JP5067143B2 - 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置 - Google Patents
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Description
前記分析素子チップにおいて、前記入射面に対して光が照射されることで、内部に入射した光が前記入射面を望む位置に配置された第1反射部において全反射条件で折り返され、前記金属薄膜の一方の面に対して表面プラズモン共鳴角で入射するように案内される。
また、前記分析素子チップに対して前記入射面と反対側に光学系を配置する必要がないため、当該装置において前記分析素子チップに対して入射面と反対側に空間が確保し易くなり、この空間を確保することで分析素子チップを交換する場合の交換作業が行い易くなる。
しかも、前記射出面から射出される光を検出することで、前記光源から照射されて前記光導波路板の内部に入射し、前記金属薄膜に案内された光が当該金属薄膜に対して表面プラズモン共鳴角で入射しているか否かの検出が容易になる。
また、前記分析素子チップに対して前記入射面と反対側に光学系を配置する必要がないため、当該装置において前記分析素子チップに対して入射面と反対側に空間が確保し易くなり、この空間を確保することで分析素子チップを交換する場合の交換作業が行い易くなる。
14 金属薄膜
14a 露出面(他方の面)
14b 反射面(一方の面)
22 流路
24 測定部
100 光導波路部
102 入射面
104 射出面
110 第1反射部
120 第2反射部
Claims (9)
- 検体に含まれる蛍光物質が金属薄膜で生じたエバネッセント波で励起されて発した蛍光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
内部に入射した光を前記金属薄膜に案内する光導波路部、前記検体が流れる流路、及び、一方の面が前記光導波路部に面すると共に他方の面が前記流路内に露出するように設けられた前記金属薄膜を備え、且つ、前記光導波路部が、外部から照射された光が内部に入射する入射面、前記入射面から入射した光を前記金属薄膜の一方の面に向けて全反条件で折り返す第1反射部、及び、前記第1反射部からの光を前記金属薄膜の一方の面での全反射後に外部に射出する射出面をその表面に有する分析素子チップと、
前記分析素子チップの入射面と対向する位置に配置され、前記入射面に対して光を照射するための光源と、
前記分析素子チップの金属薄膜に対して前記流路を挟んで対向する位置に配置され、前記金属薄膜で生じたエバネッセント波によって励起された蛍光を検出するための蛍光検出手段と、を備え、
前記入射面は、当該入射面への光の入射方向と前記金属薄膜の一方の面とが同一方向を向いて平行若しくは略平行になるような位置に配置されると共に、前記第1反射部は、前記入射面及び金属薄膜の一方の面を望むような位置に配置され、
前記光源と前記蛍光検出手段とは、同一基板上に配置されることを特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記第1反射部は、複数の全反射面を備え、
これら複数の全反射面は、前記入射面側から前記金属薄膜側に向かって連続又は間隔をおいて並び、隣り合う前記全反射面同士のなす角が前記入射面からの光を前記金属薄膜側の全反射面に向かって順に全反射し且つ最も金属薄膜側の前記全反射面で全反射された光が前記金属薄膜の一方の面に向かうようにそれぞれ配置されることを特徴とする請求項1に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記第1反射部は、1つの反射面で構成され、
この反射面には光を全反射する反射膜が設けられることを特徴とする請求項1に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記反射膜は、多層膜で構成されることを特徴とする請求項3に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 前記入射面が前記金属薄膜に対して傾斜すると共に、前記外部から照射される光に対しても傾斜するように配置されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 検体に含まれる蛍光物質が金属薄膜で生じたエバネッセント波で励起されて発した蛍光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
内部に入射した光を前記金属薄膜に案内する光導波路部、前記検体が流れる流路、及び、一方の面が前記光導波路部に面すると共に他方の面が前記流路内に露出するように設けられた前記金属薄膜を備え、且つ、前記光導波路部が、外部から照射された光が内部に入射する入射面、前記入射した光を前記金属薄膜の一方の面での全反射後に外部に射出する射出面、前記入射面から入射した光を前記金属薄膜の一方の面に向けて全反条件で折り返す第1反射部、及び、前記金属薄膜の一方の面で全反射された光を前記射出面に向けて全反射条件で折り返す第2反射部をその表面に有する分析素子チップと、
前記分析素子チップの入射面と対向する位置に配置され、前記入射面に対して光を照射するための光源と、
前記分析素子チップの金属薄膜に対して前記流路を挟んで対向する位置に配置され、前記金属薄膜で生じたエバネッセント波によって励起された蛍光を検出するための蛍光検出手段と、
前記分析素子チップの射出面と対向する位置に配置され、前記射出面から射出される光を検出するための射出光検出手段と、を備え、
前記入射面は、当該入射面への光の入射方向と前記金属薄膜の一方の面とが同一方向を向いて平行若しくは略平行になるような位置に配置されると共に、前記第1反射部は、前記入射面及び金属薄膜の一方の面を望むような位置に配置され、並びに、前記射出面は、当該射出面からの光の射出方向と前記金属薄膜の他方の面とが同一方向を向いて平行若しくは略平行になるような位置に配置されると共に、前記第2反射部は、前記金属薄膜の一方の面及び射出面を望むような位置に配置され、
前記光源と前記蛍光検出手段と前記射出光検出手段とが同一基板上に配置されることを特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記第2反射部は、複数の全反射面又は1つの反射面で構成され、
前記複数の全反射面は、前記金属薄膜側から前記射出面側に向かって連続又は間隔をおいて並び、隣り合う前記全反射面同士のなす角が前記金属薄膜からの光を前記射出面側の全反射面に向かって順に全反射し且つ最も射出面側の前記全反射面で全反射された光が前記射出面に向かうようにそれぞれ配置され、
前記反射面には光を全反射する反射膜が設けられることを特徴とする請求項6に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記光源は、照射した光が前記分析素子チップの入射面に対して斜めから入射するように前記基板上に配置されることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 前記光源と蛍光検出手段との間に遮光部材が配置され、
この遮光部材は、前記分析素子チップを当該表面プラズモン共鳴蛍光分析装置に設置した際の前記分析素子チップと基板との間隔よりも長く、且つ前記間隔方向に弾性変形可能に構成されることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
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