JP2009128113A - インバータ試験装置及びインバータ試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】耐圧試験回路と機能試験回路の接続切換えを安価に実現し、インバータ試験の生産性の向上を目的とする。
【解決手段】複数の制御回路用プローブの位置に対応して配置される複数の制御回路用パッドを絶縁支持部材に配設したコンタクトパッド部５０、及びコンタクトパッド部５０に対して、機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部３０，４０を相対的に移動当接させて切換え接続する接続切換機構１０を備え、機能試験時には機能試験用コンタクトプローブ部３０とコンタクトパッド部５０とを当接させて接続し、耐圧試験時には耐圧試験用コンタクトプローブ部４０とコンタクトパッド部５０を当接させて接続して、試験にて使用する機能試験回路及び耐圧試験回路と被試験体であるインバータ１００との接続を切換える。
【選択図】図１

Description

この発明は、インバータの耐圧試験及び機能試験を行うインバータ試験装置及びインバータ試験方法に関し、特にその配線の接続切換機構に係るものである。

インバータの機能試験では、モータあるいは擬似負荷を接続してインバータ回路を駆動させる。この際に、電源及び負荷に接続する主回路端子には数十Ａの大電流が印加される。また、インバータの耐圧試験においては、主回路端子とインバータの制御回路端子及びアース端子のうち２端子間に数千Ｖの高電圧を印加する。従来のインバータの試験では、耐圧試験と機能試験を別工程で実施していた。そのため、各々で被試験体（インバータ）と試験装置とのケーブル、コネクタの接続が必要となり、作業効率が悪い。
前述の配線接続作業の効率を改善するために、特許文献１では、圧電インバータで、高耐圧リレーを使用した切換方式をもつ試験装置がある。

特開２００２−６２３２９号公報（段落[００１４]、[００１５]及び図１）

しかし、インバータの機能試験にて必要な数十Ａの大電流を使用する機能試験回路と、耐圧試験に必要な数千Ｖの高電圧を使用する耐圧試験回路とを切り換えるための大電流と高電圧に耐える、汎用的なリレー・電磁切換機などの切換手段はない。また、インバータの制御信号（最大数Ａ程度）に使用可能な高耐圧リレーは大型であり、信号数が増えると切換回路が非常に大型になり、高価なものとなる問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、耐圧試験回路と機能試験回路の接続切換えを安価に実現し、インバータ試験の生産性の向上を目的とするものである。

この発明に係わるインバータ試験装置及びインバータ試験方法は、機能試験回路に接続される複数の主回路用及び制御回路用プローブを有する機能試験用コンタクトプローブ部、耐圧試験回路に接続される複数の主回路用及び制御回路用プローブを有する耐圧試験用コンタクトプローブ部、複数の前記主回路用プローブの位置に対応して配置される複数の主回路用パッドと、複数の前記制御回路用プローブの位置に対応して配置される複数の制御回路用パッドとを絶縁支持部材に配設したコンタクトパッド部、並びに前記コンタクトパッド部に対して、前記機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部を相対的に移動当接させて切換え接続する接続切換機構を備え、機能試験時には前記機能試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部とを当接させて接続し、耐圧試験時には前記耐圧試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部を当接させて接続して、試験にて使用する機能試験回路及び耐圧試験回路と被試験体であるインバータとの接続を切換えるようにしたものである。

また、この発明に係わるインバータ試験装置及びインバータ試験方法は、前記コンタクトパッド部と、複数の前記主回路用プローブの位置に対応して絶縁支持部材に複数の前記主回路用パッドを配設した主回路用コンタクトパッド部と、複数の前記制御回路用プローブの位置に対応して絶縁支持部材に複数の前記制御回路用パッドを配設すると共に絶縁支持部材に前記主回路用プローブを通すスルーホールを形成した制御回路用コンタクトパッ
ド部とを備え、前記制御回路用コンタクトパッド部を前記機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部に対面させ、前記制御回路用コンタクトパッド部と前記主回路用コンタクトパッド部とで２層構造を持つように構成したものである。

この発明のインバータ試験装置及びインバータ試験方法によれば、機械的な接続切換機構を持つことにより、高電圧と大電流に対応した接続切換を低コストで構築することができる。
また、この発明のインバータ試験装置及びインバータ試験方法によれば、制御回路用コンタクトパッド部にスルーホールを設け、コンタクトパッド部を制御回路用と主回路用の２層構造とすることで、主回路と制御回路の絶縁距離を確保して、接続切換機構の小形化が実現できる。

実施の形態１．
図１はこの発明の実施の形態１による被試験体であるインバータと機能試験回路及び耐圧試験回路との接続切換機構を示すブロック図である。図１において、被試験体であるインバータ１００は、内部に制御回路部及び主回路部を有し、例えば、制御回路部は定格電圧５〜２４Ｖ、主回路部の定格電圧は三相交流の４００Ｖである。インバータ１００は、接続切換機構１０を介して、機能試験回路１１０、耐圧試験回路１２０に切換接続される。インバータ１００の主回路端子１０１は、電源入力，インバータ出力，ブレーキ抵抗やＤＣリアクトル等の接続用端子であり、通常９端子にて構成される。制御回路端子１０２はＲＳ４８５及びＵＳＢ等外部とのデータ通信コネクタ，デジタル・アナログ入出力，拡張インターフェイスコネクタ等の接続用端子であり、高機能な製品では５０端子程度にて構成される。

機能試験時，耐圧試験時ともに各試験回路と、インバータの主回路端子１０１，制御回路端子１０２、アース端子１０３との接続が必要になる。インバータの主回路端子１０１，制御回路端子１０２，アース端子１０３の各端子を、コンタクトパッド部５０の各パッドにケーブルにて接続している。また、機能試験用コンタクトプローブ部３０の各プローブには機能試験回路１１０の端子のそれぞれが接続され、耐圧試験用コンタクトプローブ部４０の各プローブには耐圧試験回路１２０の端子のそれぞれが接続されている。接続切換機構１０は、駆動部としての駆動装置２０、第一コンタクトプローブ部としての機能試験用コンタクトプローブ部３０、第二コンタクトプローブ部としての耐圧試験用コンタクトプローブ部４０、コンタクトパッド部５０を有する。

駆動装置２０は、コンタクトパッド部５０を図１における上下方向に駆動させるエアシリンダ２１、機能試験用コンタクトプローブ３０を図１における左右方向に駆動させるエアシリンダ２３、耐圧試験用コンタクトプローブ部４０を図１における左右方向に駆動させるエアシリンダ２２を有する。エアシリンダ２１〜２３の駆動を組み合わせることによって、接続切換機構を構築し、エアシリンダ２１によって機能試験用コンタクトプローブ部３０あるいは耐圧試験用コンタクトプローブ部４０とコンタクトパッド部５０を正対させ、エアシリンダ２３又はエアシリンダ２２によって、機能試験用コンタクトプローブ部３０か耐圧試験用コンタクトプローブ部４０のどちらか一方をコンタクトパッド部５０へと当接させる。なお、駆動装置２０は、エアシリンダの代わりにモータとギヤ,カム等で実現してもよい。

図２（ａ）は実施の形態１による機能試験用コンタクトプローブ部又は耐圧試験用コンタクトプローブ部の側面図、図２（ｂ）は実施の形態１によるコンタクトパッド部の断面図である。図３は実施の形態１によるコンタクトプローブ部とコンタクトパッド部を接続
（当接）させたときの断面図である。コンタクトパッド部５０は、図２（ｂ）に示すように、制御回路用パッド絶縁支持部材５１、制御回路用パッド５２、及びスルーホール５３で、制御回路用コンタクトパッド部５４を構成し、主回路用パッド絶縁支持部材５５及び主回路用パッド５６で主回路用コンタクトパット部５７を構成している。制御回路用パッド５２は制御回路用パッド絶縁支持部材５１にプリントによる接点用ランドとして配置する。また、主回路用パッド５６は、主回路用パッド絶縁支持部材５５にモールドで固定し製作される。

機能試験時に印加される大電流対応のため、主回路用プローブ３２と主回路用パッド５６の接触面積を大きく確保する必要があり、主回路用プローブ３２の先端部分は制御回路用プローブ３４に比べ、大きな面積を占める。また、主回路用パッド５６径は、位置決めのクリアランスを考慮し、一段大きなものとしている。また、主回路端子(プローブ＆パッド)間の絶縁距離を確保するために主回路用パッド５６の周囲を取り囲むように絶縁体５９を配置する。

コンタクトパッド部５０の構造は、制御回路用コンタクトパッド部５４と主回路用コンタクトパッド部５７とで構成される２層構造となっている。これは耐圧試験時に印加される高電圧への絶縁対策であり、この構造を取ることによって、図３に示すように、制御回路用パッド５２と主回路用パッド５６、並びに制御回路用プローブ３４の金属面と主回路用プローブ３２の金属面の距離を稼ぐことが可能となる。絶縁対策については機能試験用コンタクトプローブ部３０との接続についてもかかわるため後述する。

なお、図２に示すように、制御回路用パッド５２をコンタクトプローブ部３０，４０側に配置、すなわち、制御回路用コンタクトパッド部５４を１層目、主回路用コンタクトパッド部５７を２層目に配置しているのは、配線の引き回しスペースの確保を考慮したものである。主回路用コンタクトパッド部５７からの配線には機能試験時に大きな電流が流れるため、主回路用コンタクトパッド部５７の背面に被覆電線等を用いて接続すれば合理的であり効果的である。もし、主回路用コンタクトパッド部５７を１層目に配置すると背面からの配線引き出しは出来ない。一方、制御回路用コンタクトパッド部５４の配線は多層基板を用いて容易に省スペースでの引き回しが実現できる。

次に、機能試験用コンタクトプローブ部３０、耐圧試験用コンタクトプローブ部４０の詳細について説明を行う。図２（ａ）において、コンタクトプローブ部３０，４０は、プローブ絶縁支持部材３１、主回路用プローブ３２、主回路プローブ用絶縁体３３、制御回路用プローブ３４、アース用プローブ３５にて構成される。主回路用プローブ３２は、プローブ絶縁支持部材３１にモールドにて固定された主回路用プローブ固定部３２ａ及び主回路用プローブ可動部３２ｂを有する。主回路用プローブ固定部３２ａは筒状となっており主回路用プローブ可動部３２ｂが摺動可能に挿入されて支持され、かつ図示しないが主回路用プローブ固定部３２ａ内部にはコイルばねが内蔵されており、主回路用プローブ可動部３２ｂが図２（ａ）における左方に押されたとき圧縮されて主回路用プローブ可能部３２ｂを右方に伸ばすばね力を与えるようにしている。

同様に、制御回路用プローブ３４は、プローブ絶縁支持部材３１にモールドにて固定された制御回路用プローブ固定部３４ａ及び制御回路用プローブ可動部３４ｂを有する。制御回路用プローブ固定部３４ａは筒状となっており制御回路用プローブ可動部３４ｂが摺動可能に挿入されて支持され、かつ図示しないが制御回路用プローブ固定部３４ａ内部にはコイルばねが内蔵されており、制御回路用プローブ可動部３４ｂが図２（ａ）における左方に押されたとき圧縮されて制御回路用プローブ可能部３４ｂを右方に伸ばすばね力を与えるようにされている。また、アース用プローブ３５は主回路用プローブ３２と同仕様のものを使用し、アース用プローブ固定部３５ａ及びアース用プローブ可動部３５ｂが対
応し、固定方法、動作ともに同じとなる。

図４（ａ）は実施の形態１による機能試験用コンタクトプローブ部又は耐圧試験用コンタクトプローブ部の正面図である。図４（ｂ）は実施の形態１によるコンタクトパッド部の１層目の正面図である。図４（ｃ）は実施の形態１によるコンタクトパッド部の２層目を見る断面図である。コンタクトプローブ部３０，４０の各種プローブの配置は、図４（ａ）に示すように、主回路用プローブ３２とアース用プローブ３５は対応するパッドの配置に合わせプローブ同志の間隔を確保しながら配置している。

主回路用コンタクトパッド部５７のパッドは機能試験時に印加される大電流に対応するため大きいサイズのものを使用している。また、主回路用パッドとアース用パッド５８間の絶縁特性を確保するため、絶縁体５９が配置されている。しかし、これに対応した主回路用プローブ３２とアース用プローブ３５の配置だと、これらのプローブ同士に隙間があくことになる。このスペースを有効利用するために主回路用プローブ３２とアース用プローブ３５の周囲には、絶縁体３３を配置して絶縁特性を確保しながら、主回路用およびアース用プローブ３２，３５の隙間を埋めるように、制御回路用プローブ３４を配置してコンパクト化を実現している。

そして、コンタクトパッド部５０、機能試験用コンタクトプローブ部３０及び耐圧試験用コンタクトプローブ部４０を駆動させて移動させることで、機能試験回路１１０及び耐圧試験回路１２０と被試験体１００の接続を切り換える。機能試験時には、エアシリンダ２１を駆動して、コンタクトパッド部５０を機能試験用コンタクトプローブ部３０に正対させる。次に、エアシリンダ２３を駆動させて、機能試験用コンタクトプローブ部３０をコンタクトパッド部５０に当接させ、電気的に接続させる。

このとき、制御回路用プローブ３４は直接、制御回路用パッド５２に接続され、主回路用プローブ３２とアース用プローブ３５はスルーホール５３を貫通した後、主回路用パッド５６とアース用パッド５８に接続される。なお図示しないが、コンタクトパッド部５０が機能試験用コンタクトプローブ部３０と正対しているかを検知する位置センサーと、コンタクトパッド部５０と機能試験用コンタクトプローブ部３０が接触する位置かどうかを検知する位置センサーを設け、接続不良を発見するようにしている。

また、耐圧試験時には、エアシリンダ２１を駆動して、コンタクトパッド部５０を耐圧試験用コンタクトプローブ部４０に正対させる。次に、エアシリンダ２２を駆動させて、耐圧試験用コンタクトプローブ部４０をコンタクトパッド部５０に当接させ、電気的に接続させる。このとき、耐圧試験用コンタクトプローブ部４０は前述の機能試験用コンタクトプローブ部３０と同様の動作にて接続を行う。なお図示しないが、コンタクトパッド部５０が耐圧試験用コンタクトプローブ部４０と正対しているかを検知する位置センサーと、コンタクトパッド部５０と耐圧試験用コンタクトプローブ部４０が接触する位置かどうかを検知する位置センサーを設け、接続の状態を監視する。

前述の機能試験用コンタクトプローブ部３０又は耐圧試験用コンタクトプローブ部４０とコンタクトパッド部５０が接続されたときには、図３に示す状態となる。このとき、主回路用プローブ可動部３２ｂが左方に摺動されるが、内部に配置しているばねにより図３における右方への接触圧力が確保する。また、制御回路用プローブ可動部３４ｂについても、接続時に左方へと摺動されるが、内部に配置されるばねによって接触圧力を確保する。

次に実施の形態１における絶縁対策について説明する。機能試験時には、各主回路端子１０１間には数百Ｖの電圧が印加され、耐圧試験時には各主回路端子とアース端子間には
数千Ｖの電圧が印加されるため、印加される電圧に見合った絶縁が必要となる。主回路用パッド５６と制御回路用パッド５２の絶縁対策として、制御回路用コンタクトパッド部５４と主回路用コンタクトパッド部５７を２層構造とすることで、気中絶縁距離を確保している。

また、主回路用プローブ３２とアース用プローブ３５の周囲には、主回路プローブ用絶縁体３３を配置し、接続時にはその絶縁体３３もスルーホール５３を貫通するような状態とすることで（図３参照）、隣接する主回路用プローブ３２との絶縁を短距離で実現し、主回路プローブ３２およびアース用プローブ３５同士が小隙間で配置可能となる。なお、主回路プローブ用絶縁体３３とスルーホール５３の直径は強く密着しない程度のクリアランスを持たせている。このことによって、耐久性の面で利点を得る。さらに、アース用プローブ３５とアース用パッド５８に関しては、図４（ｃ）に示すように、周囲を絶縁体５９で囲むことで絶縁特性を確保している。このように２層構造を取ることと絶縁体５９を用いることによって絶縁距離を確保しながらの小型化を実現している。

なお、インバータ試験で使用する高電圧経路の切換手段として、高耐圧リレーが挙げられるが、大型でコストも高く、端子数が増加すると、コストおよびサイズの面でこの発明による切換手段の優位性が高まる。また、高耐圧リレーの接点で融着が発生した場合、機能試験回路１１０に耐圧試験の高電圧が印加され、試験回路を損傷する可能性があるが、実施の形態１による切換手段は機械的な位置関係で接続切換を行うため、接点の融着による回路損傷の恐れが少ない。また、接続を行う際には、コネクタのように締り嵌めではなく、コンタクトプローブ部３０,４０とコンタクトパッド部５０は隙間嵌めとしているこ
とから、接続の繰り返しよる磨り減りなどが少なく耐久性の面で利点がある。さらに、機能試験用コンタクトプローブ部３０と耐圧試験用コンタクトプローブ部４０は同じ形状となっているため、保守・製作の面で利点となる。

実施の形態２
図５は、実施の形態２による被試験体であるインバータと機能試験回路及び耐圧試験回路との接続切換機構を示すブロック図である。なお、図中同一符号は同一又は相当部分をしめす。図５における接続切換機構１０は、前述した駆動部としての駆動装置２０、第一コンタクトプローブ部としての機能試験用コンタクトプローブ部３０、第二コンタクトプローブ部としての耐圧試験用コンタクトプローブ部４０、コンタクトパッド部としての機能試験用コンタクトパッド部６０、コンタクトパッド部としての耐圧試験用コンタクトパッド部７０を有する。

駆動装置２０は、機能試験用コンタクトプローブ部３０を図５における左右方向に駆動させるエアシリンダ２３と、耐圧試験用コンタクトプローブ部４０を図５における左右方向に駆動させるエアシリンダ２２を有する。エアシリンダ２２,２３の駆動を組み合わせ
ることによって接続切換機構を構築し、機能試験用コンタクトプローブ部３０と機能試験用コンタクトパッド部６０並びに耐圧試験用コンタクトプローブ部４０と耐圧試験用コンタクトパッド部７０とを当接し接続させる。機能試験用コンタクトプローブ部３０,耐圧
試験用コンタクトプローブ部４０,機能試験用コンタクトパッド部６０,及び耐圧試験用コンタクトパッド部については、図２〜図４にて説明した実施の形態１と同様の構成のものでよい。

実施の形態２の動作について説明する。機能試験時にはエアシリンダ２３を駆動させ、機能試験用コンタクトプローブ部３０を機能試験用コンタクトパッド部６０へと当接させる。また、耐圧試験時にはエアシリンダ２２を駆動させ、耐圧試験用コンタクトプローブ部４０を耐圧試験用コンタクトパッド部７０へと当接させ接続する。この動作のみで接続切換を行うため、機構はより単純なものとなる。また、エアシリンダ1台を機能試験用コ
ンタクトプローブ部３０と耐圧試験用コンタクトプローブ部４０の中間に配置して、機能試験用コンタクトプローブ部３０と耐圧試験用コンタクトプローブ部４０の必要とするいずれかのコンタクトプローブ部に切換え結合して、いずれかを駆動するようにしてもよい。

また、エアシリンダ２３を機能試験用コンタクトパッド部６０に駆動用とし、エアシリンダ２２を耐圧試験用コンタクトパッド部７０の駆動用とする構成にしてもよい。なお、接続を行う際の各種コンタクトプローブ部とコンタクトパッド部の動作については、実施の形態１と同様の動作である。

この発明の実施の形態１による被試験体であるインバータと機能試験回路及び耐圧試験回路との接続切換機構を示すブロック図である。 その（ａ）が実施の形態１による機能試験用コンタクトプローブ部又は耐圧試験用コンタクトプロー部の側面図、その（ｂ）が実施の形態１によるコンタクトパッド部の断面図である。 実施の形態１によるコンタクトプローブ部とコンタクトパッド部を接続（当接）させたときの断面図である。 その（ａ）が実施の形態１による機能試験用コンタクトプローブ部又は耐圧試験用コンタクトプローブ部の正面図である。その（ｂ）が実施の形態１によるコンタクトパッド部の１層目の正面図である。その（ｃ）が実施の形態１によるコンタクトパッド部の２層目を見る断面図である。 実施の形態２による被試験体であるインバータと機能試験回路及び耐圧試験回路との接続切換機構を示すブロック図である。

符号の説明

１０ 接続切換機構 ２０ 駆動装置
２１,２２,２３ エアシリンダ ３０ 機能試験用コンタクトプローブ部
３１ プローブ絶縁支持部材 ３２ 主回路用プローブ
３２ａ 主回路用プローブ固定部 ３２ｂ 主回路用プローブ可動部
３３ 主回路プローブ用絶縁体 ３４ 制御回路用プローブ
３４ａ 制御回路用プローブ固定部 ３４ｂ 制御回路用プローブ可動部
３５ アース用プローブ ３５ａ アース用プローブ固定部３５ａ
３５ｂ アース用プローブ可動部 ４０ 耐圧試験用コンタクトプローブ部

５０ コンタクトパッド部 ５１ 制御回路用パッド絶縁支持部材
５２ 制御回路用パッド ５３ スルーホール
５４ 制御回路用コンタクトパッド部 ５５ 主回路用パッド絶縁支持部材
５６ 主回路用パッド ５７ 主回路用コンタクトパット部
５８ アース用パッド ５９ 絶縁体
６０ 機能試験用コンタクトパッド部 ７０ 耐圧試験用コンタクトパッド部
１００ インバータ １０１ 主回路端子
１０２ 制御回路端子 １０３ アース端子
１１０ 機能試験回路 １２０ 耐圧試験回路

Claims (6)

1. 機能試験回路に接続される複数の主回路用及び制御回路用プローブを有する機能試験用コンタクトプローブ部、
   耐圧試験回路に接続される複数の主回路用及び制御回路用プローブを有する耐圧試験用コンタクトプローブ部、
   複数の前記主回路用プローブの位置に対応して配置される複数の主回路用パッドと、複数の前記制御回路用プローブの位置に対応して配置される複数の制御回路用パッドとを絶縁支持部材に配設したコンタクトパッド部、並びに
   前記コンタクトパッド部に対して、前記機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部を相対的に移動当接させて切換え接続する接続切換機構を備え、
   機能試験時には前記機能試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部とを当接させて接続し、耐圧試験時には前記耐圧試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部を当接させて接続して、試験にて使用する機能試験回路及び耐圧試験回路と被試験体であるインバータとの接続を切換えるようにしたことを特徴とするインバータ試験装置。
2. 前記コンタクトパッド部は、
   複数の前記主回路用プローブの位置に対応して絶縁支持部材に複数の前記主回路用パッドを配設した主回路用コンタクトパッド部と、
   複数の前記制御回路用プローブの位置に対応して絶縁支持部材に複数の前記制御回路用パッドを配設すると共に絶縁支持部材に前記主回路用プローブを通すスルーホールを形成した制御回路用コンタクトパッド部とを備え、
   前記制御回路用コンタクトパッド部を前記機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部に対面させ、前記制御回路用コンタクトパッド部と前記主回路用コンタクトパッド部とで２層構造を持つように構成したことを特徴とする請求項１記載のインバータ試験装置。
3. 前記接続切換機構は
   前記コンタクトパッド部に対して前記機能試験用コンタクトプローブ部を相対的に移動当接させるエアシリンダと、
   前記コンタクトパッド部に対して前記耐圧試験用コンタクトプローブ部を相対的に移動当接させるエアシリンダとを備えたことを特徴とする請求項１又は請求項２記載のインバータ試験装置。
4. 前記接続切換機構は
   前記コンタクトパッド部に対して前記機能試験用コンタクトプローブ部を相対的に移動当接させるエアシリンダと、
   前記コンタクトパッド部に対して前記耐圧試験用コンタクトプローブ部を相対的に移動当接させるエアシリンダと、
   前記コンタクトパッド部を移動させるエアシリンダとを備え、
   機能試験時には前記機能試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部を正対させると共に当接させ、
   耐圧試験時には前記耐圧試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部を正対させると共に当接させるようにしたことを特徴とする請求項１又は請求項２記載のインバータ試験装置。
5. 機能試験回路に接続される複数の主回路用及び制御回路用プローブを有する機能試験用コンタクトプローブ部、
   耐圧試験回路に接続される複数の主回路用及び制御回路用プローブを有する耐圧試験用コンタクトプローブ部、
   複数の前記主回路用プローブの位置に対応して配置される複数の主回路用パッドと、複数の前記制御回路用プローブの位置に対応して配置される複数の制御回路用パッドとを絶縁支持部材に配設したコンタクトパッド部、並びに
   前記コンタクトパッド部に対して、前記機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部を相対的に移動当接させて切換え接続する接続切換機構を備え、
   機能試験時には前記機能試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部とを当接させて接続し、耐圧試験時には前記耐圧試験用コンタクトプローブ部と前記コンタクトパッド部を当接させて接続して、試験にて使用する機能試験回路及び耐圧試験回路と被試験体であるインバータとの接続を切換えるようにしたことを特徴とするインバータ試験方法。
6. 前記コンタクトパッド部は、
   複数の前記主回路用プローブの位置に対応して絶縁支持部材に複数の前記主回路用パッドを配設した主回路用コンタクトパッド部と、
   複数の前記制御回路用プローブの位置に対応して絶縁支持部材に複数の前記制御回路用パッドを配設すると共に絶縁支持部材に前記主回路用プローブを通すスルーホールを形成した制御回路用コンタクトパッド部とを備え、
   前記制御回路用コンタクトパッド部を前記機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部に対面させ、前記制御回路用コンタクトパッド部と前記主回路用コンタクトパッド部とで２層構造を持つように構成したことを特徴とする請求項５記載のインバータ試験方法。

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