JP5676868B2 - 電気回路デバイス内の少なくとも1つの構成要素を電気的に分離するための電気回路構成 - Google Patents
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- 電気回路デバイス内の少なくとも1つの構成要素(13)を電気的に分離するための電気回路構成(10)であって、前記電気回路デバイスは前記少なくとも1つの構成要素へ結合したボンド・パッド(12)を有し、
前記電気回路デバイス外のボンド・パッド延長部のテスト・パッド(14)と、
前記電気回路デバイス外であって、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された制御可能スイッチ(16)と、前記制御可能スイッチは前記電気回路デバイス内のボンド・パッドへボンド・パッド延長部のテスト・パッドを結合するように構成され、前記制御可能スイッチはそれをイネーブルしディスエーブルするための少なくとも1つのイネーブル制御入力端を含んでおり、前記制御可能スイッチがイネーブルされたとき、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドが前記ボンド・パッドを介して前記少なくとも1つの構成要素に電気的に接続され、ディスエーブルされたとき、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドが前記少なくとも1つの構成要素から電気的に分離されるように構成され、
前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合され、前記制御可能スイッチの前記イネーブル制御入力端に結合された、前記電気回路デバイス外の制御回路(18)とを備え、
前記制御回路が、
前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたとき、前記制御可能スイッチをイネーブルし、
前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されていないとき、前記制御可能スイッチをディスエーブルするように構成されている
電気回路構成。 - 前記制御回路が、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された書込み線を含んでおり、前記制御回路が、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたとき、前記制御回路の前記書込み線の入力端が前記制御回路に前記制御可能スイッチをイネーブルさせ、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されていないとき、前記制御回路の前記書込み線の入力端が前記制御回路に前記制御可能スイッチをディスエーブルさせるように構成されている、請求項1に記載の構成。
- 前記制御可能スイッチが、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された入力端と、前記少なくとも1つの構成要素に結合するように構成されている出力端と、第1のイネーブル制御入力端と、第2のイネーブル制御入力端とを含み、
前記制御回路が、前記制御可能スイッチの前記第1のイネーブル制御入力端に結合された第1の制御線と、前記制御可能スイッチの前記第2のイネーブル制御入力端に結合された第2の制御線と、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された書込み線とを含み、
前記制御回路が、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたとき、前記制御可能スイッチがイネーブルされるように、前記第1の制御線を介して前記第1のイネーブル制御入力端に、また前記第2の制御線を介して前記第2のイネーブル制御入力端に制御入力信号を印加するように構成されており、
前記制御回路が、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されていないとき、前記制御可能スイッチがディスエーブルされるように、前記第1の制御線を介して前記第1のイネーブル制御入力端に、また前記第2の制御線を介して前記第2のイネーブル制御入力端に制御入力信号を印加するように構成されている、請求項1に記載の構成。 - 前記少なくとも1つの構成要素がボンド・パッドである、請求項1に記載の構成。
- 前記制御可能スイッチがトランスミッション・ゲートである、請求項1に記載の構成。
- 前記制御回路がスタティック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)セルを含む、請求項1に記載の構成。
- 前記制御可能スイッチが第1のイネーブル制御入力端と第2のイネーブル制御入力端とを含み、前記制御回路がスタティック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)セルを含み、前記SRAMセルが、
前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された第1のトランジスタと、
前記第1のトランジスタに結合された第2のトランジスタと、
前記第2のトランジスタにクロス・カップリングされた第3のトランジスタと、
前記第3のトランジスタに結合され、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された第4のトランジスタと、
前記第1のトランジスタと前記第2のトランジスタの間に結合された第1の端部、および前記制御可能スイッチの前記第1のイネーブル制御入力端に結合された第2の端部を有する第1の制御線と、
前記第3のトランジスタと前記第4のトランジスタの間に結合された第1の端部、および前記制御可能スイッチの前記第2のイネーブル制御入力端に結合された第2の端部を有する第2の制御線とを含んでおり、
前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたとき、前記SRAMセルが、前記制御可能スイッチがイネーブルされるように、前記第1および第2の制御線を介して前記制御可能スイッチに制御入力信号を印加し、
前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されていないとき、前記SRAMセルが、前記制御可能スイッチがディスエーブルされるように、前記第1および第2の制御線を介して前記制御可能スイッチに制御入力信号を印加する、請求項1に記載の構成。 - 前記少なくとも1つの構成要素が無線周波数(RF)送受信機の入力端ボンド・パッドをさらに備え、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドがRFテスト・ソースに結合されており、前記RFテスト・ソースが前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト信号を印加したとき、前記制御回路が前記制御可能スイッチをイネーブルしてRFテスト信号を前記RF送受信機の入力端ボンド・パッドに印加できるようにし、前記RFテスト・ソースが前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト信号を印加しないとき、前記制御回路が前記制御可能スイッチをディスエーブルして前記RF送受信機の入力端ボンド・パッドから前記RFテスト・ソースを電気的に分離する、請求項1に記載の構成。
- 前記少なくとも1つの構成要素が、無線周波数(RF)送受信機の出力段に結合されたボンド・パッドであり、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドがスタブを介してRF出力検出器に結合されており、前記RF出力検出器がパワーアップされたとき、前記制御回路が、前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された前記RF出力検出器の存在を検出し、前記存在の検出に応答して前記制御可能スイッチをイネーブルして、前記RF出力検出器が前記RF送受信機の出力段によって生成される出力の一部分を取り出すことができるようにし、前記RF出力検出器がパワーアップされていないとき、前記制御回路が前記制御可能スイッチをディスエーブルして、前記RF送受信機の出力段から前記RF出力検出器を電気的に分離する、請求項1に記載の構成。
- 前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドが論理回路構成を介して前記書込み線の入力端に結合されており、前記論理回路構成が、
前記ボンド・パッド延長部のテスト・パッドに結合された入力端を有し、出力端を有するNANDゲートと、
前記NANDゲートの前記出力端に結合された入力端と、前記書込み線の入力端に結合された出力端とを有するインバータとを含む、請求項2に記載の構成。
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