JP5411882B2 - 3次元形状検査方法 - Google Patents
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Description
15 ベース基板
20 第1部品
22 ディンプル
30 第2部品
32 面取り
100 測定ステージ部
200 画像撮影部
210 カメラ
300 第1照明装置
400 第2照明装置
450 第2照明部
500 画像取得部
600 モジュール制御部
700 中央制御部
RP1 第1基準点
RP2 第2基準点
Claims (15)
- 照明装置から発生する光を測定対象物に照射して画像を撮影し、撮影された前記画像を用いて前記測定対象物の高さ情報を取得し、当該高さ情報に基づいて当該測定対象物の3次元形状を計測して前記測定対象物の良否を検査する3次元形状検査方法において、
前記測定対象物として基板に形成された所定の検査対象部品を選定し、
前記検査対象部品の高さ情報を取得し、当該高さ情報に基づいて測定対象物の3次元形状を計測し、
前記検査対象部品の基準点を検出し、
前記検査対象部品に形成された極性マークの前記基準点に対する相対的な位置情報を確認し、
前記基準点に対する相対的な位置情報と前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークの存否を確認することで前記検査対象部品の良否を判断すること、
を含むことを特徴とする3次元形状検査方法。 - 前記照明装置から発生する光は格子パターン光であり、前記撮影された画像はパターン画像であることを特徴とする請求項1記載の3次元形状検査方法。
- 前記検査対象部品の形状を取得する以前に、前記検査対象部品に対する検査領域を設定することをさらに含むことを特徴とする請求項1記載の3次元形状検査方法。
- 前記基準点に対する相対的な位置情報を用いて前記極性マークの存否を確認することで前記検査対象部品の良否を判断することは、
前記基準点に対する相対的な位置情報を用いて前記極性マークが存在すると予想される位置に前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークが存在するかを確認して前記極性マークが存在する場合良好と判断し、前記極性マークが存在しない場合不良と判断することを特徴とする請求項1記載の3次元形状検査方法。 - 前記基準点に対する相対的な位置情報を用いて前記極性マークの存否を確認することで前記検査対象部品の良否を判断することは、
前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークの位置を検出することと、
前記基準点に対する相対的な位置情報と前記検出された極性マークの位置とを比較して前記検査対象部品の良否を判断することと、を含むことを特徴とする請求項1記載の3次元形状検査方法。 - 前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークの位置を検出することは、
前記基準点に対する相対的な位置情報を用いて前記極性マークが存在すると予想される第1位置に前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークが存在fするかを確認して前記極性マークの位置を検出することと、
前記第1位置に前記極性マークが存在しない場合、前記検査対象部品が所定角度捩れた第2位置に前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークが存在するかを確認して前記極性マークの位置を検出することと、を含むことを特徴とする請求項5記載の3次元形状検査方法。 - 前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークの位置を検出することは、
前記基準点に対する相対的な位置情報を用いて前記極性マークが存在すると予想される第1位置に前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークが存在するかを確認して前記極性マークの位置を検出することと、
前記第1位置に前記極性マークが存在しない場合、前記検査対象部品の所定角度捩れた第2位置に前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークが存在するかを確認して前記極性マークの位置を検出することと、
前記第2位置に前記極性マークが存在しない場合、前記検査対象部品が所定角度回転された第3位置に前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークが存在するかを確認して前記極性マークの位置を検出することと、を含むことを特徴とする請求項5記載の3次元形状検査方法。 - 前記検査対象部品に形成された極性マークは、前記検査対象部品上の前記極性マークの隣接した領域と相異した高さを有することを特徴とする請求項1記載の3次元形状検査方法。
- 前記検査対象部品は、上面に形成されたディンプル及び角に形成された面取りのうちいずれか一つを前記極性マークとして採用することを特徴とする請求項8記載の3次元形状検査方法。
- 前記検査対象部品に形成された極性マークの前記基準点に対する相対的な位置情報は、前記検査対象部品に対する形状を記録したキャド情報から確認されるか、学習モードによって取得された学習情報から確認されることを特徴とする請求項1記載の3次元形状検査方法。
- 照明装置から発生する光を測定対象物に照射して生成された画像を撮影し、撮影された前記画像を用いて前記測定対象物の高さ情報を取得し、当該高さ情報に基づいて当該測定対象物の3次元形状を計測して前記測定対象物の良否を検査する形状検査方法において、
前記測定対象物としてプリント回路基板のベース基板上に形成された所定の検査対象部品を選定することと、
前記検査対象部品を2次元検査類型または3次元検査類型に決定することと、
前記検査対象部品の類型が2次元検査類型に決定された場合、第1検査過程を実行する段階と、
前記検査対象部品の類型が3次元検査類型に決定された場合、第2検査過程を実行する段階と、
を含み、
前記第1検査過程は、
前記検査対象部品の2次元画像を取得することと、
前記検査対象部品の極性マークの位置を分析して前記検査対象部品の良否を判断することと、
を含み、
前記第2検査過程は、
前記検査対象部品の基準点を検出することと、
前記検査対象部品に形成された極性マークの前記基準点に対する相対的な位置情報を確認することと、
前記基準点に対する相対的な位置情報と前記測定対象物の3次元形状を計測する過程で取得された高さ情報を用いて前記極性マークの位置を検出することと、
前記極性マークの前記基準点に対する相対的な位置情報を通じて前記検査対象部品の良否を判断することと、
を含むことを特徴とする3次元形状検査方法。 - 前記検査対象部品は、前記検査対象部品の領域別に一部領域は前記2次元検査類型に決定され、一部領域は3次元検査類型に決定されることを特徴とする請求項11記載の3次元形状検査方法。
- 前記検査対象部品の類型は、前記検査対象部品に形成された極性マークが前記検査対象部品上の前記極性マークの隣接した領域と同一の高さを有する場合前記2次元検査類型に決定されることを特徴とする請求項11記載の3次元形状検査方法。
- 前記検査対象部品は、上面の所定領域に形成された記号、前記隣接した領域と相異なるように彩色された部分、及び前記隣接した領域と区分できるように表示された領域表示のうちいずれか一つを前記極性マークとして採用することを特徴とする請求項13記載の3次元形状検査方法。
- 前記検査対象部品の類型は、前記検査対象部品に形成された極性マークが前記検査対象部品上の前記極性マークの隣接した領域と相異した高さを有する場合前記3次元検査類型に決定されることを特徴とする請求項11記載の3次元形状検査方法。
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