JP5714410B2 - 自動分析装置及び方法 - Google Patents
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Description
(1)試料又は試薬を所定量分注する分注プローブ
(2)分注プローブを水平方向に2次元的に移動させる2つ以上の駆動軸を有する分注駆動機構(ただし、駆動軸の少なくとも1つは回転駆動軸)
(3)分注プローブの吸引位置、吐出位置、洗浄位置の少なくともいずれかの位置に設置可能な又は配置される位置決め部材(位置合わせの際に前記分注プローブが接触する部分が、位置決め位置を中心とする円形状)
(5)分注プローブ駆動機構の2つ以上の駆動軸の1つのみを駆動制御して、位置決め部材の円形状の部分に接触させ、次に、先に駆動制御した駆動軸以外の1つの駆動軸のみを駆動制御して、位置決め部材の円形状の部分に接触させ、接触が検出された各点の位置情報、又は、接触が検出された各点の位置情報及び分注プローブを移動させた際の軌跡情報に基づいて、分注プローブの吸引位置、吐出位置及び洗浄位置の少なくともいずれかの中心点の位置情報を算出する制御部
上記した以外の課題、構成及び効果は以下の実施形態の説明により明らかにされる。
本実施例では、分注駆動機構が2つの回転駆動軸を備える場合に、複数の接触点の検出により分注プローブの位置決めを行う例を説明する。
形態例1の場合には、分注プローブ124の水平移動を2つの回転駆動軸の組み合わせにより実現しているが、本形態例の場合には、分注プローブ124の水平移動を1つの直線駆動軸と1つの回転駆動軸の組み合わせにより実現する場合について説明する。
本形態例の場合には、接触点だけでなく分注プローブ124の移動軌跡も考慮して位置決めを実行する例について説明する。なお、自動分析装置の装置構成は、形態例1の場合と同様であるものとする。すなわち、分注プローブ124の水平移動を2つの回転駆動軸の組み合わせにより実現するものとする。もっとも、本形態例において説明する処理方法は、形態例2に係る自動分析装置にも適用することができる。
本形態例の場合には、複数の停止位置に対して分注プローブ124を位置決めする場合の処理について説明する。ここでは、図11A〜図11Eを用いて、当該処理を説明する。同図は、試薬ディスク103上に、9個の吸引位置Ta1〜Tc3を設ける場合を示している。一般に、試薬ディスク103のように一体構造物上に設けられる吸引位置Ta1〜Tc3の相対位置誤差は小さく、試薬ディスク103と試薬分注機構107のように異なる機構間の位置関係には誤差が多く含まれる場合が多い。
前述の形態例においては、位置決め部材129のうち分注プローブ124と接触する部分の形状が円筒構造130である場合について説明した。しかし、前述の形態例で説明した処理手法の適用に必要な条件は、内側面がXY面内において円形状であることである。従って、外側面の形状は必ずしも円である必要はない。すなわち、円筒構造130である必要はない。
Claims (6)
- 試料又は試薬を所定量分注する分注プローブと、
前記分注プローブを水平方向に2次元的に移動させる2つ以上の駆動軸を有し、かつ、当該駆動軸の少なくとも1つは回転駆動軸である分注プローブ駆動機構と、
前記分注プローブの吸引位置、吐出位置及び洗浄位置の少なくともいずれかの位置に設置可能な又は配置される位置決め部材であって、位置合わせの際に前記分注プローブが接触する部分が円形状に形成された位置決め部材と、
前記分注プローブが、前記位置決め部材に接触したことを検出する接触検出機構と、
前記分注プローブ駆動機構の2つ以上の駆動軸の1つのみを駆動制御して、前記位置決め部材の円形状の部分に接触させ、次に、前記駆動制御した駆動軸以外の1つの駆動軸のみを駆動制御して、前記位置決め部材の円形状の部分に接触させ、前記接触が検出された各点の位置情報、又は、前記接触が検出された各点の位置情報及び前記分注プローブを移動させた際の軌跡情報に基づいて、前記分注プローブの吸引位置、吐出位置及び洗浄位置の少なくともいずれかの中心点の位置情報を算出する制御部と
を備え、前記駆動制御する軸の少なくとも1つは前記回転駆動軸であることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
前記位置決め部材は、前記分注プローブの吸引位置、吐出位置及び洗浄位置の少なくともいずれかの位置に着脱可能な形状部分を有する
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1又は2に記載の自動分析装置において、
前記接触検出機構は、静電容量検出機構又は電気導通検出機構である
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1、2又は3に記載の自動分析装置において、
n箇所(n≧3)の停止位置における相互の相対位置誤差が無視できる程小さい場合、前記制御部は、前記停止位置のうち2点に対する中心点の位置情報を算出し、他のn−2点に対する中心点の位置情報を算術演算により求める
ことを特徴とする自動分析装置。 - 試料又は試薬を所定量分注する分注プローブと、
前記分注プローブを水平方向に2次元的に移動させる2つ以上の駆動軸を有し、かつ、当該駆動軸の少なくとも1つは回転駆動軸である分注プローブ駆動機構と、
前記分注プローブの吸引位置、吐出位置及び洗浄位置の少なくともいずれかの位置に設置可能な又は配置される位置決め部材であって、位置合わせの際に前記分注プローブが接触する部分が円形状に形成された位置決め部材と、
前記分注プローブが、前記位置決め部材に接触したことを検出する接触検出機構と、
前記分注プローブ駆動機構及び前記接触検出機構を制御する制御部とを有する自動分析装置において実行される自動分析方法において、
前記制御部が、
前記分注プローブ駆動機構の2つ以上の駆動軸の1つのみを駆動制御して、前記位置決め部材の円形状の部分に接触させる第1の処理と、
前記第1の処理の後、前記駆動制御した駆動軸以外の1つの駆動軸のみを駆動制御して、前記位置決め部材の円形状の部分に接触させる第2の処理と、
前記接触が検出された各点の位置情報、又は、前記接触が検出された各点の位置情報及び前記分注プローブを移動させた際の軌跡情報に基づいて、前記分注プローブの吸引位置、吐出位置及び洗浄位置の少なくともいずれかの中心点の位置情報を算出する第3の処理と
を実行し、前記駆動制御する軸の少なくとも1つは前記回転駆動軸であることを特徴とする自動分析方法。 - 請求項5に記載の自動分析方法において、
n箇所(n≧3)の停止位置における相互の相対位置誤差が無視できる程小さい場合、
前記制御部が、
前記停止位置のうち2点に対する中心点の位置情報を算出し、他のn−2点に対する中心点の位置情報を算術演算により求める
ことを特徴とする自動分析方法。
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