JP5449996B2 - 回路基板検査装置および回路基板検査方法 - Google Patents
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Description
2 検出プローブ
3 電位付与プローブ
4 信号供給部
5 電流検出部
6 処理部
11 回路基板
12 回路部品
13 端子
14 配線パターン
G 基準電位
Id 交流電流
Iref しきい値
V1 交流電圧
Claims (3)
- 回路基板に形成された配線パターンに端子が接続されるべき回路部品についての前記配線パターンに対する前記端子の浮きを検査する回路基板検査装置であって、
基準電位を基準として交流電圧を生成すると共に、前記回路基板または前記回路部品の近傍に前記端子と容量結合可能な状態で配設された電極に対して当該交流電圧を供給する信号供給部と、
前記端子に接触可能に構成された検出プローブと、
前記検出プローブと前記基準電位との間に流れる交流電流を検出する電流検出部と、
前記基準電位に接続されると共に前記配線パターンに接触可能に構成されて、当該配線パターンを当該基準電位に規定可能な電位付与プローブと、
前記検出プローブが前記端子に接触されると共に前記電位付与プローブが前記配線パターンに接触され、かつ前記電極に対して前記交流電圧が供給されている状態において前記電流検出部で検出される前記交流電流の電流値と予め規定された電流値のしきい値とを比較して前記端子の浮きを検査する処理部とを備えている回路基板検査装置。 - 前記電流検出部は、非反転入力端子が前記基準電位に規定され、かつ反転入力端子と出力端子との間に電流電圧変換用の抵抗体が接続された演算増幅器を有する電流電圧変換回路で構成されている請求項1記載の回路基板検査装置。
- 回路基板に形成された配線パターンに端子が接続されるべき回路部品についての前記配線パターンに対する前記端子の浮きを検査する回路基板検査方法であって、
前記配線パターンを基準電位に規定すると共に、前記回路基板または前記回路部品の近傍に前記端子と容量結合可能な状態で配設された電極に対して前記基準電位を基準として生成した交流電圧を供給し、
当該交流電流の供給状態において、前記端子に接触させた検出プローブと前記基準電位との間に流れる交流電流を検出し、
当該検出した交流電流の電流値と予め規定された電流値のしきい値とを比較して前記端子の浮きを検査する回路基板検査方法。
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