JP5722115B2 - 走査型顕微鏡装置 - Google Patents
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Description
本発明は、光源から発せられた照明光を標本上で走査させる走査部と、該走査部により前記標本上で走査される前記照明光を反射する光学素子が取り付けられる複数の取付位置を有し、該取付位置に取り付けられた複数の前記光学素子を前記照明光の光路上に選択的に配置可能な素子切替部と、前記走査部により前記照明光が走査された前記標本の走査位置から戻る戻り光を検出する検出部と、前記素子切替部のいずれかの前記取付位置に対応する前記走査部による走査位置を基準走査位置として、他の前記取付位置に対応する前記走査部による走査位置の前記基準走査位置からの、これら取付位置自体の誤差に起因し前記光学素子自体の誤差に起因しないずれを補正する各前記取付位置に固有の補正量を示す補正情報を前記取付位置ごとに対応づけて記憶する記憶部と、新たな光学素子を前記取付位置に取り付けて前記光路上に配置した場合に、該新たな光学素子が取り付けられた前記取付位置に対応づけられて前記記憶部に記憶されている該取付位置に固有の前記補正情報に基づいて、前記走査部による走査位置が前記基準走査位置に一致するように該走査部を制御する走査制御部とを備える走査型顕微鏡装置を提供する。
このように構成することで、回転ターレットを回転させるだけで、光路上に配置する光学素子を切り替えることができる。
このように構成することで、スライド機構を一方向にスライドさせるだけで、光路上に配置する光学素子を切り替えることができる。
このように構成することで、予め素子切替部の各取付位置に同一の光学素子を取り付けて得られた画像情報どうしを比較するだけで、取付位置ごとの補正情報を得ることができる。
このように構成することで、走査型顕微鏡装置を用いて実際に画像情報を取得することなく、取付位置ごとの角度データを用いて補正情報を得ることができる。
本発明の第1実施形態に係る走査型顕微鏡装置について、図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係る走査型顕微鏡装置100は、図1に示すように、レーザユニット10と、レーザ走査型顕微鏡20と、記憶部65と、制御部67(走査制御部)とを備えている。
走査部33は、走査部23と同様に、2枚のガルバノミラー34a,34bにより構成されている。
最初に、標本Sの観察および光刺激の前提として、切替機構27の取付位置28a〜28hごとの走査部23による走査位置の補正情報を記憶部65に記憶させる手順について説明する。
まず、対物レンズ47によりステージ49上に照射されるレーザ光の照射位置に、画像の中心が分かる基準サンプル(図示略)を載置し、切替機構27の全ての取付位置28a〜28hに同一の基準ミラー(図示略)をそれぞれ取り付ける。
まず、所定の蛍光色素を標識した標本Sをステージ49上に載置し、標本Sの上方に対物レンズ47を配置する。そして、切替機構27の取付位置28aに取り付けられている励起DM26を光路上に配置し、光源11から観察用のレーザ光を発生させる。
これにより、刺激光学系31により標本Sに光刺激を与え、観察光学系21により標本Sを観察することができる。
次に、本発明の第2実施形態に係る走査型顕微鏡装置について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る走査型顕微鏡装置200は、図4に示すように、2つ目の切替機構127および計算部(合成部)169等を備える点で、第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係る光走査型内視鏡装置100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
制御部67は、計算部169により合成された補正情報に基づいて走査部23を制御するようになっている。
まず、標本Sの観察および光刺激の前提として、切替装置27の取付位置28a〜28hごとの走査部23の補正情報と、切替機構127の取付位置128a〜128hごとの走査部23の補正情報を記憶部65に記憶させる手順について説明する。
走査部23による走査位置のずれは、素子切替部の光学素子により反射されるレーザ光の角度ずれにより決まる。そこで、上記各実施形態においては走査部23の補正情報を画像情報により求めることとしたが、第1変形例としては、切替機構27の取付位置28a〜28hに同一の基準ミラー(図示略)を取り付けたときのレーザ光の反射角度を示す角度データを予め求めておき、基準とする取付位置28aのレーザ光の反射角度に対する他の取付位置28b〜28hのレーザ光の反射角度の差分を補正量に換算して得られた値を補正情報としてもよい。このようにすることで、走査型顕微鏡装置100,200を用いて実際に画像情報を取得することなく、切替機構12の取付位置28a〜28hごとの補正情報を得ることができる。切替機構127についても同様である。
23 走査部
26 励起DM:励起ダイクロイックミラー(光学素子)
27 切替機構(素子切替部)
28a〜28h 取付位置
55 補正機構(調整部)
59 合成DM:合成ダイクロイックミラー(光学素子)
63A,63B 光検出器(検出部)
65 記憶部
67 制御部(走査制御部)
100 走査型顕微鏡装置
127 切替機構(素子切替部)
128a〜128h 取付位置
149 撮像部(検出部)
169 計算部(合成部)
S 標本
Claims (7)
- 光源から発せられた照明光を標本上で走査させる走査部と、
該走査部により前記標本上で走査される前記照明光を反射する光学素子が取り付けられる複数の取付位置を有し、該取付位置に取り付けられた複数の前記光学素子を前記照明光の光路上に選択的に配置可能な素子切替部と、
前記走査部により前記照明光が走査された前記標本の走査位置から戻る戻り光を検出する検出部と、
前記素子切替部のいずれかの前記取付位置に対応する前記走査部による走査位置を基準走査位置として、他の前記取付位置に対応する前記走査部による走査位置の前記基準走査位置からのずれを補正する、各前記取付位置自体の誤差に依存し各前記光学素子自体の誤差に依存しない補正量を示す各前記取付位置に固有の補正情報を前記取付位置ごとに対応づけて記憶する記憶部と、
新たな光学素子を前記取付位置に取り付けて前記光路上に配置した場合に、該新たな光学素子が取り付けられた前記取付位置に対応づけられて前記記憶部に記憶されている該取付位置に固有の前記補正情報に基づいて、前記走査部による走査位置が前記基準走査位置に一致するように該走査部を制御する走査制御部とを備える走査型顕微鏡装置。 - 前記素子切替部が複数設けられ、
新たな光学素子を少なくとも1つの前記素子切替部の前記取付位置に取り付けて前記光路上に配置した場合に、各前記素子切替部の前記光路上に配置されている前記取付位置に対応づけられて前記記憶部に記憶されている補正情報を合成する合成部を備え、
前記走査制御部が、前記合成部により合成された補正情報に基づいて前記走査部を制御する請求項1に記載の走査型顕微鏡装置。 - 前記素子切替部が、前記複数の取付位置を同心円状に配置した回転ターレットである請求項1または請求項2に記載の走査型顕微鏡装置。
- 前記素子切替部が、前記複数の取付位置を直線状に配置したスライド機構である請求項1または請求項2に記載の走査型顕微鏡装置。
- 前記補正情報が、前記基準走査位置の画像情報に対する前記他の取付位置に対応する前記走査部の走査位置の画像情報のずれ量を前記補正量に換算して得られた値である請求項1から請求項4のいずれかに記載の走査型顕微鏡装置。
- 前記補正情報が、前記いずれかの取付位置に取り付けた前記光学素子により反射される照明光の角度を示す角度データに対する、前記他の取付位置に取り付けた同一の前記光学素子により反射される照明光の角度を示す角度データの差分を前記補正量に換算して得られた値である請求項1から請求項4のいずれかに記載の走査型顕微鏡装置。
- 前記光学素子が、前記光源から発せられた照明光を反射し前記標本から戻る戻り光を透過するダイクロイックミラーであり、
該ダイクロイックミラーを透過した前記戻り光を通過させるピンホールと、
前記補正情報に基づいて、前記戻り光の光軸と前記ピンホールとが略一致するように、該戻り光の光軸とピンホールとの相対位置を調整する調整部とを備える請求項1から請求項6のいずれかに記載の走査型顕微鏡装置。
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