JP5558629B2 - レーザ加工装置 - Google Patents
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Description
以下、この発明のレーザ加工装置の好適な実施の形態につき図面を用いて説明する。
なお、実施の形態の説明および各図において、同一の符号を付した部分は、同一または相当する部分を示すものである。
図1は、この発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置の構成を一部断面で示す図である。図1は、レーザ加工装置の加工ヘッドの付近を示しており、加工レンズの中心の断面であり、レーザ加工装置に含まれるレーザ光を発生するレーザ発振器、レーザ光を加工ヘッドまで導く光路系などは省略して図示していない。
上記公知文献2(図3)においては、ステッピングモータが回転することによりボールネジが回転し、固定板がガイドロッドに沿って上下に移動する。
この発明の実施の形態2に係るレーザ加工装置について図8を参照しながら説明する。図8は、この発明の実施の形態2に係るレーザ加工装置の構成を一部断面で示す図である。図8は、レーザ加工装置の加工ヘッド部を示しており、レーザ加工装置に含まれるレーザ光を発生するレーザ発振器、レーザ光を加工ヘッドまで導く光路系などの一部は省略して図示していない。
ミラー駆動装置16は、上記公知文献3と同様に、ミラーの背面にエアーを送り込み、圧力を加えミラー曲率を変化させる。
この発明の実施の形態3に係るレーザ加工装置について図9を参照しながら説明する。図9は、この発明の実施の形態3に係るレーザ加工装置の構成を一部断面で示す図である。図9は、レーザ加工装置の加工ヘッド付近を示しており、レーザ加工装置に含まれるレーザ光を発生するレーザ発振器、レーザ光を加工ヘッドまで導く光路系などの一部は省略して図示していない。
この発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置について、前述の図1、図2とともに、図11および図12を参照しながら説明する。
この発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置の構成は、図1(加工ヘッド1および加工対象9は断面)に示す通りである。また、この発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置の加工ヘッド1の中に設置された加工レンズ3の周辺構造(レーザ光2を透過する透明部材である加工レンズ3付近の断面)は、図2に示す通りである。
なお、この場合、レーザはCO2レーザであり、温度センサ5はサーモパイル型温度差センサである。
なお、本実施の形態4において、レンズホルダ4は円筒状のものを用いたが、多角筒状などのレンズホルダ4を用いることができる。
また、本実施の形態4で用いたサーモパイル型温度差センサ5は、検出精度が高く、加工レンズ3の表面の温度差を検出することに適している。
また、サーモパイル型温度差センサ5を形成した絶縁性フィルムを、加工レンズ3のレーザ光2の出射側の面に貼付したが、レーザ光2による加工レンズ3の温度分布変化を検出することができればよく、加工レンズ3のレーザ光2の入射側の面に貼付して用いることもできる。
図11はこの発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置のサーモパイル型温度差センサ5の平面図であり、図12はこの発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置のサーモパイル型温度差センサ5の部分拡大図である。
図11において、円環状のポリイミドフィルム44上に、2種の異種金属による複数の熱電対が交互に、直列に接続して配列されてサーモパイル型温度差センサ5を形成し、連続した熱電対の両端には検出用端子45、46が形成されている。
サーモパイル型温度差センサ5を形成するポリイミドフィルム44は、加工レンズ3に接着して貼り付けられる。サーモパイル型温度差センサ5の温度差の検出は、検出用端子45、46間の電位差を検出することで行う。
レーザ光2は、加工レンズ3の中心近傍に照射されるので、加工レンズ3の中心部分が高温に、加工レンズ3の外周部分が相対的に低温になり、その結果、加工レンズ3の中心側の円を構成する熱電対が温接点11、外側の円を構成する熱電対が冷接点12として機能する。
また、金属配線47、48の幅は、特に限定するものではないが、温接点11と冷接点12を多数配列する場合の配線引きまわしの観点から0.25〜1mmとすると配線設計などが容易となる。
加工レンズ3に入射するビーム直径は、たとえば、CO2レーザでは通常、半径10mmから15mm程度である。このため、熱電対の温接点11は、レーザ光2を遮光しないように、レンズ中心から半径10mm以上の位置に取り付ける必要がある。さらに、冷接点12は、これより外側に取り付ける必要があるため、加工レンズ3の半径は少なくとも25mmから30mm程度の大きさが必要となる。
一般的には、温接点11と冷接点12の加工レンズ3の径方向の距離は、用いる加工レンズ3の直径およびレーザ光2をサーモパイル型温度差センサ5で遮光しないように配置する観点から10mm以下であることが好ましい。また温接点11と冷接点12の数はそれぞれ1個以上であればよく、温接点11と冷接点12のそれぞれの数を多くするほど温度差の検出感度を高くすることができ、より好ましい。
(m・K)以下とすることが必要である。
この発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置の加工レンズ温度の加工レンズ3中心からの距離依存性は、図6に示す通りである。また、この発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置のサーモパイル型温度差センサ5を用いた温度差のレーザ照射時間依存性は、図7に示す通りである。
この発明の実施の形態5に係るレーザ加工装置について、主として図13を参照しながら説明する。
図13は、この発明の実施の形態5に係るレーザ加工装置の構成を一部断面で示す図である。
図14は、この発明の実施の形態5に係るレーザ加工装置のサーモパイル型温度差センサ5Aを示す図である。
一方、ここで用いるサーモパイル型温度差センサ5Aは、図14に示すように、円環状に配置した熱電対が4つの領域に分割されており、それぞれの連続した熱電対の両端に設けられた検出用端子50、51、検出用端子52、53、検出用端子54、55、および検出用端子56、57の電位差をそれぞれ検出し、4つの領域のそれぞれについて温接点11と冷接点12の間の温度差を検出する。
焦点位置の制御手法は、基本的には実施の形態4と同じであり、レーザ光2により加工レンズ3の温度が変化し、加工レンズ3上に形成したサーモパイル型温度差センサ5Aにより温接点11と冷接点12の間の温度差を検出する。この温度差の検出結果に基づいて計算用コンピュータ7によりレーザ光2の焦点距離変化を相殺する加工レンズ位置補正値を求め制御用コンピュータ8に出力し、制御用コンピュータ8によりレンズ駆動装置6を駆動して、加工レンズ位置を補正し、被加工物9上でのレーザビーム径が一定となるようにする。
また、分割した各領域の温接点11および冷接点12の数も特に限定されるものではなく、これらの数は温度差の検出精度に影響するものであるので、温度差を目的とする精度で検出することができればよく、少なくとも各1個以上であればよい。
この発明の実施の形態6に係るレーザ加工装置について、前述の図8を用いて説明する。この発明の実施の形態6に係るレーザ加工装置の構成(一部断面)は、図8に示す通りである。
レーザ光2の光路中に配置された加工レンズ3はレーザ光2により温度分布が変化し、サーモパイル型温度差センサ5により温接点11と冷接点12の間の温度差が検出される。
また、本実施の形態6によれば、特許文献1と異なり、遠赤外線放射温度計を用いないため、安価であり、またレーザ光2の散乱光、被加工物9からの反射光および被加工物9の温度による放射光などの影響での誤動作がなく、安定した加工をすることができる。
この発明の実施の形態7に係るレーザ加工装置について、前述の図9を用いて説明する。この発明の実施の形態7に係るレーザ加工装置の構成(一部断面)は、図9に示す通りである。
レーザ光2はウィンドウ3Aを透過してトロイダルミラー18に入射する。その後、反射して集光し、被加工物9上に照射される。ウィンドウ3Aはレーザ光2をわずかに吸収して温度が上昇し、熱レンズ効果により焦点位置が変化し、被加工物9上のビーム径が変化する。
また、本実施の形態7によれば、特許文献1と異なり、遠赤外線放射温度計を用いないため、安価であり、またレーザ光2の散乱光、被加工物9からの反射光および被加工物9の温度による放射光などの影響での誤動作がなく、安定した加工をすることができる。
この発明の実施の形態8に係るレーザ加工装置について図15を用いて説明する。
図15は、この発明の実施の形態8に係るレーザ加工装置のウィンドウ3Aの平面図である。
また、本実施の形態8によれば、特許文献1と異なり、遠赤外線放射温度計を用いないため、安価であり、またレーザ光2の散乱光、被加工物9からの反射光および被加工物9の温度による放射光などの影響での誤動作がなく、安定した加工をすることができる。
また、上述した各実施の形態1〜8においては、計算用コンピュータ7および制御用コンピュータ8として個別のコンピュータを用いたが、両者の機能を一体として有する単独のコンピュータを計算制御用コンピュータとして用いることもできる。
この発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変更、省略することができる。
Claims (16)
- レーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光の光路中に設置され、前記レーザ光を透過する透明部材と、
レーザ光が照射されない前記透明部材の表面に設置され、前記透明部材の中心から第1の距離の前記透明部材の表面と前記第1の距離よりも遠い第2の距離の前記透明部材の表面との間の温度差を検出する接触型の温度差センサと、
前記温度差センサにより検出された温度差に基づいて、被加工物上に集光された前記レーザ光のビーム径を一定とするように焦点位置の補正を行う制御手段と、を備えるレーザ加工装置。 - 前記温度差センサが、前記第1の距離および前記第2の距離に形成された熱電対である請求項1に記載のレーザ加工装置。
- 前記温度差センサが、前記第1の距離に1個以上配置された前記熱電対の温接点と前記第2の距離に1個以上配置された前記熱電対の冷接点が交互に接続して配列され、前記温接点と前記冷接点の温度差を検出するサーモパイル型温度差センサである請求項2に記載にレーザ加工装置。
- 前記透明部材が前記レーザ光を集光させる加工レンズであり、
前記制御手段が前記温度差センサにより検出された前記温度差に基づいて、前記加工レンズと前記被加工物間の距離を調整し、前記加工レンズから出射された前記レーザ光の焦点位置を補正する請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。 - 前記制御手段が、前記温度差に対応して、前記加工レンズの熱レンズ効果に起因する前記レーザ光の焦点距離変化を相殺するように、前記加工レンズと前記被加工物間の距離を調整することにより、前記レーザ光の焦点位置を補正する請求項4に記載のレーザ加工装置。
- 前記透明部材が前記加工レンズであり、
前記加工レンズに前記レーザ光を導く曲率可変ミラーを備え、
前記制御手段が前記温度差センサにより検出された前記温度差に基づいて、前記曲率可変ミラーの曲率を調整し、前記加工レンズから出射された前記レーザ光の焦点位置を補正する請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。 - 前記制御手段が、前記温度差に対応して、前記加工レンズの熱レンズ効果に起因する前記レーザ光の焦点距離変化を相殺するように、前記曲率可変ミラーの曲率を調整することにより、前記レーザ光の焦点位置を補正する請求項6に記載のレーザ加工装置。
- 前記透明部材がウィンドウであり、
前記レーザ光を集光させる集光ミラーと、
前記集光ミラーに前記レーザ光を導く曲率可変ミラーと、を備え、
前記制御手段が前記温度差センサにより検出された前記温度差に基づいて、前記曲率可変ミラーの曲率を調整し、前記集光ミラーに反射された前記レーザ光の焦点位置を補正する請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。 - 前記制御手段が、前記温度差に対応して、前記ウィンドウの熱レンズ効果に起因する前記レーザ光の焦点距離変化を相殺するように、前記曲率可変ミラーの曲率を調整することにより、前記レーザ光の焦点位置を補正する請求項8に記載のレーザ加工装置。
- 前記サーモパイル型温度差センサが前記透明部材の表面に直接形成されている請求項3から請求項9までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
- 前記サーモパイル型温度差センサが絶縁性フィルム上に形成され、当該絶縁性フィルムを介して前記透明部材の表面に取り付けられている請求項3から請求項10までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
- 前記サーモパイル型温度差センサの一組の隣接する前記温接点と前記冷接点が前記透明部材中心から略同一方向に形成されている請求項3から請求項11までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
- 前記サーモパイル型温度差センサが複数の領域に分割されている請求項3から請求項12までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
- 前記サーモパイル型温度差センサの前記温接点の位置が、前記透明部材の中心から15mm以上離れて形成されている請求項3から請求項13までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
- 前記透明部材が、前記サーモパイル型温度差センサの前記冷接点よりも外周側でのみ、前記ホルダによって前記レーザ光の光路中に保持されている請求項3から請求項14までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
- 前記透明部材の中心から前記冷接点までの間で前記透明部材に接触する断熱材を有しており、この断熱材の熱伝導率が0.9W/(m・K)以下である請求項3から請求項15までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
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