JP5389603B2 - 切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法 - Google Patents

切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法 Download PDF

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Description

本発明は、切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法に関する。
半導体ウエーハやセラミックス、ガラス等の精密切削が必要となる種々の電子部品は、ダイシングソーといわれる切削装置で個々のチップに分割される。これら電子部品の加工にはミクロン単位の精密な切断が必要であり、それにはチップのサイズのみならず切り込み深さも重要となる。
例えば、半導体ウエーハはダイシングテープに固定され、ダイシングテープに切削ブレードを10〜30μm程度切り込ませて半導体ウエーハが完全切断されるが、このダイシングテープへの切り込み量が足りなければウエーハは不完全切断となり、下側の切断辺は欠けたようなギザギザ状態となってしまう。
また、切削に用いる切削ブレードは、切削加工するにつれて消耗(磨耗)していく性質を持っており、切削ブレードの消耗による切り込み深さの変動を随時補正していく必要がある。
こうした切削ブレードの刃先位置の変動は、光学センサーとよばれる位置検出手段によって随時検出され、検出結果に基づいて切削ブレードの高さ位置の補正(原点位置補正)を行うようにしている(例えば、特開平11−214334号公報参照)。この技術によって、被加工物を固定するチャックテーブルや被加工物を切断せずに、切削ブレードを傷めることなく容易に切削ブレードの高さ位置を検出することができる。
特開平11−214334号公報
ところが、昨今の加工技術の進化や製品の多様化により、例えば予め幅の厚い切削ブレードで浅切りした後、薄い切削ブレードで分割するといった加工方法を用いてチップの切断辺の欠け(チッピング)を抑制する加工方法が採用されている。
また、シリコンウエーハ上面に形成された樹脂膜とその土台となるシリコンとを別の切削ブレードで切り分けることによりどちらの材質にも最適な切削加工ができることで、チッピングサイズを抑制するといった加工方法が多く用いられている。
これらの切削加工には、特に半導体ウエーハの上面側を加工するハーフカットを実施する際、切り込み深さが要求以上でも要求以下でも良好な加工結果が得られないことから高精度な切り込み深さの制御が要求される。
従来の切削ブレードのセットアップ(切削ブレードの基準位置検出)では、目視で設定したX方向の位置でセットアップを行っていたため、切削ブレードの最下点端部からずれた位置でセットアップを行った場合、基準位置の検出誤差が大きくなり易いという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、切削ブレードの正確な最下点端部位置でセットアップを行うことが可能な切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法を提供することである。
本発明によると、切削ブレードと、該切削ブレードの外周端部の位置を検出する光学センサーとを備え、該切削ブレードは該光学センサーに対して相対的に垂直方向(Z方向)に上下動し、該光学センサーは該切削ブレードに対して相対的に水平方向(X方向)に移動する構成の切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法であって、該切削ブレードを固定し該光学センサーを該切削ブレードに対してZ方向に移動するものと仮定したとき、該光学センサーをX方向及びZ方向に移動してX方向の少なくとも異なる3点で該切削ブレードの外周端部を検出する複数端部検出工程と、検出された複数の外周端部のX,Z座標から該切削ブレードの回転中心座標(X、Z)を算出する中心算出工程と、算出された回転中心座標(X、Z)のX座標と合致する位置Xに該光学センサーを位置付け、該切削ブレードをZ方向に移動させて、該切削ブレードの該回転中心の直下に位置する該切削ブレードの最下点となる端部の位置を検出する最下点端部検出工程と、被加工物を該切削ブレードで適宜切削加工した後に、該中心算出工程と該最下点端部検出工程とを遂行して、前回割り出された該切削ブレードの最下点端部の位置と比較し、該切削ブレードの消耗量を算出する消耗量算出工程と、を具備したことを特徴とする切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法が提供される。
好ましくは、切削ブレードの消耗量管理方法は、消耗量算出工程から算出された切削ブレードの消耗量に基づいて、切削ブレードのZ方向の原点位置を補正する位置補正工程を更に具備している。
好ましくは、切削ブレードの消耗量管理方法は、前回までに割り出された消耗量の合計と消耗量算出工程で算出された切削ブレードの消耗量の加算値が、予め定めた切削ブレードの使用可能限界の基準となる最大消耗可能量を上回る場合は、切削ブレードの使用を中止する限界判定工程を更に具備している。
本発明によると、予め切削ブレードの回転中心位置のX座標を割り出してから、回転中心位置のX座標でセットアップを行うため、切削ブレードの正確な最下点端部位置で切削ブレードの基準位置を検出することができる。
また、回転中心位置のX座標を記憶し、次回以降のセットアップの際は、記憶した回転中心位置のX座標でセットアップを行えば、複数点でのセットアップを毎回実施する必要はない。
切削装置の斜視図である。 ダイシングテープを介して環状フレームに支持された半導体ウエーハの表面側斜視図である。 ブレード検出手段及びチャックテーブル部分の一部断面側面図である。 ブレード検出手段の要部の斜視図である。 ブレード端部検出機構のブロック図である。 図6(A)は切削ブレードの最下点と光学センサーとの位置関係を示す図、図6(B)は複数端部検出工程の説明図である。 切削ブレードの切り込み方向の位置に応じたブレード端部検出機構の出力電圧の変化を示すグラフである。 複数端部のX,Z座標の算出方法を説明する図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は、切削装置2の概略構成図を示している。切削装置2は、静止基台4上に搭載されたX軸方向に伸長する一対のガイドレール6を含んでいる。
8はテーブルベース(X軸移動ブロック)であり、テーブルベース8はボール螺子10及びパルスモータ12とから構成されるX軸送り機構14により加工送り方向、即ちX軸方向に移動される。テーブルベース8上には円筒状支持部材22を介してチャックテーブル20が搭載されている。円筒状支持部材22中にチャックテーブル20を回転するモータが収容されている。
チャックテーブル20は多孔性セラミックス等から形成された吸着部(吸着チャック)24と、吸着チャック24を囲繞するSUS等の金属から形成された枠体23を有している。吸着部24の吸着面と枠体23の上面とは面一に形成されている。チャックテーブル20には、図2に示す環状フレームFをクランプする複数(本実施形態では4個)のクランパ26が配設されている。25は防水カバーである。
図2に示すように、切削装置2の加工対象である半導体ウエーハWの表面においては、第1のストリートS1と第2のストリートS2とが直交して形成されており、第1のストリートS1と第2のストリートS2とによって区画された領域にそれぞれデバイスDが形成されている。
ウエーハWは粘着テープであるダイシングテープTに貼着され、ダイシングテープTの外周部は環状フレームFに貼着されている。これにより、ウエーハWはダイシングテープTを介して環状フレームFに支持された状態となり、図1に示すクランパ26により環状フレームFをクランプすることにより、チャックテーブル20上に吸引固定される。
X軸送り機構14は、ガイドレール6に沿って静止基台4上に配設されたリニアスケール16と、リニアスケール16のX座標値を読みとるテーブルベース8の下面に配設された読み取りヘッド18とを含んでいる。読み取りヘッド18は切削装置2のコントローラに接続されている。
静止基台4上には更に、Y軸方向に伸長する一対のガイドレール28が固定されている。Y軸移動ブロック30が、ボール螺子32及びパルスモータ34とから構成されるY軸送り機構(割り出し送り機構)36によりY軸方向に移動される。
特に図示しないが、Y軸送り機構36は、ガイドレール28に沿って静止基台4上に配設されたリニアスケールと、このリニアスケールのY座標値を読み取るY軸移動ブロック30の下面に配設された読み取りヘッドを含んでおり、読み取りヘッドは切削装置2のコントローラに接続されている。
Y軸移動ブロック30にはZ軸方向に伸長する一対の(一本のみ図示)ガイドレール38が形成されている。Z軸移動ブロック40が、図示しないボール螺子とパルスモータ42とから構成されるZ軸送り機構44によりZ軸方向に移動される。
特に図示しないが、Z軸送り機構44は、ガイドレール38に沿ってY軸移動ブロック30上に配設されたリニアスケールと、このリニアスケールのZ座標値を読み取るZ軸移動ブロック40に配設された読み取りヘッドを含んでおり、読み取りヘッドは切削装置2のコントローラに接続されている。
46は切削ユニット(切削手段)であり、切削ユニット46のスピンドルハウジング48がZ軸移動ブロック40中に挿入されて支持されている。スピンドルハウジング48中にはスピンドル49(図5参照)が収容されて、エアベアリングにより回転可能に支持されている。スピンドル49はスピンドルハウジング48中に収容された図示しないモータにより回転駆動され、スピンドル49の先端部には切削ブレード50が着脱可能に装着されている。
スピンドルハウジング48にはアライメントユニット(アライメント手段)52が搭載されている。アライメントユニット52はチャックテーブル20に保持されたウエーハWを撮像する撮像ユニット(撮像手段)54を有している。切削ブレード50と撮像ユニット54はX軸方向に整列して配置されている。
図3及び図4に示すように、切削ブレード50の切り込み方向の基準位置を検出するブレード検出手段56は、テーブルベース8から立設する垂直支持部材78と、垂直支持部材78に固定され垂直支持部材78からチャックテーブル20の横に突出するように延在する水平支持部材72と、水平支持部材72の先端部に搭載されたブレード端部検出機構58とから構成される。図4に最も良く示されるように、水平支持部材72は複数個のねじ76により垂直支持部材78に固定されている。
図3に示すように、防水カバー25が複数のねじ77により垂直支持部材78に固定されている。図4では、防水カバー25が省略されている。チャックテーブル20の円筒状支持部材22と防水カバー25との間にはパッキン27が配設されている。80は蛇腹であり、図1では省略されている。
ブレード端部検出機構58は、水平部60aと垂直部60bを有する取り付け部材60を含んでいる。取り付け部材60の垂直部60bの先端はブレード侵入部62を画成するU形状に形成されており、このブレード侵入部62を挟んで発光部64と発光部64からの光を受光する受光部66からなる光センサー65が配設されている。図5に示すように、発光部64は光ファイバー81を介して光源82に接続されており、受光部66は光ファイバー83を介して光電変換部84に接続されている。
取り付け部材60の水平部60aには、発光部64及び受光部66の端面に恒温調整された洗浄水を供給する洗浄水供給ノズル68a,68bと、発光部64及び受光部66の端面にエアを供給するエア供給ノズル70a,70bが配設されている。
次に、切削ブレード50を金属からなるチャックテーブル20の枠体23に切り込ませて導通を取ることにより、切削ブレード50の原点位置を検出する原点位置検出機構及び切削ブレード50の基準位置を検出して切削ブレードの消耗量(磨耗量)を検出するブレード端部検出機構58の作用について説明する。
新たなチャックテーブル20を搭載したとき、或いはチャックテーブル20を分解して清掃後再組立した時等には、まず原点位置検出機構で、切削ブレード50をチャックテーブル20の枠体23に切り込ませて導通を取ることにより、切削ブレード50の原点位置を検出し、この原点位置を切削装置2のコントローラのメモリに記憶する。
次いで、ブレード端部検出機構56による切削ブレード50の刃先の切り込み方向の基準位置を検出する基準位置検出を実施する。この基準位置検出を図5を参照して説明する。光源82からの光は光ファイバー81で搬送されて発光部64からビーム状に出射される。受光部66は発光部64が発光した光を受光し、この受光した光を光ファイバー83を介して光電変換部84に送る。
光電変換部84は、受光部66から送られる光の光量に対応した電圧を電圧比較部88に出力する。一方、電圧比較部88には基準電圧設定部86によって設定された基準電圧(例えば3V)が入力されている。
電圧比較部88は、光電変換部84からの出力と基準電圧設定部86によって設定された基準電圧とを比較し、光電変換部84からの出力が基準電圧に達したとき、その旨の信号を基準位置検出部90に出力する。
より詳細に説明すると、切削ブレード50の切り込み方向の基準位置を検出する場合は、Z軸送り機構44のパルスモータ42を駆動して、切削ブレード50をブレード端部検出機構58のブレード侵入部62に上方から侵入させていく。
この時、切削ブレード50が光学センサー65の発光部64と受光部66との間を全く遮っていない場合は受光部66が受光する光量は最大であり、この光量に対応する光電変換部84からの出力は例えば図7に示すように5Vに設定されている。
切削ブレード50がブレード侵入部62に侵入されるのに従って切削ブレード50が発光部64から出射される光ビームを遮る量が徐々に増加するので、受光部66が受光する光量は徐々に減少し、光電変換部84からの出力電圧は図7に符号92で示すように徐々に減少する。
そして、切削ブレード50が発光部64と受光部66の中心を結ぶ位置に達したとき、光電変換部84からの出力電圧が例えば3Vになるように設定されている。従って、光電変換部84の出力電圧が3Vになったとき、電圧比較部88は光電変換部84の出力電圧が基準電圧に達した旨の信号を端部位置検出部90に出力する。
端部位置検出部90は、基準位置(端部位置)を検出した旨の信号をパルスモータ42に送信し、パルスモータ42の駆動を停止する。この時、端部位置検出部90は、切削ブレード50の切り込み方向(Z軸方向)の位置を検出するリニアスケールの値を基準位置として記憶する。
図3に示すように、チャックテーブル20の吸着部24の保持面位置と、ブレード端部検出機構58で検出した切削ブレード50の基準位置との間には所定の高さ方向(切り込み方向)の差が存在する。
よって、原点位置検出機構で検出した切削ブレード50の原点位置及びブレード端部検出機構58で検出した切削ブレード50の基準位置は双方ともメモリに記憶されているため、ブレード端部検出機構58で検出した基準位置を原点位置と基準位置の差で補正することにより、ブレード端部検出機構58で検出した基準位置に基づいて切削ブレード50がチャックテーブル20の枠体23の上面に接触する原点位置を検出することができる。
図3で矢印Pは切削ブレード50が基準位置検出動作をしている場合を示しており、矢印Qは切削ブレード50がウエーハWの切削加工動作をしている場合をそれぞれ示している。尚、基準位置検出動作及び切削加工動作とも、切削ブレード50は矢印A方向に高速(例えば、30000rpm)で回転されている。
上述した切削ブレード50の原点位置及びブレード端部検出機構58で検出した切削ブレード50の基準位置との差は切削装置の組立誤差等により変動するため、切削装置毎に求められこの差がメモリに記憶される。
よって、通常の切削加工の途中で切削ブレード50の原点位置の再検出の必要が生じた場合には、ブレード端部検出機構58で切削ブレード50の基準位置を検出し、この基準位置を予め記憶されている補正値により補正して切削ブレード50の原点位置とする。
これにより、切削ブレード50でチャックテーブル20の枠体23の上面に切り込んで原点位置を検出する必要性を最小限に抑えることができ、枠体23上面の傷つきを抑制することができる。
切削ブレード50が磨耗するとその刃先が徐々に下降するので、ブレード端部検出機構58を使用して切削ブレード50の基準位置を継続的に検出することにより、切削ブレード50の消耗量(磨耗量)を検出することができる。
しかし、従来の切削ブレードのセットアップ(切削ブレードの基準位置検出)では、目視で設定したX方向の位置でセットアップを行っていたため、切削ブレードの最下点端部から多少ずれた位置でセットアップを行い易いという問題があった。
以下、この問題を解決した本発明の切削ブレードの消耗量管理方法について主に図6及び図8を参照して説明する。図6(A)を参照すると、切削ブレード50のセットアップ時の、切削ブレード50と光学センサー65との位置関係が示されている。
切削ブレード50は矢印Z方向に移動可能であり、光学センサー60はZ方向に直交するX方向に移動可能である。切削ブレード50のセットアップは、切削ブレード50の外周端部と回転中心55から下ろした垂線との交点である最下点端部57を光学センサー65で検出して実施する必要がある。
本発明の切削ブレードの消耗量管理方法では、図6(B)に示すように光学センサー65をX方向に移動した少なくとも3箇所でセットアップを実施し、切削ブレード50の回転中心55のX座標を正確に求めることを特徴とする。図6(B)で、符号93は第1のX方向セットアップ位置であり、94は第2のX方向セットアップ位置であり、96は第3のX方向セットアップ位置である。
光学センサー65が第1のX方向セットアップ位置93に位置づけられている場合には、光学センサー65で切削ブレード50の外周端部位置を検出し、光学センサー65が第2のX方向セットアップ位置に位置づけられている場合には、光学センサー65で切削ブレード50aの外周端部位置を検出し、光学センサー65が第3のX方向セットアップ位置96に位置づけられている場合には、光学センサー65で切削ブレード50bの外周端部位置を検出する。
光学センサー65はZ方向に固定され、切削ブレード50がZ方向に移動するので、上述した3点のX方向セットアップ位置93,94,96で検出した切削ブレード50の外周端部位置をP,Q,Rとすると、これら3点検出時のZ軸送り機構44の送り量の相対的関係は図8に概略的に示すようになる。
ここで、光学センサー65と切削ブレード50はZ方向に相対的に移動するので、切削ブレード50を固定し、光学センサー65が切削ブレード50に対してZ方向に移動するものとして、固定した切削ブレード50の回転中心位置を検出する。
図8に示すように、光学センサー65でP点検出時のZ座標値を通過しX方向に平行な直線を98とすると、切削ブレード50を固定し光学センサー65をZ方向に移動させた場合の、第2のX方向セットアップ位置94及び第3のX方向セットアップ位置96での光学センサー65で検出する切削ブレード50の外周端部位置は、直線98に対して点Q,Rの対称位置であるQ´,R´となる。
よって、線分PQ´の垂直二等分線100と、線分Q´R´の垂直二等分線102との交点104を求めると、この点104がP点検出時の切削ブレード50の回転中心となる。
実際には、Z軸送り機構44のパルスモータ42のパルス数をカウントすることにより、切削ブレード50のZ方向の位置を検出しているため、点Q及びRを検出したときのカウント値の符号を反転することにより、点Q及びRの直線98に対して対称位置である点Q´及びR´を求める。切削ブレード50の回転中心位置104の算出は、図5に示した端部位置検出部90からの出力信号に応じて、中心座標算出部106で算出する。
このようにして算出された回転中心104の座標を(X、Z)とすると、回転中心104のX座標と合致する位置Xに光学センサー65を位置付け、切削ブレード50をZ方向に移動させて、切削ブレード50の回転中心104の直下に位置する切削ブレード50の最下点端部位置を検出する。これにより、切削ブレード50の正確な基準位置を検出することができる。切削ブレード50の最下点端部位置である基準位置は、切削装置のメモリに記憶される。
本実施形態の切削ブレードの消耗量管理方法では、半導体ウエーハWを切削ブレード50で適宜切削した後に、上述した回転中心算出工程と最下点端部検出工程とを遂行して、前回割り出されて記憶された切削ブレード50の最下点端部の位置と比較し、切削ブレード50の消耗量を算出する消耗量算出工程を実行する。
そして、消耗量算出工程から算出された切削ブレード50の消耗量に基づいて、位置補正部108で切削ブレード50のZ方向の原点位置を補正する。この原点位置の補正により、切削ブレード50の刃先先端部をチャックテーブル20の枠体23の上面に接触する位置にもたらすことができる。
本実施形態の切削ブレードの消耗量管理方法では、前回までに割り出された消耗量の合計と消耗量算出工程で算出された切削ブレード50の消耗量との加算値が、予め定めた切削ブレード50の使用可能限界の基準となる最大消耗可能量を上回る場合は、切削ブレードの使用可能限界であると判定して切削ブレード50の使用を中止し、新たな切削ブレードと交換する。
上述した本実施形態によると、予め切削ブレード50の回転中心位置のX座標を割り出してから、回転中心位置のX座標の位置でセットアップを行うため、切削ブレード50の正確な最下点端部位置で切削ブレード50の基準位置を検出することができる。
好ましくは、回転中心位置のX座標を切削装置2のメモリに記憶する。これにより、次回以降のセットアップの際は、記憶した回転中心位置のX座標でセットアップを行えば、複数点でのセットアップを毎回実施する必要は無い。
2 切削装置
8 テーブルベース
20 チャックテーブル
50 切削ブレード
56 ブレード検出手段
58 ブレード端部検出機構
62 ブレード侵入部
64 発光部
65 光学センサー
66 受光部
93 第1のX方向セットアップ位置
94 第2のX方向セットアップ位置
96 第3のX方向セットアップ位置
100,102 垂直二等分線
104 回転中心

Claims (3)

  1. 切削ブレードと、該切削ブレードの外周端部の位置を検出する光学センサーとを備え、該切削ブレードは該光学センサーに対して相対的に垂直方向(Z方向)に上下動し、該光学センサーは該切削ブレードに対して相対的に水平方向(X方向)に移動する構成の切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法であって、
    該切削ブレードを固定し該光学センサーを該切削ブレードに対してZ方向に移動するものと仮定したとき、該光学センサーをX方向及びZ方向に移動してX方向の少なくとも異なる3点で該切削ブレードの外周端部を検出する複数端部検出工程と、
    検出された複数の外周端部のX,Z座標から該切削ブレードの回転中心座標(X、Z)を算出する中心算出工程と、
    算出された回転中心座標(X、Z)のX座標と合致する位置Xに該光学センサーを位置付け、該切削ブレードをZ方向に移動させて、該切削ブレードの該回転中心の直下に位置する該切削ブレードの最下点となる端部の位置を検出する最下点端部検出工程と、
    被加工物を該切削ブレードで適宜切削加工した後に、該中心算出工程と該最下点端部検出工程とを遂行して、前回割り出された該切削ブレードの最下点端部の位置と比較し、該切削ブレードの消耗量を算出する消耗量算出工程と、
    を具備したことを特徴とする切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法。
  2. 該消耗量算出工程から算出された該切削ブレードの消耗量に基づいて、該切削ブレードのZ方向の原点位置を補正する位置補正工程を更に具備した請求項1記載の切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法。
  3. 前回までに割り出された消耗量の合計と前記消耗量算出工程で算出された該切削ブレードの消耗量の加算値が、予め定めた該切削ブレードの使用可能限界の基準となる最大消耗可能量を上回る場合は、該切削ブレードの使用を中止する限界判定工程を更に具備した請求項1又は2記載の切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法。
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