JP5850055B2 - 太陽電池と該太陽電池の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、太陽電池と該太陽電池の製造方法に関し、より詳しくは量子ドットの集合体で形成された量子ドット層で太陽光を吸収し、光エネルギーを電気エネルギーに変換する太陽電池とその製造方法に関する。
自然再生可能エネルギーへの関心の高まりと共に、太陽光発電を利用した太陽電池が注目されている。特に、資源量が豊富で省資源・低コスト化が可能なシリコン(以下、「Si」という。)系材料を使用したSi系太陽電池の開発が盛んに行なわれている。
この種のSi系太陽電池は、p型Si系材料で形成されたp型半導体とn型Si系材料で形成されたn型半導体とが接合されてpn接合を形成している。そして、pn接合の界面に形成された空乏層に太陽光が照射されると、キャリアが励起されて光電流が生じ、光電変換されて外部に取り出される。
しかしながら、このようなpn接合型のSi系太陽電池は、エネルギー変換効率が、理論上、最大でも約30%と低く、このため低コストでより大きなエネルギー変換効率を有する太陽電池の実現が求められている。
そこで、前記p型半導体と前記n型半導体との間にSi量子ドット層を介在させたSi量子ドット太陽電池が最近注目を集めている。
このSi量子ドット太陽電池は、ナノテクノロジーに量子力学的理論を適用することにより、太陽光スペクトルを有効に活用しようとしたものであり、これにより変換効率の大幅な向上が可能となり、次世代太陽電池として有望視されている。
この種のSi量子ドット太陽電池では、量子ドット構造体の作製方法として、例えば、非特許文献1に記載されている方法が知られている。
この非特許文献1は、SiOマトリックス中に分散させたSiナノ結晶の残留応力についての報告しており、アモルファスシリコン(a−Si)層と二酸化ケイ素(SiO)層とを交互に積層し、1100℃程度の温度で熱処理している。そして、これによりa−Si層のSiが析出し、SiOマトリックス中に分散した形態でSi量子ドットを得ている。
また、非特許文献2は、タンデム型の太陽光発電セルのためのSi量子ドットナノ構造について報告している。
この非特許文献2では、SiO層とSiリッチ酸化物(SRO)層とを交互に積層し、窒素雰囲気下、1050〜1150℃の温度で熱処理し、これによりSRO層中のSiが析出し、非特許文献1と同様、SiOマトリックス中に分散させた形態でSi量子ドットを得ている。
また、この非特許文献2では、SiO層の代わりに、窒化シリコン(Si)層や炭化シリコン(SiC)層が使用可能であることも報告されている。
T. Arguirov et al., "Residual stress in Si nanocrystals embedded in a SiO2 matrix", Applied Physics Letters, 89, 053111 (2006) pp. 6748-6756 G. Conibeer et.al., "Silicon quantum dot nanostructures for tandem photovoltaic cells", Thin Solid Films, 516 (2008) pp.6748-6756
ところで、Si量子ドット太陽電池が、高いエネルギー変換効率を実現するためには、量子ドット内で発生した励起子が効率良くキャリアに分離し、かつ良好なキャリア輸送性を有することが必要であり、そのためには量子ドットの平均粒径が微細であり、かつ各量子ドットの粒子間が極力接近しているのが好ましい。
しかしながら、非特許文献1や非特許文献2の方法では、a−Si層やSRO層とSiO層とを交互に積層し、熱処理してSi粒子を析出させ、これにより量子ドットを形成している。このため、粒子間距離を一様に制御するのは困難であり、例えば5nm以上の離間距離を有してSi量子ドットが点在する場合がある。また、Si量子ドットの粒径を制御するのも困難であり、粒径の大きなSi量子ドットが混在するおそれがある。このため未だSi量子ドットの特性を活かした所望の高エネルギー変換効率を得ることができない状況にある。
しかも、非特許文献1及び非特許文献2では、a−Si層やSRO層とSiO層とを交互に積層した後、高温で熱処理を行っているため、単層状のSi量子ドットを多数積層する場合は、工程増を招き、生産性に欠けるという問題点があった。
本発明はこのような事情に鑑みなされたものであって、吸収係数が良好でキャリア輸送性に優れ、エネルギー変換効率の良好な高効率の太陽電池及び該太陽電池の製造方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、量子ドット構造体としてシリコンクラスター(以下、「Siクラスター」という。)に着目し、鋭意研究を行ったところ、Siクラスター粒子を平均粒径が3nm以下となるように微細化すると、Siクラスター粒子は、Siナノ結晶と同様の正四面体ダイヤモンド構造を有するコア部と、ケージ構造を有する表層のシェル部とからなるコアーシェル構造を有することが分った。そして、この微細化されたSiクラスター粒子は、コア部のダイヤモンド構造によって高い吸収係数を得ることができる一方、シェル部のケージ構造によって化学反応に対して不活性となり、キャリア輸送性やキャリア寿命を向上させることが可能であるという知見を得た。
また、このように微細化したSiクラスター粒子の粒子間距離を1nm以下の間隔で三次的に周期配列することにより、Siクラスター粒子間のキャリア輸送性が向上することも分かった。
さらに、量子構造の導入により中間バンド(エネルギー準位)を形成することができ、斯かる中間バンドを介した光吸収により吸収係数の大幅な向上が可能となり、これにより高効率の太陽電池を得ることができることが分かった。
一方、太陽電池の積層構造については、基板表面に取出電極及び陽極を形成し、陰極側から太陽光を照射するようにした第1の構造、及び基板表面に陰極を形成し、陽極側から太陽光を照射するようにした第2の構造が考えられる。
そして、陰極と電子輸送層との界面をオーミック接触させることを考えると、成膜条件として500℃程度の高温下で熱処理し、接合するのが望まれる。また、電子輸送層は比較的厚膜設計されることから、表面欠陥の発生が抑制された良好な膜質を得るためには高温で成膜するのが好ましい。
しかしながら、第1の構造の場合、基板表面に陽極が形成され、その後、正孔輸送層、量子ドット層、電子輸送層、陰極が順次形成されることから、電子輸送層や陰極の形成は、量子ドット層の形成後に行なわれることになる。そして、このように量子ドット層の形成後に電子輸送層及び陰極を成膜する場合、オーミック接触及び良好な膜質を確保しようとすると、高温で成膜又は熱処理を行なわなければならず、このため量子ドット層が高温雰囲気に晒され、量子ドット層が変質して特性劣化を招くおそれがある。
これに対して第2の構造の場合、基板表面に陰極が形成し、その後、電子輸送層、量子ドット層、正孔輸送層、陽極が順次形成されることから、量子ドット層を形成する前に電子輸送層や陰極が形成される。そしてこれにより、量子ドット層は成膜条件の影響を受けることもなく、量子ドット層の変質を回避することが可能となる。
したがって、太陽電池の積層構造としては、上記第2の構造を採用するのが望ましい。また、グラフェン系材料を使用して電子輸送層と量子ドット層との間に量子ドット配列層を設けることにより、Siクラスター粒子は該量子ドット配列層上で高精度に周期配列させることが可能となる。
本発明はこのような知見に基づきなされたものであって、本発明に係る太陽電池は、量子ドットの集合体からなる量子ドット層が、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在され、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池であって、陰極が基板上に形成されると共に、前記陰極の主面上に前記電子輸送層、グラフェン系材料からなる量子ドット配列層、前記量子ドット層、前記正孔輸送層、及び透光性材料からなる陽極が順次形成され、かつ前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極が形成され、前記量子ドット層は、前記量子ドットがシリコンクラスター粒子で形成されると共に、該シリコンクラスター粒子が三次元的に周期配列されてなり、前記シリコンクラスター粒子は、平均粒径が3nm以下であり、前記シリコンクラスター粒子同士の粒子間距離が1nm以下であることを特徴としている。
また、本発明の太陽電池は、前記基板は、石英ガラス、無アルカリガラス、ホウケイ酸ガラス、アルミナ、ガリウム砒素、Si及びシリコンカーバイドを含む群から選択される材料で形成されるのが好ましい。
さらに、本発明の太陽電池は、前記電子輸送層が、n型Si系材料で形成されているのが好ましい。
また、上記第2の構造の場合、電子輸送層は欠陥による特性劣化も少なく、したがって電子輸送層材料に単結晶又は多結晶のn型Si系基板を使用することが可能である。
すなわち、本発明に係る太陽電池は、量子ドットの集合体からなる量子ドット層が、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在され、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池であって、前記電子輸送層が、単結晶又は多結晶のn型シリコン系基板で形成され、前記電子輸送層の一方の主面上にグラフェン系材料からなる量子ドット配列層、前記量子ドット層、前記正孔輸送層、及び透光性材料からなる陽極が順次形成され、かつ前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極が形成されると共に、前記電子輸送層の他方の主面上に陰極が形成され、前記量子ドット層は、前記量子ドットがシリコンクラスター粒子で形成されると共に、該シリコンクラスター粒子が三次元的に周期配列されてなり、前記シリコンクラスター粒子は、平均粒径が3nm以下であり、前記シリコンクラスター粒子の粒子間距離が1nm以下であることを特徴としている。
また、上記太陽電池において、電子輸送層であるn型Si系基板と陰極との間の接合界面でキャリアが再結合するのを防止する観点からは、n型Si系基板と陰極との導通を可能にしつつ、両者の間に絶縁膜を介装するのが好ましい。
すなわち、本発明の太陽電池は、前記電子輸送層の前記他方の主面に所定パターンの絶縁膜が形成されると共に、前記陰極は、一部が前記電子輸送層に接合するように前記絶縁膜を介して前記他方の主面側に形成されているのが好ましい。
これにより、電子輸送層であるn型Si系基板と陰極との間の接合界面でキャリアが再結合するのを抑制することが可能となる。
また、本発明の太陽電池は、前記量子ドット層は、価電子帯と伝導帯との間の中間エネルギー準位を有する多重エネルギー準位構造を備えているのが好ましい。
これにより効果的な光吸収が可能となる。
また、グラフェン系材料等を使用して電子輸送層と量子ドット層との間に量子ドット配列層を設けることにより、Siクラスター粒子は該量子ドット配列層上で高精度に周期配列させることが可能となる。
すなわち、本発明の太陽電池は、前記電子輸送層と前記量子ドット層との間に量子ドット配列層が形成されているのが好ましい。
これによりSiクラスター粒子は該量子ドット配列層上で高精度な周期配列を実現することが可能となる。
また、本発明の太陽電池は、前記量子ドット配列層は、グラフェン系材料で形成されているのが好ましい。
また、本発明の太陽電池は、前記正孔輸送層は、p型Si系材料で形成されているのが好ましい。
また、本発明の太陽電池は、前記陰極が、Alを主成分とすると共に、Nd、Ta、及びCuから選択された少なくとも1種の不純物を含有し、かつ、前記不純物の含有量は、0.01〜3at%であるのが好ましい。
これにより平坦性の良好な陰極を形成することができる。
また、本発明の太陽電池は、前記陽極が、酸化物透明導電膜、グラフェン、及びナノワイヤの網状組織からなる透明導電膜のうちのいずれかで形成されているのが好ましい。
また、本発明に係る太陽電池の製造方法は、量子ドットの集合体からなる量子ドット層を、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在させ、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池の製造方法であって、基板表面に陰極を形成した後、該陰極の表面に電子輸送層を形成し、次いで、前記電子輸送層の表面にグラフェン系材料からなる量子ドット配列層を形成し、次いで、平均粒径が3nm以下のシリコンクラスター粒子を、粒子間距離が1nm以下となるように、前記量子ドット配列層の表面に三次元的に周期配列させて前記量子ドット層を形成し、その後、前記量子ドット層の表面に正孔輸送層を形成し、次いで、透光性材料からなる陽極を前記正孔輸送層の表面に形成し、さらに、前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極を形成することを特徴としている。
また、本発明の太陽電池の製造方法は、前記電子輸送層をn型Si系材料で形成するのが好ましい。
また、本発明に係る太陽電池の製造方法は、量子ドットの集合体からなる量子ドット層を、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在させ、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池の製造方法であって、単結晶又は多結晶のn型シリコン系基板を電子輸送層とし、前記電子輸送層の表面にグラフェン系材料からなる量子ドット配列層を形成し、平均粒径が3nm以下のシリコンクラスター粒子を、粒子間距離が1nm以下となるように前記量子ドット配列層の一方の主面上に三次元的に周期配列させて前記量子ドット層を形成し、次いで、前記量子ドット層の表面に正孔輸送層を形成し、その後、透光性材料からなる陽極を前記正孔輸送層の表面に形成し、さらに、前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極を形成する一方、前記電子輸送層の他方の主面上に陰極を形成し、前記電子輸送層と前記陰極とを接合させることを特徴としている。
また、本発明の太陽電池の製造方法は、前記電子輸送層の前記他方の主面に所定パターンの絶縁膜を形成した後、一部が前記電子輸送層と接合するように前記絶縁膜の表面に前記陰極を形成するのが好ましい。
これにより電子輸送層と陰極との界面でキャリアが再結合するのを極力抑制した高効率の太陽電池を製造することができる。
また、本発明の太陽電池の製造方法は、前記電子輸送層の表面に量子ドット配列層を形成し、該量子ドット配列層の表面に前記量子ドット層を形成するのが好ましい。
これにより量子ドット配列層は平坦な電子輸送層上に形成されることから、量子ドット配列層は膜質が均質であり、より立体的秩序が良好で所望の高精度に周期配列されたSiクラスター粒子を有する量子ドット層を得ることが可能となる。
また、本発明の太陽電池の製造方法は、前記量子ドット配列層をグラフェン系材料で形成するのが好ましい。
また、本発明の太陽電池の製造方法は、前記量子ドット層を形成した後の一連の処理を、200℃以下の処理温度で行うのが好ましい。
これにより量子ドット層の特性劣化等を招くことなく、太陽電池を作製することが可能となる。
また、本発明の太陽電池の製造方法は、前記正孔輸送層をp型Si系材料で形成するのが好ましい。
本発明の太陽電池によれば、陰極が石英ガラス等の基板上に形成されると共に、前記陰極の主面上に、n型Si系材料からなる電子輸送層、グラフェン系材料からなる量子ドット配列層、量子ドット層、p型Si系材料からなる正孔輸送層、及び酸化物透明導電膜、グラフェン、或いはナノワイヤの網状組織からなる透明導電膜等の透光性材料からなる陽極が順次形成され、かつ前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極が形成され、前記量子ドット層は、前記量子ドットがSiクラスター粒子で形成されると共に、該Siクラスター粒子が三次元的に周期配列されてなり、前記Siクラスター粒子は、平均粒径が3nm以下であり、前記Siクラスター粒子同士の粒子間距離が1nm以下であるので、Siクラスター粒子はダイヤモンド構造とケージ構造とからなるコアーシェル構造を有することとなり、吸収係数が高く、化学反応に不活性で良好なキャリア輸送性有し、キャリアの長寿命化が可能となり、エネルギー変換効率の良好な高効率の太陽電池を実現することが可能となる。
しかも、積層構造が、上述したように基板/陰極/電子輸送層/量子ドット層/正孔輸送層/陽極/取出電極であるので、陰極や電子輸送層の形成に際し高温で成膜又は熱処理を行なっても量子ドット層に影響を及ぼすことがなく、欠陥の少ない良好な膜質を有する電子輸送層を得ることができる。また、電子輸送層と陰極との界面はオーミック接触を確保することができ、より高効率の太陽電池を実現することができる。
また、電子輸送層の欠陥による特性劣化が少ないため、電子輸送層材料に単結晶又は多結晶のn型Si系基板を使用することが可能である。
また、本発明の太陽電池の製造方法によれば、基板表面に陰極を形成した後、該陰極の表面にn型Si系材料等からなる電子輸送層を形成し、次いで、前記電子輸送層の表面にグラフェン系材料からなる量子ドット配列層を形成し、次いで、平均粒径が3nm以下のSiクラスター粒子を粒子間距離が1nm以下となるように前記量子ドット配列層の主面上に三次元的に周期配列させて前記量子ドット層を形成し、その後、前記量子ドット層の表面にp型Si系材料等からなる正孔輸送層を形成し、次いで、透光性材料からなる陽極を前記正孔輸送層の表面に形成し、さらに、前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極を形成するので、量子ドット層への影響を考慮することなく、所望の成膜条件でもって太陽電池を製造することが可能となり、また、基板が透光性を有する必要もなく、基板の選択性も向上する。
しかも、量子ドット層を一つの成膜プロセスで三次元的に周期配列させているので、従来よりもSi量子ドットを積層する場合の製造工程が簡素となり、生産性向上を図ることが可能となる。
また、n型Si系材料に代えて、単結晶又は多結晶のn型Si系基板を使用した場合も、上述と同様、量子ドット層への影響を考慮することなく、所望の成膜条件でもって太陽電池を製造することが可能であり、しかもこの場合は、通常、最下層に設けられる基板の省略が可能となる。
本発明に係る太陽電池の一実施の形態(第1の実施の形態)を示す断面図である。 電子輸送層/量子ドット層/正孔輸送層のバンド構造を示す図である。 グラフェン六角格子とエネルギー分散関係を示す図である。 比較例の太陽電池の断面図である。 太陽電池の製造方法の一実施の形態(第1の実施の形態)を示す製造工程図(1/2)である。 太陽電池の製造方法の一実施の形態(第1の実施の形態)を示す製造工程図(2/2)である。 Siクラスタービーム成膜装置の概略構成図である。 本発明に係る太陽電池の第2の実施の形態を示す断面図である。 太陽電池の製造方法の第2の実施の形態を示す製造工程図である。 第2の実施の形態の変形例を示す断面図である。
次に、本発明の実施の形態を図面に基づき詳説する。
図1は、本発明に係る太陽電池の一実施の形態(第1の実施の形態)を示す断面図である。
この太陽電池は、基板1の表面に陰極2が形成され、該陰極2の表面に電子輸送層3が形成されている。また、電子輸送層3の表面に量子ドット配列層4が形成され、該量子ドット配列層4の表面中央領域にSiクラスター粒子(量子ドット)の集合体からなる量子ドット層5が形成されている。そして、該量子ドット層5を覆うような形態で正孔輸送層6が形成され、さらに該正孔輸送層6の表面には透光性材料からなる陽極7が形成されている。また、該陽極7の両端近傍には一対の取出電極8a、8bが形成されている。
このように形成された太陽電池では、矢印Aに示す方向から太陽光が照射されると、量子ドット層5の量子ドットにキャリアが生成し、励起子吸収によりキャリア(正孔及び電子)は量子ドットの外部に引き出される。そして、キャリアのうち正孔は正孔輸送層6を介して陽極7に輸送され、取出電極8a、8bに伝導される。一方、電子は電子輸送層3を介して陰極2に輸送され、これにより光起電力が生じる。
ここで、基板1に使用される基板材料としては、特に限定されるものではない。すなわち、太陽光は基板1と反対側の矢印Aで示す陽極7側から入射されることから透光性が問われることはなく、例えば、石英ガラス、無アルカリガラス、ホウケイ酸ガラス、アルミナ、ガリウム砒素、Si及びシリコンカーバイドを含む群から選択される材料を使用することができる。
陰極2に使用される陰極材料についても特に限定されるものではないが、通常はAl系材料が使用される。また、陰極2は、電子輸送層3との間でオーミック接触であることが望まれることから、500℃以上の高温で成膜又は熱処理するのが好ましい。そして、斯かる高温で熱処理した場合であっても陰極2の平坦性を確保する観点からは、陰極材料としては、Alを主成分とし、Nd、Ta、Cu等の不純物を0.01〜3at%程度含有したものを使用するのが好ましい。
また、電子輸送層3に使用される電子輸送層材料についても、特に限定されるものではないが、通常は、電子輸送性に優れ、資源量が豊富で安価なn型Si系材料、特にアモルファス又は微結晶のn型Si系材料、例えば、n型Si、n型SiC、n型SiGe等を好んで使用することができる。尚、電子輸送層3は、不純物としてドナーを含有しているが、斯かるドナー濃度は、1.0×1015〜1.0×1019cm-3程度が好ましい。
さらに、正孔輸送層6に使用される正孔輸送層材料についても、特に限定されるものではないが、通常は、正孔輸送性に優れ、資源量が豊富で安価なp型Si系材料、特に、アモルファス又は微結晶のp型Si系材料、例えば、p型Si、p型SiC等を好んで使用することができる。尚、正孔輸送層6は、不純物としてアクセプタを含有しているが、斯かるアクセプタ濃度は、1.0×1019cm-3程度が好ましい。
また、陽極7に使用される陽極材料についても、透光性を有するものであれば特に限定されるものではなく、ITO(In・SnO)、AZO(ZnO・Al)、GZO(ZnO・Ga)、IZO(In・ZnO)、IGZO(InGaZnO)等の酸化物透明導電膜、更にはグラフェン、Ag、CNT(カーボンナノチューブ)等のナノワイヤの網状組織からなる透明導電膜を使用することができる。この場合、酸化物透明導電膜はスパッタリング法、真空蒸着法等で形成することができ、グラフェン膜はCVD法等で形成することができ、いずれもドライプロセスで形成することができる。また、AgやCNT等の場合は分散溶液を作製して該分散溶液を塗布し乾燥させることによりウェットプロセスで形成することができる。
尚、取出電極8a、8bに使用される電極材料も特に限定されるものではなく、例えば、比較的安価で耐酸化性を有し、導電性の良好なAg系材料が好んで使用される。
そして、量子ドット層5は、微細化されたSiクラスター粒子の集合体で形成されている。
Siクラスター粒子が微細化されると、表層面と内部とでは原子配列の結晶構造が異なり、いわゆるコア−シェル構造を形成する。
コア部は、正四面体のダイヤモンド構造を有している。コア部では、Siクラスター粒子を微細化することにより、量子閉じ込め効果が促進されることから、光吸収係数の飛躍的向上が可能となるが、その一方で、ダイヤモンド構造は原子価状態の原子軌道がsp混成軌道を形成し、σ電子が支配的となり、不対電子を有する。
すなわち、コア部は、ダイヤモンド構造を有し、sp混成軌道を形成し、不対電子を有することから、結晶表面ではこの不対電子によってキャリアが捕獲され、該不対電子のキャリアの捕獲によりキャリア寿命が極端に短くなる。尚、Siナノ結晶を使用した従来のSi系太陽電池は、前記Siナノ結晶がダイヤモンド構造のみで形成されていることから、上述した理由によりキャリアの長寿命化が困難であると考えられる。
一方、シェル部は、ケージ構造を有し、π電子が介在し、原子価状態の原子軌道はsp混成軌道を形成する。
すなわち、シェル部では、原子価状態の原子軌道はsp混成軌道を形成することから、不対電子は存在せず、キャリアが捕獲されることもなく、キャリア輸送性が改善され、化学反応に対しても不活性であり、キャリアの長寿命化が可能となる。
そして、Siクラスター粒子が、このようなコア-シェル構造を形成するためには、Siクラスター粒子の平均粒径を3nm以下、好ましくは2.5nm以下に微細化する必要がある。すなわち、Siクラスター粒子の平均粒径が3nmを超えると、結晶構造はダイヤモンド構造が支配的となって、所望のケージ構造を形成するのが困難になる。尚、Siクラスター粒子の平均粒径の下限は、特に限定されないが、コア部がアモルファス構造ではなくダイヤモンド構造をとるためには、1nm以上、好ましくは2nm以上が好ましい。また、より一層良好なキャリア輸送性を得るためには、Siクラスター粒子の粒度分布は極力狭いのが好ましく、粒径分散は5〜10%以内が好ましい。
また、キャリア輸送性を向上させるためには、Siクラスター粒子同士の粒子間距離を極力接近させることも重要である。すなわち、Siクラスター粒子のケージ構造におけるsp混成軌道は、Siクラスター粒子の径方向へも波動関数が広がる。そして、Siクラスター粒子を高密度に積層することにより、斯かる波動関数同士が僅かに重なることから、キャリアはシェル部における電子の波数の広がりによってSiクラスター粒子間を直接移動し、これによりキャリア輸送性を向上させることが可能となる。そして、そのためにはSiクラスター粒子同士の粒子間距離を1nm以下に接近させる必要がある。ただし、ケージ構造におけるsp混成軌道のSi原子間距離(=0.25nm)以下に近接させるのは好ましくない。
そして、本実施の形態では、平均粒径が3nm以下に微細化されたSiクラスター粒子が、量子ドット配列層4上に三次元的に周期配列され、立体的秩序を有する量子ドット層5を形成している。そして、これにより量子ドット層5は、価電子帯と伝導帯の間の中間エネルギー準位を有する多重エネルギー構造を形成し、キャリアの集積性が向上し、エネルギー変換効率の向上を図ることが可能となる。
図2は、電子輸送層/量子ドット層/正孔輸送層のエネルギーバンド構造を示す図である。
図2(a)は、Siクラスター粒子の集合体からなる量子ドット層5が電子輸送層3と正孔輸送層6との間に介在されている状態を示している。尚、この図2では、説明の都合上、量子ドット配列層4を省略している。
図2(b)は図2(a)に対応したエネルギー構造を示している。
量子ドット層5は、電子輸送層3と正孔輸送層6とを接合して形成される空乏層W内に存在し、該量子ドット層5に電子輸送層3からの電子及び正孔輸送層6からの正孔が輸送される。そして、量子ドット層5内では、正孔と電子が均衡するため、空間電荷は零となり、フェルミ準位Eは伝導帯11のエネルギー準位と価電子帯12のエネルギー準位との差であるバンドギャッップVgの中心に位置する(V=ΔE/2)。そして、熱的平衡状態ではキャリアの移動が無く、電子輸送層3、量子ドット層5、及び正孔輸送層6の各フェルミ準位が一致する。電気的に中性な量子ドット層5を挟んで、正孔輸送層6の負電位と電子輸送層3の正電位との間の電位差によって空乏層WにはビルトインポテンシャルVが生じる。
このように量子ドット層5のフェルミ準位EがバンドギャップVgの中心に位置することで、ビルトインポテンシャルVを大きくすることができ、これにより大きな開放電圧を有する太陽電池を得ることができる。
さらに、本実施の形態では、Siクラスター粒子を三次元的に周期配列しているので、許容される電子のエネルギー準位は離散的となり、中間エネルギー準位を形成する。バンドキャップVgによって規定されるSiの吸収端に対し、価電子帯又は伝導帯のエネルギー準位と中間エネルギー準位とで規定される吸収端は更に長波長となり、長波長領域における量子効率を引き上げることが可能となる。
また、量子ドット層5内で周期配列されるSiクラスター粒子の積層数は100〜300層程度が好ましい。前記積層数が100層未満になると、十分な太陽光スペクトルの吸収率を得ることができなくなって高効率化することが困難となる。一方、積層数が300層を超えると量子ドット層5内に負荷されるビルトインポテンシャルVが小さくなり、発生キャリアの効率的な輸送ができなくなるおそれがある。
尚、Siクラスター粒子は、不純物を含まない真性Si半導体材料、又は不純物を含んでいる場合であっても微量である高純度Si半導体材料で形成されるのが好ましい。
また、本実施の形態では、量子ドット層5を周期配列する際に、より良好な立体的秩序を有し、キャリア寿命をより一層向上させる観点から、電子輸送層3と量子ドット層5との間に超薄膜の量子ドット配列層4を設けている。この量子ドット配列層4は、グラフェン又は酸化グラフェン等のグラフェン系材料を使用するのが好ましい。
以下では、量子ドット配列層4にグラフェンを使用した場合について詳述する。
グラフェンは、1層〜数層の原子層をグラファイトから単離して人工的に生成された薄膜である。グラフェン中の電子は相対論的粒子としての挙動を示し、温度に依存することなく、キャリア輸送性の向上に寄与する。
すなわち、グラフェンは、C原子核の近傍において、電子がバンドギャップのない連続的なエネルギー帯域を形成し、固体中を自由に移動する。そして、C原子核から遠ざかるに従って電子のエネルギー帯域は次第に離散的になるが、エネルギー離散幅と原子核からの距離が線形になることから、固体中を光速に近い状態で移動し、電子の質量はゼロに近づく。
量子ドット配列層4としてのグラフェンの表面に量子ドットとしてのSiクラスター粒子を形成すると、グラフェン表面のπ電子とSiクラスター粒子のシェル部のπ電子との間で電子の波動関数が重なり、グラフェン中の電子がSiクラスター粒子に輸送される。そして、Siクラスター粒子がグラフェンの表面に吸着すると、Siクラスター粒子と接するグラフェンの局所領域では、グラフェン中の電子がSiクラスター粒子内に輸送され、量子閉じ込め状態が形成される。尚、Siクラスター粒子のSi原子は、グラフェンのC原子核上に吸着する。
図3(a)はグラフェン結晶構造の逆格子を示し、図3(b)は、前記逆格子に対応した電子の波数とエネルギーとの分散関係を示している。
グラフェンには、対称性の高い点として波数空間のΓ点、六角格子の角のK点、K′点、K点及びK′点の中央のM点がある。電子輸送層3上にグラフェンを積層した後、Siクラスター粒子を蒸着させると、Siクラスター粒子は高いエネルギーでもって飛来し、グラフェン表面上を移動する。そして、Siクラスター粒子のSi原子がグラフェン表面のK点及びK′点に吸着され、安定的にグラフェン上に付着する。
このようにしてSiクラスター粒子が高精度に周期配列し、Siクラスター粒子の第1層がグラフェン表面上に形成される。そしてこの後、Siクラスター粒子の前記第1層の周期配列に沿って第2層目以降のSiクラスター粒子が同様に高精度に周期配列する。
このように高精度に周期配列したSiクラスター粒子では、安定した中間エネルギー準位が形成され、高効率の太陽電池を実現することが可能となる。さらに、量子ドット層5で生成されたキャリアはグラフェン(量子ドット配列層4)によって消滅することなく、電子輸送層3に輸送される。すなわち、量子ドット層5内部で生成されたキャリアはシェル部に到達した後、電子輸送層3との界面に介在するグラフェン(量子ドット配列層4)との間でキャリアの波動関数が重なり、グラフェンを介して電子輸送層3に輸送される。
このようにグラフェン表面では極めて良好なキャリア輸送性を有し、キャリアは電子輸送層3に効率よく輸送される。しかも、量子ドット層5で生成されたキャリア寿命が長くなることから、変換効率の高い太陽電池が製作できる。
次に、太陽電池の積層構造を図1のようにした理由について詳述する。
本発明のような太陽電池の場合、従来より、図4に示すように、透明基板101の表面に一対の取出電極102を形成した後、透光性材料からなる陽極103を形成し、該陽極103上に正孔輸送層104、量子ドット配列層105、量子ドット層106、電子輸送層107、及び陰極108を順次形成し、太陽光は矢印B方向に示す透明基板101側から照射されるのが一般的である。
このような積層構造を本発明に適用した場合、Siクラスター粒子の集合体からなる量子ドット層106を形成した後、電子輸送層107や陰極108が形成されることになる。
そして、量子ドット層106の変質等で特性劣化を招くのを回避するためには、電子輸送層107や陰極108を比較的低温(例えば、200℃以下)に設定しながら成膜工程を行なうのが望ましい。
しかしながら、電子輸送層107を厚膜設計した場合、量子ドット層106の形成後に成膜処理を行うと、高温で成膜又は熱処理を行うことができなくなるため、電子輸送層107の膜質に欠陥が生じやすくなる。このためキャリア輸送中で前記欠陥が原因で再結合確率が上昇し、その結果、エネルギー変換効率の低下を招くおそれがある。
また、電子輸送層107と陰極108との界面接合はオーミック接触であるのが望ましく、そのためには500℃程度の高温で成膜又は熱処理を行なう必要がある。しかしながら、高温処理を行なうと、上述したように量子ドット層106の特性劣化を招くおそれがあるため、十分なオーミック接触を得ることができなくなるおそれがある。
さらに、上記従来の積層構造では、透明基板101の表面に一対の取出電極102を形成した後、該取出電極102を覆うように陽極103を形成しているため、図中、Dに示すように、下地層に段差が生じた状態で量子ドット配列層105や量子ドット層106が形成されることになる。このため、極薄の量子ドット配列層105を均質に形成するのが困難となり、所望の高精度な周期配列を実現できなくなるおそれがある。
そこで、本実施の形態では、積層膜間に段差が生じないように図1のような積層構造としている。
すなわち、基板1の全面に陰極2を形成し、該陰極2上に電子輸送層3を形成しているので、量子ドット層5の形成前に電子輸送層3が形成されることとなり、したがって高温での熱処理を容易に行なうことができ、陰極2と電子輸送層3との接合界面を所望のオーミック接触とすることができる。
また、膜厚の厚い電子輸送層3を形成する場合であっても高温処理できることから、欠陥の少ない膜質の良好な電子輸送層3を得ることができ、太陽電池のエネルギー変換効率を向上させることが可能となる。
また、量子ドット配列層4を形成する場合であっても、下地層である電子輸送層3は高精度な平坦性を有することから、極めて薄い量子ドット配列層4を均質に形成することが可能となる。したがって、Siクラスター粒子はより整然とした高精度に周期配列された立体的秩序を有し、所望の積層構造を有する量子ドット層5を得ることが可能となる。
さらに、基板1が太陽光を透過する必要がないことから、基板1の選択性も向上する。また、基板1にガラス基板を選択する場合であっても、このような基板の光線透過率特性を考慮する必要がなくなり、斯かる側面からも基板1の選択性が向上する。
また、陽極7側から太陽光が入射するように形成されているので、該陽極7を酸化物導電膜で形成した場合であっても、界面での酸化の影響を考慮する必要が無く、したがって、取出電極8a、8bとのコンタクト形成時の制限が少なくなり、太陽電池の作製を柔軟に行なうことが可能となる。
このように本実施の形態では、陰極2が基板1上に形成されると共に、陰極1の主面上に、電子輸送層3、量子ドット配列層4、量子ドット層5、正孔輸送層6、及び陽極7が順次形成され、かつ陽極7の少なくとも一部が表面露出するように該陽極7上に取出電極8a、8bが形成され、量子ドット層5は、量子ドットがSiクラスター粒子で形成されると共に、該Siクラスター粒子が三次元的に周期配列されてなり、前記Siクラスター粒子は、平均粒径が3nm以下であり、前記Siクラスター粒子同士の粒子間距離が1nm以下であるので、Siクラスター粒子はダイヤモンド構造とケージ構造とからなるコアーシェル構造を有することとなり、吸収係数が高く、化学反応に不活性で良好なキャリア輸送性有し、キャリアの長寿命化が可能となり、エネルギー変換効率の良好な高効率の太陽電池を実現することが可能となる。
しかも、積層構造が、基板1/陰極2/電子輸送層3/量子ドット配列層4/量子ドット層5/正孔輸送層6/陽極7/取出電極8a、8bであるので、陰極2や電子輸送層3の形成に際し高温で熱処理を行なっても量子ドット層5に影響を及ぼすことがなく、欠陥の少ない良好な膜質を有する電子輸送層3を得ることができる。また、電子輸送層3と陰極2との界面はオーミック接触を確保することができ、より高効率の太陽電池を実現することができる。
また、電子輸送層3と量子ドット層5との間にグラフェン系材料で形成された量子ドット配列層4を設けているので、Siクラスター粒子は該量子ドット配列層4上で高精度な周期配列を実現することが可能となる。
次に、上記太陽電池の製造方法を詳述する。
図5及び図6は、本太陽電池の製造方法の一実施の形態を示す製造工程図である。
まず、図5(a)に示すように、板厚が50〜1000μmの基板1を用意し、真空蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成方法を使用し、該基板1の表面全域に膜厚が100〜300nmのAl−Nd等の陰極2を形成する。
次いで、図5(b)に示すように、RFスパッタリング法等の薄膜形成法を使用し、陰極2の表面に膜厚が100〜1000nmの電子輸送層3を形成する。尚、この際、電子輸送層3の成膜時の基板温度は500〜600℃で所定時間、成膜処理を行なう。そしてこれにより接合界面は、良好なオーミック接触となり、また電子輸送層3の膜質も欠陥の発生が抑制された良好なものとなる。
次いで、図5(c)に示すように、電子輸送層3の表面に量子ドット配列層4を形成する。
例えば、量子ドット配列層4を、グラフェンで形成する場合は、まず、グラファイトから化学剥離法等によって精製したグラフェンをメタノールや無水プロパノールに分散させた分散溶液を作製する。そして、Ar雰囲気中で電子輸送層3が形成された基板1の表面にグラフェン分散溶液を滴下し、これにより膜厚が0.15〜1nmのグラフェン膜を作製する。
尚、グラフェン分散溶液の濃度は分散液の溶媒が蒸発後、単層のグラフェン膜が形成されるように調整しておくのが好ましい。
次いで、図5(d)に示すように、量子ドット配列層4の表面にSiクラスター粒子の集合体である量子ドット層5を形成する。
図7は、量子ドット層5の形成に使用されるSiクラスタービーム成膜装置の概略構成図である。
このSiクラスタービーム成膜装置は、クラスター生成セル13を備えたクラスター生成部14と、該クラスター生成部14に連設された真空槽15を有している。そして、電子輸送層3及び量子ドット配列層4が形成された基板1を真空槽15に配し、クラスター生成部14で生成されたSiクラスター粒子16を基板1上に蒸着し、これにより量子ドット層5が形成される。
すなわち、内壁が楕円形状に形成されたクラスター生成セル13の楕円焦点にSiターゲット17をセットし、不活性ガス導入口18から矢印Cに示すように、He等の不活性ガスを1〜10Paの圧力でもってクラスター生成セル13に供給する。これと同時に、例えば、波長532nm、エネルギー800mJ、パルス幅11〜13nsに設定されたNd−YAGレーザ35からのレーザ光をSiターゲット17に照射する。
そして、Siターゲット17の蒸発によって発生したSiプルーム19が、クラスター生成セル13内の不活性ガス中を衝撃波20となって内壁で反射し、Si蒸気は100μs〜300μsの短時間、不活性ガス中に閉じ込められ、不活性ガスとSi蒸気とが混合する局所的な境界層でSiクラスター粒子16が生成される。すなわち、この短時間に不活性ガスとSi蒸気とが熱平衡にある局所領域でクラスター成長が生じ、平均粒径が3nm以下の微細化されたSiクラスター粒子16が生成される。生成されたSiクラスター粒子16は、電荷成分が少なく略中性であり、Siターゲット17と対向して設けられたセル出口21から不活性ガスに同伴されて噴出し、スキマー22を介してSiクラスタービーム36として真空中に引き出される。そして、このSiクラスタービーム36は、高い運動エネルギーでもって真空中を飛来し、真空槽15に配された基板1上の量子ドット配列層上に蒸着し、これにより膜厚が300〜900nmの量子ドット層5が形成される。すなわち、上述した高い運動エネルギーが、基板1との衝突の際にSiクラスター粒子16の内部エネルギーに変換され、基板1上でSiクラスター粒子16間の再配列を促し、これにより量子ドット層5における周期配列を形成している。
上記クラスタービーム成膜装置では、クラスター生成セル13に配したSiターゲット17にNd−YAGレーザ35からのレーザ光を照射して蒸発させ、発生した蒸気と不活性ガスとが接する面に、これら蒸気と不活性ガスとの混合領域を形成し、前記不活性ガス中に発生した衝撃波を前記混合領域で衝突させることにより、該混合領域を局所空間に閉じ込めてSiクラスター粒子16を生成している。そして、不活性ガスが衝撃波20の衝突によって圧縮し、生成されたSiクラスターを高速度で真空槽15に搬送している。そしてこれにより真空中でSiクラスター粒子16が解離することもなく、高エネルギーで基板1と衝突させ蒸着させることができ、所望の量子ドット層5を形成することができる。
次に、図6(e)に示すように、量子ドット層5の表面に正孔輸送層6を形成する。すなわち、真空蒸着法やスパッタリング法等の薄膜形成法を使用し、200℃以下の処理温度で量子ドット層5の表面に膜厚が20〜100nmの正孔輸送層6を形成する。
次いで、図6(f)に示すように、同様にして処理温度を200℃以下に制御し、正孔輸送層6の表面に膜厚が50〜200nmの透明導電膜からなる陽極7を形成する。
最後に、図6(g)に示すように、同様にして基板温度を200℃以下に制御し、陽極7の表面に膜厚が200〜2000nmの一対の取出電極8a、8bを形成する。
このように本実施の形態では、基板1の表面に陰極2を形成した後、該陰極2の表面に電子輸送層3を形成し、次いで、電子輸送層3の表面に量子ドット配列層4を形成し、さらに、平均粒径が3nm以下のSiクラスター粒子を粒子間距離が1nm以下となるように前記電子輸送層3の主面上に三次元的に周期配列させて前記量子ドット層5を形成し、その後、量子ドット層5の表面に正孔輸送層6を形成し、次いで、透光性材料からなる陽極7を正孔輸送層6の表面に形成し、さらに、陽極7の少なくとも一部が表面露出するように該陽極7上に取出電極8a、8bを形成しているので、量子ドット層5への影響を考慮することなく、所望の成膜条件でもって太陽電池を製造することが可能であり、基板1が透光性を有する必要もなく、基板1の選択性も向上する。
しかも、量子ドット層5を一つの成膜プロセスで三次元的に周期配列させているので、Siクラスター粒子を積層する場合に、製造工程が簡素であり、生産性向上を図ることが可能となる。
図8は本発明に係る太陽電池の第2の実施の形態を示す断面図であって、本第2の実施の形態では、電子輸送層23が単結晶又は多結晶のn型Si系基板で形成されている。
すなわち、この第2の実施の形態では、単結晶又は多結晶のn型Si系基板からなる電子輸送層23の一方の主面に、量子ドット配列層24、量子ドット層26、正孔輸送層27、陽極28及び取出電極29a、29bが形成され、前記電子輸送層23の他方の主面に陰極25が形成され、これにより第1の実施の形態のような基板1の省略を可能にしている。
そして、この第2の実施の形態の太陽電池は、図9のようにして製造することができる。
すなわち、図9(a)に示すように、単結晶又は多結晶のn型Si系基板からなる電子輸送層23の一方の主面に、第1の実施の形態と同様の方法で、量子ドット配列層24を形成し、他方の主面に陰極25を形成する。
次いで、図9(b)に示すように、第1の実施の形態と同様の方法で、量子ドット配列層24の表面に量子ドット層26を形成し、その後、図9(c)に示すように、量子ドット層26の表面に正孔輸送層27、陽極28、及び取出電極29を形成することができる。
図10は、第2の実施の形態の変形例である。
すなわち、この変形例では、単結晶又は多結晶からなるn型Si系基板で形成された電子輸送層23の他方の主面に所定パターンの絶縁膜30をSiO等で形成し、一部が電子輸送層23と接合するように絶縁膜30の表面に陰極31を形成している。すなわち、陰極31は、絶縁膜30間にコンタクトホール32を有するように形成され、陰極31と電子輸送層23とは、前記コンタクトホール32を介して接続されている。
このように電子輸送層23の他方の主面に所定パターンの絶縁膜30を形成し、電子輸送層23と陰極31との接合界面をコンタクトホール32のみに制限することにより、電子輸送層23を介して輸送されてきたキャリアの一部は電子輸送層23と絶縁膜30との接合界面における表面欠陥等に捕獲される。そして、絶縁膜30が前記表面欠陥等を不動態化するので、再結合する確率を低減することができ、これにより、より一層のエネルギー変換効率が良好な太陽電池を得ることが可能となる。
量子ドット層が成膜過程でダメージを受けることもなく、吸収係数が良好でキャリア輸送性に優れ、キャリアの長寿命化が可能でエネルギー変換効率の良好な太陽電池の実現が可能となる。
1 基板
2、25 陰極
3、23 電子輸送層
4、24 量子ドット配列層
5、26 量子ドット層
6、27 正孔輸送層
7、28 陽極
8a、8b、29a、29b 取出電極
11 伝導帯
12 価電子帯

Claims (15)

  1. 量子ドットの集合体からなる量子ドット層が、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在され、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池であって、
    陰極が基板上に形成されると共に、前記陰極の主面上に前記電子輸送層、グラフェン系材料からなる量子ドット配列層、前記量子ドット層、前記正孔輸送層、及び透光性材料からなる陽極が順次形成され、かつ前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極が形成され、
    前記量子ドット層は、前記量子ドットがシリコンクラスター粒子で形成されると共に、該シリコンクラスター粒子が三次元的に周期配列されてなり、
    前記シリコンクラスター粒子は、平均粒径が3nm以下であり、前記シリコンクラスター粒子同士の粒子間距離が1nm以下であることを特徴とする太陽電池。
  2. 前記基板は、石英ガラス、無アルカリガラス、ホウケイ酸ガラス、アルミナ、ガリウム砒素、シリコン及びシリコンカーバイドを含む群から選択される材料で形成されることを特徴とする請求項1記載の太陽電池。
  3. 前記電子輸送層は、n型シリコン系材料で形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の太陽電池。
  4. 量子ドットの集合体からなる量子ドット層が、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在され、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池であって、
    前記電子輸送層が、単結晶又は多結晶のn型シリコン系基板で形成され、
    前記電子輸送層の一方の主面上にグラフェン系材料からなる量子ドット配列層、前記量子ドット層、前記正孔輸送層、及び透光性材料からなる陽極が順次形成され、かつ前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極が形成されると共に、前記電子輸送層の他方の主面上に陰極が形成され、
    前記量子ドット層は、前記量子ドットがシリコンクラスター粒子で形成されると共に、該シリコンクラスター粒子が三次元的に周期配列されてなり、
    前記シリコンクラスター粒子は、平均粒径が3nm以下であり、前記シリコンクラスター粒子の粒子間距離が1nm以下であることを特徴とする太陽電池。
  5. 前記電子輸送層の前記他方の主面に所定パターンの絶縁膜が形成されると共に、
    前記陰極は、一部が前記電子輸送層に接合するように前記絶縁膜を介して前記他方の主面側に形成されていることを特徴とする請求項4記載の太陽電池。
  6. 前記量子ドット層は、価電子帯と伝導帯との間の中間エネルギー準位を有する多重エネルギー準位構造を備えていることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の太陽電池。
  7. 前記正孔輸送層は、p型シリコン系材料で形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項のいずれかに記載の太陽電池。
  8. 前記陰極は、Alを主成分とすると共に、Nd、Ta、及びCuから選択された少なくとも1種の不純物を含有し、
    かつ、前記不純物の含有量は、0.01〜3at%であることを特徴とする請求項1乃至請求項のいずれかに記載の太陽電池。
  9. 前記陽極は、酸化物透明導電膜、グラフェン、及びナノワイヤの網状組織からなる透明導電膜のうちのいずれかで形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項のいずれかに記載の太陽電池。
  10. 量子ドットの集合体からなる量子ドット層を、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在させ、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池の製造方法であって、
    基板表面に陰極を形成した後、該陰極の表面に電子輸送層を形成し、
    次いで、前記電子輸送層の表面にグラフェン系材料からなる量子ドット配列層を形成し、
    次いで、平均粒径が3nm以下のシリコンクラスター粒子を、粒子間距離が1nm以下となるように、前記量子ドット配列層の表面に三次元的に周期配列させて前記量子ドット層を形成し、
    その後、前記量子ドット層の表面に正孔輸送層を形成し、
    次いで、透光性材料からなる陽極を前記正孔輸送層の表面に形成し、
    さらに、前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極を形成することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  11. 前記電子輸送層をn型シリコン系材料で形成することを特徴とする請求項10記載の太陽電池の製造方法。
  12. 量子ドットの集合体からなる量子ドット層を、電子輸送層と正孔輸送層との間に介在させ、前記量子ドット層で太陽光を吸収する太陽電池の製造方法であって、
    単結晶又は多結晶のn型シリコン系基板を電子輸送層とし、
    前記電子輸送層の表面にグラフェン系材料からなる量子ドット配列層を形成し、
    平均粒径が3nm以下のシリコンクラスター粒子を、粒子間距離が1nm以下となるように前記量子ドット配列層の一方の主面上に三次元的に周期配列させて前記量子ドット層を形成し、
    次いで、前記量子ドット層の表面に正孔輸送層を形成し、
    その後、透光性材料からなる陽極を前記正孔輸送層の表面に形成し、
    さらに、前記陽極の少なくとも一部が表面露出するように該陽極上に取出電極を形成する一方、
    前記電子輸送層の他方の主面上に陰極を形成し、前記電子輸送層と前記陰極とを接合させることを特徴とする太陽電池の製造方法。
  13. 前記電子輸送層の前記他方の表面に所定パターンの絶縁膜を形成した後、一部が前記電子輸送層と接合するように前記絶縁膜の表面に前記陰極を形成することを特徴とする請求項12記載の太陽電池の製造方法。
  14. 前記量子ドット層を形成した後の一連の処理を、200℃以下の処理温度で行うことを特徴とする請求項10乃至請求項13のいずれかに記載の太陽電池の製造方法。
  15. 前記正孔輸送層をp型シリコン系材料で形成することを特徴とする請求項10乃至請求項14のいずれかに記載の太陽電池の製造方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6127626B2 (ja) * 2013-03-21 2017-05-17 富士通株式会社 量子ドットアレイデバイスの製造方法
JP5943492B2 (ja) * 2014-03-26 2016-07-05 旭化成株式会社 シリコン太陽電池
KR102214833B1 (ko) * 2014-06-17 2021-02-10 삼성전자주식회사 그래핀과 양자점을 포함하는 전자 소자
CN111712339B (zh) * 2018-02-13 2022-06-07 株式会社村田制作所 磁性结构体
CN109560201B (zh) * 2018-10-19 2022-09-30 杭州电子科技大学 一种金属透明电极及制备方法和构成的有机太阳电池
CN110718581B (zh) * 2019-11-20 2022-06-03 西华大学 一种oled显示模组以及制备方法
CN112259631B (zh) * 2020-10-26 2022-11-08 隆基绿能科技股份有限公司 碳化硅电池
WO2022089664A1 (zh) * 2020-10-26 2022-05-05 隆基绿能科技股份有限公司 碳化硅电池
CN115188844A (zh) * 2022-06-27 2022-10-14 隆基乐叶光伏科技(西咸新区)有限公司 一种太阳能电池及其制备方法、光伏组件

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69218102T2 (de) * 1991-10-22 1997-10-09 Canon Kk Photovoltaisches Bauelement
JP2837302B2 (ja) * 1991-12-04 1998-12-16 シャープ株式会社 太陽電池
JP3203078B2 (ja) * 1992-12-09 2001-08-27 三洋電機株式会社 光起電力素子
WO2003026017A1 (fr) * 2001-09-14 2003-03-27 The New Industry Research Organization Super-reseau d'amas de silicium, procede pour preparer ce super-reseau, procede pour preparer un amas de silicium, structure de super-reseau d'amas de silicium, procede pour preparer cette structure, dispositif a semiconducteurs et dispositif quantique
JP2004356163A (ja) * 2003-05-27 2004-12-16 Toyota Central Res & Dev Lab Inc シリコン系薄膜及び光電変換素子、並びにシリコン系薄膜の製造方法
US20100297391A1 (en) * 2004-02-25 2010-11-25 General Nanotechnoloy Llc Diamond capsules and methods of manufacture
JP4066994B2 (ja) * 2004-04-05 2008-03-26 トヨタ自動車株式会社 光電変換素子
JP4504268B2 (ja) * 2004-08-30 2010-07-14 株式会社東芝 半導体表面の被覆方法および半導体粒子の製造方法
JP5273495B2 (ja) * 2005-12-13 2013-08-28 独立行政法人産業技術総合研究所 クラスター成膜装置及び成膜方法、並びにクラスター生成装置及び生成方法
US20080230782A1 (en) * 2006-10-09 2008-09-25 Homer Antoniadis Photoconductive devices with enhanced efficiency from group iv nanoparticle materials and methods thereof
WO2008062660A1 (fr) * 2006-11-22 2008-05-29 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Nanoagrégat de silicium luminescent, son procédé de fabrication et agent pour marquer une substance biologique
US20080179762A1 (en) * 2007-01-25 2008-07-31 Au Optronics Corporation Layered structure with laser-induced aggregation silicon nano-dots in a silicon-rich dielectric layer, and applications of the same
US7915521B2 (en) * 2007-10-10 2011-03-29 The Trustees Of Princeton University Type II quantum dot solar cells
US20100154874A1 (en) 2008-09-29 2010-06-24 Takashi Hirose Photoelectric conversion device and manufacturing method thereof
JP2010129579A (ja) * 2008-11-25 2010-06-10 Seiko Epson Corp 光電変換装置の製造方法および電子機器の製造方法
CN102148266A (zh) * 2010-02-09 2011-08-10 晶元光电股份有限公司 多接面太阳能电池
KR101139577B1 (ko) * 2010-01-19 2012-04-27 한양대학교 산학협력단 다양한 종류의 나노입자를 함유한 적층형 유기-무기 하이브리드 태양전지 및 그 제조방법
JP5582638B2 (ja) * 2010-02-25 2014-09-03 独立行政法人産業技術総合研究所 太陽電池
JP2011176225A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Seiko Epson Corp 光学変換装置及び同装置を含む電子機器
JP2011249579A (ja) * 2010-05-27 2011-12-08 Fujifilm Corp 太陽電池およびその製造方法

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