JP5553014B2 - 分析チップのプリズム部、このプリズム部を含む分析チップ、及び分析チップのプリズム部の製造方法 - Google Patents
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所定の形状のプリズム本体部(本実施形態では、プリズム)21を準備する(ステップS1)。このプリズム本体部21を真空雰囲気中に配置して反射面23の面上に金膜25を成膜する(ステップS2)。本実施形態では、反射面23の略全体に金膜25を成膜する。所定の厚さの金膜25が反射面23上に形成されると、この金膜25の上に連続して保護膜27を形成する(ステップS3)。このように真空雰囲気下に置かれた状態で反射面23の面上に金膜25と保護膜27とが連続して成膜されることで、金膜25と保護膜27との間に界面が生じないため、金膜25を成膜した後でその表面25aを一旦酸素に触れさせた後に保護膜27を成膜する場合に比べ、金膜25と保護膜27との密着強度が向上する。
プリズム部の製造においてエッチングにより保護膜27が除去されて外部に露出した金膜25の表面25aの部位(領域)に生理活性物質26を表面処理により固定する(ステップS4)。
12 流路部材
13 流路
15 シール部材
20 プリズム部
21,21A プリズム本体部
25 金膜
25a 金膜の表面(金膜のプリズム本体部と反対側の面)
26 生理活性物質
27,27A 保護膜
Claims (10)
- 表面プラズモン共鳴を利用して検体を分析する分析装置において前記表面プラズモン共鳴が生じる分析チップに含まれ、且つ流路部材と共同して前記検体を含む試料溶液が流れる流路を形成するプリズム部であって、
前記表面プラズモンを生じさせるための励起光が内部に入射するプリズム本体部と、
前記プリズム本体部の所定の面の面上に形成される金膜と、
前記金膜のプリズム本体部と反対側の面である表面に設けられて当該金膜を保護する保護膜と、を備え、
前記保護膜は、前記金膜の表面において前記検体を捕捉するための生理活性物質が固定される領域を除く領域に、アルミ、銅、銀、白金、パラジウム、及び錫のいずれかの金属で形成されることを特徴とする分析チップのプリズム部。 - 前記保護膜は、金膜の表面において、前記流路を形成するために前記流路部材を金膜側から前記プリズム部に当接させたときに前記流路部材が当接する位置に設けられることを特徴とする請求項1に記載の分析チップのプリズム部。
- 前記保護膜は、前記金膜の表面において前記生理活性物質が固定される領域を除く領域全体を覆うように設けられることを特徴とする請求項1又は2に記載の分析チップのプリズム部。
- 前記保護膜では、金属層とこの金属層を構成する金属が酸化した酸化層とが積層され、
前記金属層は、前記金膜と前記酸化層との間に位置することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の分析チップのプリズム部。 - 前記金膜は、30〜70nmの厚さを有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の分析チップのプリズム部。
- 前記プリズム本体部は、プリズムと、このプリズムの所定の面の面上に配置される基板とを有し、
前記基板は、厚さ方向の一方の面が前記金膜と対向し且つ他方の面がマッチングオイルを介して前記プリズムの所定の面と対向するように配置されることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の分析チップのプリズム部。 - 表面プラズモン共鳴を利用して検体を分析する分析装置において前記表面プラズモン共鳴が生じる分析チップであって、
プリズム部と、前記プリズム部と共同して前記検体を含む試料溶液が流れる流路を形成する流路部材と、を備え、
前記プリズム部は、前記表面プラズモンを生じさせるための励起光が内部に入射するプリズム本体部と、前記プリズム本体部の所定の面の面上に形成される金膜と、前記金膜のプリズム本体部と反対側の面である表面に設けられて当該金膜を保護する保護膜とを有し、
前記保護膜は、前記金属膜の表面において前記検体を捕捉するための生理活性物質が固定される領域を除く領域に設けられ、
前記保護膜は、アルミ、銅、銀、白金、パラジウム、及び錫のいずれかの金属で形成されることを特徴とする分析チップ。 - 表面プラズモン共鳴を利用して検体を分析する分析装置において前記表面プラズモン共鳴が生じる分析チップに含まれ、流路部材と共同して前記検体を含む試料液が流れる流路を形成するプリズム部の製造方法であって、
予め準備しておいた前記表面プラズモンを生じさせるための励起光が内部に入射するプリズム本体部の所定の面の面上に金膜を形成する金膜形成工程と、
前記金膜のプリズム本体部と反対側の面である表面に保護膜を形成する保護膜形成工程と、を備え、
前記保護膜形成工程では、前記金膜の表面において前記検体を捕捉するための生理活性物質が固定される領域を除く領域に、アルミ、銅、銀、白金、パラジウム、及び錫のいずれかの金属で保護膜を形成することを特徴とする分析チップのプリズム部の製造方法。 - 前記プリズム本体部を真空雰囲気下に配置した状態で、前記金膜形成工程の後に前記保護膜形成工程を連続して行うことを特徴とする請求項8に記載の分析チップのプリズム部の製造方法。
- 前記金膜と前記保護膜とは、真空蒸着法、スパッタ法、又はイオンプレーティング法によってそれぞれ形成されることを特徴とする請求項8又は9に記載の分析チップのプリズム部の製造方法。
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