JP5692475B2 - 欠陥位置補正方法 - Google Patents
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Description
本発明は、欠陥位置補正方法に関する。
本願は、2013年1月22日に、日本に出願された特願2013−009360号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
本願は、2013年1月22日に、日本に出願された特願2013−009360号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
近時では、鉄鋼材料等の内部欠陥(介在物、内部割れ、水素系欠陥等)を、超音波を用いることにより、非接触で検知する電磁超音波探触子が公知である。例えば、特許文献1には、永久磁石と、探傷パルスの形成及び反射パルスの受信に適合したインダクタンスコイルとを備える電磁超音波探触子(EMAT)が記載されている。また、特許文献2には、被検材にバイアス磁場を与えるための磁化器と、超音波を被検材に送信し、被検材で反射した超音波を受信するための複数のセンサコイルとを備えるアレイ型電磁超音波探触子(EMAT)が記載されている。
このような電磁超音波探触子(EMAT)を用いて、鉄鋼材料等の内部欠陥を検査する場合、電磁超音波探触子を検査対象物の搬送方向に沿って複数の列となるように配置する。このとき、各列の間には、所定の間隔(例えば、0.5〜1.5m)が存在する。各列で検出した内部欠陥の、搬送方向における位置は、搬送方向における検査対象物の長さを測長するメジャーリングロールの値とリンクさせて決定される。このため、各列で検出した内部欠陥の、搬送方向の位置は、測定誤差、データ転送の遅延、および搬送速度の変化等の要因により必ずしも一致しない場合がある。このような場合、検査対象物に1つの重欠陥が生じていても、検査の結果、複数の軽欠陥であると認識されてしまうため、内部欠陥の検査(評価)を正しく行うことができないといった問題がある。
上記の原因により、電磁超音波探触子の各列で検出された内部欠陥の、搬送方向における位置がずれている場合、この位置ずれを補正する必要がある。そこで、例えば、人工欠陥を加工して設けた人工欠陥プレートを探傷し、この人工欠陥プレートの人工欠陥と、電磁超音波探触子により検出した人工欠陥との比較により、この位置ずれを補正する方法が考えられる。
しかしながら、この人工欠陥プレートを用いる方法では、人工欠陥プレートを製作するためのコストが必要であること、人工欠陥プレートを置くスペースが必要であること、といった課題がある。さらに、この方法では、人工欠陥プレートを検査ライン上に載置する作業が必要になる。そして、この作業は数時間要するため、その間検査ラインを停止する必要があるといった課題がある。
しかしながら、この人工欠陥プレートを用いる方法では、人工欠陥プレートを製作するためのコストが必要であること、人工欠陥プレートを置くスペースが必要であること、といった課題がある。さらに、この方法では、人工欠陥プレートを検査ライン上に載置する作業が必要になる。そして、この作業は数時間要するため、その間検査ラインを停止する必要があるといった課題がある。
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、電磁超音波探触子により検出される内部欠陥の位置情報の精度を高め、検査の信頼性を向上させることが可能な欠陥位置補正方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。
(1)本発明の第1の態様に係る欠陥位置補正方法は、複数の電磁超音波探触子によって検査対象物の表面に超音波振動を発生させる際に、前記検査対象物の搬送方向と直交する方向に沿って前記複数の電磁超音波探触子を配列させ、かつ、この電磁超音波探触子の列が前記搬送方向に沿って複数の列を成すように配置させた状態とし、前記検査対象物には、前記搬送方向と直交する方向に配列された前記複数の電磁超音波探触子同士の間を跨ぐように前記導体テープを貼り付けておき、前記電磁超音波探触子に高周波信号を与えて前記検査対象物の表面に超音波振動を発生させる工程と;各列の前記電磁超音波探触子で、前記超音波振動のFエコー及びBエコーを検出する工程と;前記Fエコー及び前記Bエコーの検出値に基づいて、前記導体テープによる疑似欠陥を検出する工程と;前記電磁超音波探触子の各列ごとに前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報を取得する工程と;前記電磁超音波探触子の各列ごとに得られた前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報に基づいて、隣り合う列について前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報の差分を取得する工程と;前記差分に基づいて、各列の前記電磁超音波探触子によって検出される内部欠陥の前記搬送方向の位置情報を補正する工程と;を有する。
(1)本発明の第1の態様に係る欠陥位置補正方法は、複数の電磁超音波探触子によって検査対象物の表面に超音波振動を発生させる際に、前記検査対象物の搬送方向と直交する方向に沿って前記複数の電磁超音波探触子を配列させ、かつ、この電磁超音波探触子の列が前記搬送方向に沿って複数の列を成すように配置させた状態とし、前記検査対象物には、前記搬送方向と直交する方向に配列された前記複数の電磁超音波探触子同士の間を跨ぐように前記導体テープを貼り付けておき、前記電磁超音波探触子に高周波信号を与えて前記検査対象物の表面に超音波振動を発生させる工程と;各列の前記電磁超音波探触子で、前記超音波振動のFエコー及びBエコーを検出する工程と;前記Fエコー及び前記Bエコーの検出値に基づいて、前記導体テープによる疑似欠陥を検出する工程と;前記電磁超音波探触子の各列ごとに前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報を取得する工程と;前記電磁超音波探触子の各列ごとに得られた前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報に基づいて、隣り合う列について前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報の差分を取得する工程と;前記差分に基づいて、各列の前記電磁超音波探触子によって検出される内部欠陥の前記搬送方向の位置情報を補正する工程と;を有する。
(2)上記(1)の態様において、前記導体テープが各列の前記電磁超音波探触子を通過する時に前記検査対象物の搬送速度を変化させる工程をさらに有してもよい。
(3)上記(1)または(2)の態様において、前記導体テープの導電率は、前記検査対象物の導電率よりも大きくてもよい。
(4)上記(1)または(2)の態様において、前記導体テープの材質はアルミニウム又は銅であっても良く、前記検査対象物は鉄であっても良い。
(5)上記(1)〜(4)のいずれか一つの態様において、前記導体テープが、前記検査対象物の幅方向に対して0°から60°の範囲で前記検査対象物に貼り付けられていても良い。
上記各態様によれば、電磁超音波探触子により検出される内部欠陥の位置情報の精度を高めることができ、その結果、内部欠陥の検査(評価)の信頼性を向上させることができる。
以下、図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
(電磁超音波探傷装置の構成例)
まず、図1及び図2を参照して、本発明の一実施形態に係る電磁超音波探傷装置(欠陥検査装置)100の構成について説明する。図1は、電磁超音波探傷装置100の構成を示す模式図である。図1に示すように、電磁超音波探傷装置100は、電磁超音波探触子102、アンプ104(図1において不図示)、メジャーリングロール106、先端検出センサー108、信号処理装置110、表示装置120および警報装置130を備えている。
まず、図1及び図2を参照して、本発明の一実施形態に係る電磁超音波探傷装置(欠陥検査装置)100の構成について説明する。図1は、電磁超音波探傷装置100の構成を示す模式図である。図1に示すように、電磁超音波探傷装置100は、電磁超音波探触子102、アンプ104(図1において不図示)、メジャーリングロール106、先端検出センサー108、信号処理装置110、表示装置120および警報装置130を備えている。
検査対象物である鋼板200は、通板テーブル(不図示)上に載置されて、通板テーブルのローラの駆動によって図1のX方向に搬送(通板)される。鋼板200の上部には、幅方向Y(搬送方向Xと直交する方向:図1参照)に沿って複数の電磁超音波探触子102が配置され、電磁超音波探触子102は鋼板200の内部欠陥202を検出する。また、図1に示すように、電磁超音波探触子102は、鋼板200の搬送方向Xに2列に配置されており、搬送方向Xにおける前側(下流側)の列(前列)と、搬送方向Xにおける後側(上流側)の列(後列)とにそれぞれ8個の電磁超音波探触子102が配置されている。前列および後列の8個の電磁超音波探触子102は、鋼板200の幅方向Yにおける位置がそれぞれ異なるように配置されており、前列において隣り合う電磁超音波探触子102の中間に、後列の電磁超音波探触子102が位置している。このように、前列の電磁超音波探触子102と、後列の電磁超音波探触子102とが、千鳥配列となるように配置されることで、前列の電磁超音波探触子102の間に位置し、前列の電磁超音波探触子102が検出できない内部欠陥202を、後列の電磁超音波探触子102で確実に検出することができる。
以下では、搬送方向Xの上流側に配置された電磁超音波探触子102の列を第1探触子列BTS1と呼称し、また、搬送方向Xの下流側に配置された電磁超音波探触子102の列を第2探触子列BTS2と呼称する(図1参照)。
以下では、搬送方向Xの上流側に配置された電磁超音波探触子102の列を第1探触子列BTS1と呼称し、また、搬送方向Xの下流側に配置された電磁超音波探触子102の列を第2探触子列BTS2と呼称する(図1参照)。
図2は、図1のY方向から見た電磁超音波探傷装置100の構成を示す模式図である。図2に示すように、電磁超音波探触子102は、鋼板200の上部に近接して配置される。また、電磁超音波探触子102の底面から鋼板200に向けて空気を供給しており、この空気によって電磁超音波探触子102の底面と鋼板200の表面200aとの間のギャップ(距離)が0.5mm程度となるように調整されている。アンプ104は、電磁超音波探触子102の上部に配置され、電磁超音波探触子102の検出信号を増幅する。なお、図1においてはアンプ104の図示を省略している。
上述したように、電磁超音波探触子102は、鋼板の搬送方向Xに2列で配置され、鋼板の幅方向Yにおける位置がそれぞれ異なるように配置される(図1参照)。図26は、図1のY方向から見た電磁超音波探傷装置100の側面図であり、第1探触子列BTS1の電磁超音波探触子102と、第2探触子列BTS2の電磁超音波探触子102とをそれぞれ1つ示している。図26に示すように、電磁超音波探触子102には、アーム109が接続されている。第1探触子列BTS1の電磁超音波探触子102と、第2探触子列BTS2の電磁超音波探触子102との間には、間隔dが存在する。ここで、間隔dは、例えば、0.5〜1.5mとする必要があるが、その理由を以下に述べる。
鋼板200を探傷する場合、上述のように、電磁超音波探触子102を鋼板200の表面200aから0.5mm程度離した位置に配置する。このとき、電磁超音波探触子102は永久磁石102aを備えているため(図19参照)、電磁超音波探触子102には鋼板200の表面200aに近づこうとする力が働く。この力により、電磁超音波探触子102は鋼板200の表面200aと干渉することがある。この干渉による電磁超音波探触子102への負荷を軽減するため、アーム109を中心軸107回りに回転させることにより、電磁超音波探触子102を鋼板200の表面200aの上部に配置させている。このため、第1探触子列BTS1の電磁超音波探触子102と、第2探触子列BTS2の電磁超音波探触子102とが、搬送方向Xで干渉することを避けるため、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間には間隔dが必要となる。間隔dは、アーム109の長さ等により設定されるが、例えば0.5〜1.5mが望ましい。
鋼板200を探傷する場合、上述のように、電磁超音波探触子102を鋼板200の表面200aから0.5mm程度離した位置に配置する。このとき、電磁超音波探触子102は永久磁石102aを備えているため(図19参照)、電磁超音波探触子102には鋼板200の表面200aに近づこうとする力が働く。この力により、電磁超音波探触子102は鋼板200の表面200aと干渉することがある。この干渉による電磁超音波探触子102への負荷を軽減するため、アーム109を中心軸107回りに回転させることにより、電磁超音波探触子102を鋼板200の表面200aの上部に配置させている。このため、第1探触子列BTS1の電磁超音波探触子102と、第2探触子列BTS2の電磁超音波探触子102とが、搬送方向Xで干渉することを避けるため、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間には間隔dが必要となる。間隔dは、アーム109の長さ等により設定されるが、例えば0.5〜1.5mが望ましい。
電磁超音波探触子102は、鋼板200の表面200a(第1の面)に超音波振動を発生させ、鋼板200の底面200b(第2の面)で反射した超音波(反射波)が静磁場下で振動することにより発生した渦電流をコイルで検知する。これにより、底面200bで反射した超音波振動のエコーレベル(Bエコー)が検出される。また、図1に示す内部欠陥202が鋼板200に生じている場合は、内部欠陥202において超音波振動が反射し、この内部欠陥202で反射した超音波振動のエコーレベル(Fエコー)が電磁超音波探触子102によって検出される。このように、内部欠陥202が生じている場合は、内部欠陥202が生じていない場合と比べて、超音波振動のエコーレベルが変化するため、Bエコーに対するFエコーの比(F/B比)から内部欠陥202のレベルを評価することができる。なお、上記のF/B比において、BはBエコーの値(信号強度)を意味し、FはFエコーの値(信号強度)を意味する。
信号処理装置110は、Bエコーに対するFエコーの比(F/B比)に基づいて内部欠陥202を評価(等級分類)する。表示装置120は、内部欠陥202の評価結果として、内部欠陥202のレベル、および内部欠陥202の位置を表示する。また、警報装置130は、内部欠陥202のレベルが基準レベルを超えた場合に警報を発する。基準レベルを超える内部欠陥202が検出された鋼板200は、通常の搬送経路を離れて、更なる詳細な検査が行われる。なお、信号処理装置110の構成については、後述する。
図3Aは、鋼板200の長手方向(搬送方向X)における探傷位置と、電磁超音波探触子102によって得られたFエコーおよびBエコーの信号強度を示す特性図である。また、図3Bは、鋼板200の長手方向(搬送方向X)における探傷位置と、F/B比の信号強度とを示す特性図である。図3Aに示すように、鋼板200に内部欠陥202が発生していると、内部欠陥202の大きさに応じてFエコーの値が上昇し、Bエコーの値が低下する。従って、図3Bに示すように、内部欠陥202が発生している探傷位置では、内部欠陥202が発生していない探傷位置に比べて、F/B比の値が増加する。そして、内部欠陥202が大きい程、Fエコーの上昇量およびBエコーの低下量が大きくなるため、F/B比の値が大きくなる。従って、F/B比の値に基づいて、内部欠陥202が発生しているか否かを検知することができ、更に、内部欠陥202の大きさおよび位置を評価することができる。また、電磁超音波探触子102と鋼板200の表面200aとのギャップが変化すると、Bエコー及びFエコーの値は変化するが、F/B比を計算することによってギャップの変化によるBエコー及びFエコーの変化量をキャンセルすることができる。更に、F/B比の値に基づいて内部欠陥202を評価することで、FエコーおよびBエコーにノイズが含まれていた場合であっても、ノイズ分をキャンセルすることができるため、内部欠陥202を高精度に評価することができる。
鋼板200の幅方向Yに配置された複数の電磁超音波探触子102からの検出信号は、鋼板200の先端からの位置を計測するメジャーリングロール106からの位置信号とともに信号処理装置110に伝送される。先端検出センサー108は、鋼板200の先端位置を検出し、その先端位置はメジャーリングロール106が鋼板200の位置を検出する際の基準となる。信号処理装置110は、電磁超音波探触子102からの検出信号と、メジャーリングロール106からの位置信号とを同期させ、図4に示すような、鋼板200に発生している内部欠陥202の位置を表示する欠陥マップを作成する。
1つの電磁超音波探触子102の鋼板幅方向Yにおける長さ(幅)は、100mm程度であり、鋼板幅方向Yに隣り合う電磁超音波探触子102の間の距離をゼロにすることはできない。したがって、未検出領域を無くすために、上述のように電磁超音波探触子102は鋼板搬送方向Xに2列で配置され、鋼板200の幅方向Yにおける電磁超音波探触子102の位置が2列で互いに異なるように配置されている(いわゆる千鳥配列)。電磁超音波探触子102は鋼板搬送方向Xに2列で配置されることが望ましいが、3列以上で配置されてもよい。
信号処理装置110は、このように配置された複数の電磁超音波探触子102からの検出信号と、通板テーブル上を移動する鋼板200の位置信号とを同期させることで、正確な欠陥位置を認識し、図4に示すような欠陥マップを作成する。これにより、鋼板200の内部欠陥202が発生している位置と、この内部欠陥202の大きさとを瞬時に把握することができる。
以下では、信号処理装置110の基本的な動作(欠陥マップの作成動作)について詳細に説明する。
図5に示すように、信号処理装置110は、リモートI/O111と、制御装置112と、同期信号発生装置113と、超音波発生器114と、A/D変換制御装置115と、演算装置116とを備えている。図5では図示を省略しているが、警報装置130及び表示装置140は、演算装置116に接続されている。
図5に示すように、信号処理装置110は、リモートI/O111と、制御装置112と、同期信号発生装置113と、超音波発生器114と、A/D変換制御装置115と、演算装置116とを備えている。図5では図示を省略しているが、警報装置130及び表示装置140は、演算装置116に接続されている。
リモートI/O111は、メジャーリングロール106(詳細には、メジャーリングロール106に取付けられたロータリーエンコーダ)から出力される位置信号と、先端検出センサー108から出力される先端検出信号とを、遠隔位置に配置された制御装置112へ伝送するためのインターフェイスである。
ここで、先端検出センサー108から出力される先端検出信号は、先端検出センサー108が鋼板200の先端を検出した時に電位レベルが反転する信号である。また、メジャーリングロール106(ロータリーエンコーダ)から出力される位置信号は、鋼板200に接触するメジャーリングロール106が一定角度回転するのに要した時間を1周期とするパルス信号である。
つまり、先端検出信号の電位レベルが反転してから、位置信号(パルス信号)のパルス数をカウントすることにより、鋼板200の搬送距離(鋼板200のX方向の位置)を計測することができる。
つまり、先端検出信号の電位レベルが反転してから、位置信号(パルス信号)のパルス数をカウントすることにより、鋼板200の搬送距離(鋼板200のX方向の位置)を計測することができる。
制御装置112は、リモートI/O111を介して入力される位置信号及び先端検出信号に基づいて、鋼板200の搬送距離(鋼板200のX方向の位置)を「INDEX」と呼称される変数と対応させながらリアルタイムに計測する。具体的には、図6のタイミングチャートに示すように、制御装置112は、先端検出信号の電位レベルが反転したことを検知すると、位置信号のパルス数のカウントを開始する(図6の時刻t0参照)。また、制御装置112は、先端検出信号の電位レベルが反転したことを検知すると、「INDEX」を一定周期(例えば16ms≒60Hz)でインクリメントする(「INDEX」の値を1ずつ増やす)。
制御装置112は、「INDEX」をインクリメントするタイミング(つまり16ms周期)で、その時のパルス数のカウント値に基づいて現在位置(現時点における鋼板200のX方向の位置)を算出する。そして、制御装置112は、「INDEX」を16ms周期で同期信号発生装置113へ出力すると共に、「INDEX」とこれに対応する位置データとを含むデータ(以下、位置パケットデータと呼称する)を16ms周期で演算装置116へ出力する。
例えば、鋼板200の搬送速度が2000mm/s一定であると仮定する。
図6の時刻t0は、鋼板200の先端が検出された時刻なので、時刻t0における鋼板200の搬送距離(移動距離)はゼロである。従って、時刻t0において、制御装置112は、「INDEX(=0)」を同期信号発生装置113へ出力すると共に、「INDEX(=0)」とこれに対応する位置データ(=0mm)とを含む位置パケットデータを演算装置116へ出力する。
図6の時刻t0は、鋼板200の先端が検出された時刻なので、時刻t0における鋼板200の搬送距離(移動距離)はゼロである。従って、時刻t0において、制御装置112は、「INDEX(=0)」を同期信号発生装置113へ出力すると共に、「INDEX(=0)」とこれに対応する位置データ(=0mm)とを含む位置パケットデータを演算装置116へ出力する。
図6の時刻t1は、時刻t0から16ms経過後の時刻なので、時刻t1における鋼板200の搬送距離は32mmである。従って、時刻t1において、制御装置112は、「INDEX(=1)」を同期信号発生装置113へ出力すると共に、「INDEX(=1)」とこれに対応する位置データ(=32mm)とを含む位置パケットデータを演算装置116へ出力する。
図6の時刻t2は、時刻t1から16ms経過後の時刻なので、時刻t2における鋼板200の搬送距離は64mmである。従って、時刻t2において、制御装置112は、「INDEX(=2)」を同期信号発生装置113へ出力すると共に、「INDEX(=2)」とこれに対応する位置データ(=64mm)とを含む位置パケットデータを演算装置116へ出力する。
このように、制御装置112は、「INDEX」を16ms周期で同期信号発生装置113へ出力すると共に、「INDEX」と位置データとを含む位置パケットデータを16ms周期で演算装置116へ出力する。「INDEX」は、同期信号発生装置113を介してA/D変換制御装置115へ伝送される。
超音波発生器114は、第1探触子列BTS1の各探触子102と、第2探触子列BTS2の各探触子102とに対して高周波電流(高周波信号)を供給する。これにより、各探触子102に設けられたコイルに高周波電流が流れ、鋼板200の表面200aに超音波振動が発生する。上述したように、鋼板200の底面200bで反射した超音波(Bエコー)の強度に応じて各探触子102のコイルに誘導電流が生じ、内部欠陥202で反射した超音波(Fエコー)の強度に応じて各探触子102のコイルに誘導電流が生じる。このように、Fエコー及びBエコーのレベル(強度)に応じて各探触子102のコイルに生じる誘導電流は、超音波発生器114を介してA/D変換制御装置115へ伝送される。
A/D変換制御装置115は、超音波発生器114を介して各探触子102から入力される、Fエコー及びBエコーのレベルに応じた誘導電流をA/D変換することにより、Fエコー及びBエコーのデジタルデータ(Fエコー及びBエコーの強度データ)を取得する。また、A/D変換制御装置115は、Fエコー及びBエコーの強度データに基づいて、各探触子102の各コイルごとに、F/B比(以下、探傷データと呼称する)を算出する。
A/D変換制御装置115は、Fエコー及びBエコーの強度データを一定周波数(例えば2.5kHz)で取得する。つまり、探傷データ(F/B比)も2.5kHz(0.4ms周期)で算出される。A/D変換制御装置115は、2.5kHzという比較的高周波の探傷データを、例えば1kHzという比較的低周波の探傷データに変換する。
具体的には、A/D変換制御装置115は、時系列的に得られた4つの探傷データの移動平均値を各コイルごとに算出する。例えば、図7に示すように、ある1つのコイルについて、時系列的に探傷データd1、d2、d3、…d13が得られたと仮定する。この場合、A/D変換制御装置115は、探傷データd1〜d4の移動平均値d1aveを算出し、探傷データd2〜d5の移動平均値d2aveを算出し、探傷データd3〜d6の移動平均値d3aveを算出する。A/D変換制御装置115は、上記と同様に、残りの移動平均値d4ave〜d10aveを算出する。
A/D変換制御装置115は、3つの移動平均値の最大値を抽出し、次の2つの移動平均値の最大値を抽出するという処理を繰り返すことにより、1kHzの探傷データを得る。例えば、図7に示すように、移動平均値d1ave〜d3aveの最大値が探傷データD1として抽出され、移動平均値d4ave及びd5aveの最大値が探傷データD2として抽出される。以下同様に、移動平均値d6ave〜d8aveの最大値が探傷データD3として抽出され、移動平均値d9ave及びd10aveの最大値が探傷データD4として抽出される。
A/D変換制御装置115は、上記のような処理を行うことにより、2.5kHzの探傷データを、1kHzの探傷データに変換する。
A/D変換制御装置115は、上記のような処理を行うことにより、2.5kHzの探傷データを、1kHzの探傷データに変換する。
A/D変換制御装置115は、同期信号発生装置113を介して得られた「INDEX」と1kHzの探傷データとを結合することで探傷パケットデータを作成し、この探傷パケットデータを1kHzの周波数で演算装置116へ出力する。探傷データの周波数は1kHzであるが、「INDEX」は60Hz(16ms周期)で更新される(1増える)ので、例えば図8に示すように、16個(=1000Hz/60Hz)の探傷データのそれぞれに、同じ値の「INDEX」が結合される。以上のように、「INDEX」と1kHzの探傷データとを結合することで得られる探傷パケットデータが1kHzの周波数(1ms周期)で、A/D変換制御装置115から演算装置116へ伝送される。
演算装置116には、図9に示すように、「INDEX」と位置データとが結合された位置パケットデータが60Hzの周波数(16ms周期)で入力され、「INDEX」と探傷データとが結合された探傷パケットデータが1kHzの周波数(1ms周期)で入力される。
演算装置116は、位置パケットデータ及び探傷パケットデータの「INDEX」の値に基づいて、位置データと探傷データとを結合する。基本的には、「INDEX」の値が同じ位置データと探傷データとを結合すればよいが、探傷パケットデータよりも位置パケットデータの方が遅れて演算装置116に伝送される。そこで、図10に示すように、例えば、「INDEX」の値が“200”の探傷データと、「INDEX」の値が“200+α”の位置データとを結合することが好ましい。上記の“α”の値は、予め位置パケットデータの遅延量を測定した結果に基づいて設定すればよい。
上記のように、位置データと探傷データとが結合されて、例えば図11に示すようなデータパッケージP1〜P16が16msの期間に得られたと仮定する。16msの期間に、同じ値の「INDEX」に結合された探傷データは16個存在するので(図8参照)、図11に示すように、位置データが同じデータパッケージも16msの期間に16個存在する。
演算装置116は、「INDEX」の更新期間、つまり16msの期間に鋼板200が移動した距離に応じて、16個のデータパッケージP1〜P16を例えば4mmピッチのデータパッケージに変換する。以下では、16個のデータパッケージP1〜P16を4mmピッチのデータパッケージに変換する手法について説明するが、必ずしも4mmピッチである必要はなく、要求される分解能に応じてピッチを設定すればよい。
(1)16msの期間に鋼板200が移動した距離が4で割り切れる場合
図11に示すように、例えば16msの期間に鋼板200が32mm移動したと仮定する。この場合、32を4で割ると8が得られるので、16個のデータパッケージP1〜P16を8個に分割することにより、4mmピッチのデータパッケージに変換することができる。
図11に示すように、例えば16msの期間に鋼板200が32mm移動したと仮定する。この場合、32を4で割ると8が得られるので、16個のデータパッケージP1〜P16を8個に分割することにより、4mmピッチのデータパッケージに変換することができる。
具体的には、図12に示すように、演算装置116は、データパッケージP1とP2の探傷データの最大値を、位置100mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7とP8の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP9とP10の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP11とP12の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP13とP14の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
さらに、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置128mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7とP8の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP9とP10の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP11とP12の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP13とP14の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
さらに、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置128mmの探傷データとして設定する。
また、例えば、16msの期間に鋼板200が28mm移動したと仮定する。この場合、28を4で割ると7が得られるので、16個のデータパッケージP1〜P16を7個に分割することにより、4mmピッチのデータパッケージに変換することができる。
具体的には、図13に示すように、演算装置116は、データパッケージP1とP2の探傷データの最大値を、位置100mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7、P8及びP9の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP10とP11の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP12、P13及びP14の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
さらに、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7、P8及びP9の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP10とP11の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP12、P13及びP14の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
さらに、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
(2)16msの期間に鋼板200が移動した距離を4で割った余りが3の場合
例えば、16msの期間に鋼板200が31mm移動したと仮定する。この場合、31を4で割ると7が得られ、余りとして3が得られるので、16個のデータパッケージP1〜P16を8個(=7+1)に分割することにより、4mmピッチのデータパッケージに変換することができる。
例えば、16msの期間に鋼板200が31mm移動したと仮定する。この場合、31を4で割ると7が得られ、余りとして3が得られるので、16個のデータパッケージP1〜P16を8個(=7+1)に分割することにより、4mmピッチのデータパッケージに変換することができる。
具体的には、図14に示すように、演算装置116は、データパッケージP1とP2の探傷データの最大値を、位置100mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7とP8の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP9とP10の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP11とP12の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP13とP14の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置128mmの探傷データとして設定する。
なお、この場合、演算装置116は、次の16ms期間の最初に得られるデータパッケージP1’の位置データを、131mmから132mmに変更する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7とP8の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP9とP10の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP11とP12の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP13とP14の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置128mmの探傷データとして設定する。
なお、この場合、演算装置116は、次の16ms期間の最初に得られるデータパッケージP1’の位置データを、131mmから132mmに変更する。
(3)16msの期間に鋼板200が移動した距離を4で割った余りが1または2の場合
例えば、16msの期間に鋼板200が29mm移動したと仮定する。この場合、29を4で割ると7が得られ、余りとして1が得られるので、16個のデータパッケージP1〜P16を7個に分割することにより、4mmピッチのデータパッケージに変換することができる。
例えば、16msの期間に鋼板200が29mm移動したと仮定する。この場合、29を4で割ると7が得られ、余りとして1が得られるので、16個のデータパッケージP1〜P16を7個に分割することにより、4mmピッチのデータパッケージに変換することができる。
具体的には、図15に示すように、演算装置116は、データパッケージP1とP2の探傷データの最大値を、位置100mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7、P8及びP9の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP10とP11の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP12、P13及びP14の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
なお、この場合、演算装置116は、次の16ms期間の最初に得られるデータパッケージP1’の位置データを、129mmから128mmに変更する。
また、演算装置116は、データパッケージP3とP4の探傷データの最大値を、位置104mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP5とP6の探傷データの最大値を、位置108mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP7、P8及びP9の探傷データの最大値を、位置112mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP10とP11の探傷データの最大値を、位置116mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP12、P13及びP14の探傷データの最大値を、位置120mmの探傷データとして設定する。
また、演算装置116は、データパッケージP15とP16の探傷データの最大値を、位置124mmの探傷データとして設定する。
なお、この場合、演算装置116は、次の16ms期間の最初に得られるデータパッケージP1’の位置データを、129mmから128mmに変更する。
演算装置116は、上記のような処理を実行することにより、4mmピッチの探傷データを、第1探触子列BTS1に含まれる各コイル、及び第2探触子列BTS2に含まれる各コイルのそれぞれについて取得する。
演算装置116は、上記のように得られた各コイルの4mmピッチの探傷データを、横軸を鋼板長手方向の位置(X方向の位置)とし、縦軸を鋼板幅方向の位置(Y方向の位置)とする2次元座標系に展開することにより、図4に示すような欠陥マップを作成する。
演算装置116は、上記のように得られた各コイルの4mmピッチの探傷データを、横軸を鋼板長手方向の位置(X方向の位置)とし、縦軸を鋼板幅方向の位置(Y方向の位置)とする2次元座標系に展開することにより、図4に示すような欠陥マップを作成する。
以上が、信号処理装置110の基本的な動作(欠陥マップの作成動作)である。
しかしながら、内部欠陥202が鋼板200の幅方向Yに延在し、幅方向Yに配置される複数の電磁超音波探触子102で検出される場合、内部欠陥202は、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2とに跨って検出されることになる。
このようなシステムにおいて、第1探触子列BTS1を通過する時の鋼板200の搬送速度(以下、第1通過速度と呼称する)と、第2探触子列BTS2を通過する時の鋼板200の搬送速度(以下、第2通過速度と呼称する)との間に速度差が存在する場合、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の位置データとの間にズレが発生する。
しかしながら、内部欠陥202が鋼板200の幅方向Yに延在し、幅方向Yに配置される複数の電磁超音波探触子102で検出される場合、内部欠陥202は、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2とに跨って検出されることになる。
このようなシステムにおいて、第1探触子列BTS1を通過する時の鋼板200の搬送速度(以下、第1通過速度と呼称する)と、第2探触子列BTS2を通過する時の鋼板200の搬送速度(以下、第2通過速度と呼称する)との間に速度差が存在する場合、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の位置データとの間にズレが発生する。
例えば図10を用いて説明したように、位置データと探傷データは、「INDEX」の値を基準として結合されるが、このような結合は第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2の両方について同様に行われる。従って、探傷データよりも位置データの方が遅れて演算装置116に伝送されたとしても、第1通過速度と第2通過速度が等しければ、位置データと探傷データの結合関係は第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2とで同じである。
すなわち、第1通過速度と第2通過速度が等しい場合(鋼板200の搬送速度が一定の場合)、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の位置データとの間にズレは生じない。
すなわち、第1通過速度と第2通過速度が等しい場合(鋼板200の搬送速度が一定の場合)、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の位置データとの間にズレは生じない。
一方、例えば、第2通過速度が第1通過速度より速い場合を想定する。この場合、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の探傷データに対して、例えば図10に示すような132mmの位置データが結合されたとしても、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の探傷データに対しては、132mmより大きな値の位置データが結合されることになる。
すなわち、第1通過速度と第2通過速度との間に速度差が存在する場合(鋼板200の搬送速度が変動する場合)、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の位置データとの間にズレが生じることになる。
すなわち、第1通過速度と第2通過速度との間に速度差が存在する場合(鋼板200の搬送速度が変動する場合)、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の位置データとの間にズレが生じることになる。
上記のように、第1通過速度と第2通過速度との間に速度差が存在する場合には、図4に示すような1つの内部欠陥202が、図16に示すように、鋼板200の搬送方向Xにズレが生じた内部欠陥202(202a、202b)として欠陥マップに現れる。この場合、内部欠陥202の正確な位置が把握できなくなり、また、内部欠陥202が複数に分断された状態で認識されるため、重欠陥であると判断されるべき内部欠陥202が、複数の小欠陥として判断されてしまう可能性がある。したがって、正確な内部欠陥202の評価が困難となる。
そこで、第1探触子列BTS1で検出した内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した内部欠陥202の位置データとの間にズレが生じていないか、また、このズレが許容値以下であるか否かを定期的に検査する必要がある。図17は、この検査のために用いる人工欠陥プレート300を示す。人工欠陥プレート300には、予め幅方向Yに沿って直線状に延在する内部欠陥(人工欠陥302)が設けられている。この人工欠陥プレート300を通板テーブル上に置き、実際に通板させることで、上記の検査を行う。具体的には、人工欠陥プレート300を通板させて、上述した処理によって欠陥マップを作成し、人工欠陥302と同様の、幅方向Yに直線状の内部欠陥が検出されれば、機器が正常であると判断できる。一方、作成した欠陥マップに示される人工欠陥302の形状が、図16に示す内部欠陥202の形状と同様に、搬送方向Xに分離している場合、第1探触子列BTS1で検出した人工欠陥302の位置データと、第2探触子列BTS2で検出した人工欠陥302の位置データとの間にズレが生じていると判断できる。従って、鋼板幅方向Yに直線状に形成され、かつ鋼板幅方向Yに位置する複数の電磁超音波探触子102に跨る長さの人工欠陥302を有する人工欠陥プレート300による探傷結果と、人工欠陥302の形状とを比較することで、内部欠陥202の位置が正確に検出されているか否かを確認することができる。
しかしながら、この人工欠陥プレート300を用いる方法では、操業中に上記の検査を行うことができないため、操業を中断するとともに人工欠陥プレート300をクレーンで通板テーブル上に運ぶ必要がある。このため、多大な時間と手間を要するという問題がある。
(本実施形態の構成例)
以上により、本実施形態では、人工欠陥プレート300を用いる代わりに、図18に示すように、鋼板200よりも導電率が高く、鋼板200に付着(接着)する導体テープ400を、鋼板200の表面200aに貼り付ける。導体テープ400は、例えば、アルミニウム製であり0.1mm程度の厚さを有する。なお、上述したように、電磁超音波探触子102の底面と鋼板200の表面200aとの距離は0.5mm程度であるため、導体テープ400の厚さは0.5mm以下であることが好ましい。また、電磁超音波探触子102と導体テープ400とが干渉する場合を考慮し、導体テープ400の上からガムテープ等で表面200aに貼り付けることが好ましい。
以上により、本実施形態では、人工欠陥プレート300を用いる代わりに、図18に示すように、鋼板200よりも導電率が高く、鋼板200に付着(接着)する導体テープ400を、鋼板200の表面200aに貼り付ける。導体テープ400は、例えば、アルミニウム製であり0.1mm程度の厚さを有する。なお、上述したように、電磁超音波探触子102の底面と鋼板200の表面200aとの距離は0.5mm程度であるため、導体テープ400の厚さは0.5mm以下であることが好ましい。また、電磁超音波探触子102と導体テープ400とが干渉する場合を考慮し、導体テープ400の上からガムテープ等で表面200aに貼り付けることが好ましい。
上述のように、導体テープ400は、鋼板200の表面200aに、鋼板200の幅方向Yに沿って延在するように貼り付けられる(図18参照)。すなわち、この導体テープ400は、電磁超音波探触子102の列方向に沿って貼り付けられることになる。このとき、表面200aに貼りつけられる導体テープ400の長さ(Y方向における長さ)は、1つの電磁超音波探触子102の探傷幅(幅方向Yにおける電磁超音波探触子102の長さ)よりも大きい。換言すれば、導体テープ400は、鋼板200の幅方向Yにおいて、複数の電磁超音波探触子102に跨る長さで貼りつけられる。上述のように、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2とで、電磁超音波探触子102が、鋼板200の幅方向Yで異なる位置に配置されているため、導体テープ400を鋼板幅方向Yで複数の電磁超音波探触子102に跨る長さで貼りつけることにより、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間の位置データのズレを検出することができる。したがって、例えば、幅方向Yにおける電磁超音波探触子102の長さが100mmである場合には、導体テープ400の長さは少なくとも200mm程度であることが好ましい。
導体テープ400の幅(図18のX方向の長さ)は、検出対象である実際の内部欠陥202の幅以上とし、例えば、10〜20mm程度である。また、導体テープ400の材料は、上述したように、内部探傷の対象である鋼板200の材料よりも大きな導電率を有するものとする。例えば、鉄の鋼板200を内部探傷する場合、導体テープ400の材料としては、鉄よりも大きな導電率を有するアルミニウム、銅などを用いる。
このような導体テープ400を、鋼板200の表面200aに貼り付けると、導体テープ400を貼り付けた部分は超音波が減衰するため、Bエコーの値が減衰する。これにより、F/B比の値に基づいて探傷を行うと、導体テープ400が貼り付けられた位置では、内部欠陥202が生じている場合と同様の探傷信号が得られるため、導体テープ400が疑似欠陥として認識される。従って、人工欠陥プレート300を用いた場合のように、電磁超音波探傷装置100の検査のために操業を中止する必要がなく、また、電磁超音波探傷装置100の検査のために人工欠陥プレート300を通板テーブル上に搬入する必要がない。つまり、操業中の鋼板200に、導体テープ400を貼り付けるだけで、探傷結果に位置ズレが生じているか否かを容易に検査することができる。したがって、人工欠陥プレート300を用いた場合には数時間程度の作業が必要になるが、本実施形態の導体テープ400を用いた場合には数分程度の作業で位置ずれの検査をすることができる。さらに、人工欠陥プレート300を導体テープ400で代用できるため、人工欠陥プレート300を作製する必要がなくなり、コスト低減を図ることができる。
次に、図19および図20に基づいて、導体テープ400を貼り付けることによって超音波が減衰する原理について説明する。図19は、電磁超音波探触子102と鋼板200が近接する領域を詳細に示す模式図であって、導体テープ400が貼り付けられていない状態を示している。図19に示すように、電磁超音波探触子102には、永久磁石102aとコイル102bとが設けられている。なお、図19は、1つの永久磁石102aと1つのコイル102bとを示しているが、1つの電磁超音波探触子102には複数の永久磁石102aと複数のコイル102bが設けられる。複数のコイル102bは、同期をとって超音波の送受信を同時に行っている。複数の永久磁石102aは、複数のコイル102bのそれぞれに対応して設けられる。
電磁超音波探触子102内のコイル102bに高周波電流(高周波信号)を流すことにより、鋼板200の表面200aに高周波で変動する磁場M1が発生する。このとき、鋼板200の表面200aには、この磁場M1を打ち消す方向に誘導電流I1が発生する。そして、永久磁石102aによる静磁場M2内の導体(鋼板200)に誘導電流I1が流れることにより、ローレンツ力Fが発生する。このローレンツ力Fは、コイル102bに流す高周波電流に同期して変動する。このローレンツ力Fにより、鋼板200の表面200aが振動し、超音波600が発生する。
図20は、鋼板200の表面200aに導体テープ400を貼り付けた場合を示しており、図19中に一点鎖線で示す領域Rに対応する範囲を示している。この場合、導体テープ400の導電率は鋼板200の導電率よりも大きいため、コイル102bに高周波電流を流すと、導体テープ400には、表面200aに発生する誘導電流I1よりも大きな誘導電流I2が発生する。この導体テープ400に誘導された誘導電流I2は、表面200aに磁場M3を発生させ、この磁場M3を打ち消す方向に誘導電流I3が表面200aに発生する。これにより、コイル102bによって表面200aに発生した磁場M1を打ち消す方向に誘導された誘導電流I1は、誘導電流I3を打ち消す方向に流れる。この結果、表面200aに流れる誘導電流I4は、全体として図19の誘導電流I1よりも小さくなり、誘導電流I4によって発生するローレンツ力Fは、図19の誘導電流I1によって発生するローレンツ力Fよりも小さくなる。従って、図19及び図20に示すように、表面200aに導体テープ400を貼り付けた場合は、表面200aに導体テープ400を貼り付けない場合と比べて、鋼板200に発生する超音波600が減衰する。以上により、導体テープ400を貼り付けた部分は、超音波600が減衰し、導体テープ400を貼り付けていない領域と比べてBエコーが小さくなるため、導体テープ400は疑似的な内部欠陥(疑似欠陥)として認識される。
[導体テープの材質について]
次に、鋼板200以外の材質のプレートを通板テーブル上に載置し、このプレートを搬送する場合に、プレートの材質と導体テープ400の材質の適用例について説明する。上述したように、導体テープ400は、内部探傷の対象である鋼板200の材料よりも大きな導電率を有する。換言すれば、導体テープ400は、内部探傷の対象である鋼板200の材料よりも小さい抵抗率を有する。ここで、例えば、鋼板200(鉄)の導電率は9.9×106S(ジーメンス)/mであり、導体テープ400(アルミニウム)の導電率は37.4×106S/mである。この場合、導体テープ400を貼り付けた箇所では、導体テープ400を貼り付けていない箇所に比べて、10dB程度のBエコーの減衰が生じる。この減衰量は、鋼板200の表面200aに、JIS G 0801相当の基準で重欠陥レベルの内部欠陥が生じている場合に相当する。従って、鉄の鋼板200にアルミニウムの導体テープ400を貼り付けることにより、重欠陥レベルの疑似欠陥を生じさせることができる。
次に、鋼板200以外の材質のプレートを通板テーブル上に載置し、このプレートを搬送する場合に、プレートの材質と導体テープ400の材質の適用例について説明する。上述したように、導体テープ400は、内部探傷の対象である鋼板200の材料よりも大きな導電率を有する。換言すれば、導体テープ400は、内部探傷の対象である鋼板200の材料よりも小さい抵抗率を有する。ここで、例えば、鋼板200(鉄)の導電率は9.9×106S(ジーメンス)/mであり、導体テープ400(アルミニウム)の導電率は37.4×106S/mである。この場合、導体テープ400を貼り付けた箇所では、導体テープ400を貼り付けていない箇所に比べて、10dB程度のBエコーの減衰が生じる。この減衰量は、鋼板200の表面200aに、JIS G 0801相当の基準で重欠陥レベルの内部欠陥が生じている場合に相当する。従って、鉄の鋼板200にアルミニウムの導体テープ400を貼り付けることにより、重欠陥レベルの疑似欠陥を生じさせることができる。
内部探傷の対象物(検査対象物)が鉄の場合、導体テープ400として、アルミニウムよりも更に導電率の高い銅(Cu:導電率:59.0×106S/m)を用いることもできる。この場合、導体テープ400としてアルミニウムを用いた場合と比べて、超音波の減衰量を大きくすることができるため、より欠陥レベルの大きな疑似欠陥を生じさせることができる。
更に、すず(Sn:導電率:7.9×106S/m)、金(Au:導電率:45.5×106S/m)、銀(Ag:導電率:61.4×106S/m)などの材料も、内部探傷の対象物の材質に応じて適宜選択することができ、導体テープ400の材料として好適に用いることができる。いずれの場合も、内部探傷の対象物の導電率よりも大きい導電率を有する材料を導体テープ400として選択する。なお、導体テープ400の導電率が、内部探傷の対象物の導電率に対して2倍程度であれば、JIS G 0801相当の基準で中欠陥〜重欠陥レベルの疑似欠陥を生じさせることができる。したがって、導体テープ400の導電率は、内部探傷の対象物の導電率よりも2倍以上であることが好ましい。また、内部探傷の対象物が鉄の場合、導電率およびコスト等を考慮し、導体テープ400の材料はアルミニウムであることが好ましい。
また、本実施形態では、欠陥検査の対象物として鋼板200(鉄)を用いた場合を例示した。しかしながら、他の金属、またはアルミニウムなどの非鉄金属を内部探傷の対象物とする場合においても、この対象物より導電率の高い導体テープ400を使用することにより、疑似欠陥を生じさせることができる。
[欠陥マップの補正方法]
本実施形態では、導体テープ400を鋼板200に貼りつけた状態で通板を行い、図16に示すような欠陥マップが得られた場合に、欠陥マップを補正する。導体テープ400を鋼板200に貼り付けた状態で内部探傷を行うと、導体テープ400は直線状であるため、本来は直線状の内部欠陥202が欠陥マップ上に現れる。しかしながら、導体テープ400を貼り付けた状態で内部探傷を行って、図16に示すような欠陥マップが得られた場合は、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとの間にズレが生じていることになる。例えば、導体テープ400を貼り付けた状態で内部探傷を行い、図16に示すような欠陥マップが得られた場合、内部欠陥202aが第1探触子列BTS1で検出され、内部欠陥202bが第2探触子列BTS2で検出されており、内部欠陥202aの位置データと内部欠陥202bの位置データとの間にズレが生じていることになる。
本実施形態では、導体テープ400を鋼板200に貼りつけた状態で通板を行い、図16に示すような欠陥マップが得られた場合に、欠陥マップを補正する。導体テープ400を鋼板200に貼り付けた状態で内部探傷を行うと、導体テープ400は直線状であるため、本来は直線状の内部欠陥202が欠陥マップ上に現れる。しかしながら、導体テープ400を貼り付けた状態で内部探傷を行って、図16に示すような欠陥マップが得られた場合は、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとの間にズレが生じていることになる。例えば、導体テープ400を貼り付けた状態で内部探傷を行い、図16に示すような欠陥マップが得られた場合、内部欠陥202aが第1探触子列BTS1で検出され、内部欠陥202bが第2探触子列BTS2で検出されており、内部欠陥202aの位置データと内部欠陥202bの位置データとの間にズレが生じていることになる。
このため、本実施形態では、導体テープ400を貼り付けた鋼板200を探傷し、図16に示すような欠陥マップが得られた場合は、第1探触子列BTS1で検出される内部欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出される内部欠陥の位置データとを一致させる処理を行う。
図21に示すように、演算装置116は、第1探触子列BTS1で検出される内部欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出される内部欠陥の位置データとを一致させるために、位置情報取得部116a、差分取得部116b、補正実行部116c及び補正値記録部116dを備えている。
導体テープ400が貼り付けられた鋼板200の探傷検査を行い、図16に示すような欠陥マップが得られた場合は、上述のように、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとの間にズレが生じていることになる。
この場合、演算装置116の位置情報取得部116aは、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとを取得する。
差分取得部116bは、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとの差分を取得する。
補正実行部116cは、上記の差分に基づいて、第1探触子列BTS1で検出される内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出される内部欠陥202の位置データとが一致するように、内部欠陥202の位置データの補正を行う。
補正値記録部116dは、上記の差分の値、及び上記の差分による補正アルゴリズムを格納する。
これにより、上記の差分が検出された以降の内部探傷においては、第1探触子列BTS1で検出される内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出される内部欠陥202の位置データとが一致することになる。その結果、図16に示すような欠陥マップが作成されてしまうことを確実に抑止できる。
導体テープ400が貼り付けられた鋼板200の探傷検査を行い、図16に示すような欠陥マップが得られた場合は、上述のように、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとの間にズレが生じていることになる。
この場合、演算装置116の位置情報取得部116aは、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとを取得する。
差分取得部116bは、第1探触子列BTS1で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データと、第2探触子列BTS2で検出された導体テープ400による疑似欠陥の位置データとの差分を取得する。
補正実行部116cは、上記の差分に基づいて、第1探触子列BTS1で検出される内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出される内部欠陥202の位置データとが一致するように、内部欠陥202の位置データの補正を行う。
補正値記録部116dは、上記の差分の値、及び上記の差分による補正アルゴリズムを格納する。
これにより、上記の差分が検出された以降の内部探傷においては、第1探触子列BTS1で検出される内部欠陥202の位置データと、第2探触子列BTS2で検出される内部欠陥202の位置データとが一致することになる。その結果、図16に示すような欠陥マップが作成されてしまうことを確実に抑止できる。
なお、図18では、導体テープ400は、鋼板200の幅方向Yの一部に貼り付けられているが、導体テープ400を貼り付けた際に第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2とで検出される位置データの差分(誤差)は、鋼板200の幅方向Yの全域で生じると考えられる。従って、差分が検出された場合には、鋼板200の幅方向Yの全域で位置データを補正する。これにより、鋼板200の幅方向の全域で位置データの誤差を解消することができる。
図22は、欠陥マップの作成アルゴリズムを補正する方法を示すフローチャートである。先ず、ステップS10では、導体テープ400を貼りつけた鋼板200を探傷する。ここで、導体テープ400が第1探触子列BTS1を通過する時の搬送速度(つまり第1通過速度)と、導体テープ400が第2探触子列BTS2を通過する時の搬送速度(つまり第2通過速度)とが変化するように、鋼板200の加減速を行う。これにより、第1通過速度と第2通過速度との間に速度差が生じる。次のステップS11では、探傷結果から、導体テープ400による疑似欠陥の位置データを取得する。なお、第1通過速度と第2通過速度との間の速度差は、例えば、第1通過速度の10%以上であることが望ましい。例えば第1通過速度が100mm/sである場合、第2通過速度は90mm/s以下または110mm/s以上であることが望ましい。
次のステップS12では、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2とで疑似欠陥の位置データに差分があるか否かを判定する。そして、疑似欠陥の位置データに差分がある場合は、ステップS13へ進み、差分に基づいて欠陥マップの作成アルゴリズムを補正する。一方、ステップS12で差分が生じていない場合は、ステップS12からステップS14へ進む。
ステップS14では、導体テープ400を貼り付けていない鋼板200を探傷する。次のステップS15では、内部欠陥202を検出し、その位置データを取得する。次のステップS16では、欠陥マップの作成アルゴリズムにより、欠陥マップを作成する。ここでは、探傷データと位置データとに基づいて、図4に示すような欠陥マップを作成する。
また、ステップS13で作成アルゴリズムが補正された場合、ステップS16では、補正されたアルゴリズムで欠陥マップを作成する。具体的には、第1探触子列BTS1が検出する内部欠陥202の位置データと、第1探触子列BTS2が検出する内部欠陥202の位置データとをステップS12で検出した差分により補正し、第1探触子列BTS1及び第2探触子列BTS2が検出する内部欠陥202の位置データを一致させて欠陥マップを作成する。
以上説明したように、本実施形態によれば、導体テープ400を貼り付けて疑似欠陥を生じさせ、この疑似欠陥を探傷した結果に基づいて、内部欠陥202の位置データを補正することができる。従って、鋼板搬送方向Xで同じ位置に存在する内部欠陥202が、搬送方向Xで異なる位置にある内部欠陥202として認識されることがなく、内部欠陥202の探傷をより高精度に行うことができる。
これにより、鋼板200に導体テープ400を貼りつける作業は、操業中の小休止の時間(数分程度)でも可能であるため、人工欠陥プレート300を用いた通板を行う必要もなくなる。従って、人工欠陥プレート300を用いた場合に発生していた操業休止時間、クレーン等による準備時間を削減することができる。また、人工欠陥プレート300を準備する必要がないため、人工欠陥プレート300に関わるコストを削減することもできる。
なお、上記実施形態では、図23に示すように、導体テープ400を、鋼板200の幅方向(Y方向)と平行となるように鋼板200に貼り付ける場合を例示した。この場合、図23に示すように、導体テープ400が、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間を通過する時に、第1通過速度と第2通過速度との間に速度差が生じるように鋼板200の加減速を行うことで、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間の位置データのズレを確認する必要がある。第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間隔は、0.5m〜1.5mであるので、上記のような試運転(鋼板200の加減速)を目視で行うことはオペレータにとって負担である。
そこで、図24に示すように、導体テープ400を、鋼板200の幅方向(Y方向)に対して傾斜するように鋼板200に貼り付けてもよい。これにより、導体テープ400が、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2とに重なっていれば、どの区間で鋼板200の加減速を行っても、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間の位置データのズレを確認することができる。従って、導体テープ400を、鋼板200の幅方向に対して傾斜するように鋼板200に貼り付けることにより、試運転時(鋼板200の加減速時)におけるオペレータの負担を軽減できる。
導体テープ400の傾斜角θ(図24参照)は、0°から60°の範囲に設定することが望ましい。図25Aは、導体テープ400の傾斜角θが0°の場合に、鋼板200の加減速を行った時に得られる導体テープ400の欠陥評価結果(欠陥マップに現れる導体テープ400に相当する疑似欠陥)を模式的に示す図である。図25Bは、導体テープ400の傾斜角θが45°の場合に、鋼板200の加減速を行った時に得られる導体テープ400の欠陥評価結果を模式的に示す図である。図25Cは、導体テープ400の傾斜角θが70°の場合に、鋼板200の加減速を行った時に得られる導体テープ400の欠陥評価結果を模式的に示す図である。
図25A、図25B及び図25Cに示すように、導体テープ400の傾斜角θが60°より大きくなると、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との境界が不明瞭となるので、第1探触子列BTS1と第2探触子列BTS2との間の位置データのズレ量を正確に測定することが困難となる。また、導体テープ400の傾斜角θが0°の場合でも位置データのズレ量を正確に測定することはできるが、前述のように試運転時(鋼板200の加減速時)におけるオペレータの負担が大きいので、導体テープ400の傾斜角θの下限値を30°に設定することが望ましい。さらに、鋼板200が長い場合には、複数の短い導体テープをそれぞれ45°の傾斜角θで貼り付けることにより、1本の導体テープ400を形成しても良い。
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
電磁超音波探触子により検出される内部欠陥の位置情報の精度を高め、検査の信頼性を向上させることが可能な欠陥位置補正方法を提供することができる。
100 電磁超音波探傷装置
106 メジャーリングロール
108 先端検出センサー
110 信号処理装置
111 リモートI/O
112 制御装置
113 同期信号発生装置
114 超音波発生器
115 A/D変換制御装置
116 演算装置
116a 位置情報取得部
116b 差分取得部
116c 補正実行部
116d 補正値記録部
200 鋼板
106 メジャーリングロール
108 先端検出センサー
110 信号処理装置
111 リモートI/O
112 制御装置
113 同期信号発生装置
114 超音波発生器
115 A/D変換制御装置
116 演算装置
116a 位置情報取得部
116b 差分取得部
116c 補正実行部
116d 補正値記録部
200 鋼板
Claims (5)
- 複数の電磁超音波探触子によって検査対象物の表面に超音波振動を発生させる際に、前記検査対象物の搬送方向と直交する方向に沿って前記複数の電磁超音波探触子を配列させ、かつ、この電磁超音波探触子の列が前記搬送方向に沿って複数の列を成すように配置させた状態とし、前記検査対象物には、前記搬送方向と直交する方向に配列された前記複数の電磁超音波探触子同士の間を跨ぐように前記導体テープを貼り付けておき、前記電磁超音波探触子に高周波信号を与えて前記検査対象物の表面に超音波振動を発生させる工程と;
各列の前記電磁超音波探触子で、前記超音波振動のFエコー及びBエコーを検出する工程と;
前記Fエコー及び前記Bエコーの検出値に基づいて、前記導体テープによる疑似欠陥を検出する工程と;
前記電磁超音波探触子の各列ごとに前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報を取得する工程と;
前記電磁超音波探触子の各列ごとに得られた前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報に基づいて、隣り合う列について前記疑似欠陥の前記搬送方向の位置情報の差分を取得する工程と;
前記差分に基づいて、各列の前記電磁超音波探触子によって検出される内部欠陥の前記搬送方向の位置情報を補正する工程と;
を有することを特徴とする欠陥位置補正方法。 - 前記導体テープが各列の前記電磁超音波探触子を通過する時に前記検査対象物の搬送速度を変化させる工程をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の欠陥位置補正方法。
- 前記導体テープの導電率は、前記検査対象物の導電率よりも大きいことを特徴とする請求項1または2に記載の欠陥位置補正方法。
- 前記導体テープの材質はアルミニウム又は銅であり、前記検査対象物は鉄であることを特徴とする請求項1または2に記載の欠陥位置補正方法。
- 前記導体テープは、前記検査対象物の幅方向に対して0°から60°の範囲で前記検査対象物に貼り付けられていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の欠陥位置補正方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7466234B2 (ja) | 2020-11-25 | 2024-04-12 | プキョン ナショナル ユニバーシティ インダストリー-ユニバーシティ コーポレーション ファウンデーション | 超音波スキャン映像情報生成装置及び方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017171046A1 (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 株式会社未来機械 | 作業ロボットおよびエッジ検出器 |
CN107894463B (zh) * | 2017-12-28 | 2023-12-08 | 中国石油天然气集团有限公司 | Erw钢管焊缝电磁超声自动检测的对比试块及设计方法 |
CN110927260A (zh) * | 2019-12-10 | 2020-03-27 | 爱德森(厦门)电子有限公司 | 一种金属材料的电磁超声分选方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02150765A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-11 | Sumitomo Chem Co Ltd | 超音波探傷方法 |
JPH02194355A (ja) * | 1989-01-24 | 1990-07-31 | Nippon Steel Corp | 鋼板の超音波探傷装置 |
JPH10206398A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Hitachi Metals Ltd | 超音波探傷方法における検出精度の確認・補正方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5861462A (ja) * | 1981-10-07 | 1983-04-12 | Nippon Steel Corp | 角材の超音波探傷方法及び装置 |
JPS5888653A (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-26 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 超音波探傷装置 |
JPS59176616A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-06 | Hitachi Ltd | 電磁超音波厚さ測定装置 |
JPH0328374Y2 (ja) * | 1986-03-28 | 1991-06-18 | ||
JPH02227662A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 鋼板用超音波自動探傷装置 |
JPH04278454A (ja) * | 1991-03-06 | 1992-10-05 | Daido Steel Co Ltd | 渦流探傷法の探傷感度設定方法 |
CN1063848C (zh) * | 1996-08-23 | 2001-03-28 | 中国航天工业总公司第二研究院第二总体设计部 | 热钢板在线自动化电磁超声探伤系统 |
RU2149393C1 (ru) * | 1999-05-19 | 2000-05-20 | Зао "Алтек" | Способ ультразвукового контроля цилиндрических изделий |
RU2184374C1 (ru) * | 2001-08-28 | 2002-06-27 | ОАО "Радиоавионика" | Ультразвуковой способ контроля головки рельсов |
JP4334215B2 (ja) * | 2002-12-26 | 2009-09-30 | Jfeスチール株式会社 | 電磁超音波計測方法および装置 |
JP2005214686A (ja) | 2004-01-28 | 2005-08-11 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 電磁超音波探触子及び超音波探傷方法 |
JP4842922B2 (ja) | 2004-02-26 | 2011-12-21 | オブシェストボ エス オグラニチェンノイ オトベツトベンノスチュ“ノルディンクラフト サンクト−ペテルブルグ” | 電磁超音波探触子 |
JP2006208325A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Jfe Steel Kk | Ppm型電磁超音波トランスデューサ、これを用いた超音波探傷方法及び装置 |
JP2011047763A (ja) * | 2009-08-26 | 2011-03-10 | Uchiyama Masakatsu | 超音波診断装置 |
KR100971073B1 (ko) * | 2009-12-02 | 2010-07-20 | 한국가스공사 | 피그에 장착된 피복 결함 탐상 장치 |
-
2014
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02150765A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-11 | Sumitomo Chem Co Ltd | 超音波探傷方法 |
JPH02194355A (ja) * | 1989-01-24 | 1990-07-31 | Nippon Steel Corp | 鋼板の超音波探傷装置 |
JPH10206398A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Hitachi Metals Ltd | 超音波探傷方法における検出精度の確認・補正方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7466234B2 (ja) | 2020-11-25 | 2024-04-12 | プキョン ナショナル ユニバーシティ インダストリー-ユニバーシティ コーポレーション ファウンデーション | 超音波スキャン映像情報生成装置及び方法 |
Also Published As
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---|---|
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