CN102749049B - 一种带材厚度测量装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种应用于带材生产技术领域的带材厚度测量装置,所述的带材厚度测量装置的装置本体(1)上设置延伸出装置本体(1)的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3),伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)上分别设置X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5),带材(6)设置为从伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)之间穿过的结构,X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)分别与X射线控制开关(6)连接,装置本体(1)与显示带材厚度信息的信号处理计算机(18)连接。本发明的带材厚度测量装置,可以对任意宽度的带材进行厚度测量工作,同时不会给带材表面造成划伤及亮线等缺陷。

Description

一种带材厚度测量装置
技术领域
本发明属于带材生产技术领域,更具体地说,是涉及一种带材厚度测量装置。
背景技术
现有技术中,对高精度带材进行厚度测量的方法,为接触式测量和非接触式脉冲涡流测量,接触式测量由于机械机构复杂,测量距离受限,仅能在带材边沿部位进行单点测量,对于较宽的带材,不能有效的反应整个宽度的带材厚度,以此同时,通过现有的装置进行测量,测量时需要接触到带材表面才能测量,这样,如果操作人员操作不当,会在带材表面造成划伤亮线等异常现象,从而不能满足对高精度带材产品的生产要求。非接触脉冲涡流测量由于其采用涡流测量原理,对铁元素特别敏感,测量铁含量高的产品,误差较大,不能有效的反应带材真实厚度,造成产品公差问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种能够提高带材厚度测量数据准确性,避免对带材表面造成磨损的带材厚度测量装置。
要解决以上所述的技术问题,本发明采取的技术方案为:
本发明为一种带材厚度测量装置,所述的带材厚度测量装置包括装置本体,装置本体上设置延伸出装置本体的伸出杆Ⅰ和伸出杆Ⅱ,所述的伸出杆Ⅰ和伸出杆Ⅱ上分别设置X射线接收装置和X射线发射装置,带材设置为从伸出杆Ⅰ和伸出杆Ⅱ之间穿过的结构,所述的X射线接收装置和X射线发射装置分别与X射线控制开关连接,所述的装置本体与显示带材厚度信息的信号处理计算机连接。
所述的装置本体与变频电机连接,变频电机上设置多个通过变频电机驱动的滚轮,滚轮卡装在基座上的滚道内,变频电机转动时,装置本体设置为通过滚轮带动沿滚道方向移动的结构,变频电机与电机控制开关连接。
所述伸出杆Ⅰ和伸出杆Ⅱ设置为平行布置的结构,伸出杆Ⅰ和伸出杆Ⅱ均设置为平行布置的结构,X射线发射装置为X射线管,X射线接收装置为电离室,X射线发射装置为金属陶瓷式射线管,X射线接收装置内灌充惰性气体,所述的装置本体内设置测量变换器。
所述的X射线接收装置设置为位于X射线发射装置正上方的结构,所述的长方体状的基座设置为与带材运行方向垂直的结构。
所述的滚道包括两道,分别为滚道Ⅰ和滚道Ⅱ,滚道Ⅰ和滚道Ⅱ内各卡装两个滚轮,滚道Ⅰ内的每个滚轮分别通过连接杆与滚道Ⅱ内的一个滚轮连接,变频电机通过皮带与连接杆上的连接齿连接。
采用本发明的技术方案,能得到以下的有益效果:
本发明的带材厚度测量装置,可以对任意宽度的带材进行厚度测量工作,且可以对带材表面的任何位置的厚度进行测量,能够方便,真实地反映出带材的厚度;本发明的带材厚度测量装置,测量时,厚度测量装置避免与带材表面进行接触,不会给带材表面造成划伤及亮线等缺陷,从而保证了高精度带材的表面质量,提高了带材产品的档次。
附图说明
下面对本说明书各附图所表达的内容及图中的标记作出简要的说明:
图1为本发明所述的带材厚度测量装置的结构示意图;
图2为图1所述的带材厚度测量装置的局部放大结构示意图;
图3为图1所述的带材厚度测量装置的A—A面的剖视结构示意图;
图中标记为:1、装置本体;2、伸出杆Ⅰ;3、伸出杆Ⅱ;4、X射线接收装置;5、X射线发射装置;6、X射线控制开关;7、变频电机;8、滚轮;9、基座;10、滚道;11、电机控制开关;12、滚道Ⅰ;13、滚道Ⅱ;14、连接杆;15、皮带;16、电离室;17、测量变换器;18、信号处理计算机;19、X射线。
具体实施方式
下面对照附图,通过对实施例的描述,对本发明的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理等作进一步的详细说明:
如附图1——附图3所示,本发明为一种带材厚度测量装置,所述的带材厚度测量装置包括装置本体1,装置本体1上设置延伸出装置本体1的伸出杆Ⅰ2和伸出杆Ⅱ3,伸出杆Ⅰ2和伸出杆Ⅱ3上分别设置X射线接收装置4和X射线发射装置5,带材6设置为从伸出杆Ⅰ2和伸出杆Ⅱ3之间穿过的结构,X射线接收装置4和X射线发射装置5分别与X射线控制开关6连接,所述的装置本体1与显示带材厚度信息的信号处理计算机18连接。
所述的装置本体1与变频电机7连接,变频电机7上设置多个通过变频电机7驱动的滚轮8,滚轮8卡装在基座9上的滚道10内,变频电机7转动时,装置本体1设置为通过滚轮8带动沿滚道10方向移动的结构,变频电机7与电机控制开关11连接。
所述的伸出杆Ⅰ2和伸出杆Ⅱ3设置为平行布置的结构,伸出杆Ⅰ2和伸出杆Ⅱ3均设置为平行布置的结构,所述的X射线发射装置5为X射线管,X射线接收装置4为电离室,X射线发射装置5为金属陶瓷式射线管,X射线接收装置4内灌充惰性气体,所述的装置本体1内设置测量变换器17。
所述的X射线接收装置4设置为位于X射线发射装置5正上方的结构,所述的长方体状的基座9设置为与带材6运行方向垂直的结构。
所述的滚道10包括两道,分别为滚道Ⅰ12和滚道Ⅱ13,滚道Ⅰ12和滚道Ⅱ13内各卡装两个滚轮8,滚道Ⅰ12内的每个滚轮8分别通过连接杆14与滚道Ⅱ13内的一个滚轮8连接,变频电机7通过皮带15与连接杆14上的连接齿16连接。
本发明的带材厚度测量装置,其工作原理如下所述:
本发明的装置,是根据X射线19的透射原理工作的。测量时,X射线发射装置5发射出X射线19透过带材6。在被测带材6另一面的X射线接收装置4测量X射线19的强度。本发明中,将电离室16作为检测器,当X射线19穿过带材6时,带材6本身会吸收一些X射线19。剩下的,即未被带材6吸收的X射线19到达检测器。检测器测量这些辐射的强度,并产生电离电流Im ,而电离电流Im是与带材6的厚度成比例的。电离电流Im在测量变换器17内转换成数字信号,测量变换器17设置在装置本体1内。然后,此信号传送到测量装置的信号处理计算机18内。信号处理计算机18输出表示带材6厚度的信息,此信息即为带材6的具体厚度数据。
本发明所述的测量装置中,带材6厚度测量的公式为:Im= Io*e-u*s
其中:
Im:穿过带材后的射线强度。;
Io:穿过带材前的射线强度;
u:带材的吸收系数;
s:被测板带厚度;
e:自然对数的底数,近视等于2.718281828。
本发明的测量装置,具体测量过程如下所述:
本发明所述的测量装置,电离室16采用高灵敏度探测材料制造,电离室16内部灌充惰性气体,从而使得电离室16可以精确检测到纳安级电流。
在本发明的测量装置中,采用的X射线管为高压固定式,即X射线发射时的强度(即穿过带材6前的)做为已知量固定不变,带材的吸收系数u对于带材6来来说是已知的,只有穿过带材6前的X射线强度Io和s及被测带材6厚度是变量,而通过检测穿过带材6后的射线强度Io,即可根据前述公式计算出带材的厚度s。
由于X射线在工作中稳定可靠,操作方便,不受温度、环境等影响,所以在测量过程中厚度稳定可靠,为带材的加工提供真实的厚度数据,保障了高精度带材的生产公差,与此同时,在整个测量过程中,无论是测量装置还是操作人员,都不会接触到带材表面,所以不会对带材表面的质量产生影响。
本发明的带材厚度测量装置,可以对任意宽度的带材进行厚度测量工作,且可以对带材表面的任何位置的厚度进行测量,能够方便,真实地反映出带材的厚度;本发明的带材厚度测量装置,测量时,厚度测量装置避免与带材表面进行接触,不会给带材表面造成划伤及亮线等缺陷,从而保证了高精度带材的表面质量,提高了带材产品的档次。
上面结合附图对本发明进行了示例性的描述,显然本发明具体的实现并不受上述方式的限制,只要采用了本发明的方法构思和技术方案进行的各种改进,或未经改进将本发明的构思和技术方案直接应用于其他场合的,均在本发明的保护范围内。

Claims (2)

1.一种带材厚度测量装置,所述的带材厚度测量装置包括装置本体(1),装置本体(1)上设置延伸出装置本体(1)的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3),所述的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)上分别设置X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5),带材(6)设置为从伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)之间穿过的结构,所述的X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)分别与X射线控制开关(6)连接,所述的装置本体(1)与显示带材厚度信息的信号处理计算机(18)连接;
其特征在于:所述的装置本体(1)与变频电机(7)连接,变频电机(7)上设置多个通过变频电机(7)驱动的滚轮(8),滚轮(8)卡装在基座(9)上的滚道(10)内,变频电机(7)转动时,装置本体(1)设置为通过滚轮(8)带动沿滚道(10)方向移动的结构,变频电机(7)与电机控制开关(11)连接;
所述的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)设置为平行布置的结构,伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)均设置为平行布置的结构,所述的X射线发射装置(5)为X射线管,X射线接收装置(4)为电离室(16),X射线发射装置(5)为金属陶瓷式射线管,X射线接收装置(4)内灌充惰性气体,所述的装置本体(1)内设置测量变换器(17);
所述的X射线接收装置(4)设置为位于X射线发射装置(5)正上方的结构,所述的长方体状的基座(9)设置为与带材(6)运行方向垂直的结构。
2.根据权利要求1所述的带材厚度测量装置,其特征在于:所述的滚道(10)包括两道,分别为滚道Ⅰ(12)和滚道Ⅱ(13),滚道Ⅰ(12)和滚道Ⅱ(13)内各卡装两个滚轮(8),滚道Ⅰ(12)内的每个滚轮(8)分别通过连接杆(14)与滚道Ⅱ(13)内的一个滚轮(8)连接,变频电机(7)通过皮带(15)与连接杆(14)上的连接齿(16)连接。
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