JP5774130B2 - 新規な化合物半導体及びその活用 - Google Patents

新規な化合物半導体及びその活用 Download PDF

Info

Publication number
JP5774130B2
JP5774130B2 JP2013550435A JP2013550435A JP5774130B2 JP 5774130 B2 JP5774130 B2 JP 5774130B2 JP 2013550435 A JP2013550435 A JP 2013550435A JP 2013550435 A JP2013550435 A JP 2013550435A JP 5774130 B2 JP5774130 B2 JP 5774130B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
compound semiconductor
chemical formula
present
heat treatment
thermoelectric conversion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013550435A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014510006A (ja
Inventor
パク、チョル−ヒ
キム、テ−フン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Chem Ltd
Original Assignee
LG Chem Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Chem Ltd filed Critical LG Chem Ltd
Publication of JP2014510006A publication Critical patent/JP2014510006A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5774130B2 publication Critical patent/JP5774130B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J27/00Catalysts comprising the elements or compounds of halogens, sulfur, selenium, tellurium, phosphorus or nitrogen; Catalysts comprising carbon compounds
    • B01J27/02Sulfur, selenium or tellurium; Compounds thereof
    • B01J27/057Selenium or tellurium; Compounds thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B19/00Selenium; Tellurium; Compounds thereof
    • C01B19/002Compounds containing, besides selenium or tellurium, more than one other element, with -O- and -OH not being considered as anions
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J23/00Catalysts comprising metals or metal oxides or hydroxides, not provided for in group B01J21/00
    • B01J23/08Catalysts comprising metals or metal oxides or hydroxides, not provided for in group B01J21/00 of gallium, indium or thallium
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J23/00Catalysts comprising metals or metal oxides or hydroxides, not provided for in group B01J21/00
    • B01J23/38Catalysts comprising metals or metal oxides or hydroxides, not provided for in group B01J21/00 of noble metals
    • B01J23/54Catalysts comprising metals or metal oxides or hydroxides, not provided for in group B01J21/00 of noble metals combined with metals, oxides or hydroxides provided for in groups B01J23/02 - B01J23/36
    • B01J23/56Platinum group metals
    • B01J23/62Platinum group metals with gallium, indium, thallium, germanium, tin or lead
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J23/00Catalysts comprising metals or metal oxides or hydroxides, not provided for in group B01J21/00
    • B01J23/70Catalysts comprising metals or metal oxides or hydroxides, not provided for in group B01J21/00 of the iron group metals or copper
    • B01J23/74Iron group metals
    • B01J23/75Cobalt
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/10Semiconductor bodies
    • H10F77/12Active materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
    • H10N10/852Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising tellurium, selenium or sulfur
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/50Solid solutions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/40Electric properties

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)

Description

本発明は、太陽電池、熱電材料などの用途として使用できる新規な化合物半導体物質及びその製造方法、ならびにこれを利用した用途に関する。
本出願は、2011年4月28日出願の韓国特許出願第10−2011−0040400号および2012年4月26日出願の韓国特許出願第10−2012−0043815号に基づく優先権を主張し、該当出願の明細書および図面に開示された内容は、すべて本出願に援用される。
化合物半導体とは、シリコンやゲルマニウムのような単一元素ではない、2種以上の元素が結合して半導体として動作する化合物である。このような化合物半導体は、現在多様な種類が開発され多様な分野で使われている。代表的に、ペルティエ効果(Peltier Effect)を利用した熱電変換素子、光電変換効果を利用した発光ダイオードやレーザーダイオードなどの発光素子、太陽電池などに化合物半導体が利用できる。
この中で熱電変換素子は、熱電変換発電や熱電変換冷却などに使用でき、このうち熱電変換発電は、熱電変換素子に温度差を設けることで発生する熱起電力を利用して、熱エネルギーを電気エネルギーに変換する発電形態である。
このような熱電変換素子のエネルギー変換効率は、熱電変換材料の性能指数であるZTに依存する。ここで、ZTは、ゼーベック(Seebeck)係数、電気伝導度、及び熱伝導度などによって決定され、さらに具体的には、ゼーベック係数の二乗及び電気伝導度に比例し、熱伝導度に反比例する。従って、熱電変換素子のエネルギー変換効率を高めるためには、ゼーベック係数または電気伝導度が高いか、熱伝導度の低い熱電変換材料の開発が必要である。
一方、太陽電池は、自然に存在する太陽光以外に別途のエネルギー源を必要としないという点で環境にやさしいことから、未来の代替エネルギー源として盛んに研究されている。太陽電池は、主に、シリコンの単一元素を使用するシリコン太陽電池、化合物半導体を使用する化合物半導体太陽電池、そして、相異なるバンドギャップエネルギー(band gap energy)を持つ太陽電池を2つ以上積層した積層型(tandem)太陽電池などに大別される。
このうち化合物半導体太陽電池は、太陽光を吸収して電子‐正孔対を生成する光吸収層に化合物半導体を使用するが、特にGaAs、InP、GaAlAs、GaInAsなどのIII‐V族化合物半導体、CdS、CdTe、ZnSなどのII‐VI族化合物半導体、CuInSe2に代表されるI‐III‐VI族化合物半導体などが使用できる。
太陽電池の光吸収層は、長期的な電気、光学的安定性に優れており、光電変換効率が高く、組成の変化やドーピングによってバンドギャップエネルギーや導電型が調節しやすいことなどが求められる。また、実用化のためには、製造コストや歩留まりなどの要件も満たすべきである。しかし、従来の多くの化合物半導体はこのような要件をすべて満たしてはいない。
したがって、本発明は、上述のような問題点を解決するために創案されたものであって、熱電変換素子の熱電変換材料、太陽電池などのように多様な用途として活用できる新規な化合物半導体物質及びその製造方法、ならびにこれを利用した熱電変換素子や太陽電池などを提供することを目的とする。
本発明の他の目的及び長所は、後述する説明により理解することができ、本発明の実施例を通じて一層明確に分かるであろう。また、本発明の目的及び長所は特許請求の範囲に示した手段及びその組合せによって実現することができることは言うまでもない。
上述のような目的を達成するために、本発明者は、化合物半導体に関して研究を重ねた結果、下記化学式1で表示される化合物半導体を合成することに成功し、この化合物が熱電変換素子の熱電変換材料や太陽電池の光吸収層などに使用できることを確認して本発明を完成した。
Figure 0005774130
上記化学式1において、Mは、Ca、Sr、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Pd、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、及びLuからなる群より選択された少なくとも一つであり、Aは、Fe、Ni、Ru、Rh、Pd、Ir、及びPtからなる群より選択された少なくとも一つであり、Xは、Si、Ga、Ge、及びSnからなる群より選択された少なくとも一つであり、0<x<1、0<y<1、0≦m≦1、0≦n<9、及び0<z≦2である。
望ましくは、上記化学式1において、xは、0<x≦0.5である。
さらに望ましくは、上記化学式1において、xは、0<x≦0.25である。
また望ましくは、上記化学式1において、yは、0<y≦0.5である。
さらに望ましくは、上記化学式1において、yは、0<y≦0.25である。
また望ましくは、上記化学式1において、x及びyは、0<x+y≦1である。
また望ましくは、上記化学式1において、n及びzは、0<n+z<9である。
また望ましくは、上記化学式1において、mは、0<m≦1である。
さらに望ましくは、上記化学式1において、mは、0<m≦0.5である。
最も望ましくは、上記化学式1において、mは、0<m≦0.1である。
また、上述のような目的を達成するための本発明による化合物半導体の製造方法は、In、Co、Sb、及びTeと、Ca、Sr、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Pd、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、及びLuならびにそれらの酸化物からなる群より選択された少なくとも一つとを混合するステップと、上記混合ステップで形成された混合物を熱処理するステップとを含む上記化学式1で表示される化合物半導体を製造する方法である。
望ましくは、上記混合ステップで形成された混合物は、Fe、Ni、Ru、Rh、Pd、Ir、及びPtならびにそれらの酸化物からなる群より選択された少なくとも一つをさらに含む。
また望ましくは、上記混合ステップで形成された混合物は、Si、Ga、Ge、及びSnならびにそれらの酸化物からなる群より選択された少なくとも一つをさらに含む。
望ましくは、上記化合物半導体の製造方法で、熱処理温度は、400℃ないし800℃である。
また望ましくは、上記熱処理ステップは、2つ以上の熱処理ステップを含み得る。
また、上述のような目的を達成するための本発明による熱電変換素子は、上述した化合物半導体を含む。
また、上述のような目的を達成するための本発明による太陽電池は、上述した化合物半導体を含む。
本発明によれば、新規な化合物半導体物質が提供される。
本発明の一側面によれば、このような新規な化合物半導体は、従来の化合物半導体を代替するか、従来の化合物半導体に加えて新しい一つの素材として使用できる。
さらに、本発明の一側面によれば、化合物半導体の熱電変換性能が良好であることから熱電変換素子に有効に利用できる。特に、本発明による化合物半導体は、熱電変換素子の熱電変換材料として利用できる。
また、本発明の他の側面によれば、化合物半導体は、太陽電池に利用できる。特に、本発明による化合物半導体は、太陽電池の光吸収層として利用できる。
それだけでなく、本発明のまた他の側面によれば、化合物半導体は、赤外線を選択的に通過させる赤外線窓(IR window)や赤外線センサー、マグネチック素子、メモリーなどにも利用できる。
本明細書に添付される下記の図面は本発明の望ましい実施例を例示するものであって、発明の詳細な説明とともに本発明の技術思想をさらに理解させる役割を果たすものであるため、本発明はそのような図面に記載された事項にのみ限定されて解釈されてはいけない。
本発明に従って製造した実施例及び比較例の化合物半導体の温度変化による電気伝導度値を示すグラフである。 本発明に従って製造した実施例及び比較例の化合物半導体の温度変化による熱伝導度値を示すグラフである。 本発明に従って製造した実施例及び比較例の化合物半導体の温度変化によるZT値を示すグラフである。
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施例を詳しく説明する。これに先立ち、本明細書及び請求範囲に使われた用語や単語は通常的や辞書的な意味に限定して解釈されてはならず、発明者自らは発明を最善の方法で説明するために用語の概念を適切に定義できるという原則に則して本発明の技術的な思想に応ずる意味及び概念で解釈されねばならない。
したがって、本明細書に記載された実施例及び図面に示された構成は、本発明のもっとも望ましい一実施例に過ぎず、本発明の技術的な思想のすべてを代弁するものではないため、本出願の時点においてこれらに代替できる多様な均等物及び変形例があり得ることを理解せねばならない。
本発明は、次のような化学式1で表示される新規な化合物半導体を提供する。
Figure 0005774130
上記化学式1において、Mは、Ca、Sr、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Pd、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、及びLuからなる群より選択された少なくとも一つであり、Aは、Fe、Ni、Ru、Rh、Pd、Ir、及びPtからなる群より選択された少なくとも一つであり、Xは、Si、Ga、Ge、及びSnからなる群より選択された少なくとも一つであり、0<x<1、0<y<1、0≦m≦1、0≦n<9、及び0<z≦2である。
望ましくは、上記化学式1において、xは、0<x≦0.5である。
さらに望ましくは、上記化学式1において、xは、0<x≦0.25である。
また望ましくは、上記化学式1において、yは、0<y≦0.5である。
さらに望ましくは、上記化学式1において、yは、0<y≦0.25である。
また望ましくは、上記化学式1において、x及びyは、0<x+y≦1である。
また望ましくは、上記化学式1において、n及びzは、0<n+z<9である。
また望ましくは、上記化学式1において、mは、0<m≦1である。
さらに望ましくは、上記化学式1において、mは、0<m≦0.5である。
最も望ましくは、上記化学式1において、mは、0<m≦0.1である。
一方、上記化学式1で表示される化合物半導体には、二次相が一部含まれ得、その量は熱処理条件によって変わり得る。
上述した化合物半導体は、In、Co、Sb、及びTeと、Ca、Sr、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Pd、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、及びLuならびにそれらの酸化物からなる群より選択された少なくとも一つとを含む混合物を形成するステップと、上記混合物を熱処理するステップとを含んで製造され得る。
望ましくは、上記混合物の形成ステップにおいて、混合物は、Fe、Ni、Ru、Rh、Pd、Ir、及びPtならびにそれらの酸化物からなる群より選択された少なくとも一つをさらに含み得る。
また望ましくは、上記混合物の形成ステップにおいて、上記混合物は、Si、Ga、Ge、及びSnならびにそれらの酸化物からなる群より選択された少なくとも一つをさらに含み得る。
一方、上記混合物の形成ステップで混合される各原料は、粉末形態であり得るが、本発明が必ずこのような混合原料の特定の形態によって制限されるのではない。
また望ましくは、上記熱処理ステップは、真空中、または水素を一部含んでいるか、水素を含んでいないAr、He、N2などの気体を流しながら行われ得る。
このとき、熱処理温度は、400℃ないし800℃であり得る。望ましくは、上記熱処理温度は、450℃ないし700℃であり得る。さらに望ましくは、上記熱処理温度は、500℃ないし650℃であり得る。
一方、上記熱処理ステップは、2つ以上の熱処理ステップを含み得る。例えば、上記混合物を形成するステップ、すなわち、原料を混合するステップで形成された混合物に対して、第1温度で1次熱処理を行った後、第2温度で2次熱処理を行うこともできる。
この場合、上記複数の熱処理ステップのうち一部の熱処理ステップは、原料を混合する上記混合物の形成ステップで行われ得る。
例えば、上記熱処理ステップは、1次熱処理ステップ、2次熱処理ステップ、及び3次熱処理(焼結)ステップの3つの熱処理ステップを含み得る。そして、1次熱処理ステップは、400℃ないし600℃の温度範囲で行われ得、2次熱処理ステップ及び3次熱処理ステップは、600℃ないし800℃の温度範囲で行われ得る。このとき、1次熱処理ステップは、原料が混合される混合物の形成ステップ中に行われ、2次熱処理ステップ及び3次熱処理ステップは、その後に順次行われ得る。
本発明による熱電変換素子は、上述した化合物半導体を含む。すなわち、本発明による化合物半導体は、熱電変換素子の熱電変換材料として利用され得る。特に、本発明による化合物半導体は、熱電変換材料の性能指数であるZTが大きい。また、ゼーベック係数及び電気伝導度が大きく、熱伝導度が低いことから、熱電変換性能に優れている。したがって、本発明による化合物半導体は、従来の熱電変換材料を代替するか、従来の化合物半導体に加えて熱電変換素子に有効に使用され得る。
また、本発明による太陽電池は、上述した化合物半導体を含む。すなわち、本発明による化合物半導体は、太陽電池、特に太陽電池の光吸収層として使用され得る。
太陽電池は、太陽光が入射される方から順次、前面透明電極、バッファー層、光吸収層、背面電極、及び基板などが積層された構造で製造し得る。最も下に位置する基板は、ガラスで形成され得、その上に全面的に形成される背面電極は、Moなどの金属を蒸着することで形成できる。
次いで、背面電極の上部に本発明による化合物半導体を、電子ビーム蒸着法、ゾルゲル(sol‐gel)法、PLD(Pulsed Laser Deposition)などの方法で積層することで、上記光吸収層を形成することができる。このような光吸収層の上部には、前面透明電極として使われるZnO層と光吸収層との間の格子定数の差異及びバンドギャップの差異を緩衝するバッファー層とが存在し得、このようなバッファー層は、CdSなどの材料をCBD(Chemical Bath Deposition)などの方法で蒸着することで形成できる。次いで、バッファー層の上にZnOや、ZnO及びITOの積層膜として前面透明電極がスパッタリングなどの方法で形成できる。
本発明による太陽電池は、多様な変形が可能である。例えば、本発明による化合物半導体を光吸収層として使った太陽電池を積層した積層型太陽電池を製造し得る。そして、このように積層された他の太陽電池は、シリコンや他の知られた化合物半導体を利用した太陽電池を使用し得る。
また、本発明の化合物半導体のバンドギャップを変化させることで、相異なるバンドギャップを持つ化合物半導体を光吸収層として使用する複数の太陽電池を積層し得る。本発明による化合物半導体のバンドギャップは、この化合物をなす構成元素、特にTeの組成比を変化させることで調節し得る。
また、本発明による化合物半導体は、赤外線を選択的に通過させる赤外線窓や赤外線センサーなどにも使用し得る。
以下、本発明をさらに具体的に説明するために実施例及び比較例を挙げて詳しく説明する。しかし、本発明による実施例は多様な形態に変形され得、本発明の範囲が下記実施例に限定されると解釈されてはいけない。本発明の実施例は当業界で平均的な知識を持つ者に本発明をより完全に説明するために提供されるのである。
<実施例1>
試料として、In、Co、Zn、Sb、及びTeを用意し、これらをモルタル(mortar)を利用してよく混合してIn0.25Zn0.1Co4Sb11Te組成の混合物をペレットの形態で製作した。このように混合された材料は、石英管(silica tube)の中に入れ真空密封して650℃で36時間加熱し、昇温時間は1時間30分にして、In0.25Zn0.1Co4Sb11Te粉末を得た。
このように合成された実施例の試料の中で一部を直径4mm、長さ15mmの円柱に成形し、他の一部を直径10mm、厚さ1mmの円板に成形した後、CIPを使って200MPaで圧力をかけた。次いで、得られた結果物を石英官に入れ12時間真空焼結した。
焼結した円板に対して、TC‐7000(Ulvac‐Rico,Inc)を使って試料の熱伝導度(κ)を測定し、その結果を実施例1として図2に示した。
焼結した円柱に対して、ZEM‐3(Ulvac‐Rico,Inc)を使って所定の温度間隔で試料の電気伝導度とゼーベック係数とを測定した。このとき、電気伝導度(σ)の測定結果は、実施例1として図1に示した。そして、上記測定されたそれぞれの値を利用してZT値を計算することで、その結果を実施例1として図3に示した。
<実施例2>
試料として、In、Co、Zn、Cd、Sb、及びTeを用意し、これらをモルタルを利用してよく混合してIn0.25Zn0.1Cd0.1Co4Sb11Te組成の混合物をペレットの形態で製作した。このように混合された材料は、石英管の中に入れ真空密封して650℃で36時間加熱し、昇温時間は1時間30分にして、In0.25Zn0.1Cd0.1Co4Sb11Te粉末を得た。
このように合成された実施例の試料の中で一部を直径4mm、長さ15mmの円柱に成形し、他の一部を直径10mm、厚さ1mmの円板に成形した後、CIPを使って200MPaで圧力をかけた。次いで、得られた結果物を石英官に入れ12時間真空焼結した。
焼結した円板に対して、TC‐7000を使って試料の熱伝導度を測定し、その結果を実施例2として図2に示した。
焼結した円柱に対して、ZEM‐3を使って所定の温度間隔で試料の電気伝導度とゼーベック係数とを測定した。このとき、電気伝導度の測定結果は、実施例2として図1に示した。そして、上記測定されたそれぞれの値を利用してZT値を計算することで、その結果を実施例2として図3に示した。
<実施例3>
試料として、In、Co、Zn、Cd、Sb、Ni、及びTeを用意し、これらをモルタルを利用してよく混合してIn0.25Zn0.1Cd0.1Co3.98Ni0.02Sb11Te組成の混合物をペレットの形態で製作した。このように混合された材料は、石英管の中に入れ真空密封して650℃で36時間加熱し、昇温時間は1時間30分にして、In0.25Zn0.1Cd0.1Co3.98Ni0.02Sb11Te粉末を得た。
このように合成された実施例の試料の中で一部を直径4mm、長さ15mmの円柱に成形し、他の一部を直径10mm、厚さ1mmの円板に成形した後、CIPを使って200MPaで圧力をかけた。次いで、得られた結果物を石英官に入れ12時間真空焼結した。
焼結した円板に対して、TC‐7000を使って試料の熱伝導度を測定し、その結果を実施例3として図2に示した。
焼結した円柱に対して、ZEM‐3を使って所定の温度間隔で試料の電気伝導度とゼーベック係数とを測定した。このとき、電気伝導度の測定結果は、実施例3として図1に示した。そして、上記測定されたそれぞれの値を利用してZT値を計算することで、その結果を実施例3として図3に示した。
<比較例>
試料として、In、Co、Sbを用意し、これらをモルタルを利用してよく混合してIn0.25Co4Sb12組成の混合物をペレットの形態で製作した。このように混合された材料は、H2(1.94%)及びN2ガスを流しながら675℃で36時間加熱し、このときの昇温時間は1時間30分にした。
このように合成された比較例の試料を直径4mm、長さ15mmの円柱に成形し、他の一部を直径10mm、厚さ1mmの円板に成形した後、CIPを使って200MPaで圧力をかけた。次いで、得られた結果物を石英官に入れ12時間真空焼結した。
焼結した円板に対して、TC‐7000を使って試料の熱伝導度を測定し、その結果を比較例として図2に示した。
焼結した円柱に対して、ZEM‐3を使って所定の温度間隔で試料の電気伝導度とゼーベック係数とを測定した。このとき、電気伝導度の測定結果は、比較例として図1に示した。そして、上記測定されたそれぞれの値を利用してZT値を計算することで、その結果を比較例として図3に示した。
まず、図1の結果から、本発明による実施例1ないし3の化合物半導体は、比較例の化合物半導体に比べて、温度測定区間の全体にわたって電気伝導度(σ)が高いことが分かる。
特に、上記化学式1において、x=0.25、M=Zn、y=0.1、A=Ni、m=0.02、n=0、z=1である実施例3の化合物半導体の場合、比較例の化合物半導体よりも電気伝導度が著しく向上することが確認できる。
また、図2の結果から、本発明による実施例1ないし3の化合物半導体は、比較例の化合物半導体に比べて、熱伝導度が低いことが分かる。
それだけでなく、図3の結果から、各試料に対するZT値を見てみれば、本発明による実施例1ないし3の化合物半導体は、比較例の化合物半導体に比べて、ZT値が非常に高いことが分かる。特に、高い温度であればあるほど、実施例の化合物半導体は、比較例の化合物半導体とさらに大きい差異を示すことが確認できる。
以上、これらの結果を総合すれば、本発明の各実施例による化合物半導体のほうが比較例の従来の化合物半導体に比べて、電気伝導度が高く、熱伝導度が低く、ZT値が大きいということが分かる。従って、本発明の一実施例による化合物半導体は、熱電変換性能に優れていると言うことができ、熱電変換材料として非常に有効に利用できる。
以上のように、本発明は、たとえ限定された実施例と図面とによって説明されたが、本発明はこれによって限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を持つ者により本発明の技術思想と特許請求範囲の均等範囲内で多様な修正及び変形が可能なのは言うまでもない。

Claims (11)

  1. 下記化学式1で表示される化合物半導体。
    [化学式1]
    InxyCo4-mm Sb 12-z Tez
    上記化学式1において、Mは、Zn及びCdの少なくとも一つであり、Ca、Sr、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Cu、Zn、Pd、Ag、Cd、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、及びLuからなる群より選択された少なくとも一つを選択的にさらに含有可能であり、Aは、Fe、Ni、Ru、Rh、Pd、Ir、及びPtからなる群より選択された少なくとも一つであり、0<x≦0.5、0<y≦0.5、0≦m≦0.5、及び1.0≦z≦2である。
  2. 上記化学式1のxは、0<x≦0.25であることを特徴とする請求項1に記載の化合物半導体。
  3. 上記化学式1のyは、0<y≦0.25であることを特徴とする請求項1または2に記載の化合物半導体。
  4. 上記化学式1のx及びyは、0<x+y≦1であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の化合物半導体。
  5. 上記化学式1のmは、0<m≦0.1であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の化合物半導体。
  6. In、Co、Sb、及びTeと、Zn及びCdの少なくとも一つとを必須に含み、選択的にCa、Sr、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Cu、PdAg、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、及びLuからなる群より選択された少なくとも一つをさらに含む原料を粉末形態で混合して請求項1に記載の化学式1に対応する組成を有する混合物を形成するステップと、
    真空中、または、水素、Ar、He及びN 2 のうち少なくとも一つの気体を流しながら上記混合物を400℃ないし800℃の温度で加熱して熱処理するステップと、
    を含む請求項1に記載の化合物半導体の製造方法。
  7. 上記混合物は、Fe、Ni、Ru、Rh、Pd、Ir、及びPtならびにそれらの酸化物からなる群より選択された少なくとも一つをさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の化合物半導体の製造方法。
  8. 上記熱処理ステップは、450℃ないし700℃で行われることを特徴とする請求項6または7に記載の化合物半導体の製造方法。
  9. 上記熱処理ステップは、2つ以上の熱処理ステップを含むことを特徴とする請求項6〜8のいずれか一項に記載の化合物半導体の製造方法。
  10. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の化合物半導体を含む熱電変換素子。
  11. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の化合物半導体を含む太陽電池。
JP2013550435A 2011-04-28 2012-04-26 新規な化合物半導体及びその活用 Active JP5774130B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2011-0040400 2011-04-28
KR20110040400 2011-04-28
PCT/KR2012/003254 WO2012148197A2 (ko) 2011-04-28 2012-04-26 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
KR10-2012-0043815 2012-04-26
KR1020120043815A KR101463195B1 (ko) 2011-04-28 2012-04-26 신규한 화합물 반도체 및 그 활용

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014510006A JP2014510006A (ja) 2014-04-24
JP5774130B2 true JP5774130B2 (ja) 2015-09-02

Family

ID=47072923

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013550435A Active JP5774130B2 (ja) 2011-04-28 2012-04-26 新規な化合物半導体及びその活用

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8636926B2 (ja)
EP (1) EP2703344B1 (ja)
JP (1) JP5774130B2 (ja)
KR (1) KR101463195B1 (ja)
CN (1) CN103492310A (ja)
TW (1) TWI480226B (ja)
WO (1) WO2012148197A2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5759616B2 (ja) * 2011-05-13 2015-08-05 エルジー・ケム・リミテッド 新規な化合物半導体及びその活用
JP5852228B2 (ja) * 2011-05-13 2016-02-03 エルジー・ケム・リミテッド 新規な化合物半導体及びその活用
WO2016160917A1 (en) * 2015-03-30 2016-10-06 Massachusetts Institute Of Technology Segregation resistant perovskite oxides with surface modification
JP6279639B2 (ja) * 2016-03-14 2018-02-14 パナソニック株式会社 熱電変換材料およびその製造方法
CN106601837B (zh) * 2016-11-23 2018-06-22 中山大学 一种超宽光谱光敏材料和应用该光敏材料的光电探测器
CN106876568A (zh) * 2017-02-27 2017-06-20 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 一种热电材料及其制备方法与用途
CN118274987B (zh) * 2024-04-09 2024-10-22 重庆材料研究院有限公司 传感器偶丝的材料及采用该材料制备的一体化多点式温度传感器

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02199006A (ja) * 1989-01-30 1990-08-07 Agency Of Ind Science & Technol 1/2/5の組成を有する多元系金属カルコゲナイド
JP2003173826A (ja) * 2001-12-05 2003-06-20 Mitsubishi Paper Mills Ltd 半導体電極の作製方法、並びにそれを用いた光電変換素子
CA2538522C (en) * 2003-09-12 2014-01-07 Board Of Trustees Operating Michigan State University Silver-containing thermoelectric compounds
US7462217B2 (en) * 2003-12-08 2008-12-09 E.I. Du Pont De Nemours And Company Method of preparation for the high performance thermoelectric material indium-cobalt-antimony
US7723607B2 (en) * 2004-04-14 2010-05-25 E.I. Du Pont De Nemours And Company High performance thermoelectric materials and their method of preparation
EP1938343A4 (en) * 2005-10-17 2010-07-28 Agency Science Tech & Res NOVEL MAGNETIC PHASE CHANGE MATERIAL
AU2007217870B2 (en) * 2006-02-16 2011-07-21 Brigham Young University Preparation of uniform nanoparticles of ultra-high purity metal oxides, mixed metal oxides, metals, and metal alloys
US20100171087A1 (en) * 2007-05-21 2010-07-08 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and process for producing the same
KR100910173B1 (ko) * 2007-09-10 2009-07-30 충주대학교 산학협력단 CoSb3 스커테루다이트계 열전재료 및 그 제조방법
EP2242121B1 (en) * 2008-01-23 2018-10-24 Furukawa Co., Ltd. Thermoelectric conversion material and thermoelectric conversion module
US20090235969A1 (en) * 2008-01-25 2009-09-24 The Ohio State University Research Foundation Ternary thermoelectric materials and methods of fabrication
US8518287B2 (en) * 2008-04-04 2013-08-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Dichalcogenide thermoelectric material
CN101946323B (zh) * 2008-08-29 2013-08-21 Lg化学株式会社 新型热电转换材料及其制备方法,以及使用该新型热电转换材料的热电转换元件
CN101397612B (zh) * 2008-10-21 2011-05-25 同济大学 一种方钴矿基热电块体材料的制备方法
JP2012527523A (ja) * 2009-05-21 2012-11-08 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー 銅スズ硫化物および銅亜鉛スズ硫化物インク組成物
CN101942577A (zh) * 2009-07-10 2011-01-12 中国科学院上海硅酸盐研究所 热电复合材料及其制备方法
KR101042575B1 (ko) * 2009-08-11 2011-06-20 충주대학교 산학협력단 In-Co-Fe-Sb 계 스커테루다이트 열전재료 및 그 제조방법
KR101042574B1 (ko) * 2009-08-11 2011-06-20 충주대학교 산학협력단 In-Co-Ni-Sb 계 스커테루다이트 열전재료 및 그 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN103492310A (zh) 2014-01-01
EP2703344A2 (en) 2014-03-05
EP2703344B1 (en) 2016-08-31
EP2703344A4 (en) 2014-10-29
WO2012148197A2 (ko) 2012-11-01
JP2014510006A (ja) 2014-04-24
TW201307192A (zh) 2013-02-16
KR101463195B1 (ko) 2014-11-21
TWI480226B (zh) 2015-04-11
WO2012148197A3 (ko) 2012-12-20
KR20120122932A (ko) 2012-11-07
US20130015412A1 (en) 2013-01-17
US8636926B2 (en) 2014-01-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5852228B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5774131B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5774200B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5774130B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5767399B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5767397B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5784218B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5767395B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5767398B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5759616B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5774199B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5774201B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
JP5774141B2 (ja) 新規な化合物半導体及びその活用
KR20120127322A (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140812

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20141023

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20141030

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150501

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150623

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150630

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5774130

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250