JP4958653B2

JP4958653B2 - インバータ試験装置

Info

Publication number: JP4958653B2
Application number: JP2007163827A
Authority: JP
Inventors: 忠道白石; 裕二中村
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2007-06-21
Filing date: 2007-06-21
Publication date: 2012-06-20
Anticipated expiration: 2027-06-21
Also published as: JP2009002793A

Description

本発明は、インバータの耐圧試験及び機能試験に使用するインバータ試験装置に関する。

インバータの機能試験では、モータあるいは擬似負荷を接続してインバータ回路を駆動するが、電源及び負荷に接続する主回路端子には数十Ａの大電流が流れる。一方、インバータの耐圧試験では、主回路端子、インバータの外部制御インターフェイスである制御回路端子、アース端子（あるいは筐体アース）の３部位のうちの２部位間に数千Ｖを越える高電圧を印加する。従来、インバータの耐圧試験と機能試験は別工程で実施しているため、各々の工程で被試験体であるインバータと機能試験回路及び耐圧試験回路との複数のケーブル接続が必要となり作業効率が悪い。これを解決する方法として、高耐圧リードリレーで切り換えることが考えられる（例えば、特許文献１参照）。

特開２００２−６２３２９号公報（段落番号００１４、００１５及び図１）

しかし、インバータの主回路端子の接続先を機能試験回路と耐圧試験回路とに切り換えるためには、数十Ａの大電流と数千Ｖの高電圧に耐え得る切換手段が必要となる。この２つの要求を同時に満足するリレーや電磁切換器などの汎用的な切換手段はない。また、制御信号（最大数Ａ程度）に使用可能な高耐圧リレーは大型であり、接続する信号数が多くなると切換回路が非常に大型になる。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされたものであり、次のようなインバータ試験装置を得ることを目的とする。
ア．被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えできる。
イ．小型化できる。
ウ．試験のためにインバータ駆動を行ったときに発生する主回路電流による放射ノイズが制御回路等周囲に与える悪影響を軽減できる。

以上のように、この発明に係るインバータ試験装置においては、
複数の主回路用パッド、この主回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する主回路用パッド絶縁支持部材、複数の制御回路用パッド、及びこの制御回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する制御回路用パッド絶縁支持部材を有する甲コンタクトパッド部と、
主回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の主回路用プローブと制御回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の制御回路用プローブとをそれぞれ有する第１及び第２コンタクトプローブ部と、
第１コンタクトプローブ部、第２コンタクトプローブ部、及びコンタクトパッド部の少なくとも２つを駆動する甲駆動部とを備え、
甲コンタクトパッド部の各パッドは、試験対象のインバータに接続され、
第１コンタクトプローブ部の各プローブは、機能試験回路に接続され、
第２コンタクトプローブ部の各プローブは、耐圧試験回路に接続され、
甲駆動部は、試験内容に応じて第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第１コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、あるいは第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第２コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続するものである。

また、この発明に係るインバータ試験装置においては、
複数の主回路用パッド、この主回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する主回路用パッド絶縁支持部材、複数の制御回路用パッド、及びこの制御回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する制御回路用パッド絶縁支持部材をそれぞれ有する甲及び乙コンタクトパッド部と、
主回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の主回路用プローブ及び制御回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の制御回路用プローブをそれぞれ有する第１及び第２コンタクトプローブ部と、
第１及び第２コンタクトプローブ部並びに第１及び第２コンタクトパッド部の少なくとも２つを駆動する乙駆動部とを備え、
甲及び乙コンタクトパッド部の各パッドは、試験対象のインバータに接続され、
第１コンタクトプローブ部の各プローブは、機能試験回路に接続され、
第２コンタクトプローブ部の各プローブは、耐圧試験回路に接続され、
乙駆動部は、試験内容に応じて第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと甲コンタクトパッド部の主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第１コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと甲コンタクトパッド部の制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、あるいは第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと乙コンタクトパッド部の主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第２コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと乙コンタクトパッド部の制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続するものである。

この発明に係るインバータ試験装置においては、
複数の主回路用パッド、この主回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する主回路用パッド絶縁支持部材、複数の制御回路用パッド、及びこの制御回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する制御回路用パッド絶縁支持部材を有する甲コンタクトパッド部と、
主回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の主回路用プローブと制御回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の制御回路用プローブとをそれぞれ有する第１及び第２コンタクトプローブ部と、
第１コンタクトプローブ部、第２コンタクトプローブ部、及びコンタクトパッド部の少なくとも２つを駆動する甲駆動部とを備え、
甲コンタクトパッド部の各パッドは、試験対象のインバータに接続され、
第１コンタクトプローブ部の各プローブは、機能試験回路に接続され、
第２コンタクトプローブ部の各プローブは、耐圧試験回路に接続され、
甲駆動部は、試験内容に応じて第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第１コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、あるいは第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第２コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続するものであるので、
被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えできる。また、各プローブとパッドとを当接させて電気的に接続するので、当接方向と直角方向に相互のずれがあっても、その許容度が大きいので、製作や保守が容易である。

また、この発明に係るインバータ試験装置においては、
複数の主回路用パッド、この主回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する主回路用パッド絶縁支持部材、複数の制御回路用パッド、及びこの制御回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する制御回路用パッド絶縁支持部材をそれぞれ有する甲及び乙コンタクトパッド部と、
主回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の主回路用プローブ及び制御回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の制御回路用プローブをそれぞれ有する第１及び第２コンタクトプローブ部と、
第１及び第２コンタクトプローブ部並びに第１及び第２コンタクトパッド部の少なくとも２つを駆動する乙駆動部とを備え、
甲及び乙コンタクトパッド部の各パッドは、試験対象のインバータに接続され、
第１コンタクトプローブ部の各プローブは、機能試験回路に接続され、
第２コンタクトプローブ部の各プローブは、耐圧試験回路に接続され、
乙駆動部は、試験内容に応じて第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと甲コンタクトパッド部の主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第１コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと甲コンタクトパッド部の制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、あるいは第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと乙コンタクトパッド部の主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに第２コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと乙コンタクトパッド部の制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続するものであるので、
被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えできる。また、各プローブとパッドとを当接させて電気的に接続するので、当接方向と直角方向に相互のずれがあっても、その許容度が大きいので、製作や保守が容易である。

実施の形態１．
図１、図２は、この発明を実施するための実施の形態１を示すものであり、図１はインバータ試験装置の構成を示すもので、図１（ａ）が全体構成図、図１（ｂ）は開閉装置の非接触時のコンタクトプローブ部とコンタクトパッド部の側断面図、図３（ｃ）は開閉装置の接触時のコンタクトプローブ部とコンタクトパッド部の側断面図である。図２は開閉装置の詳細構成を示すもので、図２（ａ）は図１のコンタクトプローブ部の正面図、図２（ｂ）は図１のコンタクトパッド部の正面図である。

図１（ａ）において、被試験体であるインバータ１００は、制御回路部及び主回路部を有し、この実施の形態においては、制御回路部は定格電圧５〜２４Ｖ、主回路部の定格電圧は三相交流の４００Ｖである。インバータ１００は、開閉装置１０を介して機能試験回路１１０あるいは耐圧試験回路１２０が切り換え接続される。インバータ１００の主回路端子１０１は、電源入力、インバータ出力、ブレーキ抵抗やＤＣリアクトルの接続用端子などからなり、通常９端子程度で構成される。制御回路端子１０２は、ＲＳ４８５、ＵＳＢ等外部との通信コネクタ、制御用のデジタル・アナログ入出力端子台、拡張インターフェイスコネクタなどから構成され、高機能な製品ではその信号数が５０程度となる。機能試験時、耐圧試験時ともに各試験回路と、インバータの主回路端子１０１、制御回路端子１０２、アース端子１０３との接続が必要になる。

インバータの主回路端子１０１、制御回路端子１０２、アース端子１０３の各端子を、コンタクトパッド部６０の各パッドにケーブルにて接続している。また、コンタクトプローブ部４０の各プローブには機能試験回路１１０の対応する端子が接続されており、コンタクトプローブ部５０の各プローブには耐圧試験回路１２０の対応する端子が接続されている。開閉装置１０は、以上に述べた甲駆動部としての駆動装置２０、第１コンタクトプローブ部としてのコンタクトプローブ部４０、第２コンタクトプローブ部としてのコンタクトプローブ部５０、甲コンタクトパッド部としてのコンタクトパッド部６０を有する。なお、コンタクトプローブ部５０は、この実施の形態においては、コンタクトプローブ部４０と同じ仕様のものを使用している。

駆動装置２０は、直角方向移動台２１、この直角方向移動台２１を図１における上下方向に駆動するエアシリンダ２２、直角方向移動台２１に載置され左右方向移動台２３を図１における左右方向に駆動するエアシリンダ２４を有する。直角方向移動台２１にコンタクトプローブ部４０及びコンタクトプローブ部５０が載置されており、エアシリンダ２２により直角方向移動台２１を上下方向に駆動してコンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０の各プローブをコンタクトパッド部６０の対応するパッドに正対させ、エアシリンダ２４により左右方向移動台２３を左右方向に駆動してコンタクトパッド部６０に正対するコンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０の各プローブをコンタクトパッド部６０の正対するパッドに接触させる（詳細後述）。

このように、開閉装置１０のコンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０を選択的にコンタクトパッド部６０に正対させ、図１の左右方向に駆動することにより、被試験体であるインバータ１００の各端子と機能試験回路１１０の各端子との接続、インバータ１００の各端子と耐圧試験回路１２０の各端子との接続を切り換えることができる。なお、図示していないが、コンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０がコンタクトパッド部６０に正対するように選択されたとき、コンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０がコンタクトパッド部６０に対して正対位置にあることを検知する位置センサー、コンタクトプローブ部４０あるいはコンタクトプローブ部５０が規定の接触位置、非接触位置にあることを検知する接触位置センサーを設けている。

次に、コンタクトプローブ部４０、コンタクトプローブ部５０及びコンタクトパッド部６０の詳細構成を説明する。図１（ｂ）及び図２（ａ）において、コンタクトプローブ部４０は、プローブ絶縁支持部材本体４１、主回路用プローブ４２、制御回路用プローブ４３、プローブ側電磁遮蔽部材としてのシールドフレーム４５、プローブ側突設部４６、絶縁板４７を有する。コンタクトプローブ部４０は、プローブ絶縁支持部材本体４１、プローブ側突設部４６、絶縁板４７を絶縁材料にてモールドにより一体に製作すると同時に、主回路用プローブ４２、制御回路用プローブ４３、シールドフレーム４５をモールドにより固定支持することにより製作される。

主回路用プローブ４２は、集中して配設されている。主回路用プローブ４２は、図１（ｂ）に示すようにプローブ絶縁支持部材本体４１にモールドにより固定された主回路用プローブ固定部４２ａ及び主回路用プローブ可動部４２ｂを有する。主回路用プローブ固定部４２ａの図１（ｂ）における右方の端部は筒状部とされており、この筒状部に主回路用プローブ可動部４２ｂが摺動可能に挿入されて支持され、かつ主回路用プローブ固定部４２ａの筒状部内に図示しない皿ばねが収容されており主回路用プローブ可動部４２ｂが図１（ｂ）の左方に押されたとき圧縮されて主回路用プローブ可動部４２ｂを右方に押すばね力を与えるようにされている。

同様に、制御回路用プローブ４３は、集中して配設されている。制御回路用プローブ４３は、図１（ｂ）に示すようにプローブ絶縁支持部材本体４１にモールドにより固定された制御回路用プローブ固定部４３ａ及び制御回路用プローブ可動部４３ｂを有する。制御回路用プローブ固定部４３ａの図１（ｂ）における右方の端部は筒状部とされており、この筒状部に制御回路用プローブ可動部４３ｂが摺動可能に挿入されて支持され、かつ制御回路用プローブ固定部４３ａの筒状部内に図示しない皿ばねが収容されており制御回路用プローブ可動部４３ｂが図１（ｂ）の左方に押されたとき圧縮されて制御回路用プローブ可動部４３ｂを右方へ押すばね力を与えるようにされている。角形筒状に形成されたシールドフレーム４５は、集中して配設された主回路用プローブ４２を周回して設けられ主回路用プローブ４２を流れる電流による電磁ノイズが外部に放射され制御回路用プローブ４３その他のものに与える悪影響を軽減する。

プローブ側突設部４６はプローブ絶縁支持部材本体４１から所定方向である主回路用パッド６２の方向へ突設され各主回路用プローブ４２（主回路用プローブ固定部４２ａ、主回路用プローブ可動部４２ｂ）を個別に収容する円筒状の収容部４６ａを形成している。左側突設部４８は、プローブ絶縁支持部材本体４１からプローブ側突設部４６の突設方向と反対の方向に突設され、その収容部４８ａに主回路用プローブ固定部４２ａの端部を収容している（図１、図２（ａ））。絶縁板４７はプローブ絶縁支持部材本体４１から図３の左及び右両方向に突設された平板状のもので、制御回路用プローブ４３とシールドフレーム４５との間の絶縁を行っている。なお、この発明におけるプローブ絶縁支持部材は、プローブ絶縁支持部材本体４１及びプローブ側突設部４６を有する。
なお、コンタクトプローブ部５０は、この実施の形態においては、コンタクトプローブ部４０と全く同じものを使用している。

コンタクトパッド部６０は、パッド絶縁支持部材本体６１、主回路用パッド６２、制御回路用パッド６３、パッド側電磁遮蔽部材としてのシールドフレーム６５、パッド側突設部６６、絶縁板６７、右側突設部６８を有する。パッド側突設部６６は、パッド絶縁支持部材本体６１から図１（ｂ）の左方である主回路用プローブ４２の方向に突設され、その先端部に主回路用パッド６２が位置させて主回路用パッド６２を固定支持している。絶縁板６７は、制御回路用パッド６３とシールドフレーム６５との間にあるようにしてパッド絶縁支持部材本体６１から図３の左右方向両側に突設され、制御回路用パッド６３とシールドフレーム６５との間を絶縁している。

コンタクトパッド部６０は、パッド絶縁支持部材本体６１、パッド側突設部６６、絶縁板６７を絶縁材料にてモールドすることにより一体に製作すると同時に、主回路用パッド６２、制御回路用パッド６３、シールドフレーム６５をモールドにより固定支持することにより製作される。なお、シールドフレーム６５は、パッド絶縁支持部材本体６１にモールドにより固定支持された筒状部６５ａとこの筒状部６５ａの図１（ｂ）における左方の端部から下方（内側）に折り曲げる形で形成された板状の鋼板製の所定の弾性を有する弾性板６５ｂとを有する。筒状部６５ａは、集中して配設された主回路用パッド６２を周回して設けられ主回路用パッド６２を流れる電流による電磁ノイズが外部に放射され制御回路用パッド６３その他のものに与える悪影響を軽減する。なお、シールドフレーム６５は被試験体であるインバータ１００のアース端子１０３に接続される。この発明におけるパッド絶縁支持部材は、パッド絶縁支持部材本体６１及びパッド側突設部６６を有する。

次に、動作について説明する。機能試験時には、エアシリンダ２２にて直角方向移動台２１を駆動して、コンタクトプローブ部４０をコンタクトパッド部６０に正対させる。次に、エアシリンダ２４にて左右方向移動台２３を駆動して、コンタクトプローブ部４０をコンタクトパッド部６０に向かって移動させ、主回路用プローブ可動部４２ｂを主回路用パッド６２に当接させ電気的に接触させる。その後さらに主回路用プローブ固定部４２ａは図１（ｃ）の右方へ主回路用パッド６２に向かって所定距離駆動されるが、主回路用プローブ固定部４２ａと主回路用プローブ可動部４２ｂ間に挿入された上述の図示しない皿ばねが所定寸法圧縮されて主回路用プローブ可動部４２ｂと主回路用パッド６２間の必要とされる接触圧力を確保する。

また、制御回路用プローブ可動部４３ｂについても同様であり、制御回路用プローブ可動部４３ｂを制御回路用パッド６３に当接させ電気的に接触させる。その後さらに主回路用プローブ固定部４２ａは図１（ｃ）の右方へ制御回路用パッド６３に向かって所定距離駆動されるが、制御回路用プローブ固定部４３ａと制御回路用プローブ可動部４３ｂ間に挿入された図示しない皿ばねが所定寸法圧縮されて制御回路用プローブ可動部４３ｂと制御回路用パッド６３間の必要とされる接触圧力を確保する。

機能試験時には、各主回路端子１０１間には数百Ｖの電圧が印加されるため、主回路端子１０１間に印加される電圧に見合った絶縁が必要となる。主回路用パッド６２は、図３に示すようにパッド絶縁支持部材本体６１から突設されたパッド側突設部６６の端部に位置するようにしてパッド側突設部６６及びパッド絶縁支持部材本体６１に固定支持されており、左右方向移動台２３がエアシリンダ２４にて図１の右方に駆動され、主回路用プローブ４２の主回路用プローブ可動部４２ｂが主回路用パッド６２と接触したときには、図１（ｃ）に示すように、プローブ側突設部４６が主回路用プローブ４２と主回路用パッド６２との接触部を超えて挿入され、プローブ側突設部４６が主回路用プローブ４２と主回路用パッド６２との接触部を周回して主回路用パッド６２同士及び主回路用パッド６２とシールドフレーム６５間を絶縁する形となる。これにより、主回路用パッド６２同士及び主回路用パッド６２とシールドフレーム６５間の気中絶縁距離を大きくすることができる。

プローブ側突設部４６とパッド絶縁支持部材本体６１との間に隙間を設けた場合でも、プローブ側突設部４６が上記接触部を越えて挿入される構造とすることにより、隣接する主回路用プローブ４２間及び主回路用パッド６２とシールドフレーム６５間の十分な気中絶縁距離を確保できる。これにより、主回路用プローブ４２同士及び主回路用パッド６２とシールドフレーム６５間の距離を短くすることができ、開閉装置１０の小型化、コンパクト化が可能となる。

以上のように、主回路用プローブ４２の主回路用プローブ可動部４２ｂと主回路用パッド６２との接触及び制御回路用プローブ４３の制御回路用プローブ可動部４３ｂと制御回路用パッド６３との接触は、突き合わせ接触であり互いの移動方向（正対方向）と直交する方向の位置が多少ずれても接触を確保できるので、コンタクトプローブ部４０とコンタクトパッド部６０との位置合わせの許容度が大きく厳密な位置合わせが不要となり、製作や保守が容易である。

さらに、コンタクトプローブ部４０をコンタクトパッド部６０に押圧したとき、シールドフレーム４５はシールドフレーム６５の弾性板６５ｂと弾性的に接触するので、シールドフレーム４５と弾性板６５ｂとの良好な接触が確保できる。機能試験を行うためにインバータ１００を駆動するとき、主回路用プローブ４２や主回路用パッド６２を流れる電流は大きな電磁放射によるノイズ源となるが、シールドフレーム４５，６５が主回路用プローブ４２及び主回路用パッド６２を取り囲んでいるため、主回路用プローブ４２や主回路用パッド６２付近で発生する放射ノイズの制御回路用プローブ４３や制御回路用パッド６３をはじめとする周囲への影響を軽減することができる。

絶縁試験時、主回路とアース（シールドフレーム）間、制御回路とアース間には数千Ｖの高電圧が印加される。通常、気中絶縁距離よりも沿面絶縁距離の方を大きくとる必要があるが、本実施の形態においては、主回路用プローブ４２及び制御回路用プローブ４３を各々集中配置し、かつ、パッド側突設部６６を設けて主回路用パッド６２間及び主回路用パッド６２とシールドフレーム６５間に十分な沿面絶縁距離を確保するとともに、プローブ側突設部４６がパッド側突設部６６間に入り込んで気中絶縁距離が大きくなるようにすることにより、さらに小型化を図っている。

また、コンタクトプローブ部４０側のシールドフレーム４５と制御回路用プローブ４３間の絶縁板４７、及びコンタクトパッド部６０側のシールドフレーム６５と制御回路用パッド６３間の絶縁板６７の両者を設けることにより、制御回路用プローブ４３や制御回路用パッド６３とアース間の絶縁距離を確保している。主回路用プローブ４２及び制御回路用プローブ４３を各々集中配置し、かつ、主回路用プローブ４２同士間及び主回路用プローブ４２とアース電位となるシールドフレーム４５との間、制御回路用パッド６３とシールドフレーム６５間に上述のプローブ側突設部４６、絶縁板４７、パッド側突設部６６、絶縁板６７を配設することにより、効果的に耐圧試験時の絶縁性能を確保でき、小型化ができる。

コンタクトプローブ部４０、コンタクトパッド部６０において、主回路用プローブ４２、主回路用パッド６２の背面側から各々試験回路、被試験体への配線を引き出す。配線の引出し部分の周囲に左側突設部４８、右側突設部６８を設けているため、電線の半田付け、ネジ締め固定等、結線部分の導体が露出している場合にも隣接する主回路用プローブ４２や主回路用パッド６２間の絶縁距離が確保される。制御回路については１端子につき、１ａ（メイク）接点の高耐圧リレーを２個用いた切換手段を使用できる可能性もあるが、高耐圧リレーは大型で高価なため、制御回路の端子数が増加するにしたがってこの実施の形態の小型安価になるという優位性が高まる。また、高耐圧リレーを用いた切換手段では、リレーの接点で融着が発生した場合、誤って機能試験回路１１０に耐圧試験の電圧が印加され、試験回路を損傷するおそれがあるが、本実施の形態の開閉装置では機械的な位置関係で機能試験、耐圧試験への接続の排他性を確保しており、接点の融着による試験回路損傷のおそれがない。
さらに、コンタクトパッド部６０が１つであるため、被試験体側の余分な配線引き回しがなく、高周波の制御信号を扱う場合のインピーダンス不整合による信号劣化の影響が小さい。

実施の形態２．
図３は、実施の形態２であるインバータ試験装置の構成を示す構成図である。図３において、開閉装置１２は第１コンタクトプローブ部であるコンタクトプローブ部４０と甲コンタクトパッド部であるコンタクトパッド部６０及び第２コンタクトプローブ部であるコンタクトプローブ部５０と乙コンタクトパッド部である別のコンタクトパッド部６０を有する。インバータ１００の主回路端子１０１、制御回路端子１０２、アース端子１０３の各端子は、コンタクトパッド部６０及び別のコンタクトパッド部６０の各パッドに並列に接続されている。また、コンタクトプローブ部４０の各プローブには機能試験回路１１０の対応する端子が接続されており、コンタクトプローブ部５０の各プローブには耐圧試験回路１２０の対応する端子が接続されている。

この場合は、乙駆動部としての駆動装置７０は、図１における直角方向移動台２１及びエアシリンダ２２は不要であり、代わりにエアシリンダ２４ａまたは２４ｂによりコンタクトプローブ部４０またはコンタクトプローブ部５０が載置された左右方向移動台２３ａまたは２３ｂを図３の左右方向に駆動して、コンタクトプローブ部４０とコンタクトパッド部６０、あるいはコンタクトプローブ部５０と別のコンタクトパッド部６０とを接離する。その他の構成については、図１に示した実施の形態１と同様のものであるので、相当するものに同じ符号を付して説明を省略する。
以上のように、この実施の形態によれば、２対のコンタクトプローブ部とコンタクトパッド部が常に正対位置にあるため、コンタクトプローブ部とコンタクトパッド部との接離を操作する開閉機構が簡単で、可動部の配線の引き回しが容易である。

実施の形態３．
図４、図５は、実施の形態３であるインバータ試験装置の構成を示すものであり、図４はインバータ試験装置の構成図、図５（ａ）はコンタクトプローブ部の正面図、図５（ｂ）はコンタクトパッド部の正面図である。図４において、インバータ１００に耐圧試験回路１２０を接続するために、開閉装置１４に第２コンタクトプローブ部としてのコンタクトプローブ部８０と乙コンタクトパッド部としてのコンタクトパッド部９０を設けたものである。コンタクトプローブ部８０及びコンタクトパッド部９０は耐圧試験用であるため、図５において、図１のコンタクトプローブ部５０やコンタクトパッド部６０に比して簡略化されたものを用いている。

耐圧試験用であるため、図５に示すように、図１におけるシールドフレーム４５，６５は不要であり、アース端子８５，９５もプローブ接続とし、図１における主回路用プローブ４２、主回路用パッド６２に相当する主回路用プローブ８２、主回路用パッド９２に大電流が流れることはないため、制御回路１０１用と同じ小電流用のプローブを採用している。これらをモールド成形したプローブ絶縁支持部材本体８１、パッド絶縁支持部材本体９１にて固定支持している。主回路用プローブ８２と制御回路用プローブ８３とアース端子８５との間に絶縁板８７を設けている。主回路用パッド９２と制御回路用パッド９３とアース端子９５との間にこれらを互いに仕切る形で格子状の絶縁板９７をパッド絶縁支持部材本体９１と一体にして設けている。

なお、試験途中で接続線を外す作業を行わなくてもよいように、インバータ１００を機能試験時もコンタクトプローブ部８０及びコンタクトパッド部９０に並列に接続したままにしておく。このために、コンタクトパッド部９０の主回路用プローブ９２間には升状に絶縁板９７を設ける等で絶縁距離を確保しておく。なお、制御回路用プローブ８３は図２における制御回路用プローブ４３と同様のものであり、制御回路用パッド９３は制御回路用パッド６３と同様のものである。
以上のように、この実施の形態によれば、開閉装置が簡易な構成となり、安価にできる。
なお、以上の実施の形態においては、コンタクトパッド部６０やコンタクトパッド部９０は固定されたものを示したが、コンタクトプローブ部４０，５０，８０等を固定し、コンタクトパッド部６０やコンタクトパッド部９０を駆動するようにしてもよいし、コンタクプローブ部及びコンタクパッド部の双方を駆動するようにしてもよい。

以上のように、この発明に係るインバータ試験装置においては、
第１及び第２コンタクトプローブ部と甲コンタクトパッド部と甲駆動部とを有するものであって、
第１及び第２コンタクトプローブ部は、それぞれ複数の主回路用プローブと制御回路用プローブとプローブ絶縁支持部材とをそれぞれ有し、
プローブ絶縁支持部材は、プローブ絶縁支持部材本体とプローブ側突設部とを有し、プローブ側突設部はプローブ絶縁支持部材本体から所定方向に筒状の凹設部を形成するようにしてプローブ絶縁支持部材本体から突設されたものであり、
主回路用プローブは、凹設部内にあってプローブ側突設部により相互に絶縁された状態でプローブ絶縁支持部材に固定支持され、
制御回路用プローブは、プローブ絶縁支持部材に固定支持され、
甲コンタクトパッド部は、複数の主回路用パッドと制御回路用パッドとパッド絶縁支持部材とを有し、
パッド絶縁支持部材は、パッド絶縁支持部材本体とパッド側突設部とを有し、パッド側突設部はパッド絶縁支持部材本体から所定方向と逆方向にパッド絶縁支持部材本体から突設されたものであり、
主回路用パッドは、パッド側突設部の突設端に位置するようにしてパッド絶縁支持部材に固定支持され、
制御回路用パッドは、パッド絶縁支持部材に固定支持され、
第１コンタクトプローブ部は、機能試験回路に接続され、第２コンタクトプローブ部は耐圧試験回路に接続され、甲コンタクトパッド部は試験対象であるインバータに接続され、
甲駆動部は、第１及び第２コンタクトプローブ部と甲コンタクトパッド部とのうちの少なくとも一方を駆動して第１及び第２コンタクトプローブ部の一方と甲コンタクトパッド部とを正対させるとともに正対する第１及び第２コンタクトプローブ部の一方の主回路用プローブと主回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、かつ制御回路用プローブと制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、併せてプローブ側突設部が主回路用プローブと主回路用パッドとが最初に当接する位置を越えて主回路用パッドの間に挿入されるものであるので、
被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えできる。また、主回路用プローブは凹設部内にあってプローブ側突設部により相互に絶縁された状態でプローブ絶縁支持部材に固定支持されるので主回路用プローブ同士間の気中絶縁距離が確保することができ、プローブ側突設部が主回路用プローブと主回路用パッドとが当接する位置を越えて主回路用パッドの間に挿入されるので、主回路用パッド同士間の気中絶縁距離が確保することができるので、主回路用プローブ部及び主回路用パッド部を小型化できる。また、主回路用プローブと主回路用パッド及び制御回路用プローブと制御回路用パッドとは正対して当接するようにされているので、正対方向と直角方向に相互のずれがあっても、その許容度が大きいので、製作や保守が容易である。

また、この発明に係るインバータ試験装置においては、
第１及び第２コンタクトプローブ部と甲及び乙コンタクトパッド部と乙駆動部とを有するものであって、
第１及び第２コンタクトプローブ部は、それぞれ複数の主回路用プローブと制御回路用プローブとプローブ絶縁支持部材とをそれぞれ有し、
プローブ絶縁支持部材は、プローブ絶縁支持部材本体とプローブ側突設部とを有し、プローブ側突設部はプローブ絶縁支持部材本体から所定方向に筒状の凹設部を形成するようにしてプローブ絶縁支持部材本体から突設されたものであり、
主回路用プローブは、凹設部内にあってプローブ側突設部により相互に絶縁された状態でプローブ絶縁支持部材に固定支持され、
制御回路用プローブは、プローブ絶縁支持部材に固定支持され、
甲及び乙コンタクトパッド部は、複数の主回路用パッドと制御回路用パッドとパッド絶縁支持部材とをそれぞれ有し、
パッド絶縁支持部材は、パッド絶縁支持部材本体とパッド側突設部とを有し、パッド側突設部はパッド絶縁支持部材本体から所定方向と逆方向にパッド絶縁支持部材本体から突設されたものであり、
主回路用パッドは、パッド側突設部の突設端に位置するようにしてパッド絶縁支持部材に固定支持され、
制御回路用パッドは、パッド絶縁支持部材に固定支持され、
第１コンタクトプローブ部は、機能試験回路に接続され、第２コンタクトプローブ部は耐圧試験回路に接続され、甲及び乙コンタクトパッド部は試験対象であるインバータに接続され、
乙駆動部は、第１コンタクトプローブ部と甲コンタクトパッド部とのうちの少なくとも一方を駆動して第１コンタクトプローブ部と甲コンタクトパッド部とを正対させるとともに第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと甲コンタクトパッド部の主回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、かつ第１コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと甲コンタクトパッド部の制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、併せてプローブ側突設部が主回路用プローブと主回路用パッドとが最初に当接する位置を越えて主回路用パッドの間に挿入され、
第２コンタクトプローブ部と乙コンタクトパッド部とのうちの少なくとも一方を駆動して第２コンタクトプローブ部と乙コンタクトパッド部とを正対させるとともに第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと乙コンタクトパッド部の主回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、かつ第２コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと乙コンタクトパッド部の制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、併せてプローブ側突設部が主回路用プローブと主回路用パッドとが最初に当接する位置を越えて主回路用パッドの間に挿入されるものであるので、
被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えできる。また、主回路用プローブは凹設部内にあってプローブ側突設部により相互に絶縁された状態でプローブ絶縁支持部材に固定支持されるので主回路用プローブ同士間の気中絶縁距離が確保することができ、プローブ側突設部が主回路用プローブと主回路用パッドとが当接する位置を越えて主回路用パッドの間に挿入されるので、主回路用パッド同士間の気中絶縁距離が確保することができるので、主回路用プローブ部及び主回路用パッド部を小型化できる。また、主回路用プローブと主回路用パッド及び制御回路用プローブと制御回路用パッドとは正対して当接するようにされているので、正対方向と直角方向に相互のずれがあっても、その許容度が大きいので、製作や保守が容易である。

この発明の実施の形態１であるインバータ試験装置の構成を示すものであり、図１（ａ）は全体構成図、図１（ｂ）は開閉装置の非接触時のコンタクトプローブ部とコンタクトパッド部の側断面図、図１（ｃ）は開閉装置の接触時のコンタクトプローブ部とコンタクトパッド部の側断面図である。開閉装置の詳細構成を示すもので、図２（ａ）は図１のコンタクトプローブ部の正面図、図２（ｂ）は図１のコンタクトパッド部の正面図である。実施の形態２であるインバータ試験装置の構成を示す構成図である。実施の形態３であるインバータ試験装置の構成を示す構成図である。図５（ａ）は図４のコンタクトプローブ部の正面図、図５（ｂ）は図４のコンタクトパッド部の正面図である。

符号の説明

１０，１２，１４開閉装置、２０駆動装置、４０コンタクトプローブ部、
４１プローブ絶縁支持部材本体、４２主回路用プローブ、
４３制御回路用プローブ、４５シールドフレーム、４６プローブ側突設部、
５０コンタクトプローブ部、６０コンタクトパッド部、
６１パッド絶縁支持部材本体、６２主回路用パッド、６３制御回路用パッド、
６５シールドフレーム、６６パッド側突設部、７０駆動装置、
８０コンタクトプローブ部、８１プローブ絶縁支持部材本体、
８２主回路用プローブ、８３制御回路用プローブ、９０コンタクトパッド部、
９１パッド絶縁支持部材本体、９２主回路用プローブ、９３制御回路用パッド、
１００インバータ装置、１１０機能試験回路、１２０耐圧試験回路。

Claims

複数の主回路用パッド、この主回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する主回路用パッド絶縁支持部材、複数の制御回路用パッド、及びこの制御回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する制御回路用パッド絶縁支持部材を有する甲コンタクトパッド部と、
前記主回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の主回路用プローブと前記制御回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の制御回路用プローブとをそれぞれ有する第１及び第２コンタクトプローブ部と、
前記第１コンタクトプローブ部、前記第２コンタクトプローブ部、及び前記コンタクトパッド部の少なくとも２つを駆動する甲駆動部とを備え、
前記甲コンタクトパッド部の各パッドは、試験対象のインバータに接続され、
前記第１コンタクトプローブ部の各プローブは、機能試験回路に接続され、
前記第２コンタクトプローブ部の各プローブは、耐圧試験回路に接続され、
前記甲駆動部は、試験内容に応じて前記第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに前記第１コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと前記制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、あるいは前記第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに前記第２コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと前記制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続するものである
インバータ試験装置。
前記第１及び第２コンタクトプローブ部は、前記各主回路用プローブの周囲を囲む絶縁体を有し、
前記甲駆動部は、前記第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するときに前記第１コンタクトプローブ部の前記主回路用プローブが前記主回路用パッドに最初に当接する位置を越えて前記絶縁体が前記主回路用パッドの間に挿入される位置まで駆動し、あるいは前記第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するときに前記第２コンタクトプローブ部の前記主回路用プローブが前記主回路用パッドに最初に当接する位置を越えて前記絶縁体が前記主回路用パッドの間に挿入される位置まで駆動するものであることを特徴とする請求項１に記載のインバータ試験装置。
複数の主回路用パッド、この主回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する主回路用パッド絶縁支持部材、複数の制御回路用パッド、及びこの制御回路用パッドを相互に絶縁された状態で固定支持する制御回路用パッド絶縁支持部材をそれぞれ有する甲及び乙コンタクトパッド部と、
前記主回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の主回路用プローブ及び前記制御回路用パッドの位置に対応して配置されて相互に絶縁された複数の制御回路用プローブをそれぞれ有する第１及び第２コンタクトプローブ部と、
前記第１及び第２コンタクトプローブ部並びに前記第１及び第２コンタクトパッド部の少なくとも２つを駆動する乙駆動部とを備え、
前記甲及び乙コンタクトパッド部の各パッドは、試験対象のインバータに接続され、
前記第１コンタクトプローブ部の各プローブは、機能試験回路に接続され、
前記第２コンタクトプローブ部の各プローブは、耐圧試験回路に接続され、
前記乙駆動部は、試験内容に応じて前記第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記甲コンタクトパッド部の前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに前記第１コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと前記甲コンタクトパッド部の前記制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続し、あるいは前記第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記乙コンタクトパッド部の前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するとともに前記第２コンタクトプローブ部の制御回路用プローブと前記乙コンタクトパッド部の前記制御回路用パッドとを当接させて電気的に接続するものである
インバータ試験装置。
前記第１及び第２コンタクトプローブ部は、前記各主回路用プローブの周囲を囲む絶縁体を有し、
前記乙駆動部は、前記第１コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記甲コンタクトパッド部の前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するときに前記第１コンタクトプローブ部の前記主回路用プローブが前記甲コンタクトパッド部の前記主回路用パッドに最初に当接する位置を越えて前記絶縁体が前記主回路用パッドの間に挿入される位置まで駆動し、あるいは前記第２コンタクトプローブ部の主回路用プローブと前記乙コンタクトパッド部の前記主回路用パッドとを当接させて電気的に接続するときに前記第２コンタクトプローブ部の前記主回路用プローブが前記乙コンタクトパッド部の前記主回路用パッドに最初に当接する位置を越えて前記絶縁体が前記主回路用パッドの間に挿入される位置まで駆動するものであることを特徴とする請求項３に記載のインバータ試験装置。
前記第１コンタクトプローブ部は、前記複数の主回路用プローブと前記複数の制御回路用プローブとの間を電磁的に遮蔽するプローブ側電磁遮蔽部材を有するものであり、
前記甲コンタクトパッド部は、前記主回路用パッドと前記制御回路用パッドとの間を電磁的に遮蔽するパッド側電磁遮蔽部材を有するものであることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載のインバータ試験装置。