JP5616752B2 - 2つの熱領域をそなえるチップスケール原子時計 - Google Patents

2つの熱領域をそなえるチップスケール原子時計 Download PDF

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Description

本発明は2つの熱領域をそなえるチップスケール原子時計に関する。
本願は、2010年2月4日に出願された米国仮特許出願第61/301497号の利益を主張し、この内容は参照により本明細書に組み込まれる。
米国空軍とのFA8650−01−C−1125による政府との契約条項により与えられるように、米国政府は本発明に関して一定の権利を有する。
チップスケール原子時計(Chip-Scale Atomic Clocks, CSAC)は、アルカリ金属典型的にはルビジウム(Rb)またはセシウム(Cs)の蒸気を含み、これらは気相セル内に配置される。気相セルの壁は、典型的にはガラスおよりシリコンから形成される。バイクロマティック(2波長)光学場が気相を通して送られ、コヒーレントポピュレイショントラッピング(coherent population trapping)と呼ばれる現象を用いて超微細遷移を励起する。たとえば、ルビジウムベースのCSACは、垂直共振器面発光レーザー(vertical-cavity surface-emitting laser, VCSEL)を用いてD1超微細遷移を励起することにより動作し、VCSELは798nmにおける広い吸収および3.417GHz、正確にはD1遷移周波数の半分、において変調されるラジオ周波数に調整される。
いくつかのCSACは周囲温度が変化すると不正確になることが知られている。これは、部分的には、CSACの2つの成分、気相セルおよびVCSEL、が最も安定な温度で動作するわけではないことによる。
軍事用途においてCSACを製造することに関するより挑戦的な側面の1つは、実際の軍用システムが使用中に遭遇する温度変化に対処することを含む。最も敏感な部品の温度を安定化させる試みがなされてきたが、CSACの温度敏感性はいまだ問題である。たとえば、物理パッケージの内部の部品からパッケージの壁への放射カップリングおよびガス相熱伝達は、これらの部品の温度を変化させ得る。
CSACの温度敏感性を低減するために、気相セルおよびVCSELの両方は、dFCSAC/dTcomponentがゼロになるポイントで動作するようにする必要がある。しかし、dFCSAC/dTRb−cellがゼロになる温度、およびVCSELが適切な光の波長を出力する温度は、通常異なる。これらの2つの部位を熱的に固定する従来なされていた試みにおいて、温度にわたってCSACの安定性を維持することは非常に大きな問題になり得る。
チップスケール原子時計は、物理パッケージと、物理パッケージの第1熱領域に配置されたレーザーダイと、を有する。4分の1波プレートが物理パッケージ内に取り付けられ、また、レーザーダイと光学連通するようにされる。気相セルが物理パッケージ内に取り付けられ、また、4分の1波プレートと光学連通するようにされる。気相セルは、第1熱領域から独立する第2熱領域内に配置される。光学検出器が物理パッケージ内に取り付けられ、また、気相セルと光学連通するようにされる。第1熱領域は、レーザーダイに関する第1安定ポイントにおける第1動作温度を提供し、第2熱領域は、気相セルに関する第2安定ポイントにおける第2動作温度を提供する。
以下の説明および添付図面から、本発明の特徴が当業者に明らかになるであろう。図面は典型的な実施形態だけを示し、本発明の範囲を限定するものではないことを理解されたい。本発明は、添付図面とともに追加的な特性および詳細とともに説明される。添付図面は以下の通りである。
一実施形態による、2つの熱領域を備えるチップスケール原子時計の物理パッケージの断面概略図である。 図1のチップスケール原子時計内に実装することができるホイートストンブリッジ回路を示す図である。 熱モデリングで用いられるチップスケール原子時計の物理パッケージの概略斜視図である。 図3Aの物理パッケージの概略斜視図であり、台側壁が取り除かれ、物理パッケージの内部構造が見えるようになった図である。 物理パッケージの部品を、それぞれの安定ポイントに保持するために必要なパワーを示すグラフであり、周囲温度の関数としてプロットされたグラフを示す図である。
以下の詳細な説明において、実施形態は、当業者が本発明を実施できる程度に十分に詳細に説明される。本発明の範囲から逸脱することなく、他の実施形態を用いることができることを理解されたい。それゆえ、以下の詳細な説明は限定する意図であると解釈すべきではない。
チップスケール原子時計(CSAC)は、2つの熱領域を備える構成で提供される。2つの熱領域は、CSAC内の、垂直共振器面発光レーザー(VCSEL)のようなレーザーダイのための第1熱領域と、気相セルのための第2熱領域と、を含む。第1熱領域は、レーザーダイに関する第1安定ポイントにおける第1動作温度を提供し、第2熱領域は、気相セルに関する第2安定ポイントにおける第2動作温度を提供する。
チップスケール原子計の2つの熱領域構成は、気相セルおよびレーザーダイが、それらが互いに独立に最も安定な動作ポイントで動作することが可能にする。気相セルおよびレーザーダイの温度は、ホイートストンブリッジのようなオンチップ温度センサおよびオフチップ制御装置を用いることにより安定的に維持される。
本明細書で用いられる「安定(的な)ポイント」との語は、CSACの周波数変化(dFCSAC)の、CSAC内の部品の温度の変化(dTcomponent)に対する比がゼロ(dFCSAC/dTcomponent=0)であるポイントを指す。このような安定ポイントは、CSACの2つの最も温度に敏感な部品、すなわち気相セルおよびレーザーダイ、に存在する。
いくつかの状況において、VCSELをdFCSAC/dPowerVCSEL=0の温度で動作させることが好ましいことがある。ここで、dPowerVCSELはVCSELビームのRFパワーである。一般に、dFCSAC/dTVCSEL=0の温度およびdFCSAC/dPowerVCSEL=0の温度は異なる。これらの場合、CSAC全体の安定性を最適化するにはVCSELおよび気相セルのために独立の熱領域が存在する必要がある。
図1は一実施形態による2つの熱領域構成を備えるCSAC100を示す。CSAC100は、物理パッケージ102を含み、これは、CSAC100の様々な機械部品および電子部品を収容する。これらの部品は、物理パッケージ102を組み立てる前に、ウェハレベルの微小電気機械システム(MEMS)装置として形成することができる。
図1に示されるように、CSAC100の様々な部品は、物理パッケージ102の上装置パッケージ106および下装置パッケージ108内に組み立てられる。物理パッケージ102の適切な装置パッケージは、20ピンリードレスチップキャリア(Leadless Chip Carriers, LCC−20)パッケージなどを含む。CSAC100の様々な部品が装置パッケージ106、108内に組み込まれると、装置パッケージは界面109において互いにシールされて完成したCSACを形成する。
一般に、パッケージ102内のCSAC部品は、VCSELのようなレーザーダイ110と、レーザーダイ110に光学連通する4分の1波プレート(QWP)120と、QWP120と光学連通する気相セル130と、気相セル130と光学連通する光学検出器140と、を含む。レーザーダイ100から発されるレーザービーム104は、QWP120および気相セル130を通って光学検出器140に導かれる。パッケージ102内のCSAC部品のさらなる詳細は後に説明される。
図1に示されるように、QWP120、気相セル120、および光学検出器140は、レーザービーム104の光学通路に対して様々な傾き角度でパッケージ102内に取り付けることができる。これらの部品を傾けることは、VCSELへ戻る反射カップリングを低減し、CSACの安定性をさらに増強する。
さらに、CSAC内の部品を傾けることに関する詳細は、2010年9月21日に出願された「DESIGN AND PROCESSES FOR STABILLIZING A VCSEL IN A CHIP-SCALE ATOMIC CLOCK」という表題の米国特許出願第12/887259号明細書に説明されており、この出願の開示は参照により本明細書に組み込まれる。
レーザーダイ110は、制御可能なヒーターダイ112の上表面上に取り付けられ、ヒーターダイ112は、ヒーター台113上に取り付けられる。代替的に、ヒーターダイ112は、台113に統合することができ、レーザーダイ110が台113に取り付けられる。ヒーターダイ112は、レーザーダイ110が常に安定ポイントで動作しつづけるようにするために用いられる。台113は、ポリイミド構造物で構成することができる。フォトトランジスタ114は、ヒーターダイ112の上表面上に取り付けることができ、レーザーダイ110の出力パワーを制御するために設けられる。下にあるシリコン層115が、台113の上のヒーターダイ112の下に配置される。シリコン層115は、ヒーターダイ112からQWP120までの熱経路の一部である。この熱経路は、周囲温度に関わらず一定の温度環境となるようにレーザーダイ110を囲むことを支援する。
ホイートストンブリッジ温度センサは、ヒーターダイ112内に配置され、レーザーダイ110の改良された熱的安定性のために提供される。さらに、台113内の複数の穴(図示せず)が、はんだが台113をヒーターダイ112に接続する位置に配置される。この台113内の穴は、下にあるシリコン層115へのよい熱ショートを形成し、レーザーダイ110の周りの安定な熱環境を確保するのを助ける。
レーザーダイ110の温度をさらに安定化させるために、等温ケージ116がレーザーダイ110を囲む。等温ケージ116は、QWP台122の底部から下に突き出す脚部117を含む。脚部117は台113との熱的および機械的な接触を形成する。等温ケージ116は、レーザーダイ110に関する第1安定ポイントの第1動作温度を備える第1熱領域118を形成するのに役立つ。一実施形態において、等温ケージ116は、周囲が−40℃から+65℃まで変化するときに、+/−0.004℃内で安定化されるMEMS熱ケージである。
本CSACに使用される適切な熱ケージの製造に関するさらなる詳細は、2010年9月17日に出願された「DESIGN AND PROCESSES FOR THERMALLY STABILIZING A VERTICAL CAVITY SURFACE EMITTING LASER (VCSEL) IN A CHIP-SCALE ATOMIC CLOCL」という表題の米国特許出願第12/884489号明細書に記載されており、この開示内容は参照により本明細書に組み込まれる。
QWP120は台113の上にある台122上に、等温ケージ116内の開口部の上に第1傾き角度で取り付けることができる。QWP120は、減光フィルター(neutral density filter, NDF)を備えることができる。下にあるシリコン層124は、QWP台122の中央部の下に配置される。シリコン層124は、熱的均一性を促進し、台122の底部から下の突き出すシリコン脚部117へ機械的安定性を与える。
気相セル130は、122の上にあるセル台131の上に第2傾き角度で取り付けることができる。気相セル130は、光学的に澄んだ1対のガラスウェハ132、134を含み、シリコンウェハのような基板136の両端に陽極接合される。例示的なガラスウェハは、パイレックス(登録商標)ガラスまたは類似のガラスを含む。気相セル130内に画定される少なくとも1つのチャンバ138は、レーザーダイ110と光学検出器140との間の、レーザーダイ110から発されるレーザービーム104のための光学通路139を提供する。
パッケージ102内に組み込む前に気相セル130を製造する1つのアプローチにおいて、ガラスウェハ132は、基板136のベース側に最初に接合され、その後、ルビジウムまたは他のアルカリ金属(液体または固体の形態)がチャンバ138内に入れられる。ガラスウェハ134が、その後、シリコンウェハ136の反対側に接合され、気相セル130を形成する。バッファガスが用いられる場合、気相セル130の部品を含む製造装置は排気され、その後、バッファガスがチャンバ138に導入される。気相セル130をシールするための接合が完了すると、アルカリ金属および補助的なバッファガスは、チャンバ138内にトラップされる。
ヒーター(図示せず)が、製造中に気相セル130の周りに形成される。このヒーターは、気相セル130が常に安定ポイントで動作することを維持するのに役立ち、気相セル130に関する第2安定ポイントである第2動作温度を備える第2熱領域141を維持するのに役立つ。ホイートストンブリッジ温度センサがヒーター内に配置され、気相セル130の改良された熱的安定性を提供する。
本CSACに使用する好適な気相セルの製造に関するさらなる詳細は、2010年9月10日に出願された「FABRICATION TECHNIQUES TO ENHANCE PRESSURE UNIFORMITY IN ANODICALLY BONDED VAPOER CELL」という表題の米国特許出願第12/879394号明細書、2010年9月1日に出願された「APPARATUS AND METHODS FOR ALKALI VAPOR CELLS」という表題の米国特許出願第12/873441号明細書に説明されており、これらの開示は参照により本明細書に組み込まれる。
図1に示されるように、レーザーダイ110、QWP120、および気相セル130に関する上述の部品は、物理パッケージ102の装置パッケージ106内に取り付けられる。光学検出器140は、装置パッケージ108内に取り付けられ、装置パッケージ106および108が互いに真空シールされたときに、光学検出器140が気相セル130と光学連通するようにされる。光検出器140は、光学信号を電気信号に変換する、フォトダイオードのような光検出器を含むことができる。
光学検出器140は、第3傾き角度で、電子機器ヒーター142の下表面に取り付けることができ、電子機器ヒーターは、装置パッケージ108の内壁に取り付けられる電子機器台144上に取り付けられる。増幅器、キャパシター、レジスター、等の様々な他の表面に取り付けられる部品145は、ヒーター142の下表面に取り付けることができる。補助的な電子機器ヒーターダイ146は、ヒーター142の反対側上の台144に取り付けられる。ゲッタダイ148が、装置パッケージ108の光学検出器140から離れた他の内壁に固定される。
図2は、図1のチップスケール原子時計内の温度センサとして実装できるホイートストンブリッジ回路200を示している。一実施形態において、ホイートストンブリッジは、4つのMEMSにより製造された温度に敏感な抵抗の1組であり、これらは装置(たとえば、Rb気相セル、VCSELヒーター、VCSEL台)上に直接的にパターン形成される。ホイートストンブリッジは、特定の温度のときにだけゼロボルト信号を出力する。ホイートストンブリッジ回路200は、NiCr抵抗のようなレーザートリム可能な抵抗R1およびR4、および、プラチナ抵抗のような温度感知抵抗R2およびR3を備えるように実装することができる。随意選択で、温度感知抵抗R2およびR3はレーザートリム可能であってもよい。
マイクロプロセッサ202は、デジタルアナログ変換器(DAC)204を通してホイートストンブリッジ回路200に作動的に連結され、DAC204は、抵抗器R5およびR6に接続される。ホイートストンブリッジ回路200の正および負の端子は、増幅器208に連結され、ここを通して信号は装置のヒーターに伝達される。
製造変動(Manufacturing Variability)
前述の物理パッケージの2つの熱領域構成は、気相セルおよびVCSELの動作温度を、それぞれの安定ポイントに設定し、それぞれが熱変動に不感応になるようにする。さらに、VCSELは、CSACの出力周波数がVCSELの出力パワーの変動に不感応になる温度で動作することができる。物理パッケージ内の2つの独立した熱領域で動作させることにより、組み立て後の各ウェハの大きな部分から気相セルを受け入れることを可能にし、また、好ましい動作温度の広い範囲を備えるVCSELを受け入れることができるようになる。各ウェハからの多くのダイを受け入れることは、製造効率を向上させ、コストを低減することを可能にする。このような大きな容積、小さなコストでの製造は、2つの熱領域設計により提供され、製造の変動に大きく寛容である。
一般に、気相セルおよびVCSELは、非常に狭い許容できるプロセス変動を備える。2つの熱領域設計であっても、できるだけ製造変動を狭くすることが望ましい。Rbセルのような気相セルにおける製造変動を扱う方法が以下に説明される。
始めに、バッファガスブレンドおよび陽極接合装置内の圧力が制御され、製造中の各ウェハにわたって、Rbセルの温度安定ポイントが約110℃+/−15℃になるように制御される。例示的な一プロセスにおいて、バッファガスブレンドは、全圧180Torrの、42.2%の窒素ガスおよび57.8%のアルゴンガスとすることができる。ウェハレベルにおいて(例えば、各ウェハ上の609Rb気相セル)、各セルの安定ポイントの正確な温度が、約+/−2℃の範囲内で測定および記録される。ウェハレベルにおいて、ホイートストンブリッジが唯一の安定ポイントになるように、ホイートストンブリッジ温度センサが各Rbセル上に形成される。
各物理パッケージが排気されて完全に組み立てられた後、Rbセルの温度は、dFCSAC/dTRb−Cellがゼロになるように設定される。これは、図2に示されるホイートストンブリッジ回路を用いてマイクロプロセッサ制御により行うことができる。決定されたら、基板上メモリに全ての温度設定ポイントを記憶させる。
熱モデリング(Thermal Modeling)
CSAVの有限要素モデル(Finite Element Modeling, FEM)イメージを用いて、熱モデルシミュレーションが行われた。これは、組み立てられた物理パッケージの様々な部品を通って熱がどのように伝達されるかを示すものであり、また、周囲温度が−40℃であるときの物理パッケージ内の温度プロファイルを示すものである。図3Aは、熱モデリングに用いられる組み立てられた物理パッケージ300の概略図である。図3Bは、物理パッケージ300を示し、側壁台が取り除かれ、物理パッケージ300の内部構造が見える図である。
物理パッケージ300は、4分の1波プレート306の上にある台頂部304にRbセル392を含む。4分の1波プレート306は、VCSEL(図示せず)を囲む等温ケージ308の上にある。物理パッケージ300の台310はポリイミド構造を含み、また、ポリイミド構造上にパターン形成された相互接続される金属リードを含む。
熱モデリングにおいて、VCSELおよび等温ケージは、96.70℃(このシミュレーションにおいてVCSELの動作温度として仮定された温度)に設定され、Rbセルは105.72℃(仮定された安定ポイント)に設定された。VCSELの熱インピーダンス、およびRbセルの熱インピーダンスは独立に最適化された。
熱モデリングは黒体放射を考慮に入れ、また、CSACの様々な部品の全てのレイヤーの熱特性を考慮した。物理パッケージのバックグラウンドの圧力は、1mTorrより小さいと仮定され、ガス相伝導を通じた熱損失は1.4mWより小さくなる。台の頂部および側壁の熱放射率は0.2と仮定された。
表1は、どれくらいの全熱損失が黒体放射を通じて消散するかを示しており(5mWより大きい)、また、どれくらいポリイミド構造を通って伝達するかを示し(ほぼ2.4mW)、また、ポリイミド構造上のパターン形成された金属リードを通ってどれくらい損失するかを示しており(0.1mWより小さい)、また、Rbセル内のガス相を通じてどれくらい損失するかを示している(1.40mW)。
Figure 0005616752
このアプローチは、CSACパワー供給を10mWより小さく維持することを可能にする。パワー供給は、CSAC内の台の熱放射率に敏感な関数である。熱放射率を0.2に維持するために台の内壁を金コーティングすることにより、および、物理パッケージ内の圧力を1mTorrより低く維持するためにゲッタを導入することにより、パワー供給を10mWより小さく維持することを助けることができる。
図4のグラフにおいて、物理パッケージの部品をそれぞれの安定ポイントに維持するのに必要なパワーが周囲温度の関数としてプロットされている。このグラフに示されるように、−40℃の周囲温度において、必要な全パワーは8.90mWである。74.2℃より上の周囲温度において、VCSELを加熱するのに必要なパワーは負になり、これは、CSACの温度の上限に到達したことを示している。
本発明は、本発明の本質的な特徴から逸脱することなく他の具体的な形態において実施化することができる。説明された実施形態は単に説明的なものであり、制限的なものではないと理解されたい。それゆえ、本発明の範囲は、上述の説明ではなく添付の特許請求の範囲により示される。特許請求の範囲の趣旨および均等の範囲内におけるあらゆる変形は、本発明の範囲内にある。

Claims (4)

  1. チップスケール原子時計であって、
    物理パッケージと、
    前記物理パッケージの第1熱領域に配置されるレーザーダイと、
    前記レーザーダイを囲む等温ケージと、
    前記物理パッケージ内に取り付けられ且つ前記レーザーダイと光学連通する4分の1波プレートと、
    前記物理パッケージ内に取り付けられ且つ前記4分の1波プレートと光学連通する気相セルと、を有し、前記気相セルは前記第1熱領域から独立した第2熱領域に配置され、
    前記チップスケール原子時計はさらに、前記物理パッケージ内に取り付けられ且つ前記気相セルに光学連通する光学検出器を有し、
    前記第1熱領域は、前記レーザーダイに関する第1安定ポイントにおける第1動作温度を提供し、前記第2熱領域は、前記気相セルに関する第2安定ポイントにおける第2動作温度を提供
    前記等温ケージは、前記第1熱領域を前記第1動作温度に維持するように構成される、チップスケール原子時計。
  2. 請求項1に記載のチップスケール原子時計であって、前記レーザーダイは垂直共振器面発光レーザーを有し、且つ、前記物理パッケージ内のヒーターダイ上に取り付けられる、チップスケール原子時計。
  3. 請求項2に記載のチップスケール原子時計であって、前記等温ケージは、前記レーザーダイおよび前記ヒーターダイを囲む、チップスケール原子時計。
  4. チップスケール原子時計を製造する方法であって、前記方法は、
    上装置パッケージおよび下装置パッケージを含む物理パッケージを提供することと、
    レーザーダイを前記下装置パッケージ内に取り付けることと、
    前記レーザーダイの周りに等温ケージを形成することと、を含み、前記等温ケージは、前記物理パッケージ内に、前記レーザーダイに関する第1安定ポイントにおける第1動作温度を提供する第1熱領域を形成するように構成され、
    前記方法はさらに、4分の1波長プレートが前記レーザーダイと光学連通するように、第1傾き角度で前記レーザーダイの上に前記4分の1波長プレートを取り付けることと、
    気相セルが前記4分の1波長プレートと光学連通し、且つ、前記第1熱領域から独立する第2熱領域内に位置するように、第2傾き角度で前記4分の1波長プレートの上に前記気相セルを取り付けることと、を含み、前記第2熱領域は、前記気相セルに関する第2安定ポイントにおける第2動作温度を提供し、
    前記方法はさらに、前記上装置パッケージおよび前記下装置パッケージが互いに真空シールされるとき、光学検出器が前記気相セルと光学連通するように、第3傾き角度で前記上装置パッケージ内に前記光学検出器を取り付けること、を含む、方法。
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