JP5430484B2 - 半導体記憶装置、及びその制御方法 - Google Patents
半導体記憶装置、及びその制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5430484B2 JP5430484B2 JP2010094290A JP2010094290A JP5430484B2 JP 5430484 B2 JP5430484 B2 JP 5430484B2 JP 2010094290 A JP2010094290 A JP 2010094290A JP 2010094290 A JP2010094290 A JP 2010094290A JP 5430484 B2 JP5430484 B2 JP 5430484B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- refresh
- read
- data
- write
- memory cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40615—Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/401—Indexing scheme relating to cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C2211/406—Refreshing of dynamic cells
- G11C2211/4062—Parity or ECC in refresh operations
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Memory System (AREA)
Description
式(1)
11:ワード線選択回路
12:センスアンプSA、SAp
13:カラム選択回路YD、YDp
14:マルチプレクサMUX
15:ロウ制御回路RCU
16:カラム制御回路CCU
17:(リフレッシュ時間計測用)タイマー
18:カウンタAFC(内部リフレッシュ用のロウアドレス発生用カウンタ)
19:ECC回路
20:外部I/Oバッファ(入出力データ制御回路)
21:スケジュール制御部SRWR
22:アドレス入力レジスタ
23:タイマー入力レジスタ
24:コマンド入力レジスタ
25:データ出力ドライバ
26:データ入力レシーバ
27:クロックドライバ
30:リフレッシュ制御部
31:I/O側送受信回路
32:アレイ側送受信回路
33:低パワー化データバスLPDBUS
100、100A:半導体記憶装置
200:データ処理装置
300:半導体装置
Reg:同期用レジスタ
ADD:外部アドレス信号
CA:カラム活性化信号
CLK:外部クロック信号
COMM:(外部から与えられる)コマンド信号
Din:ライトデータ入力信号
Dout:リードデータ出力信号
ICLK:内部クロック
RA:ロウ系アレイコア活性化信号
SE:センスアンプイネーブル信号
Claims (7)
- データの保持にリフレッシュが必要な複数のメモリセルを備えたメモリセルアレイと、
外部からの指定に基づいて、前記メモリセルアレイの指定されたアドレスのメモリセルに対してリードアクセスまたはライトアクセスを行うリードライト制御部と、
前記複数のメモリセルに対して外部からの制御なしにヒドンリフレッシュを行うリフレッシュ制御部と、
前記メモリセルアレイに対して前記リードライト制御部がリードアクセスした後で、前記リフレッシュ制御部に前記ヒドンリフレッシュを行わせ、かつ、前記リードライト制御部がライトアクセスする前に前記リフレッシュ制御部に前記ヒドンリフレッシュを行わせるスケジュール制御部と、
を備え、
前記リードライト制御部は、
前記リードアクセス時には前記メモリセルアレイに対するリフレッシュ動作と並行して前記メモリセルアレイから読み出したデータのECC演算を行い、前記ライトアクセス時には前記メモリセルアレイに対するリフレッシュ動作と並行して前記メモリセルアレイに書き込むデータのECC演算を行う、ECC回路を備えたことを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記リードライト制御部は、
前記リードアクセス時には、前記メモリセルアレイに対するリフレッシュ動作と並行して、前記メモリセルアレイから読み出したデータのECC演算後のデータの外部への出力準備動作を行い、
前記ライトアクセス時には、前記メモリセルアレイに対するリフレッシュ動作と並行して、前記メモリセルアレイに書き込むデータのためのECC演算の準備を行うことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。 - 前記リードライト制御部は、外部I/Oバッファと前記メモリセルアレイとを接続する内部I/Oバスを備え、
前記リードアクセス時には、前記メモリセルアレイに対するリフレッシュ動作と並行して、前記メモリセルアレイから読み出したデータを前記内部I/Oバスを介して前記外部I/Oバッファへ転送し、
前記ライトアクセス時には、前記メモリセルアレイに対するリフレッシュ動作と並行して、前記外部I/Oバッファから入力したデータを前記内部I/Oバスを介して前記メモリセルアレイに送り、
前記内部I/Oバスは、データ遷移ビットの数が少なくなるようにコード化されたバス、低振幅化されたバス、多値レベル化されたバスのいずれかであることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体記憶装置。 - 前記リフレッシュ動作を制御するタイマー回路をさらに備え、
前記スケジュール制御部は、前記タイマー回路に基づく前記ヒドンリフレッシュ動作と、前記リードアクセスまたはライトアクセスが重なる場合に前記制御を行うことを特徴とする請求項1乃至3いずれか1項記載の半導体記憶装置。 - 前記半導体記憶装置は、
他の製品の半導体記憶装置と、共通に設計されたDRAM基本動作マクロ部と、
当該半導体記憶装置固有に設計された専用制御マクロ部と、
を備え、全体としてヒドンリフレッシュDRAMとして機能することを特徴とする請求項1乃至4いずれか1項記載の半導体記憶装置。 - 請求項1乃至5いずれか1項記載の半導体記憶装置と、
前記半導体記憶装置に記憶されているデータを用いてデータ処理を行うデータ処理装置と、
を備え、
前記リードライト制御部は、前記データ処理装置の指定に基づいて前記リードアクセスまたはライトアクセスを行い、
前記リフレッシュ制御部は、前記データ処理装置の制御なしに前記ヒドンリフレッシュを行うことを特徴とする半導体装置。 - 前記半導体記憶装置と前記データ処理装置が同一半導体基板上に形成されていることを特徴とする請求項6記載の半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010094290A JP5430484B2 (ja) | 2010-04-15 | 2010-04-15 | 半導体記憶装置、及びその制御方法 |
US13/070,034 US8582383B2 (en) | 2010-04-15 | 2011-03-23 | Semiconductor memory device with hidden refresh and method for controlling the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010094290A JP5430484B2 (ja) | 2010-04-15 | 2010-04-15 | 半導体記憶装置、及びその制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011227948A JP2011227948A (ja) | 2011-11-10 |
JP5430484B2 true JP5430484B2 (ja) | 2014-02-26 |
Family
ID=44788099
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010094290A Active JP5430484B2 (ja) | 2010-04-15 | 2010-04-15 | 半導体記憶装置、及びその制御方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8582383B2 (ja) |
JP (1) | JP5430484B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8954816B2 (en) * | 2011-11-28 | 2015-02-10 | Sandisk Technologies Inc. | Error correction coding (ECC) decode operation scheduling |
JP6072449B2 (ja) * | 2012-07-09 | 2017-02-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶回路及びその動作方法 |
JP5908375B2 (ja) * | 2012-08-30 | 2016-04-26 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
CN103700393B (zh) | 2012-09-28 | 2016-08-03 | 国际商业机器公司 | 用于dram的中间电路和方法 |
WO2014196315A1 (ja) * | 2013-06-05 | 2014-12-11 | 古野電気株式会社 | 航法装置及び部品寿命通知方法 |
KR102025880B1 (ko) * | 2015-05-27 | 2019-09-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 에러 보정 기능을 갖는 메모리 장치 및 그의 에러 보정 방법 |
KR102373544B1 (ko) | 2015-11-06 | 2022-03-11 | 삼성전자주식회사 | 요청 기반의 리프레쉬를 수행하는 메모리 장치, 메모리 시스템 및 메모리 장치의 동작방법 |
US9761297B1 (en) * | 2016-12-30 | 2017-09-12 | Intel Corporation | Hidden refresh control in dynamic random access memory |
CN108806742B (zh) * | 2017-05-04 | 2022-01-04 | 汤朝景 | 随机存取存储器并且具有与其相关的电路、方法以及设备 |
US10109339B1 (en) * | 2017-07-28 | 2018-10-23 | Micron Technology, Inc. | Memory devices with selective page-based refresh |
JP6429260B1 (ja) | 2017-11-09 | 2018-11-28 | 華邦電子股▲ふん▼有限公司Winbond Electronics Corp. | 疑似スタティックランダムアクセスメモリおよびそのリフレッシュ方法 |
TWI684178B (zh) * | 2017-12-13 | 2020-02-01 | 湯朝景 | 1t1d dram細胞以及用於動態隨機存取記憶體的存取方法及相關的裝置 |
CN110047266B (zh) * | 2018-01-17 | 2021-01-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 信息表示方法、多进制计算电路及电子系统 |
CN112711500B (zh) * | 2021-02-05 | 2024-06-11 | 国网浙江省电力有限公司湖州供电公司 | 一种基于手机app的变电站设备缺陷管控方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0440697A (ja) * | 1990-06-06 | 1992-02-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
JPH0991206A (ja) * | 1995-09-27 | 1997-04-04 | Toshiba Corp | メモリ制御装置およびメモリ検査方法 |
JP3352577B2 (ja) | 1995-12-21 | 2002-12-03 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 記憶装置 |
JP2001357670A (ja) | 2000-04-14 | 2001-12-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP4707803B2 (ja) * | 2000-07-10 | 2011-06-22 | エルピーダメモリ株式会社 | エラーレート判定方法と半導体集積回路装置 |
JP3726660B2 (ja) | 2000-09-01 | 2005-12-14 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体メモリ装置のリフレッシュ制御 |
JP3938842B2 (ja) | 2000-12-04 | 2007-06-27 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4749538B2 (ja) * | 2000-12-11 | 2011-08-17 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4078119B2 (ja) * | 2002-04-15 | 2008-04-23 | 富士通株式会社 | 半導体メモリ |
JP4236903B2 (ja) * | 2002-10-29 | 2009-03-11 | Necエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置及びその制御方法 |
JP2005285271A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Nec Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
JP2006155841A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Nec Electronics Corp | 半導体記憶装置及びリフレッシュ制御方法 |
KR101192533B1 (ko) | 2004-12-28 | 2012-10-17 | 삼성전자주식회사 | 멀티미디어 메시지 관리 방법 및 단말 |
JP2006190425A (ja) | 2005-01-07 | 2006-07-20 | Nec Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
US7313047B2 (en) | 2006-02-23 | 2007-12-25 | Hynix Semiconductor Inc. | Dynamic semiconductor memory with improved refresh mechanism |
-
2010
- 2010-04-15 JP JP2010094290A patent/JP5430484B2/ja active Active
-
2011
- 2011-03-23 US US13/070,034 patent/US8582383B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110255360A1 (en) | 2011-10-20 |
JP2011227948A (ja) | 2011-11-10 |
US8582383B2 (en) | 2013-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5430484B2 (ja) | 半導体記憶装置、及びその制御方法 | |
US7675800B2 (en) | Semiconductor memory, memory controller, system, and operating method of semiconductor memory | |
US8547776B2 (en) | Multi-port memory based on DRAM core | |
US9978430B2 (en) | Memory devices providing a refresh request and memory controllers responsive to a refresh request | |
EP3055863B1 (en) | Data processor with memory controller for high reliability operation and method | |
JP4723679B2 (ja) | 半導体記憶装置、メモリシステム、及び半導体記憶装置のリフレッシュ制御方法 | |
US6151664A (en) | Programmable SRAM and DRAM cache interface with preset access priorities | |
US7483331B2 (en) | Semiconductor memory, memory system, and operation method of memory system | |
KR20190022428A (ko) | 고속 메모리 인터페이스들을 위한 명령 중재 | |
US20100037014A1 (en) | Memory device, memory system and dual port memory device with self-copy function | |
US11694739B2 (en) | Refresh management for memory | |
US20210374006A1 (en) | Refresh management for dram | |
US20240069811A1 (en) | Efficient rank switching in multi-rank memory controller | |
KR20230069234A (ko) | Dram을 위한 리프레시 관리 목록 | |
US20050182908A1 (en) | Method and apparatus of interleaving memory bank in multi-layer bus system | |
JP6040627B2 (ja) | メモリ制御装置、情報処理装置およびメモリ制御装置の制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130201 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130611 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130618 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130819 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130910 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131031 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131126 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131203 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5430484 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |