JP5380290B2 - シリカ粉末の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、シリカ粉末の製造方法に関する。
近年、電子機器の小型軽量化、高性能化の要求に応じ、半導体パッケージの小型化、薄型化、狭ピッチ化が加速している。また、実装方法も高密度実装が容易な表面実装が主流になりつつある。このような状況下、半導体封止材料(以下、「封止材」という。)にも高性能化が要求され、半田耐熱性、耐湿性、低熱膨張性、電気絶縁性の更なる向上の要求がある。これを実現するため、シリカ粉末の粒度分布の変動係数を10%以下とし粒度分布をシャープにする(特許文献1参照)、粒子径が45μm以上の粒子の球形度を0.75〜1.0とし粗粉域の球形度を高くする(特許文献2参照)、平均粒子径0.1〜1μm程度の球状微小シリカ粉末を少量添加する(特許文献3参照)などの方法が提案され、封止材の流動性と充填性の向上が図られた。しかし、これらの特性が良くなるあまり、成形時の金型のエアーベント部から封止材が溢れ出るというバリの発生問題がクローズアップした。
特開平11−124504号公報 特開2004−123849号公報 特開平5−239321号公報
本発明の目的は、流動性と充填性に優れ、バリの発生が更に少ない封止材の製造に適したシリカ粉末の製造方法を提供することである。
本発明は、下記の要旨とするものである。
1.シリカ粉末原料を燃焼バーナーで形成された1750℃以上の高温場に噴射して熱処理するにあたり、上記高温場の形成範囲を燃焼バーナーの先端部から3.0〜4.5mまでの部分とし、その高温場に金属シリコン粉末を0.05〜10質量%含有させたシリカ粉末原料を噴射することを特徴とするシリカ粉末の製造方法。
2.前記シリカ粉末原料としては、金属シリコン粉末を0.05〜10質量%含有する天然珪石粉砕物である上記1に記載の製造方法
3.得られるシリカ粉末が、超微粉末を0.1〜20質量%含む平均球形度が0.85以上であって、上記超微粉末が、動的光散乱式粒度分布測定機にて測定された粒度において、平均粒子径が150〜250nmであり、粒子径100nm以下の粒子含有率が10質量%未満(0質量%を含まない)であり、かつ粒子径が100nmを超え150nm以下の粒子含有率が10〜50質量%である上記1又は2に記載の製造方法
4.得られるシリカ粉末が、レーザー回折散乱式粒度分布測定機にて測定された平均粒子径が5〜50μmであり、少なくとも二つの山を持つ多峰性の粒度分布を有し、第一の山の極大値が3〜15μm、第二の山の極大値が20〜80μmの範囲内にある上記3に記載の製造方法
本発明の製造方法で得られるシリカ粉末(以下では、単に、本発明のシリカ粉末という場合がある。)は、流動性と充填性に優れ、バリの発生が更に少なくなり、特に封止材に適する

本発明のシリカ粉末は超微粉末を0.1〜20質量%含有している。本発明のシリカ粉末中の超微粉末とは、粒子径が0.45μm未満であり、動的光散乱式粒度分布測定機にて測定された粒度において、平均粒子径が150〜250nmであり、しかも、粒子径100nm以下の粒子含有率が10質量%未満(0質量%を含まない)であり、かつ粒子径が100nmを超え150nm以下の粒子含有率が10〜50質量%で構成されており、材質がシリカであると定義される。この超微粉末の含有率が0.1質量%未満であるとバリ低減の効果がなくなる。また、20質量%を超えるとシリカ粉末を樹脂等に高充填させたときに増粘し、流動性と充填性が悪化する。特に好ましい超微粉末の含有率は1〜15質量%である。
超微粉末の平均粒子径が150nm未満であると、バリ低減の効果があるが、溶融粘度が大きくなるので流動性と充填性が悪化する。一方、平均粒子径が250nmを超えると流動性と充填性は向上するが、バリ低減の効果が小さくなる。好ましい超微粉末の平均粒子径は170〜210nmである。また、超微粉末の粒子径100nm以下の粒子含有率と粒子径が100nmを超え150nm以下の粒子含有率とが上記範囲外であると、シリカ粉末の密充填構造に寄与しない粒子が多くなり、樹脂等に高充填させたときに増粘し、流動性と充填性が悪化する。粒子径100nm以下の粒子の好ましい含有率は2〜9質量%であり、粒子径が100nmを超え150nm以下の粒子の好ましい含有率は15〜40質量%である。
超微粉末の粒度構成は、動的光散乱式粒度分布測定機(「Nanotorac150」、日機装社製)にて自動測定される。試料には、シリカ粉末3gと水27gの配合物を200W出力の超音波ホモジナイザーで3分間撹拌してシリカ濃度10質量%のスラリーを調製し、それを1000Gで13分間遠心分離を行って粗大粒子を沈降させ、その上澄み液20mlを用いた。粒度分布の解析は、0.003〜6.5μmの粒径範囲を43分割して行った。水の屈折率としては1.33、シリカ粉末の屈折率としては1.46を用いた。
本発明のシリカ粉末の平均球形度は0.85以上である。シリカ粉末の球形度が高いほど封止材中の転がり抵抗が小さくなり、流動性が向上するので、平均球形度は0.90以上であることが特に好ましい。
平均球形度の測定は以下のとおりである。実体顕微鏡(例えばニコン社製、商品名「モデルSMZ−10型」)等にて撮影した粒子像を画像解析装置(例えばマウンテック社製、商品名「MacView」)に取り込み、写真から粒子の投影面積(A)と周囲長(PM)を測定する。周囲長(PM)に対応する真円の面積を(B)とすると、その粒子の球形度はA/Bとなるので、試料の周囲長(PM)と同一の周囲長を持つ真円を想定すると、PM=2πr、B=πrであるから、B=π×(PM/2π)となり、個々の粒子の球形度は、球形度=A/B=A×4π/(PM)となる。このようにして得られた任意の粒子200個の球形度を求めその平均値を平均球形度とする。
本発明のシリカ粉末は、平均粒子径が5〜50μm、好ましくは8〜40μmであり、少なくとも二つの山を持つ多峰性の頻度粒度分布を有するものであることが好ましい。すなわち、レーザー回折散乱式粒度分布測定機(「モデルLS−230」、ベックマンコールター社製)にて測定された粒度において、少なくとも二つの山を持つ多峰性の頻度粒度分布を有し、第一の山の極大値が3〜15μm、好ましくは4〜13μm、第二の山の極大値が20〜80μm、好ましくは25〜65μmの範囲内にあることが好ましい。これによって、シリカ粉末の密充填構造の形成が容易となり、樹脂等に高充填することが更に容易となる。
レーザー回折散乱式粒度分布測定用試料の調製は、媒体に水を用い、PIDS(Polarization Intensity Differential Scattering)濃度を45〜55質量%に調整し、200W出力の超音波ホモジナイザーに1分間かけて行った。粒度分布の解析は0.04〜2000μmの範囲を粒子径チャンネルがlog(μm)=0.04の幅で116分割にして行った。水の屈折率としては1.33、シリカ粉末の屈折率としては1.46を用いた。
本発明のシリカ粉末は、結晶質シリカを高温で溶融された非晶質シリカ粉末であることが好ましい。これによって、半導体チップと封止材の熱膨張率の差が小さくなり、しかも半田耐熱性、耐湿性が更に高まり、金型摩耗が少なくなる利点がある。非晶質率は、粉末X線回折装置、例えば「モデルMini Flex」(RIGAKU社製)を用い、CuKα線の2θが26°〜27.5°の範囲においてX線回折分析を行い、特定回折ピークの強度比から求められる。すなわち、結晶質シリカは26.7°に主ピークが存在するが、非晶質シリカではピークは存在しない。非晶質シリカと結晶質シリカが混在していると、結晶質シリカの割合に応じた26.7°のピーク高さが得られるので、結晶質シリカ標準試料のX線強度に対する試料のX線強度の比から、結晶質シリカ混在比(=試料のX線回折強度/結晶質シリカのX線回折強度)を算出し、非晶質率(%)=(1−結晶質シリカ混在比)×100、の式によって求められる。
本発明のシリカ粉末は、本発明の製造方法によって製造することができる。その際、炉内温度とシリカ粉末原料の噴射量によってシリカ粉末の平均球形度を増減させることができる。また、シリカ粉末原料の平均粒子径によってシリカ粉末の平均粒子径を増減させることができる。シリカ粉末の超微粉末の含有率と多峰性分布の増減方法については後述する。
本発明の製造方法は、シリカ粉末原料を炉内温度が1750℃以上、好ましくは1780℃以上である高温場に噴射して溶融・球状化する方法において、燃焼バーナーから可燃性ガスと酸素ガスを噴射して、炉内温度が1750℃以上である高温場を、燃焼バーナー先端部から3.0〜4.5m、好ましくは3.5〜4.5mまでの位置に形成させること、そして、その高温場に金属シリコン粉末を0.05〜10質量%含有させたシリカ粉末原料を噴射することが必須要件となる。
本発明に用いる金属シリコン粉末は、Si純度が99.0質量%以上が好ましく、99.5質量%以上であることが更に好ましい。
また、本発明に用いるシリカ粉末原料中の金属シリコン粉末以外の材料としては、天然珪石、高純度珪砂、石英、水晶などの天然に産出するシリカ含有鉱物の粉末や、沈降シリカ、シリカゲルなどの合成法により製造された高純度シリカ粉末などが挙げられる。なかでも、コストや入手のし易さを考慮すると、天然珪石粉砕物が最も好ましい。天然珪石粉砕物は、振動ミル、ボールミルなどの粉砕機で粉砕された、種々の平均粒子径のものが市販されており、所望の平均粒子径の天然珪石粉砕物を適宜選択すればよい。
本発明においては、炉内温度が1750℃以上である高温場が、先行技術では燃焼バーナー先端部から1.0〜2.5m程度までであったのに対して、燃焼バーナー先端部から3.0〜4.5mまでに長くしたことに特徴がある。炉内温度が1750℃以上である高温場が、燃焼バーナー先端部から3m未満までしか形成されていないと、超微粉末の粒子成長が十分でなくなり、超微粉末の生成が困難となる。しかも、シリカ粉末の平均球形度も0.85未満となる。一方、炉内温度が1750℃以上である高温場が、燃焼バーナー先端部から4.5mを超えて形成されていると、生成した超微粉末が粒子成長しすぎ、これまた超微粉末の生成が困難となる。炉内温度は、炉内壁から5cmの位置を、アルミナ製保護管(厚さ:3mm)を用いたB熱電対(サカキコーポレーション社製、型番:HD2128.2、補償導線:Cu)で測定した。
炉内温度が1750℃以上である高温場の形成領域を、本発明のように長くするためには、可燃性ガスの噴射量を増やす、炉体内への外気流入量を少なくする、炉体径を小さくする、シリカ粉末原料の噴射量を低減するなどの条件を適宜制御して行う。たとえば、可燃ガスの噴射量が60〜100Nm/hr、酸素ガスの噴射量が300〜500Nm/hr、外気流入量が50〜100Nm/hr、シリカ粉末原料の噴射量が100〜250kg/hrの範囲内で選択して行う。
本発明において、シリカ粉末原料中の金属シリコン粉末の含有率が0.05質量%未満であると、金属シリコンの蒸発により発生する気相成分(SiO含有ガス)が少なくなるため、シリカ粉末中の超微粉末の含有率が0.1質量%未満となる。一方、シリカ粉末原料中の金属シリコン粉末の含有率が10質量%を超えると、SiO含有ガスの発生が多くなるために、シリカ粉末中の超微粉末の含有率が20質量%を超え、いずれの場合も本発明のシリカ粉末を製造することができない。シリカ粉末原料中の金属シリコン粉末の特に好ましい含有率は、0.5〜7.5質量%である。
シリカ粉末原料中のシリカ粉末及び金属シリコン粉末以外の成分は、Al、Fe、CaOなどがあるが、これらの含有率は総量で0.5質量%以下であることが好ましく、0.3質量%以下であることが更に好ましい。
シリカ粉末と超微粉末を機械的に混合して、超微粉末を0.1〜20質量%含有するシリカ粉末を製造するよりも、本発明のように高温場で超微粉末を生成させながらシリカ粉末に混入させたほうが、超微粉末同士の凝集を防止しシリカ粉末中に単分散させることができるので好ましい。シリカ粉末中の超微粉末の含有率は、シリカ粉末原料中の金属シリコン粉末の含有率によって増減させることができる。
シリカ粉末中の超微粉末の含有率は、エタノールとシリカ粉末の配合物を200W出力の超音波ホモジナイザーに3分間かけてシリカ粉末10質量%のシリカスラリーを調製し、それを目開き0.45μmのメンブランフィルター上に自然流下させ、メンブランフィルターを通過した粉末量を測定し、それをシリカ粉末中の百分率とすることによって算出する(シリカ中の超微粉末の含有率(%)=(フィルター通過のシリカ粉末量/測定に供したシリカ粉末量)×100)。
第一の山の極大値が3〜15μm、第二の山の極大値が20〜80μmの範囲内にある二つの山を持つ多峰性の粒度分布のシリカ粉末は、それぞれの粒径範囲にあり、しかも超微粉末を0.1〜20質量%含んだシリカ粉末を上述した方法に準じて製造しておき、それらの適切量を混合することによって製造することができる。
次いで、本発明の組成物について説明する。本発明の組成物は本発明のシリカ粉末をゴム及び/又は樹脂の少なくとも一方に10〜99質量%含有させてなるものである。特に、樹脂がエポキシ樹脂である組成物は封止材として好適である。
組成物に用いるゴムを例示すれば。シリコーンゴム、ウレタンゴム、アクリルゴム、ブチルゴム、エチレンプロピレンゴム、エチレン酢酸ビニル共重合体などである。
また、組成物に用いる樹脂を例示すれば、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、不飽和ポリエステル、フッ素樹脂、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド等のポリアミド、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリフェニレンスルフィド、全芳香族ポリエステル、ポリスルホン、液晶ポリマー、ポリエーテルスルホン、ポリカーボネイト、マレイミド変成樹脂、ABS樹脂、AAS(アクリロニトリルーアクリルゴム・スチレン)樹脂、AES(アクリロニトリル・エチレン・プロピレン・ジエンゴム−スチレン)樹脂などである。
封止材用の樹脂としては、1分子中にエポキシ基を2個以上有するエポキシ樹脂が好ましい。例示すれば、フェノールノボラック型エポキシ樹脂;オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂;フェノール類とアルデヒド類のノボラック樹脂をエポキシ化したもの;ビスフェノールA、ビスフェノールF及びビスフェノールSなどのグリシジルエーテル、フタル酸やダイマー酸などの多塩基酸とエポクロルヒドリンとの反応により得られるグリシジルエステル酸エポキシ樹脂;線状脂肪族エポキシ樹脂;脂環式エポキシ樹脂;複素環式エポキシ樹脂;アルキル変性多官能エポキシ樹脂;β−ナフトールノボラック型エポキシ樹脂;1,6−ジヒドロキシナフタレン型エポキシ樹脂;2,7−ジヒドロキシナフタレン型エポキシ樹脂;ビスヒドロキシビフェニル型エポキシ樹脂;難燃性を付与するために臭素などのハロゲンを導入したエポキシ樹脂などである。中でも、耐湿性や耐ハンダリフロー性の観点から、オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスヒドロキシビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格のエポキシ樹脂等が最適である。
エポキシ樹脂の硬化剤は、エポキシ樹脂と反応して硬化させるものであれば特に限定されない。例示すれば、フェノール、クレゾール、キシレノール、レゾルシノール、クロロフェノール、t−ブチルフェノール、ノニルフェノール、イソプロピルフェノール、及びオクチルフェノールからなる群から選ばれた1種以上の混合物をホルムアルデヒド、パラホルムアルデヒド又はパラキシレンとともに酸化触媒下で反応させて得られるノボラック型樹脂;ポリパラヒドロキシスチレン樹脂;ビスフェノールAやビスフェノールS等のビスフェノール化合物;ピロガロールやフロログルシノール等の3官能フェノール類;無水マレイン酸、無水フタル酸や無水ピロメリット酸等の酸無水物;メタフェニレンジアミン、ジアミノジフェニルメタン、ジアミノジフェニルスルホン等の芳香族アミンなどである。
本発明の組成物には、次の成分を必要に応じて配合することができる。
すなわち、低応力化剤としては、シリコーンゴム、ポリサルファイドゴム、アクリル系ゴム、ブタジエン系ゴム、スチレン系ブロックコポリマー、飽和型エラストマー等のゴム状物質;各種熱可塑性樹脂、シリコーン樹脂等の樹脂状物質;エポキシ樹脂、フェノール樹脂の一部又は全部をアミノシリコーン、エポキシシリコーン、アルコキシシリコーンなどで変性した樹脂などが挙げられる。
シランカップリング剤としては、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等のエポキシシラン;アミノプロピルトリエトキシシラン、ウレイドプロピルトリエトキシシラン、N−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン等のアミノシラン;フェニルトリメトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、オクタデシルトリメトキシシラン等の疎水性シラン化合物;メルカプトシランなどが挙げられる。
表面処理剤としては、Zrキレート、チタネートカップリング剤、アルミニウム系カップリング剤などが挙げられる。
難燃助剤としては、Sb、Sb、Sbなどが挙げられ、難燃剤としては、ハロゲン化エポキシ樹脂やリン化合物などが挙げられ、着色剤としては、カーボンブラック、酸化鉄、染料、顔料などが挙げられる。
さらには、ワックス等の離型剤を添加することができる。その具体例を挙げれば、天然ワックス類、合成ワックス類、直鎖脂肪酸塩の金属塩、酸アミド類、エステル類、パラフィンなどである。
とくに、高い耐湿信頼性や高温放置安定性が要求される場合には、各種イオントラップ剤の添加が有効である。イオントラップ剤の具体例としては、協和化学社製の商品名「DHF−4A」、「KW−2000」、「KW−2100」や東亜合成化学工業社製の商品名「IXE−600」などである。
本発明の組成物には、エポキシ樹脂と硬化剤との反応を促進させるために硬化促進剤を配合することができる。硬化促進剤としては、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7、トリフェニルホスフィン、ベンジルジメチルアミン、2−メチルイミダゾール等がある。
本発明の組成物は、上記各材料の所定量をブレンダーやヘンシェルミキサー等によりブレンドした後、加熱ロール、ニーダー、一軸又は二軸押し出し機等によって混練したものを冷却後、粉砕することによって製造することができる。
本発明の封止材は、本発明の組成物において、樹脂がエポキシ樹脂からなるものである。
本発明の組成物を用いた半導体の封止方法には、トランスファーモールド、マルチプランジャー等の成形法が採用される。
次に、実施例及び比較例により本発明をより具体的に説明するが、本発明は、以下の実施例に限定して解釈されるものではない。
実施例1〜14、比較例1〜8
特開平11−71107号公報の図示に準じた装置を用いて球状化処理を行った。すなわち、炉体径2mの炉体の上部に燃焼バーナーを設置し、LPGを60〜100Nm/hr、及び酸素ガスを300〜500Nm/hr噴射して炉内温度が1750℃以上である高温場を形成する一方、シリカ粉末原料として金属シリコン粉末(Si純度99.9質量%、平均粒子径5μm)を0〜12質量%含有した天然珪石粉砕物(SiO純度99.9質量%、平均粒子径3〜60μm)100〜250kg/hrを、燃焼バーナーの中心部から高温場に噴射して球状化処理を行った。なお、炉体上部に設置された外気導入口から50〜100Nm/hrの空気を流入した。生成したシリカ粉末を燃焼排ガスと共にブロワーで吸引輸送し、サイクロンから捕集した。
LPG、酸素ガス、シリカ粉末原料の噴射量、及び外気流入量を上記範囲内で種々変更して、炉内温度が1750℃以上となる高温場の形成範囲をバーナー先端部から2.5〜5.0mまでの範囲に変更した。それらの条件と、シリカ粉末原料中の金属シリコン粉末の含有率と、サイクロンから捕集したシリカ粉末(シリカ粉末中間体a〜n)の特性とを表1に示す。なお、シリカ粉末中間体の極大値の調整は、天然珪石粉砕物の平均粒子径の調整と、多段篩分け操作とによって行った。
シリカ粉末中間体a〜nを表2、及び表3に示す種々の割合で配合してシリカ粉末A〜Vを製造し特性を評価した。それらの結果を表2(実施例)、及び表3(比較例)に示す。シリカ粉末A〜Vの非晶質率はいずれも99%以上であった。
つぎに、シリカ粉末A〜Vの封止材としての特性を評価するため、質量基準で、シリカ粉末A〜Vを89%に、4,4’−ビス(2,3−エポキシプロポキシ)−3,3’、5,5’−テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂4.6%、フェノール樹脂4.7%、トリフェニルホスフィン0.2%、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン0.6%、カーボンブラック0.3%,及びカルナバワックス0.6%(合計100%)を加え、ヘンシェルミキサーにてドライブレンドした後、得られた配合物を同方向噛み合い二軸押出混練機(スクリュー径D=25mm、ニーディングディスク長10Dmm、パドル回転数120〜160rpm、吐出量4kg/hr、ヒーター温度95〜100℃)で加熱混練した。吐出物を冷却プレス機にて冷却した後、粉砕して封止材とし、流動性、充填性及びバリ長さを以下の方法に従って評価した。それらの結果を表2、及び表3に示す。
(1)流動性(スパイラルフロー)
EMMI−I−66(Epoxy Molding Material Institute;Society of Plastic Industry)に準拠したスパイラルフロー測定用金型を取り付けたトランスファー成形機を用いて、スパイラルフロー値を測定した。トランスファー成形条件は、金型温度175℃、成形圧力7.4MPa、保圧時間90秒とした。
スパイラルフロー値が大きいほど、流動性が良好であることを示す。
(2)充填性(ボイド数)
160ピンQFP(Quad Flat Package;28mm×28mm、厚さ3.6mm、模擬ICチップサイズ15mm×15mm)の半導体パッケージを、トランスファー成形機を用いて24個作製し、パッケージ内に残存する0.1mm以上のボイド数を超音波探傷機を用いてカウントし、1パッケージあたりのボイド数を算出した。トランスファー成形条件は、金型温度175℃、成形圧力7.4MPa、保圧時間90秒とし、封止材のプレヒート温度を80℃とした。
(3)バリ長さ
32ピンLOC(Lead on Chip)構造TSOP(Thin Small Outline Package;10mm×21mm、厚さ1.0mm、模擬ICチップサイズ9mm×18mm、リードフレーム42アロイ製)の半導体パッケージをトランスファー成形機により48個作製し、バリ長さを測定し、平均した。トランスファー成形条件は、金型温度175℃、成形圧力7.4MPa、保圧時間90秒とした。
Figure 0005380290
Figure 0005380290
Figure 0005380290
実施例と比較例との対比から明白なように、本発明のシリカ粉末の充填された封止材は、シリカ粉末の充填率が89質量%であっても、流動性と充填性に優れ、バリ長さが短いものであった。
本発明のシリカ粉末は、自動車、携帯電子機器、家庭電化製品等のモールディングコンパウンドなどの樹脂成形部品、更にはパテ、シーリング材、船舶用浮力材、合成木材、強化セメント外壁材、軽量外壁材、封止材などの充填材として使用される。また、本発明の組成物は、ガラス織布、ガラス不織布、その他有機基材に含浸硬化させてなる、例えばプリント基板用のプリプレグ、プリプレグの1枚又は複数枚を銅箔等と共に加熱成形された電子部品、更には電線被覆材、封止材、ワニスなどの製造に使用される。また、本発明の封止材は、小型、薄型、狭ピッチの半導体パッケージへの成形が容易な封止材として使用される。

なお、2007年8月1日に出願された日本特許出願2007−200701号の明細書、特許請求の範囲、及び要約書の全内容をここに引用し、本発明の明細書の開示として、取り入れるものである。

Claims (4)

  1. シリカ粉末原料を燃焼バーナーで形成された1750℃以上の高温場に噴射して熱処理するにあたり、上記高温場の形成範囲を燃焼バーナーの先端部から3.0〜4.5mまでの部分とし、その高温場に金属シリコン粉末を0.05〜10質量%含有させたシリカ粉末原料を噴射することを特徴とするシリカ粉末の製造方法。
  2. 前記シリカ粉末原料が、金属シリコン粉末を0.05〜10質量%含有する天然珪石粉 砕物である請求項に記載の製造方法。
  3. 得られるシリカ粉末が、超微粉末を0.1〜20質量%含む平均球形度が0.85以上であって、上記超微粉末が、動的光散乱式粒度分布測定機にて測定された粒度において、平均粒子径が150〜250nmであり、粒子径100nm以下の粒子含有率が10質量%未満(0質量%を含まない)であり、かつ粒子径が100nmを超え150nm以下の粒子含有率が10〜50質量%である請求項1又は2に記載の製造方法
  4. 得られるシリカ粉末が、レーザー回折散乱式粒度分布測定機にて測定された平均粒子径が5〜50μmであり、少なくとも二つの山を持つ多峰性の粒度分布を有し、第一の山の極大値が3〜15μm、第二の山の極大値が20〜80μmの範囲内にある請求項3に記載の製造方法
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