JP5888891B2 - Substrate transfer device - Google Patents

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Description

本発明は、基板をステージから浮上させて搬送する基板搬送装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate transfer apparatus that transfers a substrate by levitating it from a stage.

従来より、例えばフラットパネルディスプレイ(FPD)のフォトリソグラフィの技術分野では、基板に所定処理を行う基板処理装置から次工程における基板処理装置への基板の搬送に基板搬送装置が使用されている。中でも浮上基板搬送装置は、ロボットハンドなどによる搬送装置に比べて基板の姿勢変化の動作がないため、タクトタイムを短縮できるという利点を有している。   2. Description of the Related Art Conventionally, in the technical field of flat panel display (FPD) photolithography, for example, a substrate transfer apparatus is used to transfer a substrate from a substrate processing apparatus that performs a predetermined process to a substrate to a substrate processing apparatus in the next process. Above all, the floating substrate transfer device has an advantage that the tact time can be shortened because there is no movement of the posture of the substrate as compared with a transfer device using a robot hand or the like.

一般に浮上基板搬送装置では、ステージからエアを噴出させて基板とステージ表面との間に空気層を形成することにより僅かに基板を浮上させ、浮上させた基板を所定の方向に導く基板ガイド(搬送部材)が備えられている。この基板ガイドは、基板に当接することで浮上した基板の動きを拘束するものであり、基板ガイドが基板に当接した状態で搬送動作を行うことにより、基板を所定の方向に導く(搬送する)ことができるようになっている。   In general, a floating substrate transport apparatus ejects air from a stage to form an air layer between the substrate and the surface of the stage to slightly lift the substrate and guide the floated substrate in a predetermined direction (transport) Member). This substrate guide restrains the movement of the substrate that has floated by contacting the substrate, and guides the substrate in a predetermined direction (conveys it) by performing a transport operation while the substrate guide is in contact with the substrate. )

例えば、下記特許文献1では、ステージの表面から突出するローラ(搬送部材)を設け、このローラに基板の裏面を当接させ、その状態でローラを回転させることで基板を搬送する構成が記載されている。ところが、基板の裏面にローラを当接させると、基板の表面に塗布された塗布膜の乾燥状態がローラに当接する部分と当接していない部分とで異なるため、乾燥ムラの原因になる虞がある。そのため、下記特許文献1の図10に示されるように、基板ガイドとして、ステージの表面と垂直をなす方向に回転軸を持つガイドローラを搬送方向に複数備え、このガイドローラに基板の側面を当接させ、その状態でガイドローラを回転させることにより基板を搬送する構成により乾燥ムラを抑える構成も記載されている。   For example, Patent Document 1 below describes a configuration in which a roller (conveying member) that protrudes from the surface of a stage is provided, the back surface of the substrate is brought into contact with this roller, and the substrate is conveyed by rotating the roller in that state. ing. However, when the roller is brought into contact with the back surface of the substrate, the drying state of the coating film applied to the surface of the substrate is different between the portion that is in contact with the roller and the portion that is not in contact with the roller. is there. For this reason, as shown in FIG. 10 of Patent Document 1 below, a plurality of guide rollers having a rotation axis in the direction perpendicular to the surface of the stage are provided as substrate guides in the transport direction, and the side surfaces of the substrate are applied to the guide rollers. A configuration is also described in which drying unevenness is suppressed by a configuration in which the substrate is transported by contacting and rotating the guide roller in that state.

特開2008−166359号公報JP 2008-166359 A

しかし、上記の基板搬送装置(基板搬送装置)では、複数のガイドローラに基板の側面を当接させる場合でも乾燥ムラを抑えることができないという問題があった。すなわち、特許文献1に記載の基板搬送装置では、基板の側面をガイドローラで拘束させるため、基板の一部をステージからはみ出した状態で搬送される。すなわち、ステージ幅が基板の寸法よりも小さく設定されている。この状態では、搬送中の基板に形成された塗布膜は、基板がステージ上に位置する部分とステージからはみ出した部分とで乾燥状態が異なるため、塗布膜に乾燥ムラが形成される虞があるという問題があった。   However, the substrate transport apparatus (substrate transport apparatus) has a problem that uneven drying cannot be suppressed even when the side surfaces of the substrate are brought into contact with a plurality of guide rollers. That is, in the substrate transport apparatus described in Patent Document 1, the side surface of the substrate is restrained by the guide roller, so that the substrate is transported with a part of the substrate protruding from the stage. That is, the stage width is set smaller than the dimension of the substrate. In this state, the coating film formed on the substrate being transferred has a dry state that differs between the portion where the substrate is located on the stage and the portion where the substrate protrudes from the stage. There was a problem.

ここで、基板全面の乾燥状態を均一にするために、基板全面がステージ表面に対向するようにステージ幅を基板の寸法よりも大きく設定し、ガイドローラをステージの表面にはみ出させて基板の側面に当接する構成にすることも考えられる。しかし、一般にステージの表面は、長手方向に亘って平面度誤差を有している場合があり、また、ガイドローラにおける配列の真直度が誤差を有している場合がある。したがって、これら装置の製造上及び組付上の誤差が大きい場合には、ガイドローラとステージの表面との微小隙間を有効に保つことができず、ガイドローラとステージの表面とが接触することにより、パーティクルが発生してしまうという問題があった。   Here, in order to make the dry state of the entire surface of the substrate uniform, the stage width is set larger than the size of the substrate so that the entire surface of the substrate faces the stage surface, and the guide roller protrudes from the surface of the stage, thereby It is also conceivable to adopt a configuration that abuts against. However, in general, the surface of the stage may have a flatness error in the longitudinal direction, and the straightness of the arrangement in the guide roller may have an error. Therefore, when the error in manufacturing and assembling these devices is large, the minute gap between the guide roller and the surface of the stage cannot be effectively maintained, and the guide roller and the surface of the stage are in contact with each other. There was a problem that particles were generated.

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、基板上の塗布膜に乾燥ムラが生じるのを抑えて基板を搬送することができ、また、装置の製造上及び組付上の誤差が大きい場合でもパーティクルの発生を抑えることができる基板搬送装置を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above problems, and can transport a substrate while suppressing the occurrence of uneven drying in a coating film on the substrate. An object of the present invention is to provide a substrate transfer device that can suppress the generation of particles even when the error is large.

上記課題を解決するために本発明の基板搬送装置は、ステージの表面から浮上させた基板を基板ガイドでガイドしつつ搬送する基板搬送装置であって、前記基板ガイドは、基板の側面に当接することで基板を拘束するとともに、ステージの表面と垂直な方向に変位可能な基板ガイド本体と、前記基板ガイド本体をステージの表面から浮上させる浮上ユニットと、前記基板ガイド本体をステージの表面側に付勢させる付勢手段と、を備えており、前記基板ガイド本体は基板の側面に当接する基板当接部を有しており、この基板当接部の高さ位置が、前記浮上ユニットと前記付勢手段により、ステージの表面から浮上する基板の高さ位置に維持されることを特徴としている。   In order to solve the above problems, a substrate transport apparatus according to the present invention is a substrate transport apparatus that transports a substrate levitated from the surface of a stage while guiding the substrate with a substrate guide, and the substrate guide contacts a side surface of the substrate. A substrate guide body that can be displaced in a direction perpendicular to the surface of the stage, a levitation unit that levitates the substrate guide body from the surface of the stage, and the substrate guide body that is attached to the surface side of the stage. Biasing means for biasing, and the substrate guide body has a substrate abutting portion that abuts against a side surface of the substrate, and the height position of the substrate abutting portion is determined by the height of the floating unit and the abutting portion. It is characterized in that it is maintained at the height position of the substrate floating from the surface of the stage by the biasing means.

上記基板搬送装置によれば、基板の側面に当接して基板を拘束するため、基板上の塗布膜に乾燥ムラが生じるのを抑えて基板を搬送することができる。また、基板ガイド本体の基板当接部の高さ位置が、前記浮上ユニットと前記付勢手段とによって、ステージの表面から浮上する基板の高さ位置に維持されるため、ステージの平面度誤差等、装置の製造上及び組付上の誤差が生じている場合であっても、パーティクルの発生を抑えることができる。具体的には、基板ガイド本体は、浮上ユニットによってステージの表面から浮上力を受け、また、付勢手段によってステージの表面側に押圧される。すなわち、基板ガイド本体は、浮上ユニットの浮上力と、付勢手段の付勢力が釣り合った位置に保持される。そして、基板を基板ガイドに拘束させつつ基板ガイドを走行させて基板をステージの搬送方向に搬送させる最中に、ステージの平面度に乱れが生じた部分を走行しても、基板ガイド本体は、浮上力を受けつつ付勢手段によりステージの表面側に押圧されるため、基板ガイド本体はステージの表面に追従するように走行し基板を搬送させることができる。したがって、装置の製造上及び組付上の誤差が生じている場合であっても、基板ガイド本体の浮上量が一定に保たれることにより基板ガイド本体がステージの表面に接触することがないため、基板ガイドがステージの表面に接触することにより生じるパーティクルの発生を抑えることができる。   According to the substrate transporting device, the substrate is restrained by contacting the side surface of the substrate, so that the substrate can be transported while suppressing the occurrence of uneven drying on the coating film on the substrate. Further, since the height position of the substrate contact portion of the substrate guide body is maintained at the height position of the substrate that floats from the surface of the stage by the floating unit and the urging means, the flatness error of the stage, etc. Even when there is an error in manufacturing and assembling the apparatus, the generation of particles can be suppressed. Specifically, the substrate guide body receives a levitation force from the surface of the stage by the levitation unit, and is pressed to the surface side of the stage by the urging means. That is, the substrate guide body is held at a position where the levitation force of the levitation unit and the urging force of the urging means are balanced. And while traveling the substrate guide while restraining the substrate to the substrate guide and transporting the substrate in the transport direction of the stage, even if traveling the part where the flatness of the stage is disturbed, the substrate guide body is Since it is pressed against the surface of the stage by the urging means while receiving the levitation force, the substrate guide body can travel to follow the surface of the stage and transport the substrate. Therefore, even if there is an error in manufacturing and assembling the apparatus, the substrate guide body does not contact the surface of the stage by keeping the flying height of the substrate guide body constant. The generation of particles caused by the substrate guide coming into contact with the surface of the stage can be suppressed.

具体的な前記基板ガイドの実施態様としては、前記基板ガイドは、前記ステージの表面と対向する位置にエアパッドを備えており、前記浮上ユニットは、前記エアパッドにエアが供給されることにより、前記エアパッドから前記ステージの表面に向かってエアを噴出させて前記基板ガイド本体をステージ表面から浮上させる構成とすることができる。   As a specific embodiment of the substrate guide, the substrate guide includes an air pad at a position facing the surface of the stage, and the levitation unit is configured to supply the air pad with the air pad. The substrate guide body can be lifted from the stage surface by ejecting air from the stage toward the surface of the stage.

また、前記浮上ユニットのエアパッドは、前記基板ガイド本体の基板当接部とは別体で形成されている構成とすることができる。   The air pad of the floating unit may be formed separately from the substrate contact portion of the substrate guide body.

この構成によれば、エアパッドに基板が直接当接しない構成にできるため、基板が当接することによりエアパッドの取付位置が変化してしまうのを抑えることができる。   According to this configuration, since the substrate does not directly contact the air pad, it is possible to prevent the mounting position of the air pad from changing due to the substrate contacting.

また、前記浮上ユニットのエアパッドは、前記ステージにおける基板搬送領域から外れる位置に設けられる構成にしてもよい。   Further, the air pad of the levitation unit may be provided at a position away from the substrate transfer area on the stage.

この構成によれば、ステージにおける基板が搬送される基板搬送領域に、エアパッドから噴出されるエアが直接当たるのを防止することができるため、ステージにおける基板搬送領域の温度変化を抑えることができる。これにより、基板上に形成された塗布膜の乾燥ムラを抑えることができる。   According to this configuration, since it is possible to prevent the air ejected from the air pad from directly hitting the substrate transport region where the substrate is transported on the stage, it is possible to suppress a temperature change in the substrate transport region on the stage. Thereby, the drying nonuniformity of the coating film formed on the board | substrate can be suppressed.

さらに別の具体的な前記基板ガイドの実施態様としては、前記基板ガイドは、ステージの表面と対向する前記基板ガイド本体の底面部にエアパッドを備えており、前記浮上ユニットは、前記エアパッドにエアが供給されることにより、前記エアパッドからエアを噴出させて前記基板ガイド本体をステージ表面から浮上させる構成とすることができる。   As another specific embodiment of the substrate guide, the substrate guide includes an air pad on a bottom surface portion of the substrate guide body facing the surface of a stage, and the levitation unit has an air pad on the air pad. By being supplied, air can be ejected from the air pad to float the substrate guide body from the stage surface.

また、前記基板ガイドは、前記基板ガイド本体を支持するガイド支持部をさらに備え、このガイド支持部により前記基板ガイド本体がステージの表面に対して接離する方向に変位可能に支持されており、前記ガイド支持部と基板ガイド本体との間にバネ部材が収縮した状態で設けられ、このバネ部材により基板ガイド本体がステージの表面側に付勢される構成にしてもよい。   The substrate guide further includes a guide support portion that supports the substrate guide body, and is supported by the guide support portion so as to be displaceable in a direction in which the substrate guide body is in contact with and away from the surface of the stage. A spring member may be provided in a contracted state between the guide support portion and the substrate guide body, and the substrate guide body may be urged toward the surface side of the stage by the spring member.

この構成によれば、前記バネ部材の付勢力と前記浮上ユニットの浮上力とが釣り合うことにより、基板ガイド本体の底面部とステージの表面との間に所定の隙間が形成され、前記基板ガイド本体の基板当接部がステージの表面から浮上する基板の高さ位置に維持することができる。   According to this configuration, the urging force of the spring member and the levitation force of the levitation unit are balanced, whereby a predetermined gap is formed between the bottom surface portion of the substrate guide body and the surface of the stage, and the substrate guide body The substrate contact portion of the substrate can be maintained at the height position of the substrate that floats from the surface of the stage.

また、前記ガイド支持部には、前記基板ガイド本体が支持される近傍に吸引部が形成され、この吸引部は、前記基板当接部側に開口している構成にしてもよい。   Further, the guide support portion may be configured such that a suction portion is formed in the vicinity where the substrate guide main body is supported, and the suction portion is open to the substrate contact portion side.

この構成によれば、前記基板ガイド本体が前記ガイド支持部に対して相対的に変位する際に、その双方の接触状態によりパーティクルが発生する可能性がある。仮にパーティクルが発生した場合であっても、パーティクルが吸引部の開口から吸引されることにより、基板当接部側にパーティクルが拡散するのを抑えることができる。   According to this configuration, when the substrate guide body is displaced relative to the guide support portion, there is a possibility that particles are generated due to the contact state between the two. Even if particles are generated, the particles can be prevented from diffusing to the substrate contact portion side by being sucked from the opening of the suction portion.

また、前記ガイド支持部は、前記基板当接部側に延びるカバーを備え、このカバーは、前記吸引部の開口よりも外側に配置され、基板ガイド本体の全周を覆うように設けられており、前記カバーと前記基板当接部との間には隙間が形成されている構成としてもよい。   The guide support portion includes a cover extending toward the substrate contact portion, and the cover is disposed outside the opening of the suction portion and is provided to cover the entire circumference of the substrate guide body. In addition, a gap may be formed between the cover and the substrate contact portion.

この構成によれば、吸引部の開口より吸引力が発生した場合に、前記カバーと基板当接部との間に吸引部の開口に向かう吸引力が発生するため、前記ガイド支持部と前記基板ガイド本体との接触により発生するパーティクルが基板の表面側に落下するのを抑えることができる。   According to this configuration, when a suction force is generated from the opening of the suction portion, a suction force toward the opening of the suction portion is generated between the cover and the substrate contact portion. Therefore, the guide support portion and the substrate Particles generated by contact with the guide body can be prevented from falling to the surface side of the substrate.

本発明の基板搬送装置によれば、基板上の塗布膜に乾燥ムラが生じるのを抑えて基板を搬送することができ、また、装置の製造上及び組付上の誤差が大きい場合でもパーティクルの発生を抑えることができる。   According to the substrate transport device of the present invention, it is possible to transport the substrate while suppressing the occurrence of drying unevenness in the coating film on the substrate, and even if the error in manufacturing and assembling the device is large, Occurrence can be suppressed.

本発明の一実施形態における基板搬送装置を示す上面図である。It is a top view which shows the board | substrate conveyance apparatus in one Embodiment of this invention. 上記基板搬送装置の1ユニットを拡大した上面図である。It is the top view to which 1 unit of the said board | substrate conveyance apparatus was expanded. 上記基板搬送装置の1ユニットの側面図である。It is a side view of 1 unit of the above-mentioned substrate conveyance device. 上記基板搬送装置の1ユニットの正面図である。It is a front view of 1 unit of the above-mentioned substrate conveyance device. 上記基板搬送装置の基板ガイドにより基板を隣接するステージに搬送した状態を示す上面図である。It is a top view which shows the state which conveyed the board | substrate to the adjacent stage by the board | substrate guide of the said board | substrate conveyance apparatus. 上記基板ガイドが退避し、位置決めピンが突出状態である状態を示す上面図である。It is a top view which shows the state which the said board | substrate guide retract | saves and a positioning pin is a protrusion state. 上記基板ガイドが元の位置に復帰した状態を示す上面図である。It is a top view which shows the state which the said board | substrate guide returned to the original position. 上記基板ガイドを示す図であり、(a)は、その側面図、(b)は、その断面図である。It is a figure which shows the said board | substrate guide, (a) is the side view, (b) is the sectional drawing. 上記基板搬送装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the said board | substrate conveyance apparatus. 他の実施形態における基板ガイドの上面図である。It is a top view of the board | substrate guide in other embodiment. 図10のA−A断面図である。It is AA sectional drawing of FIG. 他の実施形態における基板ガイドの上面図である。It is a top view of the board | substrate guide in other embodiment. 他の実施形態における基板当接部に基板が保持された状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the board | substrate was hold | maintained at the board | substrate contact part in other embodiment.

本発明の基板搬送装置に係る実施の形態を図面を用いて説明する。
[実施例1]
図1は、基板搬送装置の一実施形態を示す上面図であり、図2は、基板搬送装置の1ユニットを拡大した上面図、図3は、基板搬送装置の1ユニットの側面図、図4は、基板搬送装置の1ユニットの正面図である。
Embodiments of the substrate transfer apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.
[Example 1]
FIG. 1 is a top view showing an embodiment of a substrate transfer apparatus, FIG. 2 is an enlarged top view of one unit of the substrate transfer apparatus, FIG. 3 is a side view of one unit of the substrate transfer apparatus, and FIG. These are the front views of 1 unit of a substrate conveyance apparatus.

図1〜図4において、基板搬送装置1は、基板2を浮上させた状態で搬送するためのものであり、上流側の基板処理装置1から次工程の下流側の基板処理装置に基板2を搬送するものである。例えば、レジスト液などの塗布液を吐出する塗布装置によって基板2上に塗布膜を形成した後、塗布膜を乾燥させる乾燥装置に基板2を搬送する際、塗布装置から供給された基板2を浮上させた状態でそのまま向きを変えることなく乾燥装置に搬送することができる。   1 to 4, a substrate transport apparatus 1 is for transporting a substrate 2 in a levitated state. The substrate 2 is transferred from an upstream substrate processing apparatus 1 to a downstream substrate processing apparatus in the next process. It is to be transported. For example, after a coating film is formed on the substrate 2 by a coating device that discharges a coating solution such as a resist solution, the substrate 2 supplied from the coating device is floated when the substrate 2 is transported to a drying device that dries the coating film. In this state, it can be conveyed to the drying device without changing the direction.

なお、以下の説明では、基板2が搬送される搬送方向をX軸方向とし、これと水平面上で直交する方向をY軸方向、X軸方向及びY軸方向の双方に直交する方向をZ軸方向として説明を進めることとする。   In the following description, the transport direction in which the substrate 2 is transported is the X-axis direction, the direction orthogonal to the horizontal plane is the Y-axis direction, and the direction orthogonal to both the X-axis direction and the Y-axis direction is the Z-axis direction. The explanation will proceed as a direction.

基板搬送装置1は、ステージユニット10と搬送ユニット20とを有しており、ステージユニット10のY軸方向両側に搬送ユニット20が配置されている。ステージユニット10は、基板2を載置するものであり、載置された基板2を浮上した状態に保つことができる。また、搬送ユニット20は浮上した基板2を拘束しつつ搬送方向(X軸方向)に搬送するものである。すなわち、上流側からステージユニット10に供給された基板2は、ステージ12上に浮上されるとともに、搬送ユニット20に設けられた基板2ガイドで拘束される。そして、基板2ガイドがX軸方向に走行することにより、基板2がX軸方向に搬送される。   The substrate transfer apparatus 1 includes a stage unit 10 and a transfer unit 20, and the transfer units 20 are disposed on both sides of the stage unit 10 in the Y-axis direction. The stage unit 10 mounts the substrate 2 and can keep the mounted substrate 2 in a floating state. Moreover, the conveyance unit 20 conveys the board | substrate 2 which floated in the conveyance direction (X-axis direction), restraining. That is, the substrate 2 supplied to the stage unit 10 from the upstream side is floated on the stage 12 and is restrained by the substrate 2 guide provided in the transport unit 20. The substrate 2 guide travels in the X-axis direction, so that the substrate 2 is transported in the X-axis direction.

ステージユニット10は、図3,図4に示すように、基台11に載置され平坦状に形成されたステージ12と、このステージ12の表面から基板2を浮上させる浮上手段13とを有している。ステージ12は、矩形状の金属製平板状部材であり、搬送方向に沿って複数配置されている。図1の例では4枚のステージ12が配置されている。また、ステージ12は、供給される基板2と対向するステージ面12a(単にステージの表面12aともいう)を有しており、全体が平坦状に形成されている。本実施形態では、ステージ面12aが基板2よりも大きいサイズに形成されており、供給された基板2全面が、はみ出すことなく、このステージ面12aに対向するようになっている。これにより、基板2全体がステージ面12aと対面するため乾燥環境が一定になり、基板2上に形成された塗布膜が搬送中に乾燥する際、乾燥環境不均一による乾燥ムラを抑えることができる。   As shown in FIGS. 3 and 4, the stage unit 10 includes a stage 12 that is placed on the base 11 and formed flat, and a floating means 13 that floats the substrate 2 from the surface of the stage 12. ing. The stage 12 is a rectangular metal flat plate-like member, and a plurality of stages 12 are arranged along the transport direction. In the example of FIG. 1, four stages 12 are arranged. The stage 12 has a stage surface 12a (also simply referred to as a surface 12a of the stage) facing the substrate 2 to be supplied, and the whole is formed in a flat shape. In the present embodiment, the stage surface 12a is formed in a size larger than the substrate 2, and the entire surface of the supplied substrate 2 is opposed to the stage surface 12a without protruding. Thereby, since the whole substrate 2 faces the stage surface 12a, the drying environment becomes constant, and when the coating film formed on the substrate 2 dries during transportation, drying unevenness due to non-uniform drying environment can be suppressed. .

また、ステージ12には、位置決めピン14が設けられており、この位置決めピン14により、搬送されてきた基板2が所定の位置に位置決めされる。この位置決めピン14は、1つのステージ12に4本設けられており、2本ずつが1つの対角線上に配置されている。具体的には、基板2がステージ12上に供給された際に、基板2の対角線における2つのコーナー部分を挟む位置に配置されている。すなわち、位置決めピン14は、搬送される基板2のサイズに応じて基板2と位置決めピン14とが僅かな隙間を形成する位置に配置されている。また、この位置決めピン14は、昇降動作できるようになっており、収容状態では、位置決めピン14全体がステージ12内に収容され、突出状態では、位置決めピン14がステージ12表面上に突出するようになっている。したがって、位置決めピン14が収容状態で基板2が供給され、基板2がステージ面12a上に供給されると、位置決めピン14が突出状態になり、基板2の側面2aが位置決めピン14に接触することにより、基板2が位置決めされる。すなわち、基板2がステージ12上に供給されると基板2が浮上しつつ自由に移動できる状態になるが、位置決めピン14が基板2の側面2aに接触することにより、基板2の移動が拘束され、基板2がステージ12上の所定位置(位置決め範囲)に位置決めされる。   The stage 12 is provided with positioning pins 14, and the substrate 2 that has been conveyed is positioned at a predetermined position by the positioning pins 14. Four positioning pins 14 are provided on one stage 12, and two of the positioning pins 14 are arranged on one diagonal line. Specifically, when the substrate 2 is supplied onto the stage 12, the substrate 2 is disposed at a position sandwiching two corner portions on the diagonal line of the substrate 2. That is, the positioning pins 14 are arranged at positions where the substrate 2 and the positioning pins 14 form a slight gap according to the size of the substrate 2 to be conveyed. Further, the positioning pin 14 can be moved up and down. In the accommodated state, the entire positioning pin 14 is accommodated in the stage 12, and in the protruding state, the positioning pin 14 projects on the surface of the stage 12. It has become. Therefore, when the substrate 2 is supplied with the positioning pins 14 in the accommodated state and the substrate 2 is supplied onto the stage surface 12a, the positioning pins 14 are in a protruding state, and the side surface 2a of the substrate 2 contacts the positioning pins 14. Thus, the substrate 2 is positioned. That is, when the substrate 2 is supplied onto the stage 12, the substrate 2 floats and can move freely, but when the positioning pins 14 come into contact with the side surface 2a of the substrate 2, the movement of the substrate 2 is restricted. The substrate 2 is positioned at a predetermined position (positioning range) on the stage 12.

また、浮上手段13は、供給された基板2をステージ面12aから浮上させるものである。本実施形態では、図3、図4に示すように、ステージ12の裏面(ステージ面12aの裏面)に振動子13aが設けられており、この振動子13aにより特定の周波数による振動が供給されることにより、ステージ12上の基板2がステージ面12aから浮上できるようになっている。具体的には、例えば超音波で振動子13aを振動させると、その振動が伝達され、ステージ12自身が超音波で振動する。これにより、ステージ面12aと基板2との間に僅かな空気層が形成され基板2がステージ面12aから浮上する。すなわち、振動子13aを特定周波数で振動させると、基板2がステージ面12aから所定の高さ位置に浮上した状態でステージ12上に保持される。   The levitation means 13 levitates the supplied substrate 2 from the stage surface 12a. In the present embodiment, as shown in FIGS. 3 and 4, a vibrator 13a is provided on the back surface of the stage 12 (the back surface of the stage surface 12a), and vibration with a specific frequency is supplied by the vibrator 13a. Thus, the substrate 2 on the stage 12 can float from the stage surface 12a. Specifically, for example, when the vibrator 13a is vibrated with ultrasonic waves, the vibrations are transmitted, and the stage 12 itself vibrates with ultrasonic waves. Thereby, a slight air layer is formed between the stage surface 12a and the substrate 2, and the substrate 2 floats from the stage surface 12a. That is, when the vibrator 13a is vibrated at a specific frequency, the substrate 2 is held on the stage 12 in a state where the substrate 2 floats from the stage surface 12a to a predetermined height position.

また、搬送ユニット20は、基板ガイド30を介してステージ12上の基板2を搬送方向に搬送するものである。搬送ユニット20は、一方向に延びる基台11aを有しており、ステージ12の搬送方向に沿ってステージ12を挟むように設置されている。また、搬送ユニット20は、基板ガイド30を有しており、基台11a上の搬送駆動部40により複数の基板ガイド30が移動することにより基板2を搬送できるようになっている。すなわち、基板ガイド30は各ステージ12ごとに対応して設けられており、それぞれの基板ガイド30は、1つのステージ12から次の下流側のステージ12まで移動し、その後、元のステージ12まで復帰する動作を行うことができる。各ステージ12ごとの基板ガイド30は、このような動作を同時に行うことにより、基板2を搬送方向に搬送することができるようになっている。   The transport unit 20 transports the substrate 2 on the stage 12 via the substrate guide 30 in the transport direction. The transport unit 20 has a base 11 a extending in one direction, and is installed so as to sandwich the stage 12 along the transport direction of the stage 12. Further, the transport unit 20 includes a substrate guide 30, and the substrate 2 can be transported when the plurality of substrate guides 30 are moved by the transport driving unit 40 on the base 11 a. That is, the substrate guide 30 is provided corresponding to each stage 12, and each substrate guide 30 moves from one stage 12 to the next downstream stage 12 and then returns to the original stage 12. Can be performed. The substrate guide 30 for each stage 12 can carry the substrate 2 in the carrying direction by performing such an operation simultaneously.

具体的には、1つのステージ12に供給されると基板2が基板ガイド30により拘束される(図1の状態)。そして、基板ガイド30の移動により次の下流側のステージ12まで搬送され(図5の状態)、下流側のステージ12に載置される(図6の状態)。そして、下流側の基板ガイド30は上流側の元のステージ12まで復帰し(図7の状態)、上流側の基板ガイド30により搬送された基板2を新たに拘束する。これを各ステージ12で繰り返し行われることにより、基板2が搬送方向に搬送される。すなわち、基板2は複数の基板ガイド30のリレー方式によって搬送されるようになっている。   Specifically, when supplied to one stage 12, the substrate 2 is restrained by the substrate guide 30 (state shown in FIG. 1). Then, the substrate guide 30 is moved to the next downstream stage 12 (state shown in FIG. 5) and placed on the downstream stage 12 (state shown in FIG. 6). Then, the downstream side substrate guide 30 returns to the original stage 12 on the upstream side (the state of FIG. 7), and the substrate 2 conveyed by the upstream side substrate guide 30 is newly restrained. By repeating this on each stage 12, the substrate 2 is transported in the transport direction. That is, the substrate 2 is transported by a relay system of a plurality of substrate guides 30.

搬送駆動部40は、一方向に延びるレール41と、基板ガイド30を搭載する搬送本体部42と、搬送本体部42を駆動させるリニアモータ43とを有している。レール41は、平滑面を有する平板状部材であり、平滑面が上向きになるようにそれぞれの基台11上に設けられている。すなわち、レール41は、図2,図4に示すように、ステージ12からそれぞれ等距離の位置に、ステージ12の搬送方向に沿ってステージ面12aを挟むように設けられている。また、それぞれのレール41の平滑面の高さ位置は、それぞれ共通の高さ位置に設定されている。   The transport driving unit 40 includes a rail 41 extending in one direction, a transport main body 42 on which the substrate guide 30 is mounted, and a linear motor 43 that drives the transport main body 42. The rail 41 is a flat plate-like member having a smooth surface, and is provided on each base 11 so that the smooth surface faces upward. That is, as shown in FIGS. 2 and 4, the rail 41 is provided at a position equidistant from the stage 12 so as to sandwich the stage surface 12 a along the conveying direction of the stage 12. Moreover, the height position of the smooth surface of each rail 41 is set to a common height position.

また、レール41の平滑面上には、LMガイド44とリニアモータ43が設けられている。具体的には、平滑面のY軸方向中央位置にリニアモータ43の固定子(マグネットプレート)がX軸方向に延びるように設けられており、この固定子の両側にLMガイド44がX軸方向に延びるように設けられている。そして、このLMガイド44には、搬送本体部42が連結されており、搬送本体部42に設けられた可動子が固定子に接続されている。したがって、リニアモータ43を駆動させることにより、可動子が固定子に沿って移動すると、搬送本体部42がレール41に沿って移動できるようになっている。すなわち、リニアモータ43を駆動制御することにより、搬送本体部42がX軸方向に沿って移動し、任意の位置で停止できるようになっている。   An LM guide 44 and a linear motor 43 are provided on the smooth surface of the rail 41. Specifically, a stator (magnet plate) of the linear motor 43 extends in the X-axis direction at the center of the smooth surface in the Y-axis direction, and LM guides 44 are provided on both sides of the stator in the X-axis direction. It is provided so that it may extend. The LM guide 44 is connected to a transport main body 42, and a mover provided on the transport main body 42 is connected to a stator. Therefore, by driving the linear motor 43, the transport main body 42 can move along the rail 41 when the mover moves along the stator. That is, by controlling the driving of the linear motor 43, the transport main body 42 moves along the X-axis direction and can be stopped at an arbitrary position.

搬送本体部42は、基板ガイド30を搭載する搭載部42aとこの搭載部42aから延びる脚部42bとを有しており、断面略コの字状に形成されている。この脚部42bにはLMガイド44が連結されており、搭載部42aが上向きになるように配置されている。そして、この搭載部42aには基板ガイド30が1つ設けられており、基板ガイド30がそれぞれステージ12の対角線上に配置されている。すなわち、位置決めピン14の存在する対角線と異なる対角線上に配置されている。そして、リニアモータ43を駆動制御すると、基板ガイド30が対角線上に存在する位置関係を維持したまま搬送本体部42が搬送方向に移動するようになっている。なお、図2の2点鎖線は、移動後の搬送本体部42及び基板ガイド30を示している。   The transport main body 42 includes a mounting portion 42a for mounting the substrate guide 30 and a leg portion 42b extending from the mounting portion 42a, and is formed in a substantially U-shaped cross section. An LM guide 44 is coupled to the leg portion 42b, and the mounting portion 42a is arranged to face upward. The mounting portion 42 a is provided with one substrate guide 30, and the substrate guides 30 are respectively arranged on the diagonal lines of the stage 12. That is, they are arranged on a diagonal line different from the diagonal line on which the positioning pins 14 exist. When the linear motor 43 is driven and controlled, the transport main body 42 moves in the transport direction while maintaining the positional relationship in which the substrate guide 30 exists on a diagonal line. 2 indicates the transport main body 42 and the substrate guide 30 after the movement.

基板ガイド30は、図8に示すように、基板2を拘束する基板ガイド本体31と、この基板ガイド本体31を支持するガイド支持部32とを有しており、さらに、基板ガイド本体31をステージ面12aから浮上させる浮上ユニット50と、基板ガイド本体31をステージ面12a側に付勢させる付勢手段60とを有しており、浮上ユニット50と付勢手段60により、基板ガイド本体31がステージ面12aから浮上できるようになっている。   As shown in FIG. 8, the substrate guide 30 includes a substrate guide main body 31 that restrains the substrate 2 and a guide support portion 32 that supports the substrate guide main body 31, and the substrate guide main body 31 is placed on the stage. The levitation unit 50 floats from the surface 12a and the urging means 60 for urging the substrate guide main body 31 toward the stage surface 12a. The levitation unit 50 and the urging means 60 allow the substrate guide main body 31 to move to the stage. It can float from the surface 12a.

ガイド支持部32は、平板状のアーム部32aを有しており、その先端部分に基板ガイド本体31が設けられている。このアーム部32aは、搬送本体部42の搭載部42a(図4参照)に昇降機構を介して設けられており、搭載部42aに対してZ方向に昇降動作できるようになっている。具体的には、基板ガイド本体31が基板2を拘束する位置から、基板ガイド本体31が突出状態の位置決めピン14に接触しない程度まで上昇することができるようになっている。すなわち、図5に示すように、基板2を次の下流側のステージ12まで搬送した後、図6に示すように、基板2が突出状態の位置決めピン14で拘束される。なお、図1、図5〜図7において、位置決めピン14が黒色である場合は突出状態を示し、白色である場合は収容状態を示している。そして、基板ガイド本体31を上昇させた後、搬送本体部42を走行させることにより、この突出状態の位置決めピン14の上方を超えて基板ガイド30が元のステージ12まで戻ることができる(図7の状態)。   The guide support portion 32 has a flat arm portion 32a, and a substrate guide main body 31 is provided at a tip portion thereof. The arm portion 32a is provided on the mounting portion 42a (see FIG. 4) of the transport main body portion 42 via an elevating mechanism, and can be moved up and down in the Z direction with respect to the mounting portion 42a. Specifically, the board guide body 31 can be raised from the position where the board guide body 31 restrains the board 2 to the extent that the board guide body 31 does not contact the protruding positioning pins 14. That is, as shown in FIG. 5, after the substrate 2 is transported to the next downstream stage 12, the substrate 2 is restrained by the protruding positioning pins 14 as shown in FIG. 6. In FIGS. 1 and 5 to 7, when the positioning pin 14 is black, it indicates a protruding state, and when it is white, it indicates an accommodated state. Then, after the substrate guide body 31 is lifted, the substrate body 30 can return to the original stage 12 over the protruding positioning pins 14 by running the transport body 42 (FIG. 7). State).

また、ガイド支持部32は、進退機構を有しており、アーム部32aを基板2に対して進退動作できるようになっている。すなわち、基板2を基板ガイド本体31に拘束させる場合には、アーム部32aを基板2側に突出させ(図7→図1)、基板ガイド本体31が基板2に当接した状態で停止させる。そして、図5に示すように、基板2を次のステージ12に搬送した場合には、突出していたアーム部32aを基板2と反対側に移動させて退避状態にすることにより基板2を解放できるようになっている(図6の状態)。   Further, the guide support portion 32 has an advance / retreat mechanism so that the arm portion 32 a can be advanced / retracted with respect to the substrate 2. That is, when the substrate 2 is constrained to the substrate guide body 31, the arm portion 32a is protruded toward the substrate 2 (FIG. 7 → FIG. 1), and is stopped in a state where the substrate guide body 31 is in contact with the substrate 2. Then, as shown in FIG. 5, when the substrate 2 is transported to the next stage 12, the substrate 2 can be released by moving the protruding arm portion 32 a to the opposite side to the retracted state. (The state of FIG. 6).

なお、アーム部32aには、進退方向に伸縮可能なスプリングが設けられており、供給された基板2のコーナー部分の位置にずれがあっても、そのままアーム部32aを進出させて基板ガイド本体31を当接させると、スプリングがそのずれ量を吸収することにより、基板ガイド本体31を基板2のコーナー部分に確実に当接させることができるようになっている。   The arm portion 32a is provided with a spring that can expand and contract in the advancing and retreating direction. Even if the corner portion of the supplied substrate 2 is displaced, the arm portion 32a is advanced as it is, and the substrate guide main body 31 is moved. When the contact is made, the spring absorbs the shift amount, so that the substrate guide body 31 can be brought into contact with the corner portion of the substrate 2 with certainty.

基板ガイド本体31は、図8に示すように、ガイド支持部32のアーム部32aに支持されており、この基板ガイド本体31が基板2に当接することにより、基板2が拘束されるようになっている。具体的には、アーム部32aに2つの基板ガイド本体31が取付けられており(図2参照)、対角線上に配置されたこれら2つの基板ガイド本体31が基板2に接触することにより、基板2を拘束できるようになっている。この基板ガイド本体31は、ガイド軸部33と、このガイド軸部33のステージ面12a側に形成される基板当接部34とを有しており、基板当接部34が基板2の側面2aに当接することにより基板2を拘束することができる。   As shown in FIG. 8, the substrate guide body 31 is supported by the arm portion 32 a of the guide support portion 32, and the substrate 2 is restrained when the substrate guide body 31 comes into contact with the substrate 2. ing. Specifically, the two substrate guide bodies 31 are attached to the arm portion 32a (see FIG. 2), and the two substrate guide bodies 31 arranged on the diagonal line come into contact with the substrate 2 to contact the substrate 2. Can be restrained. The substrate guide body 31 includes a guide shaft portion 33 and a substrate contact portion 34 formed on the stage surface 12 a side of the guide shaft portion 33, and the substrate contact portion 34 is the side surface 2 a of the substrate 2. The board | substrate 2 can be restrained by contact | abutting to.

また、基板ガイド本体31は、ガイド支持部32にZ方向に変位可能に支持されている。具体的には、ガイド軸部33は円筒状に形成されており、このガイド軸部33がアーム部32aに形成された貫通孔にスライドブッシュ35を介して支持されている。これにより、基板ガイド本体31は、ガイド支持部32に対してZ方向に変位できるように支持されている。すなわち、基板ガイド本体31は、ステージ面12aに対してZ方向に変位することができる。   The substrate guide body 31 is supported by the guide support portion 32 so as to be displaceable in the Z direction. Specifically, the guide shaft portion 33 is formed in a cylindrical shape, and the guide shaft portion 33 is supported via a slide bush 35 in a through hole formed in the arm portion 32a. Thereby, the board | substrate guide main body 31 is supported so that it can displace to the Z direction with respect to the guide support part 32. FIG. That is, the substrate guide body 31 can be displaced in the Z direction with respect to the stage surface 12a.

基板当接部34は、基板2の側面2aに当接することで基板2を拘束するものである。この基板当接部34は、樹脂製の円筒状に形成されており、ガイド軸部33に比べて大径に形成されている。そして、ガイド支持部32のアーム部32aが基板2側に突出して基板ガイド本体31を基板2に当接させることにより、基板当接部34の外周面が基板2の側面2aに当接し基板2を拘束することができる。すなわち、対角線上に配置されたそれぞれの基板ガイド30の基板当接部34が基板2のコーナー部分における側面2aに僅かに圧接することにより、ステージ面12aに浮上する基板2の動きが拘束される。なお、本実施形態では、基板当接部34により小さな押圧により基板2を拘束するが、基板当接部34により基板2の側面2aに押圧を与えず僅かな隙間を形成できる程度に基板2の側面2aに当接する場合でも基板2を拘束することができる。すなわち、基板2を拘束するとは、ステージ面12aに浮上する基板2が自由に動くのを抑制した状態にして基板2を保持するという意である。   The substrate contact portion 34 restrains the substrate 2 by contacting the side surface 2 a of the substrate 2. The substrate contact portion 34 is formed in a cylindrical shape made of resin and has a larger diameter than the guide shaft portion 33. Then, the arm portion 32a of the guide support portion 32 protrudes toward the substrate 2 side to bring the substrate guide body 31 into contact with the substrate 2, so that the outer peripheral surface of the substrate contact portion 34 contacts the side surface 2a of the substrate 2 and the substrate 2. Can be restrained. That is, the substrate contact portions 34 of the respective substrate guides 30 arranged on the diagonal lines are slightly pressed against the side surface 2a at the corner portion of the substrate 2, thereby restraining the movement of the substrate 2 floating on the stage surface 12a. . In this embodiment, the substrate 2 is restrained by the substrate contact portion 34 with a small pressure, but the substrate contact portion 34 does not apply pressure to the side surface 2a of the substrate 2 so that a slight gap can be formed. Even when it contacts the side surface 2a, the substrate 2 can be restrained. That is, restraining the substrate 2 means that the substrate 2 is held in a state in which the substrate 2 floating on the stage surface 12a is restrained from freely moving.

また、浮上ユニット50は、基板ガイド本体31をステージ面12aから浮上させるものである。本実施形態の浮上ユニット50は、基板ガイド本体31の底面部36に設けられたエアパッド51と、このエアパッド51に連通するエア供給路52によって構成されている。このエア供給路52は、エアボンベ(不図示)に接続されており、バルブ(不図示)の開閉動作によってエア供給路52を通じてエアが供給されるようになっている。すなわち、エア供給路52に供給されたエアは、エアパッド51からステージ面12a側に噴出される。これにより、基板ガイド本体31に浮上力が発生し、基板ガイド本体31がステージ面12aから僅かに浮上する。ここで、基板ガイド本体31の浮上量は、バルブの開口量によって調整されるが、本実施形態では、基板当接部34がステージ面12a上に浮上した基板2の高さ位置になるように調整されている。なお、基板当接部34が浮上した基板2の高さ位置に調節されるとは、基板2の浮上量と基板当接部34の浮上量とが共通である場合だけでなく、基板当接部34が浮上した状態で、基板当接部34が基板2の側面に当接できる高さ位置に調節されていればよい。   The levitation unit 50 levitates the substrate guide body 31 from the stage surface 12a. The levitation unit 50 according to the present embodiment includes an air pad 51 provided on the bottom surface portion 36 of the substrate guide body 31 and an air supply path 52 that communicates with the air pad 51. The air supply path 52 is connected to an air cylinder (not shown), and air is supplied through the air supply path 52 by opening / closing operation of a valve (not shown). That is, the air supplied to the air supply path 52 is ejected from the air pad 51 to the stage surface 12a side. Thereby, a levitating force is generated in the substrate guide body 31, and the substrate guide body 31 is slightly lifted from the stage surface 12a. Here, the floating amount of the substrate guide main body 31 is adjusted by the opening amount of the valve, but in this embodiment, the substrate contact portion 34 is positioned at the height position of the substrate 2 floating on the stage surface 12a. It has been adjusted. The adjustment of the height of the substrate 2 where the substrate contact portion 34 is lifted is not only the case where the flying height of the substrate 2 and the height of the substrate contact portion 34 are common, but also the substrate contact. It is only necessary to adjust the height so that the substrate contact portion 34 can contact the side surface of the substrate 2 with the portion 34 floating.

また、付勢手段60は、基板ガイド本体31をステージ面12a側に押圧させるものである。本実施形態の付勢手段60は、基板当接部34とガイド支持部32との間にコイルバネ61(バネ部材)が設けられており、このコイルバネ61の弾性力により、基板ガイド本体31がステージ面12a側に押圧されている。具体的には、基板当接部34とガイド支持部32との間には、ガイド軸部33の中心とほぼ同心となるようにコイルバネ61が一定量収縮された状態で設けられている。このコイルバネ61の復元力が基板当接部34に付勢力として作用することにより、基板当接部34(基板ガイド本体31)がステージ面12a側に押圧されている。   The urging means 60 presses the substrate guide body 31 toward the stage surface 12a. In the urging means 60 of this embodiment, a coil spring 61 (spring member) is provided between the substrate contact portion 34 and the guide support portion 32, and the substrate guide body 31 is moved to the stage by the elastic force of the coil spring 61. It is pressed to the surface 12a side. Specifically, a coil spring 61 is provided between the substrate contact portion 34 and the guide support portion 32 in a state where the coil spring 61 is contracted by a certain amount so as to be substantially concentric with the center of the guide shaft portion 33. The restoring force of the coil spring 61 acts on the substrate contact portion 34 as a biasing force, whereby the substrate contact portion 34 (substrate guide body 31) is pressed toward the stage surface 12a.

ここで、浮上ユニット50のバルブを開口することによりエア供給量を増加させると、エアパッド51から噴出するエアが増加することにより浮上力が増加し、基板ガイド本体31が上向きに変位する。一方、基板ガイド本体31が上向きに変位すると付勢手段60のコイルバネ61の復元力が増大することにより、基板当接部34が下向きに押圧力を受ける。このように、浮上ユニット50の浮上力と付勢手段60の付勢力とが釣り合う位置によって基板当接部34の高さ位置を調節することができる。本実施形態では、基板当接部34がステージ面12aに浮上した基板2の高さ位置になるように、浮上ユニット50のエア供給量が調節されている。   Here, when the amount of air supply is increased by opening the valve of the levitation unit 50, the air ejected from the air pad 51 increases, the levitation force increases, and the substrate guide body 31 is displaced upward. On the other hand, when the substrate guide body 31 is displaced upward, the restoring force of the coil spring 61 of the urging means 60 is increased, so that the substrate contact portion 34 receives a pressing force downward. Thus, the height position of the substrate contact portion 34 can be adjusted by the position where the levitation force of the levitation unit 50 and the urging force of the urging means 60 are balanced. In the present embodiment, the air supply amount of the levitation unit 50 is adjusted so that the substrate contact portion 34 is at the height position of the substrate 2 that has floated on the stage surface 12a.

このような基板ガイド30により、ステージ12表面の平面度誤差等、装置の製造上及び組付上の誤差が生じている場合でも、パーティクルの発生を抑えて基板2を搬送することができる。すなわち、基板ガイド30により、浮上ユニット50の浮上力と付勢手段60の付勢力とが釣り合う位置で基板当接部34が基板2の側面2aに当接し基板2を拘束できる。この状態で基板ガイド30を搬送方向に移動させて基板2を搬送している最中に、ステージ12表面に平面度誤差が生じている場合、例えばステージ12表面が盛り上がっていると仮定すると、基板ガイド本体31のエアパッド51からのエアの噴出量は変わらないため、基板ガイド本体31は、近接するステージ面12aからエア噴出による浮上力により上向きの力を受け上向きに変位する。しかし、アーム部32aがステージ12表面に対して固定されているため、アーム部32aと基板当接部34との間でコイルバネ61が圧縮変形を受け、その復元力が基板当接部34に作用する。すなわち、ステージ面12aが近接又は離間しても、浮上ユニット50の浮上力と付勢手段60の付勢力(復元力)とが新たな高さ位置で釣り合うため、基板ガイド本体31がステージ面12aに追従するように基板ガイド本体31の浮上状態が維持される。したがって、ステージ12表面の平面度誤差等、装置の製造上及び組付上の誤差が生じていても、走行中の基板ガイド30がステージ12表面に接触することが抑えられることができ、基板ガイド30がステージ12表面に接触することにより生じるパーティクルの発生を抑えることができる。   Such a substrate guide 30 can transport the substrate 2 while suppressing generation of particles even when an error in manufacturing and assembling of the apparatus such as a flatness error on the surface of the stage 12 occurs. That is, the substrate abutment portion 34 abuts against the side surface 2 a of the substrate 2 at a position where the levitation force of the levitation unit 50 and the urging force of the urging means 60 are balanced by the substrate guide 30, thereby restraining the substrate 2. In this state, when the substrate guide 30 is moved in the transport direction and the substrate 2 is being transported, if there is a flatness error on the surface of the stage 12, for example, assuming that the surface of the stage 12 is raised, the substrate Since the amount of air ejected from the air pad 51 of the guide main body 31 does not change, the substrate guide main body 31 is displaced upward by receiving an upward force from the adjacent stage surface 12a due to the flying force of the air ejection. However, since the arm portion 32 a is fixed to the surface of the stage 12, the coil spring 61 is compressed and deformed between the arm portion 32 a and the substrate contact portion 34, and the restoring force acts on the substrate contact portion 34. To do. That is, even if the stage surface 12a approaches or separates, the levitation force of the levitation unit 50 and the urging force (restoring force) of the urging means 60 are balanced at the new height position. The floating state of the substrate guide body 31 is maintained so as to follow the above. Therefore, even if an error in manufacturing and assembling of the apparatus such as a flatness error on the surface of the stage 12 occurs, it is possible to suppress the substrate guide 30 during traveling from contacting the surface of the stage 12, and the substrate guide. It is possible to suppress the generation of particles caused by the contact of the 30 with the surface of the stage 12.

また、この基板ガイド30には防塵機構が設けられている。すなわち、ガイド支持部32のアーム部32aに設けられた吸引部71と、防塵カバー72とによって基板ガイド本体31がZ軸方向に変位する際に生じるパーティクルの発生を抑えることができる。   The substrate guide 30 is provided with a dustproof mechanism. That is, the generation of particles generated when the substrate guide body 31 is displaced in the Z-axis direction can be suppressed by the suction portion 71 provided on the arm portion 32 a of the guide support portion 32 and the dustproof cover 72.

吸引部71は、発生したパーティクルを吸引することにより、基板2上にパーティクルが付着するのを防止するものである。この吸引部71は、基板ガイド本体31が挿通するアーム部32aの貫通孔付近に設けられている。具体的には、アーム部32aに基板当接部34側に開口する開口部71aが形成されており、この開口部71aには、基板当接部34の反対側から真空ポンプが接続されている。したがって、真空ポンプを作動させると開口部71aの基板当接部34側開口に吸引力が発生することにより、アーム部32aと基板当接部34との間に発生したパーティクルを吸引することができる。すなわち、基板ガイド本体31がZ軸方向に変位したときに、ガイド軸部33とスライドブッシュ35とが摺動する際に発生するパーティクルを吸引することができる。   The suction unit 71 prevents particles from adhering to the substrate 2 by sucking the generated particles. The suction portion 71 is provided near the through hole of the arm portion 32a through which the substrate guide body 31 is inserted. Specifically, an opening 71a that opens to the substrate contact portion 34 side is formed in the arm portion 32a, and a vacuum pump is connected to the opening 71a from the opposite side of the substrate contact portion 34. . Accordingly, when the vacuum pump is operated, a suction force is generated at the opening of the opening 71a on the substrate contact portion 34 side, so that particles generated between the arm portion 32a and the substrate contact portion 34 can be sucked. . That is, when the substrate guide main body 31 is displaced in the Z-axis direction, particles generated when the guide shaft portion 33 and the slide bush 35 slide can be sucked.

また、防塵カバー72は、発生したパーティクルの拡散を防止するものである。この防塵カバー72は、吸引部71の開口よりも外径側に設けられるとともに、アーム部32aから基板当接部34に向かって延び、円筒状に形成されている。また、防塵カバー72は、ガイド軸部33の外周面と基板当接部34の外周面の一部を全周に亘って覆っている。すなわち、防塵カバー72は、基板当接部34よりも大径に形成されており、基板当接部34の外周面との間には隙間が形成されている。これにより、アーム部32aと基板当接部34との間に発生したパーティクルの拡散を防止することができる。すなわち、ガイド軸部33とスライドブッシュ35とが摺動する際にパーティクルが発生すると、パーティクルが拡散するが円筒状の防塵カバー72の存在により、パーティクルの拡散を防塵カバー72内に留めることができる。そして、真空ポンプを作動させて吸引部71に吸引力を発生させると、防塵カバー72と基板当接部34との間に形成された隙間から空気が入り込み吸引部71に吸引されるという空気の流れが形成される。これにより、防塵カバー72で覆われた領域に拡散しているパーティクルが防塵カバー72の外側に漏れることなく、パーティクルを吸引部71から排出することができる。   The dust cover 72 prevents the generated particles from diffusing. The dust cover 72 is provided on the outer diameter side of the opening of the suction part 71 and extends from the arm part 32a toward the substrate contact part 34, and is formed in a cylindrical shape. The dust cover 72 covers the outer peripheral surface of the guide shaft portion 33 and a part of the outer peripheral surface of the substrate contact portion 34 over the entire periphery. That is, the dustproof cover 72 is formed to have a larger diameter than the substrate contact portion 34, and a gap is formed between the outer periphery of the substrate contact portion 34. Thereby, the diffusion of particles generated between the arm portion 32a and the substrate contact portion 34 can be prevented. That is, when particles are generated when the guide shaft portion 33 and the slide bush 35 slide, the particles diffuse, but the presence of the cylindrical dust-proof cover 72 allows the particle diffusion to be kept in the dust-proof cover 72. . Then, when the vacuum pump is operated to generate a suction force in the suction portion 71, air enters through a gap formed between the dust cover 72 and the substrate contact portion 34 and is sucked into the suction portion 71. A flow is formed. Thereby, the particles diffusing in the region covered with the dustproof cover 72 can be discharged from the suction portion 71 without leaking outside the dustproof cover 72.

次に、基板搬送装置の動作について図9に示すフローチャートに基づいて説明する。   Next, the operation of the substrate transfer apparatus will be described based on the flowchart shown in FIG.

ここで、基板2が搬送される前の状態では、各基板ガイド30は、それぞれのステージ12に隣接した位置に待機しており、ガイド支持部32のアーム部32aは退避状態になっている。そして、位置決めピン14はステージ面12aより下方に収容され、収容状態が維持されている。   Here, in a state before the substrate 2 is transported, each substrate guide 30 stands by at a position adjacent to each stage 12, and the arm portion 32a of the guide support portion 32 is in a retracted state. And the positioning pin 14 is accommodated below the stage surface 12a, and the accommodation state is maintained.

まず、ステップS1により、基板2の位置決めが行われる。すなわち、基板ガイド30で基板2を拘束するために基板2の位置決め動作が行われる。具体的には、前工程を終えた基板2が供給されると、ステージ面12aから収容状態にある位置決めピン14が突出することにより、基板2が位置決め範囲に位置決めされる。すなわち、振動子13aにより振動されたステージ12上に基板2が供給されると、基板2がステージ面12aから浮上しステージ面12a上を自由に移動するが、突出状態の位置決めピン14に接触することで基板2の移動が制限される。これにより、位置決め範囲に基板2が位置決めされる(図7)。   First, in step S1, the substrate 2 is positioned. That is, the positioning operation of the substrate 2 is performed in order to restrain the substrate 2 by the substrate guide 30. Specifically, when the substrate 2 that has finished the previous process is supplied, the positioning pins 14 in the accommodated state protrude from the stage surface 12a, thereby positioning the substrate 2 in the positioning range. That is, when the substrate 2 is supplied onto the stage 12 vibrated by the vibrator 13a, the substrate 2 floats from the stage surface 12a and freely moves on the stage surface 12a, but contacts the protruding positioning pins 14. This restricts the movement of the substrate 2. Thereby, the board | substrate 2 is positioned in the positioning range (FIG. 7).

次に、ステップS2により、基板ガイド30による拘束動作が行われる。すなわち、ガイド支持部32のアーム部32aが基板2側に延伸する。具体的には、基板ガイド本体31のエアパッド51からはエアが噴出されており、この浮上力とコイルバネ61の付勢力が釣り合って基板ガイド本体31はアーム部32aに支持されつつ、ステージ面12a上に浮上している。この状態では、基板当接部34の高さ位置は、基板2の側面2aに当接する高さ位置に調整されている。そして、アーム部32aが延伸すると、基板ガイド本体31が基板2の側面2aに接近し、基板当接部34が基板2の側面2aに当接することにより、アーム部32aが延伸動作を停止する。すなわち、対角線上に配置された4つの基板ガイド本体31の基板当接部34に、基板2のコーナー部分における側面2aが当接することにより基板2が拘束される(図1)。したがって、この状態において、基板2の動きは、基板ガイド30及び位置決めピン14により拘束されている。   Next, a restraining operation by the substrate guide 30 is performed in step S2. That is, the arm portion 32a of the guide support portion 32 extends toward the substrate 2 side. Specifically, air is ejected from the air pad 51 of the substrate guide body 31, and the substrate guide body 31 is supported by the arm portion 32a while the floating force and the urging force of the coil spring 61 are balanced. Has emerged. In this state, the height position of the substrate contact portion 34 is adjusted to a height position that contacts the side surface 2 a of the substrate 2. When the arm portion 32a extends, the substrate guide body 31 approaches the side surface 2a of the substrate 2 and the substrate contact portion 34 contacts the side surface 2a of the substrate 2, whereby the arm portion 32a stops the extending operation. That is, the substrate 2 is restrained when the side surface 2a at the corner portion of the substrate 2 contacts the substrate contact portions 34 of the four substrate guide bodies 31 arranged on the diagonal lines (FIG. 1). Therefore, in this state, the movement of the substrate 2 is restricted by the substrate guide 30 and the positioning pins 14.

次に、ステップS3により、基板2が搬送される。すなわち、拘束されている基板ガイド30が現在のステージ12から下流側に隣接する次のステージ12に載置され、この動作が繰り返されることにより基板2が搬送される。具体的には、基板2の動きを拘束している位置決めピン14を下降させて基板ガイド30のみで拘束する状態にする。そして、搬送駆動部40を駆動させて、基板ガイド30を下流側に移動させる。移動中は、基板ガイド30のエアパッド51からエアを噴出し続けることにより、基板ガイド本体31はステージ面12aから浮上した状態を維持することができる。そして、仮にステージ面12aの平面度に誤差が生じている場合でも、そのステージ面12aの形状に追従することにより、ガイド支持部32のアーム部32aがステージ面12aに接触することによりパーティクルが発生するのを抑えることができる。そして、下流側に隣接する次のステージ12に基板2が到達すると、搬送駆動部40が駆動制御され基板ガイド30を停止させる。すなわち、位置決めピン14が突出状態になった場合に基板2の裏面と位置決めピン14とが衝突しない位置に停止される(図5)。   Next, the board | substrate 2 is conveyed by step S3. That is, the constrained substrate guide 30 is placed on the next stage 12 adjacent to the downstream side from the current stage 12, and the substrate 2 is transported by repeating this operation. Specifically, the positioning pin 14 that restrains the movement of the substrate 2 is lowered to be restrained only by the substrate guide 30. Then, the conveyance driving unit 40 is driven to move the substrate guide 30 to the downstream side. During the movement, the substrate guide body 31 can be kept floating from the stage surface 12a by continuing to blow air from the air pad 51 of the substrate guide 30. Even if there is an error in the flatness of the stage surface 12a, by following the shape of the stage surface 12a, particles are generated when the arm portion 32a of the guide support portion 32 contacts the stage surface 12a. Can be suppressed. When the substrate 2 reaches the next stage 12 adjacent to the downstream side, the conveyance driving unit 40 is driven and controlled to stop the substrate guide 30. That is, when the positioning pin 14 is in a protruding state, the positioning is stopped at a position where the back surface of the substrate 2 and the positioning pin 14 do not collide (FIG. 5).

次に、ステップS4により、基板ガイド30による基板2の解放が行われる。具体的には、位置決めピン14がステージ面12aから突出し、この位置決めピン14により搬送された基板2が下流側の次のステージ面12a上で拘束される。すなわち、基板2は位置決めピン14と基板ガイド30により拘束されている。そして、基板ガイド30のアーム部32aが退避して元の位置に戻りつつ、昇降機構によりアーム部32aが上昇する。すなわち、基板ガイド本体31が位置決めピン14に接触しない位置まで上昇する。これにより、基板ガイド30による基板2の解放が行われ、基板2が位置決めピン14のみで拘束される(図6)。   Next, in step S4, the substrate 2 is released by the substrate guide 30. Specifically, the positioning pins 14 protrude from the stage surface 12a, and the substrate 2 conveyed by the positioning pins 14 is restrained on the next stage surface 12a on the downstream side. That is, the substrate 2 is restrained by the positioning pins 14 and the substrate guide 30. Then, while the arm portion 32a of the substrate guide 30 is retracted and returned to the original position, the arm portion 32a is raised by the lifting mechanism. That is, the substrate guide body 31 is raised to a position where it does not contact the positioning pins 14. Thereby, the board | substrate 2 is released by the board | substrate guide 30, and the board | substrate 2 is restrained only by the positioning pin 14 (FIG. 6).

次に、アーム部32aの退避動作及び上昇動作が完了すると、ステップS5により基板ガイド30が元の位置に復帰する(図7)。すなわち、搬送駆動部40を駆動させて、基板2を解放したステージ12に隣接する上流側のステージ12まで基板ガイド30を移動させる。その際、位置決めピン14は基板2を拘束するため突出状態であるが、基板ガイド本体31は位置決めピン14よりも上昇しているため、基板ガイド30の移動により基板ガイド本体31と位置決めピン14とが接触することはない。   Next, when the retracting operation and the raising operation of the arm portion 32a are completed, the substrate guide 30 is returned to the original position in step S5 (FIG. 7). That is, the substrate driving unit 40 is driven to move the substrate guide 30 to the upstream stage 12 adjacent to the stage 12 that has released the substrate 2. At that time, the positioning pins 14 are in a protruding state to restrain the substrate 2, but the substrate guide body 31 is raised above the positioning pins 14, and therefore, the substrate guide body 31 and the positioning pins 14 are moved by the movement of the substrate guide 30. Will not touch.

そして、下流側のステージ12に搬送された基板2は、当初からステージ12に設けられた基板ガイド30、すなわち、そのステージ12よりも下流側のステージ12から復帰した基板ガイド30により拘束され、さらに下流側のステージ12に搬送される。このように、それぞれのステージ12に設けられた基板ガイド30により基板2がリレー的に拘束されて次の下流側のステージ12に移されることにより、基板2が基板搬送装置1の最終位置まで搬送される。   The substrate 2 conveyed to the downstream stage 12 is restrained by the substrate guide 30 provided on the stage 12 from the beginning, that is, the substrate guide 30 returned from the stage 12 downstream of the stage 12, and further It is conveyed to the stage 12 on the downstream side. In this way, the substrate 2 is relay-constrained by the substrate guide 30 provided on each stage 12 and moved to the next downstream stage 12, so that the substrate 2 is transported to the final position of the substrate transport apparatus 1. Is done.

このように、上記基板搬送装置1によれば、基板2の側面2aに当接して基板2を拘束するため、基板2上の塗布膜に乾燥ムラが生じるのを抑えて基板2を搬送することができる。また、基板ガイド本体31の基板当接部34の高さ位置が、前記浮上ユニット50と前記付勢手段60とによって、ステージ12の表面12aから浮上する基板2の高さ位置に維持されるため、ステージ12の平面度に誤差が生じている場合など、装置の製造上及び組付上の誤差が大きい場合であっても、基板ガイド本体31の浮上量が一定に保たれることにより基板ガイド本体31がステージ12の表面12aに接触することがないため、基板ガイド30がステージ12の表面12aに接触することにより生じるパーティクルの発生を抑えることができる。   As described above, according to the substrate transport apparatus 1, the substrate 2 is restrained by coming into contact with the side surface 2 a of the substrate 2, so that the substrate 2 can be transported while suppressing the occurrence of drying unevenness in the coating film on the substrate 2. Can do. Further, the height position of the substrate contact portion 34 of the substrate guide main body 31 is maintained at the height position of the substrate 2 that is levitated from the surface 12 a of the stage 12 by the levitating unit 50 and the urging means 60. Even when there is a large error in manufacturing and assembling the apparatus, such as when there is an error in the flatness of the stage 12, the substrate guide body 31 is kept constant in the flying height, thereby maintaining the substrate guide. Since the main body 31 does not contact the surface 12 a of the stage 12, it is possible to suppress the generation of particles that occur when the substrate guide 30 contacts the surface 12 a of the stage 12.

また、上記実施形態では、付勢手段60として、コイルバネ61を用いる場合について説明したが、磁石を用いて基板当接部34をステージ面12a側に付勢するように構成してもよい。すなわち、基板当接部34とアーム部32aとにN極又はS極が対面する位置に設けることにより、基板当接部34がアーム部32aに接近したときの磁石の反発力を付勢力として利用することができる。   In the above embodiment, the case where the coil spring 61 is used as the urging means 60 has been described. However, the substrate abutting portion 34 may be urged toward the stage surface 12a using a magnet. That is, the repulsive force of the magnet when the substrate contact portion 34 approaches the arm portion 32a is used as the urging force by providing the substrate contact portion 34 and the arm portion 32a at a position where the N or S poles face each other. can do.

[実施例2]
また、基板搬送装置における他の実施形態について、図10,図11を用いて説明する。ここで、図10は、他の実施形態における基板ガイド30を上から見た図であり、図11は図10のA−A断面図である。この図10、図11に示す実施形態では、浮上ユニット50のエアパッド51は、基板ガイド本体31の基板当接部34とが別体で形成される例である。なお、基板ガイド30以外の他の構成については、上述の実施形態と同様であるため、説明は省略する。
[Example 2]
Another embodiment of the substrate transfer apparatus will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 10 is the figure which looked at the board | substrate guide 30 in other embodiment from the top, and FIG. 11 is AA sectional drawing of FIG. In the embodiment shown in FIGS. 10 and 11, the air pad 51 of the levitation unit 50 is an example in which the substrate contact portion 34 of the substrate guide body 31 is formed separately. Since the configuration other than the substrate guide 30 is the same as that of the above-described embodiment, the description thereof is omitted.

基板ガイド30は、図10、図11に示すように、基板2を拘束する基板ガイド本体31と、この基板ガイド本体31を支持するガイド支持部32とを有しており、さらに、基板ガイド本体31をステージ面12aから浮上させる浮上ユニット50と、基板ガイド本体31をステージ面12a側に付勢させる付勢手段60とを有しており、浮上ユニット50と付勢手段60により、基板ガイド本体31がステージ面12aから浮上できるようになっている。   As shown in FIGS. 10 and 11, the substrate guide 30 includes a substrate guide main body 31 that restrains the substrate 2, and a guide support portion 32 that supports the substrate guide main body 31. The levitation unit 50 that levitates 31 from the stage surface 12a and the urging means 60 that urges the substrate guide body 31 toward the stage surface 12a are provided. 31 can float from the stage surface 12a.

ガイド支持部32は、平板状のアーム部32aを有しており、その先端部分に基板ガイド本体31が設けられている。このアーム部32aは、搬送本体部42の搭載部42a(図4参照)に昇降機構を介して設けられており、搭載部42aに対してZ方向に昇降動作できるようになっている。本実施形態では、昇降機構にはエアスライドテーブル81が用いられており、このエアスライドテーブル81へのエアの供給量を制御することにより、アーム部32aがZ方向に移動できるようになっている。すなわち、エアスライドテーブル81は、直線状に移動するテーブル81aがZ方向に移動可能に取付けられており、このテーブル81aにエアスライドテーブル82を介してアーム部32aが取付けられている。そして、エアの供給量を制御して、アーム部32aを下向きに移動させることにより基板ガイド本体31が基板2に接近し、アーム部32aを上向きに移動させることにより基板ガイド本体31が基板2から離間する方向に移動する。本実施形態では、上述の実施形態(実施例1)と同様に、基板ガイド本体31が基板2を拘束する位置から、突出状態の位置決めピン14に接触しない程度まで上昇することができるようになっている。なお、このエアスライドテーブル81は、後述するように付勢手段としても作用する。   The guide support portion 32 has a flat arm portion 32a, and a substrate guide main body 31 is provided at a tip portion thereof. The arm portion 32a is provided on the mounting portion 42a (see FIG. 4) of the transport main body portion 42 via an elevating mechanism, and can be moved up and down in the Z direction with respect to the mounting portion 42a. In the present embodiment, an air slide table 81 is used as the elevating mechanism. By controlling the amount of air supplied to the air slide table 81, the arm portion 32a can move in the Z direction. . That is, the air slide table 81 has a linearly moving table 81 a attached so as to be movable in the Z direction, and an arm portion 32 a is attached to the table 81 a via the air slide table 82. Then, by controlling the air supply amount and moving the arm portion 32a downward, the substrate guide main body 31 approaches the substrate 2, and by moving the arm portion 32a upward, the substrate guide main body 31 moves from the substrate 2. Move in the direction of separation. In the present embodiment, as in the above-described embodiment (Example 1), the substrate guide body 31 can be raised from a position where the substrate guide body 31 is restrained to an extent where it does not contact the protruding positioning pins 14. ing. The air slide table 81 also acts as an urging means as will be described later.

また、ガイド支持部32は、進退機構を有しており、アーム部32aを基板2に対して進退動作できるようになっている。本実施形態では、この進退機構にはエアスライドテーブル82が用いられており、このエアスライドテーブル82へのエアの供給量を制御することにより、基板ガイド本体31を基板2に対して接離可能に動作させることができる。具体的には、エアスライドテーブル82の本体がスライドテーブル81に取付けられており、直線状に移動するエアスライドテーブル82のテーブル82aが位置決めされた基板2の中心に向かう方向に移動可能に取付けられている。そして、エアスライドテーブル82へのエアの供給量を制御することにより、テーブル82aが基板2の中心方向に進退動作可能になっている。すなわち、アーム部32aが基板2の中心方向に延びる突出状態と、アーム部32aが本体側に縮む待避状態とに移動可能になっている。すなわち、基板2を基板ガイド本体31に拘束させる場合には、アーム部32aを基板2側に突出させ(図7→図1)、基板ガイド本体31が基板2に当接した状態で停止させる。そして、図5に示すように、基板2を次のステージ12に搬送した場合には、アーム部32aを基板2と反対側に移動させて退避状態にすることにより基板2を解放できるようになっている(図6の状態)。   Further, the guide support portion 32 has an advance / retreat mechanism so that the arm portion 32 a can be advanced / retracted with respect to the substrate 2. In this embodiment, an air slide table 82 is used for the advance / retreat mechanism, and the substrate guide body 31 can be brought into contact with and separated from the substrate 2 by controlling the amount of air supplied to the air slide table 82. Can be operated. Specifically, the main body of the air slide table 82 is attached to the slide table 81, and the table 82a of the air slide table 82 that moves linearly is attached so as to be movable toward the center of the positioned substrate 2. ing. By controlling the amount of air supplied to the air slide table 82, the table 82 a can be moved back and forth in the center direction of the substrate 2. That is, the arm portion 32a can move between a protruding state in which the arm portion 32a extends in the center direction of the substrate 2 and a retracted state in which the arm portion 32a contracts toward the main body side. That is, when the substrate 2 is constrained to the substrate guide body 31, the arm portion 32a is protruded toward the substrate 2 (FIG. 7 → FIG. 1), and is stopped in a state where the substrate guide body 31 is in contact with the substrate 2. As shown in FIG. 5, when the substrate 2 is transported to the next stage 12, the substrate 2 can be released by moving the arm portion 32 a to the opposite side to the substrate 2 to be in the retracted state. (State of FIG. 6).

基板ガイド本体31は、図10、図11に示すように、ガイド支持部32のアーム部32aに支持されており、この基板ガイド本体31が基板2に当接することにより、基板2が拘束されるようになっている。具体的には、アーム部32aの先端部分に2つの基板ガイド本体31が取付けられており(図2参照)、対角線上に配置されたこれら2つの基板ガイド本体31が基板2に接触することにより基板2を拘束できるようになっている。   As shown in FIGS. 10 and 11, the substrate guide body 31 is supported by the arm portion 32 a of the guide support portion 32, and the substrate 2 is restrained when the substrate guide body 31 abuts on the substrate 2. It is like that. Specifically, two substrate guide bodies 31 are attached to the tip portion of the arm portion 32a (see FIG. 2), and these two substrate guide bodies 31 arranged on a diagonal line come into contact with the substrate 2. The substrate 2 can be restrained.

具体的には、基板ガイド本体31は、円柱状のガイド軸部33と、このガイド軸部33のステージ面12a側の側面に形成される基板当接部34とを有しており、これら2つの基板ガイド本体31がアーム部32aの中心から等距離の位置に固定されている。そして、エアスライドテーブル82を駆動させることにより、ガイド支持部32のアーム部32aが基板2側に突出させることにより、基板当接部34が基板2の側面2aに当接し基板2を拘束することができる。すなわち、対角線上に配置されたそれぞれの基板ガイド30の基板当接部34が基板2のコーナー部分における側面2aに僅かに圧接することにより、ステージ面12aに浮上する基板2の動きが拘束される。なお、本実施形態においても、基板当接部34により基板2の側面2aに押圧を与えず僅かな隙間を形成できる程度に基板2の側面2aに当接する場合でも基板2を拘束したこととなる。すなわち、ステージ面12aに浮上する基板2が自由に動くのを抑制された状態であればよい。   Specifically, the substrate guide main body 31 includes a columnar guide shaft portion 33 and a substrate contact portion 34 formed on the side surface of the guide shaft portion 33 on the stage surface 12a side. Two substrate guide bodies 31 are fixed at positions equidistant from the center of the arm portion 32a. Then, by driving the air slide table 82, the arm portion 32 a of the guide support portion 32 protrudes toward the substrate 2, whereby the substrate contact portion 34 contacts the side surface 2 a of the substrate 2 and restrains the substrate 2. Can do. That is, the substrate contact portions 34 of the respective substrate guides 30 arranged on the diagonal lines are slightly pressed against the side surface 2a at the corner portion of the substrate 2, thereby restraining the movement of the substrate 2 floating on the stage surface 12a. . In this embodiment as well, the substrate 2 is restrained even when contacting the side surface 2a of the substrate 2 to such an extent that a slight gap can be formed without pressing the side surface 2a of the substrate 2 by the substrate contact portion 34. . That is, it is only necessary that the substrate 2 floating on the stage surface 12a is restrained from freely moving.

また、浮上ユニット50は、基板ガイド本体31をステージ面12aから浮上させるものである。本実施形態の浮上ユニット50は、ガイド支持部32に固定されて設けられており、基板ガイド本体31と進退機構のエアスライドテーブル82との間に配置されている。この浮上ユニット50は、浮上ユニット本体55とエアパッド51とを有しており、図11に示すように、浮上ユニット本体55の底面部にエアパッド51が設けられている。すなわち、エアパッド51はステージ面12aに対向する位置に取付けられている。そして、エアパッド51は、エアボンベ(不図示)に接続されており、バルブ(不図示)の開閉動作によってエアが供給されるようになっている。すなわち、エアパッド51にエアが供給されると、エアパッド51からステージ面12a側に噴出されることにより、ガイド支持部32が浮上力を受けるとともにガイド支持部32に連結された基板ガイド本体31も浮上力を受け、基板ガイド本体31がステージ面12aから僅かに浮上する。ここで、基板ガイド本体31の浮上量は、バルブの開口量によって調整されるが、本実施形態では、基板当接部34がステージ面12a上に浮上した基板2の高さ位置になるように調整されている。なお、基板当接部34が浮上した基板2の高さ位置に調節されるとは、基板2の浮上量と基板当接部34の浮上量とが共通である場合だけでなく、基板当接部34が浮上した状態で、基板当接部34が基板2の側面に当接できる高さ位置に調節されていればよい。   The levitation unit 50 levitates the substrate guide body 31 from the stage surface 12a. The levitation unit 50 of the present embodiment is fixed to the guide support portion 32 and is disposed between the board guide main body 31 and the air slide table 82 of the advance / retreat mechanism. The levitation unit 50 includes a levitation unit main body 55 and an air pad 51, and the air pad 51 is provided on the bottom surface of the levitation unit main body 55 as shown in FIG. That is, the air pad 51 is attached at a position facing the stage surface 12a. The air pad 51 is connected to an air cylinder (not shown), and air is supplied by opening and closing a valve (not shown). That is, when air is supplied to the air pad 51, the guide support portion 32 receives the levitation force and the substrate guide body 31 connected to the guide support portion 32 also rises by being ejected from the air pad 51 to the stage surface 12 a side. Under the force, the substrate guide body 31 slightly floats from the stage surface 12a. Here, the floating amount of the substrate guide main body 31 is adjusted by the opening amount of the valve, but in this embodiment, the substrate contact portion 34 is positioned at the height position of the substrate 2 floating on the stage surface 12a. It has been adjusted. The adjustment of the height of the substrate 2 where the substrate contact portion 34 is lifted is not only the case where the flying height of the substrate 2 and the height of the substrate contact portion 34 are common, but also the substrate contact. It is only necessary to adjust the height so that the substrate contact portion 34 can contact the side surface of the substrate 2 with the portion 34 floating.

また、付勢手段60は、基板ガイド本体31をステージ面12a側に押圧させるものである。本実施形態の付勢手段60は、エアスライドテーブル81であり、エアスライドテーブル81に供給されるエアを制御することにより基板ガイド本体31がステージ面12a側に押圧される。具体的には、エアを制御することにより、エアスライドテーブル81のテーブル81aが下向きに移動しようとすることによりテーブル81aに連結された進退機構、ガイド支持部32及び基板ガイド本体31が常に下向きに力を受け、基板ガイド本体31がステージ面12a側に押圧される。   The urging means 60 presses the substrate guide body 31 toward the stage surface 12a. The biasing means 60 of the present embodiment is an air slide table 81, and the substrate guide body 31 is pressed toward the stage surface 12 a side by controlling the air supplied to the air slide table 81. Specifically, by controlling the air, when the table 81a of the air slide table 81 tries to move downward, the advance / retreat mechanism connected to the table 81a, the guide support portion 32, and the substrate guide body 31 always face downward. Under the force, the substrate guide body 31 is pressed toward the stage surface 12a.

ここで、浮上ユニット50のバルブを開口することによりエア供給量を増加させると、エアパッド51から噴出するエアが増加することにより浮上力が増加し、基板ガイド本体31が上向きに変位する。一方、基板ガイド本体31が上向きに変位しようとすると付勢手段60のエアスライドテーブル81に供給されるエア圧は変わらないため、テーブル81aが微小に上向きに変位した分だけエア圧が微小に増大しテーブル81aが下向きに変位しようとする推力が増大する。すなわち、基板ガイド本体31が下向きに押圧力を受ける。このように、浮上ユニット50の浮上力と付勢手段60の付勢力とが釣り合う位置によって基板当接部34の高さ位置を基板2の側面の高さ位置に維持させることができる。   Here, when the amount of air supply is increased by opening the valve of the levitation unit 50, the air ejected from the air pad 51 increases, the levitation force increases, and the substrate guide body 31 is displaced upward. On the other hand, if the substrate guide body 31 is displaced upward, the air pressure supplied to the air slide table 81 of the urging means 60 does not change, so the air pressure slightly increases by the amount that the table 81a is displaced upward. However, the thrust for the table 81a to move downward increases. That is, the substrate guide body 31 receives a pressing force downward. Thus, the height position of the substrate contact portion 34 can be maintained at the height position of the side surface of the substrate 2 by the position where the levitation force of the levitation unit 50 and the urging force of the urging means 60 are balanced.

このような基板ガイド30により、ステージ12表面の平面度誤差等、装置の製造上及び組付上の誤差が生じている場合でも、パーティクルの発生を抑えて基板2を搬送することができる。すなわち、基板ガイド30により、浮上ユニット50の浮上力と付勢手段60の付勢力とが釣り合う位置で基板当接部34が基板2の側面2aに当接し基板2を拘束できる。この状態で基板ガイド30を搬送方向に移動させて基板2を搬送している最中に、ステージ12表面に平面度誤差が生じている場合、例えばステージ12表面が盛り上がっていると仮定すると、エアパッド51からのエアの噴出量は変わらないため、基板ガイド本体31は、近接するステージ面12aからエア噴出による浮上力により上向きの力を受け上向きに変位する。基板ガイド本体31が上向きに変位すると、エアスライドテーブル81のテーブル81aが微小に上向きに変位することによりテーブル81aの下向きの推力が増大し基板ガイド本体31が下向きに押圧力を受ける。すなわち、ステージ面12aが基板ガイド本体31に近接又は離間しても、浮上ユニット50の浮上力と付勢手段60の付勢力(復元力)とが新たな高さ位置で釣り合うため、基板ガイド本体31がステージ面12aに追従するように基板ガイド本体31の浮上状態が維持される。したがって、ステージ12表面の平面度誤差等、装置の製造上及び組付上の誤差が生じていても、走行中の基板ガイド30がステージ面12aに接触することが抑えられることができ、基板ガイド30がステージ面12aに接触することにより生じるパーティクルの発生を抑えることができる。   Such a substrate guide 30 can transport the substrate 2 while suppressing generation of particles even when an error in manufacturing and assembling of the apparatus such as a flatness error on the surface of the stage 12 occurs. That is, the substrate abutment portion 34 abuts against the side surface 2 a of the substrate 2 at a position where the levitation force of the levitation unit 50 and the urging force of the urging means 60 are balanced by the substrate guide 30, thereby restraining the substrate 2. In this state, when the substrate guide 30 is moved in the transport direction and the substrate 2 is transported, if there is a flatness error on the surface of the stage 12, for example, assuming that the surface of the stage 12 is raised, the air pad Since the amount of air ejected from 51 does not change, the substrate guide body 31 receives an upward force from the adjacent stage surface 12a due to the air ejection force and is displaced upward. When the substrate guide main body 31 is displaced upward, the table 81a of the air slide table 81 is slightly upwardly displaced, so that the downward thrust of the table 81a is increased and the substrate guide main body 31 receives a downward pressure. That is, even if the stage surface 12a is close to or away from the substrate guide body 31, the flying force of the flying unit 50 and the biasing force (restoring force) of the biasing means 60 are balanced at the new height position. The floating state of the substrate guide body 31 is maintained so that 31 follows the stage surface 12a. Therefore, even if an error in manufacturing and assembling of the apparatus such as an error in flatness of the surface of the stage 12 occurs, it is possible to suppress the traveling substrate guide 30 from contacting the stage surface 12a. It is possible to suppress the generation of particles that occur when 30 contacts the stage surface 12a.

また、上記実施形態(実施例2)では、2つの基板ガイド本体31に対して浮上ユニット50のエアパッド51が共通である場合について説明したが、図12に示す例のように基板ガイド本体31それぞれに対して浮上ユニット50のエアパッドを設けるものであってもよい。各構成については、実施例2と同様であるため説明は省略するが、この図12の例では、基板ガイド本体31それぞれに独立して浮上ユニット50を設けているため、基板ガイド本体31の浮上量がより確実に保持される。ただし、図10、図11の例では、浮上ユニット50のエアパッド51が基板2が搬送される領域(基板搬送領域)の外側に配置されるため、エアパッド51から噴出されるエアにより基板搬送領域に温度変化が生じるのを抑えることができる。すなわち、基板搬送領域に温度ムラが形成されるのを抑えることができるため、基板2に形成された塗布膜に基板搬送領域の温度ムラが起因する乾燥ムラが生じるのを抑えることができる。   In the above embodiment (Example 2), the case where the air pad 51 of the levitation unit 50 is common to the two substrate guide bodies 31 has been described. However, as in the example shown in FIG. On the other hand, an air pad of the levitation unit 50 may be provided. Since each configuration is the same as that of the second embodiment, description thereof will be omitted. However, in the example of FIG. 12, the floating unit 50 is provided independently for each substrate guide body 31. The quantity is more reliably maintained. However, in the example of FIGS. 10 and 11, the air pad 51 of the levitation unit 50 is disposed outside the region (substrate transport region) where the substrate 2 is transported. It is possible to suppress the temperature change. That is, since it is possible to suppress the formation of temperature unevenness in the substrate transport region, it is possible to suppress the occurrence of drying unevenness due to the temperature unevenness of the substrate transport region in the coating film formed on the substrate 2.

また、上記実施形態では、基板ガイド本体31の基板当接部34は、基板2の側面に対して垂直な面を有する場合について説明したが、基板2の側面に対して傾斜面34aを有するものであってもよい。すなわち、基板ガイド本体31は、ステージ面12aから浮いているため、基板ガイド本体31の底面とステージ面12aとの間には隙間が形成されている。そのため、基板2を搬送している最中に基板2がその隙間に潜り込み、基板2を損傷させてしまう虞がある。そこで、図13に示すように、基板当接部34をステージ面12aに向かって拡径する傾斜面34aに形成することにより、基板2が隙間に潜り込む問題を回避することができる。すなわち、ステージ面12aに向かって拡径する傾斜面34aに形成された基板当接部34が基板2の側面に当接すると、基板当接部34が垂直面である場合に比べて、基板2に上向きの力が作用することにより、基板2が下向きに変位するのを抑えることができる。そして、仮に基板2が下向きに変位した場合には、傾斜面34aに形成された基板当接部34の保持間隔が狭くなるため、より一層、基板2を挟持する力が増加し、基板2が下向きに変位するのを抑えることができる。すなわち、基板当接部34を上記傾斜面34aに形成することにより、エアパッドで浮上することにより形成される基板ガイド本体31とステージ面12aと間に生じる隙間に基板2が潜り込むのを抑えることができる。   In the above embodiment, the case where the substrate contact portion 34 of the substrate guide body 31 has a surface perpendicular to the side surface of the substrate 2 has been described. However, the substrate contact portion 34 has an inclined surface 34 a with respect to the side surface of the substrate 2. It may be. That is, since the substrate guide body 31 is floating from the stage surface 12a, a gap is formed between the bottom surface of the substrate guide body 31 and the stage surface 12a. Therefore, there is a possibility that the substrate 2 may sink into the gap while the substrate 2 is being transported and damage the substrate 2. Therefore, as shown in FIG. 13, by forming the substrate contact portion 34 on the inclined surface 34a whose diameter increases toward the stage surface 12a, it is possible to avoid the problem that the substrate 2 sinks into the gap. That is, when the substrate contact portion 34 formed on the inclined surface 34a whose diameter increases toward the stage surface 12a contacts the side surface of the substrate 2, the substrate 2 is compared with the case where the substrate contact portion 34 is a vertical surface. When an upward force acts on the substrate 2, it is possible to suppress the substrate 2 from being displaced downward. If the substrate 2 is displaced downward, the holding interval of the substrate contact portion 34 formed on the inclined surface 34a is narrowed, so that the force for sandwiching the substrate 2 further increases, and the substrate 2 The downward displacement can be suppressed. That is, by forming the substrate contact portion 34 on the inclined surface 34a, it is possible to suppress the substrate 2 from entering a gap generated between the substrate guide main body 31 and the stage surface 12a formed by floating with the air pad. it can.

また、上記実施形態では、浮上手段13が振動子13aを用いてステージ12を振動させて基板2を浮上させる例について説明したが、ステージ面12aからエアを噴出させることにより、基板2を浮上させるものであってもよい。   In the above-described embodiment, the example in which the levitation unit 13 oscillates the stage 12 using the vibrator 13a to levitate the substrate 2 has been described. However, the substrate 2 is levitated by ejecting air from the stage surface 12a. It may be a thing.

また、上記実施形態では、ステージ12が4枚配列された例について説明したが、最小構成単位として、2枚配列したものでもよく、搬送距離に応じて4枚以上配列したものであってもよい。   In the above-described embodiment, an example in which four stages 12 are arranged has been described. However, two sheets may be arranged as the minimum structural unit, or four or more sheets may be arranged according to the transport distance. .

また、上記実施形態では、基板2を乾燥装置に搬送する例について説明したが、基板搬送装置1に乾燥機能を設け、次工程における露光装置に搬送するものであってもよい。すなわち、基板2を搬送する用途であれば、その用途は特に限定されない。   Moreover, although the example which conveys the board | substrate 2 to the drying apparatus was demonstrated in the said embodiment, the drying function may be provided in the board | substrate conveyance apparatus 1, and you may convey to the exposure apparatus in a next process. That is, if it is a use which conveys the board | substrate 2, the use is not specifically limited.

また、上記実施形態では、基板当接部34の形状が円筒状の場合について説明したが、断面が楕円状の筒状部材であってもよく、特に限定しない。ただし、基板2との当接部分が円弧状に形成されていることで、基板2側面への接触が調節しやすい点で好ましい。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the shape of the board | substrate contact part 34 was a cylindrical shape, the cross section may be an elliptical cylindrical member and is not specifically limited. However, the contact portion with the substrate 2 is formed in an arc shape, which is preferable in that the contact with the side surface of the substrate 2 can be easily adjusted.

また、上記実施形態における基板搬送装置は、FPDだけでなく、太陽電池、有機ELなど、基板の表面の乾燥状態を一定にして搬送する必要がある分野であれば、多種に亘る分野に適用することができる。   The substrate transport apparatus in the above embodiment is applicable not only to FPD but also to various fields as long as it is a field that needs to be transported with a constant dry state of the surface of the substrate, such as a solar cell and an organic EL. be able to.

1 基板搬送装置
2 基板
12 ステージ
30 基板ガイド
31 基板ガイド本体
32 ガイド支持部
32a アーム部
34 基板当接部
50 浮上ユニット
51 エアパッド
60 付勢手段
61 コイルバネ
71 吸引部
72 防塵カバー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate conveyance apparatus 2 Substrate 12 Stage 30 Substrate guide 31 Substrate guide main body 32 Guide support part 32a Arm part 34 Substrate contact part 50 Lifting unit 51 Air pad 60 Energizing means 61 Coil spring 71 Suction part 72 Dust-proof cover

Claims (9)

ステージの表面から浮上させた基板を基板ガイドでガイドしつつ搬送する基板搬送装置であって、
前記基板ガイドは、
基板の側面に当接することで基板を拘束するとともに、ステージの表面と垂直な方向に変位可能な基板ガイド本体と、
前記基板ガイド本体をステージの表面から浮上させる浮上ユニットと、
前記基板ガイド本体をステージの表面側に付勢させる付勢手段と、
を備えており、
前記基板ガイド本体は基板の側面に当接する基板当接部を有しており、この基板当接部の高さ位置が、前記浮上ユニットと前記付勢手段により、ステージの表面から浮上する基板の高さ位置に維持されることを特徴とする基板搬送装置。
A substrate transfer device that transfers a substrate levitated from the surface of the stage while guiding it with a substrate guide,
The substrate guide is
A substrate guide body that restrains the substrate by contacting the side surface of the substrate and is displaceable in a direction perpendicular to the surface of the stage;
A levitating unit for levitating the substrate guide body from the surface of the stage;
Biasing means for biasing the substrate guide body toward the surface side of the stage;
With
The substrate guide body has a substrate contact portion that contacts the side surface of the substrate, and the height position of the substrate contact portion is determined by the floating unit and the urging means. A substrate transfer apparatus, wherein the substrate transfer apparatus is maintained at a height position.
前記基板ガイドは、前記ステージの表面と対向する位置にエアパッドを備えており、前記浮上ユニットは、前記エアパッドにエアが供給されることにより、前記エアパッドから前記ステージの表面に向かってエアを噴出させて前記基板ガイド本体をステージ表面から浮上させることを特徴とする請求項1に記載の基板搬送装置。 The substrate guide includes an air pad at a position facing the surface of the stage, and the levitation unit ejects air from the air pad toward the surface of the stage by supplying air to the air pad. The substrate transport apparatus according to claim 1, wherein the substrate guide body is floated from the surface of the stage. 前記浮上ユニットのエアパッドは、前記基板ガイド本体の基板当接部とは別体で形成されていることを特徴とする請求項2に記載の基板搬送装置。 The substrate transfer apparatus according to claim 2 , wherein the air pad of the floating unit is formed separately from a substrate contact portion of the substrate guide body. 前記浮上ユニットのエアパッドは、前記ステージにおける基板搬送領域から外れる位置に設けられることを特徴とする請求項2又は3に記載の基板搬送装置。 The substrate transfer apparatus according to claim 2 , wherein the air pad of the levitation unit is provided at a position deviating from the substrate transfer area on the stage. 前記基板ガイドは、ステージの表面と対向する前記基板ガイド本体の底面部にエアパッドを備えており、前記浮上ユニットは、前記エアパッドにエアが供給されることにより、前記エアパッドからエアを噴出させて前記基板ガイド本体をステージ表面から浮上させることを特徴とする請求項1又は2に記載の基板搬送装置。 The substrate guide includes an air pad on a bottom surface portion of the substrate guide body facing the surface of the stage, and the levitation unit ejects air from the air pad by supplying air to the air pad. The substrate transport apparatus according to claim 1, wherein the substrate guide body is floated from the surface of the stage. 前記基板ガイドは、前記基板ガイド本体を支持するガイド支持部をさらに備え、このガイド支持部により前記基板ガイド本体がステージの表面に対して接離する方向に変位可能に支持されており、前記ガイド支持部と基板ガイド本体との間にバネ部材が収縮した状態で設けられ、このバネ部材により基板ガイド本体がステージの表面側に付勢されることを特徴とする請求項1又は5に記載の基板搬送装置。 The substrate guide further includes a guide support portion that supports the substrate guide body, and the guide support portion is supported so as to be displaceable in a direction in which the substrate guide body is in contact with and away from the surface of the stage. The spring member is provided in a contracted state between the support portion and the substrate guide main body, and the substrate guide main body is biased toward the surface side of the stage by the spring member. Substrate transfer device. 前記ガイド支持部には、前記基板ガイド本体が支持される近傍に吸引部が形成され、この吸引部は、前記基板当接部側に開口していることを特徴とする請求項6に記載の基板搬送装置。 The suction guide portion is formed in the vicinity of the guide support portion where the substrate guide main body is supported, and the suction portion is open to the substrate contact portion side. Substrate transfer device. 前記ガイド支持部は、前記基板当接部側に延びるカバーを備え、このカバーは、前記吸引部の開口よりも外側に配置され、基板ガイド本体の全周を覆うように設けられており、前記カバーと前記基板当接部との間には隙間が形成されていることを特徴とする請求項7に記載の基板搬送装置。 The guide support portion includes a cover extending toward the substrate contact portion, and the cover is disposed outside the opening of the suction portion and is provided to cover the entire circumference of the substrate guide body. The substrate transfer apparatus according to claim 7, wherein a gap is formed between the cover and the substrate contact portion. 前記基板当接部は、基板の側面に対して傾斜する傾斜面を有しており、この傾斜面は、ステージの表面に向かって拡径する形状を有していることを特徴とする請求項1〜8に記載の基板搬送装置。 The substrate contact portion has an inclined surface that is inclined with respect to the side surface of the substrate, and the inclined surface has a shape that increases in diameter toward the surface of the stage. The board | substrate conveyance apparatus of 1-8.
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