JP5876260B2 - クリープ損傷を受ける金属の余寿命診断装置 - Google Patents
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Description
2…走査型電子顕微鏡(SEM)
21…電子銃
22…磁界レンズ
23…試料ステージ
24…二次電子検出器
3…診断用コンピュータ
31…コンピュータ本体
32…表示部
33…入力部
34…CPU
35…メモリ
36…データ記憶部
GR…1枚の画像データ
L…粒界データ
L´…垂直粒界データ
L″…損傷粒界データ
LL…垂直粒界の長さ
V…ボイドの画像データ
W…ボイドの幅(ボイドの長さ)
N…ゴミの画像データ
ED…画像データの縁部分
EX…画像データの対象外領域
RL…参照方向データ(参照線画像)
Claims (4)
- クリープ損傷を受ける金属の余寿命をコンピュータによって診断する余寿命診断装置であって、
前記コンピュータに、
前記金属のレプリカを顕微鏡撮影することで得られた、前記金属表面における複数の粒界に対応する粒界画像データを取得させる粒界画像データ取得ステップと、
前記粒界画像データから、前記各粒界の始点座標と終点座標を含む粒界データを取得させる粒界データ取得ステップと、
前記金属の応力方向に垂直な参照方向を示す参照方向データを、前記粒界画像データに設定させる参照方向データ設定ステップと、
前記参照方向データに基づいて、前記複数の粒界データの中から、前記参照方向を中心とする所定の角度範囲に属する垂直粒界データを抽出させる垂直粒界データ抽出ステップと、
前記垂直粒界データに対応する粒界上のボイド形成状態に基づいて、当該垂直粒界データが損傷粒界に対応する損傷粒界データか否かを判断させる損傷粒界判断ステップと、
前記垂直粒界データに対応する粒界の数、及び、前記損傷粒界データに対応する粒界の数に基づき、Dパラメータ法を用いて前記金属の余寿命を診断させる余寿命診断ステップと
を行わせ、
前記参照方向データ設定ステップでは、前記応力方向の位置を変えながら前記参照方向データを繰り返し設定させ、
前記垂直粒界抽出ステップでは、各位置に設定された前記参照方向データに基づいて、垂直粒界データと判断された粒界データについて、垂直粒界データであることを示す所定の情報を記憶し、前記参照方向データの全ての位置について、垂直粒界データの判定が終わった後、前記所定の情報が記憶された粒界データを垂直粒界データとして抽出させることを特徴とする余寿命診断装置。 - 前記損傷粒界判断ステップでは、前記垂直粒界データに対応する粒界の長さとボイド長さの比率に基づいて、前記垂直粒界データが前記損傷粒界データか否かを判断させることを特徴とする請求項1に記載の余寿命診断装置。
- 前記粒界画像データ取得ステップでは、撮影対象位置を変えながら複数回顕微鏡撮影することで、複数の粒界画像データを取得させ、
前記参照方向データ設定ステップでは、前記複数の粒界画像データのそれぞれについて前記参照方向データを設定させ、
前記垂直粒界データ抽出ステップでは、前記複数の粒界画像データのそれぞれについて前記垂直粒界データを抽出させることを特徴とする請求項1又は2に記載の余寿命診断装置。 - 前記余寿命診断ステップでは、Dパラメータと時間分数との相関関係を示すマスターカーブを予め取得しておき、前記垂直粒界データに対応する粒界の数、及び、前記損傷粒界データに対応する粒界の数に基づくDパラメータを前記マスターカーブにあてはめることで、前記金属の余寿命を診断することを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の余寿命診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2011221228A JP5876260B2 (ja) | 2011-10-05 | 2011-10-05 | クリープ損傷を受ける金属の余寿命診断装置 |
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JP2013079917A JP2013079917A (ja) | 2013-05-02 |
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Family Applications (1)
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Country | Link |
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JP (1) | JP5876260B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103439156A (zh) * | 2013-07-30 | 2013-12-11 | 国家电网公司 | 一种塔材现场金相检验用复膜的制备方法 |
CN106841206B (zh) * | 2016-12-19 | 2018-07-24 | 大连理工大学 | 大型零件化学铣削切割非接触在线检测方法 |
JP6751546B1 (ja) * | 2020-03-10 | 2020-09-09 | 東北発電工業株式会社 | ボイド検出装置、ボイド検出方法、及び、ボイド検出プログラム |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3064107B2 (ja) * | 1992-07-16 | 2000-07-12 | 三菱重工業株式会社 | オーステナイト系耐熱鋼の高温損傷評価方法 |
JP3064110B2 (ja) * | 1992-08-04 | 2000-07-12 | 三菱重工業株式会社 | オーステナイト系耐熱鋼の高温損傷評価方法 |
JP2007225450A (ja) * | 2006-02-23 | 2007-09-06 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 高温高圧下にある低合金鋼の寿命予測方法、寿命予測装置、寿命予測プログラム、プログラム格納媒体 |
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Publication number | Publication date |
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JP2013079917A (ja) | 2013-05-02 |
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