JP5741772B2 - 半導体モジュール - Google Patents
半導体モジュール Download PDFInfo
- Publication number
- JP5741772B2 JP5741772B2 JP2014526015A JP2014526015A JP5741772B2 JP 5741772 B2 JP5741772 B2 JP 5741772B2 JP 2014526015 A JP2014526015 A JP 2014526015A JP 2014526015 A JP2014526015 A JP 2014526015A JP 5741772 B2 JP5741772 B2 JP 5741772B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal plate
- plate connector
- bare chip
- semiconductor module
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/35—Manufacturing methods
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
- H01L24/37—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L24/41—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of a plurality of strap connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/91—Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L24/80 - H01L24/90
- H01L24/92—Specific sequence of method steps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/07—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/18—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/291—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29199—Material of the matrix
- H01L2224/29294—Material of the matrix with a principal constituent of the material being a liquid not provided for in groups H01L2224/292 - H01L2224/29291
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/32227—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the layer connector connecting to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/32238—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the layer connector connecting to a bonding area protruding from the surface of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/33—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
- H01L2224/331—Disposition
- H01L2224/3318—Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
- H01L2224/33181—On opposite sides of the body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/35—Manufacturing methods
- H01L2224/352—Mechanical processes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/35—Manufacturing methods
- H01L2224/358—Post-treatment of the connector
- H01L2224/3583—Reworking
- H01L2224/35847—Reworking with a mechanical process, e.g. with flattening of the connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
- H01L2224/37—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/37001—Core members of the connector
- H01L2224/3701—Shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
- H01L2224/37—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/37001—Core members of the connector
- H01L2224/3701—Shape
- H01L2224/37012—Cross-sectional shape
- H01L2224/37013—Cross-sectional shape being non uniform along the connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
- H01L2224/37—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/37001—Core members of the connector
- H01L2224/37099—Material
- H01L2224/371—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/37117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/37124—Aluminium [Al] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
- H01L2224/37—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/37001—Core members of the connector
- H01L2224/37099—Material
- H01L2224/371—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/37138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/37139—Silver [Ag] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
- H01L2224/37—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/37001—Core members of the connector
- H01L2224/37099—Material
- H01L2224/371—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/37138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/37144—Gold [Au] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
- H01L2224/37—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/37001—Core members of the connector
- H01L2224/37099—Material
- H01L2224/371—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/37138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/37147—Copper [Cu] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/4005—Shape
- H01L2224/4009—Loop shape
- H01L2224/40095—Kinked
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/401—Disposition
- H01L2224/40151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/40221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/40225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/40227—Connecting the strap to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/404—Connecting portions
- H01L2224/40475—Connecting portions connected to auxiliary connecting means on the bonding areas
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/404—Connecting portions
- H01L2224/40475—Connecting portions connected to auxiliary connecting means on the bonding areas
- H01L2224/40499—Material of the auxiliary connecting means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/41—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of a plurality of strap connectors
- H01L2224/4101—Structure
- H01L2224/4103—Connectors having different sizes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/41—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of a plurality of strap connectors
- H01L2224/411—Disposition
- H01L2224/4112—Layout
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73263—Layer and strap connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/77—Apparatus for connecting with strap connectors
- H01L2224/7725—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/77272—Oven
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
- H01L2224/83191—Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
- H01L2224/83192—Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/832—Applying energy for connecting
- H01L2224/8321—Applying energy for connecting using a reflow oven
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
- H01L2224/834—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/83417—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/83424—Aluminium [Al] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
- H01L2224/834—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/83438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/83447—Copper [Cu] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/83801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/83801—Soldering or alloying
- H01L2224/83815—Reflow soldering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/8438—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/84399—Material
- H01L2224/844—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/84417—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/84424—Aluminium [Al] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/8438—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/84399—Material
- H01L2224/844—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/84438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/84447—Copper [Cu] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/848—Bonding techniques
- H01L2224/84801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/848—Bonding techniques
- H01L2224/84801—Soldering or alloying
- H01L2224/84815—Reflow soldering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/91—Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
- H01L2224/92—Specific sequence of method steps
- H01L2224/922—Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
- H01L2224/9221—Parallel connecting processes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/142—Metallic substrates having insulating layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L24/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/33—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L24/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/07—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
- H01L25/072—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/014—Solder alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
- H01L2924/13055—Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19105—Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10007—Types of components
- H05K2201/10166—Transistor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10227—Other objects, e.g. metallic pieces
- H05K2201/1031—Surface mounted metallic connector elements
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10227—Other objects, e.g. metallic pieces
- H05K2201/10409—Screws
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Description
本発明は、自動車用電気機器に組み込まれるパワーモジュール等の半導体モジュールに関する。
昨今、自動車等の車両における種々の電気機器の制御に電子装置が導入されてきた。電子装置が組み込まれた電気機器の一例として電動パワーステアリング装置では、自動車の操舵に係る電動モータが収容される筐体にモータ駆動部が設けられ、このモータ駆動部に電子装置が搭載される。この電子装置は、パワーモジュールとして、モータ駆動部に組み込まれる。
パワーモジュールは、電動パワーステアリング装置のような比較的大きな電流で駆動される電気機器の制御に適した、例えば、FET(Field Effect Transistor)、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等のパワー素子を搭載したいわゆる半導体モジュールとして構成される。この種のパワーモジュールは、車両に搭載されることから車載モジュール(In−vehicle Module)とも呼ばれる。
従来、この種の半導体モジュールとして、例えば、特許文献1に記載の技術がある。この技術は、金属基板上の配線パターンとベアチップトランジスタとを接合する電気的配線にワイヤを使用したものである。
従来、この種の半導体モジュールとして、例えば、特許文献1に記載の技術がある。この技術は、金属基板上の配線パターンとベアチップトランジスタとを接合する電気的配線にワイヤを使用したものである。
また、例えば特許文献2に記載の技術のように、金属基板上に実装される半導体素子の電気的接続にリード部品を使用し、半田実装するものもある。ここでは、半導体素子と基板との高さの違いを、リード部品を傾斜させることによって繋いでいる。
さらに、例えば特許文献3に記載の技術のように、コネクタ配線の応力緩和を行うために、立ち上がり曲げ部を設けたり、配線途中にヒューズ形状(波形状)を設けたりするものもある。
さらに、例えば特許文献3に記載の技術のように、コネクタ配線の応力緩和を行うために、立ち上がり曲げ部を設けたり、配線途中にヒューズ形状(波形状)を設けたりするものもある。
しかしながら、上記特許文献1に記載の技術にあっては、ワイヤを使用した電気的配線を採用しているため、当該電気的配線をワイヤボンディング装置により実装することが必要となる。すなわち、その他の電子部品の半田実装とは別の製造工程でワイヤボンディングを行う必要があり、製造タクトが長くなる。また、ワイヤボンディングの専用設備が必要となるため、製造コストが高くなる。
また、上記特許文献2に記載の技術にあっては、リード部品は半導体素子側から基板側に向けて傾斜しているため、組立時(リード部品の配置時)にリード部品を吸着保持する位置は、リード部品の端部に形成された平坦部の一方となる。そのため、部品吸着時の重量バランスが悪く、部品配置時の位置ずれが懸念される。
さらに、上記特許文献3に記載の技術にあっては、配線途中にヒューズ形状を設けているため、組立時に部品吸着できる位置は、端部に形成された平坦面になる。したがって、この場合にも、部品吸着保持時の重量バランスが悪く、部品配置時の位置ずれが懸念される。
そこで、本発明は、製造タクトの短縮と製造コストの削減とを実現すると共に、組立性を向上することができる半導体モジュールを提供することを課題としている。
さらに、上記特許文献3に記載の技術にあっては、配線途中にヒューズ形状を設けているため、組立時に部品吸着できる位置は、端部に形成された平坦面になる。したがって、この場合にも、部品吸着保持時の重量バランスが悪く、部品配置時の位置ずれが懸念される。
そこで、本発明は、製造タクトの短縮と製造コストの削減とを実現すると共に、組立性を向上することができる半導体モジュールを提供することを課題としている。
上記課題を解決するために、本発明に係る半導体モジュールの一態様は、以下のとおりである。すなわち、本発明に係る半導体モジュールの一態様は、金属製の基板と、該基板の上に形成された絶縁層と、該絶縁層上に形成された複数の配線パターンと、該複数の配線パターンのうち一つの配線パターン上に半田を介して実装されるベアチップトランジスタと、該ベアチップトランジスタの上面に形成された電極と前記複数の配線パターンのうち他の配線パターンとを半田を介して接合する、金属板で構成される金属板コネクタとを備えている。前記金属板コネクタは、水平な平板部と、該平板部の幅方向一端から立ち下がるように折り曲げられ前記電極に接合される第1の脚部と、前記平板部の幅方向他端から立ち下がるように折り曲げられ前記他の配線パターンに接合される第2の脚部とを有する形状である。更に前記金属板コネクタは、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Au)、銅合金及びアルミニウム合金導体のうちのいずれか1つの材料からなる。また、基板と水平の少なくとも一方向には弾性を有する形状に形成されていることを特徴としている。
すなわち、前記金属板コネクタは、熱膨張率及び熱収縮率が前記基板や絶縁層とは異なることにより、加熱時もしくは冷却時に生じる金属板コネクタ接合部の相対的変位を少なくとも一方向には弾性的に吸収可能な形状となっている。加えて、組立の際に前記金属板コネクタを吸着保持可能な平坦面を前記第1の脚部と前記第2の脚部との間に有することを特徴としている。
このように、ベアチップトランジスタの電極と基板上の配線パターンとの接合部材として、金属板で構成される金属板コネクタを用いる形態であるため、これらの接合を半田実装により行える。すなわちベアチップトランジスタの電極と基板上の配線パターンとの接合と、ベアチップトランジスタやその他の基板実装部品を基板上の配線パターン上に実装する際に行われる半田実装作業とを同一の設備、更には、同一の工程で同時に行うことができる。このため、半導体モジュールの製造タクトを短くすることができると共に、ワイヤボンディングの専用設備が不要になり、半導体モジュールの製造コストを安価にすることができる。
このように、ベアチップトランジスタの電極と基板上の配線パターンとの接合部材として、金属板で構成される金属板コネクタを用いる形態であるため、これらの接合を半田実装により行える。すなわちベアチップトランジスタの電極と基板上の配線パターンとの接合と、ベアチップトランジスタやその他の基板実装部品を基板上の配線パターン上に実装する際に行われる半田実装作業とを同一の設備、更には、同一の工程で同時に行うことができる。このため、半導体モジュールの製造タクトを短くすることができると共に、ワイヤボンディングの専用設備が不要になり、半導体モジュールの製造コストを安価にすることができる。
さらに、金属板コネクタをブリッジ形状とすることで、前記脚部が半田により配線パターンに接合されても脚部間の相対的な位置変位の弾性的な吸収がより好ましいものとなる。すなわち、半田実装作業に含まれるリフロー工程の際の加熱や半導体モジュールの作動熱による基板及び金属板コネクタの熱収縮や熱膨張により接合部にかかる応力をより好ましく緩和し、接合部の信頼性を確保することができる。また、金属板コネクタの形状を第1の脚部と第2の脚部との間を平板部で接続したブリッジ形状とすることで、金属板コネクタの重心位置を平板部の平坦面の部分とすることができる。このため、組立の際の部品吸着時に金属板コネクタの重心位置を含めて吸引吸着保持することが容易となる。金属板コネクタの重心位置を含めて吸着保持することにより、吸着保持の安定性が向上するため、いわゆる移載時の安定性が向上し、部品配置位置の精度を確保することができる。
また、上記半導体モジュールにおいて、前記第1の脚部は、その一端が前記平板部の幅方向一端に第1屈曲部を介して接続されると共に、その他端には、前記電極上に半田を介して接合される接合面が、第2屈曲部を介して前記平板部の幅方向外向きに突出するように接続されており、前記第2の脚部は、その一端が前記平板部の幅方向他端に第3屈曲部を介して接続されると共に、その他端には、前記配線パターン上に半田を介して接合される接合面が、第4屈曲部を介して前記平板部の幅方向外向きに突出するように接続されていてもよい。
このように、4つの屈曲部を設けることで、金属板コネクタの平板部を基板から離間した頂上面とし、かつ、その部分を適切に平坦面とすることができる。また、金属板コネクタを、ブリッジ形状も兼ね備えた断面略ハット型の形状とすることで、プレス成形による製造により一層適したものとすることができる。すなわち、プレス加工におけるスプリングバックを抑制することができ、部品精度を向上させることができる。
さらに、上記半導体モジュールにおいて、前記第1屈曲部、前記第2屈曲部、前記第3屈曲部及び前記第4屈曲部の角度は、それぞれ鈍角であってもよい。
このように、4つの屈曲部の角度を鈍角とすることで、プレス成形時における離型性を良くすることができ、製造コストの低減に寄与する。
さらに、上記半導体モジュールにおいて、前記第1屈曲部、前記第2屈曲部、前記第3屈曲部及び前記第4屈曲部の角度は、それぞれ鈍角であってもよい。
このように、4つの屈曲部の角度を鈍角とすることで、プレス成形時における離型性を良くすることができ、製造コストの低減に寄与する。
本発明の半導体モジュールでは、ベアチップトランジスタの電極と基板の配線パターンとの接合部材として、金属板で構成される金属板コネクタを用いる形態であるため、これらの接合を半田実装作業で行える。すなわちベアチップトランジスタの電極と基板の配線パターンとの接合と、ベアチップトランジスタやその他の基板実装部品を基板上の配線パターン上に実装する際に行われる半田実装作業とを同一の設備、更には同一の工程で同時に行うことができる。このため、半導体モジュールの製造タクトを短くすることができると共に、ワイヤボンディングの専用設備が不要になり、半導体モジュールの製造コストを安価にすることができる。
また、金属板コネクタをブリッジ形状とするので、上下左右方向の変位が吸収可能となり、半田実装作業に含まれるリフロー工程の際の加熱や半導体モジュールの作動熱による基板及び金属板コネクタの熱収縮や熱膨張により接合部にかかる応力を緩和し、接合部の信頼性を確保することができる。さらに、金属板コネクタの平坦面に重心を設けることができるので、組立の際の部品吸着時に金属板コネクタの重心位置を吸着することによりバランスよく部品を吸着保持することができる。これにより、移載時の安定性を向上することができ、組立配置位置精度を向上させることができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明に係る半導体モジュールが用いられる電動パワーステアリング装置の基本構造を示す図である。
図1の電動パワーステアリング装置において、操向ハンドル1のコラム軸2は、減速ギア3、ユニバーサルジョイント4A及び4B、ピニオンラック機構5を経て操向車輪のタイロッド6に連結されている。コラム軸2には、操向ハンドル1の操舵トルクを検出するトルクセンサ7が設けられており、操向ハンドル1の操舵力を補助する電動モータ8が減速ギア3を介してコラム軸2に連結されている。電動パワーステアリング装置を制御するコントローラ10には、バッテリー(図示せず)から電力が供給されるとともに、イグニションキー(図示せず)を経てイグニションキー信号IGN(図2参照)が入力される。コントローラ10は、トルクセンサ7で検出された操舵トルクTsと車速センサ9で検出された車速Vとに基づいて、アシスト(操舵補助)指令となる操舵補助指令値の演算を行い、演算された操舵補助指令値に基づいて電動モータ8に供給する電流を制御する。
図1は、本発明に係る半導体モジュールが用いられる電動パワーステアリング装置の基本構造を示す図である。
図1の電動パワーステアリング装置において、操向ハンドル1のコラム軸2は、減速ギア3、ユニバーサルジョイント4A及び4B、ピニオンラック機構5を経て操向車輪のタイロッド6に連結されている。コラム軸2には、操向ハンドル1の操舵トルクを検出するトルクセンサ7が設けられており、操向ハンドル1の操舵力を補助する電動モータ8が減速ギア3を介してコラム軸2に連結されている。電動パワーステアリング装置を制御するコントローラ10には、バッテリー(図示せず)から電力が供給されるとともに、イグニションキー(図示せず)を経てイグニションキー信号IGN(図2参照)が入力される。コントローラ10は、トルクセンサ7で検出された操舵トルクTsと車速センサ9で検出された車速Vとに基づいて、アシスト(操舵補助)指令となる操舵補助指令値の演算を行い、演算された操舵補助指令値に基づいて電動モータ8に供給する電流を制御する。
コントローラ10は、主としてマイクロコンピュータで構成されるが、その制御装置の機構及び構成を示すと図2に示すようになる。
トルクセンサ7で検出された操舵トルクTs及び車速センサ9で検出された車速Vは制御演算部としての制御演算装置11に入力され、制御演算装置11で演算された電流指令値をゲート駆動回路12に入力する。電流指令値等に基づいてゲート駆動回路12で形成されたゲート駆動信号は、FETのブリッジ構成で成るモータ駆動部13に入力され、モータ駆動部13は非常停止用の遮断装置14を経て3相ブラシレスモータで構成される電動モータ8を駆動する。3相ブラシレスモータの各相電流は電流検出回路15で検出され、検出された3相のモータ電流ia〜icは制御演算装置11にフィードバック電流として入力される。また、3相ブラシレスモータには、ホールセンサ等の回転センサ16が取り付けられており、回転センサ16からの回転信号RTがロータ位置検出回路17に入力され、検出された回転位置θが制御演算装置11に入力される。
また、イグニションキーからのイグニション信号IGNはイグニション電圧モニタ部18及び電源回路部19に入力され、電源回路部19から電源電圧Vddが制御演算装置11に入力されるとともに、装置停止用となるリセット信号RSが制御演算装置11に入力される。さらに、遮断装置14は、2相を遮断するリレー接点141及び142で構成されている。
トルクセンサ7で検出された操舵トルクTs及び車速センサ9で検出された車速Vは制御演算部としての制御演算装置11に入力され、制御演算装置11で演算された電流指令値をゲート駆動回路12に入力する。電流指令値等に基づいてゲート駆動回路12で形成されたゲート駆動信号は、FETのブリッジ構成で成るモータ駆動部13に入力され、モータ駆動部13は非常停止用の遮断装置14を経て3相ブラシレスモータで構成される電動モータ8を駆動する。3相ブラシレスモータの各相電流は電流検出回路15で検出され、検出された3相のモータ電流ia〜icは制御演算装置11にフィードバック電流として入力される。また、3相ブラシレスモータには、ホールセンサ等の回転センサ16が取り付けられており、回転センサ16からの回転信号RTがロータ位置検出回路17に入力され、検出された回転位置θが制御演算装置11に入力される。
また、イグニションキーからのイグニション信号IGNはイグニション電圧モニタ部18及び電源回路部19に入力され、電源回路部19から電源電圧Vddが制御演算装置11に入力されるとともに、装置停止用となるリセット信号RSが制御演算装置11に入力される。さらに、遮断装置14は、2相を遮断するリレー接点141及び142で構成されている。
また、モータ駆動部13の回路構成について説明すると、電源ライン81に対し、直列に接続されたFETTr1及びTr2、FETTr3及びTr4、及びFETTr5及びTr6が直列に接続されている。そして、電源ライン81に対して、並列に接続されたFETTr1及びTr3、FETTr5及びTr2、及びFETTr4及びTr6が接地ライン82に接続されている。これにより、インバータを構成する。ここで、FETTr1及びTr2は、FETTr1のソース電極SとFETTr2のドレイン電極Dとが直列に接続され、3相モータのc相アームを構成し、c相出力ライン91cにて電流が出力される。また、FETTr3及びTr4は、FETTr3のソース電極SとFETTr4のドレイン電極Dとが直列に接続され、3相モータのa相アームを構成し、a相出力ライン91aにて電流が出力される。更に、FETTr5及びTr6は、FETTr5のソース電極SとFETTr6のドレイン電極Dとが直列に接続され、3相モータのb相アームを構成し、b相出力ライン91bにて電流が出力される。
図3は、図1に示す電動パワーステアリング装置の半導体モジュールを含むコントローラ10の分解斜視図であり、コントローラ10は、ケース20と、モータ駆動部13を含むパワーモジュールとしての半導体モジュール30と、放熱用シート39と、制御演算装置11及びゲート駆動回路12を含む制御回路基板40と、電力及び信号用コネクタ50と、3相出力用コネクタ60と、カバー70とを備えている。
ここで、ケース20は、略矩形状に形成され、半導体モジュール30を載置するための平板状の半導体モジュール載置部21と、半導体モジュール載置部21の長手方向端部に設けられた、電力及び信号用コネクタ50を実装するための電力及び信号用コネクタ実装部22と、半導体モジュール載置部21の幅方向端部に設けられた、3相出力用コネクタ60を実装するための3相出力用コネクタ実装部23とを備えている。
ここで、ケース20は、略矩形状に形成され、半導体モジュール30を載置するための平板状の半導体モジュール載置部21と、半導体モジュール載置部21の長手方向端部に設けられた、電力及び信号用コネクタ50を実装するための電力及び信号用コネクタ実装部22と、半導体モジュール載置部21の幅方向端部に設けられた、3相出力用コネクタ60を実装するための3相出力用コネクタ実装部23とを備えている。
そして、半導体モジュール載置部21には、半導体モジュール30を取り付けるための取付けねじ38がねじ込まれる複数のねじ孔21aが形成されている。また、半導体モジュール載置部21及び電力及び信号用コネクタ実装部22には、制御回路基板40を取り付けるための複数の取付けポスト24が立設され、各取付けポスト24には、制御回路基板40を取り付けるための取付けねじ41がねじ込まれるねじ孔24aが形成されている。更に、3相出力用コネクタ実装部23には、3相出力用コネクタ60を取り付けるための取付けねじ61がねじ込まれる複数のねじ孔23aが形成されている。
また、半導体モジュール30は、前述したモータ駆動部13の回路構成を有し、図4に示すように、基板31に、6個のFETTr1〜Tr6、電源ライン81に接続された正極端子81a、及び接地ライン82に接続された負極端子82aが実装されている。また、基板31には、a相出力ライン91aに接続されたa相出力端子92a、b相出力ライン91bに接続されたb相出力端子92b、及びc相出力ライン91cに接続されたc相出力端子92cを含む3相出力部90が実装されている。また、基板31上には、コンデンサを含むその他の基板実装部品37が実装されている。更に、半導体モジュール30の基板31には、半導体モジュール30を取り付けるための取付けねじ38が挿通する複数の貫通孔31aが設けられている。
ここで、この半導体モジュール30において、6個のFETTr1〜Tr6の基板31上への実装について説明する。各FETTr1〜Tr6は、ベアチップFET(ベアチップトランジスタ)35で構成され、図5に示すように、ベアチップFET35上にソース電極Sとゲート電極Gとを備え、また、ベアチップFET35の下面には図示しないドレイン電極を備えている。
半導体モジュール30は、図6に示すように、金属製の基板31を備え、基板31の上には、絶縁層32が形成されている。基板31は、アルミニウムなどの金属製である。また、この絶縁層32上には、複数の配線パターン33a〜33dが形成されている。各配線パターン33a〜33dは、銅やアルミニウムなどの金属、又はこの金属を含む合金で構成される。
半導体モジュール30は、図6に示すように、金属製の基板31を備え、基板31の上には、絶縁層32が形成されている。基板31は、アルミニウムなどの金属製である。また、この絶縁層32上には、複数の配線パターン33a〜33dが形成されている。各配線パターン33a〜33dは、銅やアルミニウムなどの金属、又はこの金属を含む合金で構成される。
そして、複数の配線パターン33a〜33dのうち一つの配線パターン33a上には半田34aを介して各FETTr1〜Tr6を構成するベアチップFET35が実装されている。ベアチップFET35の下面に形成されたドレイン電極が半田34aを介して配線パターン33aに接合される。そして、ベアチップFET35のソース電極S上と複数の配線パターン33a〜33dのうち他の配線パターン33b上とがソース電極用金属板コネクタ36aでそれぞれ半田34e,34bを介して接合される。ソース電極用金属板コネクタ36aは、金属板を打抜き及び曲げ加工することによって形成されるものであり、水平な平板部36aaと、平板部36aaの幅方向一端から立ち下がるように折り曲げられて延び、半田34eを介してベアチップFET35のソース電極Sに接合される接続部36abと、平板部36aaの幅方向他端から立ち下がるように折り曲げられて延び、半田34bを介して配線パターン33bに接合される接続部36acとを備えている。
また、ベアチップFET35のゲート電極G上と複数の配線パターン33a〜33dのうち更に他の配線パターン33c上とがゲート電極用金属板コネクタ36bでそれぞれ半田34f,34cを介して接合される。ゲート電極用金属板コネクタ36bは、金属板を打抜き及び曲げ加工することによって形成されるものであり、水平な平板部36baと、平板部36baの幅方向一端から立ち下がるように折り曲げられて延び、半田34fを介してベアチップFET35のゲート電極Gに接合される接続部36bbと、平板部36baの幅方向他端から立ち下がるように折り曲げられて延び、半田34cを介して配線パターン33cに接合される接続部36bcとを備えている。
また、絶縁層32上に形成された複数の配線パターン33a〜33dのうち更にもう一つ他の配線パターン33d上には半田34dを介してコンデンサなどの他の基板実装部品37が実装される。
また、絶縁層32上に形成された複数の配線パターン33a〜33dのうち更にもう一つ他の配線パターン33d上には半田34dを介してコンデンサなどの他の基板実装部品37が実装される。
次に、ソース電極用金属板コネクタ36aの形状について説明する。
ソース電極用金属板コネクタ36aは、図7に斜視図を示すように、平板部36aaと、接続部36ab(第1の脚部)と、接続部36ac(第2の脚部)とでブリッジ形状となっている。より具体的には、ソース電極用金属板コネクタ36aは、平板部36aaの左右方向(図7のX軸方向)一端部に、第1屈曲部36adを介して接続部36abの一端が接続されており、接続部36abの他端は、第2屈曲部36aeを介して外向きの接合面36afが形成されている。この接合面36afの下面が半田34eを介してベアチップFET35のソース電極Sに接合される。
ソース電極用金属板コネクタ36aは、図7に斜視図を示すように、平板部36aaと、接続部36ab(第1の脚部)と、接続部36ac(第2の脚部)とでブリッジ形状となっている。より具体的には、ソース電極用金属板コネクタ36aは、平板部36aaの左右方向(図7のX軸方向)一端部に、第1屈曲部36adを介して接続部36abの一端が接続されており、接続部36abの他端は、第2屈曲部36aeを介して外向きの接合面36afが形成されている。この接合面36afの下面が半田34eを介してベアチップFET35のソース電極Sに接合される。
また、接続部36abは、接合面36af近傍に幅狭部36agを有する。幅狭部36agは、第1屈曲部36adから第2屈曲部36aeに向けて狭くなるテーパ形状となっている。
平板部36aaの左右方向他端部には、第3屈曲部36ahを介して接続部36acの一端が接続されており、接続部36acの他端は、第4屈曲部36aiを介して外向きの接合面36ajが形成されている。この接合面36ajの下面が半田34bを介して配線パターン33bに接合される。
平板部36aaの左右方向他端部には、第3屈曲部36ahを介して接続部36acの一端が接続されており、接続部36acの他端は、第4屈曲部36aiを介して外向きの接合面36ajが形成されている。この接合面36ajの下面が半田34bを介して配線パターン33bに接合される。
図8は、ソース電極用金属板コネクタ36aの形状を示す図であり、(a)は平面図、(b)は正面図である。
図8(a)に示すように、ソース電極用金属板コネクタ36aは、平板部36aaの前後方向(図8(b)の上下方向)両端部に、プレス成形時の順送カット部36akを設ける。この順送カット部36akは、平板部36aaの前後方向外側に突出して形成されている。また、図8(b)に示すように、ソース電極用金属板コネクタ36aは、4つの屈曲部(36ad,36ae,36ah,36ai)を備えており、ブリッジ形状も兼ね備えた断面略ハット型の形状を有する。ここで、各屈曲部の角度θは、鈍角(例えば95°)であるものとする。
図8(a)に示すように、ソース電極用金属板コネクタ36aは、平板部36aaの前後方向(図8(b)の上下方向)両端部に、プレス成形時の順送カット部36akを設ける。この順送カット部36akは、平板部36aaの前後方向外側に突出して形成されている。また、図8(b)に示すように、ソース電極用金属板コネクタ36aは、4つの屈曲部(36ad,36ae,36ah,36ai)を備えており、ブリッジ形状も兼ね備えた断面略ハット型の形状を有する。ここで、各屈曲部の角度θは、鈍角(例えば95°)であるものとする。
なお、ソース電極用金属板コネクタ36aの形状は、ソース電極Sと配線パターン33bとを接合できるブリッジ形状であれば任意の形状をとることができる。例えば、図9(A)に示すように、幅狭部36agを設けない形状としてもよい。但し、半田接合の際に後に述べるリフロー接合を行い、また、半導体モジュール30が稼働した際に発熱により高温になることから、熱応力を緩和できる形状とすることが好ましい。ゲート電極用金属板コネクタ36bについても同様である。
また、図7、図8、図9(A)において、ソース電極用金属板コネクタ36aの平板部36aa及びゲート電極用金属板コネクタ36bの平板部36baには、平面(平坦面)上に重心(C)がくるように予め設計事項が決められており、前記ソース電極用金属板コネクタ36a、ゲート電極用金属板コネクタ36bを吸引吸着する時には重心部で行なわれるため移載時の安定性が確保される。金属コネクタ36a、36bの平板部36aa、36baにある重心位置の吸着範囲は、2mm2程度の面積が好ましく、2〜5mm2程度の面積がより好ましい。
ソース電極用金属板コネクタ36aの平板部36aa及びゲート電極用金属板コネクタ36bの平板部36baの平面(平坦面)上に重心(C)が位置するようにするには、例えば図9(B)に示すように、平板部36aa(平板部36ba)の厚さを、ソース電極用金属板コネクタ36a(ゲート電極用金属板コネクタ36b)の他部、すなわち、接続部36ab(接続部36bb)、接続部36ac(接続部36bc)、接合面36af、接合面36ajの厚さよりも大きくすることが好ましい。平板部36aa(平板部36ba)の板厚の大きさは特に限定されるものではないが、例えば、ソース電極用金属板コネクタ36a(ゲート電極用金属板コネクタ36b)の他部、すなわち、接続部36ab(接続部36bb)、接続部36ac(接続部36bc)、接合面36af、接合面36ajの板厚の約3倍としてもよい。
このように構成された半導体モジュール30は、図3に示すように、ケース20の半導体モジュール載置部21上に複数の取付けねじ38により取り付けられる。半導体モジュール30の基板31には、取付けねじ38が挿通する複数の貫通孔31aが形成されている。
なお、半導体モジュール30を半導体モジュール載置部21上に取り付けるに際しては、放熱用シート39を半導体モジュール載置部21上に取付け、その放熱用シート39の上から半導体モジュール30を取り付ける。この放熱用シート39により、半導体モジュール30で発生した熱が放熱用シート39を介してケース20に放熱される。
なお、半導体モジュール30を半導体モジュール載置部21上に取り付けるに際しては、放熱用シート39を半導体モジュール載置部21上に取付け、その放熱用シート39の上から半導体モジュール30を取り付ける。この放熱用シート39により、半導体モジュール30で発生した熱が放熱用シート39を介してケース20に放熱される。
また、制御回路基板40は、基板上に複数の電子部品を実装して制御演算装置11及びゲート駆動回路12を含む制御回路を構成するものである。制御回路基板40は、半導体モジュール30を半導体モジュール載置部21上に取り付けた後、半導体モジュール30の上方から半導体モジュール載置部21及び電力及び信号用コネクタ実装部22に立設された複数の取付けポスト24上に複数の取付けねじ41により取り付けられる。制御回路基板40には、取付けねじ41が挿通する複数の貫通孔40aが形成されている。
また、電力及び信号用コネクタ50は、バッテリー(図示せず)からの直流電源を半導体モジュール30に、トルクセンサ12や車速センサ9からの信号を含む各種信号を制御回路基板40に入力するために用いられる。電力及び信号用コネクタ50は、半導体モジュール載置部21に設けられた電力及び信号用コネクタ実装部22に複数の取付けねじ51により取り付けられる。
また、電力及び信号用コネクタ50は、バッテリー(図示せず)からの直流電源を半導体モジュール30に、トルクセンサ12や車速センサ9からの信号を含む各種信号を制御回路基板40に入力するために用いられる。電力及び信号用コネクタ50は、半導体モジュール載置部21に設けられた電力及び信号用コネクタ実装部22に複数の取付けねじ51により取り付けられる。
そして、3相出力用コネクタ60は、a相出力端子92a、b相出力端子92b、及びc相出力端子92cからの電流を出力するために用いられる。3相出用コネクタ60は、半導体モジュール載置部21の幅方向端部に設けられた3相出力用コネクタ実装部23に複数の取付けねじ61により取り付けられる。3相出力コネクタ60には、取付けねじ61が挿通する複数の貫通孔60aが形成されている。
更に、カバー70は、半導体モジュール30、制御回路基板40、電力及び信号用コネクタ50、及び3相出力用コネクタ60が取り付けられたケース20に対し、制御回路基板40の上方から当該制御回路基板40を覆うように取り付けられる。
更に、カバー70は、半導体モジュール30、制御回路基板40、電力及び信号用コネクタ50、及び3相出力用コネクタ60が取り付けられたケース20に対し、制御回路基板40の上方から当該制御回路基板40を覆うように取り付けられる。
次に、半導体モジュール30の製造方法について図10を参照して説明する。
半導体モジュール30の製造に際し、先ず、図10(a)に示すように、金属製の基板31の一方の主面上に絶縁層32を形成する(絶縁層形成工程)。次いで、絶縁層32上に複数の配線パターン33a〜33dを形成する(配線パターン形成工程)。
その後、図10(b)に示すように、複数の配線パターン33a〜33d上にそれぞれ半田ペースト(半田34a〜34d)を塗布する(半田ペースト塗布工程)。
そして、図10(c)に示すように、複数の配線パターン33a〜33dのうち一つの配線パターン33a上に塗布された半田ペースト(半田33a)上にベアチップFET35の一つを搭載するとともに(ベアチップFET搭載工程)、他の配線パターン33d上に塗布された半田ペースト(半田34d)上にその他の基板実装部品37を搭載する。その他のベアチップFET35についても、配線パターン33aと同一あるいは別個の配線パターン上に搭載する。
半導体モジュール30の製造に際し、先ず、図10(a)に示すように、金属製の基板31の一方の主面上に絶縁層32を形成する(絶縁層形成工程)。次いで、絶縁層32上に複数の配線パターン33a〜33dを形成する(配線パターン形成工程)。
その後、図10(b)に示すように、複数の配線パターン33a〜33d上にそれぞれ半田ペースト(半田34a〜34d)を塗布する(半田ペースト塗布工程)。
そして、図10(c)に示すように、複数の配線パターン33a〜33dのうち一つの配線パターン33a上に塗布された半田ペースト(半田33a)上にベアチップFET35の一つを搭載するとともに(ベアチップFET搭載工程)、他の配線パターン33d上に塗布された半田ペースト(半田34d)上にその他の基板実装部品37を搭載する。その他のベアチップFET35についても、配線パターン33aと同一あるいは別個の配線パターン上に搭載する。
次いで、図10(d)に示すように、ベアチップFET35の上面に形成されたソース電極S及びゲート電極D上に半田ペースト(半田34e,34f)を塗布する(半田ペースト塗布工程)。
その後、図10(e)に示すように、ベアチップFET35のソース電極S上に塗布された半田ペースト(半田34e)上及び複数の配線パターン33a〜33dのうちベアチップFET35が搭載された配線パターン33a以外の他の配線パターン33b上に塗布された半田ペースト(半田34b)上に、ソース電極用金属板コネクタ36aを搭載する(ソース電極用金属板コネクタ搭載工程)。
また、ベアチップFET35のゲート電極G上に塗布された半田ペースト(半田34f)上、及び複数の配線パターン33a〜33dのうちベアチップFET35が搭載された配線パターン33a及びソース電極用金属板コネクタ36aが搭載された配線パターン33b以外の更に他の配線パターン33c上に塗布された半田ペースト(半田34c)上に、ゲート電極用金属板コネクタ36bを搭載する(ゲート電極用金属板コネクタ搭載工程)。これにより、半導体モジュール中間組立体が構成される。
その後、図10(e)に示すように、ベアチップFET35のソース電極S上に塗布された半田ペースト(半田34e)上及び複数の配線パターン33a〜33dのうちベアチップFET35が搭載された配線パターン33a以外の他の配線パターン33b上に塗布された半田ペースト(半田34b)上に、ソース電極用金属板コネクタ36aを搭載する(ソース電極用金属板コネクタ搭載工程)。
また、ベアチップFET35のゲート電極G上に塗布された半田ペースト(半田34f)上、及び複数の配線パターン33a〜33dのうちベアチップFET35が搭載された配線パターン33a及びソース電極用金属板コネクタ36aが搭載された配線パターン33b以外の更に他の配線パターン33c上に塗布された半田ペースト(半田34c)上に、ゲート電極用金属板コネクタ36bを搭載する(ゲート電極用金属板コネクタ搭載工程)。これにより、半導体モジュール中間組立体が構成される。
そして、以上の工程により構成された半導体モジュール中間組立体をリフロー炉(図示せず)に入れて、複数の配線パターン33a〜33dのうち一つの配線パターン33aとベアチップFET35との半田34aを介しての接合、配線パターン33dとその他の基板実装部品37との半田34dを介しての接合、ベアチップFET35の上面に形成されたソース電極Sとソース電極用金属板コネクタ36aとの半田34eを介しての接合、複数の配線パターン33a〜33dのうち他の配線パターン33bとソース電極用金属板コネクタ36aとの半田34bを介しての接合、ベアチップFET35の上面に形成されたゲート電極Gとゲート電極用金属板コネクタ36bとの半田34fを介しての接合、及び複数の配線パターン33a〜33dのうち更に他の配線パターン33cとゲート電極用金属板コネクタ36bとの半田34cを介しての接合を一括して行う(接合工程)。
これにより、半導体モジュール30は完成する。
これにより、半導体モジュール30は完成する。
ここで、ベアチップFET35のソース電極Sと基板31上の配線パターン33bとの接合にソース電極用金属板コネクタ36aを用い、ベアチップFET35のゲート電極Gと基板31上の別の配線パターン33cとの接合にゲート電極用金属板コネクタ36bを用いることにより、これらの接合を半田実装作業により行える。すなわち、ベアチップFET35のソース電極Sと基板31上の配線パターン33bとの接合及びベアチップFET35のゲート電極Gと基板31上の別の配線パターン33cとの接合を、ベアチップFET35やその他の基板実装部品37を基板31上の配線パターン33a,33d上に実装する際に行われる半田実装作業と同一の設備、更には、同一の工程で同時に行うことができる。このため、半導体モジュール30の製造タクトを短くすることができるとともに、ワイヤボンディングの専用設備が不要になり、半導体モジュール30の製造コストを安価にすることができる。
ところで、半導体モジュール30の基板31にはアルミニウムが用いられており、ソース電極用金属板コネクタ36a及びゲート電極用金属板コネクタ36bには剛性と高電気導電率を兼ね備えた材料が用いられている。アルミニウムの線膨張係数は23.6×10−6/℃であり、一例として銅材の線膨張係数は16.8×10−6/℃である。すなわち、基板31の方が、ソース電極用金属板コネクタ36a及びゲート電極用金属板コネクタ36bよりも温度変化に対して変形しやすい。
そのため、リフロー工程や、電動パワーステアリング(EPS)作動中の発熱により高温となると、基板31と金属板コネクタ36a,36bとの膨張率の違いにより、金属板コネクタ36a,36bに応力がかかる。このとき、金属板コネクタ36a,36bがこの応力を緩和できない構造となっていると、ベアチップFET35との半田接合が剥がれてしまうおそれがある。
そのため、リフロー工程や、電動パワーステアリング(EPS)作動中の発熱により高温となると、基板31と金属板コネクタ36a,36bとの膨張率の違いにより、金属板コネクタ36a,36bに応力がかかる。このとき、金属板コネクタ36a,36bがこの応力を緩和できない構造となっていると、ベアチップFET35との半田接合が剥がれてしまうおそれがある。
これに対して、本実施形態では、金属板コネクタ36a及び36bをブリッジ形状とすることで、ブリッジ形状の各辺が伸び縮みするだけでなく各屈曲部が折れる方向にも変形できるので、板バネの効果が得られ、且つブリッジ形状骨格により上下左右方向(図7のZ軸方向,X軸方向)の変位が吸収可能となる。すなわち、熱膨張、熱収縮により基板31や金属板コネクタ36a,36bの変形が生じた場合であっても、金属板コネクタ36a,36bを曲がりやすくすることができる。
このように、金属板コネクタ36a及び36bは、リフロー工程で変形する場合や、EPS作動中の発熱で変形する場合に、適切に変位吸収することができるので、金属板コネクタ36a及び36bとベアチップFET35との半田接合の剥がれを防止することができ、電気的接続の信頼性を確保することができる。
このように、金属板コネクタ36a及び36bは、リフロー工程で変形する場合や、EPS作動中の発熱で変形する場合に、適切に変位吸収することができるので、金属板コネクタ36a及び36bとベアチップFET35との半田接合の剥がれを防止することができ、電気的接続の信頼性を確保することができる。
さらに、金属板コネクタ36a,36bをブリッジ形状とすることで、金属板コネクタ36a,36bの略中央部の平坦面(平板部36aa)に重心(C)を設けることができる。そのため、基板31への搭載に際し、金属板コネクタ36a,36bを搬送ツールにエアで吸着保持させる場合には、この平坦面を吸着面とすることができる。したがって、バランス良く金属板コネクタ36a,36bを吸着保持することができ、部品配置位置精度を向上させることができる。
より詳細に説明すると、正規の設置位置から位置ズレが生じた状態で金属板コネクタ36a,36bが設置され半田接合されると、電極や配線パターンとの接合面積が正規の接合面積よりも小さくなるので、高電流が流れた際に過熱、発火等の問題が発生するおそれがある。しかしながら、重心(C)を吸着保持しつつ金属板コネクタ36a,36bを移載すれば、優れた位置決め精度で金属板コネクタ36a,36bを設置することができ、位置ズレ(例えば、図7に示すX軸方向、Y軸方向、又はZ軸方向に移動した状態の位置ズレや、前記Z軸を中心にして回転した状態の位置ズレ)を起こすことなく正規の設置位置に金属板コネクタ36a,36bを設置することができる。よって、高電流が流れた際にも過熱、発火等の問題が発生しにくい。また、正規の設置位置に正確に設置することが可能であるため、この金属板コネクタ36a,36bは高密度実装に好適である。
また、金属板コネクタ36a,36bの平坦面(平板部36aa)に順送カット部36akを設けるので、カットがし易くなり、カット工程での部品の変形を抑制することができる。さらに、この順送カット部36akを、平板部36aaから外側に突出形成するので、平板部36aaの平坦面を変形することなくカットすることができる。
また、金属板コネクタ36a,36bに4つの屈曲部を設け、ブリッジ形状を兼ね備えた断面略ハット型の形状とするので、プレス成形による製造により一層適したものとすることができる。すなわち、プレス加工によるスプリングバックを防止し、部品精度を向上させることができる。さらに、4つの屈曲部の角度を鈍角とするので、プレス成形時における離型性を良くすることができ、製造コストの低減に寄与する。また、4つの屈曲部の角度が鈍角であると、金属板コネクタ36a,36bに対して応力が平板部36aa、平板部36baの幅方向内向きに作用することとなるので、金属板コネクタ36a,36bを安定した状態で設置することができる。
また、金属板コネクタ36a,36bに4つの屈曲部を設け、ブリッジ形状を兼ね備えた断面略ハット型の形状とするので、プレス成形による製造により一層適したものとすることができる。すなわち、プレス加工によるスプリングバックを防止し、部品精度を向上させることができる。さらに、4つの屈曲部の角度を鈍角とするので、プレス成形時における離型性を良くすることができ、製造コストの低減に寄与する。また、4つの屈曲部の角度が鈍角であると、金属板コネクタ36a,36bに対して応力が平板部36aa、平板部36baの幅方向内向きに作用することとなるので、金属板コネクタ36a,36bを安定した状態で設置することができる。
以上のように、金属板コネクタ36a,36bをブリッジ形状としたので、変位吸収性を向上させることができる。また、金属板コネクタ36a,36bをブリッジ形状としたので、組立時における冶具によるエア吸着面が平坦面でかつ重心となることで部品の基板への搭載時における安定性を確保出来るため位置ズレを防止し、電気的接触の信頼性を確保することができる。
また、金属板コネクタは、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Au)、銅合金、アルミニウム合金導体などの剛性と高電気導電率を兼ね備えた材料で、少なくとも基板と水平方向に弾性を有するように形成される。
また、金属板コネクタは、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Au)、銅合金、アルミニウム合金導体などの剛性と高電気導電率を兼ね備えた材料で、少なくとも基板と水平方向に弾性を有するように形成される。
以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されずに種々の変更、改良を行うことができる。
例えば、半導体モジュール30においてベアチップFET35を用いているが、ベアチップFET35に限らず、ベアチップIGBTなどの他のベアチップトランジスタを用いてもよい。そして、その他のベアチップトランジスタを用いる場合には、金属板コネクタにより、ベアチップトランジスタの上面に形成された電極上と複数の配線パターンのうちベアチップトランジスタが接合された配線パターン以外の他の配線パターン上とを半田を介して接合すればよい。これにより、ベアチップトランジスタの電極と基板上の配線パターンとの接合をベアチップトランジスタやその他の基板実装部品を基板上の配線パターン上に実装する際に行われる半田実装作業と同一の設備、更には、同一の工程で同時に行うことができる。
例えば、半導体モジュール30においてベアチップFET35を用いているが、ベアチップFET35に限らず、ベアチップIGBTなどの他のベアチップトランジスタを用いてもよい。そして、その他のベアチップトランジスタを用いる場合には、金属板コネクタにより、ベアチップトランジスタの上面に形成された電極上と複数の配線パターンのうちベアチップトランジスタが接合された配線パターン以外の他の配線パターン上とを半田を介して接合すればよい。これにより、ベアチップトランジスタの電極と基板上の配線パターンとの接合をベアチップトランジスタやその他の基板実装部品を基板上の配線パターン上に実装する際に行われる半田実装作業と同一の設備、更には、同一の工程で同時に行うことができる。
そして、ベアチップトランジスタとしてベアチップIGBTを用いる場合、ベアチップIGBT上に形成されたエミッタ電極及びゲート電極を、それぞれ、金属板コネクタを用いて基板上の配線パターンに半田を介して接合することが好ましい。
このように、ベアチップIGBTを用い、ベアチップIGBT上に形成されたエミッタ電極及びゲート電極を、それぞれ、金属板コネクタを用いて基板上の配線パターンに半田を介して接合する場合には、ベアチップIGBTのエミッタ電極と基板上の配線パターンとの接合及びベアチップIGBTのゲート電極と基板上の別の配線パターンとの接合を、ベアチップIGBTやその他の基板実装部品を基板上の配線パターン上に実装する際に行われる半田実装作業と同一の設備、更には、同一の工程で同時に行うことができる。
このように、ベアチップIGBTを用い、ベアチップIGBT上に形成されたエミッタ電極及びゲート電極を、それぞれ、金属板コネクタを用いて基板上の配線パターンに半田を介して接合する場合には、ベアチップIGBTのエミッタ電極と基板上の配線パターンとの接合及びベアチップIGBTのゲート電極と基板上の別の配線パターンとの接合を、ベアチップIGBTやその他の基板実装部品を基板上の配線パターン上に実装する際に行われる半田実装作業と同一の設備、更には、同一の工程で同時に行うことができる。
更に、半導体モジュール30において、ゲート電極用金属板コネクタは1種類であり、ソース電極用金属板コネクタは、ゲート電極用金属板コネクタに対して180°ストレート配置とする第1ソース電極用金属板コネクタ(図4のTr2及びTr4を参照)と、ゲート電極用金属板コネクタに対して90°直角配置とする第2ソース電極用金属板コネクタ(図4のTr1、Tr3、及びTr5を参照)との2種類であり、1つのベアチップFETにおいて、1種類のゲート電極用金属板コネクタと、2種類の第1ソース電極用金属板コネクタ及び第2ソース電極用金属板コネクタのうちから選択されたいずれか一方のソース電極用金属板コネクタとを組み合わせて使用するとよい。
なお、ゲート電極用金属板コネクタに対する第1ソース電極用金属板コネクタの配置(ゲート電極用金属板コネクタと第1ソース電極用金属板コネクタのなす角度)は、95〜265°とすることが好ましく、160〜200°とすることがより好ましく、175〜185°とすることがさらに好ましく、180°とすることが最も好ましい。
また、ゲート電極用金属板コネクタに対する第2ソース電極用金属板コネクタの配置(ゲート電極用金属板コネクタと第2ソース電極用金属板コネクタのなす角度)は、5〜175°とすることが好ましく、70〜120°とすることがより好ましく、85〜95°とすることがさらに好ましく、90°とすることが最も好ましい。
また、ゲート電極用金属板コネクタに対する第2ソース電極用金属板コネクタの配置(ゲート電極用金属板コネクタと第2ソース電極用金属板コネクタのなす角度)は、5〜175°とすることが好ましく、70〜120°とすることがより好ましく、85〜95°とすることがさらに好ましく、90°とすることが最も好ましい。
この半導体モジュールによれば、前述の半導体モジュール30と同様に、基板上に実装されるベアチップトランジスタの配置に自由度が生まれ、基板上の配線の設計の自由度が増大し、基板上における半導体モジュールのレイアウトをコンパクトにすることができる。さらに、基板上における3相モータの各相の径路の長さを同一にすることを容易に行うことができる。これにより、3相モータの各相特性、特に各相のインピーダンス特性を容易に一致させることができ、トルクや速度等のリップル精度を向上することが可能になる。
1…操向ハンドル、2…コラム軸、3…減速ギア、4A,4B…ユニバーサルジョイント、5…ピニオンラック機構、6…タイロッド、7…トルクセンサ、8…電動モータ、9…車速センサ、10…コントローラ、11…制御演算装置、12…ゲート駆動回路、13…モータ駆動部、14…非常停止用の遮断装置、15…電流検出回路、16…回転センサ、17…ロータ位置検出回路、18…IGN電圧モニタ部、19…電源回路部、20…ケース、21…半導体モジュール載置部、21a…ねじ孔、22…電力及び信号用コネクタ実装部、23…3相出力用コネクタ実装部、23a…ねじ孔、24…取付けポスト、24a…ねじ孔、30…半導体モジュール、31…基板、31a…貫通孔、32…絶縁層、33a〜33d…配線パターン、34a〜34d…半田、35…ベアチップFET(ベアチップトランジスタ)、36a…ソース電極用金属板コネクタ、36aa…平板部、36ab…接続部(第1の脚部)、36ac…接続部(第2の脚部)、36ad…第1屈曲部、36ae…第2屈曲部、36af…接合面、36ag…幅狭部、36ah…第3屈曲部、36ai…第4屈曲部、36aj…接合面、36ak…順送カット部、36b…ゲート電極用金属板コネクタ、36ba…平板部、36bb…接続部、36bc…接続部、37…基板実装部品、38…取付けねじ、39…放熱用シート、40…制御回路基板、40a…貫通孔、41…取付けねじ、50…電力及び信号用コネクタ、51…取付けねじ、60…3相出力用コネクタ、60a…貫通孔、61…取付けねじ、70…カバー、81…電源ライン、81a…正極端子、82…接地ライン、82a…負極端子、90…3相出力部、91a…a相出力ライン、91b…b相出力ライン、91c…c相出力ライン、G…ゲート電極(電極)、S…ソース電極(電極)、C…重心
Claims (4)
- 金属製の基板と、該基板の上に形成された絶縁層と、該絶縁層上に形成された複数の配線パターンと、該複数の配線パターンのうち一つの配線パターン上に半田を介して実装されるベアチップトランジスタと、該ベアチップトランジスタの上面に形成された電極上と前記複数の配線パターンのうち他の配線パターン上とを半田を介して接合する、金属板で構成される金属板コネクタとを備え、
前記金属板コネクタは、水平な平板部と、該平板部の幅方向一端から立ち下がるように折り曲げられ前記電極上に接合される第1の脚部と、前記平板部の幅方向他端から立ち下がるように折り曲げられ前記他の配線パターン上に接合される第2の脚部とを有してブリッジ形状をなし、前記金属板コネクタは、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Au)、銅合金及びアルミニウム合金導体のうちのいずれか1つの材料で、少なくとも水平方向に弾性を有するように形成され、
前記金属板コネクタの前記第1の脚部と前記第2の脚部との間を接続する前記平板部は、平面上に重心がありかつ平面であり、
前記平板部の厚さは前記金属板コネクタの他部の厚さよりも大きく、
前記ベアチップトランジスタが、上面にソース電極及びゲート電極を形成したベアチップFETであり、前記金属板コネクタが、ソース電極用金属板コネクタと、ゲート電極用金属板コネクタとを備え、前記ベアチップFETのソース電極上と前記複数の配線パターンのうち他の配線パターン上とを前記ソース電極用金属板コネクタで半田を介して接合し、前記ベアチップFETのゲート電極上と前記複数の配線パターンのうち更に他の配線パターン上とを前記ゲート電極用金属板コネクタで半田を介して接合するものであり、
前記ゲート電極用金属板コネクタは1種類であり、前記ソース電極用金属板コネクタは、前記ゲート電極用金属板コネクタに対して180°ストレート配置とする第1ソース電極用金属板コネクタと、前記ゲート電極用金属板コネクタに対して90°直角配置とする第2ソース電極用金属板コネクタとの2種類であり、1つのベアチップFETにおいて、前記1種類のゲート電極用金属板コネクタと前記2種類の第1ソース電極用金属板コネクタ及び第2ソース電極用金属板コネクタのうちから選択されたいずれか一方のソース電極用金属板コネクタとを組み合わせて使用することを特徴とする半導体モジュール。 - 電動パワーステアリング装置が備える3相ブラシレスモータを駆動するモータ駆動部に使用され、前記3相ブラシレスモータの各相の経路の長さが同一であることを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュール。
- 前記第1の脚部は、その一端が前記平板部の幅方向一端に第1屈曲部を介して接続されると共に、その他端には、前記電極上に半田を介して接合される接合面が、第2屈曲部を介して前記平板部の幅方向外向きに突出するように接続されており、
前記第2の脚部は、その一端が前記平板部の幅方向他端に第3屈曲部を介して接続されると共に、その他端には、前記配線パターン上に半田を介して接合される接合面が、第4屈曲部を介して前記平板部の幅方向外向きに突出するように接続される請求項1又は請求項2に記載の半導体モジュール。 - 前記第1屈曲部、前記第2屈曲部、前記第3屈曲部及び前記第4屈曲部の角度は、それぞれ鈍角であることを特徴とする請求項3に記載の半導体モジュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014526015A JP5741772B2 (ja) | 2012-11-05 | 2013-10-25 | 半導体モジュール |
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012243685 | 2012-11-05 | ||
JP2012243685 | 2012-11-05 | ||
JP2013145651 | 2013-07-11 | ||
JP2013145651 | 2013-07-11 | ||
PCT/JP2013/006341 WO2014068936A1 (ja) | 2012-11-05 | 2013-10-25 | 半導体モジュール |
JP2014526015A JP5741772B2 (ja) | 2012-11-05 | 2013-10-25 | 半導体モジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5741772B2 true JP5741772B2 (ja) | 2015-07-01 |
JPWO2014068936A1 JPWO2014068936A1 (ja) | 2016-09-08 |
Family
ID=50626885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014526015A Expired - Fee Related JP5741772B2 (ja) | 2012-11-05 | 2013-10-25 | 半導体モジュール |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9609775B2 (ja) |
EP (1) | EP2916349B1 (ja) |
JP (1) | JP5741772B2 (ja) |
CN (1) | CN103930981B (ja) |
WO (1) | WO2014068936A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102086792B1 (ko) * | 2013-09-02 | 2020-03-09 | 삼성전자주식회사 | 착탈 가능한 장치를 포함하는 전자 장치 |
US9633967B2 (en) * | 2013-10-21 | 2017-04-25 | Nsk Ltd. | Semiconductor module |
US10212838B2 (en) * | 2017-01-13 | 2019-02-19 | Cree Fayetteville, Inc. | High power multilayer module having low inductance and fast switching for paralleling power devices |
USD954667S1 (en) | 2017-01-13 | 2022-06-14 | Wolfspeed, Inc. | Power module |
US10600712B2 (en) * | 2017-02-20 | 2020-03-24 | Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. | Electronic device |
USD903590S1 (en) | 2018-09-12 | 2020-12-01 | Cree Fayetteville, Inc. | Power module |
JP7329919B2 (ja) * | 2018-12-07 | 2023-08-21 | 新電元工業株式会社 | 半導体装置、半導体装置の製造方法及びクリップリード |
CN111093342B (zh) * | 2019-12-31 | 2021-07-13 | 维沃移动通信有限公司 | 电子设备 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3604882A1 (de) * | 1986-02-15 | 1987-08-20 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul und verfahren zur herstellung des moduls |
US5637922A (en) * | 1994-02-07 | 1997-06-10 | General Electric Company | Wireless radio frequency power semiconductor devices using high density interconnect |
JP2000124398A (ja) | 1998-10-16 | 2000-04-28 | Mitsubishi Electric Corp | パワー半導体モジュール |
JP4471555B2 (ja) * | 2002-04-22 | 2010-06-02 | 三洋電機株式会社 | 半導体装置 |
US20040217488A1 (en) * | 2003-05-02 | 2004-11-04 | Luechinger Christoph B. | Ribbon bonding |
JP4075992B2 (ja) | 2003-05-07 | 2008-04-16 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体モジュールの製造方法、半導体モジュール、それを用いた一体型モータおよび一体型モータを備える自動車 |
JP2006253516A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Hitachi Ltd | パワー半導体装置 |
JP4764692B2 (ja) | 2005-09-29 | 2011-09-07 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 半導体モジュール |
US7755185B2 (en) * | 2006-09-29 | 2010-07-13 | Infineon Technologies Ag | Arrangement for cooling a power semiconductor module |
JP5076440B2 (ja) * | 2006-10-16 | 2012-11-21 | 富士電機株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
US8164176B2 (en) * | 2006-10-20 | 2012-04-24 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor module arrangement |
JP4720756B2 (ja) * | 2007-02-22 | 2011-07-13 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体電力変換装置およびその製造方法 |
JP2008294390A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-12-04 | Hitachi Ltd | モジュール構成 |
JP2009259981A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Toshiba Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
DE102009046858B3 (de) * | 2009-11-19 | 2011-05-05 | Infineon Technologies Ag | Leistungshalbleitermodul und Verfahren zum Betrieb eines Leistungshalbleitermoduls |
US8581376B2 (en) * | 2010-03-18 | 2013-11-12 | Alpha & Omega Semiconductor Incorporated | Stacked dual chip package and method of fabrication |
CN101859755B (zh) * | 2010-05-14 | 2012-01-04 | 上海凯虹科技电子有限公司 | 一种功率mosfet封装体及其封装方法 |
US8987878B2 (en) * | 2010-10-29 | 2015-03-24 | Alpha And Omega Semiconductor Incorporated | Substrateless power device packages |
JP2012069640A (ja) | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Toshiba Corp | 半導体装置及び電力用半導体装置 |
EP2503595A1 (en) * | 2011-02-18 | 2012-09-26 | ABB Research Ltd. | Power semiconductor module and method of manufacturing a power semiconductor module |
JP6043049B2 (ja) * | 2011-03-30 | 2016-12-14 | 株式会社東芝 | 半導体装置の実装構造及び半導体装置の実装方法 |
JP5733401B2 (ja) * | 2011-08-10 | 2015-06-10 | 富士電機株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
-
2013
- 2013-10-25 US US14/435,682 patent/US9609775B2/en active Active
- 2013-10-25 WO PCT/JP2013/006341 patent/WO2014068936A1/ja active Application Filing
- 2013-10-25 JP JP2014526015A patent/JP5741772B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-10-25 EP EP13851225.6A patent/EP2916349B1/en active Active
- 2013-10-25 CN CN201380003694.8A patent/CN103930981B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2916349A1 (en) | 2015-09-09 |
CN103930981A (zh) | 2014-07-16 |
US20150342074A1 (en) | 2015-11-26 |
US9609775B2 (en) | 2017-03-28 |
CN103930981B (zh) | 2016-07-13 |
EP2916349A4 (en) | 2016-08-31 |
EP2916349B1 (en) | 2021-03-03 |
JPWO2014068936A1 (ja) | 2016-09-08 |
WO2014068936A1 (ja) | 2014-05-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5741772B2 (ja) | 半導体モジュール | |
JP5807721B2 (ja) | 半導体モジュール | |
JP6083461B2 (ja) | 半導体モジュール | |
JP5892250B2 (ja) | 半導体モジュール | |
JP5874869B2 (ja) | 半導体モジュール | |
JP5943098B2 (ja) | 多極コネクタ | |
JP6281650B2 (ja) | 多極リード部品及び基板の接続装置 | |
JP6137421B2 (ja) | パワー半導体モジュール及びこれを用いた電動パワーステアリング装置 | |
JP2015080383A (ja) | 半導体モジュール | |
JP2018098008A (ja) | 電動パワーステアリング装置用電子制御ユニット | |
JP2015069990A (ja) | 半導体モジュール |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150331 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150413 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5741772 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |