JP5468626B2 - 歪測定装置 - Google Patents

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本発明は、稼働中の機器や構造物に生じる歪を測定するための歪測定装置に関する。
稼働中の機器や構造物などにおいて、応力を受けやすい部分などの余寿命を診断する方法の一つとして、歪測定法が知られている。従来、歪を測定する装置として、電極型コンデンサの静電容量の変化により歪を測定する静電容量型歪測定装置などが開発されている(引用文献1及び2、並びに非特許文献1参照)。
特開2007−315853号公報 特開2007−315854号公報
REMNANT LIFE MONITORING, APPLICATIONS REPORT, AUTOMATIC SYSTEMS LABORATORIES LTD; JULY 1972, Vol119, No7
本発明は、従来の静電容量型歪測定装置に比べ、より精度の高い歪測定を行うことができる歪測定装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明に係る歪測定装置は、棒状に形成された第一の電極部と、前記第一の電極部がX方向に進退可能であり、かつ、前記X方向と直交するY方向並びに前記X方向及び前記Y方向のそれぞれと直交するZ方向前記第一の電極部が移動可能な大きさの孔を内側に有する管状の第二の電極部と、前記第一の電極部を支持する第一の絶縁支持体と、前記第二の電極部を支持する第二の絶縁支持体と、前記第一の絶縁支持体及び前記第二の絶縁支持体を測定対象物にそれぞれ取付ける取付部材と、前記第一の電極部と前記第二の電極部の間における前記X方向、前記Y方向及び前記Z方向の変位を演算するXYZ方向演算部と、を備え、前記第一の電極部が、前記第一の電極部の中心軸を中心に4分割された電極から構成され、かつ、前記第二の電極部が、第二の電極部の中心軸を中心に4分割された電極から構成されており、前記第一の電極部を構成する電極と前記第二の電極部を構成する電極の組が、前記Y方向に二組及び前記Z方向に二組配置され、Y方向に対向する電極同士が静電容量C1,C3のコンデンサを形成し、Z方向に対向する電極同士が静電容量C2,C4のコンデンサを形成し、前記測定対象物の歪に応じて前記第一の電極部が前記第二の電極部の孔内を移動することにより前記コンデンサの静電容量C1〜C4が変化するように構成され、前記XYZ方向演算部は、前記静電容量C1からC4までの加算値を用いて前記X方向の変位を演算し、前記静電容量C1と前記静電容量C3の差分値を用いて前記Y方向の変位を演算し、前記静電容量C2と前記静電容量C4の差分値を用いて前記Z方向の変位を演算することを特徴とする。
本発明によれば、従来の静電容量型歪測定装置に比べ、より精度の高い歪測定を行うことができる歪測定装置を提供することができる。
本発明の一実施形態において、歪測定装置100の概略構成の一部を示す図である。 本発明の一実施形態として説明する電極10及び電極20の概略構成を示す図である。 本発明の一実施形態において、静電容量測定手法の一例を説明するための図である。 本発明の一実施形態において、静電容量測定手法の他の一例を説明するための図である。
以下、本発明の好ましい実施形態につき、添付図面を参照して詳細に説明する。本発明に係る歪測定装置は、稼働中の機器や構造物などにおいて、応力を受けやすい部分などの歪を測定する装置である。
図1は、本発明の一実施形態として説明する歪測定装置100の概略構成を示す図である。図1に示すように、本発明に係る歪測定装置100は、2つの電極本体10,20、2つの絶縁支持体30,40、2つの取付部材50,60などを備える。
2つの電極本体10,20のうち、一方の電極本体10は円柱状に、他方の電極本体20は管状にそれぞれ形成されている。電極本体20の内径は、電極本体10の径より大きく構成されており、電極本体20が有する内側の孔(管内)25に電極本体10が挿入可能となっており、また、電極本体20の管内の断面に対して電極本体10が上下左右(電極本体10の中心軸に対して直交する方向)に移動可能となっている。
電極本体10は、絶縁支持体30に支持されて、取付部材50により測定対象物200の表面に固定される。また、電極本体20は、絶縁支持体40に支持されて、取付部材60により測定対象物200の表面に固定される。なお、取付部材50,60の測定対象物200への固定は、例えば、電極本体10の電極の全部または一部が、電極本体20の内周に設けられた電極の内部、すなわち、電極本体20の内側の孔25に挿入された状態で行われる。
絶縁支持体30,40は、電気を通しにくい材料から構成されている。その材料としては、例えば、アルミナ、サファイア等のセラミックス材料などを用いることができ、純度が高いセラミックス材料、具体的には、純度90%以上のセラミックス材料が好ましく、純度99%以上のセラミックス材料がより好ましく、純度99.7%以上のセラミックス材料を用いることが特に好ましい。このように、純度の高いセラミックス材料を用いることにより、高温下での、電極本体10,20と取付部材50,60との間の通電を遮断することが可能となる。
取付部材50,60は、例えば、螺子などの固定具により固定されていてもよく、溶接により固定されていてもよい。
以上の構成によれば、測定対象物200の表面に歪が生じたときに、取付部材50,60を介して、電極本体10,20を支持する絶縁支持体30,40が移動し、これにより電極本体20に対して電極本体10が、電極本体20の内側の孔25内を、電極本体10の中心軸方向(電極本体10の進退方向であるX方向)及び/又は電極本体10の中心軸に対して上下左右(X方向に対して直交するY方向、及び、X方向及びY方向のそれぞれと直交するZ方向,図2参照)に移動する。
図2に、本発明の一実施形態として説明する電極本体10及び電極本体20の概略構成を示す。
電極本体10は、該電極本体10の中心軸を中心に同形状で4分割されており、それらの4分割された電極11,12,13,14は、中心軸に対して上下左右に配置され、それぞれの電極11,12,13,14が一定間隔で接触しないように配置されている。
電極本体20も、該電極本体20の中心軸を中心に同形状で4分割されており、それらの4分割された電極21,22,23,24は、中心軸に対して上下左右に配置され、それぞれの電極21,22,23,24が一定間隔で接触しないように配置されている。
電極11及び電極21、電極12及び電極22、電極13及び電極23、並びに、電極14及び電極24は、コンデンサをそれぞれ形成し、アンプ1〜4(71〜74)にて各コンデンサの各静電容量C1〜C4が測定される。
各アンプ71〜74において、静電容量を測定する手法としては、例えば、図3に示すように、交流電源300によってコンデンサ310に交流電圧を印加し、流れる電流を電流計320により測定して静電容量を算出してもよいし、図4に示すように、コンデンサ310及びコイル330からなる並列共振回路を構成させ、交流電圧を印加して流れる電流が最小となるような周波数を求めて静電容量を算出してもよい。このように算出された各コンデンサの静電容量C1〜C4のデータは、各アンプ71〜74からXYZ方向演算部80に送信される。XYZ方向演算部80は、受信した各コンデンサの静電容量C1〜C4のデータを用いて、例えば、以下の式によりX方向、Y方向、及びZ方向の歪(変位)をそれぞれ求めることができる。XYZ方向演算部80は、例えば、パーソナルコンピュータなどである。
4つのコンデンサを構成する電極11,12,13,14と電極21,22,23,24の間のそれぞれの距離をdi、電極11,12,13,14と電極21,22,23,24がそれぞれ重なりあう面積をSiとすると、各コンデンサの静電容量Ciは、Ci=ε×Si/diで表され(εは、電極11,12,13,14と電極21,22,23,24との間の誘電体の誘電率を表す。)、また、4つのどのコンデンサもSiが変位量に比例して増減するので、X方向の変位は、以下の式:
X方向の変位=C1+C2+C3+C4
で表される。
また、変位前の電極11,13と電極21,23とのY方向の距離をそれぞれd1,d3とし、Y方向の変位による、電極11,13と電極21,23とのY方向のそれぞれの変位量(移動量)をΔdとした場合の各コンデンサの静電容量C1〜C4は、
C1=ε×S1/(d1−Δd)
C2=0
C3=ε×S3/(d3+Δd)
C4=0
と表されるので、Y方向の変位は、以下の式:
Y方向の変位=C1−C3
で表される。
さらに、変位前の電極12,14と電極22,24とのZ方向の距離をそれぞれd2,d4とし、Z方向の変位による、電極12,14と電極22,24とのZ方向のそれぞれの変位量(移動量)をΔdとした場合の各コンデンサの静電容量C1〜C4は、
C1=0
C2=ε×S2/(d2−Δd)
C3=0
C4=ε×S4/(d4+Δd)
と表されるので、Z方向の変位は、以下の式:
Z方向の変位=C2−C4
で表される。
以上の構成によれば、4つのコンデンサを形成し、X方向、Y方向、及びZ方向の歪(変位)をそれぞれ同時に求めることができるので、稼働中の機器や構造物などにおいて応力を受けやすい部分などに対して、より精度の高い歪測定を行うことが可能となる。
なお、本発明に係る歪測定装置100を、例えば、火力発電所等に利用される高温材料、例えば、ボイラやタービンあるいはそれらの配管などの、高温下に曝される部分の歪を測定するために用いる場合には、電極(11〜14,21〜24)の材料として、高温下で使用しても酸化しない金属材料を用いることが好ましい。ここで「酸化しない」とは、例えば、500℃以上の高温下であっても金属の内部まで酸化が進行しないことを意味する。
このように電極(11〜14,21〜24)を高温下で使用しても酸化しない金属材料によって構成すれば、高温度下で長時間使用しても電極(11〜14,21〜24)の性状変化が少なくなるので、酸化による電極表面の誘電率の変化による影響を受けにくくなり、従って、測定誤差を小さくすることができる。
500℃以上の高温下で酸化しない金属材料としては、例えば、ニッケル基合金、クロム基合金、コバルト基合金や、Crを9%以上含有するSUH21,SUH409,SUH409L,SUH446,SUS405,SUS410L,SUS430,SUS430JIL,SUS436JIL,SUH1,SUH3,SUH4,SUH11,SUH600,SUH616,SUS403,SUS410,SUS410JI,SUS431,SUH31,SUH35,SUH36,SUH37,SUH38,SUH309,SUH310,SUH330,SUH660,SUH661,SUS302B,SUS304,SUS309S,SUS310S,SUS316,SUS316Ti,SUS317,SUS321,SUS347,SUSXM14JI,SUS630,SUS631などの耐熱鋼を用いることができる。
なお、本実施の形態においては、電極本体20を管状に形成し、電極20の内側に貫通した孔25を設けることとしているが、電極本体20の内側の孔25に電極本体10が所定距離だけ挿入できれば、孔の一方端を絶縁体などによって塞いでもよい。
また、本実施の形態においては、電極本体10及び電極本体20を、該電極本体10,20の中心軸を中心に同形状で4分割した4つの電極(11〜14,21〜24)を備えることとしているが、一方の電極本体のみを該電極本体の中心軸を中心に同形状で4分割し、もう一方の電極本体が1つの電極から構成されるようにしてもよい。この場合には、4つの電極(11〜14,21〜24)と他方の電極本体20,10とで4つのコンデンサが形成されるので、スイッチの切り換えなどによって各コンデンサの静電容量を時分割で測定することができ、もってX方向、Y方向、及びZ方向の歪(変位)をそれぞれ求めることができるようになる。従って、稼働中の機器や構造物などにおいて応力を受けやすい部分などに対して、より精度の高い歪測定を行うことが可能となる。
さらに、本実施の形態においては、電極本体10は円柱状に形成されるとしているが、電極本体10の断面は、円形であっても楕円形であってもよく、また、電極本体10は、管状(例えば、断面の外形形状が円形、楕円形などの管状)であっても、角管状(例えば、断面の外形形状が正方形、長方形などの角管状)であっても、角柱状(例えば、断面形状が正方形、長方形などの角柱状)であってもよい。電極本体10の断面形状あるいは断面の外形形状が楕円形、長方形である場合には、電極本体10において、上下に配置される電極11と電極13が同じ形状をし、左右に配置される電極12と電極14が同じ形状をし、電極11,13と電極12,14の形状は異なる。
また、本実施の形態において、電極本体20は管状に形成されるとしているが、電極本体20の内側の孔の断面形状は、円形であっても楕円形であってもよく、また、電極本体20は、角管状(例えば、内側の孔の断面形状が正方形、長方形などの角管状)であってもよい。電極本体20の内側の孔の断面形状が楕円形、長方形である場合には、電極本体20において、上下に配置される電極21と電極23が同じ形状をし、左右に配置される電極22と電極24が同じ形状をし、電極21,23と電極22,24の形状は異なる。なお、電極本体10の断面の外形形状と電極本体20の内側の孔の断面形状は相似形であることが好ましい。
10 電極本体,11〜14 電極,20 電極本体,21〜24 電極,25 孔,30 絶縁支持体,40 絶縁支持体,50 取付部材,60 取付部材,71〜74 アンプ1〜4,80 XYZ方向演算部,100 歪測定装置,200 測定対象物,300 交流電源,310 コンデンサ,320 電流計,330 コイル

Claims (1)

  1. 棒状に形成された第一の電極部と、
    前記第一の電極部がX方向に進退可能であり、かつ、前記X方向と直交するY方向並びに前記X方向及び前記Y方向のそれぞれと直交するZ方向前記第一の電極部が移動可能な大きさの孔を内側に有する管状の第二の電極部と、
    前記第一の電極部を支持する第一の絶縁支持体と、
    前記第二の電極部を支持する第二の絶縁支持体と、
    前記第一の絶縁支持体及び前記第二の絶縁支持体を測定対象物にそれぞれ取付ける取付部材と、
    前記第一の電極部と前記第二の電極部の間における前記X方向、前記Y方向及び前記Z方向の変位を演算するXYZ方向演算部と、を備え、
    前記第一の電極部が、前記第一の電極部の中心軸を中心に4分割された電極から構成され、かつ、前記第二の電極部が、第二の電極部の中心軸を中心に4分割された電極から構成されており、
    前記第一の電極部を構成する電極と前記第二の電極部を構成する電極の組が、前記Y方向に二組及び前記Z方向に二組配置され、Y方向に対向する電極同士が静電容量C1,C3のコンデンサを形成し、Z方向に対向する電極同士が静電容量C2,C4のコンデンサを形成し、
    前記測定対象物の歪に応じて前記第一の電極部が前記第二の電極部の孔内を移動することにより前記コンデンサの静電容量C1〜C4が変化するように構成され、
    前記XYZ方向演算部は、
    前記静電容量C1からC4までの加算値を用いて前記X方向の変位を演算し、
    前記静電容量C1と前記静電容量C3の差分値を用いて前記Y方向の変位を演算し、
    前記静電容量C2と前記静電容量C4の差分値を用いて前記Z方向の変位を演算することを特徴とする歪測定装置。
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JP2016180692A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 中国電力株式会社 周波数決定装置、周波数決定方法、プログラム、測定装置、及び歪計

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JP3235001B2 (ja) * 1993-08-03 2001-12-04 ニッタ株式会社 静電容量式センサー
JP2007315853A (ja) * 2006-05-24 2007-12-06 Chugoku Electric Power Co Inc:The 歪測定装置
JP5132655B2 (ja) * 2009-10-23 2013-01-30 中国電力株式会社 歪計の取付構造、歪計の取付方法

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