱性が相対的に高まる。その結果、送信フィルタ2の入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが送信フィルタ2に供給されても、最も入力端子11に近い直列共振器12が発熱することを抑制し、送信フィルタ2の周波数温度特性が劣化することを抑制することができる。
また、図8に示すように、複数の並列共振器のうち最も入力端子11に近い並列共振器28の上方における第1の誘電膜6の上面における第1の圧電基板4の上面からの第1の最高部と第1の最低部との第1の高低差を、他の並列共振器29等の上方における第1の誘電膜6の上面における第1の圧電基板4の上面からの第4の最高部と第4の最低部との第2の高低差より大きくする。例えば、並列共振器28を構成するIDT電極の電極指の上方における溝10Cの深さを、並列共振器29を構成するIDT電極の電極指の上方における溝10Dの深さよりも深くする。これにより、最も入力端子11に近い並列共振器28の上方における第1の誘電膜6の上面の単位領域あたりの表面積は、その他の並列共振器29の上方における第1の誘電膜6の単位領域あたりの表面積より大きくなる。これにより、複数の並列共振器のうち最も入力端子11に近い並列共振器28の上方における第1の誘電膜6の上面の放熱性が相対的に高まる。その結果、送信フィルタ2の入力側に接続されるパワーアンプ(図示せず)で大きく増幅された信号のエネルギーが送信フィルタ2に供給されても、最も入力端子11に近い並列共振器28が発熱することを抑制し、送信フィルタ2の周波数温度特性が劣化することを抑制することができる。
また、図9に示すように、本実施の形態1のアンテナ共用器1を搭載した携帯電話等の電子機器50は、上記アンテナ共用器1と、このアンテナ共用器1に接続された半導体素子51と、この半導体素子51に接続された液晶等の表示部やスピーカ等の音声再生部からなる再生装置52を備える。
このように本実施の形態1のアンテナ共用器1を電子機器50に採用することにより、電子機器50の通信品質を向上させることができる。
本発明は、アンテナ共用器の周波数温度特性を向上させるという効果を有し、携帯電話等の電子機器に適用可能である。
1 アンテナ共用器
2 送信フィルタ
3 受信フィルタ
4 第1の圧電基板
5 第1のIDT電極
6 第1の誘電膜
7 第2の圧電基板
8 第2のIDT電極
9 第2の誘電膜
10、20 溝
11 入力端子
12、13、14、15 直列共振器
16 アンテナ端子
17、18 出力端子
19 グランド端子
21 共振器
22、23、24 二重モードSAWフィルタ

Claims (16)

  1. 送信フィルタと受信フィルタとを有するアンテナ共用器であって、
    前記送信フィルタは、
    第1の圧電基板と、
    前記第1の圧電基板の上方に形成された第1のIDT電極と、
    前記第1のIDT電極を覆うように前記第1の圧電基板の上方に形成された第1の誘電膜とを有し、
    前記受信フィルタは、
    第2の圧電基板と、
    前記第2の圧電基板の上方に形成された第2のIDT電極と、
    前記第2のIDT電極を覆うように前記第2の圧電基板の上方に形成された第2の誘電膜とを有し、
    前記第1の誘電膜の上面における前記第1の圧電基板の上面からの第1の最高部と第1の最低部との第1の高低差は、前記第2の誘電膜の上面における前記第2の圧電基板の上面からの第2の最高部と第2の最低部との第2の高低差より大きく、
    前記第1の高低差は、前記送信フィルタの周波数温度特性が前記第1のIDT電極の膜厚に依存しない範囲に定められるアンテナ共用器。
  2. 前記第1の高低差は、前記送信フィルタにおける前記第1のIDT電極が励振する主要弾性波の波長で規格化された値であり、
    前記第2の高低差は、前記受信フィルタにおける前記第2のIDT電極が励振する主要弾性波の波長で規格化された値である請求項1に記載のアンテナ共用器。
  3. 前記第1の圧電基板は、レイリー波を主要弾性波として伝搬する圧電基板である請求項1に記載のアンテナ共用器。
  4. 第1の最低部は前記第1のIDT電極の電極指の上方に存在する請求項に記載のアンテナ共用器。
  5. 前記第1の誘電膜の上面において、前記第1のIDT電極の電極指の上方において電極指の延伸方向に伸びた溝が形成される請求項1に記載のアンテナ共用器。
  6. 前記第1のIDT電極が励振する主要弾性波の波長をλとすると、
    前記第1の誘電膜の上面における前記溝の深さは、0.016λ以上0.068λ以下である請求項に記載のアンテナ共用器。
  7. 前記第1の誘電膜と前記第2の誘電膜は、酸化ケイ素膜である請求項1に記載のアンテナ共用器。
  8. 前記第1の誘電膜の膜厚は、前記第2の誘電膜の膜厚より大きい請求項に記載のアンテナ共用器。
  9. 前記第1の誘電膜の上面は前記第1の最高部から前記第1の最低部にかけて前記第1の圧電基板からの高さが徐々に低くなる第1のテーパ面を有する請求項1に記載のアンテナ共用器。
  10. 前記第2の誘電膜の上面は前記第2の最高部から前記第2の最低部にかけて前記第2の圧電基板からの高さが徐々に低くなる第2のテーパ面を有する請求項9に記載のアンテナ共用器。
  11. 前記第1の圧電基板に対する前記第1のテーパ面のなす角は、前記第2の圧電基板に対する前記第2のテーパ面のなす角より大きい請求項10に記載のアンテナ共用器。
  12. 前記第2の高低差はゼロに設定される請求項1に記載のアンテナ共用器。
  13. 送信フィルタと受信フィルタとを有するアンテナ共用器であって、
    前記送信フィルタは、
    圧電基板と、
    前記圧電基板の上方に形成されたIDT電極と、
    記IDT電極を覆うように前記圧電基板の上方に形成された誘電膜とを有し、
    前記送信フィルタは、
    入力端子とアンテナ端子との間に接続されて前記IDT電極により構成された複数の直列共振器と、前記複数の直列共振器とグランド端子との間に接続されて前記IDT電極により構成された並列共振器とを有するラダー型弾性波共振器であって、
    前記複数の直列共振器のうち前記入力端子に最も近い直列共振器の上方における前記誘電膜の上面における前記圧電基板の上面からの第1の最高部と第1の最低部との第1の高低差は、他の直列共振器の上方における前記誘電膜の上面における前記圧電基板の上面からの第の最高部と第の最低部との第2の高低差より大きく、
    前記第1の最高部と前記第2の最高部とが同一平面に存在するように構成されるアンテナ共用器。
  14. 送信フィルタと受信フィルタとを有するアンテナ共用器であって、
    前記送信フィルタは、
    圧電基板と、
    前記圧電基板の上方に形成されたIDT電極と、
    記IDT電極を覆うように前記圧電基板の上方に形成された誘電膜とを有し、
    前記送信フィルタは、
    入力端子とアンテナ端子との間に接続されて前記IDT電極により構成された少なくとも一つの直列共振器と、前記少なくとも一つの直列共振器とグランド端子との間に接続されて前記IDT電極により構成された複数の並列共振器とを有するラダー型弾性波共振器であって、
    前記複数の並列共振器のうち前記入力端子に最も近い並列共振器の上方における前記誘電膜の上面における前記圧電基板の上面からの第1の最高部と第1の最低部との第1の高低差は、他の並列共振器の上方における前記誘電膜の上面における前記圧電基板の上面からの第の最高部と第の最低部との第2の高低差より大きく、
    前記第1の最高部と前記第2の最高部とが同一平面に存在するように構成されるアンテナ共用器。
  15. 前記第1の高低差及び前記第2の高低差は溝として形成される請求項13又は14に記載のアンテナ共用器。
  16. 請求項1、求項13、又は請求項14に記載のアンテナ共用器と、
    前記アンテナ共用器に接続された再生装置とを備えた電子機器。
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