JP5673935B2 - 不揮発性記憶装置、電子機器 - Google Patents
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Description
1.1.不揮発性記憶装置の構成
本発明の第1実施形態について図1〜図7(B)を参照して説明する。図1は、本実施形態の不揮発性記憶装置1のブロック図である。不揮発性記憶装置1は、第1のブロック10−1、第2のブロック10−2、スイッチ20、第1の差動センスアンプ30−1〜第Nの差動センスアンプ30−N、診断回路40、参照信号源50、レジスター60、制御回路90を含む。不揮発性記憶装置1は、差動センスアンプを少なくとも1つ含み、上記のNは自然数である。N=1の場合には、第1の差動センスアンプ30−1と第Nの差動センスアンプ30−Nとは同一の差動センスアンプとなる。本実施形態では、N=4であるとする。
図2(A)、図2(B)は第1のブロック10−1と第2のブロック10−2とを説明する図である。なお、図1と同じ要素には同じ番号を付しており説明を省略する。
図3は、本実施形態の診断回路40のブロック図である。診断回路40は、センスアンプの故障診断を行うセンスアンプテスト回路41とメモリーセルの故障診断を行うメモリーセルテスト回路42とを含む。なお、制御信号107A〜107Eは、図1の制御信号107を機能別に分離したものである。
1.4.1.テストデータ
図4(A)〜図4(B)はテストデータ等のメモリーマップの例を示す図である。テストデータはセンスアンプテストで用いるデータであって、テストデータを相補するデータと合わせて用いられる。本実施形態では、テストデータは固定値の1であり、その相補データは固定値の0となる。
図5は、センスアンプテストによって差動センスアンプ30−1〜30−4の故障診断が行われる様子を示す図である。本実施形態では、不揮発性記憶装置1は差動センスアンプを4つ含む(N=4)。ここでは、図4(A)のように固定データがアドレス0x0000〜0x03FFにマッピングされているものとする。図外の制御信号等によりセンスアンプテストが実行されることが第1のブロック10−1、第2のブロック10−2に伝わると、例えばアドレス0x0000〜0x03FFの一部に対応する0番のワード線W0(以下、ワード0)が選択される。このとき、図5のTDのように、第1のブロック10−1のワード0に接続されたメモリーセルには1が記憶されている。そして、第2のブロック10−2のワード0に接続されたメモリーセルには0が記憶されている。
図6(A)〜図6(C)は、本実施形態における第1〜第3のメモリーセルテストを説明するもので、特にスイッチ20による接続状態を示している。なお、ここでは第1の差動センスアンプ30−1について例示するが、他の差動センスアンプについても同様である。第1〜第3のメモリーセルテストはセンスアンプテストに続いて行われる。故障診断の対象となるメモリーセルは、調整用データを記憶しているメモリーセルであり、例えば書き換えが行われていないとすると図4(A)のアドレス0x0400〜0x07FFに対応するそれぞれのメモリーセルである。このとき、調整用データの1ビットのデータ(注目データ)を記憶する第1のメモリーセルと、注目データを相補する相補データを記憶する第2のメモリーセルとを第1〜第3のメモリーセルテストによって故障診断する。そして、注目データを更新しながら、調整用データ(および相補するデータ)を記憶する全てのメモリーセルの故障診断を実行する。
図7(A)は、本実施形態における不揮発性記憶装置1の電源投入後におけるテストの実行状況を示す図である。電源投入後には、データの読み出しの際に共通に用いられるセンスアンプの故障診断であるセンスアンプテストがまず実行される(t0〜t1)。その後、メモリーセルテストが実行される。メモリーセルテストは調整用データのビット0から順に実行される。調整用データの1ビット分のデータに対して第1〜第3のメモリーセルテストが1サイクル毎に実行される(t1〜t2)。そして、調整用データのビット1(t2〜t3)、ビット2(t3〜t4)、ビット3(t4〜t5)、ビット4(t5〜t6)、のように順にメモリーセルテストが実行される。そして、調整用データの最後のビット511についてメモリーセルテストが実行され(t7〜t8)、その後にビット0に戻って2回目のメモリーセルテストが繰り返される(t8〜t9)。これにより、電源投入後に常時メモリーセルテストを実行する信頼性の高い故障診断を実現できる。なお、2回目のメモリーセルテストの開始前に、再びセンスアンプテストが実行されてもよい。
第1実施形態の変形例について図8を参照して説明する。なお、第1実施形態と同様の構成については、図1〜図7(B)と同一符号を付して説明を省略し相違点についてのみ説明する。
第1実施形態の適用例について図9を参照して説明する。不揮発性記憶装置1は信頼性の高い故障診断が可能であり、安全性が求められる自動車、飛行機、船舶、鉄道等に搭載される電子機器にも適用が可能である。
Claims (7)
- テストデータを含む第1のデータ群を、1ビット毎に記憶する第1のメモリーセルで構成される第1のブロックと、
前記第1のデータ群の各データを相補するデータから成る第2のデータ群を、1ビット毎に記憶する第2のメモリーセルで構成される第2のブロックと、
第1の入力信号と第2の入力信号とを受け取り、これらの差に基づく出力値を生成する、少なくとも1つの差動センスアンプと、
前記差動センスアンプの出力値を用いて故障診断を行う診断回路と、
前記第1の入力信号と前記第2の入力信号の選択、および前記診断回路の制御を行う制御回路と、
参照信号を出力する参照信号源と、
レジスターと、を含み、
前記制御回路は、
前記テストデータに基づく信号を前記第1の入力信号とし、前記第2のデータ群のうち前記テストデータを相補するデータに基づく信号を前記第2の入力信号として、前記診断回路が前記差動センスアンプの故障診断であるセンスアンプテストを実行するように制御し、
前記診断回路が、第1〜第3のメモリーセルテストを実行するように制御し、
前記第1のメモリーセルテストの場合に、前記第1のデータ群のうち前記テストデータ以外の1ビットのデータである注目データに基づく信号を前記第1の入力信号とし、前記参照信号を前記第2の入力信号とし、
前記第2のメモリーセルテストの場合に、前記参照信号を前記第1の入力信号とし、前記第2のデータ群のうち前記注目データを相補するデータである相補データに基づく信号を前記第2の入力信号とし、
前記第3のメモリーセルテストの場合に、前記注目データに基づく信号を前記第1の入力信号とし、前記相補データに基づく信号を前記第2の入力信号とし、
所与の条件を満たすまで前記第1〜第3のメモリーセルテストが繰り返されるように、前記注目データを変更し、
前記レジスターは、
前記第3のメモリーセルテストが実行される場合に、前記差動センスアンプの出力値に基づく値を保持し、
前記診断回路は、
前記差動センスアンプの全ての出力値を用いて前記センスアンプテストを実行し、
前記注目データを記憶する第1のメモリーセルの故障診断である前記第1のメモリーセルテストを実行し、
前記相補データを記憶する第2のメモリーセルの故障診断である前記第2のメモリーセルテストを実行し、
前記レジスターに保持された値を用いて、前記注目データを記憶する第1のメモリーセルおよび前記相補データを記憶する第2のメモリーセルの故障診断である前記第3のメモリーセルテストを実行する不揮発性記憶装置。 - 請求項1に記載の不揮発性記憶装置において、
前記制御回路は、
前記診断回路が、前記センスアンプテストの実行後に、前記第1〜第3のメモリーセルテストを実行するように制御し、
前記診断回路は、
前記第1のメモリーセルテストおよび前記第2のメモリーセルテストの実行後に、前記第3のメモリーセルテストを実行する不揮発性記憶装置。 - 請求項1又は2に記載の不揮発性記憶装置において、
前記テストデータは固定値である不揮発性記憶装置。 - 請求項1乃至3のいずれかに記載の不揮発性記憶装置において、
前記診断回路は、
前記第1〜第3のメモリーセルテストのそれぞれを1クロックサイクルで実行する不揮発性記憶装置。 - 請求項1乃至4のいずれかに記載の不揮発性記憶装置において、
前記診断回路は、
前記センスアンプテスト、および前記第1〜第3のメモリーセルテストのいずれか1つにおいて故障が生じたと診断した場合に、故障診断信号を変化させる不揮発性記憶装置。 - 請求項1乃至5のいずれかに記載の不揮発性記憶装置において、
前記診断回路は、
前記差動センスアンプの出力値および前記レジスターに保持された値の一方を選択して前記第3のメモリーセルテストを実行し、
電源投入後に、前記レジスターに保持されたそれぞれの値を1度だけ用いて前記第3のメモリーセルテストを行う不揮発性記憶装置。 - 請求項1乃至6のいずれかに記載の不揮発性記憶装置を含む電子機器。
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