JP5606726B2 - 試料ホルダ及び試料取り付け取り外し治具 - Google Patents

試料ホルダ及び試料取り付け取り外し治具 Download PDF

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本発明は、薄膜試料作製装置に用いられ、ホルダ面を有し、前記試料ホルダ面に薄膜加工される試料を保持する試料ホルダおよび該試料ホルダに用いられる試料取り付け取り外し治具に関する。
透過電子顕微鏡(TEM)で観察される薄膜試料を作製する装置として、イオンビームを試料ホルダ上に固定された試料に照射し、試料を研磨する薄膜作製装置が用いられる(例えば、特許文献1参照)。
試料ホルダへの試料の取り付けは、試料と試料ホルダとの間にワックスを配置し、試料ホルダを加熱し、溶けたワックスが固まることで行っている。
また、試料ホルダからの試料の試料の取り外しも、試料ホルダを加熱し、ワックスを溶かすことで行っている。
特開2007-333682号公報
イオンビームの加工時の熱で物性が変化する試料は、試料ホルダを冷却しながら研磨を行う必要がある、しかし、ワックスを用いて試料を試料ホルダに取り付けた場合、試料ホルダを冷却するとワックスが硬くなって試料の保持力がなくなり、試料が脱落する問題点がある。
また、ワックスに含まれる溶剤成分を嫌う試料の場合、試料ホルダに取り付けができない問題点もある。
次に、試料ホルダへの試料の取り付け、試料ホルダからの試料の取り外しは、ワックスの加熱が必要であり、時間がかかる問題点がある。また、試料が試料ホルダに対してずれて固定される場合がある。その際、やり直しをする場合には、更に時間がかかる問題点がある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その第1の課題は、試料ホルダを冷却しても、試料が外れない試料ホルダを提供することにある。
また、第2の課題は、短時間で試料の取り付け、取り外しができる試料取り付け取り外し治具を提供することにある。
上記課題を解決する請求項1に係る発明は、薄膜試料作製装置に用いられ、試料ホルダ本体にホルダ面を有し、前記ホルダ面に薄膜加工される試料を保持する試料ホルダにおいて、前記ホルダ面と交差する方向に移動可能なように前記試料ホルダに設けられ、前記ホルダ面に載置された前記試料の前記ホルダ面と対向する面と反対側の面に当接/離反可能なクランプ爪を有するクランプ手段と、該クランプ手段のクランプ爪が前記試料に当接する方向に付勢する付勢手段と、を有し、前記クランプ手段は、前記試料ホルダ本体の両側面を挟み込むように設けられた第1及び第2クランプからなり、前記第1クランプは、前記試料ホルダの一方の側面に設けられた直線状のガイド溝に移動可能に係合して設けられた板状の第1クランプ本体と、前記第1クランプ本体の先端に設けられ、前記試料の一方の側に当接可能な第1クランプ爪と、前記第1クランプ本体の他端に設けられた第1折曲部と、からなり、前記第2クランプは、前記第1クランプと独立して移動可能で、前記試料ホルダの他方の側面に設けられた直線状のガイド溝に移動可能に係合して設けられた板状の第2クランプ本体と、前記第2クランプ本体の先端に設けられ、前記試料の他方の側に当接可能な第2クランプ爪と、前記第2クランプ本体の他端に設けられた第2折曲部と、からなり、前記付勢手段は、前記第1クランプの前記第1折曲部と前記試料ホルダ本体との間に設けられ、前記第1クランプを付勢する第1付勢手段と、前記第2クランプの前記第2折曲部と前記試料ホルダ本体との間に設けられ、前記第2クランプを付勢する第2付勢手段と、からなることを特徴とする試料ホルダである。
付勢手段で付勢されたクランプ手段のクランプ爪は、試料ホルダのホルダ面に載置された試料に当接し、試料を試料ホルダのホルダ面に固定する
請求項に係る発明は、前記請求項1記載の試料ホルダに用いられる試料取り付け取り外し治具であって、前記ホルダ面が水平となるように前記試料ホルダを固定するホルダ固定部と、前記付勢手段の付勢力に抗して、前記クランプ爪が前記試料より離反する方向に前記クランプ手段を駆動するクランプ手段駆動部と、を有することを特徴とする試料取り付け取り外し治具である。
請求項1に係る発明によれば、前記ホルダ面と交差する方向に移動可能なように前記試料ホルダに設けられ、前記ホルダ面に載置された前記試料の前記ホルダ面と対向する面と反対側の面に当接/離反可能なクランプ爪を有するクランプ手段と、該クランプ手段のクランプ爪が前記試料に当接する方向に付勢する付勢手段と、を有することにより、付勢手段で付勢されたクランプ手段のクランプ爪は、試料ホルダのホルダ面に載置された試料に当接し、試料を試料ホルダのホルダ面に固定する。よって、試料ホルダを冷却しても、試料が外れない。
また、付勢手段の付勢力に抗してクランプ手段を移動させるだけでよいので、短時間で試料の取り付け、取り外しができる。
更に、ワックスを用いないので、ワックスに含まれる溶剤成分を嫌う試料であっても、試料ホルダに取り付けることができる。
記クランプ手段は、前記試料の一方の側に当接可能な第1クランプ爪を有する第1クランプと、前記試料の他方の側に当接可能な第2クランプ爪を有する第2クランプと、からなることにより、クランプ爪が試料の両側に当接するので、試料ホルダへの試料の取り付けが安定する。
請求項に係る発明によれば、前記ホルダ面が水平となるように前記試料ホルダを固定するホルダ固定部と、前記付勢手段の付勢力に抗して、前記クランプ爪が前記試料より離反する方向に前記クランプ手段を駆動するクランプ手段駆動部とを有することで、短時間で試料の取り付け、取り外しができる。
実施形態の試料ホルダの左側面図である。 正面図である。 図2の右側から見た断面図で図4の切断線D−Dでの断面図である は図3の切断線C−Cでの断面図である。 は背面図である。 薄膜試料作製装置の正面からみた断面図である。 試料が取り付けられていない状態の試料ホルダがセットされた試料取り付け取り外し治具の正面から見た断面図である。 図7の切断線E−Eでの断面図である。 試料が取り付けられた状態の試料ホルダがセットされた試料取り付け取り外し治具の正面から見た断面図である。 図9の切断線F−Fの断面図である。
次に図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
最初に、図6を用いて、本実施形態の試料ホルダを有する薄膜試料作製装置の説明を行なう。図6は薄膜試料作製装置の正面からみた断面図である。
図において、内部が所定の真空度に真空引きされる試料加工室1は、開口3を有する本体部5と、本体部5に対して取り付け/取り外し可能に設けられた着脱部7とからなっている。尚、図6に示す状態は、着脱部7が本体部5に取り付けられた状態を示し、着脱部7を矢印B方向に移動させることで、着脱部7を本体部5より取り外すことができる。
試料加工室1内には、試料13を保持する試料ホルダ11が設けられている。この試料ホルダ11は、着脱部7に設けられることで、試料加工室1に取り付け/取り外し可能となっている。
また、試料加工室1には、試料加工室1内で試料ホルダ11に取り付けられた試料13に、イオンビームIBを照射して試料13を研磨して薄膜加工するビーム照射手段15が設けられている。
さらに、試料加工室1の本体部5の外部には、本体部5に設けられたガラス窓(観察窓)9を介して、本体部試料加工室1内の試料ホルダ11に取り付けられた試料13の加工面を観察するCCDカメラ17が設けられている。
また、加工中にイオンビームで削られた試料13から飛散した表面物質がガラス窓9に付着して、CCDカメラ7での加工状態が観察できなくなるのを防止するために、試料13とCCDカメラ17との間に遮蔽ガラス21を設け、試料13から飛散した表面物質を遮蔽ガラス21に付着させている。
次に、イオンビームIBの径(二点鎖線で示す)が大きいので、試料ホルダ11まで削られる。これを防止するために、本実施形態では、試料加工室1の本体部5にスリット板31を設けている。このスリット板31は、試料ホルダ11とビーム照射手段15との間で、ビーム照射手段15から照射されたイオンビームIBの径を絞るスリット33が形成されている。
次に、図1−図5を用いて試料ホルダの説明を行う。図1は左側面図、図2は正面図、図3は図2の右側から見た断面図で図4の切断線D−Dでの断面図、図4は図3の切断線C−Cでの断面図、図5は背面図である。
これらの図において、試料ホルダ11の正面は、薄膜加工される試料13が配置されるホルダ面11aとなっている。
そして、ホルダ面11aと交差する方向に移動可能なようにホルダ11に設けられ、ホルダ面11aに載置された試料13のホルダ面11aと対向する面と反対側の面に当接/離反可能なクランプ爪を有するクランプ手段が設けられている。
本実施形態では、試料ホルダ11の一方の側面には、ホルダ面11aと交差する方向に延びる第1ガイド溝11bが形成されている。また、試料ホルダ11の他方の側面には、ホルダ面11aと交差する方向に延びる第2ガイド溝11cが形成されている。
そして、第1ガイド溝11bには、第1クランプ51が移動可能に係合している。第1クランプ51は、試料13の一方の側に当接可能な第1クランプ爪53と、第1ガイド溝11bに係合する第1クランプ本体55と、ホルダ11のホルダ面11aと反対側に位置する背面11dに当接可能な第1折曲部57とからなっている。第1クランプ本体55には、第1ガイド溝11bに沿った長穴55aが形成されている。そして、ねじ59が、長穴55aを挿通して、第1ガイド溝11bに取り付けられている。ねじ59により、第1クランプ51が試料ホルダ11に取り付けられ、ねじ59と長穴55aとにより、第1クランプ51の移動範囲の規制がなされる。
また、第2ガイド溝11cには、第2クランプ61が移動可能に係合している。第2クランプ61は、試料13の他方の側に当接可能な第2クランプ爪63と、第2ガイド溝11cに係合する第2クランプ本体65と、ホルダ11のホルダ面11aと反対側に位置する背面11dに当接可能な第2折曲部67とからなっている。そして、ねじ69が、長穴65aを挿通して、第2ガイド溝11cに取り付けられている。ねじ69により、第2クランプ61が試料ホルダ11に取り付けられ、ねじ69と長穴65aとにより、第2クランプ61の移動範囲の規制がなされる。
第1クランプ51の第1折曲部57と対向する試料ホルダ11の背面11dには、第1穴11eが形成されている。この第1穴11eには、第1スプリング71が配置され、第1スプリング71の先端部は第1クランプ51の第1折曲部57に押接している。従って、この第1スプリング71は、第1クランプ51のクランプ爪53が、ホルダ面11aに載置された試料13に当接する方向に付勢する付勢手段として機能する。また、第2クランプ61の第2折曲部67と対向する試料ホルダ11の背面11dには、第2穴11fが形成されている。この第2穴11fには、第2スプリング73が配置され、第2スプリング73の先端部は第2クランプ61の第2折曲部67に押接している。従って、この第2スプリング73は、第2クランプ61のクランプ爪63が、ホルダ面11aに載置された試料13に当接する方向に付勢する付勢手段として機能する。
次に、上記構成の試料ホルダ11の作動を説明する。
付勢手段としての第1スプリング71,第2スプリング73で付勢されたクランプ手段の第1クランプ爪53,第2クランプ爪63は、試料ホルダ11のホルダ面11aに載置された試料13に当接し、試料13を試料ホルダ11のホルダ面11aに固定する。
そして、このような構成によれば、以下のような効果がある。
(1) 付勢手段としての第1スプリング71,第2スプリング73で付勢されたクランプ手段の第1クランプ爪53,第2クランプ爪63は、試料ホルダ11のホルダ面11aに載置された試料13に当接し、試料13を試料ホルダ11のホルダ面11aに固定する。よって、試料ホルダ11を冷却しても、試料13が外れない。
(2) 付勢手段としての第1スプリング71,第2スプリング73での付勢力に抗してクランプ手段としての第1クランプ51,第2クランプ61を移動させるだけでよいので、短時間で試料13の取り付け、取り外しができる。
(3) ワックスを用いないので、ワックスに含まれる溶剤成分を嫌う試料13であっても、試料ホルダ11に取り付けることができる。
(4) クランプ手段は、試料13の一方の側に当接可能な第1クランプ爪53を有する第1クランプ51と、試料13の他方の側に当接可能な第2クランプ爪63を有する第2クランプ61と、からなることにより、クランプ爪が試料の両側に当接するので、試料ホルダ11への試料13の取り付けが安定する。
次に、図7−図10を用いて上記構成の試料ホルダ11に用いられる試料取り付け取り外し治具を説明する。図7は試料が取り付けられていない状態の試料ホルダがセットされた試料取り付け取り外し治具の正面から見た断面図、図8は図7の切断線E−Eでの断面図、図9は試料が取り付けられた状態の試料ホルダがセットされた試料取り付け取り外し治具の正面から見た断面図、図10は図9の切断線F−Fの断面図である。
図7,図8に示すように、試料取り付け取り外し治具81は、ベース83に、ホルダ面11aが水平となるように試料ホルダ11を固定するホルダ固定部85と、試料ホルダ11の第1スプリング71,第2スプリング73(付勢手段)の付勢力に抗して、第1クランプ爪53、第2クランプ爪63が試料13より離反する方向に第1クランプ51,第2クランプ61(クランプ手段)を駆動するクランプ手段駆動部87とが設けられている。
ホルダ固定部85には、ベース83に対して回転可能に設けられ、試料ホルダ11に係脱可能なレバー89が設けられている。
クランプ手段駆動部87は、ベース83に設けられた2本のガイドピン91,93と、これらガイドピン91,93が係合する長穴状のガイド穴95を有するテーパスライダ97を有している。尚、ガイドピン91,93は水平方向に沿った線分上に配置されている。よって、テーパスライダ97は水平方向に移動可能となっている。
ベース83には、テーパスライダ97の移動方向と交差する垂直方向の2面83a、83bのうちの一方の面83aに押接するスプリング99が設けられている。また、ベース83には、テーパスライダ97の2面83a、83bのうちの他方の面83bに当接可能な移動ねじ101が螺合している。よって、移動ねじ101を、正逆方向に回転させることで、テーパスライダ97は水平方向に進退するようになっている。
更に、ベース83には、垂直方向に移動可能に設けられた押し上げスライダ103が設けられている。この押し上げスライダ103の下端部は、テーパスライダ97のテーパ面97cに当接可能で、上端部はホルダ固定部85に固定された試料ホルダ11の第1クランプ51の第1折曲部57、第2クランプ61の第2折曲部67に当接可能となっている。
ここで、図7−図10を用いて、試料取り付け取り外し治具81を用いて、試料ホルダ11に試料を取り付ける作動を説明する。尚、図7において、レバー89は、最初二点鎖線の位置にある。
先ず、図7,図8に示すように、試料ホルダ11をホルダ固定部85に設け、レバー89を二点差線位置から実線位置まで回転し、レバー89を試料ホルダ11にセットする。そして、クランプ手段駆動部87の移動ねじ101を回転し、テーパスライダ97を図7において左方向に移動させる。このテーパスライダ97の移動により、テーパスライダ97のテーパ面97aが押し上げスライダ103を押し上げる。すると、図9,図10に示すように、試料ホルダ11のクランプ手段の第1クランプ爪53,第2クランプ爪63は、第1スプリング71,第2スプリング73の付勢力に抗して上方に移動し、クランプ手段の第1クランプ爪53,第2クランプ爪63は、試料ホルダ11のホルダ面11aから離れる。
ホルダ面11aに試料13を載置し、クランプ手段駆動部87の移動ねじ101を先程とは逆方向に回転し、テーパスライダ97を図9において右方向に移動させる。このテーパスライダ97の移動により、テーパスライダ97のテーパ面97aが押し上げスライダ103を下げる。すると、図7,図8に示すように、試料ホルダ11のクランプ手段の第1クランプ爪53,第2クランプ爪63は、下方に移動し、クランプ手段の第1クランプ爪53,第2クランプ爪63は、ホルダ面11aに載置された試料13に当接し、試料13の取り付けが完了する。
また、試料取り付け取り外し治具81を用いて、試料ホルダ11から試料を取り外す場合は、上述した取り付け作動と逆の作動を行えばよい。
このような試料取り付け取り外し治具81によれば、短時間で試料13の取り付け、取り外しができる。
11 試料ホルダ
51 第1クランプ
53 第1クランプ爪
61 第2クランプ
63 第2クランプ爪
71 第1スプリング
73 第2スプリング

Claims (2)

  1. 薄膜試料作製装置に用いられ、試料ホルダ本体にホルダ面を有し、前記ホルダ面に薄膜加工される試料を保持する試料ホルダにおいて、
    前記ホルダ面と交差する方向に移動可能なように前記試料ホルダに設けられ、前記ホルダ面に載置された前記試料の前記ホルダ面と対向する面と反対側の面に当接/離反可能なクランプ爪を有するクランプ手段と、
    該クランプ手段のクランプ爪が前記試料に当接する方向に付勢する付勢手段と、
    を有し、
    前記クランプ手段は、
    前記試料ホルダ本体の両側面を挟み込むように設けられた第1及び第2クランプからなり、
    前記第1クランプは、
    前記試料ホルダの一方の側面に設けられた直線状のガイド溝に移動可能に係合して設けられた板状の第1クランプ本体と、前記第1クランプ本体の先端に設けられ、前記試料の一方の側に当接可能な第1クランプ爪と、前記第1クランプ本体の他端に設けられた第1折曲部と、
    からなり、
    前記第2クランプは、
    前記第1クランプと独立して移動可能で、前記試料ホルダの他方の側面に設けられた直線状のガイド溝に移動可能に係合して設けられた板状の第2クランプ本体と、前記第2クランプ本体の先端に設けられ、前記試料の他方の側に当接可能な第2クランプ爪と、前記第2クランプ本体の他端に設けられた第2折曲部と、
    からなり、
    前記付勢手段は、
    前記第1クランプの前記第1折曲部と前記試料ホルダ本体との間に設けられ、前記第1クランプを付勢する第1付勢手段と、
    前記第2クランプの前記第2折曲部と前記試料ホルダ本体との間に設けられ、前記第2クランプを付勢する第2付勢手段と、
    からなる
    ことを特徴とする試料ホルダ。
  2. 前記請求項1記載の試料ホルダに用いられる試料取り付け取り外し治具であって、
    前記ホルダ面が水平となるように前記試料ホルダを固定するホルダ固定部と、
    前記付勢手段の付勢力に抗して、前記クランプ爪が前記試料より離反する方向に前記クランプ手段を駆動するクランプ手段駆動部と、
    を有することを特徴とする試料取り付け取り外し治具。
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JPS6283637A (ja) * 1985-10-08 1987-04-17 Sumitomo Electric Ind Ltd 固体試料保持方法
JPS62105347A (ja) * 1985-11-01 1987-05-15 Hitachi Ltd 半導体製造装置
JP2548041Y2 (ja) * 1991-02-13 1997-09-17 日新電機株式会社 基板保持装置
JPH056753A (ja) * 1991-02-18 1993-01-14 Nissin High Voltage Co Ltd イオン注入装置
JP2000258313A (ja) * 1999-03-10 2000-09-22 Jeol Ltd 電子顕微鏡用試料作成装置の試料着脱機構
JP2008027602A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Fujifilm Corp ホルダ装置及び加工観察方法

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