JP5777845B2 - 不揮発性記憶装置及び不揮発性記憶装置からのデータ読み出し方法 - Google Patents
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メモリコアが複数ある場合には、コラム選択スイッチの導通、非導通状態を制御することにより、どのメモリコアのグローバルビット線にもデータバスが接続できるようになっている。
データバス対は、読出回路と書込回路とのいずれか一方をコラム選択スイッチに接続するための読出/書込切換スイッチを備える。
グローバルビット線対及びローカルビット線対は、電流電圧変換回路によって、メモリコアの外部電圧(例えば1.8V)よりも低い電圧(例えば1.4V)に電圧制限される。ドレインディスターブ(チャージロス)によりグローバルビット線対を共有した隣接するメモリセルの記録データの誤変換が考慮されるからである。
メモリセルからはロード電流によりデータの読み出しが行われる。ロード電流は微少電流である。グローバルビット線対及びデータバス対は長配線であるために寄生素子の影響が大きい。このようなことから、寄生素子によりロード電流にノイズの影響が出やすくなり、メモリセルからのデータの読み出し時の誤動作の原因になる。
前記読出回路は、前記センスアンプと前記電流供給部との間に第2スイッチを備えていてもよい。このような構成では、前記センスアンプが、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが導通状態のときに前記ロード電流により生じる前記電圧をラッチし、前記第1スイッチと前記第2スイッチとの少なくとも一方が非導通状態になるとラッチした前記電圧を増幅して出力する。第2スイッチにより、センスアンプが増幅動作を行うときにセンスアンプと電流供給部とが分離されることになる。そのために、センスアンプは、増幅動作に電流供給部側から影響を受けることはない。
前記第2スイッチは、前記一対のビット線の各々に設けられることになり、前記センスアンプは、例えば、前記一対のビット線の各々に設けられた前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが導通状態のときに、前記一方のビット線に前記第1ロード電流により生じる第1電圧と前記他方のビット線に前記第2ロード電流により生じる第2電圧とをラッチし、前記一対のビット線の各々に設けられた前記第2スイッチが非導通状態になると前記第1電圧と前記第2電圧との差電圧を増幅して出力する。
前記第1ロードスイッチ及び前記第2ロードスイッチは、前記センスアンプが前記差電圧を増幅する前に非導通状態になってもよい。この場合、第1ロード電流及び第2ロード電流が流れなくなり、前記差電圧が大きくなる。そのために、ノイズなどの影響が小さくなり、メモリセルからのデータを読み誤る危険性が小さくなる。また、前記電流供給部が、前記一方のビット線に所定の第3ロード電流を流すための第3ロードスイッチと、前記他方のビット線に所定の第4ロード電流を流すための第4ロードスイッチと、を更に備えていてもよい。この場合、第1ロードスイッチ及び第2ロードスイッチが非導通状態になっても、第3ロードスイッチ及び第4ロードスイッチが導通状態で、ロード電流が0になることが無く、差電圧が大きく且つ安定した状態で、センスアンプにラッチされることになる。そのために、より安定してデータの読み出しが可能になる。
前記一対のビット線の各々に設けられる前記第1スイッチは、例えばトランジスタであり、導通状態のときに、前記メモリセクタに前記読出回路の動作電圧よりも低い電圧を印加する。メモリセクタ側により低い電圧を印加するので、メモリセルに蓄積される電荷が漏洩するなどにより、メモリセルに記憶されたデータが劣化することを防止できる。
不揮発性記憶装置1は、メモリセル11を有するメモリセクタ10と、メモリセル11に記録されたデータを読み出すための読出回路となるロード電流供給部12及びセンスアンプ13と、メモリセル11にデータを書き込むための書込回路14と、各種スイッチSW1〜SW11とを備えている。不揮発性記憶装置1のこれらの構成要素が図外の制御装置により制御されて、メモリセル11へのデータの書き込み、読み出し、及び消去が行われる。そのために不揮発性記憶装置1には、制御装置から、各種スイッチSW1〜SW11の導通状態及び非導通状態を制御するための各種制御信号が入力される。メモリセル11、ロード電流供給部12、センスアンプ13、及び書込回路14は、グローバルビット線対である第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZにより、互いに接続されている。不揮発性記憶装置1は、データバス対である第1データバスRDBX及び第2データバスRDBZに接続される。第1グローバルビット線GBLXは、第1データバスRDBXに接続され、第2グローバルビット線GBLZは第2データバスに接続される。
第1ローカルビット線LBLXは、第1グローバルビット線GBLXに第1セクタ選択スイッチSW1を介して接続される。また、第1ローカルビット線LBLXは、第3セクタ選択スイッチSW3を介して接地線VSSに接続される。接地線VSSには、接地電圧が印加されている。第2ローカルビット線LBLZは、第2グローバルビット線GBLZに第2セクタ選択スイッチSW2を介して接続される。第1セクタ選択スイッチSW1は、第1セクタ選択制御信号Ssel1により導通、非導通状態が制御され、第2セクタ選択スイッチSW2は、第2セクタ選択制御信号Ssel2により導通、非導通状態が制御され、第3セクタ選択スイッチSW3は、接地制御信号CS3により導通、非導通状態が制御される。
メモリセクタ10は、図1では1個しか図示されていないが、第1、第2グローバルビット線GBLX、GBLZ上に複数設けられる。
書込回路14は、第1グローバルビット線GBLXに第3読出/書込切換スイッチSW6を介して接続され、第2グローバルビット線GBLZに第4読出/書込切換スイッチSW7を介して接続される。書込回路14は、メモリセル11にデータを書き込むときに、第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZを介して、所定の電圧を当該メモリセル11に印加する。
第1読出/書込切換スイッチSW4と第2読出/書込切換スイッチSW5とは、読出制御信号CS1で導通、非導通状態が制御され、第3読出/書込切換スイッチSW6と第4読出/書込切換スイッチSW7とは、書込制御信号WCLで導通、非導通状態が制御される。第1読出/書込切換スイッチSW4及び第2読出/書込切換スイッチSW5と、第3読出/書込切換スイッチSW6及び第4読出/書込切換スイッチSW7とは、同じタイミングで導通しないように、読出制御信号CS1及び書込制御信号WCLにより制御される。これにより、読出動作のときにはロード電流供給部12が第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZに接続され、書込動作のときには書込回路14が第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZに接続される。
センスアンプ13には、第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZにより、第1ロード電流及び第2ロード電流に対応する第1ロード電圧及び第2ロード電圧が入力される。センスアンプ13は差動増幅回路であり、第1ロード電圧及び第2ロード電圧を入力として差動増幅を行う。増幅結果は、メモリセル11から読み出されたデータとして、第1データバスRDBX及び第2データバスRDBZに出力される。
センスアンプ13を動作させるときに、第1センスアンプスイッチSW8及び第2センスアンプスイッチSW9により、センスアンプ13が第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZから分離される。分離することにより、電流センス時の第1、第2ロード電流とセンスアンプ13の動作電流とが干渉することを防止することができる。第1センスアンプスイッチSW8及び第2センスアンプスイッチSW9は、センスアンプ制御信号CS2により、導通、非導通状態が制御される。
メモリセル11、第1〜第3セクタ選択スイッチSW1〜SW3、第1〜第4読出/書込切換スイッチSW4〜SW7、及び書込回路14は、メモリセル11へのデータの書き込み及び消去のときに、高電圧が印加される。そのために、これらの構成は高耐圧素子を用いる必要がある。
ロード電流供給部12、センスアンプ13、第1、第2センスアンプスイッチSW8、SW9、及び第1、第2コラム選択スイッチSW10、SW11は、メモリセル11からのデータの読み出しのときに用いられるために、書き込みのときよりもはるかに低い電圧が印加される。そのために、これらは低耐圧素子を用いて構成される。低耐圧素子で構成されるために、各素子のスイッチング速度などが高速になり、読み出し動作を従来よりも高速に行うことができる。読み出しのときには、センスアンプ13側の動作電圧として電源電圧VCC(例えば、1.8V)を用い、メモリセクタ10側の動作電圧として電源電圧VCC未満の電圧を用いる。不揮発性のメモリセルは、高電圧によりデータが書き込み及び消去される。しかし、読み出しのときには、ドレインディスターブによるメモリセルのチャージロス防止のために、低電圧が印加される。高耐圧素子としては、例えば閾値電圧が0.7Vで5V耐圧のトランジスタが用いられ、低耐圧素子としては、例えば閾値電圧が0.5Vで1.8V耐圧のトランジスタが用いられる。
第1グローバルビット線GBLXには、メモリセル11が接続されないので、ロード電流供給部12内部で発生する第1ロード電流が流れる。第2グローバルビット線GBLZには、ロード電流供給部12からメモリセクタ10を介して接地線VSSの間で発生する第2ロード電流が流れる。
センスアンプ13は、第1ロード電流により生じる第1ロード電圧と第2ロード電流により生じる第2ロード電圧との差電圧をラッチする。その後、読出制御信号CS1が変化して第1、第2読出/書込切換スイッチSW4、SW5が非導通状態になると、センスアンプ13はラッチしている差電圧を差動増幅する。このようにして、メモリセル11に記憶されたデータが読み出される。読み出されたデータは、第1データバスRDBX及び第2データバスRDBZを介して外部装置に出力される。
図2の不揮発性記憶装置1では、ロード電流供給部12及びセンスアンプ13の回路構成を具体化して表している。また、第1〜第4読出/書込切換スイッチSW4〜SW7、第1、第2センスアンプスイッチSW8、SW9、及び第1、第2コラム選択スイッチSW10、SW11に用いる具体的なスイッチ素子として、MOSトランジスタを用いている。さらに、メモリセルの具体例として、トランジスタを用いている。
図3は、データの読み出し時の、不揮発性記憶装置1に入力される各種制御信号の状態と、第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZの各部における電圧の変動を示す例示図である。図3では、データを読み出すときには、メモリセル11からのデータの読み出しに先行して、センスアンプ13にプリチャージする。プリチャージは、以下のように行われる。
他方、電圧VCCから接地電圧へ、第1ロードスイッチ121から第1〜第3リファレンスセル123〜125を介した経路が形成される。これにより、第1グローバルビット線GBLXに第1ロード電流が生じる。
第1ロード電流及び第2ロード電流により、第1グローバルビット線GBLXと第2グローバルビット線GBLZとは、20mVの差電圧を生じて安定する。
図4は、データの読み出し時の、不揮発性記憶装置1に入力される各種制御信号の状態と、第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZの各部における電圧の変動を示す別の例示図である。図4では、図3と異なり、第1グローバルビット線GBLXと第2グローバルビット線GBLZとの間、第1リファレンスビット線RGBLXと第2リファレンスビット線RGBLZとの間、及び第1センスアンプビット線SGBLXと第2センスアンプビット線SGBLZとの間に、それぞれ20mVの差電圧が生じて安定するタイミング(時刻t11)で、ロード制御信号LDXが論理「1」に変化する。
次いで、時刻t2にセンスアンプ制御信号CS2が論理「1」に変化して、センスアンプ13が第1、第2グローバルビット線GBLX、GBLZから分離される。その後、センスアンプ13はラッチしている差電圧を増幅する。差電圧が80mVに広がるので、センスアンプ13による動作マージンが大きくなる。そのために、メモリセル11に記憶されたデータの読み出し誤りの可能性が低くなる。
図5は、図1の不揮発性記憶装置1の構成を一部具体化した回路構成図の別の例である。図2の回路構成図とは、ロード電流供給部12の構成が異なる。図5のロード電流供給部12は、第1、第2ロードスイッチ121、122に代えて、第3〜第6ロードスイッチ126〜129を設けた点で図2のロード電流供給部12と異なる。
第3〜第6ロードスイッチ126〜129は、図5ではP型のMOSトランジスタである。第3ロードスイッチ126及び第4ロードスイッチ127には、第1ロード制御信号LD1Xが印加される。第1ロード制御信号LD1Xが論理「0」のときに、第3ロードスイッチ126及び第4ロードスイッチ127は導通状態になる。第5ロードスイッチ128及び第6ロードスイッチ129には、第2ロード制御信号LD2Xが印加される。第2ロード制御信号LD2Xが論理「0」のときに、第5ロードスイッチ128及び第6ロードスイッチ129は導通状態になる。
図6は、データの読み出し時の、不揮発性記憶装置1に入力される各種制御信号の状態と、第1グローバルビット線GBLX及び第2グローバルビット線GBLZの各部における電圧の変動を示す別の例示図である。図6では、図3と異なり、第1グローバルビット線GBLXと第2グローバルビット線GBLZとの間、第1リファレンスビット線RGBLXと第2リファレンスビット線RGBLZとの間、及び第1センスアンプビット線SGBLXと第2センスアンプビット線SGBLZとの間に、それぞれ20mVの差電圧が生じて安定するタイミングで、第1ロード制御信号LD1Xが論理「1」に変化する(時刻t12)。
次いで、センスアンプ制御信号CS2が論理「1」に変化して、センスアンプ13が第1、第2グローバルビット線GBLX、GBLZから分離される。その後、センスアンプ13はラッチしている差電圧を増幅する。差電圧が50mVなので、センスアンプ13による動作マージンが大きくなる。そのために、メモリセル11に記憶されたデータの読み出し誤りの可能性が低くなる。また、差電圧が安定しているのでノイズの影響も抑制される。
図7は、図1の不揮発性記憶装置1の構成を一部具体化した回路構成図の別の例である。図2の回路構成図とは、第1読出/書込切換スイッチSW4及び第1センスアンプスイッチSW8と、第2読出/書込切換スイッチSW5及び第2センスアンプスイッチSW9とを、それぞれ一つのスイッチ素子で構成している点が大きく異なる。図7では、第1読出/書込切換スイッチSW4及び第1センスアンプスイッチSW8の機能を、第1読出スイッチSW12が有し、第2読出/書込切換スイッチSW5及び第2センスアンプスイッチSW9の機能を、第2読出スイッチSW13が有する。第1読出スイッチSW12及び第2読出スイッチSW13は高耐圧素子で構成されており、ここが高耐圧素子と低耐圧素子の境目になる。
第1、第2読出スイッチSW12、SW13は、図7ではN型のMOSトランジスタである。第1、第2読出スイッチSW12、SW13は、制御信号CS1/CS2が論理「1」のときに導通状態になり、第1グローバルビット線GBLXと第1センスアンプビット線SGBLXとが導通し、第2グローバルビット線GBLZと第2センスアンプビット線SGBLZとが導通する。
時刻t2から、ロード制御信号LDXが論理「0」且つ制御信号CS1/CS2が論理「1」に変化するまで、センスアンプ13ではラッチしている差電圧の増幅が行われて出力される。
Claims (6)
- 少なくとも2値を取り得るデータを記憶可能なメモリセルを有するメモリセクタと、
前記メモリセルに記憶された前記データを読み出すための読出回路と、
前記読出回路と前記メモリセクタとの間に接続されて、前記メモリセルから前記データが読み出されるときに導通状態になる第1スイッチと、を備えており、
前記読出回路は、ロード電流を前記メモリセルに供給する電流供給部と、
前記ロード電流により生じる電圧を増幅して出力するセンスアンプと、
前記センスアンプと前記電流供給部との間に接続される第2スイッチと、を備え、
前記電流供給部及び前記センスアンプは、前記第1スイッチ及び前記メモリセクタを構成する素子よりも低耐圧であり、
前記データが読み出される際、前記読出回路に接続される一対のビット線であって、各々に前記第1スイッチが設けられた一対のビット線のうち、一方のビット線は前記電流供給部に含まれるリファレンス素子に接続され、他方のビット線は前記メモリセクタに接続され、
前記センスアンプは、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが導通状態のときに前記ロード電流により生じる前記電圧をラッチし、前記第1スイッチと前記第2スイッチとの少なくとも一方が非導通状態になるとラッチした前記電圧を増幅して出力する、
不揮発性記憶装置。 - 前記電流供給部は、前記一方のビット線に所定の第1ロード電流を流すための第1ロードスイッチと、前記一方のビット線と接地との間に接続される前記リファレンス素子と、前記他方のビット線に所定の第2ロード電流を流すための第2ロードスイッチと、を備えており、
前記リファレンス素子は、前記メモリセルから前記データを読み出すときに、前記第1ロード電流が前記第2ロード電流の半分の量になるように構成されており、
前記第2スイッチは、前記一対のビット線の各々に設けられており、
前記センスアンプは、前記一対のビット線の各々に設けられた前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが導通状態のときに、前記一方のビット線に前記第1ロード電流により生じる第1電圧と前記他方のビット線に前記第2ロード電流により生じる第2電圧とをラッチし、前記一対のビット線の各々に設けられた前記第2スイッチが非導通状態になると前記第1電圧と前記第2電圧との差電圧を増幅して出力する、
請求項1記載の不揮発性記憶装置。 - 前記第1ロードスイッチ及び前記第2ロードスイッチは、前記センスアンプが前記差電圧を増幅する前に非導通状態になって、前記差電圧を大きくする、
請求項2記載の不揮発性記憶装置。 - 前記電流供給部は、前記一方のビット線に所定の第3ロード電流を流すための第3ロードスイッチと、前記他方のビット線に所定の第4ロード電流を流すための第4ロードスイッチと、を更に備え、
前記第1ロードスイッチ及び前記第3ロードスイッチが導通状態になると、前記第1ロードスイッチ又は前記第3ロードスイッチを介した電源電圧から接地電圧への2つの経路が形成され、前記第2ロードスイッチ及び前記第4ロードスイッチが導通状態になると、前記第2ロードスイッチ又は前記第4ロードスイッチを介した電源電圧から接地電圧への2つの経路が形成される、
請求項3記載の不揮発性記憶装置。 - 前記一対のビット線の各々に設けられる前記第1スイッチは、トランジスタであり、導通状態のときに、前記メモリセクタに前記読出回路の動作電圧よりも低い電圧を印加する、
請求項2〜4のいずれか1項記載の不揮発性記憶装置。 - 少なくとも2値を取り得るデータを記憶可能なメモリセルを有するメモリセクタと、前記メモリセルに記憶された前記データを読み出すための読出回路と、前記読出回路と前記メモリセクタとの間に接続されて、前記メモリセルから前記データが読み出されるときに導通状態になる第1スイッチと、を備えており、前記読出回路は、ロード電流を前記メモリセルに供給する電流供給部と、前記ロード電流により生じる電圧を増幅して出力するセンスアンプと、前記センスアンプと前記電流供給部との間に接続される第2スイッチとを備え、前記電流供給部及び前記センスアンプは、前記第1スイッチ及び前記メモリセクタを構成する素子よりも低耐圧であり、前記データが読み出される際、前記読出回路に接続される一対のビット線であって、各々に前記第1スイッチが設けられた一対のビット線のうち、一方のビット線は前記電流供給部に含まれるリファレンス素子に接続され、他方のビット線は前記メモリセクタに接続される、不揮発性記憶装置から前記メモリセルに記憶されたデータを読み出す方法であって、
前記第1スイッチが導通状態のときに、前記読出回路から前記メモリセクタにロード電流を流す段階と、
前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが導通状態のときに、前記ロード電流により生じるロード電圧を前記読出回路でラッチする段階と、
前記読出回路が前記ロード電圧をラッチした後に、前記第1スイッチが非導通状態に切り替わる段階と、
前記第2スイッチが非導通状態のときに、前記読出回路でラッチした前記ロード電圧を増幅して出力する段階と、を含む、
不揮発性記憶装置からのデータ読み出し方法。
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