JP5614935B2 - 気化器、この気化器を用いたmocvd用気化器、これら気化器若しくはmocvd用気化器に用いられるセンターロッド、及びキャリアガスの分 - Google Patents
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- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 title claims description 104
- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 title claims description 58
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 title claims description 21
- 238000009826 distribution Methods 0.000 title description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 117
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 98
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 66
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 64
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 24
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 claims description 17
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 15
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 claims description 11
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 claims description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 9
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005304 joining Methods 0.000 claims description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 27
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 23
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 23
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 21
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 13
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 8
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 8
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 125000002524 organometallic group Chemical class 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 2
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
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- H—ELECTRICITY
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Description
前記冷却部と前記冷却部材は、少なくとも薄膜形成材料供給部から前記ガス通路の下流端付近に跨って配置されていることを特徴とする。
ロッドに配置した冷却部材とで少なくとも薄膜形成材料供給部から前記ガス通路の下流端付近に跨って冷却しつつ前記合流部に前記薄膜形成材料を分散させたキャリアガスを案内することを特徴とする。
また、請求項2、9、10では、前記ガス通路と気化管との間に、該ガス出口の外側に該ガス出口の断面積よりも小さな断面積を有する孔を有する輻射防止部を備えていることを特徴とする。
2…分散器(分散部本体)
3…反応管
4…ヒータ
5…ガス通路
5a…始端上流口
5b…終端噴射口(合流部)
6…冷却通路
7…センターロッド
8…ピン
9…ピン
10…供給部
11…ガスボンベ
12…酸素ボンベ
13…貯水タンク
14…リザーブタンク
15…リザーブタンク
16…リザーブタンク
17…リザーブタンク
18…ガス供給管
18b…マスフローコントローラ
18b…マスフローコントローラ
19…酸素供給管
19a…バルブ
19b…マスフローコントローラ
19c…バルブ
20…給水管
20a…バルブ
21…配水管
22…液体供給管
22a…バルブ
22b…マスフローコントローラ
22c…バルブ
23…液体供給管
23a…バルブ
23b…マスフローコントローラ
23c…バルブ
24…液体供給管
24a…バルブ
24b…マスフローコントローラ
24c…バルブ
25…液体供給管
25a…バルブ
25b…マスフローコントローラ
25c…バルブ
26…多岐管
26a…バルブ
26b…バルブ
26c…バルブ
26d…バルブ
26e…エアパージ
26f…バルブ
27…薄膜形成材料供給部
28…薄膜形成材料供給部
29…薄膜形成材料供給部
30…薄膜形成材料供給部
31…接続部
32…接続部
33…冷却システム
35…センターロッド
35a…冷却部材挿入穴
35b…ガイド溝
36…冷却部材
37…輻射防止部
38…シール部材
39…シール部材
Claims (11)
- 分散部本体に形成されたキャリアガス導入穴の全長に跨って挿入されて該キャリアガス導入穴の内壁との協働によりガス通路を形成するセンターロッドと、前記分散部本体の複数個所に形成されて前記ガス通路の中途部に複数の薄膜形成材料を供給する薄膜形成材料供給部と、前記分散部本体の前記キャリアガス導入穴の外周側に配置されて前記ガス通路内を冷却する冷却部と、前記センターロッドの軸線方向に沿い且つ前記センターロッドの略全長に跨って形成された冷却部材挿入穴と、該冷却部材挿入穴内に配置されて前記センターロッドを冷却する冷却部材と、を備え、
前記冷却部と前記冷却部材は、少なくとも薄膜形成材料供給部から前記ガス通路の下流端付近に跨って配置されていることを特徴とする気化器。 - 前記ガス通路と気化管との間に、該ガス出口の外側に該ガス出口の断面積よりも小さな断面積を有する孔を有する輻射防止部を備えていることを特徴とする請求項1記載の気化器。
- 請求項1又は2記載の気化器に隣接して前記分散部本体で複数の薄膜形成材料を分散させたキャリアガスを気化する気化部を設けたことを特徴とするMOCVD用気化器。
- 請求項1又は2記載の気化器若しくは請求項3に記載のMOCVD用気化器に使用されるセンターロッドであって、
前記センターロッドの外周に形成され且つ適用する薄膜形成材料と1対1で対応した複数のガイド溝を備えていることを特徴とするセンターロッド。 - 前記冷却部材が、略円筒形状のペルチェ素子であることを特徴とする請求項4に記載のセンターロッド。
- 前記冷却部材が、前記冷却部材挿入穴に吸熱部を配置したヒートパイプであることを特徴とする請求項4に記載のセンターロッド。
- 前記冷却部材が、ポンプを介して冷却水が給排水される螺旋状又は略U字状の冷水パイプであることを特徴とする請求項4に記載のセンターロッド。
- 前記冷却部材は、前記センターロッドに着脱可能に挿入されていることを特徴とする請求項4乃至請求項7のいずれか1項に記載のセンターロッド。
- 分散部本体に形成されたキャリアガス導入穴の内壁と該キャリアガス導入穴に挿入されたセンターロッドとの間に形成されたガス通路に複数の薄膜形成材料を分散させたキャリアガスを導入すると共に、該薄膜形成材料を分散させたキャリアガスを前記分散部本体に配置した冷却部と前記センターロッドに配置した冷却部材とで
少なくとも薄膜形成材料供給部から前記ガス通路の下流端付近に跨って冷却しつつ前記ガス通路内を搬送することを特徴とするキャリアガスの冷却分散方法。 - 分散部本体に形成されたキャリアガス導入穴の内壁と該キャリアガス導入穴に挿入されたセンターロッドとの間に形成されたガス通路にキャリアガスを導入すると共に、前記ガス通路の中途部複数箇所から薄膜形成材料を導入してキャリアガスに前記薄膜形成材料を分散させた後に、前記ガス通路の下流端部に配置されたセンターロッド先端によって互いに接近する方向に案内される合流部にて前記薄膜形成材料を分散させたキャリアガスを合流させた後に気化するキャリアガスの気化方法であって、
少なくとも前記ガス通路の中途部複数箇所から導入された薄膜形成材料を分散させたキャリアガスを、前記分散部本体に配置した冷却部と前記センターロッドに配置した冷却部材とで
少なくとも薄膜形成材料供給部から前記ガス通路の下流端付近に跨って冷却しつつ前記合流部に前記薄膜形成材料を分散させたキャリアガスを案内することを特徴とするキャリアガスの気化方法。 - 前記ガス通路と気化管との間に、該ガス出口の外側に該ガス出口の断面積よりも小さな断面積を有する孔を有する輻射防止部を備えていることを特徴とする請求項9に記載のキャリアガスの冷却分散方法又は請求項10に記載のキャリアガスの気化方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009023063A JP5614935B2 (ja) | 2009-02-03 | 2009-02-03 | 気化器、この気化器を用いたmocvd用気化器、これら気化器若しくはmocvd用気化器に用いられるセンターロッド、及びキャリアガスの分 |
PCT/JP2010/051054 WO2010090112A1 (ja) | 2009-02-03 | 2010-01-27 | 気化器、この気化器を用いたmocvd用気化器、これら気化器若しくはmocvd用気化器に用いられるセンターロッド、及びキャリアガスの分散方法並びにキャリアガスの気化方法 |
KR20117020560A KR20120005440A (ko) | 2009-02-03 | 2010-01-27 | 기화기, 이 기화기를 사용한 mocvd 용 기화기, 이들 기화기 혹은 mocvd 용 기화기에 사용되는 센터 로드, 및 캐리어 가스의 분산 방법 그리고 캐리어 가스의 기화 방법 |
US13/147,668 US8897627B2 (en) | 2009-02-03 | 2010-01-27 | Carburetor, carburetor for MOCVD using same, center rod for use in the carburetor or carburetor for MOCVD, method for dispersing carrier gas, and method for vaporizing carrier gas |
KR1020167029843A KR20160128441A (ko) | 2009-02-03 | 2010-01-27 | 기화기, 이 기화기를 사용한 mocvd 용 기화기, 이들 기화기 혹은 mocvd 용 기화기에 사용되는 센터 로드, 및 캐리어 가스의 분산 방법 그리고 캐리어 가스의 기화 방법 |
US14/520,457 US9108120B2 (en) | 2009-02-03 | 2014-10-22 | Method for cooling and dispersing a carrier gas, and method for vaporizing a carrier gas |
US14/520,537 US9020332B2 (en) | 2009-02-03 | 2014-10-22 | Center rod for use in the carburetor or carburetor for MOCVD |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009023063A JP5614935B2 (ja) | 2009-02-03 | 2009-02-03 | 気化器、この気化器を用いたmocvd用気化器、これら気化器若しくはmocvd用気化器に用いられるセンターロッド、及びキャリアガスの分 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014108382A Division JP2014159644A (ja) | 2014-05-26 | 2014-05-26 | 気化器、この気化器を用いたmocvd用気化器、これら気化器若しくはmocvd用気化器に用いられるセンターロッド、及びキャリアガスの分散方法並びにキャリアガスの気化方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010180433A JP2010180433A (ja) | 2010-08-19 |
JP5614935B2 true JP5614935B2 (ja) | 2014-10-29 |
Family
ID=42542012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009023063A Expired - Fee Related JP5614935B2 (ja) | 2009-02-03 | 2009-02-03 | 気化器、この気化器を用いたmocvd用気化器、これら気化器若しくはmocvd用気化器に用いられるセンターロッド、及びキャリアガスの分 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8897627B2 (ja) |
JP (1) | JP5614935B2 (ja) |
KR (2) | KR20160128441A (ja) |
WO (1) | WO2010090112A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5993363B2 (ja) * | 2011-02-28 | 2016-09-14 | 株式会社渡辺商行 | 気化器および気化方法 |
KR20160147482A (ko) * | 2015-06-15 | 2016-12-23 | 삼성전자주식회사 | 가스 혼합부를 갖는 반도체 소자 제조 설비 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4111365A (en) * | 1973-12-26 | 1978-09-05 | Isuzu Motors Limited | Fuel injection system and its nozzle holder |
TW322602B (ja) * | 1996-04-05 | 1997-12-11 | Ehara Seisakusho Kk | |
JP3913841B2 (ja) * | 1997-07-02 | 2007-05-09 | 本田技研工業株式会社 | 噴射弁 |
JP3470055B2 (ja) * | 1999-01-22 | 2003-11-25 | 株式会社渡邊商行 | Mocvd用気化器及び原料溶液の気化方法 |
JP5016416B2 (ja) * | 2001-01-18 | 2012-09-05 | 株式会社渡辺商行 | 気化器及び気化方法 |
US7246796B2 (en) * | 2001-01-18 | 2007-07-24 | Masayuki Toda | Carburetor, various types of devices using the carburetor, and method of vaporization |
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JP4192008B2 (ja) | 2003-02-18 | 2008-12-03 | 株式会社渡辺商行 | 気化器及び気化器の洗浄方法並びに気化器を用いた装置 |
JP2004273766A (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Watanabe Shoko:Kk | 気化装置及びそれを用いた成膜装置並びに気化方法及び成膜方法 |
JP2005072194A (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-17 | Watanabe Shoko:Kk | 気化器用分散器、この気化器用分散器を用いたmocvd用気化器、これら気化器用分散器若しくはmocvd用気化器に用いられるロッド、及びキャリアガスの分散方法並びにキャリアガスの気化方法 |
JP2005072195A (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-17 | Watanabe Shoko:Kk | 気化器用分散器、この気化器用分散器を用いたmocvd用気化器、及びキャリアガスの気化方法 |
JP5993363B2 (ja) * | 2011-02-28 | 2016-09-14 | 株式会社渡辺商行 | 気化器および気化方法 |
-
2009
- 2009-02-03 JP JP2009023063A patent/JP5614935B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-01-27 KR KR1020167029843A patent/KR20160128441A/ko not_active Application Discontinuation
- 2010-01-27 US US13/147,668 patent/US8897627B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-01-27 WO PCT/JP2010/051054 patent/WO2010090112A1/ja active Application Filing
- 2010-01-27 KR KR20117020560A patent/KR20120005440A/ko active Application Filing
-
2014
- 2014-10-22 US US14/520,457 patent/US9108120B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-10-22 US US14/520,537 patent/US9020332B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20120005440A (ko) | 2012-01-16 |
US9020332B2 (en) | 2015-04-28 |
US9108120B2 (en) | 2015-08-18 |
KR20160128441A (ko) | 2016-11-07 |
WO2010090112A1 (ja) | 2010-08-12 |
US20150053137A1 (en) | 2015-02-26 |
US8897627B2 (en) | 2014-11-25 |
JP2010180433A (ja) | 2010-08-19 |
US20150069642A1 (en) | 2015-03-12 |
US20120040098A1 (en) | 2012-02-16 |
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